JP5627079B2 - プリント回路基板上における測定対象物の測定方法 - Google Patents
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Description
ピクセル別の分散値=abs(R−RA)+abs(G−GA)+abs(B−BA)
(ここで、R、G、Bは各ピクセルに対するカラー別の彩度情報であり、RA、GA、BAはカラー別の彩度平均である)
格子パターン光が多様な方向から前記プリント回路基板900に照射されて多様な種類のパターン画像が撮影されるものの、図1に示したように前記画像取得部500が前記カメラ210で撮影されたN個のパターン画像からX−Y座標系の各位置(i(x、y))でのN個の輝度(Ii 1、Ii 2、… 、Ii N)を抽出し、N−バケットアルゴリズム(N−bucket algorism)を利用して平均輝度(Ai(x、y))およびビジビリティー(Vi(x、y))を算出する。
例えば、N=3である場合と、N=4である場合は、それぞれ次のように可視情報を算出する。
すなわち、N=3である場合は、以下の数式(1)及び(2)より可視情報を算出する。
N=4である場合は、以下の数式(3)より可視情報を算出する。
前記数式(4)において、Rは赤色イメージ1210での各ピクセルに対する彩度情報であり、Gは緑色イメージ1220での各ピクセルに対する彩度情報であり、Bは青色イメージ1230での各ピクセルに対する彩度情報である。
前記数式(5)において、Rは赤色イメージ1210の各ピクセルに対する彩度情報であり、Gは緑色イメージ1220の各ピクセルに対する彩度情報であり、Bは青色イメージ1230の各ピクセルに対する彩度情報である。また、RAは赤色イメージ1210の前記1次半田領域に対する彩度平均であり、GAは緑色イメージ1220の前記1次半田領域に対する彩度平均であり、BAは青色イメージ1230の前記1次半田領域に対する彩度平均である。
100 測定ステージ部
200 画像撮影部
300 第1照明部
400 第2照明部
450 第2照明ユニット
500 画像取得部
600 モジュール制御部
700 中央制御部
900 プリント回路基板
910 ベース基板
920 比較物体
AR1 第1領域
AR2 第2領域
AR3 第3領域
AR4 第4領域
H1 基準高さ
1100 3次元形状測定装置
1120 ステージ
1130 画像撮影部
1140 第1照明ユニット
1150 第2照明ユニット
1152 赤色照明部
1154 緑色照明部
1156 青色照明部
1210 赤色イメージ
1220 緑色イメージ
1230 青色イメージ
1300 彩度マップ
1400 分散マップ
1500 半田マップ
Claims (5)
- 第1照明ユニットを利用して格子パターン光をプリント回路基板に照射して撮影された第1画像を利用して前記プリント回路基板の3次元的高さ情報を取得し、
取得された前記高さ情報を利用して前記プリント回路基板上に基準高さ以上に突出した第1領域を測定対象物として確定し、
第2照明ユニットから発生した光を前記プリント回路基板に照射して撮影された第2画像を利用して前記プリント回路基板のカラー情報を取得し、
取得された前記プリント回路基板のカラー情報のうち、前記測定対象物として確定された前記第1領域の第1カラー情報を基準カラー情報として設定し、
前記第1領域の前記基準カラー情報および前記第1領域以外の領域におけるカラー情報をそれぞれ第1および第2クラスタ(cluster)に分類し、
前記基準カラー情報と前記第1領域以外の領域のカラー情報とを比較して、前記第1領域以外の領域に前記測定対象物が形成されているかを判断すること、を含み、
前記基準カラー情報と前記第1領域以外の領域における前記カラー情報とを比較して、前記第1領域以外の領域に前記測定対象物が形成されているかを判断することは、前記第2クラスタのカラー情報が、前記第1クラスタのカラー情報に属するかを判断し、前記第2クラスタのカラー情報が前記第1クラスタのカラー情報に属する場合、前記第2クラスタに対応する領域が前記測定対象物に該当する領域であると判断することを特徴とするプリント回路基板上における測定対象物の測定方法。 - 前記第1および第2クラスタは、前記取得されたカラー情報を色座標系を利用して抽出した特徴値を含み、前記特徴値は、色(hue)、彩度(saturation)、および明度(intensity)のうち、少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1に記載のプリント回路基板上における測定対象物の測定方法。
- 第1照明ユニットを利用して格子パターン光をプリント回路基板に照射して撮影された第1画像を利用して前記プリント回路基板の3次元的高さ情報を取得し、
取得された前記高さ情報を利用して前記プリント回路基板上に基準高さ以上に突出した第1領域を測定対象物として確定し、
第2照明ユニットから発生した光を前記プリント回路基板に照射して撮影された第2画像を利用して前記プリント回路基板のカラー情報を取得し、
取得された前記プリント回路基板のカラー情報のうち、前記測定対象物として確定された前記第1領域の第1カラー情報を基準カラー情報として設定し、
取得された前記プリント回路基板のカラー情報のうち、突出した所定の比較物体が配置された第2領域の第2カラー情報を取得し、
取得された前記プリント回路基板のカラー情報のうち、前記測定対象物が形成されていない第3領域の第3カラー情報を取得し、
前記第1領域、第2領域、および第3領域の第1カラー情報、第2カラー情報、および第3カラー情報をそれぞれ第1クラスタ、第2クラスタ、および第3クラスタに分類し、
前記基準カラー情報と前記第1領域以外の領域におけるカラー情報とを比較して前記第1領域以外の領域において前記測定対象物が形成されているかを判断し、
前記第1領域、第2領域、および第3領域を除いた前記プリント回路基板の所定部分のカラー情報が前記第1クラスタのカラー情報に属するかを判断し、前記第1クラスタのカラー情報に属する場合、前記所定部分に前記測定対象物が形成されていることを判断することを特徴とするプリント回路基板上における測定対象物の測定方法。 - 格子ユニットの移動によるN個の格子パターン光に基づいて可視(visibility)情報を取得し、
前記第1領域の可視情報と前記第1領域を除いた領域における可視情報とを比較して前記第1領域以外の領域において前記測定対象物が形成されているかを判断すること、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のプリント回路基板上における測定対象物の測定方法。 - 第1照明ユニットを利用して格子パターン光をプリント回路基板に照射して撮影された第1画像を利用して前記プリント回路基板の3次元高さ情報および可視情報を取得し、
取得された前記高さ情報を利用して前記プリント回路基板上に基準高さ以上に突出した第1領域を測定対象物として確定し、
前記第1領域の可視情報および前記第1領域以外の領域における可視情報をそれぞれ第1および第2クラスタ(cluster)に分類し、
前記第1領域の可視情報と前記第1領域以外の領域における可視情報とを比較して前記第1領域以外の領域に前記測定対象物が形成されているかを判断すること、を含み、
前記第1領域の可視情報と前記第1領域以外の領域における可視情報とを比較して前記第1領域以外の領域に前記測定対象物が形成されているかを判断することは、前記第2クラスタの可視情報が、前記第1クラスタの可視情報に属するかを判断し、前記第2クラスタの可視情報が前記第1クラスタの可視情報に属する場合、前記第2クラスタに対応する領域が前記測定対象物に該当する領域であると判断することを特徴とするプリント回路基板上における測定対象物の測定方法。
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