JP5763729B2 - キャパシタ組込み基板 - Google Patents

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Description

本発明は、キャパシタ組込み基板に関する。
最近、電子機器の小型化及びスリム化に伴って、電子機器に含まれる電子部品の処理速度もさらに速くなっている。
そのため、演算処理装置などの能動素子に電源を安定して供給するために、キャパシタなどの各種電源安定化用電子部品を基板内部に組み込む技術が示されている(特許文献1)。
演算処理装置の処理速度は多くの条件によって決まるが、その中の一つとして、電源の安定的な供給が挙げられる。
すなわち、能動素子がより速い速度で動作するためには、熱伝導性及び電気伝導性が向上されなければならず、また配線のインピーダンスを低めなければならない。
韓国特開第2010-0030151号公報
したがって、高性能の能動素子が実装される基板の場合、信号伝送速度の向上のために、導電パターン及び組込まれた素子間の伝導性が向上される必要がある。
また、能動素子の性能の向上及び大きさの減少に伴って、放熱性能の向上及び導電パターンの微細化が要求されている。
また、多様な周波数帯域のRF信号を処理すると共にインピーダンスを低く維持する必要がある。
本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、広い周波数帯域に亘ってインピーダンスを低く維持することができるキャパシタ組込み基板を提供することに、その目的がある。
また、本発明の他の目的は、広い周波数帯域に亘ってインピーダンスを低く維持すると共に高放熱性能及び高導電性を具現することができる、キャパシタ組込み基板を提供することにある。
上記の目的を解決するために、本発明の一形態によるキャパシタ組込み基板は容量が異なる複数のキャパシタを組み込み、前記キャパシタは、電気的に並列接続される。
一形態によれば、前記キャパシタは、一領域にコアが設けられる絶縁部の内部に組み込まれる。
また、本発明の他の形態によるキャパシタ組込み基板は、絶縁部と、前記絶縁部の内部に設けられる第1のキャパシタ及び第2のキャパシタと、前記絶縁部の外面に設けられる第1の導体パターンと、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第1の導体パターンに接触されるビアとを含み、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタは容量が異なり、前記第1の導体パターンは前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタが並列で接続されるように設けられる。
一形態によれば、前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFまたは数〜数百nFであり、前記第2のキャパシタは、前記第1のキャパシタの容量より大きい容量を有する。
また、一形態によれば、前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFであり、前記第2のキャパシタの容量は数〜数百nFである。
また、一形態によれば、前記第1のキャパシタの容量は数〜数百nFであり、前記第2のキャパシタの容量は数〜数百μFである。
また、本発明のさらに他の形態によるキャパシタ組込み基板は、コアと、前記コアの内部に設けられる第1のキャパシタ及び第2のキャパシタと、前記コアの外面に形成される第2の導電パターン及び該第2の導電パターンに一面が接触される第1のビルドアップビアを有する第1のビルドアップ層と、前記第1のビルドアップ層の外面に形成され、前記第1のビルドアップビアの他面に接触される第1の導電パターンと、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第2の導体パターンに接触されるコアビアとを含み、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタは容量が異なり、前記第1の導体パターンまたは前記第2の導体パターンによって前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタが並列で接続される。
また、本発明のさらに他の形態によるキャパシタ組込み基板は、コアビアが各々設けられるコアが少なくとも二層で積層されてなされる積層コアと、前記積層コアの内部に設けられる第1のキャパシタ及び第2のキャパシタと、前記積層コアの外面に形成される第2の導電パターン及び該第2の導電パターンに一面が接触される第2のビルドアップビアを有する第2のビルドアップ層と、前記第2のビルドアップ層の外面に形成され、前記第2のビルドアップビアの他面に接触される第3の導電パターン及び該第3の導電パターンに一面が接触される第1のビルドアップビアを有する第1のビルドアップ層と、前記第1のビルドアップ層の外面に形成され、前記第1のビルドアップビアの他面に接触される第1の導電パターンとを含み、前記コアビアのうちの一部は、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第2の導体パターンに接触され、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタは容量が異なり、前記第1の導体パターンまたは前記第2の導体パターンによって前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタが並列で接続される。
一形態によれば、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタのうちの少なくともいずれか一つは、前記積層コアの内部に形成されたキャビティ内に設けられる。
また、一形態によれば、前記第2の導体パターンのうち、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタの外部電極に一側が接触されるコアビアの他側に接触される少なくともいずれか一つは、前記第2のビルドアップビアが複数接触される。
また、一形態によれば、前記第2のビルドアップ層は、ガラス繊維をさらに含む。
また、一形態によれば、前記第2のビルドアップ層は、前記積層コアの熱膨張係数値と前記第1のビルドアップ層の熱膨張係数値との間の熱膨張係数値を有する材料をさらに含む。
また、本発明のさらに他の形態によるキャパシタ組込み基板は、絶縁部と、前記絶縁部の内部に設けられる第1のキャパシタ、第2のキャパシタ及び第3のキャパシタと、前記絶縁部の外面に設けられる第1の導体パターンと、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第1の導体パターンに接触されるビアとを含み、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタは容量が異なり、前記第1の導体パターンは、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタが並列で接続されるように設けられる。
一形態によれば、前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFまたは数〜数百nFであり、前記第2のキャパシタは、前記第1のキャパシタの容量より大きい容量を有し、前記第3のキャパシタは、前記第2のキャパシタの容量より大きい容量を有する。
また、一形態によれば、前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFまたは数〜数百nFであり、前記第2のキャパシタの容量は数〜数百μF、前記第3のキャパシタは、前記第2のキャパシタの容量より大きい容量を有する。
また、一形態によれば、前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFであり、前記第2のキャパシタの容量は数〜数百nFであり、前記第3のキャパシタの容量は数〜数百μFである。
また、本発明のさらに他の形態によるキャパシタ組込み基板は、コアと、前記コアの内部に設けられる第1のキャパシタ、第2のキャパシタ及び第3のキャパシタと、前記コアの外面に形成される第2の導電パターン及び該第2の導電パターンに一面が接触される第1のビルドアップビアを有する第1のビルドアップ層と、前記第1のビルドアップ層の外面に形成され、前記第1のビルドアップビアの他面に接触される第1の導電パターンと、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第2の導体パターンに接触されるコアビアとを含み、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタは容量が異なり、前記第1の導体パターンまたは前記第2の導体パターンによって前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタが並列で接続される。
一形態によれば、場合によって、2個のキャパシタが組み合わせられてもよく、4個以上のキャパシタが組み合わせられてもよい。
一形態によれば、前記コアは、複数の層が積層されて成る。
また、本発明のさらに他の形態によるキャパシタ組込み基板は、コアビアが各々設けられるコアが少なくとも二層で積層されてなる積層コアと、前記積層コアの内部に設けられる第1のキャパシタ、第2のキャパシタ及び第3のキャパシタと、前記積層コアの外面に形成される第2の導電パターン及び該第2の導電パターンに一面が接触される第2のビルドアップビアを有する第2のビルドアップ層と、前記第2のビルドアップ層の外面に形成され、前記第2のビルドアップビアの他面に接触される第3の導電パターン及び該第3の導電パターンに一面が接触される第1のビルドアップビアを有する第1のビルドアップ層と、前記第1のビルドアップ層の外面に形成され、前記第1のビルドアップビアの他面に接触される第1の導電パターンとを含み、前記コアビアのうちの一部は、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第2の導体パターンに接触され、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタは容量が異なり、前記第1の導体パターンまたは前記第2の導体パターンによって前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタが並列で接続される。
一形態によれば、設計者の必要によって異なる組み合わせ、即ち、第1のキャパシタと第2のキャパシタとの組み合わせ、または第2のキャパシタと第3のキャパシタとの組み合わせなど、多様な組み合わせが可能である。
一形態によれば、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタのうちの少なくともいずれか一つは、前記積層コアの内部に形成されるキャビティ内に設けられる。
また、一形態によれば、前記第2の導体パターンのうち、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタの外部電極に一側が接触されるコアビアの他側に接触される少なくともいずれか一つは、前記第2のビルドアップビアが複数接触される。
また、一形態によれば、前記第2のビルドアップ層は、ガラス繊維をさらに含む。
また、一形態によれば、前記第2のビルドアップ層は、前記積層コアの熱膨張係数値と前記第1のビルドアップ層の熱膨張係数値との間の熱膨張係数値を有する材料をさらに含む。
また、一形態によれば、前記第1のキャパシタの垂直上方領域及び前記第1のキャパシタの垂直下方領域に位置するコアの層数は、前記第2のキャパシタの垂直上方領域及び前記第2のキャパシタの垂直下方領域に位置するコアの層数より多く、前記第2のキャパシタの垂直上方領域及び前記第2のキャパシタの垂直下方領域に位置するコアの層数は、前記第3のキャパシタの垂直上方領域及び前記第3のキャパシタの垂直下方領域に位置するコアの層数より多い。
前述のように、本発明によれば、従来より広い周波数帯域に亘って低インピーダンス特性を具現すると共に、放熱性能の向上及び電気伝導度の向上を具現することによって、信号処理速度を改善することができるという効果を奏する。
また、本発明によれば、キャパシタ組込み基板をより一層小型化及びスリム化することができ、組み込まれたキャパシタの容量を効率よく活用することができるという効果を奏する。
本発明の第1の実施形態によるキャパシタ組込み基板を概略的に示す図面である。 本発明の第2の実施形態によるキャパシタ組込み基板を概略的に示す図面である。 本発明の第3の実施形態によるキャパシタ組込み基板を概略的に示す図面である。 本発明の一実施形態によるインピーダンス低減効果を説明するための図面である。
以下、本発明の好適な実施の形態は図面を参考にして詳細に説明する。次に示される各実施の形態は当業者にとって本発明の思想が十分に伝達されることができるようにするために例として挙げられるものである。従って、本発明は以下に示している各実施の形態に限定されることなく他の形態で具体化されることができる。そして、図面において、装置の大きさ及び厚さなどは便宜上誇張して表現されることができる。明細書全体に渡って同一の参照符号は同一の構成要素を示している。
本明細書で使われた用語は、実施形態を説明するためのものであって、本発明を制限しようとするものではない。本明細書において、単数形は文句で特別に言及しない限り複数形も含む。明細書で使われる「含む」とは、言及された構成要素、ステップ、動作及び/又は素子は、一つ以上の他の構成要素、ステップ、動作及び/又は素子の存在または追加を排除しないことに理解されたい。
以下、添付図面を参照して、本発明の構成及び作用効果について詳記する。
図1は、本発明の第1の実施形態によるキャパシタ組込み基板100を概略的に示す図面である。
本発明の第1の実施形態によるキャパシタ組込み基板100は、容量が異なる複数のキャパシタ110、120、130が組み込まれた基板である。
複数のキャパシタ110、120、130は、絶縁部140の内部に組み込まれたものであってもよく、示されていないが、絶縁部140内のー領域にはコアが設けられる。
図1に示すように、本発明の第1の実施形態によるキャパシタ組込み基板は、絶縁部140と、第1〜第3のキャパシタ110、120、130と、第1の導体パターン150と、ビア160とを含む。
第1〜第3のキャパシタ110、120、130は容量が異なる。
また、第1〜第3のキャパシタ110、120、130は、ビア160及び第1の導電パターン150によって電気的に並列関係になるように接続される。
例えば、第1のキャパシタの容量110は数〜数百pFであり、第2のキャパシタ120の容量は数〜数百nFであり、第3のキャパシタ130の容量は数〜数百μFである。
図4は、本発明の一実施形態によるインピーダンス低減効果を説明するための図面である。図4に示すように、キャパシタの容量が小さいほど高周波数帯域でのインピーダンスが低くなることがわかる。
例えば、第1のキャパシタ110がpF単位の容量を有し、第2のキャパシタ120がnF単位の容量を有し、第3のキャパシタがμF単位の容量を有して並列で接続されると、図4において実線で示すようなインピーダンス特性を示す。そのため、従来より広い周波数帯域に亘って低いインピーダンス特性を具現することができる。
一方、第1〜第3のキャパシタ110、120、130は、絶縁部140の内部に設けられることによって基板に組み込まれる。
絶縁部140外面には第1の導電パターン150が設けられ、第1〜第3のキャパシタ110、120、130の外部電極と第1の導電パターン150との間にビア160が設けられ、第1〜第3のキャパシタ110、120、130が電気的に並列接続される。
図2は、本発明の第2の実施形態によるキャパシタ組込み基板200を概略的に示す図面である。
上記第1の実施形態の説明に重複する説明は省略することにする。
図2に示すように、本発明の第2の実施形態によるキャパシタ組込み基板200は、基板がコア241及び第1のビルドアップ層242から成り、コア241の内部に第1〜第3のキャパシタ210、220、230が組み込まれて具現される。
コア241は、キャパシタ組込み基板200の放熱性能を向上させる働きを果たす。
図3は、本発明の第3の実施形態によるキャパシタ組込み基板300を概略的に示す図面である。
上記第1及び第2の実施形態の説明に重複する説明は省略することにする。
図3に示すように、本発明の第3の実施形態によるキャパシタ組込み基板300は、積層コア340と、第1〜第3のキャパシタ310、320、330と、第1のビルドアップ層342と、第2のビルドアップ層343と、第1の導電パターン351とを含む。
積層基板は、各層ごとにコアビア361が形成されたコア341が複数積層されてなる。
熱応力による捻りを最小化するために、通常、熱膨張率(CTE)が10ppm/℃以下の材料でコアを形成しているが、そのような熱膨張率の低い材料を機械的ドリルで加工する場合、高強度の材料から成るドリル刃が必要となり、加工の効率が低くなる。
このような問題を考慮して、コアビアホールの加工時にレーザを使ってもよいが、コアが厚い場合、該コアの両面でレーザを照射して加工をするため、砂時計形状のコアビアホールが作われるのが一般的である。
ところが、レーザで加工された砂時計形状のコアビアホールは、コアの厚さ方向での中心部の断面積がコアビアホールの上部及び下部の断面積より狭くなる。この場合、中心部の断面積を広げるためには、コアビアホールの上部及び下部の断面積も比例して広くなるようになる。
これによって、砂時計形状のコアビアホールの内部全体を銅などの伝導性金属で充填する過程において、広い断面積のコアビアホールの内部を完全に充填しにくくなる。
また、このような構造では、コアビア間のスタック(Stack)構造(超高速信号伝送構造)を具現しにくくなるという不都合も発生し、配線密度にも悪影響を及ぼすことになる。
したがって、砂時計形状のコアビアホールにおいて、厚さ方向での中心部の断面積を広げることは、多くの問題を誘発するようになる。
このような問題を解決するために、本発明の第3の実施形態によるキャパシタ組込み基板300は、所定の厚さを有するコア341にコアビア361を形成した状態で複数層で積層することによって積層コア340を厚くすると共に、積層コア340の一面と他面との間を電気的に接続するビアの断面積を最大化できるようになる。
積層コア340を成す各々のコア341は、同じ厚さを有し、必要によって異なる厚さを有してもよい。
従って、放熱性能の向上及び電気伝導度の向上を具現することによって、信号処理速度を改善することができる。
一方、第1〜第3のキャパシタ310、320、330は積層コア340の内部に組み込まれる。第1〜第3のキャパシタ310、320、330のうちの少なくともいずれか一つを積層コア340の内部に組み込むためにキャビティ344を具備する。
また、キャパシタの容量は、キャパシタの大きさによって調節される。同図のように、第1〜第3のキャパシタ310、320、330の大きさが(第1のキャパシタ310<第2のキャパシタ320<第3のキャパシタ330)の関係になるように形成する場合、その容量関係も(第1のキャパシタ310の容量<第2のキャパシタ320の容量<第3のキャパシタ330の容量)の関係が成立される。
また、このようなキャパシタの大きさ及び容量を設定するにおいて、キャパシタの厚さが差等的に決まってもよい。
