JP6104662B2 - 計測装置、方法及びプログラム - Google Patents
計測装置、方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6104662B2 JP6104662B2 JP2013062977A JP2013062977A JP6104662B2 JP 6104662 B2 JP6104662 B2 JP 6104662B2 JP 2013062977 A JP2013062977 A JP 2013062977A JP 2013062977 A JP2013062977 A JP 2013062977A JP 6104662 B2 JP6104662 B2 JP 6104662B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- image
- phase value
- projection
- calculated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2509—Color coding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
図1は、第1実施形態の計測装置1の一例を示す構成図である。図1に示すように、計測装置1は、記憶部11と、選択部13と、投影部15と、撮影部17と、第1算出部19と、第3算出部21と、第2算出部23と、出力部25とを、備える。
第2実施形態では、信頼度の他の算出例について説明する。以下では、第1実施形態との相違点の説明を主に行い、第1実施形態と同様の機能を有する構成要素については、第1実施形態と同様の名称・符号を付し、その説明を省略する。
第3実施形態では、信頼度を用いて投影に使用する波長を選択する例について説明する。以下では、第2実施形態との相違点の説明を主に行い、第2実施形態と同様の機能を有する構成要素については、第1実施形態と同様の名称・符号を付し、その説明を省略する。
上記第3実施形態では、信頼度を用いて投影に使用する波長を選択する例について説明したが、計測装置201の位置に適した波長を選択し、投影に用いるようにしてもよい。この場合、計測装置201の位置情報は、例えば、GPS(Global Positioning System)などから取得すればよい。このようにすれば、計測装置201が存在する位置(例えば、屋内と屋外)に適した波長の光で第1重畳パタンを投影することができる。
図11は、上記各実施形態及び変形例の計測装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図11に示すように、上記各実施形態及び変形例の計測装置は、CPUなどの制御装置91と、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)などの記憶装置92と、HDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)などの外部記憶装置93と、ディスプレイなどの表示装置94と、マウスやキーボードなどの入力装置95と、通信I/F96と、プロジェクタなどの投影装置97と、カラーカメラなどの撮像装置98とを、備えており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成で実現できる。
11 記憶部
13、213 選択部
15 投影部
17 撮影部
19 第1算出部
21、121 第3算出部
23、123 第2算出部
25 出力部
91 制御装置
92 記憶装置
93 外部記憶装置
94 表示装置
95 入力装置
96 通信I/F
97 投影装置
98 撮像装置
Claims (12)
- 周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された重畳パタンが投影されている対象を撮影した画像内の前記第1模様と投影に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する第1算出部と、
前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する第2算出部と、
を備える計測装置。 - 前記重畳パタンを前記対象に投影する投影部と、
前記重畳パタンが投影されている前記対象を撮影し、前記画像を得る撮影部と、
を更に備える請求項1に記載の計測装置。 - 前記第1算出部は、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応として、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応点を算出し、
前記第2位相値の信頼度を算出する第3算出部を更に備え、
前記第2算出部は、前記信頼度が閾値よりも大きい第2位相値を用いて算出された対応点を用いて、前記対象の3次元形状を計測する請求項1又は2に記載の計測装置。 - 前記第1パタンは、複数あり、
前記複数の第1パタンの各々は、位相が互いにずれており、
前記第1模様は、前記複数の第1パタンそれぞれの周期を特定するための模様である請求項3に記載の計測装置。 - 前記投影部は、前記重畳パタンとして重畳された前記複数の第1パタンそれぞれを異なる波長で投影し、
前記第3算出部は、前記画像を前記波長それぞれで分離した分離画像毎に、当該分離画像の輝度値と当該分離画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差を算出し、前記分離画像それぞれ対し算出した前記差に基づいて、前記信頼度を算出する請求項4に記載の計測装置。 - 前記投影部は、前記重畳パタンとして重畳された前記複数の第1パタンそれぞれを異なる波長で投影し、
前記第3算出部は、前記画像を前記波長それぞれで分離した分離画像毎に、当該分離画像の輝度値と当該分離画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差に基づいて前記信頼度を算出する請求項4に記載の計測装置。 - 前記信頼度が閾値よりも大きい波長を選択する選択部を更に備え、
前記投影部は、前記重畳パタンを前記波長の光で投影する請求項6に記載の計測装置。 - 前記計測装置の位置に適した波長を選択する選択部を更に備え、
前記投影部は、前記重畳パタンを前記波長の光で投影する請求項1に記載の計測装置。 - 前記第1パタンは、正弦波のパタンである請求項1に記載の計測装置。
- 前記第1模様は、幾何学模様である請求項1に記載の計測装置。
- 周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された重畳パタンが投影されている対象を撮影した画像内の前記第1模様と投影に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する第1算出ステップと、
前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する計測ステップと、
を含む計測方法。 - 周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された重畳パタンが投影されている対象を撮影した画像内の前記第1模様と投影に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する第1算出ステップと、
前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する計測ステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013062977A JP6104662B2 (ja) | 2013-03-25 | 2013-03-25 | 計測装置、方法及びプログラム |
US14/200,286 US9513114B2 (en) | 2013-03-25 | 2014-03-07 | Measuring device, measuring method, and computer program product |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013062977A JP6104662B2 (ja) | 2013-03-25 | 2013-03-25 | 計測装置、方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014186010A JP2014186010A (ja) | 2014-10-02 |
JP6104662B2 true JP6104662B2 (ja) | 2017-03-29 |
Family
ID=51568931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013062977A Expired - Fee Related JP6104662B2 (ja) | 2013-03-25 | 2013-03-25 | 計測装置、方法及びプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9513114B2 (ja) |
JP (1) | JP6104662B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6320051B2 (ja) * | 2014-01-17 | 2018-05-09 | キヤノン株式会社 | 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法 |
JP6524680B2 (ja) * | 2015-02-03 | 2019-06-05 | 株式会社リコー | 撮像システム、距離情報の取得方法及び距離情報の生産方法 |
JP6548422B2 (ja) * | 2015-03-27 | 2019-07-24 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム |
CN107407559B (zh) * | 2015-03-30 | 2019-10-18 | 富士胶片株式会社 | 距离图像获取装置以及距离图像获取方法 |
KR102482062B1 (ko) * | 2016-02-05 | 2022-12-28 | 주식회사바텍 | 컬러 패턴을 이용한 치과용 3차원 스캐너 |
JP7236680B2 (ja) * | 2018-02-09 | 2023-03-10 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 投影システム |
JP7498651B2 (ja) | 2020-02-21 | 2024-06-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 三次元計測装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4175862A (en) * | 1975-08-27 | 1979-11-27 | Solid Photography Inc. | Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object |
US4511252A (en) * | 1975-08-27 | 1985-04-16 | Robotic Vision Systems, Inc. | Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object |
US5613013A (en) * | 1994-05-13 | 1997-03-18 | Reticula Corporation | Glass patterns in image alignment and analysis |
GB2338858B (en) * | 1997-04-04 | 2000-12-27 | Isis Innovation | Microscopy imaging apparatus and method |
JP3690212B2 (ja) * | 1999-10-26 | 2005-08-31 | 松下電工株式会社 | 3次元形状計測方法 |
FR2817042B1 (fr) * | 2000-11-22 | 2003-06-20 | Saint Gobain | Procede et dispositif d'analyse de la surface d'un substrat |
JP3519698B2 (ja) * | 2001-04-20 | 2004-04-19 | 照明 與語 | 3次元形状測定方法 |
TW580556B (en) * | 2002-11-22 | 2004-03-21 | Ind Tech Res Inst | Method and system for measuring the three-dimensional appearance of an object surface |
US7711182B2 (en) | 2006-08-01 | 2010-05-04 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Method and system for sensing 3D shapes of objects with specular and hybrid specular-diffuse surfaces |
JP4905013B2 (ja) * | 2006-09-19 | 2012-03-28 | 株式会社デンソー | 外観検査装置、外観検査方法及び高さ測定方法並びに回路基板製造方法 |
JP5123522B2 (ja) * | 2006-12-25 | 2013-01-23 | パナソニック株式会社 | 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 |
JP5088018B2 (ja) * | 2007-06-28 | 2012-12-05 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像処理装置及び制御プログラム |
DE102007054907A1 (de) * | 2007-11-15 | 2009-05-28 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren zur optischen Vermessung von Objekten unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens |
JP5545932B2 (ja) * | 2009-06-08 | 2014-07-09 | 株式会社マクシス・シントー | 三次元形状計測装置 |
JP5567922B2 (ja) * | 2010-07-21 | 2014-08-06 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及びその制御方法 |
US8780359B2 (en) * | 2012-04-30 | 2014-07-15 | Apple Inc. | Optical base plate alignment |
-
2013
- 2013-03-25 JP JP2013062977A patent/JP6104662B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-03-07 US US14/200,286 patent/US9513114B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014186010A (ja) | 2014-10-02 |
US9513114B2 (en) | 2016-12-06 |
US20140285816A1 (en) | 2014-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6104662B2 (ja) | 計測装置、方法及びプログラム | |
US10430962B2 (en) | Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, and storage medium that calculate a three-dimensional shape of an object by capturing images of the object from a plurality of directions | |
EP3594617B1 (en) | Three-dimensional-shape measurement device, three-dimensional-shape measurement method, and program | |
JP2015184056A (ja) | 計測装置、方法及びプログラム | |
JP2009264862A (ja) | 3次元形状計測方法および装置 | |
US10105906B2 (en) | Structured light generating device and measuring system and method | |
US10672116B2 (en) | Substrate inspection method and system | |
EP3394830B1 (en) | Data processing apparatus and method of controlling same | |
KR20190104367A (ko) | 3차원 형상 계측 장치, 3차원 형상 계측 방법 및 프로그램 | |
JP2008185370A (ja) | 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法 | |
US11803982B2 (en) | Image processing device and three-dimensional measuring system | |
JP2014115108A (ja) | 距離計測装置 | |
US20220155056A1 (en) | Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium | |
JP6088864B2 (ja) | キャリブレーションシステム、およびキャリブレーション方法 | |
JP6214867B2 (ja) | 計測装置、方法及びプログラム | |
JP6425406B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム | |
JP2011133327A (ja) | 3次元形状計測方法および3次元形状計測装置 | |
JP2017138199A (ja) | 画像処理装置、撮像装置、および画像処理方法 | |
JP5740370B2 (ja) | 領域特定装置、方法、及びプログラム | |
JP6713622B2 (ja) | 3次元計測装置、3次元計測システム、3次元計測方法及びプログラム | |
KR20190103271A (ko) | 상호 반사 검출 장치, 상호 반사 검출 방법 및 프로그램 | |
JP5728399B2 (ja) | 計測装置、方法及びプログラム | |
WO2013035847A1 (ja) | 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、形状測定プログラム、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
US20200320725A1 (en) | Light projection systems | |
JP2016008837A (ja) | 形状測定方法、形状測定装置、構造物製造システム、構造物製造方法、及び形状測定プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150915 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20151102 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160720 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160726 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160923 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170131 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170301 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6104662 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |