JP5714513B2 - 試料を形成して被分析面から吸引する方法及びそのためのシステム - Google Patents
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Claims (17)
- 分析対象の表面上で試料を形成して、前記形成された試料をその表面から吸引するための方法であって、
入口(26)と出口(44)とを有する通路とポートとを備える器具であって、そのポートを通じて溶液が前記分析対象の表面上に誘導され、前記通路の入口(26)から吸引された前記溶液を前記通路の出口(44)から送出する器具を、提供するステップと、
前記器具のポートを前記分析対象の表面に近接させて位置決めする、位置決めするステップと、
前記器具のポートを通じて前記表面上に前記溶液を誘導するステップであって、これにより、前記表面上に誘導された前記溶液が、前記表面を構成する物質と相互作用するようになる、誘導するステップと、
前記通路の出口(44)におけるガスの流量が低減された状態と上昇された状態との間で変更され、該ガスの流量が低減された状態のときには、前記器具のポートと前記分析対象の表面との間で前記相互作用された溶液のジャンクションが形成され、前記ガスの流量が上昇された状態のときには、前記形成されたジャンクションが前記表面から吸引されることになる、ガスの流量を変更するステップと、
前記ガスの流量を上昇させて、前記表面から一分量の物質を吸引する、吸引するステップと
から構成されることを特徴とする方法。 - 前記誘導するステップは、前記器具のポートを前記表面に対して静止した関係に維持するステップを含んでおり、これにより、前記溶液が前記表面上に誘導される間、前記器具のポートは前記表面に対して静止した関係に維持される、請求項1に記載の方法。
- 前記誘導するステップの後には、前記吸引するステップが実行される前に、予め選択された期間を経過させるステップが続き、これにより、前記表面から前記物質が吸引される前に、前記予め選択された期間の継続時間の間、前記溶液は前記表面の前記物質と相互作用することが可能である、請求項1に記載の方法。
- 前記器具を位置決めするステップでは、前記器具のポートは、前記分析対象の表面上の第1の位置に近接して位置決めされ、
前記誘導するステップの後には、
前記器具を、前記分析対象の表面上の第2の位置に移動させるステップと、
前記溶液の一分量を、前記器具のポートを通じて、前記表面上の前記第2の位置に誘導するステップと、
前記第1の位置で前記表面から一分量の物質が吸引される前に、前記器具のポートを前記第1の位置に近接させて再配置するステップと、が続く、請求項1に記載の方法。 - 前記表面は、実質的にXY平面内に配置されていて、前記表面上に、そこからの試料の採集が所望される複数のXY座標位置が含まれており、
前記XY平面内で前記表面を前記器具に対して相対移動させることにより、前記器具のポートが、試料採集のために、前記表面上の前記XY座標位置の選択された1つに近接させて位置決めされる、ステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 分析対象の表面上で試料を形成して、前記形成された試料をその表面から吸引するための方法であって、
入口(26)と出口(44)とを有する通路とポートとを備える採集器具であって、そのポートを通じて溶液が前記分析対象の表面上に誘導され、前記入口(26)を通じて一分量の前記試料が前記表面から吸引される、採集器具を提供するステップと、
前記採集器具のポートを、前記表面に近接させて、前記表面に合わせた試料採集位置に位置決めするステップと、
前記採集器具のポートを通じて前記表面上に前記溶液を誘導するステップであって、これにより、前記表面上に誘導された前記溶液が、前記表面を構成する物質と相互作用するようになる、誘導するステップと、
前記通路の出口(44)におけるガスの流量が低減された状態と上昇された状態との間で変更され、該ガスの流量が低減された状態のときには、前記採集器具のポートと前記分析対象の表面との間で前記相互作用された溶液のジャンクションが形成され、前記ガスの流量が上昇された状態のときには、前記形成されたジャンクションが前記表面から吸引されることになる、ガスの流量を変更するステップと、
前記出口(44)におけるガスの流量を上昇させて、前記採集器具を用いて、前記入口(26)を介して前記表面から一分量の物質を吸引する、吸引するステップと
から構成されることを特徴とする方法。 - 前記誘導するステップは、前記採集器具のポートを前記表面に対して静止した関係に維持するステップを含んでおり、これにより、前記溶液が前記表面上に誘導される間、前記器具のポートは前記表面に対して静止した関係に維持される、請求項6に記載の方法。
- 前記誘導するステップの後には、前記吸引するステップが実行される前に、予め選択された期間を経過させるステップが続き、これにより、前記表面から前記物質が吸引される前に、前記予め選択された期間の継続時間の間、前記溶液は前記表面の前記物質と相互作用することが可能である、請求項6に記載の方法。
- 前記器具を位置決めするステップでは、前記器具のポートは、前記分析対象の表面上の第1の位置に近接して位置決めされ、
前記誘導するステップの後には、
前記器具を、前記分析対象の表面上の第2の位置に移動させるステップと、
前記溶液の一分量を、前記採集器具のポートを通じて、前記表面上の前記第2の位置に誘導するステップと、
前記第1の位置で前記表面からの一分量の物質が吸引される前に、前記器具のポートを前記第1の位置に近接させて再配置するステップと、が続く、請求項6に記載の方法。 - 前記表面は、実質的にXY平面内に配置されていて、前記表面上に、そこからの試料の採集が所望される複数のXY座標位置が含まれており、
当該方法は、前記XY平面内で前記表面を前記採集器具に対して相対移動させるステップであって、これにより、前記採集器具のポートが、試料採集のために、前記表面上の前記XY座標位置の選択された1つに近接させて位置決めされる、ステップをさらに含む、請求項6に記載の方法。 - 試料を多く含む液体ジャンクションを形成して、分析対象の表面から吸引するための方法であって、
ポートを備える採集器具であって、さらに、該ポートを通じて溶液が前記分析対象の表面上に誘導される1つの通路と、前記ポートを通じて一分量の試料が前記表面から吸引される別の通路であって当該ポートにある入口(26)と該入口から吸引された試料を送出するための出口(44)とを有する別の通路とを備える、採集器具を、提供するステップと、
前記採集器具のポートを、試料採集のため、前記表面に対して所望の位置関係で位置決めするステップと、
前記採集器具の前記1つの通路により、溶液を、前記採集器具のポートを通じて前記表面上に誘導するステップであって、これにより、前記表面上に誘導された前記溶液が、前記表面を構成する物質と相互作用するようになって、そこで、試料を多く含む液体ジャンクションが形成される、誘導するステップと、
前記別の通路の出口(44)におけるガスの流量が低減された状態と上昇された状態との間で変更され、該ガスの流量が低減された状態のときには、前記採集器具のポートと前記分析対象の表面との間で前記相互作用された液体ジャンクションが形成され、前記ガスの流量が上昇された状態のときには、前記形成された液体ジャンクションが前記表面から吸引されることになる、ガスの流量を変更するステップと、
前記ガスの流量を上昇させて、前記採集器具の前記別の通路を通じて、前記表面から前記試料を多く含む液体ジャンクションを吸引するステップと
から構成されることを特徴とする方法。 - 前記吸引するステップは、霧化ガス流を用いて達成され、この霧化ガス流を制御することで、前記表面からの前記試料の吸引が制御される、請求項11に記載の方法。
- 前記表面は、実質的にXY平面内に配置されていて、前記表面上に、そこからの試料の採集が所望される複数のXY座標位置が含まれており、
当該方法は、前記試料の表面を前記採集器具に対して相対移動させるステップであって、これにより、前記採集器具のポートが、試料採集のために、前記表面上の前記XY座標位置の選択された1つに近接させて位置決めされる、ステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。 - 試料を形成して、それを分析対象の表面から分析のために吸引する、表面サンプリングシステムであって、
入口(26)と出口(44)とを有する通路とポートとを備える器具であって、そのポートを通じて溶液が前記分析対象の表面上に誘導される、器具と、
前記器具のポートを前記分析対象の表面に近接させて位置決めする手段と、
前記器具のポートを通じて前記表面上に前記溶液を誘導する手段であって、これにより、前記表面上に誘導された前記溶液が、前記表面を構成する物質と相互作用するようになる、誘導する手段と、
前記通路の出口(44)におけるガスの流量が低減された状態と上昇された状態との間で変更され、該ガスの流量が低減された状態のときには、前記器具のポートと前記分析対象の表面との間で前記相互作用された溶液のジャンクションが形成され、前記ガスの流量が上昇された状態のときには、前記形成されたジャンクションが前記表面から吸引されることになる、ガスの流量を変更する手段と、
前記出口(44)におけるガスの流量を上昇させて、前記器具の入口(26)を通じて、前記表面から一分量の物質を吸引する手段と
から構成されることを特徴とするシステム。 - 前記吸引する手段は、霧化ガス流を用いて達成され、
当該システムは、前記霧化ガス流を制御する手段をさらに有し、これにより前記霧化ガス流を制御することで、前記表面からの前記試料の吸引が制御される、請求項14に記載のシステム。 - 前記採集器具によりサンプリングされる前記表面は、実質的にXY平面内に配置されていて、前記採集器具からZ座標軸に沿って離間されており、
当該システムは、前記XY平面内で前記表面と前記採集器具のポートを互いに対して相対移動させる手段をさらに有し、これにより、前記表面に沿った複数のXY座標位置のうち任意の位置を、試料採集のために、前記ポートに近接させて位置決めすることができる、請求項14に記載のシステム。 - 前記表面は、そこからの試料の採集が所望される複数のXY座標位置を含んでおり、
当該システムは、前記一分量の物質の吸引を、前記XY座標平面での前記表面に対する前記器具のポートの位置決めに連携させる手段をさらに有し、これにより、当該システムにより実行される試料採集操作の特性が制御される、請求項14に記載のシステム。
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Families Citing this family (43)
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JP5819943B2 (ja) * | 2010-05-07 | 2015-11-24 | ユーティ—バテル エルエルシー | 表面からサンプルを抽出するためのシステムおよび方法 |
US8486703B2 (en) | 2010-09-30 | 2013-07-16 | Ut-Battelle, Llc | Surface sampling concentration and reaction probe |
US8637813B2 (en) * | 2010-10-01 | 2014-01-28 | Ut-Battelle, Llc | System and method for laser assisted sample transfer to solution for chemical analysis |
US8519330B2 (en) | 2010-10-01 | 2013-08-27 | Ut-Battelle, Llc | Systems and methods for laser assisted sample transfer to solution for chemical analysis |
KR101858780B1 (ko) * | 2011-01-24 | 2018-05-16 | 닐스 비. 에이디 | 재료 샘플로부터 재료를 추출하기 위한 장치, 시스템, 및 방법 |
WO2012167259A1 (en) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Ut-Battelle, Llc | Enhanced spot preparation for liquid extractive sampling and analysis |
TWI492166B (zh) | 2012-01-12 | 2015-07-11 | Kofax Inc | 行動影像擷取和處理的系統和方法 |
US11321772B2 (en) | 2012-01-12 | 2022-05-03 | Kofax, Inc. | Systems and methods for identification document processing and business workflow integration |
US10146795B2 (en) | 2012-01-12 | 2018-12-04 | Kofax, Inc. | Systems and methods for mobile image capture and processing |
JP5955033B2 (ja) * | 2012-03-01 | 2016-07-20 | キヤノン株式会社 | イオン化方法、質量分析方法、抽出方法及び精製方法 |
JP5881166B2 (ja) * | 2012-06-14 | 2016-03-09 | 株式会社 イアス | 基板分析用ノズル |
US9176028B2 (en) * | 2012-10-04 | 2015-11-03 | Ut-Battelle, Llc | Ball assisted device for analytical surface sampling |
US10127636B2 (en) * | 2013-09-27 | 2018-11-13 | Kofax, Inc. | Content-based detection and three dimensional geometric reconstruction of objects in image and video data |
JP5971289B2 (ja) * | 2014-08-20 | 2016-08-17 | 株式会社 イアス | 基板局所の自動分析装置及び分析方法 |
US9760788B2 (en) | 2014-10-30 | 2017-09-12 | Kofax, Inc. | Mobile document detection and orientation based on reference object characteristics |
US9390901B2 (en) | 2014-10-31 | 2016-07-12 | Ut-Battelle, Llc | System and method for liquid extraction electrospray-assisted sample transfer to solution for chemical analysis |
US9632066B2 (en) | 2015-04-09 | 2017-04-25 | Ut-Battelle, Llc | Open port sampling interface |
US10060838B2 (en) * | 2015-04-09 | 2018-08-28 | Ut-Battelle, Llc | Capture probe |
US10467465B2 (en) | 2015-07-20 | 2019-11-05 | Kofax, Inc. | Range and/or polarity-based thresholding for improved data extraction |
US10242285B2 (en) | 2015-07-20 | 2019-03-26 | Kofax, Inc. | Iterative recognition-guided thresholding and data extraction |
GB201513167D0 (en) * | 2015-07-27 | 2015-09-09 | Thermo Fisher Scient Bremen | Elemental analysis of organic samples |
JP6156893B1 (ja) * | 2016-03-01 | 2017-07-05 | 株式会社 イアス | 基板分析用のノズル |
JP6823235B2 (ja) * | 2016-07-12 | 2021-02-03 | 山善株式会社 | 薄層クロマトグラフ分取方法及び薄層クロマトグラフ用分取装置 |
CA3035743A1 (en) * | 2016-09-02 | 2018-03-08 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Collection probe and methods for the use thereof |
CN109844901B (zh) * | 2016-10-14 | 2022-06-14 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 提高用于质谱分析的直接取样接口灵敏度的方法和系统 |
WO2018227079A1 (en) * | 2017-06-08 | 2018-12-13 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Systems and methods for microarray droplet ionization analysis |
WO2019102352A1 (en) | 2017-11-21 | 2019-05-31 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Methods and systems for feedback control of direct sampling interfaces for mass spectrometric analysis |
US11348780B2 (en) | 2017-11-21 | 2022-05-31 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Methods and systems utilizing ultrasound-assisted sampling interfaces for mass spectrometric analysis |
US10770277B2 (en) | 2017-11-22 | 2020-09-08 | Labcyte, Inc. | System and method for the acoustic loading of an analytical instrument using a continuous flow sampling probe |
SG11202004568UA (en) | 2017-11-27 | 2020-06-29 | Univ Texas | Minimally invasive collection probe and methods for the use thereof |
US11062176B2 (en) | 2017-11-30 | 2021-07-13 | Kofax, Inc. | Object detection and image cropping using a multi-detector approach |
JP7158642B2 (ja) * | 2018-01-16 | 2022-10-24 | 国立大学法人山梨大学 | 質量分析装置及び質量分析システム |
US11125657B2 (en) | 2018-01-30 | 2021-09-21 | Ut-Battelle, Llc | Sampling probe |
EP3522201B1 (en) * | 2018-02-02 | 2020-10-07 | Tofwerk AG | Autosampler |
EP3805749A4 (en) * | 2018-05-31 | 2021-07-07 | Shimadzu Corporation | MASS SPECTROMETRY AT IONIZATION BY ELECTRONEBULIZATION WITH PROBE |
US11232938B2 (en) | 2018-06-29 | 2022-01-25 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Sampling probe and sampling interface for mass spectrometry |
CA3182480C (en) * | 2018-07-10 | 2024-05-21 | Precision Planting Llc | Agricultural sampling system and related methods |
WO2020234631A1 (en) * | 2019-05-23 | 2020-11-26 | Arcelormittal | A humidity detection equipment of a strip |
JP2022550750A (ja) | 2019-09-30 | 2022-12-05 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析システムおよび方法における使用のための内部サンプリング伴うサンプリングプローブ |
US11417508B2 (en) | 2020-01-16 | 2022-08-16 | Ut-Battelle, Llc | Porous membrane enabled mass spectrometry characterization of microfluidic devices |
EP4364184A1 (en) | 2021-06-30 | 2024-05-08 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | Methods and systems for performing reactions within direct sampling interfaces for mass spectrometric analysis |
WO2024100503A1 (en) | 2022-11-10 | 2024-05-16 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Pressure based opi position control |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63315930A (ja) * | 1987-06-19 | 1988-12-23 | Tekunoroogu:Kk | 電子部品の外被に対する穿孔方法とその装置 |
JPH07159293A (ja) | 1993-12-10 | 1995-06-23 | Sony Corp | 表面分析方法及び表面分析装置 |
US6207954B1 (en) * | 1997-09-12 | 2001-03-27 | Analytica Of Branford, Inc. | Multiple sample introduction mass spectrometry |
CA2590656A1 (en) * | 1997-09-12 | 1999-03-18 | Analytica Of Branford, Inc. | Multiple sample introduction mass spectrometry |
CA2306009C (en) * | 1997-10-15 | 2008-08-05 | Analytica Of Branford, Inc. | Curved introduction for mass spectrometry |
US6620625B2 (en) * | 2000-01-06 | 2003-09-16 | Caliper Technologies Corp. | Ultra high throughput sampling and analysis systems and methods |
US6709699B2 (en) * | 2000-09-27 | 2004-03-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Film-forming method, film-forming apparatus and liquid film drying apparatus |
JP2004535273A (ja) * | 2001-04-04 | 2004-11-25 | アラダイアル, インコーポレイテッド | 液体を分配するためのシステムおよび方法 |
JP4552363B2 (ja) * | 2001-06-15 | 2010-09-29 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
US6803566B2 (en) | 2002-04-16 | 2004-10-12 | Ut-Battelle, Llc | Sampling probe for microarray read out using electrospray mass spectrometry |
JP4222094B2 (ja) * | 2003-05-09 | 2009-02-12 | 株式会社島津製作所 | 膜上固相化物の抽出方法及び装置 |
JP2006120674A (ja) * | 2004-10-19 | 2006-05-11 | Canon Inc | 露光装置及び方法、デバイス製造方法 |
US7295026B2 (en) * | 2005-06-03 | 2007-11-13 | Ut-Battelle, Llc | Automated position control of a surface array relative to a liquid microjunction surface sampler |
JP4731359B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2011-07-20 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置用試料気化装置及びicp分析装置 |
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