JP5557905B2 - クロック検出方法及びその装置 - Google Patents

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Description

本発明は、通信技術分野に関し、具体的には、クロック検出方法及びその装置に関する。
デジタル同期ネットワークの高速発展に伴い、通信機器であるクロック(clock)の信頼性及び安全性に対する要求はますます高まっている。
ネットワーク同期とは、ネットワーク内の全てのスイッチノードの全てのデジタルストリームが正確且つ有効にスイッチングできるように、ネットワーク内の全てのスイッチノードのクロック周波数と位相を所定の許容範囲内に制御することを言い、そうしなければ、デジタルスイッチに情報ビットのオーバーフロー及び空き状態が発生し、デジタルストリームのずれによる損失が生じ、データにエラーが発生してしまう。クロック周波数の不一致によるずれは同一のクロックを使用するシステムに全て現れるものであり、その影響は大きく、有効に制御しなければならない。
通信機器において、通常、クロックユニットにホットスタンドバイ保護を行い、クロックユニットのクロック参照ソースも複数存在し、クロックに異常が発生した場合、クロックソースの切り換え及びクロックユニットの切り換えを即時にトリガーできるので、クロックの有効性の検出は極めて重要となる。しかし、既存技術におけるクロックの有効性の検出方法によると、検出回路が外部のディスクリート部品を使用し、PCB(Printed circuit board、プリント回路基板)の多くの空間(レイアウト空間と配線空間を含む)を占め、リソースの占用率が高くなる。
本発明は、既存のクロック検出方法がリソースを占用する率が高い問題を解決できるクロック検出方法およびその装置を提供することを目的とする。
本発明の実施例によると、プログラマブル部品が、ローカルタイムソースにより生成されたソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得するステップと、前記プログラマブル部品が、前記ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、前記参照クロック信号の連続するN(Nは正整数である)個のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジカウント値とハイ電圧レベルカウント値を確定するステップと、前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値との大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、前記検出対象クロック信号が有効であるかを確定するステップと、を含むクロック検出方法を提供する。
前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値の大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて前記検出対象クロック信号が有効であるかを確定するステップが、具体的には、
前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定し、前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えず、また立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えていないと判定した場合、前記検出対象クロック信号が有効であると確定し、前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超え、また立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えていると判定した場合、前記検出対象クロック信号が無効であると確定するステップを含む。
前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えているか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えているかを判定するステップが、具体的には、前記プログラマブル部品が、前記各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて、前記検出対象クロック信号の現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットするハイ電圧レベル期間において、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定するステップを含む。
前記プログラマブル部品は、前記検出対象クロック信号のデューティ比を、前記検出対象クロック信号の、前記連続するN個のハイ電圧レベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値を、前記ソースクロック信号の周波数と前記参照クロック信号の周波数の比の1/2で割った値に確定することができる。
本発明の実施例によると、ソースクロック信号を生成するローカルタイムソースと、前記ソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得し、前記ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、前記参照クロック信号の連続するN個(Nは正整数である)のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジカウント値とハイ電圧レベルのカウント値を確定し、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値との大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、前記検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定するプログラマブル部品と、を含むクロック検出装置を提供する。
前記プログラマブル部品は、前記ソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得する周波数分割器と、前記ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、前記参照クロック信号の各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジでカウントした立ち上がりエッジカウント値を取得し、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルをサンプリングカウントしてハイ電圧レベルカウント値を取得するカウンタと、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値の大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、前記検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定する判決器と、を含む。
前記判決器は、更に、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定する判定ブロックと、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えず、且つ立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えていない場合、前記検出対象クロック信号が有効であると確定し、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超え、且つ立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えている場合、前記検出対象クロック信号が無効であると確定する確定ブロックと、を含む。
前記判定ブロックは、前記各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットしたハイ電圧レベル期間において、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定する。
前記クロック検出装置は、更に、前記検出対象クロック信号のデューティ比を、前記検出対象クロック信号の、前記連続するN個のハイ電圧レベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値を、前記ソースクロック信号の周波数と前記参照クロック信号の周波数の比の1/2で割った値に確定するデューティ比確定ブロックを含む。
本発明の実施例によると、プログラマブル部品を用いてクロックの検出を行うことによって、少ないリソースを占用し、クロック検出の信頼性が向上できる。また、検出対象クロック信号の周波数範囲が広くなり、ソースクロック信号をカウント動作クロックとして検出対象クロック信号の高周波数グリッチによる影響を解消することができる。
更に、本発明の実施例によると、検出対象クロック信号のデューティ比を確定でき、これは既存のクロック検出方法によって実現できないものである。
本発明の実施例に係わるクロック検出方法を示すフローチャートである。 本発明の実施例に係わるステップS103を示すフローチャートである。 本発明の実施例に係わるクロック検出装置の構造を示す図である。 本発明の実施例に係わる他のクロック検出装置の構造を示す図である。 本発明の実施例に係わる判決器403の構造を示す図である。 本発明の実施例に係わるデューティ比確定ブロックを含むクロック検出装置の構造を示す図である。 本発明の具体的な実施例に係わるカウンタの時間序列を示す図である。 本発明の具体的な実施例に係わる他のカウンタの時間序列を示す図である。
前記の既存技術における問題を解決するため、本発明の実施例によると、クロック検出方法及びその装置が提供される。本発明の実施例は、プログラマブル部品を用いてクロックの検出を行うことによって、少ないリソースを占用し、クロック検出の信頼性を向上する。また、検出対象クロック信号の周波数範囲が広くなり、ソースクロック信号をカウント動作クロックとすることによって、検出対象クロック信号の高周波数グリッチによる影響を解消することができる。
図1に示すように、本発明の実施例に係わるクロック検出方法は次のステップを含む。
プログラマブル部品はローカルタイムソースにより生成されるソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を得る(S101)。前記ローカルタイムソースは、例えばローカル水晶振動子などのソースクロック信号を生成するクロックソースである。
プログラマブル部品は、ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、参照クロック信号の連続するN個のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上りエッジカウント値とハイ電圧レベルカウント値を確定する(S102)。但し、Nは正整数であり、即ちNは1以上の整数である。
プログラマブル部品は、検出対象クロック信号の、各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値との大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定する(S103)。
前記クロック検出方法は、プログラマブル部品を用いてクロックの検出を行うので、少ないリソースを占め、クロック検出の信頼性が向上できる。そして、検出対象クロック信号の周波数範囲が広くなり、ソースクロック信号をカウント動作クロックとすることによって、検出対象クロック信号の高周波数グリッチによる影響を解消することができる。ここで、前記のクロック検出方法において、依拠とする参照クロック信号のハイ電圧レベル期間におけるカウント結果が多いほど、クロック検出が正確になり、例えば、参照クロック信号の連続する3個のハイ電圧レベル期間のカウント結果に依拠してクロックを検出することより、参照クロック信号の連続する5個のハイ電圧レベル期間のカウント結果に依拠してクロックを検出した方が更に正確である。
図2に示すように、ステップS103は、更に次のステップを含む。
プログラマブル部品は、検出対象クロック信号の、各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えるかを判定する(S201)。
具体的には、プログラマブル部品は、各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて、検出対象クロック信号の現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットするハイ電圧レベル期間において、検出対象クロック信号の現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えるかを判定する。当該プロセスを経て、各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて2種類のカウント値をラッチし、測定の完全性及び正確性を保証できると共に、0にリセットするハイ電圧レベル期間において判定プロセスを完了し、次のカウントに対する影響を防止できる。
プログラマブル部品は、検出対象クロック信号の、各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超えず、且つ立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えていないと判定した場合、検出対象クロック信号が有効であると確定し、プログラマブル部品は、検出対象クロック信号の、各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超え、且つ立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えていると判定した場合、検出対象クロック信号が無効であると確定する(S202)。
前記のクロック検出方法において、複数のハイ電圧レベル期間のカウント結果に基づいて検出対象クロック信号の有効性を判定するので、測定の正確性を向上できる。
また、プログラマブル部品は、検出対象クロック信号のデューティ比が、検出対象クロック信号の前記連続するN個のレベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値を、ソースクロック信号の周波数と参照クロック信号の周波数の比の1/2で割った値であると確定することができる。当該プロセスによって、検出対象クロック信号のデューティ比を確定でき、これは既存のクロック検出方法によっては実現できないものである。
図3に示すように、本発明の実施例によると、クロック検出装置が提供される。該装置は、ソースクロック信号を生成するローカルタイムソース301と、ソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得し、ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、参照クロック信号の連続するN(Nは正整数である)個のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジカウント値とハイ電圧レベルカウントを確定し、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値との大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定するプログラマブル部品302と、を含む。
前記クロック検出装置は、プログラマブル部品を用いてクロックの検出を行うので、少ないリソースを占め、クロック検出の信頼性が向上できる。また、検出対象クロック信号の周波数範囲が広くなり、ソースクロック信号をカウント動作クロックとするので、検出対象クロック信号の高周波数グリッチによる影響を解消できる。ここで、前記のクロック検出装置において、依拠とする参照クロック信号のハイ電圧レベル期間のカウント結果が多いほど、クロック検出がより正確になる。例えば、参照クロック信号の連続する3個のハイ電圧レベル期間のカウント結果に依拠してクロックを検出する場合に比べ、参照クロック信号の連続する5個のハイ電圧レベル期間のカウント結果に依拠してクロックを検出した方が更に正確である。
その中、図4に示すように、プログラマブル部品302は、ソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得する周波数分割器401と、ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、参照クロック信号の連続するN個のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジにてカウントした立ち上がりエッジカウント値を取得し、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルをサンプリングカウントしてハイ電圧レベルカウント値を取得するカウンタ402と、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値の大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定する判決器403と、を含む。
その中、図5に示すように、判決器403は、更に、検出対象クロック信号の、参照クロック信号の連続するN個のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えるかを判定する判断ブロック501と、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超えず、且つ立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えていない場合、検出対象クロック信号が有効であると確定し、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超え、且つ立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えている場合、検出対象クロック信号が無効であると確定する確定ブロック502と、を含む。
その中、判断ブロック501は、前記各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて検出対象クロック信号の、ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットしたハイ電圧レベル期間において、検出対象クロック信号の現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定する。
図6に示すように、図3に示す装置(または図4に示すクロック検出装置、又は図5に示す判決器403を含むクロック検出装置)は、更に、検出対象クロック信号のデューティ比が、検出対象クロック信号の
前記連続するN個のハイ電圧レベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値を、ソースクロック信号の周波数と参照クロック信号の周波数の比の1/2で割った値であると確定するデューティ比確定ブロック601を含む。
図6に示すクロック検出装置は、検出対象クロック信号のデューティ比を確定することができるが、これは既存のクロック検出装置が実現できないものでもある。
以下、図4に示すクロック検出装置に合わせ、本発明の実施例を詳しく説明する。
図7と図8に示すように、ローカルタイムソースにより生成されたソースクロック信号の周波数が50MHzであり、そのデューティ比が50%であり、ソースクロック信号が周波数分割器401に入力され、検出対象クロック信号の周波数が100KHzであり、検出対象クロック信号がカウンタ402に入力されるとする。以下、本発明の実施例によってクロック検出を行う。
周波数分割器401は、ソースクロック信号に周波数分割を行って周波数が1KHzである参照クロック信号を得る。
カウンタ402は、検出対象クロック信号の、参照クロック信号の連続する3個のハイ電圧レベルA、B、C(図8に示す)期間における立ち上がりエッジをカウントし、検出対象クロック信号の、ハイ電圧レベルA、B、C期間におけるそれぞれの立ち上がりエッジカウント値を取得し、前記立ち上がりエッジカウント値を判決器403に入力する。また、ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、ハイ電圧レベルA、B、C期間におけるハイ電圧レベルを夫々サンプリングし、検出対象クロック信号のハイ電圧レベルA、B、C期間におけるそれぞれのハイ電圧レベルカウント値(例えば、検出対象クロック信号の、ハイ電圧レベルA期間におけるハイ電圧レベルカウント値は12500である)を取得し、前記のハイ電圧レベルカウント値を判決器403に入力する。
判決器403は、ハイ電圧レベルA、B、Cのそれぞれの立下りエッジにおいて、検出対象クロック信号の現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットしたハイ電圧レベル期間において、検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が第2の所定値を超えるかを判定する。
判決器403は、検出対象クロック信号のハイ電圧レベルA、B、C期間におけるハイ電圧レベルカウント値がいずれも第1の所定値を超えず、且つ、立ち上がりエッジカウント値もいずれも第2の所定値を超えていないと判定した場合、検出対象クロック信号が有効であると確定する(図8に示すように、クロック信号が停止し、この時0にセットすることができる)。プログラマブル部品は、検出対象クロック信号のハイ電圧レベルA、B、C期間におけるハイ電圧レベルカウント値がいずれも第1の所定値を超え、且つ立ち上がりエッジカウント値がいずれも第2の所定値を超えていると判定した場合(図8に示すように、クロック信号が停止し、この時1にセットすることができる)、検出対象クロック信号が無効であると確定する。
そして、プログラマブル部品は、検出対象クロック信号のデューティ比を、検出対象クロック信号の、ハイ電圧レベルA期間におけるハイ電圧レベルカウント値12500を、ソースクロック信号の周波数50MHzと参照クロック信号の周波数100KHzの比の1/2で割った値、即ち、12500/〔(50*10e6/1*10e3)*1/2〕に確定することができる。ここで、デューティ比の計算に用いられるハイ電圧レベルカウント値は、検出対象クロック信号の、連続するN個のハイ電圧レベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値であってもよい。
以上は、本発明の好適な実施例に過ぎず、本発明を限定するものではない。当業者であれば本発明に様々な修正や変形が可能である。本発明の主旨や原理内での如何なる修正、置換、改良などは本発明の保護範囲内に含まれる。

Claims (9)

  1. プログラマブル部品が、ローカルタイムソースにより生成されたソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得するステップと、
    前記プログラマブル部品が、前記ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、前記参照クロック信号の連続するN(Nは正整数である)個のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジカウント値とハイ電圧レベルカウント値を確定するステップと、
    前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値との大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、前記検出対象クロック信号が有効であるかを確定するステップと、を含むことを特徴とするクロック検出方法。
  2. 前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値の大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて前記検出対象クロック信号が有効であるかを確定するステップが、具体的には、
    前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定し、
    前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えず、且つ立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えていないと判定した場合、前記検出対象クロック信号が有効であると確定し、前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超え、また立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えていると判定した場合、前記検出対象クロック信号が無効であると確定するステップを含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
  3. 前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えているか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えているかを判定するステップが、具体的には、
    前記プログラマブル部品が、前記各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて、前記検出対象クロック信号の現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットするハイ電圧レベル期間において、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定するステップを含むことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
  4. 前記プログラマブル部品が、前記検出対象クロック信号のデューティ比を、前記検出対象クロック信号の、前記連続するN個のハイ電圧レベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値を、前記ソースクロック信号の周波数と前記参照クロック信号の周波数の比の1/2で割った値に確定するステップを更に含むことを特徴とする、請求項1乃至3の中のいずれかに記載の方法。
  5. ソースクロック信号を生成するローカルタイムソースと、
    前記ソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得し、前記ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、前記参照クロック信号の連続するN個(Nは正整数である)のハイ電圧レベルの各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジカウント値とハイ電圧レベルのカウント値を確定し、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値との大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、前記検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定するプログラマブル部品と、を含むことを特徴とするクロック検出装置。
  6. 前記プログラマブル部品が、
    前記ソースクロック信号に周波数分割を行って参照クロック信号を取得する周波数分割器と、
    前記ソースクロック信号をカウント動作クロックとし、検出対象クロック信号の、前記参照クロック信号の前記各ハイ電圧レベル期間における立ち上がりエッジでカウントした立ち上がりエッジカウント値を取得し、検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルをサンプリングカウントしてハイ電圧レベルカウント値を取得するカウンタと、
    前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と第1の所定値の大きさ関係、及び立ち上がりエッジカウント値と第2の所定値との大きさ関係に基づいて、前記検出対象クロック信号が有効であるか否かを確定する判決器と、を含むことを特徴とする、請求項5に記載の装置。
  7. 前記判決器が、
    前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定する判定ブロックと、
    前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えず、且つ立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えていない場合、前記検出対象クロック信号が有効であると確定し、前記検出対象クロック信号の、前記各ハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超え、且つ立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えている場合、前記検出対象クロック信号が無効であると確定する確定ブロックと、を更に含むことを特徴とする、請求項6に記載の装置。
  8. 前記判定ブロックが、前記各ハイ電圧レベルの立下りエッジにおいて前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値をラッチし、その後、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値と立ち上がりエッジカウント値を0にリセットし、0にリセットしたハイ電圧レベル期間において、前記検出対象クロック信号の、現在のハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値が前記第1の所定値を超えるか、立ち上がりエッジカウント値が前記第2の所定値を超えるかを判定することを特徴とする、請求項7に記載の装置。
  9. 前記検出対象クロック信号のデューティ比を、前記検出対象クロック信号の、前記連続するN個のハイ電圧レベルの中のいずれかのハイ電圧レベル期間におけるハイ電圧レベルカウント値を、前記ソースクロック信号の周波数と前記参照クロック信号の周波数の比の1/2で割った値に確定するデューティ比確定ブロックを更に含むことを特徴とする、請求項5乃至8の中のいずれかに記載の装置。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101582732B (zh) * 2009-06-10 2012-07-04 中兴通讯股份有限公司 一种时钟检测的方法及装置
CN102478610A (zh) * 2010-11-30 2012-05-30 英业达股份有限公司 占空比测量系统与其方法
CN102136832B (zh) * 2011-02-15 2013-04-24 上海华为技术有限公司 时钟信号检测方法及系统
CN102957545B (zh) * 2011-08-17 2017-12-05 中兴通讯股份有限公司 同步网络时钟的维护方法及装置
CN103823505B (zh) * 2014-02-19 2017-08-08 Tcl通讯(宁波)有限公司 时钟频率获取系统和时钟频率获取方法
CN103944786B (zh) * 2014-04-28 2017-05-10 西安空间无线电技术研究所 一种自适应计数时钟数据检测方法
JP2018042032A (ja) 2016-09-05 2018-03-15 東芝メモリ株式会社 受信装置
CN106597096B (zh) * 2016-12-02 2019-07-02 武汉新芯集成电路制造有限公司 一种时钟频率监测方法
CN107729980B (zh) * 2017-10-19 2020-06-30 中南大学 一种波形信号自适应计数方法
CN109597457B (zh) * 2018-12-03 2022-04-19 安徽皖兴通信息技术有限公司 一种基于可编程逻辑器件的时钟检测方法和装置
CN112234958B (zh) * 2020-10-29 2023-06-23 杰华特微电子股份有限公司 一种脉冲信号的占空比检测方法及检测电路
CN112596578A (zh) * 2020-12-08 2021-04-02 北京地平线机器人技术研发有限公司 一种时钟监控电路及监控方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0748647B2 (ja) * 1988-09-20 1995-05-24 日本電気株式会社 デューティ比判別回路
US4975594A (en) * 1989-02-28 1990-12-04 Ag Communication Systems Corporation Frequency detector circuit
JPH02287114A (ja) * 1989-04-27 1990-11-27 Toshiba Micro Electron Kk パルス時間計測用データ平均処理装置
JPH04326410A (ja) * 1991-04-26 1992-11-16 Mitsubishi Electric Corp クロック監視装置
JPH07234742A (ja) * 1994-02-23 1995-09-05 Fuji Facom Corp クロックパルス監視装置
JPH0876877A (ja) * 1994-09-06 1996-03-22 Fujitsu Ltd 異常発振検出回路
JPH08181588A (ja) * 1994-12-22 1996-07-12 Fujitsu Ltd クロック断検出回路
JPH098783A (ja) * 1995-06-16 1997-01-10 Nec Eng Ltd クロック断検出システム
JP3501271B2 (ja) * 1998-06-10 2004-03-02 沖電気工業株式会社 クロック異常検出回路
JP3488153B2 (ja) 1999-10-27 2004-01-19 Necマイクロシステム株式会社 クロックデューティ検査回路およびクロックデューティ検査が可能なマイクロコンピュータ
US6597749B1 (en) * 1999-11-19 2003-07-22 Atmel Corporation Digital frequency monitoring
JP4211195B2 (ja) * 2000-05-17 2009-01-21 沖電気工業株式会社 クロック異常検出回路
JP2003308131A (ja) * 2002-04-16 2003-10-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd クロック監視装置
US7098715B2 (en) * 2003-01-30 2006-08-29 Qualcomm Incorporated Programmable dual-edge triggered counter
JP2004248164A (ja) * 2003-02-17 2004-09-02 Hitachi Kokusai Electric Inc クロック停止監視回路及びクロック停止監視システム
CN1697324B (zh) * 2004-05-10 2010-04-07 华为技术有限公司 传输信号去抖动的实现方法及其装置
US7129757B2 (en) * 2004-11-30 2006-10-31 International Business Machines Corporation Clock frequency detect with programmable jitter tolerance
JP4634307B2 (ja) * 2006-01-12 2011-02-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP4653008B2 (ja) * 2006-04-26 2011-03-16 富士通株式会社 クロック異常検出回路、及びクロック異常検出方法
JP4643551B2 (ja) * 2006-12-20 2011-03-02 富士通株式会社 周波数自動監視回路、電子装置、周波数自動監視方法および周波数自動監視プログラム
US8170165B2 (en) * 2007-12-05 2012-05-01 Agere Systems Inc. Clock calibration in sleep mode
CN101447859B (zh) * 2008-12-26 2012-07-18 华为技术有限公司 检测时钟频率偏差的方法及其装置
CN101582732B (zh) * 2009-06-10 2012-07-04 中兴通讯股份有限公司 一种时钟检测的方法及装置

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