JP5577885B2 - 顕微鏡及び合焦点方法 - Google Patents
顕微鏡及び合焦点方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5577885B2 JP5577885B2 JP2010146128A JP2010146128A JP5577885B2 JP 5577885 B2 JP5577885 B2 JP 5577885B2 JP 2010146128 A JP2010146128 A JP 2010146128A JP 2010146128 A JP2010146128 A JP 2010146128A JP 5577885 B2 JP5577885 B2 JP 5577885B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- field stop
- illumination field
- illumination
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
(1)第1の実施形態
(1−1)顕微鏡の構成について
(1−2)照明視野絞りのピント調整処理について
(1−3)ステージ位置の調整処理について
(1−4)明度ムラの補正処理について
(1−5)変形例
<顕微鏡の構成について>
まず、図1を参照しながら、本発明の第1の実施形態に係る顕微鏡1の構成について説明する。図1は、本実施形態に係る顕微鏡1の構成を示した説明図である。
本実施形態に係る顕微鏡1は、図1に例示したように、生体サンプルSPLが配設されるプレパラートPRT全体の像(以下、この像をサムネイル像とも称する。)を撮像するサムネイル像撮像部10と、生体サンプルSPLが所定倍率で拡大された像(以下、この像を拡大像とも称する。)を撮像する拡大像撮像部20と、を有する。また、拡大像撮像部20には、拡大像撮像部20中に存在する照明視野絞りのデフォーカス(defocus)量を検出するためのデフォーカス量検出部30が設けられている。
サムネイル像撮像部10は、図1に示したように、光源11と、対物レンズ12と、撮像素子13と、を主に備える。
拡大像撮像部20は、図1に示したように、光源21と、コンデンサレンズ22と、対物レンズ23と、撮像素子24と、を主に備える。また、拡大像撮像部20には、更に、照明視野絞り(図示せず。)が設けられている。
デフォーカス量検出部30は、図1に示したように、ビームスプリッター31と、コンデンサレンズ32と、2眼レンズ33と、撮像素子34と、を主に備える。
本実施形態に係る顕微鏡1には、図1に示したように、顕微鏡の様々な部位を制御するための制御部が接続されている。具体的には、本実施形態に係る顕微鏡1には、光源11及び光源21を含む、顕微鏡1が備える各種の光源を制御するための照明制御部51が接続されており、ステージ駆動機構41には、ステージ駆動機構41を制御するステージ駆動制御部52が接続されている。また、コンデンサレンズ22には、コンデンサレンズ22の位置制御を行うコンデンサレンズ駆動制御部53が接続されている。更に、位相差像を撮像するための撮像素子34には、位相差像撮像制御部54が接続されており、サムネイル像を撮像するための撮像素子13には、サムネイル像撮像制御部55が接続されている。また、生体サンプルSPLの拡大像を撮像するための撮像素子24には、拡大像撮像制御部56が接続されている。これらの制御部は、各種のデータ通信路を介して制御を行う部位に対して接続されている。
照明制御部51は、本実施形態に係る顕微鏡1が備える各種の光源を制御する処理部である。照明制御部51は、統括制御部50から生体サンプルSPLの照明方法を示す情報が出力されると、取得した照明方法を示す情報に基づいて、対応する光源の照射制御を行う。
ステージ駆動制御部52は、本実施形態に係る顕微鏡1に設けられたステージを駆動するためのステージ駆動機構41を制御する処理部である。ステージ駆動制御部52は、統括制御部50から生体サンプルSPLの撮像方法を示す情報が出力されると、取得した撮像方法を示す情報に基づいて、ステージ駆動機構41の制御を行う。
コンデンサレンズ駆動制御部53は、本実施形態に係る顕微鏡1の拡大像撮像部20に設けられたコンデンサレンズ22を駆動するためのコンデンサレンズ駆動機構42を制御する処理部である。コンデンサレンズ駆動制御部53は、統括制御部50から、照明視野絞りのデフォーカス量に関する情報が出力されると、取得したデフォーカス量に関する情報に基づいて、コンデンサレンズ駆動機構42の制御を行う。
位相差像撮像制御部54は、デフォーカス量検出部30に設けられた撮像素子34の制御を行う処理部である。位相差像撮像制御部54は、明視野モード又は暗視野モードに応じたパラメータを、撮像素子34に設定する。また、位相差像撮像制御部54は、撮像素子34から出力される、撮像素子34の結像面に結像した像に対応する出力信号を取得すると、取得した出力信号を、位相差像に対応する出力信号とする。位相差像撮像制御部54は、位相差像に対応する出力信号を取得すると、取得した信号に対応するデータを統括制御部50に出力する。なお、位相差像撮像制御部54が設定するパラメータとして、例えば、露光の開始タイミング及び終了タイミング(換言すれば、露光時間)等を挙げることができる。
