JP5583828B1 - 電子部品内蔵多層配線基板及びその製造方法 - Google Patents

電子部品内蔵多層配線基板及びその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】簡単に電子部品を内蔵させ、位置合わせやハンドリング及び配線の信頼性を高め、高密度化に対応させる。
【解決手段】複数の第1のプリント配線基板を積層して構成され、電子部品パッケージを内蔵する電子部品内蔵多層配線基板であって、電子部品パッケージは、第1の電子部品を内蔵し、この第1の電子部品の電極ピッチよりも広いピッチで第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチの電極をパッケージの最表層に有するように複数の第2のプリント配線基板を積層して構成され、電子部品パッケージの高さと、第1のプリント配線基板又は複数の第1のプリント配線基板の積層体の厚さとが同等である。
【選択図】図1

Description

この発明は、電子部品を内蔵する電子部品内蔵多層配線基板及びその製造方法に関する。
近年の電子機器等の小型化に伴い、これら電子機器等の部品の一つである多層配線基板にも種々の改良が望まれつつあると共に、例えば多層配線基板に表面実装されるウェハレベルパッケージ(WLP)のチップサイズがICのピン数に対して小さくなってきている。
このため、通常のWLPではバンプピッチが狭すぎて多層配線基板への表面実装が困難となる場合が頻出している。このような事態に対応するために、多層配線基板に異なる配線ピッチの配線パターンや電極を混在させるようにすると、全体として生産歩留りが低下してしまうが、例えば下記特許文献1に開示されている多層配線基板のような解決策が提案されている。
すなわち、特許文献1の多層配線基板は、通常密度の配線パターンが形成されたマザー配線基板に凹部を形成し、この凹部に高密度な配線パターンが形成されたキャリア配線基板を収容して、これらを電気的に接続した構造を備え、電極ピッチが異なる種々の電子部品を表面実装可能にしている。
特開平11−317582号公報
しかしながら、例えば上記特許文献1に開示された従来技術の多層配線基板の層間に電子部品を内蔵し、電子部品内蔵多層配線基板を形成しようとしても、表面実装と同様に電子部品のバンプピッチが狭すぎるため、電子部品と基板の位置合わせやハンドリングに高い精度が要求されてしまうと共に、IC実装端子からの配線に複雑な引き回しや微細化の必要性が生じてしまう問題がある。
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消し、簡単に電子部品を内蔵することができ位置合わせやハンドリング及び配線の信頼性が高く高密度化に対応可能な電子部品内蔵多層配線基板及びその製造方法を提供することを目的とする。
本発明に係る電子部品内蔵多層配線基板は、複数の第1のプリント配線基板を積層して構成され、電子部品パッケージを内蔵する電子部品内蔵多層配線基板であって、前記電子部品パッケージは、第1の電子部品を内蔵し、この第1の電子部品の電極ピッチよりも広いピッチで前記第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチの電極をパッケージの最表層に有するように複数の第2のプリント配線基板を積層して構成され、前記電子部品パッケージの高さと、前記第1のプリント配線基板又は複数の前記第1のプリント配線基板の積層体の厚さとが同等であることを特徴とする。
本発明に係る電子部品内蔵多層配線基板によれば、第1の電子部品を、この第1の電子部品の電極ピッチよりも広いピッチで第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチの電極をパッケージの最表層に有するように複数の第2のプリント配線基板を積層して構成された電子部品パッケージに内蔵し、その高さが第1のプリント配線基板又は複数の第1のプリント配線基板の積層体の厚さと同等であるので、位置合わせやハンドリングの信頼性及び配線の信頼性が高く簡単に電子部品を内蔵して高密度化に対応することができる。
本発明の一実施形態においては、前記電子部品パッケージは、前記複数の第2のプリント配線基板のうち、前記第1の電子部品の電極形成面側とは反対側の裏面側に配置される第1層の配線基板、前記第1の電子部品が収容される開口部が形成された第2層の配線基板、前記第1の電子部品の電極ピッチと同等のピッチの導電性ペーストビアが形成され一方の面に前記第1の電子部品の電極ピッチから前記第1のプリント配線基板の配線ピッチへとピッチを拡大させる電極が形成された第3層の配線基板、及び一方の面に前記第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチの電極が形成され導電性ペーストビアが形成された第4層の配線基板を、前記第2層の配線基板の開口部に前記第1の電子部品を前記第3層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第1の電子部品の電極とが対向するように収容した上で、前記第4層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第3層の配線基板の電極とが対向するように配置して一括積層してなる。
本発明の他の実施形態においては、前記電子部品パッケージは、その高さが前記積層体に形成されたパッケージ搭載用の開口部の深さと同等である。
本発明の更に他の実施形態においては、前記第2のプリント配線基板は、前記第1のプリント配線基板と同一の材料で形成される。
本発明の更に他の実施形態においては、前記積層体は、前記第1の電子部品よりも厚さが厚い第2の電子部品を搭載可能な開口部を更に備え、前記第2の電子部品を前記電子部品パッケージと共に各開口部に搭載した上で、前記積層体及び前記第1のプリント配線基板を一括積層してなる。
本発明の更に他の実施形態においては、前記第1及び第2の電子部品とは異なる第3の電子部品を、前記電子部品パッケージの内蔵箇所の直上又は直下に、前記第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチで形成された前記第3の電子部品の電極と前記電子部品パッケージの電極とが電気的に最短経路で接続されるように表面実装してなる。
本発明に係る電子部品内蔵多層配線基板の製造方法は、複数の第1のプリント配線基板を積層して構成され、電子部品パッケージを内蔵する電子部品内蔵多層配線基板の製造方法であって、第1の電子部品を内蔵し、この第1の電子部品の電極ピッチよりも広いピッチで前記第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチの電極をパッケージの最表層に有するように複数の第2のプリント配線基板を積層して前記電子部品パッケージを形成する工程と、前記電子部品パッケージを搭載可能な開口部を有するように前記第1のプリント配線基板を積層した積層体を形成する工程と、前記開口部に前記電子部品パッケージを搭載した上で、前記積層体と少なくとも一つの前記第1のプリント配線基板とを前記開口部を塞ぐように積層する工程とを備えたことを特徴とする。
本発明に係る電子部品内蔵多層配線基板の製造方法によれば、上記記載の電子部品内蔵多層配線基板と同様の作用効果を奏することができると共に、電子部品内蔵多層配線基板を低コストで簡単に製造することができる。
本発明の一実施形態においては、前記電子部品パッケージを形成する工程では、前記複数の第2のプリント配線基板のうち、前記第1の電子部品の電極形成面側とは反対側の裏面側に配置される第1層の配線基板、前記第1の電子部品が収容される開口部が形成された第2層の配線基板、前記第1の電子部品の電極ピッチと同等のピッチの導電性ペーストビアが形成され一方の面に前記第1の電子部品の電極ピッチから前記第1のプリント配線基板の配線ピッチへとピッチを拡大させる電極が形成された第3層の配線基板、及び一方の面に前記第1のプリント配線基板の配線ピッチと同等のピッチの電極が形成され導電性ペーストビアが形成された第4層の配線基板を、前記第2層の配線基板の開口部に前記第1の電子部品を前記第3層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第1の電子部品の電極とが対向するように収容した上で、前記第4層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第3層の配線基板の電極とが対向するように配置して一括積層する。
本発明によれば、簡単に電子部品を内蔵することができ位置合わせやハンドリング及び配線の信頼性が高く高密度化に対応することができる。
本発明の一実施形態に係る電子部品内蔵多層配線基板の製造方法により形成された電子部品内蔵多層配線基板の構造を示す断面図である。 同製造方法による電子部品内蔵多層配線基板に内蔵される電子部品パッケージの構造を示す断面図である。 同製造方法による電子部品内蔵多層配線基板の製造工程を示すフローチャートである。 同製造方法による電子部品内蔵多層配線基板の製造工程における電子部品パッケージの製造工程を示すフローチャートである。 同製造方法による電子部品パッケージを製造工程毎に示す断面図である。 同製造方法による電子部品内蔵多層配線基板を製造工程毎に示す断面図である。 本発明の他の実施形態に係る電子部品内蔵多層配線基板の構造を示す断面図である。
以下、添付の図面を参照して、この発明の実施の形態に係る電子部品内蔵多層配線基板及びその製造方法を詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る電子部品内蔵多層配線基板の製造方法により形成された電子部品内蔵多層配線基板の構造を示す断面図である。また、図2は、この製造方法による電子部品内蔵多層配線基板に内蔵される電子部品パッケージの構造を示す断面図、図3は、この製造方法による電子部品内蔵多層配線基板の製造工程を示すフローチャート、図4は、この製造方法による電子部品内蔵多層配線基板の製造工程における電子部品パッケージの製造工程を示すフローチャートである。
更に、図5は、この製造方法による電子部品パッケージを製造工程毎に示す断面図、図6は、この製造方法による電子部品内蔵多層配線基板を製造工程毎に示す断面図である。本実施形態に係る電子部品内蔵多層配線基板(以下、「多層配線基板」と略記する。)1は、複数の第1のプリント配線基板を積層して構成され、電子部品パッケージを内蔵する多層構造の配線基板である。
図1に示すように、多層配線基板1は、例えば複数の第1のプリント配線基板としての第1プリント配線基板10、第2プリント配線基板20、第3プリント配線基板30、第4プリント配線基板40、及び第5プリント配線基板50を、例えば熱圧着により一括積層した構造を備えている。
多層配線基板1は、例えば第2及び第5プリント配線基板20,50間にそれぞれ配置された電子部品パッケージ100及び第2の電子部品200を内蔵してなる。すなわち、電子部品パッケージ100及び第2の電子部品200は、第3〜第5プリント配線基板30〜50の積層体350の所定箇所にそれぞれ形成された、パッケージ搭載用の開口部8a及び電子部品搭載用の開口部8bにそれぞれ収容された上で内蔵されている。
この場合、電子部品パッケージ100は、その高さが、積層体350に形成された開口部8aの深さと同等となるように形成されている。換言すれば、電子部品パッケージ100の高さは、第3及び第4プリント配線基板30,40の積層体340の厚さと同等であるといえる。これら積層体340,350は、図示のように複数のプリント配線基板を積層して構成されているが、一つのプリント配線基板により構成されても良い。
なお、積層体350の開口部8bに収容される第2の電子部品200は、例えば第1の電子部品60や電子部品パッケージ100よりも厚さが厚いものである。第1〜第4プリント配線基板10〜40は、例えば片面CCL(片面銅張積層板)からなり、第5プリント配線基板50は、両面CCL(両面銅張積層板)からなる。
第1〜第4プリント配線基板10〜40は、それぞれ絶縁層である第1〜第4樹脂基材11,21,31,41と、これら樹脂基材11〜41の一方の面(片面)に形成された配線パターン等の配線回路12,22,32,42とを備える。第5プリント配線基板50は、絶縁層である第5樹脂基材51と、この樹脂基材51の両方の面(両面)にそれぞれ形成された配線パターン等の配線回路52とを備える。
また、第1〜第4プリント配線基板10〜40は、各樹脂基材11〜41の配線回路12〜42側とは反対側に形成された接着層19,29,39,49と、各樹脂基材11〜41及び接着層19〜49に形成された貫通穴内に導電性ペーストを充填して形成され、各プリント配線基板10〜50の配線回路12〜52を層間接続するための導電性ペーストビア(以下、「ビア」と略記する。)13,23,33,43とを備える。なお、接着層19〜49は、例えばエポキシ系やアクリル系の接着剤など、揮発成分が含まれた有機系接着剤等からなる。
第5プリント配線基板50は、第5樹脂基材51の一方の面側の配線回路52を貫通させることなく、他方の面側の配線回路52側からレーザやドリル等を用いて形成した貫通穴内にめっきを施した構造のレーザビアホール(LVH)のめっきビアからなり、各配線回路52間を接続するビア53を備える。このビア53は、例えば導電材としての銅めっきにより形成されている。
ビア53が上記のようにめっきにより構成された場合、一方の配線回路52上には、図示しないめっき層が形成される。その他、ビア53は、図示は省略するが、第5樹脂基材51に形成された貫通穴内に導電性ペーストを充填して形成されたり、各配線回路52間を貫通するスルーホール(TH)内にめっきを施した構造のめっきスルーホールにより構成されたりしても良い。
第1〜第5樹脂基材11〜52は、例えば樹脂フィルムにより構成されている。樹脂フィルムとしては、例えばポリイミド、ポリアミド、ポリオレフィン、液晶ポリマー(LCP)などからなる樹脂フィルムや、熱硬化性のエポキシ樹脂などからなる樹脂フィルム等を用いることができる。
配線回路12〜52は、例えば銅箔などの導電材をパターン形成してなる。また、ビア13〜53を構成する導電性ペーストは、例えばニッケル、金、銀、銅、アルミニウム、鉄等から選択される少なくとも1種類の低電気抵抗の金属粒子と、錫、ビスマス、インジウム、鉛等から選択される少なくとも1種類の低融点の金属粒子とを含む。そして、これらの金属粒子に、エポキシ、アクリル、ウレタン等を主成分とするバインダ成分を混合したペーストからなる。
このような導電性ペーストは、含有された低融点の金属が例えば200℃以下の温度で溶融し合金を形成することができる。特に、銅や銀などとは金属間化合物を形成することができる特性を備える。従って、各ビア13〜53と配線回路12〜52との接続部は、一括積層の熱圧着時に金属間化合物により合金化される。
なお、導電性ペーストは、例えば粒子径がナノレベルの金、銀、銅、ニッケル等のフィラーが、上記のようなバインダ成分に混合されたナノペーストで構成することもできる。その他、導電性ペーストは、上記ニッケル等の金属粒子が、上記のようなバインダ成分に混合されたペーストで構成することもできる。
この場合、導電性ペーストは、金属粒子同士が接触することで電気的接続が行われる特性となる。なお、導電性ペーストの貫通穴内への充填方法としては、例えば印刷法、スピン塗布工法、スプレー塗布工法、ディスペンス工法、ラミネート工法、及びこれらを併用した各種工法等を用いることができる。
一方、第5プリント配線基板50上に実装(搭載)される電子部品パッケージ100は、図2に示すように、例えば複数の第2のプリント配線基板としての第1層の配線基板110、第2層の配線基板120、第3層の配線基板130、及び第4層の配線基板140を、例えば上記多層配線基板1と同様に熱圧着により一括積層した構造を備えている。
電子部品パッケージ100は、例えば第1層及び第3層の配線基板110,130間に配置された第1の電子部品60を内蔵してなり、パッケージモジュール部品として取り扱うことが可能な構造からなる。この第1の電子部品60は、例えばトランジスタ、集積回路(IC)、ダイオード等の半導体素子からなる。
電子部品パッケージ100の第1層、第2層、第3層及び第4層の配線基板110,120,130,140は、それぞれ絶縁層である第1、第2、第3及び第4絶縁基材111,121,131,141を備える。また、第3層及び第4層の配線基板130,140は、第3及び第4絶縁基材131,141の一方の面にそれぞれ形成された配線パターン等の配線回路132,142を備える。
第1層の配線基板110は、第1絶縁基材111の第2層の配線基板120側の面に形成された接着層119を備え、第1の電子部品60の再配線電極61の形成面側とは反対側の裏面側に配置されている。第2層の配線基板120は、第1の電子部品60を収容するために第2絶縁基材121に形成された開口部129を備えている。なお、第2層の配線基板120の第2絶縁樹脂121は、他の絶縁樹脂111,131,141よりも厚さが厚く形成されている。
第3層及び第4層の配線基板130,140は、第3及び第4絶縁基材131,141の配線回路132,142側とは反対側の面に形成された接着層139,149と、第3及び第4絶縁基材131,141及び各接着層139,149に形成された貫通穴内に導電性ペーストを充填して形成され、第3層及び第4層の配線基板130,140の配線回路132,142や第1の電子部品60の再配線電極61を層間接続するためのビア133,143とを備えている。
なお、第3層の配線基板130のビア133は、第1の電子部品60の再配線電極61の電極ピッチと同等のピッチで形成されている。第3層の配線基板130の配線回路132は、第1の電子部品60の再配線電極61の電極ピッチから、例えば多層配線基板1の第2プリント配線基板20の配線回路22の配線ピッチへとピッチを拡大させる配線パターンで形成されている。
また、第4層の配線基板140の配線回路142及びビア143は、上記多層配線基板1の第2プリント配線基板20の配線回路22及びビア23のピッチと同等のピッチで形成されている。ここで、上記第1層及び第2層の配線基板110,120には、第3層及び第4層の配線基板130,140と同様に、例えば上述したような配線回路やビアが形成されていても良い。
このような構造の電子部品パッケージ100は、第2層の配線基板120の開口部129に第1の電子部品60を、第3層の配線基板130のビア133の端部と第1の電子部品60の再配線電極61とが対向するように収容した上で、第4層の配線基板140のビア143と第3層の配線基板130の配線回路132とが対向するように配置して、第1層〜第4層の配線基板110〜140を一括積層することにより構成される。
従って、電子部品パッケージ100は、第1の電子部品60の再配線電極61の電極ピッチよりも広いピッチで多層配線基板1の配線ピッチと同等のピッチの電極として用いることが可能な配線回路142を、パッケージの最表層に有するように第1層〜第4層の配線基板110〜140を積層して構成されている。なお、電子部品パッケージ100は、多層配線基板1と同一の材料で形成されても、異なる材料で形成されても良い。
ここで、上述したように多層配線基板1の積層体350の開口部8bに収容されて、電子部品パッケージ100と共に内蔵される第2の電子部品200は、例えば抵抗器、コンデンサ、リレー、圧電素子等からなり、第1の電子部品60や電子部品パッケージ100に比べて厚さが厚く形成されている。例えば、第2の電子部品200の厚さが300μm程度であるとすると、第1の電子部品60の厚さは150μm程度に形成されている。
上記のように、積層体350に形成された開口部8a,8bの深さがそれぞれ同等であるとすると、第2の電子部品200は電子部品パッケージ100よりも開口部8bから突出することとなるが、例えば電子部品パッケージ100の高さ(厚さ)を、第2の電子部品200の厚さの80%〜125%程度に設定すれば、多少の誤差は許容範囲内とすることができる。
多層配線基板1は、このように構成されることにより、積層体350の開口部8aの深さと同等の高さの第1の電子部品60を内蔵する電子部品パッケージ100を予め製造し、電子部品搭載用の実装マウンタ装置等を用いて電子部品パッケージ100及び第2の電子部品200をそれぞれ開口部8a,8bに搭載(実装)して内蔵することができるので、電子部品の実装工程を共通化して簡易な方法で内蔵することができ、多層配線基板1を簡易な方法で製造することができる。
また、多層配線基板1は、電子部品パッケージ100において、第1の電子部品60における狭ピッチの電極ピッチで形成された再配線電極61を、これよりも広いピッチで多層配線基板1の配線回路12等の配線ピッチと同等のピッチに拡大させた上で内蔵することができるので、多層配線基板1や電子部品パッケージ100の厚みの増加を抑えつつ第1の電子部品60の周辺に高密度な配線を形成しながら信号の伝送特性の合わせ込みが容易で各部の親和性が良好な多層構造の配線基板を実現することができる。
次に、本実施形態に係る多層配線基板1の製造方法について説明する。
まず、図3に示すように、多層配線基板1に内蔵される電子部品パッケージ100を作製する(ステップS100)。ここで、電子部品パッケージ100は、例えば次のように製造される。すなわち、図4に示すように、電子部品パッケージ100を構成する各部材、この電子部品パッケージ100に内蔵される第1の電子部品60を作製する(ステップS200)。
このステップS200においては、具体的には、第1層〜第4層の配線基板110〜140を作製すると共に、第1の電子部品60を作製する。ここでは、第3層の配線基板130を例に挙げて説明するが、第1層、第2層及び第4層の配線基板110,120,140についても、同様の製造工程で作製することができる。
まず、図5(a)に示すように、第3絶縁基材131の一方の面にベタ状態の銅箔等からなる導体層132aが形成された片面CCLを準備する。次に、導体層132a上にフォトリソグラフィによりエッチングレジストを形成してからエッチングを行って、図5(b)に示すような配線回路132をパターン形成する。
片面CCLは、例えば厚さ12μm程度の銅箔等からなる導体層132aに、厚さ20μm程度の第3絶縁基材131を貼り合わせた構造からなる。導体層132aが銅からなる場合は、片面CCLとしては、例えば公知のキャスティング法により、銅箔にポリイミドのワニスを塗布してそのワニスを硬化させて作製されたものを用いることができる。
その他、片面CCLとしては、ポリイミドフィルム上にシード層をスパッタリングにより形成し、めっきにより銅を成長させて導体層132aを形成したものや、圧延或いは電解銅箔とポリイミドフィルムとを接着剤により貼り合わせて作製されたものなどを用いることもできる。
なお、第3絶縁基材131等の樹脂基材は、必ずしもポリイミドからなるものである必要はなく、上記のような液晶ポリマー等のプラスチックフィルムからなるものであっても良い。また、エッチングには、塩化第二鉄や塩化第二銅などを主成分とするエッチャントを用いることができる。
配線回路132を形成したら、図5(c)に示すように、第3絶縁基材131の他方の面に接着剤を貼り合わせて接着層139を形成し、図5(d)に示すように、接着層139及び第3絶縁基材131を貫通して配線回路132に到達する貫通穴133aを所定箇所に形成して、貫通穴133a内にデスミア処理を施す。
接着層139としては、例えば厚さ25μm程度のエポキシ系熱硬化性樹脂を半硬化状態とした接着剤を用いることができる。貼り合わせの際の加熱圧着には、例えば真空ラミネータを用い、減圧下の雰囲気中にて接着層139が硬化しない温度でプレスして、第3絶縁基材131に接着層139を貼り合わせることが挙げられる。
なお、電子部品パッケージ100の各接着層139等は、上記エポキシ系の熱硬化性樹脂のみならず、エポキシ系熱硬化性樹脂をガラス布等に塗布して半硬化状態としたプリプレグや、種々の樹脂等を用いることができる。貫通穴133aは、例えばUV−YAGレーザを用いて所定箇所に形成される。
貫通穴133aは、その他、炭酸ガスレーザやエキシマレーザなどで形成しても良いし、ドリル加工や化学的なエッチングなどにより形成しても良い。また、デスミア処理は、プラズマデスミアの場合は、CF及びO(四フッ化メタン+酸素)の混合ガスにより行うことができるが、Ar(アルゴン)などのその他の不活性ガスを用いることもできる。また、いわゆるドライ処理ではなく、薬液を用いたウェット処理としても良い。
貫通穴133aを形成したら、図5(e)に示すように、貫通穴133a内に例えばスクリーン印刷等により上述したような導電性ペーストを充填してビア133を形成すれば、図2に示すような第3層の配線基板130を製造することができる。そして、第1層、第2層及び第4層の配線基板110,120,140も同様に製造して準備しておく。
なお、第2層の配線基板120の開口部129は、上記と同様にUV−YAGレーザ等を用いて第1の電子部品60が内蔵される部分の第2絶縁基材121を除去することにより形成される。また、第1の電子部品60は、図示は省略するが、例えば次のように製造される。
まず、無機絶縁層が形成されたダイシング前のウェハを準備する。そして、ウェハの表面に再配線電極61等を形成し、絶縁層等を形成してから検査を行って、薄型化及びダイシングにより個片化することで、第1の電子部品60を製造する。こうして、電子部品パッケージ100を構成する各部材及び第1の電子部品60を製造したら、図5(f)に示すように、これらを位置合わせして積層し(ステップS202)、熱圧着を行う(ステップS204)。
これにより、図2に示すような第1の電子部品60が内蔵され、第1の電子部品60の再配線電極61の電極ピッチを多層配線基板1の配線回路12等の配線ピッチと同等に拡大する配線回路132,142及びビア133,143が形成された電子部品パッケージ100を製造することができる。
このようにして電子部品パッケージ100を作製したら、多層配線基板1を構成する第1〜第5プリント配線基板10〜50を作製する(ステップS102)。各プリント配線基板10〜50は、上記電子部品パッケージ100における各層の配線基板110〜140と同様に製造することができるので、ここでは詳しい説明は省略するが、例えば第3プリント配線基板30は、次のように製造される。
すなわち、図6(a)に示すように、第3樹脂基材31の一方の面に配線回路32をパターン形成した後、図6(b)に示すように、配線回路32と反対側の面に接着層39を形成する。なお、例えば第3樹脂基材31の厚さを20μm程度とし、接着層39の厚さを25μm程度とすれば、第3プリント配線基板30の厚さを45μm程度に形成することができる。他のプリント配線基板10,20,40,50についても、同様の厚さに形成することができる。
次に、図6(c)に示すように、電子部品パッケージ100及び第2の電子部品200を収容する所定箇所に、上記UV−YAGレーザ等により開口部8a,8bを形成し、図6(d)に示すように、接着層39側から配線回路32に到達する貫通穴7を形成した上で、導電性ペーストを貫通穴7内に充填することでビア33を形成し、図6(e)に示すような第3プリント配線基板30を製造する。
同様にして第4プリント配線基板40を製造し、別途製造された第5プリント配線基板50を準備したら、図6(f)に示すように、これらを位置合わせして積層し、図6(g)に示すように、熱圧着により仮圧着して積層体340を含み開口部8a,8bを有する積層体350を形成する(ステップS104)。
その後、図6(h)に示すように、別途製造して準備した電子部品パッケージ100及び第2の電子部品200を、実装マウンタ装置等を用いて開口部8a,8b内に挿入して第5プリント配線基板50上に実装する(ステップS106)。なお、例えば電子部品パッケージ100は、パッケージの最表層の配線回路142が第5プリント配線基板50側とは反対側に位置するように実装される。
同様の観点から、第2の電子部品200についても、部品の電極(図示せず)が、電子部品パッケージ100の配線回路142の位置と同様の位置にあるように実装される。最後に、図6(i)に示すように、第1及び第2プリント配線基板10,20を位置合わせして積層体350の第3プリント配線基板30上に積層した後、熱圧着を施すことにより、図1に示すような本実施形態に係る多層配線基板1を製造する。
このように、本実施形態に係る電子部品内蔵多層配線基板及びその製造方法によれば、電子部品パッケージ100等の位置合わせやハンドリングの信頼性を高めることができると共に、電子部品パッケージ100において、内蔵される第1の電子部品60の再配線電極61の電極ピッチを電子部品内蔵多層配線基板1の配線回路12等の配線ピッチと同等に拡大しているので、配線の信頼性を高めることができる。これにより、簡単に第1の電子部品60等を内蔵して高密度化に対応可能な電子部品内蔵多層配線基板を低コストで製造することができる。
図7は、本発明の他の実施形態に係る電子部品内蔵多層配線基板の構造を示す断面図である。図7に示すように、他の実施形態に係る多層配線基板1は、電子部品パッケージ100に内蔵された第1の電子部品60や第2の電子部品200とは異なる第3の電子部品300を、多層配線基板1の電子部品パッケージ100の内蔵箇所の直上に表面実装している点が、先の実施形態に係る多層配線基板1とは相違している。
第3の電子部品300は、部品の電極(図示せず)の電極ピッチが、多層配線基板1の配線回路12等の配線ピッチと同等のピッチで形成されて表面実装されている。従って、この実施形態に係る多層配線基板1では、第3の電子部品300の電極と電子部品パッケージ100の第1の電子部品60の再配線電極61とが、第1及び第2プリント配線基板10,20の配線回路12,22及びビア13,23を介して電気的に最短経路で接続される。
これにより、電子部品を表面実装する際に、ノイズ低減によるインピーダンス制御を容易にすることが可能となる。なお、第3の電子部品300は、その実体は第1又は第2の電子部品60,200と同様であっても良く、電子部品パッケージ100の多層配線基板1への内蔵態様によっては、例えば内蔵箇所の直下に表面実装されても良い。また、電子部品パッケージ100は、多層配線基板1と同様の材料により構成されているとしたが、異なる材料で構成されていても良い。
1 電子部品内蔵多層配線基板(多層配線基板)
7 貫通穴
8a,8b 開口部
10 第1プリント配線基板
20 第2プリント配線基板
30 第3プリント配線基板
40 第4プリント配線基板
50 第5プリント配線基板
60 第1の電子部品
100 電子部品パッケージ
110 第1層の配線基板
120 第2層の配線基板
130 第3層の配線基板
140 第4層の配線基板
200 第2の電子部品
300 第3の電子部品

Claims (7)

  1. 複数の第1のプリント配線基板を熱圧着により一括積層して構成され、電子部品パッケージを内蔵する電子部品内蔵多層配線基板であって、
    前記電子部品パッケージは、第1の電子部品を内蔵し、この第1の電子部品の電極ピッチよりも広いピッチで前記第1のプリント配線基板の配線ピッチに合わせたピッチの電極をパッケージの最表層に有するように複数の第2のプリント配線基板を積層して構成され、
    前記電子部品内蔵多層配線基板は、前記第1の電子部品よりも厚さが厚い第2の電子部品を含み、
    前記電子部品パッケージの高さは、前記第2の電子部品の厚さの80%〜125%である
    ことを特徴とする電子部品内蔵多層配線基板。
  2. 前記電子部品パッケージは、
    前記複数の第2のプリント配線基板のうち、
    前記第1の電子部品の電極形成面側とは反対側の裏面側に配置される第1層の配線基板、前記第1の電子部品が収容される開口部が形成された第2層の配線基板、前記第1の電子部品の電極ピッチに合わせたピッチの導電性ペーストビアが形成され一方の面に前記第1の電子部品の電極ピッチから前記第1のプリント配線基板の配線ピッチへとピッチを拡大させる電極が形成された第3層の配線基板、及び一方の面に前記第1のプリント配線基板の配線ピッチに合わせたピッチの電極が形成され導電性ペーストビアが形成された第4層の配線基板を、
    前記第2層の配線基板の開口部に前記第1の電子部品を前記第3層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第1の電子部品の電極とが対向するように収容した上で、前記第4層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第3層の配線基板の電極とが対向するように配置して一括積層してなる
    ことを特徴とする請求項1記載の電子部品内蔵多層配線基板。
  3. 前記第2のプリント配線基板は、前記第1のプリント配線基板と同一の材料で形成されている
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の電子部品内蔵多層配線基板。
  4. 前記複数の第1のプリント配線基板のうちの前記電子部品内蔵多層配線基板の中間層に配置される所定の第1のプリント配線基板は、前記第2の電子部品と前記電子部品パッケージとそれぞれ搭載可能な開口部を備え、
    前記第2の電子部品前記電子部品パッケージと各開口部に搭載した上で、前記積層体及び前記第1のプリント配線基板を一括積層してなる
    ことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項記載の電子部品内蔵多層配線基板。
  5. 前記第1及び第2の電子部品とは異なる第3の電子部品を、前記電子部品パッケージの内蔵箇所の直上又は直下に、前記第1のプリント配線基板の配線ピッチに合わせたピッチで形成された前記第3の電子部品の電極と前記電子部品パッケージの電極とが電気的に最短経路で接続されるように表面実装してなる
    ことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項記載の電子部品内蔵多層配線基板。
  6. 複数の第1のプリント配線基板を熱圧着により一括積層して構成され、電子部品パッケージを内蔵する電子部品内蔵多層配線基板の製造方法であって、
    第1の電子部品を内蔵し、この第1の電子部品の電極ピッチよりも広いピッチで前記第1のプリント配線基板の配線ピッチに合わせたピッチの電極をパッケージの最表層に有するように複数の第2のプリント配線基板を積層して前記電子部品パッケージを形成する工程と、
    前記複数の第1のプリント配線基板のうちの所定の第1のプリント配線基板に前記第1の電子部品よりも厚さが厚い第2の電子部品と前記電子部品パッケージそれぞれ搭載可能な開口部を形成し、前記開口部に前記第2の電子部品と前記電子部品パッケージとを搭載した上で、前記複数の第1のプリント配線基板を前記開口部を塞ぐように積層する工程とを備え
    前記電子部品パッケージを形成する工程は、前記電子部品パッケージをその高さが前記第2の電子部品の厚さの80%〜125%となるように形成する
    ことを特徴とする電子部品内蔵多層配線基板の製造方法。
  7. 前記電子部品パッケージを形成する工程では、
    前記複数の第2のプリント配線基板のうち、
    前記第1の電子部品の電極形成面側とは反対側の裏面側に配置される第1層の配線基板、前記第1の電子部品が収容される開口部が形成された第2層の配線基板、前記第1の電子部品の電極ピッチに合わせたピッチの導電性ペーストビアが形成され一方の面に前記第1の電子部品の電極ピッチから前記第1のプリント配線基板の配線ピッチへとピッチを拡大させる電極が形成された第3層の配線基板、及び一方の面に前記第1のプリント配線基板の配線ピッチに合わせたピッチの電極が形成され導電性ペーストビアが形成された第4層の配線基板を、
    前記第2層の配線基板の開口部に前記第1の電子部品を前記第3層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第1の電子部品の電極とが対向するように収容した上で、前記第4層の配線基板の導電性ペーストビアと前記第3層の配線基板の電極とが対向するように配置して一括積層する
    ことを特徴とする請求項記載の電子部品内蔵多層配線基板の製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2016060073A1 (ja) * 2014-10-16 2017-04-27 株式会社村田製作所 複合デバイス
CN112738994A (zh) * 2020-11-24 2021-04-30 鹤山市世拓电子科技有限公司 一种内嵌功率器件的印刷电路板

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103857210A (zh) * 2012-11-28 2014-06-11 宏启胜精密电子(秦皇岛)有限公司 承载电路板、承载电路板的制作方法及封装结构
US9900983B2 (en) 2014-06-18 2018-02-20 Intel Corporation Modular printed circuit board electrical integrity and uses
US9829915B2 (en) 2014-06-18 2017-11-28 Intel Corporation Modular printed circuit board
TWI578416B (zh) * 2015-09-18 2017-04-11 Subtron Technology Co Ltd 封裝載板及其製作方法
JP6626697B2 (ja) * 2015-11-24 2019-12-25 京セラ株式会社 配線基板およびその製造方法
JP2017123459A (ja) * 2016-01-08 2017-07-13 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. プリント回路基板
WO2017142662A1 (en) * 2016-02-16 2017-08-24 Intel Corporation Modular printed circuit board electrical integrity and uses
KR102041661B1 (ko) * 2016-12-06 2019-11-07 삼성전기주식회사 팬-아웃 반도체 패키지
EP3373714B1 (en) * 2017-03-08 2023-08-23 AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Hybrid component carrier and method for manufacturing the same
FR3069127B1 (fr) * 2017-07-13 2019-07-26 Safran Electronics & Defense Carte electronique comprenant des cms brases sur des plages de brasage enterrees
KR102117463B1 (ko) * 2017-08-18 2020-06-02 삼성전기주식회사 팬-아웃 반도체 패키지
EP3468312B1 (en) * 2017-10-06 2023-11-29 AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Method of manufacturing a component carrier having a three dimensionally printed wiring structure
KR102025906B1 (ko) 2017-12-06 2019-11-04 삼성전자주식회사 안테나 모듈
JP7046639B2 (ja) * 2018-02-21 2022-04-04 新光電気工業株式会社 配線基板及びその製造方法
JP2019176118A (ja) * 2018-03-28 2019-10-10 京セラ株式会社 配線基板
JP7103030B2 (ja) * 2018-07-31 2022-07-20 Tdk株式会社 電子部品内蔵パッケージ及びその製造方法
GB201917680D0 (en) * 2019-12-04 2020-01-15 Sinclair Grant Wafr v1
KR20220001568A (ko) * 2020-06-30 2022-01-06 삼성전기주식회사 인쇄회로기판
KR20230075176A (ko) * 2021-11-22 2023-05-31 삼성전기주식회사 인쇄회로기판

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007126090A1 (ja) * 2006-04-27 2009-09-17 日本電気株式会社 回路基板、電子デバイス装置及び回路基板の製造方法
WO2009141927A1 (ja) * 2008-05-23 2009-11-26 イビデン株式会社 プリント配線板及びその製造方法
JP2009289802A (ja) * 2008-05-27 2009-12-10 Tdk Corp 電子部品内蔵モジュール及びその製造方法
JPWO2008136251A1 (ja) * 2007-05-02 2010-07-29 株式会社村田製作所 部品内蔵モジュール及びその製造方法
WO2011102561A1 (ja) * 2010-02-22 2011-08-25 三洋電機株式会社 多層プリント配線基板およびその製造方法
JPWO2010010911A1 (ja) * 2008-07-23 2012-01-05 日本電気株式会社 半導体装置及びその製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11317582A (ja) 1998-02-16 1999-11-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多層配線基板およびその製造方法
JP2003243797A (ja) * 2002-02-19 2003-08-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd モジュール部品
US6972964B2 (en) * 2002-06-27 2005-12-06 Via Technologies Inc. Module board having embedded chips and components and method of forming the same
JP4633129B2 (ja) * 2003-11-11 2011-02-16 オリンパス株式会社 マルチスペクトル画像撮影装置
WO2006046554A1 (ja) * 2004-10-29 2006-05-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. セラミック多層基板及びその製造方法
JP4866061B2 (ja) * 2005-11-07 2012-02-01 パイオニア株式会社 情報記録装置、情報記録方法、情報記録プログラムおよびコンピュータに読み取り可能な記録媒体
JP5107807B2 (ja) * 2008-06-25 2012-12-26 アンリツ株式会社 携帯電話端末用試験装置及び方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007126090A1 (ja) * 2006-04-27 2009-09-17 日本電気株式会社 回路基板、電子デバイス装置及び回路基板の製造方法
JPWO2008136251A1 (ja) * 2007-05-02 2010-07-29 株式会社村田製作所 部品内蔵モジュール及びその製造方法
WO2009141927A1 (ja) * 2008-05-23 2009-11-26 イビデン株式会社 プリント配線板及びその製造方法
JP2009289802A (ja) * 2008-05-27 2009-12-10 Tdk Corp 電子部品内蔵モジュール及びその製造方法
JPWO2010010911A1 (ja) * 2008-07-23 2012-01-05 日本電気株式会社 半導体装置及びその製造方法
WO2011102561A1 (ja) * 2010-02-22 2011-08-25 三洋電機株式会社 多層プリント配線基板およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2016060073A1 (ja) * 2014-10-16 2017-04-27 株式会社村田製作所 複合デバイス
US9960122B2 (en) 2014-10-16 2018-05-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Composite device with substrate and mounted component
CN112738994A (zh) * 2020-11-24 2021-04-30 鹤山市世拓电子科技有限公司 一种内嵌功率器件的印刷电路板

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