JP5540949B2 - ガスバリア性フィルム、及び有機光電変換素子、有機エレクトロルミネッセンス素子 - Google Patents
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Description
1.0 < O/Si ≦2.3 式(1−1)
バリア層の深さ方向の基材側95%の任意の点において
0.2 < O/Si ≦2.0 式(2−1)
バリア層の深さ方向の全域
0 ≦ N/Si ≦0.8 式(3−1)
2.前記1に記載のガスバリア性フィルムにおいて、さらに以下の式(1−2)、(2−2)を満たすことを特徴とするガスバリア性フィルム。
1.5 < O/Si ≦2.2 式(1−2)
バリア層の深さ方向の基材側95%の任意の点において
1.0 < O/Si ≦2.0 式(2−2)
3.前記ガスバリア性フィルムにおいて、バリア層の表面粗さ(Ra)が、0.1〜10nmであることを特徴とする前記1または2に記載のガスバリア性フィルム。
本発明のガスバリア性フィルムは、基材上に、少なくとも1層のポリシラザンを含有する液を塗布し、これを少なくとも1層のガスバリア層へ改質形成することで得られる。
バリア層の膜厚は、30nm〜1000nmが好ましく、より好ましくは30nm〜500nm、更に好ましくは30nm〜300nm、特には30nm〜150nmである。30nm以上とすると膜厚均一性が良好となり、ガスバリア性能に優れる。1000nm以下にすると、屈曲によるクラックが急激に入ることが少なくなり、500nm以下、300nm以下、150nm以下と薄膜化していくと順次改善される。
本発明に係るガスバリア層はポリシラザン化合物を塗布し、エキシマランプ照射による改質処理によって得られることが好ましい。
基材の少なくとも片面に、ポリシラザン塗布層を設け、該層をエキシマランプ照射により改質してバリア層に転化をはかるガスバリア性フィルムにおいて、XPSの深さ方向の元素比が、以下の関係式(1−1)、(2−1)、(3−1)を満たすことが良いガスバリア性フィルムであることを見出した。
1.0 < O/Si ≦2.3 式(1−1)
バリア層の深さ方向の基材側95%
0.2 < O/Si ≦2.0 式(2−1)
バリア層の深さ方向の全域
0 ≦ N/Si ≦0.8 式(3−1)
ガスバリア層の元素比(組成)の具体的なイメージの1例を図1に示す。
1.0 < O/Si ≦2.3
であると言うことは、この範囲においてどの深さの点においても、O/Si比が、1.0以下、また2,3を超える値を示す深さの部分がないことを意味する。
0.2 < O/Si ≦2.0
であるということは、O/Si比が、0.2以下、また2.0を超える部分がないことを意味する。
0 ≦ N/Si ≦0.8
であると言うことは、N/Si比が、0.8を超える部分がないことを意味する。
1.5 < O/Si ≦2.2 式(1−2)
バリア層の深さ方向の基材側95%
1.0 < O/Si ≦2.0 式(2−2)
バリア層の深さ方向の全域
0 ≦ N/Si ≦0.8 式(3−1)
最も単純な酸化珪素(SiO2)の場合、式(1−1)と(2−1)は2.0となり、式(3−1)は0である。
透過型電子顕微鏡(TEM)による断層面観察と、X線光電子分光法(XPS)による厚み方向の元素分布から行う。
装置:SII製SMI2050
加工イオン:(Ga 30kV)
(TEM観察)
装置:日本電子製JEM2000FX(加速電圧:200kV)
電子線照射時間:5秒から60秒
(スパッタ条件)
イオン種:Arイオン
加速電圧:1kV
(X線光電子分光測定条件)
装置:VGサイエンティフィックス社製ESCALAB−200R
X線アノード材:Mg
出力:600W(加速電圧15kV、エミッション電流40mA)
尚、測定の分解能は0.5nmでありこれに応じた各サンプリング点において、各元素比をプロットすることで得られる。
上述のバリア層表面からのスパッタにより得られた各深さでのXPS測定(Si、O、Nに注目)とTEMによる断層面観察の結果を照合させて、Siを1とした場合の各比(O/Si、N/Si)を算出した。
塗布された膜は溶媒が除去された均一な乾燥膜を得る上で、キュアする態様が好ましい。また、キュア(熱)+エキシマ(光)と改質を逐次分担すると生産性(=作製量/単位時間)が向上する。更に、別の利点として、エキシマ改質前にキュアで一部改質を進めるとエキシマ改質時のパーティクル(汚染物質)発生が抑制可能で比較的高価なエキシマランプ寿命の延命が図れることが分かった(詳細は〈製造プロセスの露点〉の項で後述する。)。キュア温度は、好ましくは60℃〜200℃、更に好ましくは70℃〜160℃である。キュア時間は、好ましくは5秒〜24時間程度、更に好ましくは10秒〜2時間程度である。
先述したように、構成や製造工程によっては、改質処理前のポリシラザン塗布層、及びポリシラザン塗布層に隣接する層の表面または層内に、水分や酸素などの酸素源が多く存在するようである。発明者らの検討の結果、この時、含有水分が多いと、ポリシラザン塗布層をエキシマ光照射により改質してバリア層に転化をはかる際、
(i)バリア層でのシラノール形成に伴うバリア性低下
(ii)バリア改質時のパーティクル発生に伴うバリア性低下と表面粗さUPと表面粗さUPによる折り曲げ耐性低下やバリア積層時の効果の低減
(iii)パーティクル発生に伴う工程汚染
などの課題があり、製造プロセスの露点を適宜調整することにより、これらが改善可能であることを見出した。
(2)ポリシラザン塗膜のキュア時の露点(露点2):−100〜10℃
(3)ポリシラザン塗膜のエキシマ光照射による改質時の露点(露点3):−100〜0℃
更に、製造プロセスの露点を下記に調整すると、より好ましいことを見出した。
(5)露点2:−100℃〜10℃
(6)露点3:−100℃〜−20℃
ここで、露点1の意義について説明すると、溶剤除去時の露点がより高い場合は雰囲気の水蒸気が多いため、結果としてポリシラザン塗布層中(また基材中)の水分を不要に多く含むこととなり上記(i)〜(iii)を悪化させる。また、より低い場合もバリア性が低下している。低い場合の劣化原因は未だ十分特定できていないが、エキシマ光による改質前のキュア(熱時の一部硬膜)はシラノール経由の脱水反応と推測しており、水分が完全に無い状態ではエキシマ改質前のキュア(熱時の一部硬膜)の効果が得られないためと思われる。
先述したように、構成や製造工程によっては、改質処理前のポリシラザン塗布層、及びポリシラザン塗布層に隣接する層や基材の表面または層内に、水分や酸素などの酸素源が多く存在する。
ポリシラザンの酸化処理としては、水蒸気酸化および/または加熱処理(乾燥処理を含む)、紫外線照射による処理等が知られている。
本発明において、好ましい方法として、真空紫外線照射による改質処理が挙げられる。真空紫外線照射による処理は、化合物内の原子間結合力より大きい100〜180nmの光エネルギーを用い、原子の結合を光量子プロセスと呼ばれる光子のみによる作用により、直接切断しながら活性酸素やオゾンによる酸化反応を進行させることで、比較的低温で、膜の形成を行う方法である。
e+Xe→e+Xe*
Xe*+Xe+Xe→Xe2 *+Xe
となり、励起されたエキシマ分子であるXe2 *が基底状態に遷移するときに172nmのエキシマ光を発光する。エキシマランプの特徴としては、放射が一つの波長に集中し、必要な光以外がほとんど放射されないので効率が高いことが挙げられる。加えて発光効率が他の希ガスよりも高いことや大面積へ照射するためのランプを石英ガラスで作製できることからXeエキシマランプを好ましく使用することが出来る。
照射強度が高ければ、光子とポリシラザン内の化学結合が衝突する確率が増え、改質反応を短時間化することができる。また、内部まで侵入する光子の数も増加するため改質膜厚も増加および/または膜質の良化(高密度化)が可能である。但し、照射時間を長くしすぎると平面性の劣化やガスバリア性フィルムの他の材料にダメージを与える場合がある。一般的には、照射強度と照射時間の積で表される積算光量で反応進行具合を考えるが、酸化シリコンの様に組成は同一でも、様々な構造形態をとること材料に於いては、照射強度の絶対値が重要になる場合もある。
照射時間は、任意に設定可能であるが、基材ダメージや膜欠陥生成の観点およびガスバリア性能のバラつき低減の観点から高照度工程での照射時間は0.1秒〜3分間が好ましい。より好ましくは0.5秒〜1分である。
本発明における、真空紫外光照射時の酸素濃度は10ppm〜50000ppm(5%)とすることが好ましい。より好ましくは、1000ppm〜30000ppm(3%)である。前記の濃度範囲より酸素濃度が高いと、酸素過多のガスバリア膜となり、ガスバリア性が劣化する。また前記範囲より低い酸素濃度の場合、大気との置換時間が長くなり生産性を落とすのと同時に、ロール・トゥ・ロールの様な連続生産を行う場合はウエッブ搬送によって真空紫外光照射庫内に巻き込む空気量(酸素を含む)が多くなり、多大な流量のガスを流さないと酸素濃度を調整できなくなってくる。
基材は、ガスバリア層を保持することができる有機材料で形成されたものであれば特に限定されるものではない。
本発明に係る基材表面には、バリア層、もしくはバリア層と基材間に設ける有機層(後述)との密着性の向上を目的としてアンカーコート剤層を形成してもよい。尚、上述した、フィルムメーカーのオプションである易接着層付きフィルムを利用可能な場合は、別途独自にアンカーコート剤層を設ける工程が省略可能である場合があり好ましい。
本発明においては、(1)バリア層と基材との接着性を十分得る。(2)突起等が存在する透明樹脂基板の粗面を平坦化し、あるいは、透明樹脂基板に存在する突起によりバリア層に生じた凹凸やピンホールを埋めて平坦化する。(3)ガスバリア性フィルムの曲げに対する応力を緩和する。などの目的のために、有機層を少なくとも基板とバリア層の間に設けてもよい。このような有機層は、たとえば感光性樹脂を含有する組成物を塗布乾燥後、硬化させて形成されることが、(1)〜(3)の観点より好ましい態様である。
有機層を平滑層としての用いる場合の平滑性は、JIS B 0601で規定される表面粗さで表現される値で、最大断面高さRt(p)が、30nm以下であることが好ましい。この範囲よりも大きい場合には、ポリシラザンを塗布した後の、凹凸を平滑化することが難しくなる場合がある。
本発明において、該有機層は基板とバリア層との間に、ガスバリア性フィルムにかかる応力を緩和するための層として設けても良い。特に、樹脂基板などの上に、前述した本発明の塗布型バリア層を形成する場合、無機酸化物などの前駆体であるポリシラザンなどの塗布膜が、二酸化珪素膜および酸化窒化珪素膜に転化する際、高密度化し、膜の収縮が起こるため、応力が集中することで、バリア層にクラックが発生するなどの問題が生じる場合がある。
好ましい態様の一つは、前述の感光性樹脂中に表面に光重合反応性を有する感光性基が導入された反応性シリカ粒子(以下、単に「反応性シリカ粒子」ともいう)を含むものである。
ブリードアウト防止層は、平滑層を有するフィルムを加熱した際に、フィルム基材中から未反応のオリゴマーなどが表面へ移行して、接触する面を汚染してしまう現象を抑制する目的で、平滑層を有する基材の反対面に設けられる。ブリードアウト防止層は、この機能を有していれば、基本的に平滑層と同じ構成をとっても構わない。
本発明のガスバリア性フィルムは、種々の封止用材料、フィルムとして用いることができる。
本発明の有機電子素子の基本的構成の例を図2に示す。
本発明のガスバリア性フィルムを、有機電子素子として適用する場合について説明する。
本発明のガスバリア性フィルムは、連続生産しロール形態に巻き取ることが出来る(いわゆるロール・トゥ・ロール生産)。その際、バリア層を形成した面に保護シートを貼合して巻き取ることが好ましい。特に有機薄膜素子の封止材として用いる場合、表面に付着したゴミ(パーティクル)が原因で欠陥となる場合が多く、クリーン度の高い場所で保護シートを貼合してゴミの付着を防止することは非常に有効である。併せて、巻取り時に入るバリア層表面への傷の防止に有効である。
作製したガスバリア性フィルムを、25℃50%RHの環境で曲率10cmφとなるようにバリア層のある側の面を内側になるように1回、外側となるように1回屈曲させる変形を1往復とし、100往復繰り返す屈曲処理を施した。次に、ガラスケース内に静置しファンによる送風でガスバリア性フィルムのバタツキが起きないようにした状態で100℃のサーモ機に4時間保管した。
前述のJIS K 7129B法に従って水蒸気透過率を測定には種々の方法が提案されている。例えば、カップ法、乾湿センサー法(Lassy法)、赤外線センサー法(mocon法)が代表として上げられるが、ガスバリア性が向上するに伴って、これらの方法では測定限界に達してしまう場合があり、以下に示方法も提案されている。水蒸気透過率の測定方法は特に限定するところではないが、本発明に於いてはCa法による評価を行った。
Ca法
ガスバリア性フィルムに金属Caを蒸着し、該フィルムを透過した水分で金属Caが腐食される現象を利用する方法。腐食面積とそこに到達する時間から水蒸気透過率を算出する。
大気圧下の試料空間と超高真空中の質量分析計の間で水蒸気の冷却トラップを介して受け渡す方法。
三重水素を用いて水蒸気透過率を算出する方法。
水蒸気または酸素により電気抵抗が変化する材料(例えばCa、Mg)をセンサーに用いて電気抵抗変化とそれに内在する1/f揺らぎ成分から水蒸気透過率を算出する方法。
蒸着装置:日本電子(株)製真空蒸着装置JEE−400
恒温恒湿度オーブン:Yamato Humidic ChamberIG47M
水分と反応して腐食する金属:カルシウム(粒状)
水蒸気不透過性の金属:アルミニウム(φ3〜5mm、粒状)
水蒸気バリア性評価用セルの作製
ガスバリア性フィルム試料のバリア層面に、真空蒸着装置(日本電子製真空蒸着装置JEE−400)を用い、透明導電膜を付ける前のガスバリア性フィルム試料の蒸着させたい部分(12mm×12mmを9箇所)以外をマスクし、金属カルシウムを蒸着させた。その後、真空状態のままマスクを取り去り、シート片側全面にアルミニウムをもう一つの金属蒸着源から蒸着させた。アルミニウム封止後、真空状態を解除し、速やかに乾燥窒素ガス雰囲気下で、厚さ0.2mmの石英ガラスに封止用紫外線硬化樹脂(ナガセケムテックス製)を介してアルミニウム封止側と対面させ、紫外線を照射することで、評価用セルを作製した。また、屈曲前後のガスバリア性の変化を確認するために、上記屈曲の処理を行わなかったガスバリア性フィルムについても同様に、水蒸気バリア性評価用セルを作製した。
以下に示すように、バリアフィルム(試料)を作製/評価した。
基材として、両面に易接着加工された125μmの厚さのポリエステルフィルム(帝人デュポンフィルム株式会社製、テトロンKDL86W)の基材を、170℃で30分アニール加熱処理したものを用いた。
以下の形成方法により、片面にブリードアウト防止層、反対面に平滑層を形成し、バリア性フィルム用基材を得た。
上記基材の片面に、JSR株式会社製 UV硬化型有機/無機ハイブリッドハードコート材 OPSTAR Z7535を塗布、乾燥後の膜厚が4μmになるようにワイヤーバーで塗布した後、硬化条件;1.0J/cm2空気下、高圧水銀ランプ使用、乾燥条件;80℃、3分で硬化を行い、ブリードアウト防止層を形成した。
続けて上記基材の反対面に、JSR株式会社製 UV硬化型有機/無機ハイブリッドハードコート材 OPSTAR Z7527を塗布、乾燥後の膜厚が8μmになるようにワイヤーバーで塗布した後、乾燥条件;80℃、6分で乾燥後、空気雰囲気下、高圧水銀ランプ使用、硬化条件;1.0J/cm2硬化を行い、平滑層を形成した。
(バリア層の形成)
次に、SAMCO社製UVオゾンクリーナー Model UV−1を用いて照射時の雰囲気を窒素置換しながら、オゾン濃度を300ppmとなるように調整して、80℃5分間の表面処理を上記平滑層に行った。この表面処理した平滑層上にポリシラザン層を以下に示す条件で形成した。
パーヒドロポリシラザン(PHPS)(AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製 アクアミカ NN120−20)の10質量%ジブチルエーテル溶液を用い、スピンコート(5000rpm、60秒)にて20℃・露点30℃の条件で塗布・溶剤除去した。次いで、100℃・露点20℃の条件にて5分間、キュアし、ケイ素化合物を含有する膜を形成した。
エキシマ光強度:60mW/cm2(172nm)
試料と光源の距離:1mm
ステージ加熱温度:100℃
酸素濃度:0.1%
露点:20℃
〈ガスバリア性フィルム1−2〜2−5の作製〉
試料1−1と同様に、表1に示す条件で、ガスバリア性フィルム1−2〜2−5の作製を行った。
試料1−1と同様に、表1に示す条件で、尚且つ、バリア層上に再度ポリシラザン層塗布とエキシマ光改質を繰り返し、バリア層を2層積層したガスバリア性フィルム3−1、4−1〜4−3の作製を行った。
本発明のバリア層の平均表面粗さRaは、JIS B 0601に従い、AFM(原子間力顕微鏡)、Digital Instruments社製DI3100を用いて測定した。
得られたガスバリア性フィルムについて、上述した、Ca測定方法で、水蒸気透過率(WVTR)を測定し、以下の評価基準で評価し、結果を表1に示す。
Ca法により得られた水分量から、以下の5段階に分類して、水蒸気遮断性を評価した。
5:水蒸気透過率が1×10−5g/(m2・24h)以上、1×10−4g/(m2・24h)未満である
4:水蒸気透過率が1×10−4g/(m2・24h)以上、1×10−3g/(m2・24h)未満である
3:水蒸気透過率が1×10−3g/(m2・24h)以上、1×10−2g/(m2・24h)未満である
2:水蒸気透過率が1×10−2g/(m2・24h)以上、1×10−1g/(m2・24h)未満である
1:水蒸気透過率が1×10−1g/(m2・24h)以上である。
各試料について、20℃50RH%環境にて、バリア層形成面が外側になる様にして曲率10cmφで、100回の屈曲を繰り返し、次に、ガラスケース内に静置しファンによる送風でガスバリア性フィルムのバタツキが起きないようにした状態で100℃の耐熱試験機に4時間保管した後、上記と同様の方法で水蒸気透過率を測定し、屈曲をしなかった試料の水蒸気透過率(上記水蒸気遮断性の評価で得られた水蒸気透過率)から、下式に従って水蒸気遮断性劣化率を測定し、下記の基準に従って折曲耐熱耐性を評価した。
5:水蒸気遮断性劣化率が10%未満
4:水蒸気遮断性劣化率が10%以上、20%未満
3:水蒸気遮断性劣化率が20%以上、50%未満
2:水蒸気遮断性劣化率が50%以上、70%未満
1:水蒸気遮断性劣化率が70%以上
実施例1で作製したガスバリア性フィルムの試料を用いて、各屈曲耐熱処理有り無しのガスバリア性フィルムを、それぞれ準備し、有機光電変換素子と有機EL素子を作製した。
《有機光電変換素子の作製方法》
実施例1で作製した各屈曲耐熱試験有り無しのガスバリア性フィルムに、インジウム・スズ酸化物(ITO)透明導電膜を150nm堆積したもの(シート抵抗10Ω/□)を、通常のフォトリソグラフィー技術と湿式エッチングとを用いて2mm幅にパターニングし第1の電極を作製した。
実施例1で作製した各屈曲耐熱試験有り無しのガスバリア性フィルムの上に厚さ150nmのITO(インジウムチンオキシド)をスパッタ法により成膜し、フォトリソグラフィー法によりパターニングを行い、第1電極層を形成した。なお、パターンは発光面積が50mm平方になるようなパターンとした。
第1電極層が形成されたガスバリア性フィルムの第1電極層の上に、以下に示す正孔輸送層形成用塗布液を押出し塗布機で塗布した後、乾燥し正孔輸送層を形成した。正孔輸送層形成用塗布液は乾燥後の厚みが50nmになるように塗布した。
塗布工程は大気中、25℃相対湿度50%の環境で行った。
ポリエチレンジオキシチオフェン・ポリスチレンスルホネート(PEDOT/PSS、Bayer社製 Bytron P AI 4083)を純水で65%、メタノール5%で希釈した溶液を正孔輸送層形成用塗布液として準備した。
正孔輸送層形成用塗布液を塗布した後、製膜面に向け高さ100mm、吐出風速1m/s、幅手の風速分布5%、温度100℃で溶媒を除去した後、引き続き、加熱処理装置を用い温度150℃で裏面伝熱方式の熱処理を行い、正孔輸送層を形成した。
引き続き、正孔輸送層迄を形成したガスバリア性フィルムの正孔輸送層の上に、以下に示す白色発光層形成用塗布液を押出し塗布機で塗布した後、乾燥し発光層を形成した。白色発光層形成用塗布液は乾燥後の厚みが40nmになるように塗布した。
ホスト材のH−Aを1.0gと、ドーパント材D−Aを100mg、ドーパント材D−Bを0.2mg、ドーパント材D−Cを0.2mg、100gのトルエンに溶解し白色発光層形成用塗布液として準備した。
塗布工程を窒素ガス濃度99%以上の雰囲気で、塗布温度を25℃とし、塗布速度1m/minで行った。
白色発光層形成用塗布液を塗布した後、製膜面に向け高さ100mm、吐出風速1m/s、幅手の風速分布5%、温度60℃で溶媒を除去した後、引き続き、温度130℃で加熱処理を行い、発光層を形成した。
引き続き、発光層迄を形成したのち、以下に示す電子輸送層形成用塗布液を押出し塗布機で塗布した後、乾燥し電子輸送層を形成した。電子輸送層形成用塗布液は乾燥後の厚みが30nmになるように塗布した。
塗布工程は窒素ガス濃度99%以上の雰囲気で、電子輸送層形成用塗布液の塗布温度を25℃とし、塗布速度1m/minで行った。
電子輸送層はE−Aを2,2,3,3−テトラフルオロ−1−プロパノール中に溶解し0.5質量%溶液とし電子輸送層形成用塗布液とした。
電子輸送層形成用塗布液を塗布した後、製膜面に向け高さ100mm、吐出風速1m/s、幅手の風速分布5%、温度60℃で溶媒を除去した後、引き続き、加熱処理部で、温度200℃で加熱処理を行い、電子輸送層を形成した。
引き続き、形成された電子輸送層の上に電子注入層を形成した。まず、基材を減圧チャンバーに投入し、5×10−4Paまで減圧した。あらかじめ、真空チャンバーにタンタル製蒸着ボートに用意しておいたフッ化セシウムを加熱し、厚さ3nmの電子注入層を形成した。
引き続き、形成された電子注入層の上に第1電極の上に取り出し電極になる部分を除き、形成された電子注入層の上に5×10−4Paの真空下にて第2電極形成材料としてアルミニウムを使用し、取り出し電極を有するように蒸着法にて、発光面積が50mm平方になるようにマスクパターン成膜し、厚さ100nmの第2電極を積層した。
第2電極まで形成したガスバリア性フィルムを、再び窒素雰囲気に移動し、規定の大きさに裁断し、有機EL素子試料No.1−1〜1−4、2−1〜2−5、3−1、4−1〜4−3を作製した。
断裁の方法として、特に限定するところではないが、紫外線レーザー(例えば、波長266nm)、赤外線レーザー、炭酸ガスレーザー等の高エネルギーレーザーによるアブレーション加工で行うことが好ましい。ガスバリア性フィルムは割れやすい無機の薄膜を有しているため、通常のカッターで断裁すると断細部で亀裂が発生することがある。素子の断裁だけでなく、ガスバリア性フィルム単体での断裁も同様である。更には無機層表面に有機成分を含む保護層を設置することでも断裁時のヒビ割れを抑制することが可能である。
作製した有機EL素子に、ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社製異方性導電フィルムDP3232S9を用いて、フレキシブルプリント基材(ベースフィルム:ポリイミド12.5μm、圧延銅箔18μm、カバーレイ:ポリイミド12.5μm、表面処理NiAuメッキ)を接続した。
電極リード(フレキシブルプリント基材)を接続した有機EL素子を、市販のロールラミネート装置を用いて封止部材を接着し、封止済み有機EL素子を製作した。
ジシアンジアミド(DICY)
エポキシアダクト系硬化促進剤
しかる後、封止基板を、取り出し電極および電極リードの接合部を覆うようにして密着・配置して、圧着ロールを用いて圧着条件、圧着ロール温度120℃、圧力0.5MPa、装置速度0.3m/minで密着封止した。
《有機電子素子の評価》
評価は以下の基準で実施した。
《エネルギー変換効率の評価》
上記作製した屈曲を繰り返したバリアフィルム試料と屈曲を行わなかったバリアフィルム試料にそれぞれ該当する有機光電変換素子試料について、ソーラーシミュレーター(AM1.5Gフィルタ)の100mW/cm2の強度の光を照射し、有効面積を4.0mm2にしたマスクを受光部に重ね、IV特性を評価することで、短絡電流密度Jsc(mA/cm2)、開放電圧Voc(V)及びフィルファクターFF(%)を、同素子上に形成した4箇所の受光部をそれぞれ測定し、下記式1に従って求めたエネルギー変換効率PCE(%)の4点平均値を見積もった。
(式1)PCE(%)=〔Jsc(mA/cm2)×Voc(V)×FF(%)〕/100mW/cm2
初期電池特性としての変換効率を測定し、また、性能の経時的低下の度合いを温度60℃、湿度90%RH環境で1000時間保存した加速試験後の変換効率残存率により評価した。
4:70%以上、90%未満
3:40%以上、70%未満
2:20%以上、40%未満
1:20%未満
屈曲を繰り返したバリアフィルム試料にそれぞれ該当する有機素子試料それぞれの評価結果を表1の加速試験前後の評価結果(OPV)の欄に示す。
《輝度の評価》
上記作製した屈曲を繰り返したバリアフィルム試料と屈曲を行わなかったバリアフィルム試料No.1−1〜1−4、2−1〜2−5、3−1、4−1〜4−3にそれぞれ該当するOLED試料No.1−1〜1−4、2−1〜2−5、3−1、4−1〜4−3について、100mW時の輝度(cd/m2)をコニカミノルタセンシング(株)製の分光放射輝度計 CS−2000A を用い計測した。尚、評価の安定のため10点測定の平均値を求めた。
4:70%以上、90%未満
3:40%以上、70%未満
2:20%以上、40%未満
1:20%未満
屈曲を繰り返したバリアフィルム試料にそれぞれ該当する有機素子試料それぞれの評価結果を表1の加速試験前後の評価結果(OLED)の欄に示す。
2 ガスバリア性フィルム
3 第一電極
4 有機機能層
5 第二電極
6 基材
Claims (7)
- 基材の少なくとも片面に、ポリシラザン塗布層を設け、エキシマランプ照射により改質してバリア層に転化し形成することを含むガスバリア性フィルムの製造方法において、該バリア層のXPSの任意の深さ方向で測定される元素比が、以下の式(1−1)、(2−1)、(3−1)を満たし、ポリシラザン塗布および溶剤除去時の露点(露点1)が5〜15℃、同キュア時の露点(露点2)が−100℃〜10℃、かつ、エキシマ改質時の露点(露点3)が−100℃〜0℃、であることを特徴とするガスバリア性フィルムの製造方法。
バリア層の深さ方向の表面側5%の任意の点において
1.0<O/Si≦2.3 式(1−1)
バリア層の深さ方向の基材側95%の任意の点において
0.2<O/Si≦2.0 式(2−1)
バリア層の深さ方向の全域
0 ≦ N/Si ≦0.8 式(3−1) - さらに以下の式(1−2)、(2−2)を満たすことを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
バリア層の深さ方向の表面側5%の任意の点において
1.5<O/Si≦2.2 式(1−2)
バリア層の深さ方向の基材側95%の任意の点において
1.0<O/Si≦2.0 式(2−2) - 前記バリア層の表面粗さ(Ra)が、0.1〜10nmであることを特徴とする請求項1または2に記載の製造方法。
- 前記バリア層の表面粗さ(Ra)が、0.1〜5nmであることを特徴とする請求項3に記載の製造方法。
- 前記露点3が、−100℃〜−20℃であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のガスバリア性フィルムの製造方法。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の製造方法で製造したガスバリア性フィルムを用いたことを特徴とする有機光電変換素子の製造方法。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の製造方法で製造したガスバリア性フィルムを用いたことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
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