JP6104662B2 - 計測装置、方法及びプログラム - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、計測装置、方法及びプログラムに関する。
金属のようなテクスチャが無い対象面の3次元形状を計測する手法として、位相をずらした複数の正弦波パタンを当該対象面に投影し、当該複数の正弦波パタンが投影されている当該対象面の画像を撮影し、当該画像内の複数の正弦波パタンから位相を算出し、当該対象面の3次元形状を計測する位相シフト法が知られている。
また、位相をずらした複数の正弦波パタンに、カラーチャンネル毎に位相をずらしたRGBパタンを用いることで、複数の正弦波パタンを1度に対象面に投影し、当該対象面の3次元形状を計測する技術も知られている。
特開2010−281778号公報
上述したような従来技術では、対象面が平滑であり、投影されたパタンを十分に反射可能であれば、当該対象面の3次元形状を計測できる。しかしながら、投影されたパタンを対象面が十分に反射できない場合、当該対象面に投影されたパタンを撮影した画像から、当該パタンの位相を正しく算出することができないことがある。このような場合、当該対象面の3次元形状を計測することができない。
本発明が解決しようとする課題は、反射特性に欠ける部分が含まれる計測対象についても3次元形状を計測可能な計測装置、方法及びプログラムを提供することである。
実施形態の計測装置は、第1算出部と、第2算出部と、を備える。第1算出部は、周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された第1パタンが投影されている対象を撮影した画像内の前記第1模様と投に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する。第2算出部は、前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する。
第1実施形態の計測装置の例を示す構成図。 第1実施形態のRGB各チャンネルの正弦波パタンの例を示す図。 第1実施形態のランダムパタンの例を示す図。 第1実施形態の重畳パタンの例を示す図。 第1実施形態の領域分け結果の例を示す図。 第1実施形態の位相値の変換手法の例を示す説明図。 第1実施形態の処理例を示すフローチャート。 第2実施形態の計測装置の例を示す構成図。 第3実施形態の計測装置の例を示す構成図。 第3実施形態の処理例を示すフローチャート。 各実施形態及び変形例の計測装置のハードウェア構成例を示す図。
以下、添付図面を参照しながら、実施形態を詳細に説明する。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態の計測装置1の一例を示す構成図である。図1に示すように、計測装置1は、記憶部11と、選択部13と、投影部15と、撮影部17と、第1算出部19と、第3算出部21と、第2算出部23と、出力部25とを、備える。
記憶部11は、計測装置1で実行される各種プログラムや計測装置1で行われる各種処理に使用されるデータなどを記憶する。記憶部11は、例えば、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、メモリカード、光ディスク、ROM(Read Only Memory)、及びRAM(Random Access Memory)などの磁気的、光学的、又は電気的に記憶可能な記憶装置により実現できる。
選択部13、第1算出部19、第3算出部21、及び第2算出部23は、例えば、CPU(Central Processing Unit)などの処理装置にプログラムを実行させること、即ち、ソフトウェアにより実現してもよいし、IC(Integrated Circuit)などのハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェア及びハードウェアを併用して実現してもよい。
投影部15は、光源から任意の波長のパタン光を投影可能なプロジェクタ、レーザ、及びランプなどの投影装置により実現できる。撮影部17は、カラーカメラや赤外線カメラなどの任意の波長の光を撮像可能な撮像装置により実現できる。出力部25は、例えば、液晶ディスプレイやタッチパネル式ディスプレイなどの表示出力用の表示装置、又はプリンタなどの印刷出力用の印刷装置などで実現してもよいし、これらの装置を併用して実現してもよい。
記憶部11は、投影部15の投影対象のパタン(画像)を記憶する。具体的には、記憶部11は、周期性のある第1パタンと、当該第1パタンの周期を特定するための第1模様で構成される第2パタンとを、記憶する。第1実施形態では、第1パタンは正弦波のパタンであり、第1模様は正弦波の周期を特定するための幾何学模様(例えば、ランダムドット、円、又は直線など)であるものとするが、これに限定されるものではない。
選択部13は、投影部15の投影対象のパタンを選択する。第1実施形態では、選択部13は、記憶部11に記憶されているパタンの中から第1パタン及び第2パタンを選択し、投影対象のパタンとして、投影部15に通知する。
投影部15は、周期性のある第1パタンと当該第1パタンの周期を特定するための第1模様で構成される第2パタンとを重畳した第1重畳パタンを、3次元形状の計測対象(以下、単に「対象」と称する)に投影する。具体的には、投影部15は、位相が互いにずれている複数の第1パタンと当該複数の第1パタンそれぞれの周期を特定するための第1模様で構成された第2パタンとを重畳した第1重畳パタンを対象に投影する。なお、投影部15は、第1重畳パタンとして重畳された複数の第1パタンそれぞれを異なる波長で投影する。
ここで、第1重畳パタンは、複数の第1パタンそれぞれの周期毎に、当該周期を特定するための第1模様が少なくとも1つ配置されるように、重畳されている。なお、第1重畳パタン(第2パタン)内の各第1模様は、互いに異なる(一意の)模様とする。
第1実施形態では、複数の第1パタンとして、RGBチャンネル毎に一定の位相量をずらした正弦波パタンを例に取り説明するが、これに限定されるものではない。なお、Rチャンネルの正弦波パタン(正弦波)は、数式(1)で表され、Gチャンネルの正弦波パタン(正弦波)は、数式(2)で表され、Bチャンネルの正弦波パタン(正弦波)は、数式(3)で表される。
ここで、α(x,y)は正弦波の振幅を示し、β(x,y)はオフセット成分を示し、φ(x,y)はシフト位相量を示し、I(x,y)はRチャンネルの正弦波パタン(画像)の画素(x,y)の輝度を示し、I(x,y)はGチャンネルの正弦波パタン(画像)の画素(x,y)の輝度を示し、I(x,y)はBチャンネルの正弦波パタン(画像)の画素(x,y)の輝度を示す。
なお、正弦波パタンとしては、振幅、オフセット成分、シフト位相量、周波数、及び方向などを任意に設定した正弦波を用いることができる。
図2は、第1実施形態のRGB各チャンネルの正弦波パタンの一例を示す図である。図2に示す例では、Rチャンネルの正弦波パタン30−R、Gチャンネルの正弦波パタン30−G、及びBチャンネルの正弦波パタン30−Bの位相を2π/3ずつずらしている。具体的には、数式(1)〜(3)が示すように、正弦波パタン30−Gに対し、正弦波パタン30−Rの位相量を2π/3前にずらしており、正弦波パタン30−Gに対し、正弦波パタン30−Bの位相量を2π/3後ろにずらしているものとする。なお、図2に示す例では、正弦波パタン30−R、正弦波パタン30−G、及び正弦波パタン30−Bの輝度値を、同図上の正弦波で示している。
また第1実施形態では、第2パタンとして、ランダム模様で構成されるランダムパタンを例に取り説明するが、これに限定されるものではない。図3は、第1実施形態のランダムパタンの一例を示す図である。図3に示す例では、ランダムパタン31は、モノクロチャンネルのパタンであり、ランダム模様(ランダム模様31A等)が、正弦波パタンの周期の間隔で格子状に配置されている。なお、ランダムパタンを構成する各ランダム模様は、互いに異なる(一意の)模様である。
図4は、第1実施形態の第1重畳パタンの一例を示す図である。図4に示す第1重畳パタン32は、正弦波パタン30−R、正弦波パタン30−G、正弦波パタン30−B、及びランダムパタン31を重畳したパタンである。ここで、ランダムパタン31は、前述したように、ランダム模様が正弦波パタンの周期の間隔で格子状に配置されている。このため、第1重畳パタン32では、正弦波パタン30−R、正弦波パタン30−G、及び正弦波パタン30−Bのいずれに対しても1周期毎に、ランダム模様(ランダム模様31A等)が配置されている。
なお投影部15は、第1重畳パタン32を投影する場合、第1重畳パタン32に重畳されている正弦波パタン30−R、正弦波パタン30−G、正弦波パタン30−Bを、それぞれ、Rチャンネルの波長、Gチャンネルの波長、Bチャンネルの波長で投影することになる。
また、図4に示す例のように、第1重畳パタン32(ランダムパタン31)内のランダム模様の割合は、第1重畳パタン32内の正弦波パタン30−R、正弦波パタン30−G、及び正弦波パタン30−Bよりも少ない割合であることが好ましい。
ここで、第2パタンの第1模様(ランダム模様)の解像度は、計測装置1の計測距離、焦点距離、及び画素分解能などの条件より、計測に必要な最小ピクセルサイズを算出して決定すればよい。つまり、第1模様(ランダム模様)の解像度は、撮影部17の1画素あたりに撮影されるパタンの画素数を算出して求めればよい。
なお第1実施形態では、複数の第1パタンとして、RGBの3チャンネル全てを用いているが、少なくとも1チャンネルを用いればよい。例えば、第1パタンにRチャンネルを用い、第2パタンにBチャンネルを用いるなどとしてもよい。このように、第1パタンと第2パタンとのチャンネル(波長)を完全に異ならせるのであれば、第2パタン内の模様の割合を、第1パタンよりも少なくする必要はない。
また第1実施形態では、第1パタン、第2パタンともに、可視光波長であるRGBチャンネルを用いた例について説明するが、これに限定されず、赤外光など任意の波長を用いてもよい。
撮影部17は、投影部15により第1重畳パタンが投影されている対象を撮影し、画像を得る。第1実施形態では、投影部15により第1重畳パタンが可視光で投影されているため、撮影部17は、可視光を受光できる撮像装置であるものとする。つまり、第1実施形態では、撮影部17は、第1重畳パタンが投影されている対象を撮影し、RGBの画像を得る。但し、投影部15により第1重畳パタンが赤外光で投影される場合であれば、撮影部17は、赤外光を受光できる撮像装置とすればよい。
ここで、第1重畳パタンのランダム模様は、幾何学模様であり、反射光に強いという特性を有する。このため、対象の少なくとも一部が非平滑であり、投影されたパタンを十分に反射できないなど反射特性に欠ける場合であっても、ランダム模様については、十分に反射できる可能性が高い。この結果、撮影部17により撮影された画像は、第1パタンの一部が消失していても、ランダム模様については捉えている可能性が高い。
また第1実施形態では、第1重畳パタンのランダム模様は、モノクロチャンネルが割り当てられている。このため、RGBのいずれかのチャンネルの波長の光が対象から反射されない場合であっても残りのチャンネルの波長の光が対象から反射されれば、撮影部17により撮影された画像に、ランダム模様を捉えることができる。
なお撮影部17の数は、少なくとも1台であればよく、例えば、ステレオカメラなど複数台用いてもよい。なお、投影部15と撮影部17との間の校正やステレオカメラ間の校正などは、予め行われているものとする。
第1算出部19は、撮影部17により撮影された画像内の第1重畳パタンの第1模様と第1重畳パタンの第1模様とのマッチングを行い、当該画像内の第1重畳パタンである第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応を算出する。具体的には、第1算出部19は、マッチングの結果及び第1重畳パタンの位相値である第1位相値を用いて、第2重畳パタンの位相値である第2位相値を算出し、算出した第1位相値及び第2位相値を用いて、第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応を算出する。詳細には、第1算出部19は、第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応として、第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応点を算出する。
以下、第1算出部19による第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応の算出について詳細に説明する。
まず、第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像をRGBチャンネルそれぞれの画像(分離画像の一例)に分離する。ここで、投影部15が投影したパタン光の分光強度特性と撮影部17により撮影された画像の分光感度特性とは異なるため、互いの色空間において整合性がとれるように、カラーキャリブレーションなどを予め行っておくことが望ましい。なお、投影部15により第1重畳パタンが赤外光で投影されるのであれば、第1算出部19は、撮影部17により撮影された画像を赤外線の波長で分離すればよい。
次に、第1算出部19は、分離したRGBチャンネルそれぞれの画像の少なくともいずれかより、第2重畳パタン(詳細には正弦波パタン)の位相値を算出する。具体的には、第1算出部19は、数式(4)を用いて、RGBチャンネルそれぞれの画像の画素の輝度値等から、当該画素における位相値を算出する。
なお、φ(x,y)、I(x,y)、I(x,y)、I(x,y)は、数式(1)〜(3)と同様であるが、I(x,y)、I(x,y)、I(x,y)は、投影部15が投影したパタンではなく、撮影部17により撮影された画像(詳細には、RGBチャンネルそれぞれに分離後の画像)の画素(x,y)の輝度値を示す。
但し、注目画素(x,y)の近傍画素(x,y)でα(x,y)、β(x,y)、及びθ(x,y)が一定であると仮定すれば、第1算出部19は、数式(5)を用いて、RGBチャンネルいずれかの画像の画素の輝度値等から、当該画素における位相値を算出できる。
ここで、αは正弦波の振幅を示し、βはオフセット成分を示し、φ(x,y)はシフト位相量を示し、I(x,y)は、注目画素(x,y)の近傍画素(x,y)の輝度値を示す。このように、数式(5)では、n点(最低3点以上)の輝度値から残差二乗和を最小にするα、β、及びθを求めることができる。
次に、第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像において、算出した位相値が連続的に変化している領域(−π〜πの領域)を同領域に統合し、領域分けを行う。具体的には、第1算出部19は、隣接画素間の位相値の差を求め、その差が閾値以下であれば(例えば、実数0に近い値であれば)、同じ領域として統合する。
図5は、第1実施形態の領域分け結果の一例を示す図である。図5に示す例では、撮影部17により撮影されたRGBの画像が、位相値(−π〜π)の領域41〜44に分けられている。なお、図5に示す例では、RGBの画像に含まれるランダム模様については、図示を省略している。
次に、第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像のランダム模様と、投影部15により投影される第1重畳パタンのランダム模様とのマッチングを行い、繰り返しの値(−π〜π)となっている位相値を連続値へ変換する。
図6は、第1実施形態の位相値の変換手法の一例を示す説明図である。なお、図6に示す例では、ランダム模様については、一部分の図示としており、図示を省略しているものもある。
第1算出部19は、図6に示すように、撮影部17により撮影されたRGBの画像における領域分けした領域毎に、当該領域に存在するランダム模様と投影部15により投影される第1重畳パタン32のランダム模様とのマッチングを行う。なお、マッチングの評価には、正規化相関などを用いればよい。
そして、第1算出部19は、両ランダム模様が一致した場合、第1重畳パタン32側のランダム模様により特定される第1重畳パタン32(詳細には、正弦波パタン30−R、30−G、30−B)の位相値(詳細には、位相の周期の数)を、RGBの画像側のランダム模様により特定される領域の位相値とする。
これにより、図6に示す例では、撮影部17により撮影されたRGBの画像の領域41の位相値が(−π〜π)、領域42の位相値が(π〜3π)、領域43の位相値が(3π〜5π)、領域44の位相値が(5π〜7π)に変換され、撮影部17により撮影されたRGBの画像の位相値が(−π〜π)の繰り返しの値から連続値(−π〜7π)に変換されている。
このように第1実施形態では、ランダム模様のマッチングにより、撮影部17により撮影されたRGBの画像(第2重畳パタン)の位相値を算出するが、ランダム模様は、前述したように、反射光に強いという特性を有し、また第1実施形態では、モノクロチャンネルが割り当てられている。このため、対象が非平滑であり、投影されたパタンを十分に反射できないなど反射特性に欠ける場合であっても、撮影部17により撮影されたRGBの画像(第2重畳パタン)の位相値を算出することができる。
そして、第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像(第2重畳パタン)の位相値(第2位相値)及び第1重畳パタンの位相値(第1位相値)を用いて、撮影部17により撮影されたRGBの画像(第2重畳パタン)と第1重畳パタンとの対応点を算出する。
第3算出部21は、第1算出部19により算出された位相値(第2位相値)の信頼度を算出する。これは、対象の反射特性や投影部15及び撮影部17の色特性などにより、第1算出部19により算出された位相値(第2位相値)に誤差が生じるためである。
具体的には、第3算出部21は、撮影部17により撮影されたRGBの画像をRGBそれぞれの波長で分離した画像毎に、当該画像の輝度値と当該画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差を算出し、算出した複数の差に基づいて、信頼度を算出する。
例えば、第3算出部21は、数式(6)を用いて、第1算出部19により算出された位相値(第2位相値)の誤差を算出する。
ここで、Errorの値が大きいほど、第1算出部19により算出された位相値(第2位相値)の誤差が大きいことを表す。なお、Eは、数式(7)より求められ、Eは、数式(8)より求められ、Eは、数式(9)より求められる。
そして第3算出部21は、Reliability=1−Errorより、算出した位相値(第2位相値)の信頼度を算出する。つまり、算出した位相値(第2位相値)の信頼度は、Errorの値が小さいほど高くなり、Errorの値が大きいほど低くなる。
第2算出部23は、第1算出部19により算出された第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応から、対象の3次元形状を算出する。具体的には、第2算出部23は、第1算出部19により算出された第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応点のうち、第3算出部21により算出された信頼度が閾値よりも大きい位相値(第2位相値)を用いて算出された対応点を用いて、対象の3次元形状を算出する。閾値は、例えば、実数1より小さく、実数1に近い値などとすることができる。
なお、位相値を用いた3次元形状の算出手法としては、例えば、“位相シフト法とグレイコード法による高精度3次元計測” ViEW2005, Dec. 2005で用いられている三角測量方法などを用いることができる。
出力部25は、第2算出部23により算出された対象の3次元形状を出力する。
図7は、第1実施形態の計測装置1で行われる処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。
まず、投影部15は、周期性のある第1パタンと当該第1パタンの周期を特定するための第1模様で構成される第2パタンとを重畳し(ステップS101)、第1重畳パタンを、対象に投影する(ステップS103)。
続いて、撮影部17は、投影部15により第1重畳パタンが投影されている対象を撮影し、画像を得る(ステップS105)。
続いて、第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像をRGBチャンネルそれぞれの画像に分離する(ステップS107)。
続いて、第1算出部19は、分離したRGBチャンネルそれぞれの画像の少なくともいずれかより、第2重畳パタン(詳細には、正弦波パタン)の位相値を算出する(ステップS109)。
続いて、第1算出部19は、算出した位相値が連続的に変化している撮影部17により撮影されたRGBの画像の領域(−π〜πの領域)を同領域に統合し、領域分けを行う(ステップS111)。
続いて、第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像のランダム模様と、投影部15により投影される第1重畳パタンのランダム模様とのマッチングを行い、繰り返しの値(−π〜π)となっている位相値を連続値へ変換する(ステップS113)。そして第1算出部19は、撮影部17により撮影されたRGBの画像(第2重畳パタン)の位相値(第2位相値)及び第1重畳パタンの位相値(第1位相値)を用いて、撮影部17により撮影されたRGBの画像(第2重畳パタン)と第1重畳パタンとの対応点を算出する。
続いて、第3算出部21は、撮影部17により撮影されたRGBの画像をRGBそれぞれの波長で分離した画像毎に、当該画像の輝度値と当該画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差を算出し、算出した複数の差に基づいて、信頼度を算出する(ステップS115)。
続いて、第2算出部23は、第1算出部19により算出された第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応点のうち、第3算出部21により算出された信頼度が閾値よりも大きい位相値(第2位相値)を用いて算出された対応点を用いて、対象の3次元形状を算出する(ステップS117)。
以上のように第1実施形態では、模様のマッチングにより、撮影部により撮影された画像(第2重畳パタン)の位相値を算出するため、対象の少なくとも一部が反射特性に欠ける場合であっても、画像(第2重畳パタン)の位相値を算出することができ、対象の3次元形状を計測することができる。また、対象面が非平滑で反射特性に欠ける部分が含まれる計測対象についても3次元形状を計測することができる。
また第1実施形態では、算出した位相値のうち信頼度が閾値よりも大きい位相値を用いて、対象の3次元形状を計測するため、対象の3次元形状の計測精度を高めることができる。
(第2実施形態)
第2実施形態では、信頼度の他の算出例について説明する。以下では、第1実施形態との相違点の説明を主に行い、第1実施形態と同様の機能を有する構成要素については、第1実施形態と同様の名称・符号を付し、その説明を省略する。
図8は、第2実施形態の計測装置101の一例を示す構成図である。図8に示すように、第2実施形態の計測装置101は、第3算出部121及び第2算出部123が、第1実施形態と相違する。
但し、第2実施形態では、第1算出部19が、数式(5)を用いて、RGBチャンネルそれぞれの位相値(第2位相値)を算出しているものとする。
第3算出部121は、RGBチャンネルそれぞれの位相値(第2位相値)の信頼度を算出する。具体的には、第3算出部121は、撮影部17により撮影されたRGBの画像をRGBそれぞれの波長で分離した画像毎に、当該画像の輝度値と当該画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差に基づいて信頼度を算出する。
例えば、第3算出部121は、数式(10)を用いて、第1算出部19により算出されたRGBチャンネルそれぞれの位相値(第2位相値)の誤差を算出する。
ここで、αは正弦波の振幅を示し、βはオフセット成分を示し、φ(x,y)はシフト位相量を示すが、投影部15が投影する第1パタンのパラメータであり、既知の値である。I(x,y)は、第1算出部19により分離されたRGBチャンネルのいずれかの画像の注目画素(x,y)の近傍画素(x,y)の輝度値を示す。
このように、数式(10)では、n点(最低3点以上)の輝度値から位相の誤差Errorを求めることができる。
つまり第3算出部121は、第1算出部19により分離されたRGBチャンネルそれぞれの画像毎に、数式(10)を用いて、位相の誤差Errorを算出する。
そして第3算出部121は、Reliability=1−Errorより、RGBチャンネルそれぞれの位相値(第2位相値)の信頼度を算出する。
第2算出部123は、第1算出部19により算出された第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応点のうち、第3算出部121により算出された信頼度のうち信頼度が閾値よりも大きい又は信頼度が最も高いチャンネルの波長の位相値(第2位相値)を用いて算出された対応点を用いて、対象の3次元形状を算出する。
例えば、第2算出部123は、Rチャンネルの位相値(第2位相値)の信頼度が最も高い場合には、Rチャンネルの位相値(第2位相値)を用いて算出された対応点を用いて、対象の3次元形状を算出する。
以上のように、第2実施形態では、RGBチャンネルそれぞれの位相値の信頼度を算出し、信頼度が高い波長の位相値を用いて、対象の3次元形状を計測するため、対象の3次元形状の計測精度を高めることができる。
(第3実施形態)
第3実施形態では、信頼度を用いて投影に使用する波長を選択する例について説明する。以下では、第2実施形態との相違点の説明を主に行い、第2実施形態と同様の機能を有する構成要素については、第1実施形態と同様の名称・符号を付し、その説明を省略する。
図9は、第3実施形態の計測装置201の一例を示す構成図である。図9に示すように、第2実施形態の計測装置201は、選択部213が、第2実施形態と相違する。
選択部213は、第3算出部121により算出された信頼度が閾値よりも大きい波長を選択し、投影部15に通知する。これは、信頼度が低いチャンネルの波長の光では、対象の反射強度(反射特性)などにより、パタンを対象に投影しても十分に反射されない可能性があるためである。
そして投影部15は、選択部213により選択された波長の光で第1重畳パタンを投影する。例えば、選択部213によりRGBチャンネルのうちRチャンネルとGチャンネルが選択された場合、投影部15は、Rチャンネルに正弦波パタンを割り当てるとともにGチャンネルにランダムパタンを割り当て、第1重畳パタンを投影する。
図10は、第3実施形態の計測装置201で行われる処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。
まず、選択部213は、第3算出部121により算出された信頼度を用いて、投影に用いる光の波長を選択する(ステップS201)。
続いて、投影部15は、周期性のある第1パタンと当該第1パタンの周期を特定するための第1模様で構成される第2パタンとを重畳し(ステップS202)、選択部213により選択された波長の光で第1重畳パタンを対象に投影する(ステップS203)。
続いて、ステップS205〜S207までの処理は、図7のフローチャートのステップS105〜S107までの処理と同様である。
続いて、ステップS209〜S213までの処理は、第1算出部19が、RGBチャンネルそれぞれの画像に対して処理を行う点を除き、図7のフローチャートのステップS109〜S113の処理と同様である。
続いて、ステップS215では、第3算出部121は、撮影部17により撮影されたRGBの画像をRGBそれぞれの波長で分離した画像毎に、当該画像の輝度値と当該輝度値から推定される第1パタンの輝度値との差に基づいて信頼度を算出する。
続いて、ステップS217では、第2算出部123は、第1算出部19により算出された第2重畳パタンと第1重畳パタンとの対応点のうち、第3算出部121により算出された信頼度のうち信頼度が閾値よりも大きい又は信頼度が最も高いチャンネルの波長の位相値(第2位相値)を用いて算出された対応点を用いて、対象の3次元形状を算出する。
以上のように第3実施形態では、パタンが対象から十分に反射される可能性が高い波長を自動的に選択して第1重畳パタンを投影するため、対象の少なくとも一部が反射特性に欠ける場合であっても、画像(第2重畳パタン)の位相値を算出できる可能性が高く、対象の3次元形状を計測することができる。
(変形例)
上記第3実施形態では、信頼度を用いて投影に使用する波長を選択する例について説明したが、計測装置201の位置に適した波長を選択し、投影に用いるようにしてもよい。この場合、計測装置201の位置情報は、例えば、GPS(Global Positioning System)などから取得すればよい。このようにすれば、計測装置201が存在する位置(例えば、屋内と屋外)に適した波長の光で第1重畳パタンを投影することができる。
(ハードウェア構成)
図11は、上記各実施形態及び変形例の計測装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図11に示すように、上記各実施形態及び変形例の計測装置は、CPUなどの制御装置91と、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)などの記憶装置92と、HDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)などの外部記憶装置93と、ディスプレイなどの表示装置94と、マウスやキーボードなどの入力装置95と、通信I/F96と、プロジェクタなどの投影装置97と、カラーカメラなどの撮像装置98とを、備えており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成で実現できる。
上記各実施形態及び変形例の計測装置で実行されるプログラムは、ROM等に予め組み込んで提供される。また、上記各実施形態及び変形例の計測装置で実行されるプログラムを、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD−ROM、CD−R、メモリカード、DVD、フレキシブルディスク(FD)等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供するようにしてもよい。また、上記各実施形態及び変形例の計測装置で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するようにしてもよい。
上記各実施形態及び変形例の計測装置で実行されるプログラムは、上述した各部をコンピュータ上で実現させるためのモジュール構成となっている。実際のハードウェアとしては、例えば、制御装置91が外部記憶装置93からプログラムを記憶装置92上に読み出して実行することにより、上記各部がコンピュータ上で実現されるようになっている。
以上説明したとおり、上記各実施形態及び変形例によれば、反射特性に欠ける部分が含まれる計測対象についても3次元形状を計測可能である。また、対象面が非平滑で反射特性に欠ける部分が含まれる計測対象についても3次元形状を計測することができる。
なお本発明は、上記各実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
例えば、上記実施形態のフローチャートにおける各ステップを、その性質に反しない限り、実行順序を変更し、複数同時に実施し、あるいは実施毎に異なった順序で実施してもよい。
1、101、201 計測装置
11 記憶部
13、213 選択部
15 投影部
17 撮影部
19 第1算出部
21、121 第3算出部
23、123 第2算出部
25 出力部
91 制御装置
92 記憶装置
93 外部記憶装置
94 表示装置
95 入力装置
96 通信I/F
97 投影装置
98 撮像装置

Claims (12)

  1. 周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された重畳パタンが投影されている象を撮影し像内の前記第1模様と投に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する第1算出部と、
    前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する第2算出部と、
    を備える計測装置。
  2. 前記重畳パタンを前記対象に投影する投影部と、
    前記重畳パタンが投影されている前記対象を撮影し、前記画像を得る撮影部と、
    を更に備える請求項1に記載の計測装置。
  3. 前記第1算出部は、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応として、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応点を算出し、
    前記第2位相値の信頼度を算出する第3算出部を更に備え、
    前記第2算出部は、前記信頼度が閾値よりも大きい第2位相値を用いて算出された対応点を用いて、前記対象の3次元形状を計測する請求項1又は2に記載の計測装置。
  4. 前記第1パタンは、複数あり、
    前記複数の第1パタンの各々は、位相が互いにずれており、
    前記第1模様は、前記複数の第1パタンそれぞれの周期を特定するための模様である請求項に記載の計測装置。
  5. 前記投影部は、前記重畳パタンとして重畳された前記複数の第1パタンそれぞれを異なる波長で投影し、
    前記第3算出部は、前記画像を前記波長それぞれで分離した分離画像毎に、当該分離画像の輝度値と当該分離画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差を算出し、前記分離画像それぞれ対し算出した前記差に基づいて、前記信頼度を算出する請求項に記載の計測装置。
  6. 前記投影部は、前記重畳パタンとして重畳された前記複数の第1パタンそれぞれを異なる波長で投影し、
    前記第3算出部は、前記画像を前記波長それぞれで分離した分離画像毎に、当該分離画像の輝度値と当該分離画像の分離に用いた波長で投影された第1パタンの輝度値との差に基づいて前記信頼度を算出する請求項に記載の計測装置。
  7. 前記信頼度が閾値よりも大きい波長を選択する選択部を更に備え、
    前記投影部は、前記重畳パタンを前記波長の光で投影する請求項に記載の計測装置。
  8. 前記計測装置の位置に適した波長を選択する選択部を更に備え、
    前記投影部は、前記重畳パタンを前記波長の光で投影する請求項1に記載の計測装置。
  9. 前記第1パタンは、正弦波のパタンである請求項1に記載の計測装置。
  10. 前記第1模様は、幾何学模様である請求項1に記載の計測装置。
  11. 周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された重畳パタンが投影されている象を撮影し像内の前記第1模様と投に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する第1算出ステップと、
    前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する計測ステップと、
    を含む計測方法。
  12. 周期性のある第1パタンと第1模様とが重畳され、前記第1パタンの周期毎に前記第1模様が少なくとも1つ配置された重畳パタンが投影されている象を撮影し像内の前記第1模様と投に用いた前記第1模様とのマッチングを行い、前記マッチングの結果及び投影に用いた前記第1パタンの第1位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンの第2位相値を算出し、前記第1位相値及び前記第2位相値を用いて、前記画像内の前記第1パタンと投影に用いた前記第1パタンとの対応を算出する第1算出ステップと、
    前記対応から、位相シフト法を用いて、前記対象の3次元形状を計測する計測ステップと、
    コンピュータに実行させるためのプログラム。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6320051B2 (ja) * 2014-01-17 2018-05-09 キヤノン株式会社 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法
JP6524680B2 (ja) * 2015-02-03 2019-06-05 株式会社リコー 撮像システム、距離情報の取得方法及び距離情報の生産方法
JP6548422B2 (ja) * 2015-03-27 2019-07-24 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
CN107407559B (zh) * 2015-03-30 2019-10-18 富士胶片株式会社 距离图像获取装置以及距离图像获取方法
KR102482062B1 (ko) * 2016-02-05 2022-12-28 주식회사바텍 컬러 패턴을 이용한 치과용 3차원 스캐너
JP7236680B2 (ja) * 2018-02-09 2023-03-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 投影システム
JP7498651B2 (ja) 2020-02-21 2024-06-12 浜松ホトニクス株式会社 三次元計測装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4175862A (en) * 1975-08-27 1979-11-27 Solid Photography Inc. Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object
US4511252A (en) * 1975-08-27 1985-04-16 Robotic Vision Systems, Inc. Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object
US5613013A (en) * 1994-05-13 1997-03-18 Reticula Corporation Glass patterns in image alignment and analysis
GB2338858B (en) * 1997-04-04 2000-12-27 Isis Innovation Microscopy imaging apparatus and method
JP3690212B2 (ja) * 1999-10-26 2005-08-31 松下電工株式会社 3次元形状計測方法
FR2817042B1 (fr) * 2000-11-22 2003-06-20 Saint Gobain Procede et dispositif d'analyse de la surface d'un substrat
JP3519698B2 (ja) * 2001-04-20 2004-04-19 照明 與語 3次元形状測定方法
TW580556B (en) * 2002-11-22 2004-03-21 Ind Tech Res Inst Method and system for measuring the three-dimensional appearance of an object surface
US7711182B2 (en) 2006-08-01 2010-05-04 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Method and system for sensing 3D shapes of objects with specular and hybrid specular-diffuse surfaces
JP4905013B2 (ja) * 2006-09-19 2012-03-28 株式会社デンソー 外観検査装置、外観検査方法及び高さ測定方法並びに回路基板製造方法
JP5123522B2 (ja) * 2006-12-25 2013-01-23 パナソニック株式会社 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置
JP5088018B2 (ja) * 2007-06-28 2012-12-05 富士ゼロックス株式会社 画像処理装置及び制御プログラム
DE102007054907A1 (de) * 2007-11-15 2009-05-28 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren zur optischen Vermessung von Objekten unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens
JP5545932B2 (ja) * 2009-06-08 2014-07-09 株式会社マクシス・シントー 三次元形状計測装置
JP5567922B2 (ja) * 2010-07-21 2014-08-06 キヤノン株式会社 画像処理装置及びその制御方法
US8780359B2 (en) * 2012-04-30 2014-07-15 Apple Inc. Optical base plate alignment

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