JP5663881B2 - クロック装置 - Google Patents

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Description

本発明は、PLLのリセットに関する。
近年、設計変更が容易なFPGA(Field Programmable Gate Array)を用いて製品開発を行い、FPGAで実現した機能を低価格で高速のASIC(Application Specific Integrated Circuit)へ置き換えて量産することがある。
この場合、スムーズに置き換えが行えるように、開発当初からASICへの置き換えを考慮した設計をしておくことが望ましい。
しかし、開発時に予定していたASIC以外に、新たに開発されたデバイスに置き換えること、又は、より低価格のデバイスに置き換えること等を行う場合がある。
この場合、置き換えるデバイスによっては、そのデバイス固有の特性を考慮した設計変更が発生し得る。この場合には、通常、製品の品質を保証するために新しいデバイスの特性に合わせた再設計及び検証が必要となる。
例えば、複数のクロック信号を出力できるPLL(Phase Locked Loop)を、より安価な1クロック信号のみ出力できる複数のPLLを用いて置き換える場合がある。
図21は、6つのクロック信号(C0〜C5)を出力するPLL/DCM(Digital Clock Management)(以下、「PLL」という。)を、1つのクロック信号を出力するPLL4つを直列に接続した6つのクロック信号を出力するPLL回路に置き換える例である。この場合、単純に置き換えただけでは不具合が生じ得る。
PLLを直列に接続することにより生じる不具合、例えば、リセット時や電源投入時における異常なクロック信号の発生を抑止する技術が提案されている(特許文献1等参照)。
特開2007−166003号公報
しかし、図21のように、6つのクロック信号を出力するPLLを、直列にPLLを接続したPLL回路に単純に置き換えただけでは、自動的なリセットを適切なタイミングで行うことができない場合が生じ得る。動作を止めることなく自動的にリセットすることが望まれる製品、例えば、通信系の製品においては、リセットを適切なタイミングで行うことは重要である。
リセットは、PLLから出力されるロック信号を観察することでそのタイミングを得る。しかし、PLL回路のロック信号は、PLL回路を構成する複数のPLLが出力する各ロック信号から生成する。従って、各ロック信号が不定の期間の長さによっては、PLL回路のロック信号が常に正しいとは限らない場合が生じ得るからである。
そこで、本発明は、複数のクロック信号を出力するPLL回路において、その特性を問わず、リセットを従来よりも適切なタイミングで行うことを目的とする。
本発明の1形態に係るクロック装置は、複数のクロック信号を出力するクロック回路と、
前記クロック信号を使用して動作する複数の周辺回路であって、受信したシリアルデータの誤りを検出した場合にエラーを検出するエラー検出手段を有する周辺回路から、前記エラーに関するエラー情報を受信し、受信したエラー情報を用いて、前記クロック回路をリセットするか否かを判定する判定手段と、前記判定手段がリセットすると判定した場合に、前記クロック回路をリセットするリセット手段とを有する。
上記構成のクロック装置は、複数のクロック信号を出力するPLL回路の特性を問わず、リセットを従来よりも適切なタイミングで行うことすることができる。
クロック装置の機能的構成例を示す図である。 PLLブロックの機能的構成例を示す図である。 リセット処理のタイムチャートである。 PLL Resetの回路構成例を示す図である。 PLL Resetのタイムチャートである。 PLL状態保護回路の構成例を示す図である。 PLL状態保護回路のタイムチャートである。 クロック断検出回路の構成例を示す図である。 クロック断検出回路のタイムチャートである。 周辺回路Reset回路の構成例を示す図である。 周辺回路Reset回路のタイムチャートである。 メモリ処理部の構成例を示す図である。 シリアル通信処理部の構成例を示す図である。 シリアル通信処理部のタイムチャートである。 内部処理部の構成例を示す図である。 内部処理部のタイムチャートである。 CPU/INFの構成例を示す図である。 CPU/INFのタイムチャートである。 処理状態保護回路の構成例を示す図である。 処理状態保護回路のタイムチャートである。 複数クロックを出力するPLLの構成例を示す図である。 変形例のPLLブロックの機能的構成例を示す図である。
<実施形態>
実施形態のクロック装置は複数のクロック信号を出力し、クロック装置が有しているPLLの特性によらず、適切なタイミングでPLLのリセットを行う。
例えば、開発時のFPGAから、開発した機能をあるデバイスに置き換えようとする場合に、開発時のFPGAと同じ特性を持つPLLを用いることができない場合がある。この場合には、通常、製品の品質を保証するために新しいPLLの特性に合わせた再設計及び検証が必要となる。
しかし、実施形態のクロック装置では、PLLを新しいPLLに置き換えるだけで、新しいPLLの特性に合わせた再設計及び検証を不要とする。新しいPLLの接続確認及び周波数確認のみ行えばよい。
実施形態のクロック装置は、様々なPLLの特性を吸収するような仕組みを備えているからである。具体的には、クロック装置が有するPLL自身に不具合が発生した場合にリセットするのみならず、PLLが出力しているクロック信号を使用して動作している処理回路の状態に基づいてPLLをリセットする。各種PLLに対応できるリセットシーケンスを備える。また、クロック装置自身のリフェレンスクロックに異常が発生したことを検出した場合にも、PLLをリセットする。更に、クロック装置から出力するロック信号のバタツキを防止して信頼性を高めている等である。
以下、図21のように、複数のクロック信号を出力する1つのPLLで構成されるPLL回路を、1つのクロック信号を出力するPLLを複数個直列に接続したPLL回路に置き換えた例を用いて、実施形態のクロック装置を説明する。複数のPLLで構成する必要がある場合とは、必要とするPLL回路の出力ポートの数とPLLの出力ポートの数とが異なる場合であり、クロック位相のシフト設定がデバイスにより異なることが多いためである。
<機能>
図1は、クロック装置の機能的構成の例を示すブロック図である。
クロック装置は、PLLブロック100及びその周辺の状態を検出する回路から構成される。周辺の状態を検出する回路とは、具体的には、クロック断検出回路300及び処理状態保護回路220である。
PLLブロック100は、PLL回路110、PLLリセット生成部120及びPLL状態保護回路130を有する。
PLL回路110はPLL1〜PLLnを含み、PLL1〜PLLnはそれぞれクロック1〜クロックnをPLLブロック100から出力する。各PLLは、通常の機能を有し、クロック信号及びPLL自身の状態を示す状態信号(丸1〜丸n参照)を出力する。図1のPLL回路110においては、PLL1はReferenceクロック10を入力し、1クロックをPLLブロック100のクロックとして出力し、1クロックを後段のPLL2〜PLLnのリフェレンスクロックとして出力する。
PLLリセット生成部120は、PLL1〜PLLnをリセットする機能を有する。PLLリセット生成部120は、PLL1〜PLLnのそれぞれのリセット信号を生成するPLL1Reset〜PLLnResetを備える。
PLLリセット生成部120が行うリセットは、次の4つである。入力Reset信号20により外部から指示される装置の立ち上げ時等のリセット、クロック断検出回路300から通知されるReferenceクロックが断たれた時のリセット、処理状態保護回路220からのアラーム情報に基づくリセット、及び、PLL自体の状態を示す情報に基づくリセットの4つのリセットである。
また、PLLリセット生成部120は、特有のリセット処理を備える。詳細は、<PLLリセット生成部>の項で説明する。
PLL状態保護回路130は、PLL1〜PLLnの状態信号をそれぞれ入力し、PLLブロック100のロック信号を出力する。尚、PLLの状態保護回路は、PLL毎に備えられており、各PLLの状態保護回路を総称してPLL状態保護回路130というものとする。詳細は、<PLL状態保護回路>の項で説明する。
このPLL状態保護回路130を備えることにより、例えば、状態が悪化してきた時及び復旧時等にロック信号がバタツクようなPLL回路に置き換えたとしても、ロック信号を誤検出することがなくなり、適切なタイミングでリセットをかけることが可能となる。
PLL状態保護回路130が出力するロック信号は、PLLブロック100の状態の履歴としてCPU/INF500に記憶する。このCPU/INF500は、CPUから読み出されるとクリアされる。履歴を残すことで、ユーザ等が装置の状態を知ることが可能となる。
例えば、エラー等の履歴を参照することで、デバイスに特化した部分の不具合箇所等が詳細にわかるので、高品質の製品の提供を短期間で行うことが可能となる。
クロック断検出回路300は、Referenceクロック10の状態を観察し、クロック断の状態を検出するとPLLリセット生成部120に通知する。
例えば、リフェレンスクロックの瞬断に対してアラームを検出できない場合があるPLL回路に置き換えたとしても、適切なタイミングでリセットをかけることが可能となる。
処理状態保護回路220は、所定の処理のアラーム情報をPLLリセット生成部120に通知する機能を有する。所定の処理とは、PLLブロック100が出力するクロック1〜クロックnそれぞれを入力して行う様々な処理をいう。実施形態では、クロック1を入力して動作するPLL1処理200を例に説明する。
PLL1処理200は、記憶されているデータのチェック等を行うメモリ処理部230、シリアルデータを取り込むシリアル通信処理部240、及び、受信データを内部メモリに格納後、所定クロックに同期したタイミングで読み出す内部処理部250を有する。
アラーム検出部210は、メモリ処理部230等の処理部が行う処理におけるエラーを検出して、CPU/INF500及び処理状態保護回路220に通知する。処理状態保護回路220は、必要に応じてアラームリセット信号をPLLリセット生成部120に出力し、PLLをリセットする。詳細は、<PLL1処理200>の項で説明する。
尚、メモリ処理部230、シリアル通信処理部240及び内部処理部250のそれぞれは、独自のアラーム検出部を備えており、これらのアラーム検出部を総称してアラーム検出部210というものとする。
周辺回路Reset回路400は、入力Reset信号20が入力されると、PLLブロック100のロック信号がロック状態となるまで、PLL1処理200等の処理をリセットしておく機能を有する。
本実施形態のクロック装置は、PLL回路110の周囲にPLLリセット生成部120、PLL状態保護回路130、クロック断検出回路300、及び、処理状態保護回路220を配置することにより、PLLの特性に依存することなくPLLの置き換えを容易にしている。すなわち、これら周囲に配置した機能部を、デバイスに依存する可能性のある部分、リセットシーケンス及び保護回路等について考慮した構成としている。
また、本実施形態のクロック装置は、PLLブロック100が出力するクロックを入力して動作している処理の状態に基づいてリセットを行うため、処理としては問題なく動作しているにも関わらずリセットが行われることを避けることが可能となる。すなわち、PLLの異常を検出する精度が高すぎる場合は、処理が正常に動作しているにも関わらずリセットがかかってしまうからである。本実施形態のクロック装置は、処理に問題が発生したらリセットを行うため、無駄なリセットを省くことが可能となる。
以下、上述した各機能部の詳細を説明する。
<PLLブロック100>
図2は、PLLブロック100の機能的構成の例を示すブロック図である。
<PLL回路110>
PLL回路110は、Referenceクロック10として78Mクロックを入力し、4つのクロック、すなわち、78M(シフト1)、78M(シフト2)、38M、及び、38M(シフト)のクロック信号を出力する。尚、「シフト」は、位相シフトしたことを示す。
PLL回路110は、PLLが4クロックを生成することができないため、3つのPLLを用いて4クロックを生成している。すなわち、前段にPLL1、後段にPLL2及びPLL3というように直列に接続する。PLL1が出力した78Mクロックの信号を、PLL2及びPLL3のリフェレンス信号とする構成とする。
また、PLL1〜PLL3は、それぞれPLL状態1〜PLL状態3を出力している。各PLLの出力がロック状態の場合は「Low(L)」、アンロックとなった場合に「Hight(H)」となるものとする。
<PLL回路110のリセット処理>
ここで、PLL回路110のリセットについて説明する。
PLLブロック100は、入力Reset信号20により外部から指示される装置の立ち上げ時、クロック断検出回路300から通知されるReferenceクロックが断たれた時、処理状態保護回路220からリセットすべきアラーム情報が入力された時、及び、PLL自体に異常が発生した時にリセットされる。
以下、3つのタイミングにおけるリセット処理について説明する。
1つ目は、初期動作時、すなわち、入力Reset信号20により外部から指示される装置の立ち上げ時のリセット処理である。クロック断検出回路300から通知されるReferenceクロックが断たれた時、及び、処理状態保護回路220からリセットすべきアラーム情報が入力された時に行われるリセット処理は、この初期動作時のリセット処理と同様である。すなわち、全PLLをリセットする。
2つ目は、前段のPLL1の状態が動作の途中でアンロックとなった場合のリセット処理である。
3つ目は、後段のPLL2又はPLL3の状態が、動作の途中でアンロックとなった場合のリセット処理である。
2つ目と3つ目のリセット処理は、PLL自体に異常が発生した時のリセット処理である。
図3は、PLLブロック100のリセット処理のタイムチャートである。
まず初期動作時のリセット処理を説明する。
PLL1〜PLL3は、リセットが開始されてから50μsでロック状態になるとする。
入力Reset信号20が解除され、すなわち、”H”となると、PLL1リセット信号が”L”となり、リセットが解除される。すなわち、PLL1のリセットが開始される。
PLL1の状態は、50μs後にロック状態”L”となる(信号50参照)。
PLL1の状態がロック状態になったことを検出したPLLリセット生成部120のPLL1Resetは、所定の処理を行い(処理51参照)、後段のPLL2及びPLL3のリセットを解除する。PLL2及びPLL3のリセットが開始される。
PLL2及びPLL3の状態は、50μs後にロック状態”L”となる(信号52参照)。PLLリセット生成部120の所定の処理は、<PLLリセット生成部120>の項で説明する。
次にPLL1が途中でアンロック状態となった場合のリセット処理を説明する。
PLL1の状態がアンロック状態”H”となると(信号53参照)、PLLリセット生成部120のPLL1ResetにてPLL1リセット信号が生成される(信号54参照)。これは、アンロック状態となった場合に、一度リセット信号を入力する必要がある仕組みとなっているPLLに対処するためである。
その後、リファレンスクロックが正常入力され始めると、PLL1の状態は、50μs後にロック状態”L”となる。
ここで、ロック状態の引き込みを確実に行うために、リファレンスクロックが正常入力されてから再度リセットを生成する(信号55参照)。すなわち、PLL1の状態がロック状態になったら(信号56参照)、PLL1ResetにてPLL1リセット信号(信号55参照)が生成され、再度PLLの引き込みを開始し、PLL1の状態が50μs後にロック状態”L”となる。
PLL1の状態がロック状態になったことを検出したPLLリセット生成部120のPLL1Resetは、所定の処理を行い、後段のPLL2及びPLL3のリセットを解除する。PLL2及びPLL3はリセットを開始し、ロック状態”L”となる。
このように、PLL状態が異常になった時とReferenceクロック10の入力が開始されてPLL状態が普及した時との2回リセットを行うことで、様々な特性のPLLにリセットを確実にかけることが可能となる。例えば、アンロック状態となった時にリセットが必要なPLL、リフェレンスクロックが正常に入力され始めてからリセットをかける必要があるPLL等のPLLに対応することができるようになる。尚、このような2回のリセットをかける処理は、後述するPLLリセット生成部120のPLL Resetが行う。
次に、後段のPLL2又はPLL3が途中でアンロック状態となった場合のリセット処理を説明する。このリセット処理は、PLL1がアンロック状態となった場合のリセット処理と同様である。
具体的には、PLL2又はPLL3の状態がアンロック状態”H”となると(信号57参照)、PLLリセット生成部120のPLL2Reset又はPLL3Resetにて、PLL1リセット信号が生成され、リファレンスクロックが正常入力され始めると、PLL2又はPLL3の状態は、50μs後にロック状態”L”となる。その後、再度リセットを生成する。
<PLLリセット生成部120>
PLLリセット生成部120は、PLL1状態〜PLL3状態の各PLLの状態の変化、すなわち、アンロック状態からロック状態への変化、又は、ロック状態からアンロック状態への変化を監視し、各PLLのリセット信号を生成する。
また、リセット処理で述べたように、前段PLL1の状態がアンロック状態となれば、後段のPLL2又はPLL3をリセットする。
実施形態では、PLL1Reset〜PLL3Resetは、同様の回路構成を有するものとし、以下、これらを総称して「PLL Reset」というものとする。ただし、PLL1Resetでのみ有効な出力がある。
図4に、PLL Resetの回路構成図を示す。また、図5に、PLL Resetのタイムチャートを示す。タイムチャートを参照しながら、PLL Resetを説明する。
PLL Resetは、対応するPLLの状態を入力し、FF1及びFF2において、動作クロックであるフリーラン(自走発振)78Mクロックに同期させる。このフリーラン78Mクロックの信号は、図1におけるタイマー信号30である。
イネーブルカウンタとして、実施形態では、823ns程度の周期となる1/64イネーブル生成カウンタを用いる。使用するデバイスによって異なるが、PLLのリセット幅制限を満足させるPLLリセット信号を生成できるイネーブルカウンタを用いる。
まず、図5のLOCK状態への変化検出時のタイムチャートを参照する。
1/64イネーブル生成カウンタでは、フリーラン78Mクロックの1パルス幅で823ns周期となる信号を生成する。このイネーブル信号を用いて、PLL状態の信号を、FF3〜FF5において3段シフトさせ、アンロック状態からロック状態への変化パルスを生成する。FF3、FF4及びFF5がそれぞれ「0」、「0」、「1」である場合に、PLL状態がアンロック状態からロック状態へ変化したと検出する(信号60参照)。この変化パルスを、PLLリセット信号として出力する。
ここで、リセットによりPLLは再度アンロック状態となるため、アンロック状態からロック状態への変化パルスによるリセット後5ms間は再度リセットがかからないように、リセットパルスをマスクするために5ms保護カウンタを用いてマスク処理を行う。例えば、図3の信号56で示されるロック状態への変化を検出して、信号55に該当するPLLリセット信号を出力した後、再度ロック状態へと変化するが、この再度のロック状態への変化を検出しないようにマスクをかける。
次に、UNLOCK状態への変化検出時のタイムチャートを参照する。
LOCK状態への変化検出時と同様に、イネーブル信号を用いて、PLL状態の信号を、FF3〜FF5において3段シフトさせ、ロック状態からアンロック状態への変化パルスを生成する。FF3、FF4及びFF5がそれぞれ「1」、「1」、「0」である場合に、PLL状態がロック状態からアンロック状態へ変化したと検出する(信号61参照)。この変化パルスを、PLLリセット信号として出力する。
前段状態の出力は、FF3及びFF4共にアンロック状態”H”である場合に、”H”として出力する。この前段状態の出力は、PLL1Reset121の場合のみ意味がある。
<PLL状態保護回路130>
図6に、PLL状態保護回路130の回路構成図を示す。このPLL状態保護回路130は、PLL回路110を構成するPLLの数分備えられている。
PLL状態保護回路130は、異常動作から正常動作、正常動作から異常動作へと状態が頻繁に変化することによるロック信号のバタツキを防止する。
すなわち、各PLLのPLL状態保護回路130は、対応するPLLのアンロック状態が所定時間続かなければ、アンロック状態になったとの状態信号を出力しない。従って、各PLLの状態信号の論理和を取ったロック信号は安定した信号となる。
図7に、PLL状態保護回路130のタイムチャートを示す。
PLL状態保護回路130は、対応するPLLのPLL状態を入力し、1msタイマー信号の立ち上がり間隔である1msの間の状態を観察する。1msの間ずっとアンロック状態が続き、この状態が2回連続した場合、すなわち、2ms間アンロック状態が続いた場合にのみPLLがアンロック状態であると判断する。
1msの間ずっとアンロック状態である場合は、FF1が一度もリセットされず”H”のままとなる。
<クロック断検出回路300>
クロック断検出回路300は、Referenceクロック10のクロック断の状態を検出する。
図8に、クロック断検出回路300の回路構成図を示す。また、図9に、クロック断検出回路300のタイムチャートを示す。
クロック断検出回路300は、断検出対象となるReferenceクロック10と、1msタイマー信号を入力する。1msタイマー信号のパルス幅は、フリーラン78Mクロックの1パルス幅と同じである。
1msタイマー信号の立ち下がりで、FF1及びFF2を”H”にセットする。
次に、1msタイマー信号の立ち下がりが入力されるまでに、Referenceクロック10のクロックが”L”から”H”、又は、”H”から”L”へ、1度でも変化すると(信号70参照)、FF1及びFF2は”L”となる。
FF1とFF2とのOR論理情報を、1msタイマー信号の立ち上がりでFF3 に取り込み、断検出情報として、”L”で「断検出無し状態」、”H”で「断検出状態」として出力する。
<周辺回路Reset回路400>
入力Reset信号20が入力されると、周辺回路Reset回路400は、PLLブロック100から出力されるクロックが安定するまで、すなわち、PLLブロック100から出力されるロック信号がロック状態となるまで、PLL1処理200等、及び、CPU/INF500をリセット状態としておく。PLL1処理200等、及び、CPU/INF500を、安定したクロックで動作させるためである。例えば、周辺回路Reset回路400は、装置の立ち上げ時に動作する。
図10に、周辺回路Reset回路400の回路構成図を示す。具体的には、クロックが安定するまでの間、リセット信号を伸長する回路である。
PLLで生成したクロックでない入力クロック信号、すなわち、フリーラン78Mクロックのタイマー信号30で、入力Reset信号20を5ms間伸長させる回路になっている。
カウンタ(Up Counter)が2段で構成されているのは、内部タイミングを満足させることを容易にするためである。
図11に、周辺回路Reset回路400のタイムチャートを示す。
入力された外部からの入力Reset信号20(i_xrst)が解除されたら(信号75参照)、リセット伸長用のカウンタ(sr_125usctr及びsr_40ctr)がカウントアップしていく。
sr_125usctrが、「0」から「9719」までカウントする度に、sr_40ctrをカウントアップする(信号76参照)。sr_40ctrが、「39」までカウントアップされ、「0」に戻るときに入力Reset信号20を出力する(信号77参照)。
<PLL1処理200>
PLL1処理200が有するメモリ処理部230、シリアル通信処理部240及び内部処理部250、ならびに、アラーム検出部210について説明する。
<メモリ処理部230>
メモリ処理部230は、QDR(Quad Data Rate)−SRAM(Static Random Access Memory)等のメモリ、及び、ASIC/FPGAが備えるメモリ等の品質チェックを行う。
図12に、メモリ処理部230の構成を示す。
メモリ処理部230は、メモリにデータを書込む前に、Parityを挿入するブロック231と、読み出したデータのParityをチェックするブロック232を備える。
Parityは、例えば、奇数Parityとする。所定の長さ、例えば8ビットのデータに1ビットのパリティビットを付加し、パリティビットを含んだデータに含まれる「1」の数が奇数個になるようにパリティビットを設定する。
Parityをチェックするブロック232が、メモリ処理部230のアラーム検出部210に該当する。
<シリアル通信処理部240>
図13に、シリアル通信処理部240の構成を示す。シリアル通信処理部240は、シリアル通信処理部240自身のアラーム検出部を有している。
シリアル通信処理部240は、入力される9本のシリアルデータ(i_ibinx)を取り込み、それぞれのデータのパリティチェックをアラーム検出部で行う。従って、アラーム検出部は9つある。図13のアラーム検出部は、シリアルデータの1つである「i_ibiam」の処理を記載している。
シリアル通信処理部240は、シリアル信号を取り込むための基準クロック(i_ibinc39)と、フレームの先頭を示すフレームパルス(i_ibif8k)とを入力する。
シリアル処理240は、フレームの入力タイミングを基準として、フレームカウンタを生成し、シリアルデータを取り込む。
ASIC/FPGAから出力されたシリアルデータ内には、出力したデータのパリティ結果/クロック断も通知されてきている。従って、出力したクロックの品質監視を行った結果を判断することでエラー監視を行う。
アラーム検出部は、フレームの入力タイミングを基準としてフレーム単位のParityチェックを行う。すなわち、シリアルデータのフレーム内の最終ビットのParityビットまでを演算(奇数パリティ)してエラーの検出を行う。
シリアルデータで通知されるエラー情報と、アラーム検出部で検出されるエラー情報(出力 o_ptyp_x)の論理和でアラーム情報とする。
図14に、シリアル通信処理部240のタイムチャートを示す。
入力されるフレームタイミグ(sr_ibif8k)を基準にして、フレームカウンタ(fr_ctr)のカウントアップが開始され、フレーム毎にシリアルデータ(sr_ibix)が取り込まれる。フレームタイミングが入力されると、フレームカウンタを「0」にする。
シリアルデータ(sr_ibix)の1フレームの先頭から最後尾のビットまでをパリティチェックして、フレーム単位(125us)のエラー情報をラッチして通知する。
例えば、先頭80からパリティチェックを開始する。sr_ibif8Kが”H”の時に、sr_pty_calをクリアし、次のフレームのパリティチェックのための演算を、先頭81から開始する(sr_x_pty_cal)。また、先頭82、先頭83からも先頭81と同様に、次にフレームのパリティチェックのための演算を開始する。
fr_ctrが「4859」である時に、sr_pty_calをラッチする(出力84参照)。先頭82から始まるフレームはショートであり、fr_ctrは「4859」とはならないので、sr_pty_calのラッチは行わない。次のフレームはロングであるので、fr_ctrが「4859」である時に、sr_pty_calをラッチする(出力85参照)。
<内部処理部250>
内部処理部250は、受信データを内部メモリに格納し、PLLから入力されるクロックに同期したタイミングで内部メモリよりデータを読出す機能を実現する。
受信クロックは、受信データからクロックリカバリされたクロックであるため周波数が変動する。
そのため、内部処理部250に実装する内部メモリは、入力データの変動を吸収する機能、及び、内部メモリエラーを検出した場合に内部ポインタ等の制御情報をリセットする機能を有する。
また、内部メモリの書込み側と読出し側の制御を行うためにライトポインタのクロック乗換えが必要となるが、複数ビット・カウンタのクロック乗換えを行う回路にビット変化の少ないグレイコードを使用している。
図15に、内部処理部250の回路構成を示す。また、図16に、内部処理部250のタイムチャートを示す。内部メモリ247の容量は16ワードであるとする。
内部処理部250は、リセット解除後、ライトポインタ生成ブロック241で生成されるライトポインタが「0」、及び、リードポインタ生成ブロック244で生成されるリードポインタが「8」の状態から、ポインタのインクリメントを行う。ライトポインタ生成ブロック241は、サーデスクロックにより動作し、リードポインタ生成ブロック244はPLLブロック100からのクロックにより動作している。
クロック安定時は、メモリ使用量が「8」の状態で、内部メモリ247に対してデータの書込みと読出しが行われる(図16の制御開始時のタイムチャート参照)。データの書き込みと読み出しは、それぞれ書込みブロック246と読出しブロック248によって行われる。
ライトポインタとリードポインタが8ワードの間隔を保ってデータの書込みと読出しを行うために、ライトポインタのクロック乗せ換えを行って、リード側のクロックでメモリ使用量の計算を行う。このメモリ使用量の算出は、メモリ使用量算出ブロック243で行い、オーバーフロー・アンダーフロー検出ブロック245に出力する。
メモリ使用量の計算に用いるライトポインタの値は、乗せ替えブロック242でリード側に乗せ換えた後の値であり、計算時にはクロック乗せ換えの遅延分を予測して計算を行う。
メモリ使用量算出ブロック243で算出したメモリ使用量が14ワードまたは15ワードのとき、オーバーフローを検出する(図16のOVF検出時のタイムチャート参照)。また、メモリ使用量が1ワードのとき、アンダーフローを検出する(図16のUDF検出時のタイムチャート参照)。
オーバーフロー・アンダーフロー検出ブロック245が、オーバーフロー及びアンダーフローを検出して、アラーム情報を出力する。
また、メモリ使用量が0ワードのとき、オーバーフロー及びアンダーフロー両方を検出する。
オーバーフロー又はアンダーフローを検出した場合、ライトポインタとリードポインタの間隔を8ワードに戻す。すなわち、内部メモリのライトポインタとリードポインタを初期化する。初期化とは、ライトポインタとリードポインタの差が8サイクルとなるように、リードポインタを強制的に変更することである。
検出した内部メモリ247のオーバーフローとアンダーフローの通知は、内部処理部250のアラーム検出部210になされる。
ここで、図16に示すタイムチャートについて説明する。
リセット解除後、リードポインタおよびライトポインタのカウントアップを開始する。また、初期状態としてリードポインタとライトポインタの位置を8アドレスずれた状態とする。
このとき、書込み側と読出し側のクロック周波数が一致しているなら、最初のクロック乗換えによる遅延を除けばメモリ使用量が「8」の状態でデータの読出しを継続する。
しかし、書込み側のクロック周波数が読み出し側より遅い場合は、メモリ使用量が減少し、メモリ使用量が「1」となった時点でアンダーフローを検出し、リードポインタにライトポインタか「4」を減算した値を代入する。これによって、メモリ使用量が「8」に復帰する。
または、書込み側のクロック周波数が読み出し側より早い場合は、メモリ使用量が増加し、メモリ使用量が「14」または「15」となった時点でオーバーフローを検出し、リードポインタにライトポインタから「4」を減算した値を代入する。これによって、メモリ使用量が「8」に復帰する。
メモリ使用量が「0」となった場合のみオーバーフローおよびアンダーフローの両方を検出し、メモリ使用量を「8」に復帰させる。
オーバーフローおよびアンダーフローを検出する閾値は1つ前の値においてポインタの不一致によるデータエラーが発生しないよう十分なマージンを確保した値とする。
<CPU/INF500>
図17に、CPU/INF500の構成を示す。また、図18に、CPU/INF500のタイムチャートを示す。Raed On Clear動作のタイムチャートである。
このCPU/INF500は、履歴として残したいアラームの数分の情報をCPUに通知できるようになっている。例えば、アラーム毎にビットを割り当てた8ビットのデータを記憶できるようにしておく。
アラーム検出部210から入力されたアラーム信号は、非同期処理ブロック501で、PLLリセット生成部120の基準クロックに乗り換えられる。
Reg(FF)(1)で、CPUからの読み出し周期内で発生したアラーム情報をラッチしておく。読み出し周期は、Readタイミングで示される。
Readタイミングが”H”になったときに、Reg(FF)(1)の内容をLatchReg(2)に取り込みラッチし、Reg(FF)(1)をクリアする。ラッチしたデータをCPUへの通知情報、すなわち、履歴情報とする。
また、PLL状態保護回路130が出力したロック信号も、ALM信号と同様にCPUに通知される。
<処理状態保護回路220>
処理状態保護回路220は、PLL1処理200等の処理で検出されたアラーム信号を保護するブロックである。アラーム信号は、メモリ処理部230、シリアル通信処理部240及び内部処理部250において、それぞれ検出される。
図19に、処理状態保護回路220の構成例を示す。
メモリ処理部230、シリアル通信処理部240及び内部処理部250において検出されたアラーム信号は、非同期処理ブロック221において、PLLリセット生成部120の基準クロックに乗り換えられる。
その後、それぞれ個別に、リセットが必要か否かを判断する。具体的には、入力したアラーム信号をリセット条件とするかの判定を行うために、Enable/Disable設定を持つ(回路222参照)。
判断後、FF(M1、S1、N1)において、1ms周期内で発生したアラーム信号をラッチしておく。この1ms周期は、Readタイミングで示される。
Readタイミングが”H”になったときに、FF(M1、S1、N1)をクリアして次段のFF(M2、S2、N2)に取り込みラッチする。
全てのアラーム信号をラッチした情報を、3段保護ブロック223にて3連続の監視を行い、ALM Reset信号として出力する。すなわち、3回連続してアラーム信号が入力された場合は、PLLリセット生成部120に全てのPLLのリセットを指示するアラームリセット信号(ALM Reset信号)を出力する。
尚、処理状態保護回路220はPLL1処理〜PLLn処理にそれぞれ1つずつ存在すが、実施形態では、いずれの処理状態保護回路220が出力するアラームリセット信号も、全てのPLLのリセットを指示するものとする。
図20に、処理状態保護回路220のタイムチャートを示す。
1ms周期における(1) 〜(3)の各期間で、メモリ処理部230、シリアル通信処理部240及び内部処理部250においてそれぞれアラーム信号が検出されたとする。
この場合、それぞれのアラーム信号は、1段目のそれぞれのFFにラッチされる。そして、次の1msタイミングで2段目FFにシフトされる。
そのシフトされたそれぞれのアラーム信号から、それぞれのAND条件を用いてリセットが必要か否かを決定する。その後、1msタイミング単位で3連続の保護をとり、OneShotのResetパルスの生成を行う。
3回連続して発生した場合にリセットを行うと判断するのは、3回連続して発生するのは、メモリ処理部230等の異常よりもクロックに異常がある可能性が高いと判断できるからである。
尚、実施形態では、3連続保護をとって約8フレームの期間である3ms期間を監視しているが、通常のアラーム検出期間、例えば、5フレームよりも長い期間であればよい。
<補足>
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記形態に限らず、以下のようにしてもよい。
(1)実施形態では、複数のクロックを出力する1つのPLLで構成されるPLL回路を、1つのクロックを出力するPLLを複数個直列に接続したPLL回路に置き換えた例を説明したが、1つのPLLで構成されるPLL回路を、他の1つのPLLで構成されるPLL回路に置き換える場合であってもよい。PLL回路を1つのPLLで実現する場合は、複数のPLLで構成するPLL回路のように、内部の複数のPLLについて考慮する必要はないが、その特性が異なる場合があるからである。
(2)実施形態では、各PLLが出力する状態信号を、PLLリセット生成部120に入力しているが、図22に示すように、PLL状態保護回路130において保護された後の信号を入力することとしてもよい。保護された状態信号に基づいてPLLのリセットを行うので、状態信号のバタツキによる異常動作を起こす可能性が低くなる。
上に述べた実施例には、以下に述べるような付記も開示されている。
(付記1)
複数のクロック信号を出力するクロック回路と、
前記クロック信号を使用して動作する複数の周辺回路であって、エラーを検出するエラー検出手段をそれぞれに有する周辺回路から、前記エラーに関するエラー情報を受信し、受信したエラー情報を用いて、前記クロック回路をリセットするか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段がリセットすると判定した場合に、前記クロック回路をリセットするリセット手段と
を備えるクロック装置。
(付記2)
前記判定手段は、受信したエラー情報を選択的に用いて、前記クロック回路をリセットするか否かを判定する
付記1記載のクロック装置。
(付記3)
前記判定手段は、前記クロック信号に基づき前記周辺回路のエラーを検出する期間より長い期間内において検出されたエラーに基づいて、リセットするか否かを判定する
付記1又は付記2に記載のクロック装置。
(付記4)
前記クロック回路は、外部から基準クロック信号を入力して動作し、
前記判定手段は、前記基準クロックの入力が止まった場合に、リセットすると判定する
付記1ないし付記3のいずれかに記載のクロック装置。
(付記5)
複数のPLL(Phase Locked Loop)と、前記PLLをリセットするリセット手段とを備えるクロック装置であって、
第1のPLLは、前記PLL装置の外部から入力される信号を基準クロック信号として動作し、第2のPLLは、第1のPLLの出力信号を基準クロック信号として動作し、
前記リセット手段は、前記第2のPLLがアンロック状態となった場合は、当該第2のPLLをリセットし、第1のPLLがアンロック状態となった場合は、当該第1のPLLをリセットした後、前記第2のPLLをリセットする
ことを特徴とするクロック装置。
(付記6)
前記リセット手段は、リセットを指示するリセット信号をリセットを行うPLLに送信し、当該PLLがロック状態となったら、更にリセット信号を送信する
付記5記載のクロック装置。
(付記7)
前記周辺回路は、
第1クロック信号に基づいてデータを受信してメモリに記憶させる受信手段と、
前記クロック回路から出力される第2クロック信号に基づいてデータを前記メモリから読み出して送出する送出手段とを備え、
前記エラー検出手段は、前記受信手段がデータを記憶させる前記メモリのアドレスと前記送出手段がデータを読み出す前記メモリのアドレスとの差が、所定の範囲内でない場合に、エラーとして検出する
付記1記載のクロック装置。
(付記8)
前記周辺回路は、
受信したシリアルデータの誤りを検出する誤り検出手段を備え、
前記エラー検出手段は、前記誤り検出手段が誤りを検出した場合に、エラーとして検出する
付記1記載のクロック装置。
10 Referenceクロック
20 入力Reset信号
30 タイマー信号
40 FPGA/ASIC入力端子
100 PLLブロック
110 PLL回路
120 PLLリセット生成部
130 PLL状態保護回路
200 PLL1処理200
210 アラーム検出部
220 処理状態保護回路
230 メモリ処理部
240 シリアル通信処理部
250 内部処理部
300 クロック断検出回路
400 周辺回路Reset回路
500 CPU/INF

Claims (4)

  1. 複数のクロック信号を出力するクロック回路と、
    前記クロック信号を使用して動作する複数の周辺回路であって、受信したシリアルデータの誤りを検出した場合にエラーを検出するエラー検出手段を有する周辺回路から、前記エラーに関するエラー情報を受信し、受信したエラー情報を用いて、前記クロック回路をリセットするか否かを判定する判定手段と、
    前記判定手段がリセットすると判定した場合に、前記クロック回路をリセットするリセット手段と
    を備えるクロック装置。
  2. 前記判定手段は、受信したエラー情報を選択的に用いて、前記クロック回路をリセットするか否かを判定する
    請求項1記載のクロック装置。
  3. 前記判定手段は、前記クロック信号に基づき前記周辺回路のエラーを検出する期間より長い期間内において検出されたエラーに基づいて、リセットするか否かを判定する
    請求項1又は請求項2に記載のクロック装置。
  4. 前記クロック回路は、外部から基準クロック信号を入力して動作し、
    前記判定手段は、前記基準クロックの入力が止まった場合に、リセットすると判定する
    請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のクロック装置。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8228102B1 (en) * 2010-03-03 2012-07-24 Altera Corporation Phase-locked loop architecture and clock distribution system
JP6116766B1 (ja) 2015-06-30 2017-04-19 オリンパス株式会社 処理装置および処理システム
US10263624B2 (en) * 2017-06-27 2019-04-16 Intel IP Corporation Phase synchronization between two phase locked loops
KR102502236B1 (ko) * 2017-11-20 2023-02-21 삼성전자주식회사 클락 데이터 복구 회로, 이를 포함하는 장치 및 클락 데이터 복구 방법
WO2020086760A2 (en) 2018-10-24 2020-04-30 Magic Leap, Inc. Asynchronous asic
CN111506468B (zh) * 2019-01-30 2023-10-31 深圳富联富桂精密工业有限公司 硬盘状态监控系统及方法
JP7275724B2 (ja) * 2019-03-22 2023-05-18 株式会社リコー データ処理装置、画像読取装置、画像形成装置及びデータ処理方法
CN111699474A (zh) * 2019-06-28 2020-09-22 深圳市大疆创新科技有限公司 中断信息存储设备及可移动平台
JP2021097272A (ja) * 2019-12-13 2021-06-24 株式会社リコー データ処理装置、画像読取装置、画像形成装置及びデータ処理方法
CN117133230B (zh) * 2023-10-26 2024-01-26 成都利普芯微电子有限公司 Led显示驱动芯片及共阴led显示系统、共阳led显示系统

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01200442A (ja) * 1988-02-05 1989-08-11 Nec Corp 保護付きcpuリセツト回路
JPH01265721A (ja) * 1988-04-18 1989-10-23 Sony Corp 位相同期回路
JPH02190944A (ja) * 1989-01-19 1990-07-26 Fujitsu Ltd プロセッサーのリセット方式
JPH03259463A (ja) * 1990-03-09 1991-11-19 Fujitsu Ltd 磁気記録装置における位相同期回路
JPH04154220A (ja) * 1990-10-17 1992-05-27 Mitsubishi Electric Corp 位相同期回路
JP3333053B2 (ja) * 1994-09-05 2002-10-07 富士通株式会社 ディジタル通信装置
JPH08213976A (ja) * 1995-02-07 1996-08-20 Fujitsu Ltd クロック乗り換え回路
JP2877185B2 (ja) * 1995-06-07 1999-03-31 日本電気株式会社 クロック発生器
JP2990171B1 (ja) * 1998-08-24 1999-12-13 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 Pll回路とその制御方法
US6297702B1 (en) * 2000-01-10 2001-10-02 Honeywell International Inc. Phase lock loop system and method
JP2007166003A (ja) 2005-12-09 2007-06-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Pll回路
JP4686432B2 (ja) * 2006-10-13 2011-05-25 三菱電機株式会社 クロック位相シフト装置
JP5159424B2 (ja) * 2008-05-19 2013-03-06 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 Pll位相合わせ回路

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