JP5710024B2 - 太陽電池の製造方法 - Google Patents

太陽電池の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5710024B2
JP5710024B2 JP2013550140A JP2013550140A JP5710024B2 JP 5710024 B2 JP5710024 B2 JP 5710024B2 JP 2013550140 A JP2013550140 A JP 2013550140A JP 2013550140 A JP2013550140 A JP 2013550140A JP 5710024 B2 JP5710024 B2 JP 5710024B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transparent electrode
electrode
solar cell
surface side
collector electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013550140A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2013094233A1 (ja
Inventor
祐樹 津田
祐樹 津田
博文 小西
博文 小西
努 松浦
努 松浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2013550140A priority Critical patent/JP5710024B2/ja
Publication of JPWO2013094233A1 publication Critical patent/JPWO2013094233A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5710024B2 publication Critical patent/JP5710024B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1884Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
    • H01L31/1888Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO methods for etching transparent electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022466Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022466Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
    • H01L31/022475Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers composed of indium tin oxide [ITO]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022466Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
    • H01L31/022483Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers composed of zinc oxide [ZnO]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0236Special surface textures
    • H01L31/02363Special surface textures of the semiconductor body itself, e.g. textured active layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/028Inorganic materials including, apart from doping material or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0376Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including amorphous semiconductors
    • H01L31/03762Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including amorphous semiconductors including only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • H01L31/05Electrical interconnection means between PV cells inside the PV module, e.g. series connection of PV cells
    • H01L31/0504Electrical interconnection means between PV cells inside the PV module, e.g. series connection of PV cells specially adapted for series or parallel connection of solar cells in a module
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/072Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN heterojunction type
    • H01L31/0745Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN heterojunction type comprising a AIVBIV heterojunction, e.g. Si/Ge, SiGe/Si or Si/SiC solar cells
    • H01L31/0747Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN heterojunction type comprising a AIVBIV heterojunction, e.g. Si/Ge, SiGe/Si or Si/SiC solar cells comprising a heterojunction of crystalline and amorphous materials, e.g. heterojunction with intrinsic thin layer or HIT® solar cells; solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

本発明は、太陽電池およびその製造方法、太陽電池モジュールに関し、特に、光電変換層における光の入射面側に透明電極と集電極とを備えた太陽電池およびその製造方法、太陽電池モジュールに関する。
太陽光を直接電気エネルギーに変換することのできる太陽電池は、石油代替エネルギー源として期待されている。このうち、結晶シリコン基板を用いた結晶シリコン太陽電池は、光電変換効率が高く、既に太陽光発電システムとして広く一般に実用化されている。その中でも、単結晶シリコンとはバンドギャップの異なる非晶質シリコン系薄膜を単結晶シリコン基板表面へ成膜して拡散電位を形成した結晶シリコン太陽電池は、ヘテロ接合太陽電池と呼ばれている。
さらに、拡散電位を形成するための導電型非晶質シリコン系薄膜と結晶シリコン表面との間に薄い真性の非晶質シリコン層を介在させる太陽電池は、光電変換効率の最も高い結晶シリコン太陽電池の形態の一つとして知られている。結晶シリコン表面と導電型非晶質シリコン系薄膜との間に、薄い真性な非晶質シリコン層を成膜することで、成膜による新たな欠陥準位の生成を低減しつつ結晶シリコンの表面に存在する欠陥(主にシリコンの未結合手)を水素で終端化処理することができる。また、導電型非晶質シリコン系薄膜を成膜する際の、キャリア導入不純物の結晶シリコン表面への拡散を防止することもできる。
近年、結晶シリコン太陽電池の原料問題やコストの観点から、使用する単結晶シリコン基板の厚みを低減する必要性が高まっている。このため、この単結晶シリコン基板の厚みの低減に応じて、光を基板内へ効率良く閉じ込める技術が重要となっている。また、透明電極における光吸収ロスを減らす必要性が高まっている。しかし、透明電極での光吸収ロスを減らすために透明電極のキャリア濃度を低減すると透明電極の導電性が低くなる。このため、透明電極の光透過性と導電性との両立が課題となっている。
特許文献1には、光電変換層の表面上に形成された透明電極と、前記透明電極上の所定領域に形成された集電極とを備え、前記透明電極が、光電変換層との界面近傍および前記集電極が形成されている領域に対応する部分を高導電率領域、それ以外の部分を高光透過領域として形成される太陽電池が記載されている。しかし、この形態では光路に光吸収係数の高い高導電率領域が存在することになり、光の吸収が増加し、光電変換効率の向上が小さく、また、高光透過領域を形成するために酸素プラズマ処理を行うため、集電極である銀の酸化により導電率が低下するという問題点がある。
特許文献2には、集電極直下の実質的に入射光の当たらない領域にのみキャリア濃度の高い領域を設けることで光路では光透過性が高く且つ導電性がある層が形成され、さらに集電極の下にはキャリア濃度が高い層が存在する結晶シリコン系太陽電池が示されている。この結晶シリコン系太陽電池では、透明電極層から集電極の接合が良好となり、光電変換効率が向上している。
特開2004−214442号公報 特開2011−77454号公報
しかしながら、上記特許文献2の技術では集電極の影となる領域のみを高キャリア濃度透明電極とすることにより、高キャリア濃度透明電極での光吸収ロスを無くし、透明電極から集電極への接合の改善により直列抵抗を低減することを実現しているが、その効果は十分とはいえない。
また、特許文献2では集電極と同様の形状の高キャリア濃度透明電極を形成後、その上に集電極を形成する必要があるため、集電極形成時に正確な位置合わせが必要となる。この場合は、集電極との位置や電極の形成される幅にずれが生じる可能性があり、高キャリア濃度透明電極が集電極から露出した場合には該露出した高キャリア濃度透明電極による光吸収ロスが生じるおそれがある。さらに、高電流化を目指して集電極の狭幅化が進むことで、その可能性は高まる。このような問題は、光電変換層における光の入射面側に透明電極と集電極とを備えた太陽電池において共通の課題である。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、光電変換層における光の入射面側に透明電極と集電極とを備えた太陽電池において、透明電極による光吸収ロスが抑制されるとともに電池内の直列抵抗が低減され光電変換効率に優れた太陽電池およびその製造方法、太陽電池モジュールを得ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる太陽電池の製造方法は、光電変換層上の全面に第1の透明電極を形成する第1工程と、前記第1の透明電極上の特定の領域に集電極を形成する第2工程と、前記集電極をマスクとして前記第1の透明電極をエッチングして前記集電極直下以外の前記第1の透明電極を除去する第3工程と、前記光電変換層上および前記集電極上に前記第1の透明電極よりもキャリア濃度が低い第2の透明電極を形成する第4工程と、を含むことを特徴とする。
本発明によれば、透明電極による光吸収ロスが抑制されるとともに電池内の直列抵抗が低減された光電変換効率に優れた結晶シリコン系太陽電池が得られる、という効果を奏する。
図1は、本発明の実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の概略構成を示す要部斜視図である。 図2−1は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。 図2−2は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。 図2−3は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。 図2−4は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。 図2−5は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。 図2−6は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。 図3は、本発明の実施の形態2にかかる結晶シリコン系太陽電池の概略構成を示す要部断面図である。 図4は、本発明の実施の形態3にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールの概略構成を示す要部斜視図である。 図5は、本発明の実施の形態3にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールにおける太陽電池セル同士の接続部を示す断面拡大図である。
以下に、本発明にかかる太陽電池およびその製造方法、太陽電池モジュールの実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は以下の記述に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、以下に示す図面においては、理解の容易のため、各部材の縮尺が実際とは異なる場合がある。各図面間においても同様である。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の概略構成を示す要部斜視図である。本実施の形態にかかる結晶シリコン系太陽電池は、光電変換層を構成するn型単結晶シリコン基板1の一面上に実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層2とp型非晶質シリコン系薄膜層3とがこの順で積層され、n型単結晶シリコン基板1の他面上に実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層4とn型非晶質シリコン系薄膜層5とがこの順で積層されている。また、p型非晶質シリコン系薄膜層3上の所定の領域には、受光面側透明電極6および受光面側集電極7を備える。n型非晶質シリコン系薄膜層5上の全面には裏面側透明電極8が形成され、該裏面側透明電極8上の所定の領域に裏面側集電極9が形成されている。n型単結晶シリコン基板1の一面側の表面には、テクスチャと呼ばれる凹凸構造が形成されている。受光面側透明電極6は、第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとからなる。