したがって、第1のキャパシタ310の垂直上方及び下方領域に位置するコア341の層数は、第2のキャパシタ320の垂直上方及び下方領域に位置するコア341の層数より多くなる。第2のキャパシタ320の垂直上方及び下方領域に位置するコア341の層数は、第3のキャパシタ330の垂直上方及び下方領域に位置するコア341の層数より多くなる。
これによって、積層コア340の内部にキャパシタを組み込む工程の効率性が向上されると共に、積層コア340の内部にキャパシタを組み込むために必要となる空間を最小化でき、キャパシタ組込み基板300をより一層小型化及びスリム化することができる。
積層コア340の表面には第2のビルドアップ層343が設けられ、第2のビルドアップ層343の表面には第1のビルドアップ層342が設けられる。
第2のビルドアップ層343は第2の導電パターン352及び第2のビルドアップビア363を含み、第1のビルドアップ層342は第1のビルドアップビア362を含み、その表面に第1の導電パターン351が設けられる。
第2のビルドアップ層343はガラス繊維、または積層コア340の熱膨張係数値と第1のビルドアップ層342の熱膨張係数値との間の熱膨張係数値を有する材料から成る。
キャパシタ組込み基板300が積層コア340、ビルドアップ層342、343などのように異なる物性を有する材料から成ることによって、製造工程及び使用過程での熱衝撃によって不均等な膨張や収縮が発生することになる。このような現象によって、積層コア340とビルドアップ層342、343との間の界面にクラックが発生することになる。
このような問題は、キャパシタ組込み基板300がスリム化されるほど、キャパシタ組込み基板300の構成が複雑されるほど深刻な問題になる。
本発明の第3の実施形態によるキャパシタ組込み基板300は、このような問題を解決するために、第2のビルドアップ層343がガラス繊維、または積層コア340と第1のビルドアップ層342との熱伸縮率の差を緩衝することができる材質から成るようにする。
一方、第2の導電パターン352はコアビア361に直接接触され、第2のビルドアップビア363は、第2の導電パターン352及び第3の導電パターン353に直接接触されて電気的接続を具現する。
第1〜第3のキャパシタ310、320、330と第1の導体パターン351との間の信号伝送経路がさらに確保され得るように、第1〜第3のキャパシタ310、320、330の容量の活用度が高くなる。
このため、本発明の第3の実施形態によるキャパシタ組込み基板300では、第1〜第3のキャパシタ310、320、330の外部電極に一側が接触されるコアビア361に直接接触される第2の導体パターン352には、第2のビルドアップビア363が複数個接触されてもよい。
図3に示すように、第1〜第3のキャパシタ310、320、330の外部電極に一側が接触されるコアビア361は、コアビア361が2層以上に接続されたものであってもよい。
これによって、第1〜第3のキャパシタ310、320、330と第1の導体パターンとの間の信号伝達経路が従来より広くなり、第1〜第3のキャパシタ310、320、330の容量を効率よく活用することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、前記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
100、200、110、210、120、220、130、230、140 絶縁部
150、251、351 第1の導電パターン
160 ビア
241 コア
242、342 第1のビルドアップ層
252、352 第2の導電パターン
261、361 コアビア
262、362 第1のビルドアップビア
300 キャパシタ組込み基板
310 第1のキャパシタ
320 第2のキャパシタ
330 第3のキャパシタ
340 積層コア
341 コア
343 第2のビルドアップ層
344 キャビティ
353 第3の導電パターン
363 第2のビルドアップビア
370 バンプ

Claims (16)

  1. 絶縁部の内部に設けられ、複数のコアを含む、積層コアと、
    前記複数のコアのうち少なくともいずれか1つのコアに挿入された第1のキャパシタと、
    前記第1のキャパシタが挿入された前記少なくともいずれか1つのコアと、前記少なくともいずれか1つのコアに隣接する他の少なくとも1つのコアと、を含む複数のコアに設けられたキャビティに挿入された第2のキャパシタと、を含み、
    前記第2のキャパシタは、前記第1のキャパシタよりも容量が大きく、前記第1のキャパシタと前記第2のキャパシタは、電気的に並列接続されている、キャパシタ組込み基板。
  2. 前記第2のキャパシタの垂直方向の厚さは、前記第1のキャパシタの垂直方向の厚さより大きい、請求項1に記載のキャパシタ組込み基板。
  3. コアビアが各々設けられるコアが少なくとも二層で積層されてなる積層コアと、
    前記積層コアの内部に設けられる第1のキャパシタ及び第2のキャパシタと、
    前記積層コアの外面に形成される第2の導電パターン及び該第2の導電パターンに一面が接触される第2のビルドアップビアを有する第2のビルドアップ層と、
    前記第2のビルドアップ層の外面に形成され、前記第2のビルドアップビアの他面に接触される第3の導電パターン及び該第3の導電パターンに一面が接触される第1のビルドアップビアを有する第1のビルドアップ層と、
    前記第1のビルドアップ層の外面に形成され、前記第1のビルドアップビアの他面に接触される第1の導電パターンとを含み、
    前記コアビアのうちの一部は、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第2の導体パターンに接触され、
    前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタは容量が異なり、
    前記第1の導体パターンまたは前記第2の導体パターンによって、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタが並列で接続され、
    前記第2のビルドアップ層は、前記積層コアの熱膨張係数の値と前記第1のビルドアップ層の熱膨張係数の値との間の熱膨張係数値を有する物質からなる、キャパシタ組込み基板。
  4. 前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタのうちの少なくともいずれか一つは、前記積層コアの内部に形成されるキャビティ内に設けられる、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  5. 前記第2の導体パターンのうち、前記第1のキャパシタ及び前記第2のキャパシタの外部電極に一側が接触されるコアビアの他側に接触される少なくともいずれか一つは、前記第2のビルドアップビアが複数接触される、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  6. 前記第2のビルドアップ層は、ガラス繊維をさらに含む請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  7. 前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFであり、
    前記第2のキャパシタは、前記第1のキャパシタの容量より大きい容量を有する、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  8. 前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFであり、
    前記第2のキャパシタの容量は数〜数百nFである、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  9. 前記第1のキャパシタの容量は数〜数百nFであり、
    前記第2のキャパシタは、前記第1のキャパシタの容量より大きい容量を有する、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  10. 前記第1のキャパシタの容量は数〜数百nFであり、
    前記第2のキャパシタの容量は数〜数百μFである、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  11. 前記第1のキャパシタの垂直上方領域及び前記第1のキャパシタの垂直下方領域に位置するコアの層数は、前記第2のキャパシタの垂直上方領域及び前記第2のキャパシタの垂直下方領域に位置するコアの層数より多い、請求項に記載のキャパシタ組込み基板。
  12. コアビアが各々設けられるコアが少なくとも二層で積層されてなる積層コアと、
    前記積層コアの内部に設けられる第1のキャパシタ、第2のキャパシタ及び第3のキャパシタと、
    前記積層コアの外面に形成される第2の導電パターン及び該第2の導電パターンに一面が接触される第2のビルドアップビアを有する第2のビルドアップ層と、
    前記第2のビルドアップ層の外面に形成され、前記第2のビルドアップビアの他面に接触される第3の導電パターン及び該第3の導電パターンに一面が接触される第1のビルドアップビアを有する第1のビルドアップ層と、
    前記第1のビルドアップ層の外面に形成され、前記第1のビルドアップビアの他面に接触される第1の導電パターンとを含み、
    前記コアビアのうちの一部は、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタの外部電極に一側が接触され、他側は前記第2の導体パターンに接触されることによって、
    前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタは容量が異なり、
    前記第1の導体パターンまたは前記第2の導体パターンによって、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタが並列で接続され
    前記第2のビルドアップ層は、前記積層コアの熱膨張係数の値と前記第1のビルドアップ層の熱膨張係数の値との間の熱膨張係数値を有する物質からなる、キャパシタ組込み基板。
  13. 前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタのうちの少なくともいずれか一つは、前記積層コアの内部に形成されるキャビティ内に設けられる、請求項12に記載のキャパシタ組込み基板。
  14. 前記第2の導体パターンのうち、前記第1のキャパシタ、前記第2のキャパシタ及び前記第3のキャパシタの外部電極に一側が接触されるコアビアの他側に接触される少なくともいずれか一つは、前記第2のビルドアップビアが複数接触される、請求項12に記載のキャパシタ組込み基板。
  15. 前記第2のビルドアップ層は、ガラス繊維をさらに含む、請求項12に記載のキャパシタ組込み基板。
  16. 前記第1のキャパシタの容量は数〜数百pFであり、
    前記第2のキャパシタの容量は数〜数百nFであり、
    前記第3のキャパシタの容量は数〜数百μFである、請求項12に記載のキャパシタ組込み基板。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160055976A1 (en) * 2014-08-25 2016-02-25 Qualcomm Incorporated Package substrates including embedded capacitors
US10159152B2 (en) * 2015-12-21 2018-12-18 Intel Corporation Development of the advanced component in cavity technology
SG10201604384YA (en) * 2016-05-31 2017-12-28 Delta Electronics Int'l (Singapore) Pte Ltd Embedded package structure
CN207022275U (zh) 2017-04-01 2018-02-16 奥特斯(中国)有限公司 部件承载件
CN111640727B (zh) * 2019-03-01 2022-09-23 奥特斯(中国)有限公司 包括具有不同物理特性的介电结构的部件承载件
JP7318305B2 (ja) * 2019-05-17 2023-08-01 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 発光装置
CN113451259B (zh) * 2021-05-14 2023-04-25 珠海越亚半导体股份有限公司 一种多器件分次嵌埋封装基板及其制造方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61124483A (ja) * 1984-11-20 1986-06-12 三菱電機株式会社 油圧エレベ−タ装置
JPH0625031Y2 (ja) * 1987-07-21 1994-06-29 株式会社村田製作所 コンデンサ内蔵積層基板
JP2002118367A (ja) 1999-09-02 2002-04-19 Ibiden Co Ltd プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP2003204171A (ja) * 2002-01-04 2003-07-18 Karentekku:Kk ビルドアップ多層板
JP2004193336A (ja) * 2002-12-11 2004-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd ビルドアップ基板
JP2005191243A (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Ngk Spark Plug Co Ltd ビルドアップ多層配線基板
US7336501B2 (en) * 2006-06-26 2008-02-26 Ibiden Co., Ltd. Wiring board with built-in capacitor
US7818704B1 (en) * 2007-05-16 2010-10-19 Altera Corporation Capacitive decoupling method and module
KR101301373B1 (ko) * 2010-10-25 2013-08-29 삼성전기주식회사 커패시터 내장형 인쇄회로기판

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