JP5584671B2 - 基板検査方法 - Google Patents
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Description
110 投影部
112 光源
114 格子素子
120 照明部
130 カメラ
140 ステージ
150 基板
152 測定対象物
Claims (13)
- 複数の投影部を通して測定対象物が形成された基板にパターン照明を順に照射して前記基板に対する投影部別位相データを取得し、
前記投影部別位相データを用いて前記基板に対する投影部別高さデータを抽出し、
各投影部別に前記投影部別高さデータを用いて底領域に形成された配線パターン、シルクパターン及びフォトレジストのうち少なくとも一つのノイズデータに起因する前記抽出された高さデータの傾きを補正し、
前記傾き補正が完了した投影部別高さデータを整列させ、
前記整列された高さデータを用いて統合高さデータを抽出すること、
を含むことを特徴とする基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを整列させることは、
前記複数の投影部のうち、信頼度の最も良い投影部の高さデータを基準として残りの投影部の高さデータを整列させることを含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記投影部の信頼度は
高さ、信号対雑音比(SNR)、振幅、平均明るさを媒介変数とする関数であるビジビリティ及びグレー情報のうち、少なくとも一つによって評価することを特徴とする請求項2に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを整列させることにおいては、
前記基板の前記底領域を基準として整列させることを含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを整列させることにおいては、
前記測定対象物が形成された基板の全体領域を基準として整列させることを含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを整列させることにおいては、
前記基板の全体領域のうち信頼度の良い選択領域を基準として整列させることを含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを整列させることは、
前記整列が完了した投影部別高さデータから前記底領域での代表底高さを抽出し、
前記代表底高さが0になるように前記整列が完了した投影部別高さデータを再整列させること、を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを抽出する前に、
前記基板の前記底領域を設定し、
前記投影部各々に対して前記底領域での頻度数が最も高い位相データを代表底位相に設定し、
前記投影部各々に対して前記代表底位相が0になるように前記投影部別位相データをシフトさせること、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 複数の投影部を通して測定対象物が形成された基板にパターン照明を順に照射し、カメラを通して投影部別反射イメージを撮影し、
前記投影部別反射イメージを用いてそれぞれの投影部に対するノイズ領域を設定し、
前記投影部別反射イメージを用いて前記基板に対する投影部別位相データを取得し、
前記投影部別位相データを用いて前記基板に対する投影部別高さデータを算出し、
前記投影部別高さデータを統合して統合高さデータを算出し、
前記測定対象物と隣接する底領域の傾きに基づいて前記統合高さデータの傾きを補正し、前記傾き補正が完了した統合高さデータを用いて前記測定対象物の高さを算出すること、を含み、
前記統合高さデータを算出することにおいては、
前記基板上で前記測定対象物が形成された測定対象領域に含まれた単位画素に対応して、前記投影部別高さデータから前記ノイズ領域を除いた残り有効画素の高さデータに基づいて前記統合高さデータを算出することを含むことを特徴とする基板検査方法。 - 前記ノイズ領域を設定することは、
前記投影部別反射イメージに対するグレー(gray)情報及びビジビリティ情報のうち少なくとも一つを用いてノイズ領域を設定することを特徴とする請求項9に記載の基板検査方法。 - 前記統合高さデータを算出することは、
前記底領域に含まれた単位画素に対応して、前記投影部別高さデータのうち最小値を前記統合高さデータに算出することを含むことを特徴とする請求項9に記載の基板検査方法。 - 前記統合高さデータを算出することは、
前記底領域に含まれた単位画素に対応して、前記投影部別高さデータの差が予め設定された基準値以上であれば前記投影部別高さデータのうち最小値を前記統合高さデータに算出し、前記投影部別高さデータの差が前記基準値未満であれば算出平均によって前記統合高さデータを算出することを特徴とする請求項9に記載の基板検査方法。 - 投影部を通して測定対象物が形成された基板にパターン照明を照射して前記基板に対する位相データを取得し、
前記位相データを用いて前記基板に対する高さデータを抽出し、
前記基板上において前記測定対象物が形成された測定対象領域と、前記測定対象領域に対する底領域とを分離し、
前記底領域に対応する高さデータを用いて前記底領域に形成された配線パターン、シルクパターン及びフォトレジストのうち少なくとも一つのノイズデータに起因する前記抽出された高さデータの傾きを補正し、
前記傾き補正が完了した高さデータに基づいて前記基板に対する高さを抽出すること、
を含むことを特徴とする基板検査方法。
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