この結晶シリコン系太陽電池では、光の入射面側である一面側における電極として、p型非晶質シリコン系薄膜層3上における所定の領域に受光面側集電極7が設けられ、p型非晶質シリコン系薄膜層3上における該受光面側集電極7の直下の領域のみに第1の透明電極6aがp型非晶質シリコン系薄膜層3および受光面側集電極7に接触して設けられる。すなわち、受光面側集電極7は、第1の透明電極6aの直上領域の全面のみに積層され、n型単結晶シリコン基板1の面方向において第1の透明電極6aと受光面側集電極7との形状は略同じとされている。
また、p型非晶質シリコン系薄膜層3上において、受光面側集電極7が設けられていない領域および受光面側集電極7上に第2の透明電極6bが設けられている。第2の透明電極6bは、p型非晶質シリコン系薄膜層3と受光面側集電極7と第1の透明電極6aとに接触して、受光面側集電極7と第1の透明電極6aとを覆って設けられている。ここで、第1の透明電極6aおよび第2の透明電極6bは、ともに光透過性および導電性を有するが、第1の透明電極6aは第2の透明電極6bより高いキャリア濃度を有している。したがって、第1の透明電極6aは第2の透明電極6bよりも高い導電性を有し、第2の透明電極6bは第1の透明電極6aよりも高い光透過性を有する。
まず、本実施の形態にかかる結晶シリコン系太陽電池における単結晶シリコン基板について説明する。一般的に単結晶シリコン基板は、導電性を持たせるためにシリコン(Si)に対して電荷を供給する不純物を含有させる。一般に単結晶シリコン基板には、Si原子に対して電子を導入するリン原子等を供給したn型と、ホール(正孔)を導入するボロン原子等を供給したp型とがある。へテロ接合太陽電池を構成する場合には、単結晶シリコン基板へ入射した光が最も多く吸収される光入射側のへテロ接合を逆接合として強い電場を設けることで、電子正孔対を効率的に分離回収することができる。したがって、光入射側のヘテロ接合は、逆接合とすることが好ましい。
一方で、正孔と電子とを比較した場合、有効質量及び散乱断面積の小さい電子の方が一般的に移動度は大きくなる。以上の観点から、本実施の形態において使用する単結晶シリコン半導体基板は、n型単結晶シリコン半導体基板であることが好ましく、この場合光入射面にp型非晶質シリコン系薄膜層、裏面にn型非晶質シリコン系薄膜層とすることが好ましい。したがって、本実施の形態においては、単結晶シリコン基板としてn型単結晶シリコン基板1を使用する場合について説明する。
また、光閉じ込めの観点から、単結晶シリコン基板の裏面側の裏面側透明電極8上および裏面側集電極9上に反射層を形成することが好ましい。反射層とは、光を反射する機能を太陽電池に付加する層を意味する。反射層としては、例えば銀(Ag)やアルミニウム(Al)などの金属層を用いてもよく、酸化チタン(TiO)や硫酸バリウム(BaSO)、酸化マグネシウム(MgO)などの粒子を含んだ白色高反射材料を用いて形成してもよい。
n型単結晶シリコン基板1は、光入射面(受光面)が(100)面であるように切り出されていることが好ましい。これは、単結晶シリコン基板をエッチングする場合に、(100)面と(111)面のエッチングレートが異なる異方性エッチングによって容易にテクスチャ構造を形成できるためである。一般的にテクスチャサイズは、単結晶シリコン基板表面のエッチングが進行するほど大きくなる。例えば、単結晶シリコン基板表面のエッチング時間を長くすることにより、テクスチャサイズは大きくなる。また、エッチングの反応速度が大きくなるように、エッチャント濃度やエッチャント供給速度の増加、エッチング液温の上昇等を図ることによってもテクスチャサイズを大きくすることができる。
また、単結晶シリコン基板表面に形成されたテクスチャの鋭い谷部(凹部)では、薄膜を成膜する際の圧縮応力によって欠陥が発生しやすい。このため、テクスチャ形成のエッチング後に、形成したテクスチャの谷(凹部)や山(凸部)の形状を緩和する工程として、(100)面と(111)面の選択性の低い等方性エッチングを行うことが好ましい。
実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層2は、n型単結晶シリコン基板1とp型非晶質シリコン系薄膜層3との間に設けられ、例えばシリコンと水素で構成されるi型水素化非晶質シリコン層であることが好ましい。この場合は、i型水素化非晶質シリコン層のCVD成膜時に、n型単結晶シリコン基板1への不純物拡散を抑えつつ、n型単結晶シリコン基板1表面のパッシベーションを有効に行うことができる。
p型非晶質シリコン系薄膜層3は、例えばp型水素化非晶質シリコン層やp型酸化非晶質シリコン層であることが好ましい。不純物拡散や直列抵抗の観点からは、p型非晶質シリコン系薄膜層3にp型水素化非晶質シリコン層を用いることが好ましい。一方で、ワイドギャップの低屈折率層として光学的なロスを低減できる観点からは、p型非晶質シリコン系薄膜層3にp型酸化非晶質シリコン層を用いることもできる。
実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層4は、n型単結晶シリコン基板1とn型非晶質シリコン系薄膜層5との間に設けられ、例えばシリコンと水素で構成されるi型水素化非晶質シリコン層であることが好ましい。
n型非晶質シリコン系薄膜層5としては、n型水素化非晶質シリコンを用いることが好ましい。本実施の形態の結晶シリコン系太陽電池では、n型単結晶シリコン基板1の裏面にi型シリコン系薄膜層であるi型非晶質シリコン系薄膜層4およびn型シリコン系薄膜層であるn型非晶質シリコン系薄膜層5が形成されることにより、いわゆるBSF(Back Surface Field)構造が形成されている。
受光面側透明電極6(第1の透明電極6a、第2の透明電極6b)および裏面側透明電極8の役割は、光電変換層(n型単結晶シリコン基板1)から集電極へのキャリアの輸送であり、このための導電性が必要となる。
第1の透明電極6aは、受光面側集電極7の影となる領域に形成されるため、高いキャリア濃度を有した導電性の高い透明電極としても光吸収ロスが増加することなく、第1の透明電極6aと受光面側集電極7間のキャリア輸送特性を改善することができる。一方、第2の透明電極6bは、一部が光電変換層(n型単結晶シリコン基板1)への入射光の光路に位置するため、光透過性を考慮したキャリア濃度と膜厚とに設定される必要がある。また、受光面側集電極7を覆うように形成された第2の透明電極6bは、受光面側透明電極6全体と受光面側集電極7との接触面積を増加させることによりコンタクト抵抗を低減して受光面側透明電極6から受光面側集電極7への導電性を向上させる効果がある。加えて、第2の透明電極6bは、受光面側透明電極6と受光面側集電極7との密着性を向上させる効果、受光面側集電極7が外部に曝されなくなるため受光面側集電極7を保護する効果がある。
第1の透明電極6a、第2の透明電極6bおよび裏面側透明電極8は、光透過性を有した導電膜であればよく、例えば酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化錫などの導電性酸化物材料を単独もしくは混合して用いることができる。さらに、これらの材料に導電性のドーピング材料を添加することができる。酸化インジウムに添加するドーピング材料には、例えば亜鉛や錫、チタン、タングステン、モリブデン、ケイ素、セリウムなどが挙げられる。酸化亜鉛に添加するドーピング材料には、例えばアルミニウムやガリウム、ホウ素、ケイ素、炭素などが挙げられる。酸化錫に添加するドーピング材料には、例えばフッ素などが挙げられる。
第1の透明電極6a、第2の透明電極6bおよび裏面側透明電極8の成膜方法としては、例えばスパッタリング法やMOCVD法などが挙げられ、特に量産性の観点からスパッタリング法が好ましい。透明電極作製時の基板温度は、150℃以下が好ましい。透明電極作製時の基板温度がこれよりも高い高温となると、非晶質シリコン層から水素が脱離し、Si原子にダングリングボンドが発生し、キャリアの再結合中心となりうる場合がある。
本発明では、第1の透明電極6aおよび第2の透明電極6bに用いられる導電性酸化物材料のキャリア濃度が異なることが重要である。一般的に光電変換装置の透明電極として用いられる導電性酸化物のキャリア濃度は、1×1018〜1×1021cm−3程度であり、第2の透明電極6bのキャリア濃度はこの範囲にあることが好ましい。この範囲未満のキャリア濃度では電極として十分な導電性を発現することが困難となり、これを超えるキャリア濃度では、自由電子による吸収や反射によって透明性が悪くなる場合がある。
一方、受光面側集電極7に用いられる金属のキャリア濃度は1×1029cm−3程度であり、第1の透明電極6aのキャリア濃度は第2の透明電極6bのキャリア濃度と受光面側集電極7のキャリア濃度との間にあることが好ましい。具体的には、第1の透明電極6aのキャリア濃度は、1×1021〜5×1023cm−3であることが好ましく、さらに好ましくは3×1021〜1×1023cm−3である。キャリア濃度がこれら範囲にあることで、第1の透明電極6aおよび第2の透明電極6bの接合界面でのキャリア輸送ロスを抑えながら、受光面側透明電極6から受光面側集電極7へのキャリア輸送特性を向上することが可能となり、太陽電池の直列抵抗の低減とそれに伴う光電変換効率の向上が可能となる。
受光面側集電極7および裏面側集電極9には、導電性の面から銀(Ag)や銅(Cu)などが用いられる。これらの集電極は、例えば金属の微粉末と熱硬化性樹脂とによって構成されるペースト電極を印刷する方法やめっき法などにより櫛型状に形成される。本実施の形態では集電極を透明電極で覆うことで、集電極の金属のマイグレーション等による電気特性の悪化を防ぐことができる。特に、CuはAgと比較し大気中で酸化しやすいが、本実施の形態により集電極の酸化を抑制することが可能である。また、有機材料よりも水分透過性の低い無機材料の透明電極によって集電極を覆うことにより、樹脂材料が集電極に接して封止されたモジュールよりも水分による劣化が少ないモジュールを実現することができる。
つぎに、上記のように構成された実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法について図2−1〜図2−6を参照して説明する。図2−1〜図2−6は、本実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池の製造方法の手順の一例を示す断面図である。
まず、表面にテクスチャと呼ばれる凹凸構造を有するn型単結晶シリコン基板1を形成する。すなわち、n型単結晶シリコンのインゴットから主面が(100)面となるように結晶シリコン基板をスライスした後、アルカリ水溶液、例えばNaOH水溶液やKOH水溶液などを用いたウェットエッチングにより該結晶シリコン基板の表面に凹凸構造を形成する。シリコン基板は面方位によってアルカリ水溶液によるエッチング速度が異なる。このため、例えば面方位が(100)のシリコン基板をエッチングするとエッチングされにくい(111)面が斜め方向に現れ、最終的にはピラミッド形状の凹凸構造がシリコン基板上に施される。これにより、表面にテクスチャを有するn型単結晶シリコン基板1が得られる。なお、図中においては、テクスチャの記載は省略する。
つぎに、このn型単結晶シリコン基板1の1面側(光入射面側)に、実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層2として例えばi型水素化非晶質シリコン層を形成する。つぎに、i型非晶質シリコン系薄膜層2上に、p型非晶質シリコン系薄膜層3として例えばp型水素化非晶質シリコン層を形成する(図2−1)。
つぎに、n型単結晶シリコン基板1の他面側(裏面側)に、実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層4として例えばi型水素化非晶質シリコン層を形成する。つぎに、i型非晶質シリコン系薄膜層4上に、n型非晶質シリコン系薄膜層5として例えばn型水素化非晶質シリコン層を形成してBSF構造を形成する(図2−2)。
このようなn型単結晶シリコン基板1への非晶質シリコン系薄膜の成膜方法としては、特にプラズマCVD法を用いることが好ましい。プラズマCVD法を用いた場合のシリコン系薄膜の形成条件としては、例えば、基板温度100〜300℃、圧力5〜100Pa、高周波パワー密度1m〜500mW/cmが好ましい。非晶質シリコン系薄膜の形成に使用する原料ガスとしては、シラン(SiH)、ジシラン(Si)等のシリコン含有ガス、またはそれらのガスと水素(H)を混合したものが用いられる。
p型の非晶質シリコン系薄膜を形成するためのドーパントとしては、例えばIII族元素であるボロン(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)が挙げられる。n型の非晶質シリコン系薄膜を形成するためのドーパントとしては、例えばV族元素である窒素(N)、リン(P)、砒素(As)、アンチモン(Sb)が挙げられる。非晶質シリコン系薄膜の成膜時に原料ガスに上記のドーパントの少なくとも一つを含む化合物ガスを混合することによって、所望のp型またはn型の非晶質シリコン系薄膜を形成することが可能である。
つぎに、p型非晶質シリコン系薄膜層3上の全面に第1の透明電極6aとして例えば酸化亜鉛膜を形成し、n型非晶質シリコン系薄膜層5上の全面に裏面側透明電極8として例えば酸化亜鉛膜を形成する(図2−3)。第1の透明電極6aおよび裏面側透明電極8の成膜方法としては、例えばスパッタリング法やMOCVD法などを用いることができる。
つぎに、第1の透明電極6a上の所定の位置に受光面側集電極7を形成し、また裏面側透明電極8上の所定の位置に裏面側集電極9を形成する(図2−4)。受光面側集電極7および裏面側集電極9の形成には、インクジェット、スクリーン印刷、導線接着、スプレー等の公知技術を用いることができるが、生産性の観点からスクリーン印刷がより好ましい。
受光面側集電極7および裏面側集電極9は、例えばエポキシ樹脂に銀(Ag)の微粉末を練りこんだ銀(Ag)ペーストを用いて、スクリーン印刷法によりフィンガー部とバスバー部(図示せず)とを高さ約10μm〜30μm、幅100μm〜500μmの寸法に形成され、100℃〜250℃で焼成硬化して形成される。フィンガー部は、1mm〜10mm間隔で複数のラインが互いに平行に形成される。バスバー部は、フィンガー部に接続されてフィンガー部に流れる電流を集合させる。このような受光面側集電極7および裏面側集電極9をスクリーン印刷法により形成した場合は、長手方向に垂直な断面において中央部が厚く、縁の部分は広がって薄くなる。
つぎに、受光面側集電極7をマスクとして第1の透明電極6aを異方性エッチングして第1の透明電極6aをパターニングする(図2−5)。この方法により、受光面側集電極7直下以外の領域の第1の透明電極6aを除去することにより、位置合わせ等を必要とせずに正確に受光面側集電極7直下に該受光面側集電極7と同様の形状の第1の透明電極6aを形成することが可能である。
このようなエッチング方法には、反応性のガスなどを用いるドライエッチング法と、溶液を用いるウェットエッチング法とが挙げられる。ウェットエッチング法は、第1の透明電極6aの材料に酸可溶性の導電性酸化物を使用する場合に用いられ、例えば酸化インジウム、酸化亜鉛、これらの導電性酸化物にその酸可溶性を大きく損なわない範囲で少量の金属酸化物が添加されたもの(例えば錫ドープ酸化インジウム(ITO)、アルミニウムドープ酸化亜鉛(AZO)、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO))、酸化インジウムと酸化亜鉛の混合物(IZO)などに用いられる。この中でも、特に、第1の透明電極6aとして酸化亜鉛を含む金属酸化物層を用いる場合のパターン加工に好適である。エッチング液としては主に、塩酸、シュウ酸、硫酸、臭化水素酸、またはこれらの混合酸を含む水溶液が用いられる。