サムネイル像撮像制御部55は、サムネイル像撮像部10に設けられた撮像素子13の制御を行う処理部である。サムネイル像撮像制御部55は、明視野モード又は暗視野モードに応じたパラメータを、撮像素子13に設定する。また、サムネイル像撮像制御部55は、撮像素子13から出力される、撮像素子13の結像面に結像した像に対応する出力信号を取得すると、取得した出力信号を、サムネイル像に対応する出力信号とする。サムネイル像撮像制御部55は、サムネイル像に対応する出力信号を取得すると、取得した信号に対応するデータを統括制御部50に出力する。なお、サムネイル像撮像制御部55が設定するパラメータとして、例えば、露光の開始タイミング及び終了タイミング等を挙げることができる。
拡大像撮像制御部56は、拡大像撮像部20に設けられた撮像素子24の制御を行う処理部である。拡大像撮像制御部56は、明視野モード又は暗視野モードに応じたパラメータを、撮像素子24に設定する。また、拡大像撮像制御部56は、撮像素子24から出力される、撮像素子24の結像面に結像した像に対応する出力信号を取得すると、取得した出力信号を、拡大像に対応する出力信号とする。拡大像撮像制御部56は、拡大像に対応する出力信号を取得すると、取得した信号に対応するデータを統括制御部50に出力する。なお、拡大像撮像制御部56が設定するパラメータとして、例えば、露光の開始タイミング及び終了タイミング等を挙げることができる。
統括制御部50は、上述の各種制御部を含む顕微鏡全体の制御を行う処理部である。以下では、図2を参照しながら、本実施形態に係る統括制御部50の構成について、詳細に説明する。図2は、本実施形態に係る統括制御部50の構成を示したブロック図である。
続いて、図3〜図9を参照しながら、本実施形態に係る顕微鏡1で実施される照明視野絞りのピント調整処理について、詳細に説明する。
まず、図3を参照しながら、本実施形態に係る拡大像撮像部20及びデフォーカス量検出部30の構成の一例について説明する。図3は、本実施形態に係る顕微鏡(より詳細には、拡大像撮像部20及びデフォーカス量検出部30)の光学系を概略的に示した説明図である。
次に、図4〜図6を参照しながら、スライドガラスAと厚みがΔt異なる屈折率nのスライドガラスBを、図3に示した光学系に設置した場合について考える。図4は、本実施形態に係る顕微鏡の光学系を概略的に示した説明図である。図5A及び図5Bは、スライドガラスの厚みと照明視野絞りの結像位置との関係を示した説明図である。図6は、照明視野絞りのピントのズレ度合いを示す特徴量を定式化する際のパラメータについて説明するための説明図である。
Δt×sin(θ’)=(Δt−D)×sin(θ) ・・・(式102)
ビームスプリッター31により光束A’から分岐された光束B’は、光束Bと比較してD×(MI)2だけデフォーカスした状態で、位相差AF光学系301へ入射することとなる。位相差AF光学系301は、図3に示したように、コンデンサレンズ32及び2眼レンズ33を有しており、以下で詳細に説明するように、デフォーカス量を撮像面305の平面方向での移動量Δxとして検出可能である。
特徴量算出部507による集光点シフト量Dの算出処理について説明するに先立ち、まず、図8を参照しながら、照明視野絞りの適切な位置について説明する。
次に、統括制御部50の特徴量算出部507が実施する特徴量の算出処理(すなわち、集光点シフト量Dの算出処理)について、具体的に説明する。以下で説明する本実施形態に係る特徴量算出部507による特徴量算出処理は、位相差像データに記載されている光強度信号に対して行われる信号処理である。この光強度信号は、撮像素子34を構成する各画素が検知した光束の強度(すなわち、受光した光の強度)を表すものであり、撮像素子34を構成する各画素が検知した光の輝度値を表すものであるともいえる。
透過照明後段光学系203内に位置するコンデンサレンズ209の倍率が0である場合、コンデンサレンズシフト量ΔZ=コンデンサレンズAの集光点シフト量となる。そのため、特徴量算出部507は、算出した集光点シフト量Dを表す情報を、コンデンサレンズ駆動制御部53に出力する。コンデンサレンズ駆動制御部53は、取得した集光点シフト量Dに応じてコンデンサレンズ駆動機構42の駆動制御を行い、コンデンサレンズ209をレンズの光軸方向に駆動する。これにより、照明視野絞り205を撮像素子の撮像面上へ結像させることが可能となる。
顕微鏡において複数の試料を観察する際、その試料は厚さ方向にばらつきをもったカバーガラスおよびスライドガラスにて作製される。薄い試料を観察する際、スライドガラスの厚みは1.1mm程度と、カバーガラス厚や試料厚と比較して1桁以上厚く、また厚みも数百μm程度ばらつくことがある。そのため、従来の顕微鏡のようにスライドガラス駆動ステージの上面にスライドガラスを保持し、スライドガラス上方に配置された顕微鏡光学系にて試料を観察した場合、スライドガラスの厚み変化量に応じて試料面から顕微鏡光学系までの距離が変化する。その結果、試料面を観察した画像が、デフォーカスによりボケてしまうという問題があった。
厚み変化量算出部511は、例えば以下のようにして、スライドガラスの厚み変化量Δtを算出することが可能である。
