JP5411914B2 - 基板検査方法 - Google Patents
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Description
前記投影部それぞれに対して前記底領域における頻度数が最も高い位相データを代表底位相に設定し、前記投影部それぞれに対して前記代表底位相が0になるように前記投影部別位相データをシフトさせること、をさらに含んでいてもよい。
110 投影部
112 光源
114 格子素子
120 照明部
130 カメラ
140 ステージ
150 基板
152 測定対象物
Claims (9)
- 複数の投影部を通して測定対象物が形成された基板にパターン照明を順に照射して前記基板に対する投影部別位相データを取得し、
前記投影部別位相データを用いて前記基板に対する投影部別高さデータを抽出し、
前記複数の投影部のうち信頼度が最もよい投影部を基準投影部に設定し、
前記基準投影部の高さデータを基準として残りの投影部高さデータを整列させ、
前記整列された高さデータを用いて統合高さデータを抽出すること、
を含むことを特徴とする基板検出方法。 - 前記基準投影部を設定することは、
高さ、信号対雑音比SNR、振幅(Amplitude)、平均明るさを媒介変数とするビジビリティ及びグレー(gray)情報のうち少なくとも一つによって信頼度を評価することを含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検出方法。 - 前記高さデータを整列させることは、
前記基準投影部の高さデータを基準にして前記残り投影部の高さデータに対する高さ偏差を求め、
前記残り投影部の高さデータそれぞれに対して前記高さ偏差を引くこと、を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記高さ偏差を求めることは、
前記測定対象物の上面領域及び前記基板の底領域のうち少なくとも一つの領域を基準にして前記高さ偏差を求めることを特徴とする請求項3に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを抽出する前に、
前記基板で測定対象物が形成された測定対象領域と底領域とを区分し、
前記投影部それぞれに対して前記底領域での頻度数が最も高い位相データを代表底位相に設定し、
前記投影部それぞれに対して前記代表底位相が0になるように前記投影部別位相データをシフトさせること、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 複数の投影部を通して測定対象物が形成された基板にパターン照明を順に照射して前記基板に対する投影部別位相データを取得し、
前記投影部別位相データを用いて前記基板に対する投影部別高さデータを抽出し、
前記複数の投影部のうち信頼度が最もよい投影部を基準投影部に設定し、
前記測定対象物の上面領域を基準として前記基準投影部の高さデータに対して残り投影部の高さデータを整列させ、
前記測定対象物の上面領域を基準として整列された高さデータを用いて統合データを抽出すること、
を含むことを特徴とする基板検査方法。 - 前記基準投影部を設定することは、
高さ、信号対雑音比、振幅、平均明るさを媒介変数とするビジビリティ、及びグレー情報のうち少なくとも一つによって信頼度を評価すること含むことを特徴とする請求項6に記載の基板検査方法。 - 前記投影部別高さデータを抽出する前に、
前記基板で測定対象物が形成された測定対象領域と底領域とを区分し、
前記投影部それぞれに対して前記底領域での頻度数が最も高い位相データを代表底位相に設定し、
前記投影部それぞれに対して前記代表底位相が0になるように前記投影部別位相データをシフトさせること、をさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の基板検査方法。 - 統合高さデータを抽出することは、
前記基板の底領域を基準として前記投影部別高さデータを再整列させることをさらに含むことを特徴とする請求項6に記載の基板検査方法。
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