つぎに、n型単結晶シリコン基板1の1面側(光入射面側)において、p型非晶質シリコン系薄膜層3上における受光面側集電極7が形成されていない領域上と受光面側集電極7上とに第2の透明電極6bを形成する(図2−6)。第2の透明電極6bは、入射光の光路上に位置するため、その膜厚は導電性と光透過性との点から50nm〜200nmであることが好ましい。このとき、第1の透明電極6aが第2の透明電極6bより薄い場合は、受光面側集電極7の縁の部分が薄いという形状に起因して、図2−6に示すように第1の透明電極6aおよび受光面側集電極7を覆うように形成される。これにより、受光面側透明電極6と受光面側集電極7との密着性が改善され、さらに受光面側透明電極6と受光面側集電極7との接触面積が増加することでこれらの間のコンタクト抵抗が低下する効果がある。このときの第1の透明電極6aの膜厚は10nm〜100nmであることが好ましく、より好ましくは10nm〜50nmである。以上の工程を実施することにより、図1に示される構造の結晶シリコン系太陽電池が得られる。
また、これらの層の上に、例えばエチレン・ビニル・アセテート(EVA)樹脂のようなフィルムを保護層としてコーティングすることで、結晶シリコン系太陽電池の物理的な強度を向上することが可能である。さらに、酸素や水分によるシリコン層や電極層の劣化を防ぐ役割を果たすこともできる。
以上のような実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池は、光入射面側において、入射光の光路には光透過性が高く且つ導電性を有する第2の透明電極6bが形成され、受光面側集電極7の影となる受光面側集電極7の直下の領域のみにキャリア濃度が高く導電性の高い第1の透明電極6aが形成される。これにより、透明電極による光吸収ロスが増加することなく、受光面側透明電極6と受光面側集電極7との電気接合が良好となり、結晶シリコン系太陽電池の直列抵抗成分を低減して、光電変換効率を向上させることが可能となる。
さらに、受光面側集電極7上に形成された第2の透明電極6bは、受光面側透明電極6全体の断面積を増加させることにより抵抗を低減して受光面側透明電極6から受光面側集電極7への導電性を向上させる効果があり、結晶シリコン系太陽電池の直列抵抗成分を低減して、光電変換効率を向上させることが可能となる。また、受光面側集電極7上に形成された第2の透明電極6bが、受光面側集電極7が設けられていない領域に形成された第2の透明電極6bと分断されている場合は、受光面側集電極7上に形成された第2の透明電極6bは受光面側集電極7の一部として機能し、受光面側集電極7全体の断面積を増加させることにより抵抗を低減して受光面側集電極7の導電性を向上させる効果がある。
また、p型非晶質シリコン系薄膜層3上の全面に形成された第1の透明電極6aを、受光面側集電極7をマスクとしてエッチングすることにより、位置合わせ等の処理を必要することなく受光面側集電極7直下に該受光面側集電極7と同じ幅の第1の透明電極6aを容易に形成することができる。受光面側集電極7と高キャリア濃度層である第1の透明電極6aとの位置ずれや電極幅のずれが生じた場合には、受光面側集電極7から露出した第1の透明電極6aによる光吸収ロスが生じるおそれがある。
しかし、実施の形態1においては、受光面側集電極7をマスクとして第1の透明電極6aをエッチングしてパターニングするため、受光面側集電極7と第1の透明電極6aとの位置ずれや電極幅のずれが無く、受光面側集電極7と第1の透明電極6aとの位置ずれや電極幅のずれに起因した性能低下が発生せず、良好な光電変換効率が得られる。
また、第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとを別々に成膜するため、第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとを異なる膜厚で形成することが可能である。第1の透明電極6aを第2の透明電極6bより薄く形成することで第2の透明電極6bが受光面側集電極7を覆うように形成される。これにより、受光面側透明電極6と受光面側集電極7との密着性が改善され、さらに受光面側透明電極6と受光面側集電極7との接触面積が増加することでこれらの間のコンタクト抵抗が低下する効果がある。
したがって、実施の形態1によれば、透明電極による光吸収ロスを低減するとともに電流取り出しにおける直列抵抗成分を低減して、光電変換効率に優れた結晶シリコン系太陽電池が得られる。
実施の形態2.
図3は、本発明の実施の形態2にかかる結晶シリコン系太陽電池の概略構成を示す要部断面図である。実施の形態2では、実施の形態1で説明した結晶シリコン系太陽電池において第1の透明電極6aの膜厚を第2の透明電極6bの膜厚よりも十分に厚く形成する場合について説明する。実施の形態2にかかる結晶シリコン系太陽電池におけるこれ以外の構成は実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池と同じであるので、詳細な説明は省略する。
実施の形態2にかかる結晶シリコン系太陽電池では、図3に示すように第1の透明電極6aの膜厚が第2の透明電極6bの膜厚よりも十分に厚く形成される。そして、第2の透明電極6bが、p型非晶質シリコン系薄膜層3上において受光面側集電極7が存在しない領域および受光面側集電極7上に形成されて、第1の透明電極6aの側部に接触して形成される。これにより、第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとの接触面積が大きくなるためコンタクト抵抗を低下でき、第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとの電気接続が良好となり、光電変換効率を向上させることが可能となる。このとき、第2の透明電極6bを蒸着等の異方性の強い製膜法で製膜した場合は、受光面側集電極7が存在しない領域と受光面側集電極7上とに分離されるが、スパッタリング法などの異方性の弱い製膜法で製膜した場合は、第1の透明電極6aの側面全面を覆うように形成され、実施の形態1と同様に接触面積の増加によるコンタクト抵抗の低減や密着性の向上、金属電極の保護といった効果が得られる。
また、厚膜の透明電極は粗面化が容易である。すなわち、高キャリア濃度層である第1の透明電極6aを厚膜化したことにより第1の透明電極6aの表面を容易に粗面化することができる。これにより、第1の透明電極6aの表面を粗面化して第1の透明電極6aと受光面側集電極7との接触面積を容易に増加させることが可能であり、第1の透明電極6aと受光面側集電極7間のコンタクト抵抗を低下できる効果がある。
第2の透明電極6bの膜厚は、実施の形態1と同様に50nm〜200nmであり、第1の透明電極6aの膜厚は200nm〜500nmであることが好ましい。
実施の形態2にかかる結晶シリコン系太陽電池は、第1の透明電極6aの膜厚が第2の透明電極6bの膜厚よりも十分に厚く形成されること以外は実施の形態1にかかる結晶シリコン系太陽電池と同様にして作製される。
したがって、実施の形態2によれば、実施の形態1の場合と同様に電流取り出しにおける直列抵抗成分を低減して、光電変換効率に優れた結晶シリコン系太陽電池が得られる。
また、実施の形態2によれば、第1の透明電極6aの膜厚が第2の透明電極6bの膜厚よりも十分に厚く形成され、第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとの接触面積が大きくなるため、コンタクト抵抗の低下により第1の透明電極6aと第2の透明電極6bとの電気接続が良好となり、光電変換効率を向上させることが可能となる。
実施の形態3.
図4は、本発明の実施の形態3にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールの概略構成を示す斜視図である。また、図5は、本発明の実施の形態3にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールにおける太陽電池セル同士の接続部を示す断面拡大図である。実施の形態3にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールは、太陽電池セルとして実施の形態1、もしくは実施の形態2で説明した結晶シリコン系太陽電池セルが2つ以上電気的に直列または並列に接続されており、タブ線と集電極との接合部の形成に導電フィルムと圧着法を用いている。以下、太陽電池セル10が直列接続された結晶シリコン系太陽電池モジュールについて説明する。
太陽電池セル10同士の接続はAgやCuなどを用いたタブ線11を用いて行われている。すなわち、ある1つの太陽電池セル10の受光面側の集電極と、該太陽電池セル10の一方に隣接する太陽電池セル10の裏面側の集電極とが接続される。また、該太陽電池セル10の裏面側の集電極と、該太陽電池セル10の他方に隣接する太陽電池セル10の受光面側の集電極とが接続される。そして、複数の太陽電池セルについて同様の接続が行われることにより、一つの結晶シリコン系太陽電池モジュールが構成されている。
ここで、太陽電池セル10の集電極上にタブ線11を接合することで太陽電池セル10の光電変換層13で発電された電気を外部に取り出す必要があり、一般的には集電極とタブ線11との接合には、はんだ接合が用いられる。しかし、はんだ接合では、はんだが金属上で拡散して合金化することで良好な接合を得る。このため、上記の実施の形態の太陽電池のように受光面側集電極7上に透明電極を有している構造では、透明電極とタブ線11との界面で剥離や接触不良が生じる可能性がある。
一方、熱硬化型樹脂の中に導電粒子を分散させた導電フィルム12は、加熱・加圧によって導通し、同時に樹脂が熱硬化することではんだ接合と同等レベルの確実な導通を得られる。また、熱硬化型樹脂は、透明電極に対しても金属と同様に接合することが可能である。そこで、本実施の形態にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールでは、太陽電池セル10の集電極とタブ線11との間に導電フィルム12を挟んで圧着することにより、集電極とタブ線11との機械的電気的な接合部が形成されている。なお、図5における光電変換層13は、図1または図2におけるn型単結晶シリコン基板1、i型非晶質シリコン系薄膜層2、p型非晶質シリコン系薄膜層3、i型非晶質シリコン系薄膜層4、n型非晶質シリコン系薄膜層5をまとめて示している。
したがって、実施の形態3にかかる結晶シリコン系太陽電池モジュールによれば、太陽電池セル10同士を接続する透明電極とタブ線11の接合が良好となり、高効率で信頼性に優れた太陽電池モジュールが得られる。
(実施例)
つぎに、具体的な実施例に基づいて本発明を説明する。なお、本発明は以下の記載に限定されるものではない。
実施例1.
本発明の実施例として、図1に示す構造の結晶シリコン系太陽電池を上述した実施の形態において説明した方法に従って製造した。まずn型単結晶シリコン基板1として、約200μmの厚みを有するとともに主面が(100)面を有し、表面に数μmから数十μmの高さを有する光閉じ込めのためのピラミッド状凹凸が形成されている基板を用意した。
このn型単結晶シリコン基板1の一面側(入射面側)に、実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層2として、約5nmの厚みを有するi型水素化非晶質シリコン層をプラズマCVD法を用いて形成した。そして、i型非晶質シリコン系薄膜層2上に、p型非晶質シリコン系薄膜層3として約7nmの厚みを有するp型水素化非晶質シリコン層をプラズマCVD法を用いて形成した。
つぎに、n型単結晶シリコン基板1の他面側(裏面側)に、実質的に真性なi型非晶質シリコン系薄膜層4として、約5nmの厚みを有するi型水素化非晶質シリコン層をプラズマCVD法を用いて形成した。そして、i型非晶質シリコン系薄膜層4上に、n型非晶質シリコン系薄膜層5として約10nmの厚みを有するn型水素化非晶質シリコン層をプラズマCVD法を用いて形成してBSF構造を形成した。
つぎに、p型非晶質シリコン系薄膜層3上の全面に、第1の透明電極6aを50nmの厚みでスパッタリング法を用いて形成した。第1の透明電極6aの成膜において、ターゲット材料にはアルミニウムを3重量%ドープした酸化亜鉛(3wt%AZO)を使用し、基板温度150度として成膜した。このとき、第1の透明電極6aの成膜と同条件でガラス基板上に成膜した3wt%AZOのキャリア濃度は、1×1021cm−3であった。
つぎに、n型非晶質シリコン系薄膜層5上の全面に、裏面側透明電極8を110nmの厚みでスパッタリング法を用いて形成した。裏面側透明電極8の成膜において、ターゲット材料には錫ドープ酸化インジウム(3wt%ITO:酸化錫3重量%含有)を使用し、基板温度150度として成膜した。このとき、裏面側透明電極8の成膜と同条件でガラス基板上に成膜した3wt%ITOのキャリア濃度は、3×1020cm−3であった。
つぎに、第1の透明電極6a上における所定の位置に銀ペーストをスクリーン印刷して櫛形形状の電極を形成し、受光面側集電極7とした。また、裏面側透明電極8上における所定の位置に銀ペーストをスクリーン印刷して櫛形形状の電極を形成し、裏面側集電極9とした。それぞれの電極において、電極の幅は500μm、フィンガー部の間隔は5mmとした。
つぎに、受光面側集電極7をマスクとして第1の透明電極6aをウェットエッチングして、受光面側集電極7の直下領域以外の第1の透明電極6aを除去した。エッチング液には、0.3%塩酸水溶液を用いた。
つぎに、受光面側集電極7と第1の透明電極6aとを覆うようにn型単結晶シリコン基板1の入射面側の全面に、第2の透明電極6bを成膜した。第2の透明電極6bの成膜において、ターゲット材料にはアルミニウムを0.5重量%ドープした酸化亜鉛(0.5wt%AZO)を使用し、基板温度150度として成膜した。このとき、裏面側透明電極8の成膜と同条件でガラス基板上に成膜した0.5wt%AZOのキャリア濃度は、3×1020cm−3であった。これにより、第2の透明電極6bは、p型非晶質シリコン系薄膜層3上における受光面側集電極7が設けられていない領域および受光面側集電極7上に形成され、p型非晶質シリコン系薄膜層3と受光面側集電極7と第1の透明電極6aとに接触している。
このとき、導電性と光透過性とを両立させることに加え、その上部に積層されるEVA樹脂と第2の透明電極6bとの屈折率差を考慮して第2の透明電極6bの膜厚を設計することで、光学干渉による反射防止効果が得られる。これにより、受光面側集電極7による反射光を効率良く再反射させてn型単結晶シリコン基板1内へ入射させることが可能である。本実施例ではEVA樹脂の屈折率が1.5、第2の透明電極6bの屈折率を1.9とし、第2の透明電極6bの膜厚を110nmとした。最後に、これらの層の上にEVA樹脂フィルムを保護層としてコーティングして、実施例1の結晶シリコン系太陽電池セルを得た。
実施例2.
第1の透明電極6aに厚さ50nmの錫ドープ酸化インジウム(10wt%ITO:酸化錫10重量%含有)層を使用し、第2の透明電極6bに厚さ100nmの錫ドープ酸化インジウム(3wt%ITO:酸化錫3重量%含有)層を使用した。第1の透明電極6aと受光面側集電極7との積層構造は、真空チャンバー内で反応性イオンエッチング(RIE)により形成した。エッチングガスとしては、メタンガスと水素の混合ガスを用いた。このとき、同条件でガラス基板上に成膜した10wt%ITO、3wt%ITOのキャリア濃度はそれぞれ8×1020cm−3、3×1020cm−3となっていた。そして、第1の透明電極6aおよび第2の透明電極6b以外は、実施例1と同様にして実施例2の結晶シリコン系太陽電池セルを作製した。
(比較例)
p型非晶質シリコン系薄膜層3上の全面に透明電極として錫ドープ酸化インジウム(3wt%ITO:酸化錫3重量%含有)を厚み100nmで形成し、その上に受光面側集電極7を形成した以外は、実施例1と同様にして比較例の結晶シリコン系太陽電池セルを作製した。
上記のようにして作製した実施例1、実施例2および比較例の太陽電池セルの光電変換特性を、ソーラーシミュレータを用いて評価した。各結晶シリコン系太陽電池セルの短絡電流(mA/cm)、開放電圧(V)、曲線因子、光電変換効率(%)を表1に示す。
Figure 0005710024
表1から、実施例1、実施例2では、比較例に比べて高い光電変換特性が得られることがわかった。すなわち、本発明の構造により、受光面側透明電極6と受光面側集電極7との接合部付近のうち受光面側集電極7の直下領域のみキャリア濃度を高くし、さらに受光面側集電極7上にキャリア濃度の低い第2の透明電極6bを備えることで、太陽電池特性のうち特に曲線因子を向上させることが可能であることがわかった。またこのとき、第1の透明電極6aが低キャリア入射光の光路上の透明電極の光透過性を損なわないため、短絡電流の低下がないことがわかった。
また、上記の実施の形態で説明した構成を有する結晶シリコン系太陽電池セルを複数形成し、隣接する結晶シリコン系太陽電池セル同士を電気的に直列または並列に接続することにより、光電変換効率に優れた太陽電池モジュールが実現できる。この場合は、例えば隣接する結晶シリコン系太陽電池セルの一方の受光面側集電極7と他方の裏面側集電極9とを電気的に接続すればよい。
なお、上記の実施の形態および実施例は単結晶シリコン基板を用いたヘテロ接合太陽電池について説明しているが、本発明はこれに限定されず光の入射面に透明電極と集電極とを備えた構造の太陽電池について適用できる。
以上のように、本発明にかかる太陽電池は、電池内の直列抵抗が低減され光電変換効率に優れた太陽電池の実現に有用である。
1 n型単結晶シリコン基板
2 i型非晶質シリコン系薄膜層
3 p型非晶質シリコン系薄膜層
4 i型非晶質シリコン系薄膜層
5 n型非晶質シリコン系薄膜層
6 受光面側透明電極
6a 第1の透明電極
6b 第2の透明電極
7 受光面側集電極
8 裏面側透明電極
9 裏面側集電極
10 太陽電池セル
11 タブ線
12 導電フィルム
13 光電変換層

Claims (9)

  1. 電変換層上の全面に第1の透明電極を形成する第1工程と、
    前記第1の透明電極上の特定の領域に集電極を形成する第2工程と、
    前記集電極をマスクとして前記第1の透明電極をエッチングして前記集電極直下以外の前記第1の透明電極を除去する第3工程と、
    前記光電変換層上および前記集電極上に前記第1の透明電極よりもキャリア濃度が低い第2の透明電極を形成する第4工程と、
    を含むことを特徴とする太陽電池の製造方法。
  2. 前記第4工程では、前記第2の透明電極の膜厚を前記第1の透明電極の膜厚よりも厚くして、前記第2の透明電極が前記集電極に接触して前記集電極を覆うように前記第2の透明電極を形成すること、
    を特徴とする請求項に記載の太陽電池の製造方法。
  3. 前記第4工程では、前記第2の透明電極の膜厚を前記第1の透明電極の膜厚よりも薄くして、前記光電変換層上に前記第1の透明電極の側部に接触するように前記第2の透明電極を形成すること、
    を特徴とする請求項に記載の太陽電池の製造方法。
  4. 前記第2の透明電極は、スパッタリング法により形成され、前記第1の透明電極および前記集電極を覆うように形成されること、
    を特徴とする請求項3に記載の太陽電池の製造方法。
  5. 前記第2の透明電極は、蒸着法により形成され、前記光電変換層上における前記集電極が形成されていない領域と前記集電極上とに分離されること、
    を特徴とする請求項3に記載の太陽電池の製造方法。
  6. 前記第1の透明電極および前記第2の透明電極は、それぞれ1種類の導電性酸化物材料からなり、または複数の導電性酸化物材料が混合されてなること、
    を特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載の太陽電池の製造方法。
  7. 前記導電性酸化物材料は、酸化インジウム、酸化亜鉛または酸化錫であること、
    を特徴とする請求項6に記載の太陽電池の製造方法。
  8. 前記第3工程では、反応性のガスを用いたドライエッチングにより、前記導電性酸化物材料からなる前記第1の透明電極をエッチングすること、
    を特徴とする請求項6に記載の太陽電池の製造方法。
  9. 前記第3工程では、酸を含む水溶液をエッチング液に用いたウェットエッチングにより、酸可溶性の前記導電性酸化物材料からなる前記第1の透明電極をエッチングすること、
    を特徴とする請求項6に記載の太陽電池の製造方法。
JP2013550140A 2011-12-21 2012-05-07 太陽電池の製造方法 Expired - Fee Related JP5710024B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013550140A JP5710024B2 (ja) 2011-12-21 2012-05-07 太陽電池の製造方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011280068 2011-12-21
JP2011280068 2011-12-21
JP2013550140A JP5710024B2 (ja) 2011-12-21 2012-05-07 太陽電池の製造方法
PCT/JP2012/061640 WO2013094233A1 (ja) 2011-12-21 2012-05-07 太陽電池およびその製造方法、太陽電池モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2013094233A1 JPWO2013094233A1 (ja) 2015-04-27
JP5710024B2 true JP5710024B2 (ja) 2015-04-30

Family

ID=48668142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013550140A Expired - Fee Related JP5710024B2 (ja) 2011-12-21 2012-05-07 太陽電池の製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9123861B2 (ja)
JP (1) JP5710024B2 (ja)
WO (1) WO2013094233A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2972294B1 (fr) * 2011-03-02 2013-04-26 Commissariat Energie Atomique Procede de gravure chimique selective
JP2015073057A (ja) * 2013-10-04 2015-04-16 長州産業株式会社 光発電素子
CN105874570B (zh) * 2014-01-07 2020-07-28 三菱瓦斯化学株式会社 包含锌和锡的氧化物的蚀刻液以及蚀刻方法
US9530921B2 (en) * 2014-10-02 2016-12-27 International Business Machines Corporation Multi-junction solar cell
JP6422426B2 (ja) * 2014-12-09 2018-11-14 三菱電機株式会社 太陽電池
KR101821394B1 (ko) * 2016-01-14 2018-01-23 엘지전자 주식회사 태양전지
US20210028322A1 (en) * 2017-09-15 2021-01-28 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Photoelectric conversion module and method for manufacturing photoelectric conversion module
WO2022054150A1 (ja) * 2020-09-09 2022-03-17 株式会社 東芝 透明電極、透明電極の製造方法、および電子デバイス

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3203078B2 (ja) * 1992-12-09 2001-08-27 三洋電機株式会社 光起電力素子
JPH07263731A (ja) * 1994-03-22 1995-10-13 Canon Inc 多結晶シリコンデバイス
JP3443198B2 (ja) 1995-01-26 2003-09-02 三洋電機株式会社 太陽電池及びその製造方法
US6177711B1 (en) * 1996-09-19 2001-01-23 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion element
JP3209700B2 (ja) * 1997-03-28 2001-09-17 三洋電機株式会社 光起電力装置及びモジュール
JP3619681B2 (ja) * 1998-08-03 2005-02-09 三洋電機株式会社 太陽電池及びその製造方法
JP2000299483A (ja) 1999-04-14 2000-10-24 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池の製造方法
JP2001102603A (ja) 1999-09-28 2001-04-13 Sharp Corp 薄膜太陽電池およびその製造方法
JP2004214442A (ja) * 2003-01-06 2004-07-29 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置およびその製造方法
JP4219264B2 (ja) * 2003-12-24 2009-02-04 三洋電機株式会社 光起電力装置
JP4222992B2 (ja) * 2004-09-29 2009-02-12 三洋電機株式会社 光起電力装置
JP4454514B2 (ja) * 2005-02-14 2010-04-21 三洋電機株式会社 光起電力素子および光起電力素子を含む光起電力モジュールならびに光起電力素子の製造方法
JP5159725B2 (ja) * 2009-08-27 2013-03-13 三洋電機株式会社 太陽電池ストリング及びそれを用いた太陽電池モジュール
JP2011077454A (ja) * 2009-10-01 2011-04-14 Kaneka Corp 結晶シリコン系太陽電池とその製造方法
JP2014241310A (ja) * 2011-10-18 2014-12-25 三菱電機株式会社 光電変換装置およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US9123861B2 (en) 2015-09-01
JPWO2013094233A1 (ja) 2015-04-27
US20140322861A1 (en) 2014-10-30
WO2013094233A1 (ja) 2013-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5710024B2 (ja) 太陽電池の製造方法
EP2434548B1 (en) Solar cell and method for manufacturing the same
US10084107B2 (en) Transparent conducting oxide for photovoltaic devices
JP5705968B2 (ja) 光電変換装置及びその製造方法
WO2012020682A1 (ja) 結晶シリコン系太陽電池
JP5891382B2 (ja) 光電変換素子の製造方法
KR20100132504A (ko) 태양 전지 및 그 제조 방법
JP6785427B2 (ja) 太陽電池素子および太陽電池モジュール
KR20130067208A (ko) 광기전력소자 및 그 제조 방법
JP5675476B2 (ja) 結晶シリコン系太陽電池
JP6976101B2 (ja) 結晶シリコン系太陽電池
US20200313010A1 (en) Solar cell and solar cell module
JP5884030B2 (ja) 光電変換装置の製造方法
US9184320B2 (en) Photoelectric conversion device
JP2011096701A (ja) 結晶シリコン系太陽電池
CN103066133A (zh) 光电装置
JP2014072416A (ja) 太陽電池およびその製造方法、太陽電池モジュール
JP2015133341A (ja) 裏面接合型太陽電池及びその製造方法
JP2011077454A (ja) 結晶シリコン系太陽電池とその製造方法
JP6143520B2 (ja) 結晶シリコン系太陽電池およびその製造方法
US20140020741A1 (en) Solar cell and method for producing solar cell
JP6294694B2 (ja) 太陽電池およびその製造方法、ならびに太陽電池モジュール
JP2013243171A (ja) 結晶シリコン系太陽電池
JP2014072276A (ja) 光起電力装置
JP2020161643A (ja) 太陽電池セルおよび太陽電池モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150303

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5710024

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees