TWI504912B - 光源設備 - Google Patents

Description

光源設備

本發明是有關於一種光學裝置，且特別是有關於一種光源設備。

隨著科技發展，人們對與電子產品中電子元件的精密程度及品質需求也越來越高。在現在電子產品的電子元件中，例如是印刷電路板的品質檢測也是一項重要的課題。藉由不同光源的搭配，現今在製造各種印刷電路板時也可以在製造過程的各階段對各層的結構做良好的檢測，因此，例如是對引刷電路板內部的金屬走線和防焊層的完整度可以有良好的檢測及過濾。

然而，目前所使用的方法往往需要對各式的印刷電路板、各式的電子元件或其他精密元件各別製作一種專屬的光學檢測治具來做檢測。對於某些印刷電路板的製作，甚至會因為不同光源的需求而需要不同的光學檢測治具，而這些治具的製作也往往造成了整體製作上成本的增加，無法重複使用的光學檢測治具也往往形成了浪費。

本發明提供一種光學裝置，其可以對檢測樣品提供多種檢測模式。

本發明提供一種光源設備，其包括一第一光源單元、一第二光源單元、一分光單元以及一檢測模組。分光單元適於移動至第一位置及第二位置。當分光單元移動至第一位置時，第一光源單元發出一第一光束，分光單元使至少部分第一光束行進至一檢測樣品。檢測樣品將至少部分第一光束反射成一行進至檢測模組的一第一樣品光束。當分光單元移動至第二位置時，第二光源單元發出一第二光束，第二光束發射至檢測樣品，檢測樣品將第二光束反射成一第二樣品光束，第二樣品光束行進至檢測模組。

在本發明的一實施例中，上述的第二光束通過分光單元旁行進至檢測樣品，且第二樣品光束通過分光單元旁行進至檢測模組。

在本發明的一實施例中，上述的分光單元使來自檢測樣品的至少部分第一樣品光束行進至檢測模組。

在本發明的一實施例中，來自上述的第一光源單元的至少部分第一光束是被分光單元反射至檢測樣品，且來自檢測樣品的至少部分第一樣品光束穿透分光單元而行進至檢測模組。

在本發明的一實施例中，上述的第一光源單元包括多個不同顏色的發光單元，第一光束由部分這些發光單元所發出的光組成。

在本發明的一實施例中，上述的第一光源單元更包括一擴散單元，其配置於這些發光元件所發出的光的路徑上。

在本發明的一實施例中，上述的第一光源單元固定於一第一軌道組，第一軌道組適於調整第一光束入射至檢測樣品的方向，第二光源單元固定於一第二軌道組，第二軌道組適於調整第二光束入射至檢測樣品的入射角。

在本發明的一實施例中，上述的光源設備更包括一第三光源單元。當分光單元移動至第一位置時，第三光源單元發出第三光束，第三光束通過分光單元旁行進至檢測樣品，且檢測樣品將第三光束反射成一行進至檢測模組的第三樣品光束。

在本發明的一實施例中，當上述的分光單元移動至第一位置時，第二光源單元不發出光束，且當分光單元移動至第二位置時，第一光源單元及第三光源單元不發出光束。

在本發明的一實施例中，上述的第三光源單元固定於一第三軌道組，第三軌道組適於調整第三光束入射至檢測樣品的入射角。

在本發明的一實施例中，上述的第三光源單元更包括一擴散單元以及一透鏡，擴散單元及透鏡各自配置於第三光束的行進路徑上，且第三光源單元為線光源。

在本發明的一實施例中，上述的第二光束及第三光束以不同的入射角入射檢測樣品。

在本發明的一實施例中，上述的第一光源單元為面光 源，第二光源單元為線光源。

在本發明的一實施例中，上述的第二光源單元為多個第二光源單元，這些第二光源單元是紫外光光源、紅外光光源或其組合。

在本發明的一實施例中，上述的測樣品為一印刷電路板。

在本發明的一實施例中，上述的檢測模組包括一檢測鏡頭以及一感光元件。被檢測樣品反射後的這些第一光束及至少一第二光束穿透檢測鏡頭後到達感光元件。

在本發明的一實施例中，上述的第二光源單元包括一擴散單元，配置於第二光束的行進路徑上。

在本發明的一實施例中，上述的光源設備更包括一傳動單元其具有一端連接分光單元，且傳動單元適於帶動分光單元至第一位置及第二位置。

在本發明的一實施例中，上述的光源設備更包括一致動單元以及一控制單元。致動單元連接傳動單元的另外一端。控制單元電性連接致動單元、第一光源單元及第二光源單元。控制單元控制致動單元來透過傳動單元移動分光單元的位置及第一光源單元和第二光源單元的開關。

在本發明的一實施例中，上述的致動單元藉由推動或拉動傳動單元的另外一端來移動分光單元。

在本發明的一實施例中，上述的致動單元推動或拉動傳動單元時，傳動單元以一支點為轉動中心而轉動。

在本發明的一實施例中，上述的分光單元連接於一分光軌道組，分光軌道組使分光單元沿著一路徑在第一位置及第二位置之間移動。

在本發明的一實施例中，當上述的分光單元移動至第一位置時，第二光源單元不發出光束，且當分光單元移動至第二位置時，第一光源單元不發出光束。

基於上述，本發明的實施例所提供的光源設備藉由可以移動到多個位置的分光單元，可以對檢測樣品提供不同檢測模式的檢測光束。藉由這種分光單元的設計，光源設備所提供的光束可以具有更高自由度，並針對檢測樣品的各種缺陷提供適當的光束來做檢測。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

d1‧‧‧方向

L1‧‧‧第一光束

L2‧‧‧第二光束

L3‧‧‧第三光束

S1‧‧‧第一樣品光束

S2‧‧‧第二樣品光束

S3‧‧‧第三樣品光束

50‧‧‧檢測樣品

60‧‧‧載台

100‧‧‧光源設備

110‧‧‧第一光源單元

112‧‧‧發光單元

114‧‧‧擴散單元

115‧‧‧接點

120‧‧‧第二光源單元

121‧‧‧散熱塊

123‧‧‧散熱風扇

128‧‧‧第二軌道組

130‧‧‧第三光源單元

131‧‧‧散射塊

132‧‧‧發光單元

133‧‧‧散熱風扇

134‧‧‧擴散單元

135‧‧‧接點

136‧‧‧透鏡

138‧‧‧第三軌道組

140‧‧‧分光單元

150‧‧‧檢測模組

160‧‧‧傳動單元

161、163‧‧‧端

162‧‧‧支點

170‧‧‧致動單元

180‧‧‧控制單元

圖1是本發明的實施例中光源設備的示意圖。

圖2A是本發明的實施例中光源設備的立體圖。

圖2B及圖2C是本發明的實施例中光源設備的局部立體圖。

圖2D及圖2E是本發明的實施例中光源設備的俯視圖。

圖3A及圖3B是本發明的實施例中光源設備的示意圖。

圖4A及圖4B是本發明的實施例中面光源的示意圖。

圖5A及圖5B是本發明的實施例中線光源的示意圖。

圖1是本發明的實施例中光源設備的示意圖。圖2A是本發明的實施例中光源設備的立體圖。圖2B及圖2C是本發明的實施例中光源設備的局部立體圖。圖2D及圖2E是本發明的實施例中光源設備的俯視圖。圖3A及圖3B是本發明的實施例中光源設備的示意圖。需要特別說明的是，上述的圖示為了能夠清楚說明本發明的實施例所提供的光源設備，部分圖式省略了部分構件來繪示，其主要為用以解釋本發明的實施例中光源設備的光學運作方式，並非用以限定其結構及配置方式。請參照圖1、圖3A及圖3B，在本發明的實施例中，光源設備100包括一第一光源單元110、一第二光源單元120、一分光單元140以及一檢測模組150。分光單元140適於移動至第一位置及第二位置。具體來說，圖3A是本實施例中分光單元140移動至第一位置時的示意圖，當分光單元移動140至第一位置時，第一光源單元110發出一第一光束L1，分光單元140使至少部分第一光束L1行進至一檢測樣品50。檢測樣品50將至少部分第一光束L1反射成一行進至檢測模組150的一第一樣品光束S1。圖3B是本實施例中分光單元140移動至第二位置時的示意圖，當分光單元140移動至第二位置時，第二光源單元120發出一第二光束L2，第二光束L2發射至檢測樣品50(即第二光束L2不通過分光單元140)，檢測樣品50將第二光 束L2反射成一第二樣品光束S2，第二樣品光束S2行進至檢測模組150(即第二樣品光束S2不通過分光單元140)。

具體來說，請參照圖1、圖2A、圖2B、圖3A，其中圖2B省略了第二光源單元120來繪示，在本發明的實施例中，上述的分光單元140位於第一位置時，分光單元140位於第一光源單元110所提供的第一光束L1的行進路徑上，且第二光源單元120不發出光束，因此可以使第一光束L1部分反射至檢測樣品50，而檢測模組150也可以偵測到來自檢測樣品50的第一樣品光束S1。在本實施例中，分光單元140例如是可以使光束部分反射且部分穿透的分光鏡，例如是半穿透半反射鏡。

請參照圖1、圖3B，在本發明的實施例中，上述的分光單元140位於第二位置時，第一光源單元110不發出光束，第二光源單元發出的第二光束L2通過分光單元140旁行進至檢測樣品50，且第二樣品光束S2通過分光單元140旁行進至檢測模組150。也就是說，在本實施例中，分光單元140位於第二位置時，分光單元140會移至第二光源單元120所提供的第二光束L2的行進路徑以及第二樣品光束S2的行進路徑之外。因此，本發明的實施例中所提供的光源設備100可以藉由分光單元140的移動來提供不同的光束至檢測樣品50上，藉以提供不同的檢測效果，可以針對不同的檢測需求來提供不同的檢測模式及其適用的檢測光束。

具體來說，請參照圖1、圖2A、圖2B、圖3A及圖3B，在本發明的實施例中，光源設備100更包括一第三光源單元130， 其發出一第三光束L3。當分光單元140移動至第一位置時，第三光束L3通過分光單元140旁行進至檢測樣品50，且檢測樣品50將第三光束L3反射成一行進至檢測模組150的第三樣品光束S3。也就是說，請參照圖3A，當分光單元140移動至第一位置時，部分第一光源單元110所發出的第一光束L1及第三光源單元130所發出的第三光束L3都可以行進至檢測樣品50，第二光源單元120不發出光束，而檢測模組150可以得到經第一光束L1及第三光束L3照射檢測樣品50所得到的檢測影像。請參照圖3B，當分光單元140移動至第二位置時，第一光源單元110及第三光源單元130都不發出光束，而第二光源單元120發出的第二光束L2發射至檢測樣品50。藉由上述分光單元140和這些光源單元的搭配，本發明的實施例中的光源設備100可以適當地搭配出最佳的檢測光束。

具體來說，請參照圖1、圖4A及圖4B，在本發明的實施例中，第一光源單元110包括多個不同顏色的發光單元112，第一光束L1由部分這些發光單元112所發出的光組成。第二光源單元120為多個第二光源單元120，這些第二光源單元120是紫外光光源、紅外光光源或其組合。第三光源單元130包括多個發光單元132。

圖4A及圖4B是本發明的實施例中面光源的示意圖。請參照圖3A、4A及4B，詳細來說，在本發明的實施例中，第一光源單元110為這些發光單元112所組成的面光源，且第一光源單元110更包括一擴散單元114，其配置於這些發光元件112所發出 的光束的行進路徑上，而這些發光元件112所發出的光至少包括紅色、綠色、藍色及白色可見光，並且這些不同顏色的光通過擴散單元114來混合出第一光束L1。擴散單元114例如是一個光學擴散板，除了可以混合光束以外，也可以使第一光束L1均勻得照射至檢測樣品50，且經過擴散的第一光束L1是往多個角度行進，因此第一光束L1所照射出的影像不容易被其所照射的表面上的結構影響，而經第一光束L1照射並覆蓋的檢測樣品50的表面也可以以更平滑的影像呈現。在本實施例中，第一光源單元110更包括接點115(請參照圖4B)來電性連接至其他元件，其他元件可以藉由連接到接點115來控制第一光源單元110。

圖5A及圖5B是本發明的實施例中線光源的示意圖。請參照圖3A、5A及5B，詳細來說，在本發明的實施例中，第三光源單元130為這些發光單元132所組成的線光源，且第三光源單元130更包括一透鏡136以及一擴散單元134，其都配置於這些發光元件132所發出的光束的行進路徑上，而這些發光元件132所發出的光至少包括紅色、綠色及藍色可見光，並且這些不同顏色的光先通過透鏡136聚焦再通過擴散單元134來混合出第三光束L3。由於第三發光單元130是一種線光源，因此第三光束L3可以以一特定的入射角照射至檢測樣品50，再搭配上述均勻照射並覆蓋檢測樣品50的表面的第一光束L1，第三光束L3可以在表面上特定的瑕疵或結構呈現陰影，因此可以對檢測樣品50作良好的檢測。在本實施例中，第三光源單元130更包括接點135(請參照圖 5B)來電性連接至其他元件，其他元件可以藉由連接到接點135來控制第三光源單元130。

請參照圖3B、5A及5B，詳細來說，在本發明的實施例中，這些第二光源單元120組成線光源，其配置類似於第三光源單元130，因此下述關於透鏡及擴散單元的配置位置可以直接對應到上述關於第三光源單元130的內容。在本實施例中，第二光源單元120更包括一透鏡以及一擴散單元，其都配置於這些第二光源單元120所發出的光束的行進路徑上，而這些第二光源單元120所發出的光先通過透鏡聚焦再通過擴散單元來混合出第二光束L2。由於第二發光單元120是一種線光源，因此第二光束L2可以以一特定的入射角照射至檢測樣品50，且具有特定波長的第二光束L2可以對檢測樣品50中的特定一層作良好的檢測。

具體來說，請參照圖3B、5A及5B，在本發明的實施例中第二光束L2例如為紫外光，其對於檢測樣品50的穿透率比較低，因此適合對檢測樣品的最外層作檢測。更具體來說，在本實施例中檢測樣品50例如是印刷電路板，而紫外光適於對印刷電路板最外層的防焊層作檢測，但不限於此。在其他實施例中，第二光源單元120例如是紅外光光源，其所發出的紅外光適於穿透檢測樣品50，因此例如在對印刷電路板作檢測時，第二光源單元120所發出的紅外光適於穿透防焊層來檢測其中的金屬導電層。在另一實施例中，第二光源單元120更可以同時具有紅外光光源及紫外光光源，其可以根據所需檢測的目的來調整欲發出的光束種 類。在本實施例中，第二光源單元120更包括接點來電性連接至其他元件，其他元件可以藉由連接到接點來控制第二光源單元120。

請參照圖3A及圖3B，在本發明的實施例中，檢測樣品50更可以放置於一載台60上，載台60沿著方向d1移動。因此，當上述的第二光束L2照射檢測樣品50時，載台60的移動可以使檢測模組150所偵測的第二樣品光束S2組成整個檢測樣品50的上表面的檢測圖。另一方面，在本實施例中，第二光束L2例如是以約23度的入射角入射至檢測樣品上，第三光束L3例如是以約55度的入射角入射至檢驗樣品上。

請參照圖1、圖2A、圖2B及圖3A，進一步來說，在本發明的實施例中，第一光源單元110固定於一第一軌道組(未繪示)，第一軌道組適於調整第一光束L1入射至檢測樣品50的方向。第二光源單元120固定於一第二軌道組128，第二軌道組128適於調整第二光束L2入射至檢測樣品50的入射角，第三光源單元130固定於一第三軌道組138，第三軌道組138適於調整第三光束L3入射至檢測樣品50的入射角。具體來說，第二光束L2及第三光束L3各自以不同的入射角入射至檢測樣品50，但不限於此。在本實施例中，這些軌道組可以依據不同的檢測樣品50來作調整，因此可以對不同的檢測樣品提供良好的檢測光束。

詳細來說，請參照圖2B及圖3A，在本發明的實施例中，分光單元140使來自檢測樣品50的至少部分第一樣品光束S1行 進至檢測模組150。也就是說，在本實施例中，分光單元140在第一位置時，可以反射部分第一光束L1至檢測樣品50，同時也可以使來自檢測樣品50的第一樣品光束S1部分穿透。分光單元140在第二位置時，可以離開第二光束L2的行進路徑，讓第二光束L2照射到檢測樣品50，同時也讓第二樣品光束S2行進至檢測模組150。

在本發明的實施例中，上述的分光單元140例如可以藉由手動的方式來在第一位置及第二位至之間移動，但本發明不限於此。請參照圖2B及圖2C，在本發明的實施例中，光源設備100更包括一傳動單元160，其具有一端161連接分光單元140，且傳動單元160適於帶動分光單元140至第一位置及第二位置。更具體來說，在本發明的實施例中，光源設備100更包括一致動單元170以及一控制單元180(請一併參照圖3A及圖3B)。致動單元170連接傳動單元160的另外一端163。控制單元180電性連接致動單元170、第一光源單元110及第二光源單元120。控制單元180控制致動單元170來透過傳動單元160移動分光單元140的位置及第一光源單元110和第二光源單元120的開關。進一步來說，在本實施例中，控制單元180更可以電性連接第三光源單元130，且控制單元180可以控制第三光源單元130的開關。

詳細來說，請參照圖2B及圖2C，在本發明的實施例中，致動單元170藉由推動或拉動傳動單元160的另外一端163來移動分光單元140，且致動單元170推動或拉動傳動單元160時，傳 動單元160以一支點162為轉動中心而轉動。也就是說，傳動單元160例如是由支點162固定，而藉由致動單元170的推動或拉動來使傳動單元160以例如是槓桿的方式移動分光單元140。進一步來說，在本實施例中，分光單元140連接於一分光軌道組(未繪示)，分光軌道組使分光單元140沿著一路徑在第一位置及第二位至之間移動。也就是致動單元170推動或拉動傳動單元160來使分光單元140沿著分光軌道組移動。具體來說，在本實施例中，致動單元170例如是一氣壓缸或一氣動式元件，其藉由氣體的充入或排出來推動其他元件。

請參照圖1，在本發明的實施例中，上述的檢測模組150包括一檢測鏡頭以及一感光元件(未繪示)。被檢測樣品50反射後的部分第一樣品光束S1及部分第二樣品光束S2穿透檢測鏡頭後到達感光元件。也就是說，在本實施例中，檢測模組150例如是包括有檢測鏡頭的感光耦合元件(Charger-Coupled Device,CCD)，但不限於此。

另一方面，請參照圖1至圖2E，在本發明的實施例中，第二發光單元120及第三發光單元130各更包括散熱塊121、131及散熱風扇123、133，藉以使第一發光單元120及第三發光單元130可以具有更良好的發光效能。

綜上所述，本發明的實施例所提供的光源設備藉由第一光源單元、第二光源單元以及可以移動到多個位置的分光單元，可以對檢測樣品提供不同檢測模式，例如是具有不同波長、不同 入射角度的檢測光束。藉由這種分光單元的設計，光源設備所提供的光束可以具有更高自由度，其中例如是檢測光束的波長和入射角度都可以視樣品及需求而挑整，並針對檢測樣品的各種缺陷提供適當的光束來做檢測。同時，因為可以提供多種波長的光束及不同角度的入射方式，本發明的實施例所提供的光源設備適用於各種不同的檢測樣品，不需特別不同的檢測樣品重新製作檢測治具。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧光源設備

110‧‧‧第一光源單元

120‧‧‧第二光源單元

121‧‧‧散熱塊

123‧‧‧散熱風扇

128‧‧‧第二軌道組

130‧‧‧第三光源單元

131‧‧‧散射塊

133‧‧‧散熱風扇

138‧‧‧第三軌道組

140‧‧‧分光單元

150‧‧‧檢測模組

160‧‧‧傳動單元

170‧‧‧致動單元

Claims (22)

1. 一種光源設備，包括：一第一光源單元；一第二光源單元；一分光單元，適於移動至一第一位置及一第二位置；以及一檢測模組，其中當該分光單元移動至該第一位置時，該第一光源單元發出一第一光束，該分光單元使至少部分該第一光束行進至一檢測樣品，該檢測樣品將該至少部分第一光束反射成一行進至該檢測模組的第一樣品光束，且當該分光單元移動至該第二位置時，該第二光源單元發出一第二光束，該第二光束發射至該檢測樣品，該檢測樣品將該第二光束反射成一第二樣品光束，該第二樣品光束行進至該檢測模組，來自該第一光源單元的該至少部分第一光束是被該分光單元反射至該檢測樣品，且來自該檢測樣品的至少部分該第一樣品光束穿透該分光單元而行進至該檢測模組。
2. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中當該分光單元移動至該第二位置時，該第二光束通過該分光單元旁行進至該檢測樣品，且該第二樣品光束通過該分光單元旁行進至該檢測模組。
3. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該分光單元使來自該檢測樣品的至少部分該第一樣品光束行進至該檢測模組。
4. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該第一光源單元包括多個不同顏色的發光單元，該第一光束由部分該些發光單元所發出的光組成。
5. 如申請專利範圍第4項所述的光源設備，其中該第一光源單元更包括一擴散單元，其配置於該些發光元件所發出的光的路徑上。
6. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該第一光源單元固定於一第一軌道組，該第一軌道組適於調整該第一光束入射至該檢測樣品的方向，該第二光源單元固定於一第二軌道組，該第二軌道組適於調整該第二光束入射至該檢測樣品的入射角。
7. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，更包括：一第三光源單元，其中當該分光單元移動至該第一位置時，該第三光源單元發出一第三光束，該第三光束通過該分光單元旁行進至該檢測樣品，且該檢測樣品將該第三光束反射成一行進至該檢測模組的第三樣品光束。
8. 如申請專利範圍第7項所述的光源設備，其中該分光單元移動至該第一位置時，該第二光源單元不發出光束，且當該分光單元移動至該第二位置時，該第一光源單元及該第三光源單元不發出光束。
9. 如申請專利範圍第7項所述的光源設備，其中該第三光源單元固定於一第三軌道組，該第三軌道組適於調整該第三光束入射至該檢測樣品的入射角。
10. 如申請專利範圍第7項所述的光源設備，其中該第三光源單元更包括一擴散單元以及一透鏡，該擴散單元及該透鏡各自配置於該第三光束的行進路徑上，且該第三光源單元為線光源。
11. 如申請專利範圍第7項所述的光源設備，其中該第二光束及該第三光束以不同的入射角入射該檢測樣品。
12. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該第一光源單元為面光源，該第二光源單元為線光源。
13. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該第二光源單元為多個第二光源單元，該些第二光源單元是紫外光光源、紅外光光源或其組合。
14. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該檢測樣品為一印刷電路板。
15. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該檢測模組包括：一檢測鏡頭；以及一感光元件，其中被該檢測樣品反射後的該些第一光束及該至少一第二光束穿透該檢測鏡頭後到達該感光元件。
16. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該第二光源單元包括一擴散單元，配置於該第二光束的行進路徑上。
17. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，更包括：一傳動單元，具有一端連接該分光單元，且該傳動單元適於帶動該分光單元至該第一位置及該第二位置。
18. 如申請專利範圍第17項所述的光源設備，更包括：一致動單元，連接該傳動單元的另外一端；以及一控制單元，電性連接該致動單元、該第一光源單元及該第二光源單元，該控制單元控制該致動單元來透過該傳動單元移動該分光單元的位置及該第一光源單元和該第二光源單元的開關。
19. 如申請專利範圍第18項所述的光源設備，其中該致動單元藉由推動或拉動該傳動單元的該另外一端來移動該分光單元。
20. 如申請專利範圍第19項所述的光源設備，其中該致動單元推動或拉動該傳動單元時，該傳動單元以一支點為轉動中心而轉動。
21. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中該分光單元連接於一分光軌道組，該分光軌道組使該分光單元沿著一路徑在該第一位置及該第二位置之間移動。
22. 如申請專利範圍第1項所述的光源設備，其中當該分光單元移動至該第一位置時，該第二光源單元不發出光束，且當該分光單元移動至該第二位置時，該第一光源單元不發出光束。