厚み変化量算出部511は、上記式106及び式107に基づいて、位相差像における光強度信号の差の合計Aを算出する。なお、この値Aは、特徴量算出部507が算出する値Aと同一のものであるため、厚み変化量算出部511は、独自にこの値を算出してもよく、特徴量算出部507が算出した値Aを取得して、厚み変化量の算出処理に利用してもよい。
また、厚み変化量算出部511は、例えば以下のようにして、スライドガラスの厚み変化量Δtを算出してもよい。なお、以下で説明する処理では、合焦点状態における位相差像B及び位相差像Cの少なくともいずれか一方のエッジ位置を表す情報(例えば、エッジ位置の座標等)が、記憶部517等に格納されているものとする。
図3等に示したように、スライドガラスの取り付け面がステージ40の結像光学系211側である場合、試料面のデフォーカス量は、スライドガラスの厚み変化量Δtと同一である。従って、厚み変化量算出部511は、算出した厚み変化量Δtを表す情報を、ステージ駆動制御部52に出力する。ステージ駆動制御部52は、取得した厚み変化量Δtに応じてステージ駆動機構41の駆動制御を行い、ステージ40をΔtだけ結像光学系211側へと移動させる。これにより、本実施形態に係る顕微鏡1では、スライドガラスの厚み変化に起因して生じた試料面のピントズレを補正することが可能となる。
前述のように、スライドガラスの厚みは、その変動幅が大きく、かかる厚みの変化に起因して、ある厚みのスライドガラスでは合焦点状態にあった光学系が、ある厚みのスライドガラスでは合焦点状態ではなくなる、といった事態が生じうる。その結果、スライドガラスの厚みの変化に応じて、撮像素子24により撮像される被写体像(拡大像)の明度にもムラが生じる可能性がある。
なお、前述の説明では、コンデンサレンズ駆動機構42により透過照明後段光学系203のコンデンサレンズを駆動する場合について説明したが、照明視野絞り205のピント位置を調整可能であるならば、他のレンズや照明光学系全体を駆動しても良い。
前述の説明では、特徴量算出部507が、位相差像データに記載されている信号強度を利用して特徴量(集光点シフト量D)を算出する場合について説明したが、特徴量算出部507は、以下で説明するような方法を用いて、特徴量を算出してもよい。
10 サムネイル像撮像部
11,21 光源
12,23 対物レンズ
13,24,34 撮像素子
20 拡大像撮像部
22,32 コンデンサレンズ
30 デフォーカス量検出部
31 ビームスプリッター
33 2眼レンズ
40 ステージ
41 ステージ移動機構
42 コンデンサレンズ駆動機構
50 統括制御部
51 照明制御部
52 ステージ駆動制御部
53 コンデンサレンズ駆動制御部
54 位相差像撮像制御部
55 サムネイル像撮像制御部
56 拡大像撮像制御部
201 透過照明前段光学系
203 透過照明後段光学系
205 照明視野絞り
207,209,215 コンデンサレンズ
211 結像光学系
213 コンデンサレンズ(対物レンズ)
217,305 撮像面
301 位相差オートフォーカス光学系
501 サムネイル像取得部
503 位相差像取得部
505 拡大像取得部
507 特徴量算出部
509 エッジ位置検出部
511 厚み変化量算出部
513 明度補正部
515 通信部
517 記憶部
Claims (9)
- 照明視野絞りと、1又は複数の光学素子とを有し、ステージに設けられたサンプルに対して照明光を投影する照明光学系と、
前記サンプルを透過した透過光を撮像する第1の撮像素子と、当該第1の撮像素子に前記透過光を結像させる1又は複数の光学素子と、を有する第1の結像光学系と、
前記第1の結像光学系から前記透過光の一部を分岐する光線分岐部と、分岐された前記透過光の位相差像を撮像する第2の撮像素子と、当該第2の撮像素子に前記分岐された透過光の位相差像を結像させる1又は複数の光学素子と、を有する第2の結像光学系と、
前記照明視野絞りの結像位置を調整する照明視野絞りピント調整部と、
前記第2の撮像素子から出力される出力信号に基づいて、前記照明視野絞りのピントのズレ度合いを表す特徴量を算出する特徴量算出部と、
を備え、
前記位相差像は、前記照明視野絞りの形状に対応する前記第2の撮像素子上に結像した第1の像及び第2の像からなり、
前記特徴量算出部は、前記特徴量として、前記第2の撮像素子における前記第1の像及び前記第2の像のエッジ位置から、前記照明視野絞りのピンボケ量を表わす集光点シフト量を算出し、
前記照明視野絞りピント調整部は、前記特徴量算出部により算出された前記集光点シフト量に応じて、前記照明視野絞りの結像位置を調整する、顕微鏡。 - 前記顕微鏡は、
前記ステージの位置の制御を行う位置制御部と、
前記サンプルが載置されているスライドガラスの厚みの変化量を算出する厚み変化量算出部と、
を更に備え、
前記厚み変化量算出部は、前記第2の撮像素子の各画素における第1の像の出力信号強度と第2の像の出力信号強度との差を利用して、前記厚み変化量を算出し、
前記位置制御部は、前記厚み変化量算出部が算出した前記厚み変化量に基づいて、前記ステージの位置を、前記照明光学系側へ移動させる、請求項1に記載の顕微鏡。 - 前記顕微鏡は、
前記ステージの位置の制御を行う位置制御部と、
前記サンプルが載置されているスライドガラスの厚みの変化量を算出する厚み変化量算出部と、
を更に備え、
前記厚み変化量算出部は、少なくとも合焦時における前記第1の像又は前記第2の像のエッジ位置と得られた第1の像又は前記第2の像のエッジ位置との差を利用して、前記厚み変化量を算出し、
前記位置制御部は、前記厚み変化量算出部が算出した前記厚み変化量に基づいて、前記ステージの位置を、前記照明光学系側へ移動させる、請求項1に記載の顕微鏡。 - 前記厚み変化量算出部は、前記第1の像又は前記第2の像において、前記照明視野絞りの形状のある一方の側のエッジ位置に基づいて、前記厚み変化量を算出する、請求項3に記載の顕微鏡。
- 前記厚み変化量算出部は、前記第1の像及び前記第2の像それぞれにおいて、前記照明視野絞りの形状のある一方の側のエッジ位置に基づいて、前記厚み変化量を算出する、請求項3に記載の顕微鏡。
- 前記厚み変化量算出部は、前記第1の像及び前記第2の像それぞれにおいて、前記照明視野絞りの形状の両側のエッジ位置の和に基づいて、前記厚み変化量を算出する、請求項3に記載の顕微鏡。
- 前記顕微鏡は、前記第1の撮像素子に結像した像の明度を補正する明度補正部を更に備え、
前記明度補正部は、前記照明視野絞りピント調整部により前記照明視野絞りの像が合焦するように前記照明視野絞りが調整された後に撮像された像に対して、予め準備された、明度補正に利用される明度補正パターンを利用して、明度の補正を実施する、請求項1に記載の顕微鏡。 - 前記顕微鏡は、前記第1の撮像素子に結像した像の明度を補正する明度補正部を更に備え、
前記明度補正部は、算出された前記スライドガラスの厚みに基づいて、予め設定された複数の明度補正パターンの中から明度補正に利用する明度補正パターンを選択し、前記明度の補正を実施する、請求項1に記載の顕微鏡。 - 照明視野絞りを有する照明光学系により投影された照明光のうちステージに設けられたサンプルを透過した透過光の一部を分岐して、分岐された前記透過光の位相差像を撮像素子により撮像するステップと、
前記撮像素子から出力された出力信号に基づいて、前記照明視野絞りのピントのズレ度合いを表す特徴量を算出するステップと、
算出された前記特徴量に応じて、前記照明視野絞りの結像位置を調整する照明視野絞りピント調整機構を駆動するステップと、
を含み、
前記位相差像は、前記照明視野絞りの形状に対応する前記第2の撮像素子上に結像した第1の像及び第2の像からなり、
前記特徴量を算出するステップでは、前記特徴量として、前記第2の撮像素子における前記第1の像及び前記第2の像のエッジ位置から、前記照明視野絞りのピンボケ量を表わす集光点シフト量が算出され、
前記照明視野絞りピント調整機構を駆動するステップでは、算出された前記集光点シフト量に応じて、前記照明視野絞りの結像位置を調整する、合焦点方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010146128A JP5577885B2 (ja) | 2010-06-28 | 2010-06-28 | 顕微鏡及び合焦点方法 |
US13/157,718 US8576483B2 (en) | 2010-06-28 | 2011-06-10 | Microscope and focusing method |
CN201110168058.3A CN102298206B (zh) | 2010-06-28 | 2011-06-21 | 显微镜及聚焦方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010146128A JP5577885B2 (ja) | 2010-06-28 | 2010-06-28 | 顕微鏡及び合焦点方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012008450A JP2012008450A (ja) | 2012-01-12 |
JP5577885B2 true JP5577885B2 (ja) | 2014-08-27 |
Family
ID=45352323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010146128A Active JP5577885B2 (ja) | 2010-06-28 | 2010-06-28 | 顕微鏡及び合焦点方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8576483B2 (ja) |
JP (1) | JP5577885B2 (ja) |
CN (1) | CN102298206B (ja) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5272823B2 (ja) * | 2009-03-17 | 2013-08-28 | ソニー株式会社 | 焦点情報生成装置及び焦点情報生成方法 |
JP2012042669A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Sony Corp | 顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 |
DE102011114336A1 (de) * | 2011-09-23 | 2013-03-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem |
US9080855B2 (en) * | 2011-09-23 | 2015-07-14 | Mitutoyo Corporation | Method utilizing image correlation to determine position measurements in a machine vision system |
JP5875812B2 (ja) * | 2011-09-27 | 2016-03-02 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システムおよび照明強度調整方法 |
WO2014112085A1 (ja) | 2013-01-17 | 2014-07-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
WO2014112083A1 (ja) * | 2013-01-17 | 2014-07-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
JP2013142769A (ja) * | 2012-01-11 | 2013-07-22 | Olympus Corp | 顕微鏡システム、オートフォーカスプログラムおよびオートフォーカス方法 |
JP6019998B2 (ja) * | 2012-02-17 | 2016-11-02 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像制御プログラム及び撮像方法 |
CN103852879B (zh) * | 2012-12-03 | 2016-03-30 | 宁波舜宇仪器有限公司 | 一种显微视频图像物镜补偿法 |
EP3333608B1 (en) * | 2013-01-17 | 2021-02-24 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image capturing appartus and focusing method thereof |
CN105008975B (zh) | 2013-01-17 | 2018-06-26 | 浜松光子学株式会社 | 图像取得装置以及图像取得装置的聚焦方法 |
JP2014178357A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Sony Corp | デジタル顕微鏡装置、その撮像方法およびプログラム |
JP2014178403A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Sony Corp | デジタル顕微鏡装置、情報処理方法、および情報処理プログラム |
US10115034B2 (en) * | 2013-05-01 | 2018-10-30 | Life Technologies Holdings Pte Limited | Method and system for projecting image with differing exposure times |
JP6188521B2 (ja) * | 2013-10-02 | 2017-08-30 | 株式会社日立エルジーデータストレージ | 光計測装置 |
GB201318919D0 (en) * | 2013-10-25 | 2013-12-11 | Isis Innovation | Compact microscope |
CN104317041B (zh) * | 2014-09-30 | 2016-11-02 | 无锡微焦科技有限公司 | 一种自聚焦光路系统 |
GB201507021D0 (en) | 2015-04-24 | 2015-06-10 | Isis Innovation | Compact microscope |
US10409046B2 (en) | 2015-11-09 | 2019-09-10 | Bioptigen, Inc. | Illumination field diaphragms for use in microscopes and related methods and systems |
TWI599793B (zh) * | 2015-11-23 | 2017-09-21 | 財團法人金屬工業研究發展中心 | 組織玻片影像掃描系統 |
CN106556350B (zh) | 2016-11-30 | 2019-08-09 | 殷跃锋 | 显微镜载玻片曲面高度值的测算方法以及一种显微镜 |
WO2018224852A2 (en) * | 2017-06-09 | 2018-12-13 | 77 Elektronika Műszeripari Kft. | Combined bright-field and phase-contrast microscopy system and image processing apparatus equipped therewith |
EP3501442A1 (en) * | 2017-12-22 | 2019-06-26 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Method for observing an object, non-transient computer readable storage medium and a medical observation apparatus |
US10247910B1 (en) * | 2018-03-14 | 2019-04-02 | Nanotronics Imaging, Inc. | Systems, devices and methods for automatic microscopic focus |
US10146041B1 (en) * | 2018-05-01 | 2018-12-04 | Nanotronics Imaging, Inc. | Systems, devices and methods for automatic microscope focus |
CN110716301B (zh) * | 2019-01-29 | 2023-07-25 | 浙江大学 | 一种用于显微视觉系统的自动对焦装置及方法 |
CN111399208B (zh) * | 2020-03-31 | 2022-04-26 | 上海澜澈生物科技有限公司 | 生物荧光样本的聚焦拍摄实现方法、显微镜和存储介质 |
WO2023002679A1 (ja) * | 2021-07-19 | 2023-01-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 焦点位置推定システム、焦点位置推定方法、焦点位置推定プログラム、半導体検査システム及び生体観察システム |
CN116430570B (zh) * | 2023-06-13 | 2023-09-01 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 | 光强校正、照明、显微镜成像、硅片缺陷检测装置及方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60103323A (ja) * | 1983-11-11 | 1985-06-07 | Raitoron Kk | 自動焦点調整方法 |
JPH0618771A (ja) * | 1992-07-01 | 1994-01-28 | Sharp Corp | 拡大倍率撮像装置におけるオートフォーカス装置 |
US5932871A (en) * | 1995-11-08 | 1999-08-03 | Olympus Optical Co., Ltd. | Microscope having a confocal point and a non-confocal point, and a confocal point detect method applied thereto |
JP3845164B2 (ja) * | 1996-05-01 | 2006-11-15 | オリンパス株式会社 | 自動焦点調整方法及びその装置 |
US6043475A (en) * | 1996-04-16 | 2000-03-28 | Olympus Optical Co., Ltd. | Focal point adjustment apparatus and method applied to microscopes |
JP3865013B2 (ja) | 1997-10-24 | 2007-01-10 | 株式会社ニコン | 顕微鏡及び顕微鏡遠隔操作システム |
US6339499B1 (en) * | 1998-05-08 | 2002-01-15 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Beam splitter for automatic focusing device |
JP2002185731A (ja) * | 2000-12-18 | 2002-06-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 共焦点光学系を備えたスキャナ用のシェーディング評価用デバイス、シェーディング評価用デバイスを用いた共焦点光学系を備えたスキャナにおけるシェーディング補正データ生成方法およびシェーディング補正方法ならびにシェーディングを補正可能な共焦点光学系を備えたスキャナ |
US20040105000A1 (en) * | 2002-11-29 | 2004-06-03 | Olymlpus Corporation | Microscopic image capture apparatus |
US7345814B2 (en) * | 2003-09-29 | 2008-03-18 | Olympus Corporation | Microscope system and microscope focus maintaining device for the same |
CN101278190B (zh) * | 2005-09-29 | 2012-12-19 | 奥林巴斯株式会社 | 焦点位置决定方法、焦点位置决定装置、微弱光检测装置及微弱光检测方法 |
JP2008268815A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Olympus Corp | 自動合焦装置 |
JP2008276070A (ja) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Olympus Corp | 拡大撮像装置 |
CN104020554B (zh) * | 2009-10-19 | 2017-08-08 | 文塔纳医疗系统公司 | 成像系统和技术 |
-
2010
- 2010-06-28 JP JP2010146128A patent/JP5577885B2/ja active Active
-
2011
- 2011-06-10 US US13/157,718 patent/US8576483B2/en active Active
- 2011-06-21 CN CN201110168058.3A patent/CN102298206B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110317259A1 (en) | 2011-12-29 |
CN102298206B (zh) | 2016-09-21 |
US8576483B2 (en) | 2013-11-05 |
CN102298206A (zh) | 2011-12-28 |
JP2012008450A (ja) | 2012-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5577885B2 (ja) | 顕微鏡及び合焦点方法 | |
US10944896B2 (en) | Single-frame autofocusing using multi-LED illumination | |
US8730315B2 (en) | Microscope apparatus and microscope observation method | |
JP5703609B2 (ja) | 顕微鏡及び領域判定方法 | |
JP6146265B2 (ja) | 顕微鏡システムおよびオートフォーカス方法 | |
JP5504881B2 (ja) | 演算装置、演算方法、演算プログラム及び顕微鏡 | |
JP6798625B2 (ja) | 定量位相画像生成方法、定量位相画像生成装置およびプログラム | |
JP5601539B2 (ja) | 3次元方向ドリフト制御装置および顕微鏡装置 | |
JP2012042669A (ja) | 顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 | |
JP6662529B2 (ja) | 光学機器の連続非同期オートフォーカスのためのシステムおよび方法 | |
EP2572226A1 (en) | Autofocus imaging | |
JP6178656B2 (ja) | 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡 | |
JP2011530094A (ja) | 無染色細胞の顕微鏡画像を向上させるための画像システム及び方法 | |
JP2014178474A (ja) | デジタル顕微鏡装置、その合焦位置探索方法およびプログラム | |
JP5053691B2 (ja) | 標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法 | |
EP3532822B1 (en) | Trans-illumination imaging with use of interference fringes to enhance contrast and find focus | |
JP5696396B2 (ja) | 顕微鏡及びゴースト除去方法 | |
JP5655617B2 (ja) | 顕微鏡 | |
KR102149625B1 (ko) | 촬영 화상 평가 장치 및 방법과, 프로그램 | |
JP2018521360A (ja) | 光学顕微鏡における画像処理のためのシステムおよび方法 | |
JP2011133438A (ja) | 厚み情報取得装置、厚み情報取得方法、厚み情報取得プログラム及び顕微鏡 | |
JP7193989B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2018017970A (ja) | 光シート顕微鏡、及び、光シート顕微鏡の制御方法 | |
CN110658617B (zh) | 使用校正因子的显微成像方法 | |
CN114556182A (zh) | 用于在荧光显微技术中像差校正的方法和装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130516 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140311 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140512 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140610 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140623 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5577885 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |