JP5857384B2 - 改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 - Google Patents
改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5857384B2 JP5857384B2 JP2013199571A JP2013199571A JP5857384B2 JP 5857384 B2 JP5857384 B2 JP 5857384B2 JP 2013199571 A JP2013199571 A JP 2013199571A JP 2013199571 A JP2013199571 A JP 2013199571A JP 5857384 B2 JP5857384 B2 JP 5857384B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charge
- radiation detector
- pixel
- radiation
- capacitance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 114
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 64
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 49
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 9
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 5
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 12
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 238000012432 intermediate storage Methods 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/30—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming X-rays into image signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/57—Control of the dynamic range
- H04N25/59—Control of the dynamic range by controlling the amount of charge storable in the pixel, e.g. modification of the charge conversion ratio of the floating node capacitance
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/616—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
- H04N25/771—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising storage means other than floating diffusion
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
電磁放射線の露出を検出するステップと、
フォトダイオードと、線形ストレージ容量を備える少なくとも1つのコンデンサと、非線形ストレージ容量を備える少なくとも1つのコンデンサとに電荷を格納するステップと、
少なくとも1つのサンプル及び保持コンデンサに対して上記少なくとも1つのコンデンサに格納された電荷のサンプリングを行うステップと、
上記格納された電荷を用いて少なくとも追加的なコンデンサを充電するステップと、
少なくとも1つのサンプル及び保持コンデンサに対して上記少なくとも1つ及び上記追加的なコンデンサに格納された電荷のサンプリングを行うステップと、
高感度範囲モードにおいてサンプル及び保持コンデンサに対して上記格納された電荷を読み出すステップと、
低感度範囲モードにおいてサンプル及び保持コンデンサに対して上記格納された電荷を読み出すステップとを有する。
Claims (9)
- センサデバイスを備えたX線放射線に関する放射線検出器ピクセルであって、
露出中に収集された電荷が保存される第1の静電容量と、第1の感度範囲の読み出しを可能にする第1の読み出し増幅器とを備えたものであって、
前記放射線検出器ピクセルにて実装されたアクチュエータデバイスを備え、
前記アクチュエータデバイスは、前記放射線検出器ピクセルへの入射電磁放射線に応じた電気的な出力量に応じて活性化または非活性化し、
前記アクチュエータデバイスの活性化は、
前記第1の静電容量と前記放射線検出器ピクセルの第2の静電容量との間の電荷の再分配および/または、
前記放射線検出器ピクセルの前記第1の読み出し増幅器から第2の読み出し増幅器に切り替えて、露出の信号電荷の第2の感度範囲の読み出しを可能にし、
それぞれの感度範囲は、入射電磁放射線と電気的な出力量との間の比率が、飽和までの動作点を示す動作範囲において連続している
ことを特徴とする放射線検出器ピクセル。 - 前記センサデバイスが、光センサデバイスを含むことを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器ピクセル。
- 前記アクチュエータデバイスが、FET又は他の任意のタイプのトランジスタであることを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線検出器ピクセル。
- 前記アクチュエータデバイスが、前記第1の静電容量と前記第2の静電容量との組合わせにおいて電荷ポンプを提供することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の放射線検出器ピクセル。
- 前記放射線検出器ピクセルにおいて、少なくとも1つの増幅デバイスが、該放射線検出器ピクセルの出力電圧の感度範囲を制御することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の放射線検出器ピクセル。
- 前記電荷ポンプの回路が、少なくとも1つのサンプル及び保持回路と結合されることを特徴とする請求項4に記載の放射線検出器ピクセル。
- 請求項1に記載のX線放射線に関する少なくとも1つの放射線検出器ピクセルを提供する放射線検出器システム。
- 請求項1に記載のX線放射線に関するピクセルを含む電磁放射線検出器を制御する方法において、
電磁放射線の露出を検出するステップと、
第1の静電容量に電荷を格納するステップと、
第1のサンプル及び保持コンデンサに対して前記第1の静電容量に格納された電荷のサンプリングを行い、前記放射線検出器ピクセルの前記第1の静電容量と第2の静電容量との間で電荷を再分配するステップと、
第2のサンプル及び保持コンデンサに対して前記第1の静電容量と前記第2の静電容量とに格納された電荷のサンプリングを行うステップと、
高感度範囲モードにおいて、前記第1のサンプル及び保持コンデンサに対して前記格納された電荷を読み出すステップと、
低感度範囲モードにおいて、前記第2のサンプル及び保持コンデンサに対して前記格納された電荷を読み出すステップと
を含む、方法。 - 請求項1に記載のX線放射線に関する放射線検出器ピクセルを用いて電磁放射線を検出するデバイスであって、
2つの静電容量とアクチュエータデバイスとを提供し、
前記アクチュエータデバイスが、格納回路間で電荷を搬送することを可能にし、
前記搬送が、ドレインソース電圧と外部制御電圧からゲート電圧を引いた電圧との間の比率により決定される
ことを特徴とするデバイス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP08104548.6 | 2008-06-26 | ||
EP08104548 | 2008-06-26 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011515694A Division JP2011525983A (ja) | 2008-06-26 | 2009-06-19 | 改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014060725A JP2014060725A (ja) | 2014-04-03 |
JP5857384B2 true JP5857384B2 (ja) | 2016-02-10 |
Family
ID=41445043
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011515694A Pending JP2011525983A (ja) | 2008-06-26 | 2009-06-19 | 改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 |
JP2013199571A Active JP5857384B2 (ja) | 2008-06-26 | 2013-09-26 | 改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011515694A Pending JP2011525983A (ja) | 2008-06-26 | 2009-06-19 | 改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8546765B2 (ja) |
EP (1) | EP2294455B1 (ja) |
JP (2) | JP2011525983A (ja) |
CN (1) | CN102066975B (ja) |
RU (1) | RU2509321C2 (ja) |
WO (1) | WO2009156927A2 (ja) |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102597806A (zh) * | 2009-11-03 | 2012-07-18 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于探测电磁辐射的探测器单元 |
JP5802688B2 (ja) * | 2010-03-12 | 2015-10-28 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線検出器、x線検出器アレイ、x線撮像システム、x線検出方法、当該方法を実行するコンピュータプログラムおよび当該プログラムを記憶した読取可能媒体 |
JP5868119B2 (ja) * | 2010-12-09 | 2016-02-24 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、放射線撮影システム、画像処理方法及び記録媒体 |
JP6061532B2 (ja) | 2011-08-22 | 2017-01-18 | キヤノン株式会社 | 制御装置、撮影装置および制御方法 |
US9325913B2 (en) * | 2011-12-28 | 2016-04-26 | General Electric Company | Radiation detector for use in sequential image acquisition |
US20130256542A1 (en) | 2012-03-28 | 2013-10-03 | Luxen Technologies, Inc. | Programmable readout integrated circuit for an ionizing radiation sensor |
US9128195B2 (en) | 2012-03-28 | 2015-09-08 | Luxen Technologies, Inc. | Increasing dynamic range for x-ray image sensor |
US9407795B2 (en) | 2012-07-13 | 2016-08-02 | Teledyne Dalsa B.V. | Method of reading out a CMOS image sensor and a CMOS image sensor configured for carrying out such method |
JP6140008B2 (ja) * | 2013-07-01 | 2017-05-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線検査装置 |
WO2015038709A1 (en) | 2013-09-11 | 2015-03-19 | Varian Medical Systems, Inc. | Pixel circuit with constant voltage biased photodiode and related imaging method |
US11064142B1 (en) | 2013-09-11 | 2021-07-13 | Varex Imaging Corporation | Imaging system with a digital conversion circuit for generating a digital correlated signal sample and related imaging method |
US20150103973A1 (en) * | 2013-10-11 | 2015-04-16 | General Electric Company | X-ray system with multiple dynamic range selections |
US9348035B2 (en) * | 2013-10-22 | 2016-05-24 | General Electric Company | Systems and methods for selectable detector configurations |
JP6262990B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2018-01-17 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影装置の制御方法およびプログラム |
JP6579741B2 (ja) | 2014-10-09 | 2019-09-25 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6532214B2 (ja) | 2014-11-08 | 2019-06-19 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
WO2016078713A1 (en) * | 2014-11-20 | 2016-05-26 | Teledyne Dalsa B.V. | A circuit controller for controlling a pixel circuit and a method of controlling a pixel circuit |
CN107005659B (zh) | 2014-11-27 | 2020-04-03 | 夏普株式会社 | 放射线检测器 |
JP6505228B2 (ja) * | 2014-12-17 | 2019-04-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 電離放射線を検出する検出器、撮像装置、非一時的コンピュータ可読媒体、及び方法 |
DE102015202320B4 (de) * | 2015-02-10 | 2023-07-27 | Siemens Healthcare Gmbh | Detektorvorrichtung für einen Computertomographen |
US10136868B2 (en) * | 2015-09-03 | 2018-11-27 | General Electric Company | Fast dual energy for general radiography |
EP3151545A1 (en) | 2015-10-01 | 2017-04-05 | Paul Scherrer Institut | Method for extending the dynamic range of a pixel detector system using automatic gain switching |
JP6674222B2 (ja) * | 2015-10-09 | 2020-04-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像装置の制御方法 |
EP3293965A1 (en) | 2016-09-12 | 2018-03-14 | Siemens Healthcare GmbH | Radiation sensing pixel element for an image sensor apparatus |
JP6853652B2 (ja) | 2016-11-07 | 2021-03-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の駆動方法およびプログラム |
CN108110014B (zh) * | 2016-11-25 | 2020-05-08 | 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 | X射线图像传感器、平板探测器及其图像曝光采集方法 |
CN108447941B (zh) * | 2017-02-16 | 2019-10-18 | 群创光电股份有限公司 | X光侦测器的像素电路及x光侦测器 |
JP6373442B2 (ja) * | 2017-04-25 | 2018-08-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線検査装置 |
CN108205152B (zh) * | 2018-02-26 | 2019-06-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种像元电路、其驱动方法及x射线探测器 |
EP3536243A1 (en) | 2018-03-07 | 2019-09-11 | Koninklijke Philips N.V. | Improved image acquisition |
KR102286445B1 (ko) * | 2018-08-31 | 2021-08-06 | 주식회사 레이언스 | X선 디텍터 및 x선 촬영 장치 |
WO2020241289A1 (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-03 | ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 | 固体撮像装置、及びそれを用いる撮像装置 |
CN110534534B (zh) * | 2019-07-19 | 2021-08-10 | 思特威(上海)电子科技股份有限公司 | 具有不规则设计结构双转换增益晶体管的图像传感器 |
CN115267875B (zh) * | 2022-07-28 | 2023-08-22 | 北京朗视仪器股份有限公司 | 一种平板探测器 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4689487A (en) * | 1984-09-03 | 1987-08-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiographic image detection apparatus |
JPH0654956B2 (ja) * | 1985-04-22 | 1994-07-20 | 株式会社東芝 | デジタルラジオグラフイ装置 |
JPS6353968A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-08 | Nikon Corp | イメ−ジセンサ |
JPH04345036A (ja) * | 1991-05-22 | 1992-12-01 | Mitsubishi Electric Corp | 電荷結合素子及びその駆動方法 |
JP3361877B2 (ja) * | 1994-04-14 | 2003-01-07 | 株式会社東芝 | 放射線検出器 |
RU2134450C1 (ru) * | 1997-07-24 | 1999-08-10 | Арапов Николай Андреевич | Аппарат для получения компьютерных рентгеновских изображений и способ получения таких изображений |
US6163029A (en) * | 1997-09-22 | 2000-12-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, radiation detecting method and X-ray diagnosing apparatus with same radiation detector |
US6243441B1 (en) | 1999-07-13 | 2001-06-05 | Edge Medical Devices | Active matrix detector for X-ray imaging |
JP4724313B2 (ja) * | 2001-05-18 | 2011-07-13 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、放射線撮像装置及びそれを用いた放射線撮像システム |
US7224389B2 (en) | 2001-07-16 | 2007-05-29 | Cypress Semiconductor Corporation (Belgium) Bvba | Method to adjust the signal level of an active pixel and corresponding active pixel |
US6486808B1 (en) | 2001-10-16 | 2002-11-26 | Varian Medical Systems | Data signal amplifier with automatically controllable dynamic signal range |
JP3984814B2 (ja) * | 2001-10-29 | 2007-10-03 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、その撮像素子を用いた放射線撮像装置及びそれを用いた放射線撮像システム |
JP4188619B2 (ja) * | 2002-04-23 | 2008-11-26 | 株式会社島津製作所 | X線検出器 |
JP4208482B2 (ja) * | 2002-05-08 | 2009-01-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び同撮像装置を用いたx線診断システム |
US6904126B2 (en) * | 2002-06-19 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiological imaging apparatus and method |
JP2004080514A (ja) | 2002-08-20 | 2004-03-11 | Toshiba Corp | X線検出器及びx線診断装置 |
US7002408B2 (en) | 2003-10-15 | 2006-02-21 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Data signal amplifier and processor with multiple signal gains for increased dynamic signal range |
JP4311181B2 (ja) * | 2003-12-05 | 2009-08-12 | ソニー株式会社 | 半導体装置の制御方法および信号処理方法並びに半導体装置および電子機器 |
JP4317115B2 (ja) * | 2004-04-12 | 2009-08-19 | 国立大学法人東北大学 | 固体撮像装置、光センサおよび固体撮像装置の動作方法 |
WO2005107242A1 (en) | 2004-04-30 | 2005-11-10 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | X-ray examination apparatus and radiation detector |
US20060065844A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Zelakiewicz Scott S | Systems and methods for dynamic optimization of image |
US7718459B2 (en) * | 2005-04-15 | 2010-05-18 | Aptina Imaging Corporation | Dual conversion gain pixel using Schottky and ohmic contacts to the floating diffusion region and methods of fabrication and operation |
DE102005020503A1 (de) * | 2005-04-29 | 2006-11-09 | Siemens Ag | Ausleseschaltung |
JP2006319529A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-11-24 | Canon Inc | 撮像装置、それを用いた撮像システム及び撮像方法 |
US20070035649A1 (en) * | 2005-08-10 | 2007-02-15 | Micron Technology, Inc. | Image pixel reset through dual conversion gain gate |
JP4773768B2 (ja) * | 2005-08-16 | 2011-09-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
JP4252098B2 (ja) * | 2006-09-20 | 2009-04-08 | 三洋電機株式会社 | 光検出装置 |
-
2009
- 2009-06-19 RU RU2011102785/28A patent/RU2509321C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2009-06-19 WO PCT/IB2009/052640 patent/WO2009156927A2/en active Application Filing
- 2009-06-19 EP EP09769736.1A patent/EP2294455B1/en active Active
- 2009-06-19 JP JP2011515694A patent/JP2011525983A/ja active Pending
- 2009-06-19 US US12/997,891 patent/US8546765B2/en active Active
- 2009-06-19 CN CN200980123927.1A patent/CN102066975B/zh active Active
-
2013
- 2013-09-26 JP JP2013199571A patent/JP5857384B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009156927A3 (en) | 2010-09-02 |
EP2294455B1 (en) | 2015-07-22 |
US8546765B2 (en) | 2013-10-01 |
CN102066975B (zh) | 2016-03-23 |
WO2009156927A2 (en) | 2009-12-30 |
RU2509321C2 (ru) | 2014-03-10 |
EP2294455A2 (en) | 2011-03-16 |
US20110108735A1 (en) | 2011-05-12 |
JP2014060725A (ja) | 2014-04-03 |
CN102066975A (zh) | 2011-05-18 |
JP2011525983A (ja) | 2011-09-29 |
RU2011102785A (ru) | 2012-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5857384B2 (ja) | 改良された信号対ノイズ比を用いる高ダイナミックレンジx線検出器 | |
CN110623682B (zh) | 放射线摄像装置及控制方法、放射线摄像系统及存储介质 | |
US8642970B2 (en) | Radiographic image detecting apparatus and radiographic image capturing system | |
US7573038B2 (en) | Radiation image pickup apparatus, radiation image pickup system, their control method and their control program | |
US7791032B2 (en) | Multi-mode digital imaging apparatus and system | |
CA2639498C (en) | Device and pixel architecture for high resolution digital imaging | |
US20080259182A1 (en) | High Gain Digital Imaging System | |
JP5935286B2 (ja) | 撮像装置および撮像表示システム | |
JP4949964B2 (ja) | 放射線画像検出器 | |
JP3942793B2 (ja) | 電荷量検出回路 | |
WO2005123228A2 (en) | Ccd imaging array with improved charge sensing circuit | |
JP5120458B2 (ja) | 光または放射線撮像装置 | |
Apte et al. | Large-area low-noise amorphous silicon imaging system | |
JP2013510423A (ja) | 電磁放射線を検出する検出器ユニット | |
KR101263826B1 (ko) | X선 평면검출기의 전하-전압 변환장치 | |
JP2006512846A (ja) | イメージセンサ | |
JP4322721B2 (ja) | 電荷検出回路およびそれを備えた画像センサ | |
CN118413757A (zh) | 用于从光敏传感器读取电信号的读出方法和读出装置 | |
CA2670180A1 (en) | System, device and method for high dynamic range digital imaging | |
JP2019141345A (ja) | 放射線撮像装置の制御装置、放射線撮像システム、および、放射線撮像システムの制御方法 | |
JP2010098419A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP2000349269A (ja) | 放射線撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131227 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140708 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140715 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141015 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141117 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141210 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150114 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150108 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150305 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150901 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150924 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151126 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5857384 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |