JP5123522B2 - 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 - Google Patents
3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5123522B2 JP5123522B2 JP2006347968A JP2006347968A JP5123522B2 JP 5123522 B2 JP5123522 B2 JP 5123522B2 JP 2006347968 A JP2006347968 A JP 2006347968A JP 2006347968 A JP2006347968 A JP 2006347968A JP 5123522 B2 JP5123522 B2 JP 5123522B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- fringe pattern
- phase
- brightness
- dimensional shape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
前記縞パターンが投影された前記計測対象物を投影方向と異なる方向から撮像する過程を
、前記縞パターンの位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップ
と、前記撮像画像取得ステップにより得られた複数枚の撮像画像における同一点での実測
明度の明度変化に基づいて、前記縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算する
演算ステップと、を備え、前記演算ステップにより求まった位相値から各点での前記計測
対象物の高さ情報を求め、3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、前記演算
ステップにより求まった前記各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用いて位相毎
の推定明度を計算し、前記実測明度と前記推定明度との差の平方値、又は差の絶対値を、
前記撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演算するステ
ップを備え、前記ステップにより得られた信頼性パラメータが予め設定された所定値より
も小さい点のみのデータを用いて、3次元形状を計測する3次元形状計測方法を繰り返し
、前記信頼性パラメータが最小値となる点のみのデータを用いて3次元形状を計測し、前
記撮像画像取得を複数回繰り返し行うに際して、これら複数回の計測毎に、投影する縞パ
ターンの位相値の初期値を一定量変化させることを特徴とする。
前記縞パターンが投影された前記計測対象物を投影方向と異なる方向から撮像する過程を
、前記縞パターンの位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップ
と、前記撮像画像取得ステップにより得られた複数枚の撮像画像における同一点での実測
明度の明度変化に基づいて、前記縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算する
演算ステップと、を備え、前記演算ステップにより求まった位相値から各点での前記計測
対象物の高さ情報を求め、3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、前記演算
ステップにより求まった前記各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用いて位相毎
の推定明度を計算し、前記実測明度と前記推定明度との差の平方値、又は差の絶対値を、
前記撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演算するステ
ップを備え、前記ステップにより得られた信頼性パラメータが予め設定された所定値より
も小さい点のみのデータを用いて、3次元形状を計測する3次元形状計測方法を繰り返し
、前記信頼性パラメータが最小値となる点のみのデータを用いて3次元形状を計測し、前
記撮像画像取得を複数回繰り返し行うに際して、これら複数回の計測毎に、縞パターンの
振幅値を定めた値だけ変化させることを特徴とするものである。
前記縞パターンが投影された前記計測対象物を投影方向と異なる方向から撮像する過程を
、前記縞パターンの位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップ
と、前記撮像画像取得ステップにより得られた複数枚の撮像画像における同一点での実測
明度の明度変化に基づいて、前記縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算する
演算ステップと、を備え、前記演算ステップにより求まった位相値から各点での前記計測
対象物の高さ情報を求め、3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、前記演算
ステップにより求まった前記各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用いて位相毎
の推定明度を計算し、前記実測明度と前記推定明度との差の平方値、又は差の絶対値を、
前記撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演算するステ
ップを備え、前記ステップにより得られた信頼性パラメータが予め設定された所定値より
も小さい点のみのデータを用いて、3次元形状を計測する3次元形状計測方法を繰り返し
、前記信頼性パラメータが最小値となる点のみのデータを用いて3次元形状を計測し、前
記撮像画像取得を複数回繰り返し行うに際して、これら複数回の計測毎に、縞パターンの
投影方向を異なる方向に変化させることを特徴とするものである。
本発明の第1の実施形態に係る3次元形状計測方法について説明する。図1は本実施形態の3次元形状計測方法が適用される3次元形状計測システムを示す。本システム1は、位相シフト法を用いた物体の3次元形状を非接触で計測するためのものであって、計測対象物6に縞パターンを投影する縞パターン投影部2と、縞パターンが投影された計測対象物6を撮像する撮像部3と、縞パターン投影部2及び撮像部3を制御すると共に、縞パターン投影部2及び撮像部3から出力された各種データを基に計測対象物6における3次元形状の計測計算を行う3次元計測処理部4と、計算結果及び撮像画像等を表示する表示部5と、を備える。
モリ43と、演算部44と、信頼性パラメータ演算部45と、を備える。縞パターンデー
タ作成部41は、縞パターン生成部22において縞パターンが生成されるに際し、光の明
度が正弦波状に変化する縞パターンデータを作成する。投影・撮像制御部42は、縞パタ
ーンの位相を一定間隔でシフトさせて、縞パターンを計測対象物6に投影し、縞パターン
が投影された計測対象物6を投影方向と異なる方向から撮像するための制御を行う。メモ
リ43は、縞パターン投影部2で設定されたカメラ分解能、入射角度、縞パターンピッチ
及び位相シフトステップ数や、撮像部3で撮像された撮像画像における各点での明度(実
測明度)等、各部によって出力されるデータの記録を行なう。演算部44は、メモリ43
に記録されたデータから、撮像画像における同一点での実測明度の明度変化に基づき縞パ
ターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算し、求まった位相値から各点での計測対象
物6の高さ情報を求める。その際、信頼性パラメータ判定部は、演算部44により求まっ
た各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用いて推定明度を計算し、実測明度と推
定明度との差の平方値、又は差の絶対値を、撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加
算した信頼性パラメータの演算を行ない、位相値の信頼性の判定を行なう。表示部5は、
上記各部における処理の結果を表示するディスプレイ等である。
本発明の第2の実施形態に係る3次元形状計測方法について説明する。本実施形態の3次元形状計測方法が適用される3次元形状計測システムについては、第1の実施形態と同様である(以下、同様)。図6は本実施形態のフローチャートを示す。本実施形態は、第1の実施形態に係る計測手順を複数回繰り返し、計測を行う度に、撮像画像における各点について、信頼性パラメータS(x,y)が前回の計測処理時よりも小さい場合のみ3次元座標計算を行って計測結果を更新する。このように、異なるタイミングで計測された結果の中から信頼性の高い結果のみを最終結果として残すことにより、ランダムノイズの重畳により発生する計測劣化の影響を軽減する効果がある。
本発明の第3の実施形態に係る3次元形状計測方法について説明する。図8は本実施形態のフローチャートを示す。本実施形態は、第1の実施形態に係る3次元形状計測方法の計測手順を、投影する縞パターンの位相値の初期値を一定量Δφずつずらして繰り返し、計測を行う度に、撮像画像における各点について、信頼性パラメータ S(x,y)が前回の計測処理時よりも小さい場合のみ3次元座標計算を行って計測結果を更新する。このように、異なる初期位相位置で計測された結果の中から信頼性の高い結果のみを最終結果として残すことにより、(式5)の位相値φ(x,y) の計算において、分子、分母のどちらかが0に近づきアークタンジェントの計算が不安定になる場合の影響を軽減させる効果がある。
本発明の第4の実施形態に係る3次元形状計測方法について説明する。図11は本実施形態のフローチャートを示す。本実施形態は、第1の実施形態に係る3次元形状計測方法の計測手順を、投影する縞パターンの振幅値を変化させて繰り返し、計測を行う度に、撮像画像における各点について、信頼性パラメータ S(x,y)が前回の計測処理時よりも小さい場合のみ3次元座標計算を行って計測結果を更新する。このように、異なる振幅値で計測された結果の中から信頼性の高い結果のみを最終結果として残すことにより、明度値が飽和または、暗くつぶれて正しい計測ができない場合の影響を軽減させる効果がある。本実施形態では、縞パターンの振幅値を変化させる方法として、縞パターン投影部2の照明部21の明るさの調節と、縞パターン生成部22での振幅 a(u,v) の調整を組み合わせて行う。
本発明の第5の実施形態に係る3次元形状計測方法について説明する。図12は、本実施形態の3次元形状計測方法が適用される3次元形状計測システムを示す。このシステムにおいて、縞パターンの投影方向が2つの場合の構成例を示し、図13は投影方向を4つにした場合の縞パターン投影部2の平面配置例を示す。このように本システム1は、縞パターン投影部2を複数備え、縞パターンの投影方向を増やすことで、計測対象物6の形状が複雑な場合にも、計測の信頼性を高めることができるように構成されている。
2 縞パターン投影部
3 撮像部
4 3次元計測処理部
5 表示部
6 計測対象物
21 照明部
22 縞パターン生成部
23 投影光学部
31 撮像光学部
32 撮像素子
41 縞パターンデータ作成部
42 投影・撮像制御部
43 メモリ
44 演算部
45 信頼性パラメータ演算部
Claims (4)
- 光の明度が正弦波状に変化する縞パターンを計測対象物に投影し、前記縞パターンが投
影された前記計測対象物を投影方向と異なる方向から撮像する過程を、前記縞パターンの
位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップと、
前記撮像画像取得ステップにより得られた複数枚の撮像画像における同一点での実測明
度の明度変化に基づいて、前記縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算する演
算ステップと、を備え、
前記演算ステップにより求まった位相値から各点での前記計測対象物の高さ情報を求め
、3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、
前記演算ステップにより求まった前記各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用
いて位相毎の推定明度を計算し、前記実測明度と前記推定明度との差の平方値、又は差の
絶対値を、前記撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演
算するステップを備え、
前記ステップにより得られた信頼性パラメータが予め設定された所定値よりも小さい点
のみのデータを用いて、3次元形状を計測する3次元形状計測方法を繰り返し、前記信頼
性パラメータが最小値となる点のみのデータを用いて3次元形状を計測し、
前記撮像画像取得を複数回繰り返し行うに際して、これら複数回の計測毎に、投影する
縞パターンの位相値の初期値を一定量変化させることを特徴とする3次元形状計測方法。 - 光の明度が正弦波状に変化する縞パターンを計測対象物に投影し、前記縞パターンが投
影された前記計測対象物を投影方向と異なる方向から撮像する過程を、前記縞パターンの
位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップと、
前記撮像画像取得ステップにより得られた複数枚の撮像画像における同一点での実測明
度の明度変化に基づいて、前記縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算する演
算ステップと、を備え、
前記演算ステップにより求まった位相値から各点での前記計測対象物の高さ情報を求め
、3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、
前記演算ステップにより求まった前記各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用
いて位相毎の推定明度を計算し、前記実測明度と前記推定明度との差の平方値、又は差の
絶対値を、前記撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演
算するステップを備え、
前記ステップにより得られた信頼性パラメータが予め設定された所定値よりも小さい点
のみのデータを用いて、3次元形状を計測する3次元形状計測方法を繰り返し、前記信頼
性パラメータが最小値となる点のみのデータを用いて3次元形状を計測し、
前記撮像画像取得を複数回繰り返し行うに際して、これら複数回の計測毎に、縞パター
ンの振幅値を定めた値だけ変化させることを特徴とする、3次元形状計測方法。 - 光の明度が正弦波状に変化する縞パターンを計測対象物に投影し、前記縞パターンが投
影された前記計測対象物を投影方向と異なる方向から撮像する過程を、前記縞パターンの
位相を一定間隔でシフトさせて複数回実行する撮像画像取得ステップと、
前記撮像画像取得ステップにより得られた複数枚の撮像画像における同一点での実測明
度の明度変化に基づいて、前記縞パターンの位相値、バイアス値及び振幅値を演算する演
算ステップと、を備え、
前記演算ステップにより求まった位相値から各点での前記計測対象物の高さ情報を求め
、3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、
前記演算ステップにより求まった前記各点における位相値、バイアス値及び振幅値を用
いて位相毎の推定明度を計算し、前記実測明度と前記推定明度との差の平方値、又は差の
絶対値を、前記撮像画像取得ステップを実行した回数だけ加算した信頼性パラメータを演
算するステップを備え、
前記ステップにより得られた信頼性パラメータが予め設定された所定値よりも小さい点
のみのデータを用いて、3次元形状を計測する3次元形状計測方法を繰り返し、前記信頼
性パラメータが最小値となる点のみのデータを用いて3次元形状を計測し、
前記撮像画像取得を複数回繰り返し行うに際して、これら複数回の計測毎に、縞パター
ンの投影方向を異なる方向に変化させることを特徴とする、3次元形状計測方法。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の3次元形状計測方法を用いて3次元形状
を計測することを特徴とする3次元形状計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006347968A JP5123522B2 (ja) | 2006-12-25 | 2006-12-25 | 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006347968A JP5123522B2 (ja) | 2006-12-25 | 2006-12-25 | 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008157797A JP2008157797A (ja) | 2008-07-10 |
JP5123522B2 true JP5123522B2 (ja) | 2013-01-23 |
Family
ID=39658860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006347968A Expired - Fee Related JP5123522B2 (ja) | 2006-12-25 | 2006-12-25 | 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5123522B2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101190122B1 (ko) * | 2008-10-13 | 2012-10-11 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중파장을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
JP4629136B2 (ja) * | 2008-10-15 | 2011-02-09 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置および測距方法並びにプログラム |
DE102008054985B4 (de) | 2008-12-19 | 2012-02-02 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Objekten mittels einer dentalen 3D-Kamera unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens |
DE102010064593A1 (de) * | 2009-05-21 | 2015-07-30 | Koh Young Technology Inc. | Formmessgerät und -verfahren |
US8855403B2 (en) * | 2010-04-16 | 2014-10-07 | Koh Young Technology Inc. | Method of discriminating between an object region and a ground region and method of measuring three dimensional shape by using the same |
KR101547218B1 (ko) | 2010-11-19 | 2015-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판 검사방법 |
US8755043B2 (en) | 2010-11-19 | 2014-06-17 | Koh Young Technology Inc. | Method of inspecting a substrate |
KR101311215B1 (ko) * | 2010-11-19 | 2013-09-25 | 경북대학교 산학협력단 | 기판 검사방법 |
JP5881235B2 (ja) * | 2011-08-05 | 2016-03-09 | Jukiオートメーションシステムズ株式会社 | 3次元測定装置、3次元測定方法及びプログラム |
JP5709009B2 (ja) * | 2011-11-17 | 2015-04-30 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
JP6104662B2 (ja) * | 2013-03-25 | 2017-03-29 | 株式会社東芝 | 計測装置、方法及びプログラム |
JP6256249B2 (ja) * | 2014-08-08 | 2018-01-10 | オムロン株式会社 | 計測装置、基板検査装置、及びその制御方法 |
JP6998156B2 (ja) * | 2017-09-04 | 2022-01-18 | 株式会社ミツトヨ | 画像処理装置、及びプログラム |
WO2019177066A1 (ja) | 2018-03-16 | 2019-09-19 | 日本電気株式会社 | 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法、プログラム及び記録媒体 |
US11107268B2 (en) * | 2018-09-07 | 2021-08-31 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for efficient data processing of initial correspondence assignments for three-dimensional reconstruction of an object |
CN113029039B (zh) * | 2021-01-27 | 2022-04-12 | 四川大学 | 一种基于彩色编码的三维测量绝对相位矫正方法 |
JP2024117880A (ja) * | 2023-02-20 | 2024-08-30 | Juki株式会社 | 3次元計測装置及び3次元計測方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6347609A (ja) * | 1986-08-14 | 1988-02-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 形状検査装置 |
EP1482273A4 (en) * | 2002-03-07 | 2008-02-27 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | TWO-DIMENSIONAL PHOTO-RECEPTION SYNCHRONIZATION DETECTOR OF POLARIZATION ANGLE DETECTING TYPE, AND SURFACE-SHAPING MEASURING DEVICE USING THE SAME |
JP4077754B2 (ja) * | 2003-04-04 | 2008-04-23 | オリンパス株式会社 | 3次元形状測定装置 |
JP2004325232A (ja) * | 2003-04-24 | 2004-11-18 | Fujitsu Ltd | 表面形状測定装置及び方法 |
JP4347614B2 (ja) * | 2003-06-10 | 2009-10-21 | Jfeテクノリサーチ株式会社 | 3次元曲面形状の測定装置及び測定方法 |
JP2006023178A (ja) * | 2004-07-07 | 2006-01-26 | Olympus Corp | 3次元計測方法及び装置 |
-
2006
- 2006-12-25 JP JP2006347968A patent/JP5123522B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008157797A (ja) | 2008-07-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5123522B2 (ja) | 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 | |
JP7374518B2 (ja) | 物体回折格子イメージの位相シフト法による位相測定の像点源追跡を用いた誤差校正方法 | |
JP5576726B2 (ja) | 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム | |
JP5016520B2 (ja) | 3次元形状計測方法および装置 | |
JP4830871B2 (ja) | 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法 | |
CN104697469B (zh) | 利用谐波幅值判定饱和的高动态三维测量方法 | |
WO2018163530A1 (ja) | 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法、及びプログラム | |
KR101445831B1 (ko) | 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법 | |
CN108362226B (zh) | 提高图像过曝区域相位测量精度的双四步相移法 | |
US11300402B2 (en) | Deriving topology information of a scene | |
JP4516949B2 (ja) | 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法 | |
JP2008309551A (ja) | 形状測定方法、記憶媒体、および形状測定装置 | |
JP2007322162A (ja) | 3次元形状測定装置及び3次元形状測定方法 | |
JP2017075887A (ja) | 振動検出装置、検査装置、振動検出方法、及び振動検出プログラム | |
JP2009180689A (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JP2008145139A (ja) | 形状計測装置 | |
JP4797109B2 (ja) | 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法 | |
JP4962852B2 (ja) | 形状測定方法および形状測定装置 | |
JP2012068176A (ja) | 三次元形状計測装置 | |
JP2015102532A (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JP6567199B2 (ja) | 距離計測装置、距離計測方法、及び距離計測プログラム | |
CN112747686B (zh) | 三维形貌测量装置 | |
JP2008170282A (ja) | 形状測定装置 | |
JP5968370B2 (ja) | 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム | |
JP2010032448A (ja) | 3次元形状測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091224 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110927 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111107 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20120111 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120329 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120710 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120806 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121023 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121026 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151102 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5123522 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |