JP5740370B2 - 領域特定装置、方法、及びプログラム - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、領域特定装置、方法、及びプログラムに関する。
鏡、金属、及び水面のような反射性領域を三次元形状計測する場合、反射性領域用の計測手法を適用する必要があるため、反射性領域を特定する必要がある。反射性領域を特定する手法として、撮影画像における正反射光の輝度分布を、撮影環境における鏡面化の度合いを表す輝度値と比較することで、鏡面領域を特定する手法がある。
特開2004−157073号公報
しかしながら、上述したような従来技術では、撮像環境における鏡面化の度合いを表す輝度値を撮像環境毎に準備しておかなければならず、時間や手間などのコストがかかってしまう。本発明が解決しようとする課題は、コストをかけずに反射性領域を特定することができる領域特定装置、方法、及びプログラムを提供することである。
実施形態の領域特定装置は、投影部と、撮像部と、算出部と、特定部と、を備える。投影部は、予め定められた動きを行うようにパタンを投影する。撮像部は、前記パタンが投影されている領域を時系列で撮像し、複数の画像を得る。算出部は、前記複数の画像中の画像領域毎に前記パタンの変化量を算出する。特定部は、算出された前記複数の変化量のうち前記予め定められた動きに伴う基準変化量と異なる変化量の画像領域を、反射性領域に特定する。
図1は、本実施形態の領域特定装置の例を示す構成図。 図2は、本実施形態のパタンの例を示す図。 図3は、本実施形態の投影環境及び撮像環境の例を示す図。 図4Aは、非反射性領域に投影されたパタンのシフト方向の例を示す図。 図4Bは、反射性領域に投影されたパタンのシフト方向の例を示す図。 図5は、本実施形態の領域特定処理例を示すフローチャート。 図6は、変形例1のパタンの例を示す図。 図7は、変形例2のパタンの例を示す図。 図8は、変形例3のパタンの例を示す図。 図9は、上記実施形態及び変形例の領域特定装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
以下、添付図面を参照しながら、実施形態を詳細に説明する。
図1は、本実施形態の領域特定装置10の一例を示す構成図である。図1に示すように、領域特定装置10は、記憶部11と、投影部13と、撮像部15と、算出部17と、特定部19とを、備える。
記憶部11は、領域特定装置10で実行される各種プログラムや領域特定装置10で行われる各種処理に使用されるデータなどを記憶する。記憶部11は、例えば、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、メモリカード、光ディスク、ROM(Read Only Memory)、及びRAM(Random Access Memory)などの磁気的、光学的、又は電気的に記憶可能な記憶装置により実現できる。
投影部13は、予め定められた動きを行うようにパタンを投影するものであり、例えば、プロジェクタ、レーザ、及びランプなど、光源から任意のパタンのパタン光を投影できる投影装置により実現できる。
具体的には、投影部13は、領域特定装置10や外部装置から、パタンを予め定められた方向にシフトした場合の投影データを時系列で取得し、取得した投影データを後述の撮像部15の撮像対象領域に時系列で投影する。これにより、投影部13は、予め定められた方向にパタンをシフトして投影し、予め定められた動きを行うようにパタンが投影される。
なお、予め定められた方向は、投影部13の座標系に対して斜め方向であればよく、本実施形態では、投影部13の座標系に対して右上、右下、左上、及び左下のいずれかの方向を想定しているが、これに限定されるものではない。投影部13の座標系に対して斜め方向は、投影部13の座標系に対して垂直及び水平方向以外の方向であれば、どのような方向であってもよい。
本実施形態で用いられるパタンは、幾何学的パタンであるものとするが、これに限定されるものではない。図2は、本実施形態のパタンの一例を示す図である。図2に示すパタンは、太さがランダムな複数の斜め線をランダムな位置で交差させた格子から構成される幾何学的パタンとなっている。なお、斜め線は、垂直線及び水平線以外の線であればよい。
撮像部15は、投影部13によりパタンが投影されている領域を時系列で撮像し、複数の画像を得るものであり、例えば、デジタルカメラなどの撮像装置により実現できる。
なお本実施形態では、投影部13の座標系と撮像部15の座標系との対応関係が一致するように予め校正されているものとする。つまり、本実施形態では、投影部13により投影されたパタンの動きと、撮像部15により撮像された画像内でのパタンの動きとが、一致するものとする。
図3は、本実施形態の投影環境及び撮像環境の一例を示す図であり、図4Aは、非反射性領域に投影されたパタンのシフト方向の一例を示す図であり、図4Bは、反射性領域に投影されたパタンのシフト方向の一例を示す図である。
図3に示す例では、投影部13が自身の視野範囲23を投影し、視野範囲23に含まれる物体27の領域31A、視野範囲23に含まれる物体29の領域31B及び領域32にパタンが投影され、撮像部15が自身の視野範囲25を撮像している。ここで、領域31A、31Bは、非反射性領域であり、領域32は、反射性領域であるため、領域32に投影されたパタンは、領域31A、31Bに投影されたパタンに対して、いずれかの方向に反転している。このため、図4A及び図4Bに示すように、領域32に投影されたパタンのシフト方向は、領域31A、31Bに投影されたパタンのシフト方向41とは異なる方向(例えば、シフト方向42〜44など)となる。
算出部17及び特定部19は、例えば、CPU(Central Processing Unit)などの処理装置にプログラムを実行させること、即ち、ソフトウェアにより実現できる。
算出部17は、撮像部15により撮像された複数の画像を用いて、画像領域毎にパタンを算出する。本実施形態では、算出部17は、撮像部15により撮像された画像の画像領域毎に、パタンの動きベクトルを算出する。
例えば、算出部17は、撮像部15により撮像された第tフレームの画像の動きベクトルを算出する場合、第tフレームの画像を予め定められた領域(N×Nの大きさのブロック)に分割する。そして、算出部17は、分割した各領域について、領域の左上端の画素の位置を(i,j)、当該画素の輝度値I(i,j)とし、位置(i,j)に対応する直前のフレーム(第t−1フレーム)の画像の位置から(p,q)ずらした位置を含む領域との画素の差を評価する。この評価には、例えば、数式(1)及び(2)に示すような、画素値の差の絶対値の和(SAD:Sum of Abusolute Difference)などを用いることができる。
具体的には、算出部17は、分割した各領域について、数式(1)を用いて、SAD(p,q)を計算し、数式(2)を用いて、SAD(p,q)を最小とする(p,q)を求め、動きベクトル(p,q)とする。
特定部19は、算出部17により算出された複数の変化量のうち予め定められた動きに伴う基準変化量と異なる変化量の画像領域を、反射性領域に特定する。具体的には、特定部19は、算出部17により算出された複数の変化量それぞれと基準変化量との差を算出し、算出した差が第1閾値以上となる変化量の画像領域を、反射性領域に特定する。
本実施形態では、特定部19は、数式(3)に示すように、算出部17により算出された複数の動きベクトルVそれぞれと基準動きベクトルVとの間の角度を算出し、算出した角度が閾値s以上となる動きベクトルVの画像領域を、反射性領域に特定する。
ここで、閾値sは、角度の値を意味し、実数0に近い値とすることが好ましい。
なお、基準動きベクトルVは、投影部13が予め定められた方向にパタンをシフトした場合の動きベクトルの値であり、記憶部11に予め記憶されているものとする。
また特定部19は、算出部17により算出された複数の変化量の大きさが第2閾値以下となる画像領域を、特定不可領域に設定する。ここで、特定不可領域とは、反射性領域であるか非反射性領域であるかを特定できない領域である。
特定部19は、例えば、数式(4)に示すように、算出部17により算出された複数の動きベクトルVそれぞれの大きさが閾値t以下となる動きベクトルVの画像領域を、特定不可領域に設定する。
ここで、閾値tは、ベクトルの大きさを意味し、実数0に近い値とすることが好ましい。
図5は、本実施形態の領域特定装置10で行われる領域特定処理の手順の流れの一例を示すフローチャートである。
まず、投影部13は、予め定められた方向にパタンをシフトして投影する(ステップS101)。
続いて、撮像部15は、投影部13によりパタンが投影されている領域を撮像する(ステップS103)。
そして、撮像部15が予め定められた数の画像を撮像し、撮像が終了するまで(ステップS105でNo)、ステップS101〜S103を繰り返す。
撮像が終了すると(ステップS105でYes)、算出部17は、撮像部15により撮像された複数の画像を用いて、未処理の画像領域について、パタンの動きベクトルを算出する(ステップS107)。
続いて、特定部19は、算出されたパタンの動きベクトルの大きさが第2閾値以下であるか否かを判定する(ステップS109)。
算出されたパタンの動きベクトルの大きさが第2閾値以下である場合(ステップS109でYes)、特定部19は、パタンの動きベクトルが算出された画像領域を、特定不可領域に設定する(ステップS111)。
一方、算出されたパタンの動きベクトルの大きさが第2閾値以下でない場合(ステップS109でNo)、特定部19は、算出されたパタンの動きベクトルと基準動きベクトルとの差が第1閾値以上であるか否かを判定する(ステップS113)。
算出されたパタンの動きベクトルと基準動きベクトルとの差が第1閾値以上である場合(ステップS113でYes)、特定部19は、パタンの動きベクトルが算出された画像領域を、反射性領域に特定する(ステップS115)。
一方、算出されたパタンの動きベクトルと基準動きベクトルとの差が第1閾値以上でない場合(ステップS113でNo)、特定部19は、パタンの動きベクトルが算出された画像領域を、非反射性領域に特定する(ステップS117)。
そして、画像の全ての画像領域が処理されていれば(ステップS119でYes)、処理は終了となり、画像に未処理の画像領域が残っていれば(ステップS119でNo)、ステップ107へ戻る。
以上のように本実施形態によれば、予め定められた方向と異なる方向にパタンがシフトする領域を反射性領域に特定するので、コストをかけずに反射性領域を特定することができる。
特に本実施形態によれば、撮像環境に依存した輝度値などのデータが不要であるため、未知の撮像環境においても反射性領域を特定することができる。
これにより、反射性領域を特定した画像を用いて、三次元形状計測を行ったり、画像上で特定した反射性領域を基に、実環境において、可視光カメラ、レーザスキャナ、又はレーザレンジセンサなどの計測装置を用いた三次元形状計測を行ったりすることができる。
また本実施形態によれば、斜め線を交差させたパタンを用いているため、パタンを斜め方向にシフトさせることができ、パタンのシフト回数を減らすことができるとともに、投影部13の座標系と撮像部15の座標系との対応関係に若干のズレが生じた場合であっても対応できる。
(変形例1)
上記実施形態では、投影部13が投影する幾何学的パタンとして、太さがランダムな複数の斜め線をランダムな位置で交差させた格子から構成される幾何学的パタンを例に取り説明したが、ランダムドットパタンや図6に示すようなチェスボードパタンであってもよい。
(変形例2)
上記実施形態では、投影部13が投影するパタンとして幾何学的パタンを例に取り説明したが、図7に示すようなグラデーションパタン(輝度値が連続的に変化するパタン)としてもよい。
この場合、算出部17は、撮像部15により撮像された画像の画像領域毎に、パタンの輝度値の差分を算出すればよい。例えば、算出部17は、数式(5)を用いて、撮像部15により撮像された第tフレームの画像と直前のフレーム(第t−1フレーム)の画像との輝度値の差分を算出すればよい。
ここで、(Δu,Δv)は、輝度値の差分を表し、I(i,j)は、第tフレームの画像の位置(i,j)の輝度値を示し、It−1(i,j)は、第t−1フレームの画像の位置(i,j)の輝度値を示す。
また特定部19は、数式(6)に示すように、算出部17により算出された複数の輝度値の差分Vそれぞれと基準輝度値差分Vとの差を算出し、算出した差が閾値s以上となる輝度値の差分Vの画像領域を、反射性領域に特定する。
ここで、閾値sは、輝度変化量の値が正か負かの境界値を意味し、実数0に近い値とすることが好ましい。
なお、基準輝度値差分Vは、投影部13が予め定められた方向にパタンをシフトした場合の輝度値の差分値であり、記憶部11に予め記憶されているものとする。
また特定部19が、数式(4)を用いて、特定不可領域を設定する場合、閾値tは、輝度値の差分の大きさを意味し、実数0に近い値とすることが好ましい。
(変形例3)
上記実施形態では、投影部13が投影するパタンとして幾何学的パタンを例に取り説明したが、図8に示すような正弦波パタンとしてもよい。
この場合、算出部17は、撮像部15により撮像された画像の画像領域毎に、パタンの位相を算出すればよい。ここで、位相とは、画素における正弦波の位相であり、縞パタンの投影素子上の位置、即ち、距離を表す。例えば、算出部17は、数式(7)を用いて、撮像部15により撮像された第tフレームの画像の画素毎のパタンの位相を算出すればよい。
ここで、φ(i,j)は、第tフレームの画像の位置(i,j)の位相を示し、I(i,j)は、第tフレームの画像の位置(i,j)の輝度値を示し、It−1(i,j)は、第t−1フレームの画像の位置(i,j)の輝度値を示し、It−2(i,j)は、第t−2フレームの画像の位置(i,j)の輝度値を示し、It−3(i,j)は、第t−3フレームの画像の位置(i,j)の輝度値を示す。
また特定部19は、数式(6)に示すように、算出部17により算出された複数の位相Vそれぞれと基準位相Vとの差を算出し、算出した差が閾値s以上となる位相Vの画像領域を、反射性領域に特定する。
ここで、閾値sは、位相値間の差分量を意味し、実数0に近い値とすることが好ましい。
なお、基準位相Vは、投影部13が予め定められた方向にパタンをシフトした場合の位相の値であり、記憶部11に予め記憶されているものとする。
また特定部19が、数式(4)を用いて、特定不可領域を設定する場合、閾値tは、位相値の大きさを意味し、実数0に近い値とすることが好ましい。
(ハードウェア構成)
図9は、上記実施形態及び変形例の領域特定装置10のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。図9に示すように、上記実施形態及び変形例の領域特定装置10は、CPUなどの制御装置91と、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)などの記憶装置92と、HDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)などの外部記憶装置93と、ディスプレイなどの表示装置94と、マウスやキーボードなどの入力装置95と、通信I/F96と、プロジェクタなどの投影装置97と、デジタルカメラなどの撮像装置98とを、備えており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成で実現できる。
上記実施形態及び変形例の領域特定装置10で実行されるプログラムは、ROM等に予め組み込んで提供される。
また、上記実施形態及び変形例の領域特定装置10で実行されるプログラムを、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでCD−ROM、CD−R、メモリカード、DVD、フレキシブルディスク(FD)等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供するようにしてもよい。
また、上記実施形態及び変形例の領域特定装置10で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するようにしてもよい。また、上記実施形態及び変形例の領域特定装置10で実行されるプログラムを、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布するようにしてもよい。
上記実施形態及び変形例の領域特定装置10で実行されるプログラムは、上述した各部をコンピュータ上で実現させるためのモジュール構成となっている。実際のハードウェアとしては、例えば、制御装置91が外部記憶装置93からプログラムを記憶装置92上に読み出して実行することにより、上記各部がコンピュータ上で実現されるようになっている。
以上説明したとおり、上記実施形態及び変形例によれば、コストをかけずに反射性領域を特定することができる。
なお本発明は、上記各実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
例えば、上記実施形態のフローチャートにおける各ステップを、その性質に反しない限り、実行順序を変更し、複数同時に実施し、あるいは実施毎に異なった順序で実施してもよい。
10 領域特定装置
11 記憶部
13 投影部
15 撮像部
17 算出部
19 特定部
91 制御装置
92 記憶装置
93 外部記憶装置
94 表示装置
95 入力装置
96 通信I/F
97 投影装置
98 撮像装置

Claims (10)

  1. 予め定められた動きを行うようにパタンを投影する投影部と、
    前記パタンが投影されている領域を時系列で撮像し、複数の画像を得る撮像部と、
    前記複数の画像中の画像領域毎に前記パタンの変化量を算出する算出部と、
    算出された前記複数の変化量のうち前記予め定められた動きに伴う基準変化量と異なる変化量の画像領域を、反射性領域に特定する特定部と、
    を備える領域特定装置。
  2. 前記特定部は、算出された前記複数の変化量それぞれと前記基準変化量との差を算出し、算出した前記差が第1閾値以上となる変化量の画像領域を、前記反射性領域に特定する請求項1に記載の領域特定装置。
  3. 前記投影部は、自身の座標系に対して斜め方向に前記パタンをシフトして投影する請求項1又は2に記載の領域特定装置。
  4. 前記パタンは、幾何学的パタンであり、
    前記変化量は、動きベクトルである請求項1〜3のいずれか1つに記載の領域特定装置。
  5. 前記幾何学的パタンは、太さがランダムな複数の斜め線をランダムな位置で交差させた格子から構成される請求項4に記載の領域特定装置。
  6. 前記パタンは、グラデーションパタンであり、
    前記変化量は、輝度値の差分である請求項1〜3のいずれか1つに記載の領域特定装置。
  7. 前記パタンは、正弦波パタンであり、
    前記変化量は、位相である請求項1〜3のいずれか1つに記載の領域特定装置。
  8. 前記特定部は、算出された前記変化量の大きさが第2閾値以下となる画像領域を、特定不可領域に設定する請求項1〜7のいずれか1つに記載の領域特定装置。
  9. 投影部が、予め定められた動きを行うようにパタンを投影する投影ステップと、
    撮像部が、前記パタンが投影されている領域を時系列で撮像し、複数の画像を得る撮像ステップと、
    算出部が、前記複数の画像中の画像領域毎に前記パタンの変化量を算出する算出ステップと、
    特定部が、算出された前記複数の変化量のうち前記予め定められた動きに伴う基準変化量と異なる変化量の画像領域を、反射性領域に特定する特定ステップと、
    を含む領域特定方法。
  10. 予め定められた動きを行うようにパタンを投影する投影ステップと、
    前記パタンが投影されている領域を時系列で撮像し、複数の画像を得る撮像ステップと、
    前記複数の画像中の画像領域毎に前記パタンの変化量を算出する算出ステップと、
    算出された前記複数の変化量のうち前記予め定められた動きに伴う基準変化量と異なる変化量の画像領域を、反射性領域に特定する特定ステップと、
    をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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