JP5857452B2 - バリアーフィルムの製造方法 - Google Patents

バリアーフィルムの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5857452B2
JP5857452B2 JP2011125008A JP2011125008A JP5857452B2 JP 5857452 B2 JP5857452 B2 JP 5857452B2 JP 2011125008 A JP2011125008 A JP 2011125008A JP 2011125008 A JP2011125008 A JP 2011125008A JP 5857452 B2 JP5857452 B2 JP 5857452B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
polysilazane
film
barrier
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011125008A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012250181A (ja
Inventor
河村 朋紀
朋紀 河村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP2011125008A priority Critical patent/JP5857452B2/ja
Publication of JP2012250181A publication Critical patent/JP2012250181A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5857452B2 publication Critical patent/JP5857452B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

本発明は、バリアーフィルムの製造方法に関する。
従来、プラスチック基板やフィルムの表面に、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化珪素等の金属酸化物を含む薄膜(ガスバリアー層)を形成したガスバリアーフィルムは、水蒸気や酸素等の各種ガスによる変質を防止するため、各種ガスの遮断を必要とする物品を包装する用途で用いられている。また、上記包装用途以外にも、各種ガスによる変質を防止するために、太陽電池、液晶表示素子、有機EL素子等の電子デバイスを封止する用途にも使用されている。ガスバリアーフィルムは、ガラス基材と比べてフレキシブル性に優れており、ロール式での生産適性や、電子デバイスの軽量化および取り扱い性の点において優位である。
このようなガスバリアーフィルムを製造する方法としては、主に、プラズマCVD法(Chemical Vapor Deposition:化学気相成長法、化学蒸着法)によってフィルムなどの基材上にガスバリアー層を形成する方法や、ポリシラザンを主成分とする塗布液を基材上に塗布した後に表面処理を施してガスバリアー層を形成する方法、あるいはそれらを併用する方法が知られている。
なかでも製造設備が簡易で、大気圧下で生産可能な方法として、ポリシラザンを含有する塗布液を塗布乾燥した後に、紫外線を照射することで、フィルム上にガスバリアー性を有する層を形成する方法が開示されている(例えば、特許文献1、2参照。)。
これらの発明では、高いガスバリアー性を奏するために、ポリシラザンを含む液体を塗布する湿式法でポリシラザン膜を形成する工程と、そのポリシラザン膜に真空紫外光を照射する工程を、それぞれ1回または2回以上繰り返して、基材上に薄膜を重ねて積層する技術について開示されている。
しかしながら、ポリシラザン膜に真空紫外光を照射する工程中において、ポリシラザン膜表面から昇華したポリシラザンの低分子成分や、ポリシラザンの分解により生じた成分(例えば、アンモニアガス)などが、紫外線照射の条件下で反応してしまい、その反応した成分が固化するなどして真空紫外光を発生する光源に付着し、汚染してしまうという問題があった。特に、連続的に処理を行うことによって、発生した汚染成分が徐々に光源に付着していき、徐々に光量が低下してしまい適正な照射処理を行えず、結果的に十分なバリアー性が得られなくなるという問題があった。
一方、ポリシラザンを必須成分とする組成物を用いて塗膜を形成した後に、塗膜に活性エネルギー線を照射してポリシラザンを硬化する方法において、活性エネルギー線を照射する前および/または後に、その塗膜をカバー材で覆ってポリシラザンを硬化させるという、ポリシラザンの硬化方法が開示されている(例えば、特許文献3参照。)。
特開平10−279362号公報 特開2009−255040号公報 特開2003−275671号公報
しかしながら、上記特許文献3の方法では、カバー材の密着だけでは、ポリシラザン膜から発生する物質を十分に抑制することは困難であった。また、フィルム状のカバー材を用いる場合にはポリシラザン膜が受けるべき紫外線の多くがカバー材に吸収されてしまうために、カバー材を用いない場合と比べて、紫外線の強度を強めなければならなかった。さらには、ポリシラザンの硬化処理が終了後には、このカバー材が不要な廃材として残るという欠点があった。
本発明の目的は、高いバリアー性能を有するバリアーフィルムを、性能が低下することなく連続的に生産することができるバリアーフィルムの製造方法を提供することである。
以上の課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、バリアーフィルムの製造方法であって、
基材上に、少なくともポリシラザンを含有する第1の塗布液を塗布し乾燥してなるポリシラザン含有層を形成し、次いで前記ポリシラザン含有層上に、第2の塗布液を塗布し乾燥してなる拡散抑制層を形成した後に、前記拡散抑制層に真空紫外光を照射することによって、前記ポリシラザン含有層をバリアー層に改質する方法であって、
前記拡散抑制層は、ポリシラザンを含有せず、かつ、Si、Ti、Zrの少なくとも1つを含む金属化合物を含有することを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のバリアーフィルムの製造方法において、
基材上に、少なくともポリシラザンを含有する第1の塗布液を塗布し乾燥してなるポリシラザン含有層を形成し、次いで前記ポリシラザン含有層上に、第2の塗布液を塗布し乾燥してなる拡散抑制層を形成した後に、前記拡散抑制層に真空紫外光を照射することによって、前記ポリシラザン含有層をバリアー層に改質する方法であって、
前記第2の塗布液は、ポリシラザンを含有しており、
前記第1の塗布液と前記第2の塗布液のうち、少なくとも前記第2の塗布液は、ポリシラザンの少なくとも一部を酸化珪素化合物に転化させる反応を促進する触媒を含有し
前記第1の塗布液と前記第2の塗布液とでは、前記第2の塗布液の方が触媒濃度比が高いことを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載のバリアーフィルムの製造方法において、
前記第1の塗布液と前記第2の塗布液とでは、前記第2の塗布液の方が固形分濃度比が高いことを特徴とする。
請求項に記載の発明は、請求項1〜の何れか一項に記載のバリアーフィルムの製造方法において、
前記バリアー層の厚みを、前記拡散抑制層の厚みの3倍以上10倍以下となるように形成することを特徴とする。
本発明によれば、高いバリアー性能を有するバリアーフィルムを、性能が低下することなく連続的に生産することができるバリアーフィルムの製造方法を得ることができる。
本発明に係るバリアーフィルムの一例を示す説明図であり、2層構成のガスバリアー層を有するバリアーフィルムを示している。 本発明に係るバリアーフィルムの一例を示す説明図であり、4層構成のガスバリアー層を有するバリアーフィルムを示している。 ポリシラザン含有層上に形成した拡散抑制層を介して真空紫外光を照射して、ポリシラザン含有層をバリアー層に改質する工程の説明図である。 バリアーフィルムの製造装置の一例を示す概略図である。 バリアーフィルムを用いて有機EL素子を封止した有機ELパネルの一例を示す断面図である。
以下に、本発明を実施するための好ましい形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、発明の範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。
本発明のバリアーフィルムは、例えば、樹脂フィルムなどの基材上に、少なくともポリシラザンを含有する塗布液を塗布し乾燥するなどして設けられたバリアー層を備えており、更にバリアー層の上にポリシラザン由来物質の拡散を抑制するための拡散抑制層を具備しているガスバリアーフィルムである。
このバリアー層は、ポリシラザンを含む液体を塗布し乾燥することでポリシラザン含有層を形成した後に、そのポリシラザン含有層上に形成した拡散抑制層を介して真空紫外光を照射することによって、ポリシラザン含有層を改質してなるポリシラザン改質バリアー層である。
また、基材の平滑性や、基材に対するバリアー層(ポリシラザン含有層)の密着性を向上させるための中間層として、平滑層やアンカーコート層を基材の表面に設けてもよい。
また、基材に傷や汚れが付くことを防止するため耐傷層や、樹脂製の基材が加熱された際に内部から表面へモノマーやオリゴマー等の低分子量成分が析出してしまう、いわゆるブリードアウトを抑制する目的でのブリードアウト防止層を基材の表面に設けてもよい。
具体的に、本発明に係るバリアーフィルム10は、例えば、図1に示すように、基材1の一方の面に平滑層3を備え、その平滑層3上に、バリアー層4と拡散抑制層5が順に積層されてなる2層構成のガスバリアー層を備えている。また、基材1の他方の面にはブリードアウト防止層2を備えている。
また、本発明に係るバリアーフィルム11は、例えば、図2に示すように、基材1の一方の面に平滑層3を備え、その平滑層3上に、バリアー層4、拡散抑制層5、バリアー層4、拡散抑制層5を順に積層してなる4層構成のガスバリアー層を備えている。また、基材1の他方の面にブリードアウト防止層2を備えている。
以下、本発明のバリアーフィルム10、11の構成について詳細に説明する。
(基材)
本実施形態のバリアーフィルムにおける基材1は、可撓性を有する折り曲げ可能なフィルム基材である。この基材1は、ガスバリアー性を有する構成層や各種機能層などを保持することができるフィルム材料であれば特に限定されるものではない。
基材1に用いる樹脂材料としては、例えば、アクリル酸エステル、メタクリル酸エステル、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート(PC)、ポリアリレート、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)、ナイロン(Ny)、芳香族ポリアミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリイミド、ポリエーテルイミド等の樹脂材料からなる樹脂フィルム、有機無機ハイブリッド構造を有するシルセスキオキサンを基本骨格とした耐熱透明フィルム(製品名シルプラス、新日鐵化学株式会社製)、さらには上記したフィルム材料を2層以上積層して成る樹脂フィルム等を用いることができる。
これら樹脂フィルムのうち、コストや入手の容易性の点では、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート(PC)等のフィルムが好ましく用いられる。
また、デバイスを封止する加工工程で高温処理が必要な場合には、耐熱性と透明性を両立した透明ポリイミドのフィルム、例えば東洋紡株式会社製、透明ポリイミド系フィルム・タイプHMや、三菱瓦斯化学株式会社製、透明ポリイミド系フィルム・ネオプリムL L−3430などを好ましく用いることができる。
この基材1の厚さは5〜500μm程度が好ましく、さらに好ましくは25〜250μmである。
また、基材1は透明であることが好ましい。基材1が透明であって基材1上に形成する各種層も透明にすれば、光透過性を有するバリアーフィルムとすることが可能となる。基材1が光透過性を有すれば、有機EL素子の発光光を透過させたり、太陽電池へ向かう太陽光を通過させたりすることが可能になるので、有機EL素子や太陽電池を封止する封止フィルム(透明基板)として好適に用いることができる。
また、上記の樹脂材料を用いた基材1は、未延伸フィルムでもよく、延伸フィルムでもよい。
また、上記の樹脂材料からなる基材1は、従来公知の一般的な製法により製造することが可能である。例えば、材料となる樹脂を押し出し機により溶融し、環状ダイやTダイにより押し出して急冷することにより、実質的に無定形で配向していない未延伸の基材を製造することができる。また、未延伸の基材を一軸延伸、テンター式逐次二軸延伸、テンター式同時二軸延伸、チューブラー式同時二軸延伸等の公知の方法により、基材の流れ(縦軸)方向、または基材の流れ方向と直角(横軸)方向に延伸することにより延伸基材を製造することができる。この場合の延伸倍率は、基材の原料となる樹脂に合わせて適宜選択することできるが、縦軸方向及び横軸方向にそれぞれ2〜10倍であることが好ましい。
(アンカーコート層)
また、本実施形態における基材1の表面には、バリアー層4や平滑層3との密着性を向上させるためのアンカーコート層を形成してもよい。
このアンカーコート層に用いられるアンカーコート剤としては、ポリエステル樹脂、イソシアネート樹脂、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、エチレンビニルアルコール樹脂、ビニル変性樹脂、エポキシ樹脂、変性スチレン樹脂、変性シリコン樹脂、及びアルキルチタネート等を、1種または2種以上併せて使用することができる。これらのアンカーコート剤には、従来公知の添加剤を加えることもできる。そして、上記のアンカーコート剤は、ロールコート、グラビアコート、ナイフコート、ディップコート、スプレーコート等の公知の方法により基材上にコーティングし、溶剤、希釈剤等を乾燥除去することによりアンカーコート層を形成することができる。
このアンカーコート剤の塗布量としては、乾燥状態で0.1〜5g/m程度が好ましい。
(平滑層)
また、本実施形態における基材1の表面には平滑層3を設けてもよい。平滑層3は基材1の一方の面上に形成されている。
平滑層3は、微小な突起等が存在する基材1の粗面を平坦化し、基材1表面の突起等によって基材1に成膜するバリアー層4(ポリシラザン含有層4a)などに凹凸やピンホールが生じないようにするために設けられる。このような平滑層3は、例えば、感光性樹脂を硬化させて形成される。
この平滑層3の形成に用いられる感光性樹脂としては、例えば、ラジカル反応性不飽和結合を有するアクリレート化合物を含有する樹脂組成物、アクリレート化合物とチオール基を有するメルカプト化合物を含有する樹脂組成物、エポキシアクリレート、ウレタンアクリレート、ポリエステルアクリレート、ポリエーテルアクリレート、ポリエチレングリコールアクリレート、グリセロールメタクリレート等の多官能アクリレートモノマーを溶解させた樹脂組成物等が挙げられる。また、上記のような樹脂組成物の任意の混合物を使用することも可能であり、光重合性不飽和結合を分子内に1個以上有する反応性モノマーを含有している感光性樹脂であれば特に制限はない。反応性モノマーは、1種または2種以上の混合物として、あるいは、その他の化合物との混合物として使用することができる。
また、感光性樹脂の組成物は、光重合開始剤を含有する。光重合開始剤は、1種または2種以上の組み合わせで使用することができる。
この平滑層3を基材1の表面に形成する方法は、特に制限はないが、例えば、スピンコーティング法、スプレー法、ブレードコーティング法、ディップ法等のウェットコーティング法、あるいは、蒸着法等のドライコーティング法により形成することが好ましい。
また、平滑層3を形成する際に必要に応じて、上記した感光性樹脂に酸化防止剤、紫外線吸収剤、可塑剤等の添加剤を加えることができる。また、形成した平滑層3への成膜性向上や、平滑層3に成膜された膜のピンホール発生防止等のために適切な樹脂や添加剤を使用してもよい。
なお、感光性樹脂を溶媒に溶解または分散させた塗布液を用いて平滑層3を形成する際に使用する溶媒としては、メタノール、エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、エチレングリコール、プロピレングリコール等のアルコール類、α−もしくはβ−テルピネオール等のテルペン類、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、N−メチル−2−ピロリドン、ジエチルケトン、2−ヘプタノン、4−ヘプタノン等のケトン類、トルエン、キシレン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭化水素類、セロソルブ、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、カルビトール、メチルカルビトール、エチルカルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、トリエチレングリコールモノメチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテート、カルビトールアセテート、エチルカルビトールアセテート、ブチルカルビトールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、2−メトキシエチルアセテート、シクロヘキシルアセテート、2−エトキシエチルアセテート、3−メトキシブチルアセテート等の酢酸エステル類、ジエチレングリコールジアルキルエーテル、ジプロピレングリコールジアルキルエーテル、3−エトキシプロピオン酸エチル、安息香酸メチル、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド等を挙げることができる。
また、平滑層3の平滑性は、JIS B 0601で規定される表面粗さで表現される値で、最大断面高さRt(p)が、10nm以上、30nm以下であることが好ましい。Rtが10nmよりも小さい場合には、後述する珪素化合物(ポリシラザン溶液)を塗布する段階で、ワイヤーバー、ワイヤレスバー等の塗布方式で平滑層表面に塗工手段が接触する場合に、塗布性が損なわれる場合がある。また、Rtが30nmよりも大きい場合には、後述する珪素化合物(ポリシラザン溶液)を塗布した後の凹凸を平滑化することが難しくなる場合がある。
また、平滑層3を形成する際に加える添加剤としての好ましい態様のひとつは、感光性樹脂中に、表面に光重合反応性を有する感光性基が導入された反応性シリカ粒子(以下、単に「反応性シリカ粒子」ともいう)を含むものである。ここで、光重合性を有する感光性基としては、(メタ)アクリロイルオキシ基に代表される重合性不飽和基等を挙げることができる。また感光性樹脂は、この反応性シリカ粒子の表面に導入された光重合反応性を有する感光性基と光重合反応可能な化合物、例えば、重合性不飽和基を有する不飽和有機化合物を含むものであってもよい。また感光性樹脂としては、このような反応性シリカ粒子や重合性不飽和基を有する不飽和有機化合物に適宜汎用の希釈溶剤を混合することによって固形分を調整したものを用いることができる。
ここで、反応性シリカ粒子の平均粒子径としては、0.001〜0.1μmの平均粒子径であることが好ましい。平均粒子径をこのような範囲にすることにより、後述する平均粒子径1〜10μmの無機粒子からなるマット剤と組合せて用いることによって、防眩性と解像性とをバランスよく満たす光学特性と、ハードコート性とを兼ね備えた平滑層3を形成し易くなる。なお、このような効果をより得易くする観点からは、さらに平均粒子径が0.001〜0.01μmの反応性シリカ粒子を用いることがより好ましい。
本実施形態における平滑層3中には、上述の様な無機粒子を質量比として20%以上60%以下含有することが好ましい。20%以上添加することで、バリアー層4との密着性が向上する。一方60%を超えると、フィルムを湾曲させたり、加熱処理を行った場合にクラックが生じたり、バリアーフィルムの透明性や屈折率等の光学的物性に影響を及ぼすことがある。
なお、本実施形態では、重合性不飽和基修飾加水分解性シランが、加水分解性シリル基の加水分解反応によって、シリカ粒子との間に、シリルオキシ基を生成して化学的に結合しているようなものを、反応性シリカ粒子として用いることができる。加水分解性シリル基としては、例えば、アルコキシリル基、アセトキシリル基等のカルボキシリレートシリル基、クロシリル基等のハロゲン化シリル基、アミノシリル基、オキシムシリル基、ヒドリドシリル基等が挙げられる。重合性不飽和基としては、アクリロイルオキシ基、メタクリロイルオキシ基、ビニル基、プロペニル基、ブタジエニル基、スチリル基、エチニイル基、シンナモイル基、マレート基、アクリルアミド基等が挙げられる。
本実施形態において、平滑層3の厚さとしては、1〜10μm、好ましくは2〜7μmであることが望ましい。1μm以上にすることにより、平滑層3を有するバリアーフィルムとしての平滑性を十分なものにし易くなり、10μm以下にすることにより、バリアーフィルムの光学特性のバランスを調整し易くなると共に、平滑層3をバリアーフィルムの一方の面にのみ設けた場合におけるそのバリアーフィルムのカールを抑え易くすることができるようになる。
(バリアー層)
本実施形態におけるバリアー層4には、ポリシラザンを含む液体を塗布し乾燥した塗膜(ポリシラザン含有層4a)に真空紫外光を照射することによってバリアー性を有するポリシラザン改質層に転化した層を用いることができる。
特に、基材1にバリアー層4を形成する方法としては、ポリシラザンを含む液体(第1の塗布液)を塗布し乾燥して形成したポリシラザン含有層4a上に、後述の拡散抑制層5を積層し、その拡散抑制層5の塗膜面側から真空紫外光を照射することによって、ポリシラザン含有層4aをバリアー層4に改質して形成する方法が挙げられる。
(ポリシラザンを含む液体の塗布)
本発明で用いられる「ポリシラザン」とは、珪素−窒素結合を持つポリマーで、Si−N、Si−H、N−H等の結合を有するSiO、Si及び両方の中間固溶体SiO等のセラミック前駆体無機ポリマーである。
そのポリシラザンを含む液体を塗布する塗布方法としては、従来公知の適切な方法が採用され得る。具体例としては、スピンコート法、ロールコート法、フローコート法、インクジェット法、スプレーコート法、プリント法、ディップコート法、流延成膜法、バーコート法、グラビア印刷法等が挙げられる。塗布厚さは、目的に応じて適切に設定され得る。例えば、塗布厚さは、乾燥後の厚さが1nm〜100μm程度であることが好ましく、さらに好ましくは10nm〜10μm程度、最も好ましくは10nm〜1μm程度である。
また、ポリシラザンとしては、基材1の性状を損なわないように塗布するために、比較的低温でセラミック化してシリカに変性する化合物が好ましく、例えば、特開平8−112879号公報に記載の下記一般式(1)で表される単位からなる主骨格を有する化合物が好ましい。
Figure 0005857452
上記一般式(1)において、R、R及びRは、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基、シクロアルキル基、アリール基、アルキルシリル基、アルキルアミノ基またはアルコキシ基を表す。
本発明では、得られるガスバリアー膜(バリアー層4)としての緻密性の観点から、R、R、及びRの全てが水素原子であるパーヒドロポリシラザンが特に好ましい。
また、そのSiと結合する水素原子部分の一部がアルキル基等で置換されたオルガノポリシラザンは、メチル基等のアルキル基を有することにより下地である基材1との接着性が改善され、かつ硬くてもろいポリシラザンによるセラミック膜に靭性を持たせることができ、より膜厚(平均膜厚)を厚くした場合でもクラックの発生が抑えられる利点がある。そこで用途に応じて適宜、パーヒドロポリシラザンとオルガノポリシラザンを選択してよく、混合して使用することもできる。
パーヒドロポリシラザンは、直鎖構造と、6及び8員環を中心とする環構造が存在した構造と推定されている。その分子量は数平均分子量(Mn)で約600〜2000程度(ポリスチレン換算)で、液体または固体の物質があり、その状態は分子量により異なる。これらは有機溶媒に溶解した溶液状態で市販されており、市販品をそのままポリシラザン含有塗布液として使用することができる。
低温でセラミック化するポリシラザンの他の例としては、上記一般式(1)で表される単位からなる主骨格を有するポリシラザンに、珪素アルコキシドを反応させて得られる珪素アルコキシド付加ポリシラザン(例えば、特開平5−238827号公報参照)、グリシドールを反応させて得られるグリシドール付加ポリシラザン(例えば、特開平6−122852号公報参照)、アルコールを反応させて得られるアルコール付加ポリシラザン(例えば、特開平6−240208号公報参照)、金属カルボン酸塩を反応させて得られる金属カルボン酸塩付加ポリシラザン(例えば、特開平6−299118号公報参照)、金属を含むアセチルアセトナート錯体を反応させて得られるアセチルアセトナート錯体付加ポリシラザン(例えば、特開平6−306329号公報参照)、金属微粒子を添加して得られる金属微粒子添加ポリシラザン(例えば、特開平7−196986号公報参照)等が挙げられる。
ポリシラザンを含有する塗布液を調製する有機溶媒としては、ポリシラザンと容易に反応するようなアルコール系や水分を含有するものを用いることは好ましくない。従って、具体的には、脂肪族炭化水素、脂環式炭化水素、芳香族炭化水素等の炭化水素溶媒、ハロゲン化炭化水素溶媒や、脂肪族エーテル、脂環式エーテル等のエーテル類が使用できる。詳しくは、ペンタン、ヘキサン、シクロヘキサン、トルエン、キシレン、ソルベッソ、ターベン等の炭化水素、塩化メチレン、トリクロロエタン等のハロゲン炭化水素、ジブチルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラン等のエーテル類等がある。これらの有機溶媒は、ポリシラザンの溶解度や有機溶媒の蒸発速度等の特性にあわせて選択し、複数の有機溶媒を混合してもよい。
ポリシラザン含有の塗布液中におけるポリシラザン濃度は、目的とするポリシラザン含有層4a(バリアー層4)の膜厚や塗布液のポットライフによっても異なるが、0.2〜35質量%程度であることが好ましい。
ポリシラザン含有の塗布液中には、ポリシラザンが酸化珪素化合物へ転化する反応を促進するため、アミンや金属の触媒を添加することもできる。具体的には、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製のアクアミカ NAX120−20、NN110、NN310、NN320、NL110A、NL120A、NL150A、NP110、NP140、SP140等が挙げられる。
(触媒)
ポリシラザン含有層4aをバリアー層4に改質するために、ポリシラザン含有層4a中のポリシラザンの少なくとも一部を酸化珪素化合物に転化させる反応を促進する触媒を用いてもよい。
本発明に好ましく用いられる前記触媒は、特開平10−279362号公報に記載のニッケル、チタン、白金、ロジウム、コバルト、鉄、ルテニウム、オスミウム、パラジウム、イリジウム、アルミニウムの群から選択される少なくとも1種の金属を含む金属カルボン酸塩を反応させて得られる金属カルボン酸塩、またニッケル、白金、パラジウム又はアルミニウムを含むアセチルアセトナート錯体、またAu、Ag、Pd、Niをはじめとする金属の微粒子、またメチルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、エチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、プロピルアミン、ジプロピルアミン、トリプロピルアミン、ブチルアミン、ジブチルアミン、トリブチルアミン、ペンチルアミン、ジペンチルアミン、トリペンチルアミン、ヘキシルアミン、ジヘキシルアミン、トリヘキシルアミン、ヘプチルアミン、ジヘプチルアミン、トリヘプチルアミン、オクチルアミン、ジオクチルアミン、トリオクチルアミン、フェニルアミン、ジフェニルアミン、トリフェニルアミン、等が挙げられる。なお、これらアミン化合物に含まれる炭化水素鎖は、直鎖であっても分枝鎖であってもよい。またピリジン類の具体例として、ピリジン、α−ピコリン、β−ピコリン、γ−ピコリン、ピペリジン、ルチジン、ピリミジン、ピリダジン、等が挙げられる。さらに、DBU(1,8−ジアザビシクロ〔5.4.0〕−7−ウンデセン)、DBN(1,5−ジアザビシクロ〔4.3.0〕−5−ノネン)、等も使用することができる。また酸化合物の具体例としては、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、マレイン酸、ステアリン酸、等の有機酸、塩酸、硝酸、硫酸、過酸化水素、等の無機酸、等が挙げられる。
これら触媒のポリシラザンに対する添加量は、ポリシラザンを含む液体(例えば第1の塗布液)中の固形分濃度比率として、ポリシラザン重量に対して0ppm以上5%未満であることが好ましい。さらに好ましくは、100ppm以上3%以下である。
本発明に用いるポリシラザン含有の塗布液(第1の塗布液)により形成されたポリシラザン含有層4aは、改質処理前または改質処理中に含まれる水分の量が制御されていることが好ましい。
改質処理前または改質処理中にポリシラザン含有層4a中に入りうる水分の供給としては、例えば塗布基材表面からの移行、あるいは雰囲気中の水蒸気の吸収がある。基材側からポリシラザン含有層4a中に移行する水分の制御は、ポリシラザン含有の塗布液を塗布する前に基材を一定の温度湿度環境下で保存して、含水量を所望の値に制御することができる。所望の値は、後述の雰囲気中の湿度によって異なるが、通常、重量として1000ppm以下、好ましくは、300ppm以下である。
ポリシラザン含有の塗布液(第1の塗布液)を基材上に塗布乾燥する工程においては、主に有機溶媒を取り除くため、乾燥条件を熱処理等の方法で適宜決めることができ、熱処理温度は迅速処理の観点から高い温度であることが好ましいが、樹脂フィルムである基材1に対する熱ダメージを考慮し、温度と処理時間を適宜決定することが好ましい。例えば、基材1として、ガラス転位温度(Tg)が70℃のポリエチレンテレフタレート基材を用いる場合には、熱処理温度は150℃以下を設定することができる。処理時間は溶媒が除去され、かつ基材1への熱ダメージが少なくなるように短時間に設定することが好ましく、熱処理温度が150℃以下であれば30分以内に設定することができる。
ポリシラザン含有の塗布液(第1の塗布液)を基材上に塗布乾燥する工程における雰囲気は、比較的低湿に制御されていることが好ましいが、低湿度環境における湿度は温度により変化するので、温度と湿度の関係は露点温度の規定により好ましい形態が示される。好ましい露点温度は4℃以下(温度25℃/湿度25%)で、より好ましい露点温度は−8℃(温度25℃/湿度10%)以下、さらに好ましい露点温度は−31℃(温度25℃/湿度1%)以下である。また、水分を取り除きやすくするため、減圧乾燥してもよい。減圧乾燥における圧力は常圧〜0.1MPaを選ぶことができる。
(ポリシラザンの改質処理・真空紫外光照射処理)
本発明におけるポリシラザンの改質処理とは、ポリシラザン化合物の一部または全部が、酸化珪素または酸化窒化珪素への転化する反応をいう。
この改質処理は、ポリシラザンの転化反応に基づく公知の方法を選ぶことができる。ポリシラザン化合物の置換反応による酸化珪素膜または酸化窒化珪素膜の形成には450℃以上の高温が必要であり、樹脂フィルムを基材1に用いたフレキシブル基板においては、適応が難しい。従って、本発明のバリアーフィルムを作製するに際しては、プラスチック基板への適応という観点から、より低温で、転化反応が可能な紫外光を使う転化反応が好ましい。
本発明におけるバリアーフィルムの製造方法において、水分が取り除かれたポリシラザン塗膜(ポリシラザン含有層4a)は紫外光照射による処理で改質される。紫外線(紫外光と同義)によって生成されるオゾンや活性酸素原子は高い酸化能力を有しており、低温で高い緻密性と絶縁性を有する酸化珪素膜または酸化窒化珪素膜を形成することが可能である。
この紫外光照射により、セラミックス化に寄与するOとHOや、紫外線吸収剤、ポリシラザン自身が励起、活性化される。そして、励起したポリシラザンのセラミックス化が促進され、得られるセラミックス膜が緻密になる。紫外光照射は、塗膜形成後であればいずれの時点で実施しても有効である。
本発明での真空紫外光照射処理には、常用されているいずれの紫外線発生装置を使用することが可能である。なお、本発明でいう紫外光とは、一般には、真空紫外光とよばれる10〜200nmの波長を有する電磁波を含む紫外光をいう。
真空紫外光の照射は、照射される改質前のポリシラザン含有層4aを担持している基材1がダメージを受けない範囲で、照射強度や照射時間を設定することが好ましい。
基材1にプラスチックフィルムを用いた場合を例にとると、例えば、2kW(80W/cm×25cm)のランプを用い、基材表面の強度が20〜300mW/cm、好ましくは50〜200mW/cmになるように基材−紫外線照射ランプ間の距離を設定し、0.1秒〜10分間の照射を行うことができる。
一般に、紫外線照射処理時の基材温度が150℃以上になると、プラスチックフィルム等の場合には、基材1が変形したりその強度が劣化したりするなど、基材1の特性が損なわれることになる。しかしながら、ポリイミド等の耐熱性の高いフィルムなどの場合には、より高温での改質処理が可能である。従って、この紫外線照射時の基材温度としては、一般的な上限はなく、基材1の種類によって当業者が適宜設定することができる。また、紫外線照射雰囲気に特に制限はなく、空気中で実施すればよい。
このような紫外線の発生手段としては、例えば、メタルハライドランプ、高圧水銀ランプ、低圧水銀ランプ、キセノンアークランプ、カーボンアークランプ、エキシマランプ、UV光レーザー等が挙げられるが、特に限定されない。また、発生させた紫外線を改質前のポリシラザン含有層4aに照射する際には、効率向上と均一な照射を達成する観点から、発生源からの紫外線を反射板で反射させてから改質前のポリシラザン含有層4aに当てることが望ましい。
紫外線照射は、バッチ処理にも連続処理にも適合可能であり、使用する基材1の形状によって適宜選定することができる。ポリシラザン含有層4aを有する基材1が長尺フィルム状である場合には、これを搬送させながら上記のような紫外線発生源を具備した乾燥ゾーンで連続的に紫外線を照射することによりセラミックス化することができる。紫外線照射に要する時間は、使用する基材1やポリシラザン改質層(ポリシラザン含有層4a、バリアー層4)の組成、濃度にもよるが、一般に0.1秒〜10分であり、好ましくは0.5秒〜3分である。
また、真空紫外光(VUV)を照射する際の、酸素濃度は300ppm〜10000ppm(1%)とすることが好ましく、更に好ましくは、500ppm〜5000ppmである。このような酸素濃度の範囲に調整することにより、酸素過多のバリアー層4の生成を防止してバリアー性の劣化を防止することができる。
真空紫外光(VUV)照射時にこれら酸素以外のガスとしては乾燥不活性ガスを用いることが好ましく、特にコストの観点から乾燥窒素ガスにすることが好ましい。
酸素濃度の調整は照射庫内へ導入する酸素ガス、不活性ガスの流量を計測し、流量比を変えることで調整可能である。
具体的に、本発明における改質前のポリシラザン含有層4aの改質処理方法は、真空紫外光照射による処理である。真空紫外光照射による処理は、ポリシラザン化合物内の原子間結合力より大きい100〜200nmの光エネルギーを用い、好ましくは100〜180nmの波長の光のエネルギーを用い、原子の結合を光量子プロセスと呼ばれる光子のみの作用により、直接切断しながら活性酸素やオゾンによる酸化反応を進行させることで、比較的低温で酸化珪素膜の形成を行う方法である。これに必要な真空紫外光源としては、希ガスエキシマランプが好ましく用いられる。
なお、Xe、Kr、Ar、Ne等の希ガスの原子は化学的に結合して分子を作らないため、不活性ガスと呼ばれる。しかし、放電等によりエネルギーを得た希ガスの原子(励起原子)は他の原子と結合して分子を作ることができる。希ガスがキセノンの場合には、
e+Xe→e+Xe
Xe+Xe+Xe→Xe +Xe
となり、励起されたエキシマ分子であるXe が基底状態に遷移するときに172nmのエキシマ光(真空紫外光)を発光する。
エキシマランプの特徴としては、放射が一つの波長に集中し、必要な光以外がほとんど放射されないので効率が高いことが挙げられる。また、余分な光が放射されないので、対象物の温度を低く保つことができる。さらには始動・再始動に時間を要さないので、瞬時の点灯点滅が可能である。
エキシマ発光を得るには、誘電体バリアー放電を用いる方法が知られている。誘電体バリアー放電とは、両電極間に誘電体(エキシマランプの場合は透明石英)を介してガス空間を配し、電極に数10kHzの高周波高電圧を印加することによりガス空間に生じる雷に似た非常に細いmicro dischargeと呼ばれる放電である
また、効率よくエキシマ発光を得る方法としては、誘電体バリアー放電以外には無電極電界放電も知られている。無電極電界放電とは、容量性結合による放電であり、別名RF放電とも呼ばれる。ランプと電極及びその配置は、基本的には誘電体バリアー放電と同じでよいが、両極間に印加される高周波は数MHzで点灯される。無電極電界放電はこのように空間的にまた時間的に一様な放電が得られる。
そして、Xeエキシマランプは、波長の短い172nmの紫外線を単一波長で放射することから発光効率に優れている。この光は、酸素の吸収係数が大きいため、微量な酸素でラジカルな酸素原子種やオゾンを高濃度で発生することができる。また、有機物の結合を解離させる波長の短い172nmの光のエネルギーは能力が高いことが知られている。この活性酸素やオゾンと紫外線放射が持つ高いエネルギーによって、短時間でポリシラザン膜の改質を実現できる。従って、波長185nm、254nmの紫外線を発する低圧水銀ランプやプラズマ洗浄と比べて、高スループットに伴うプロセス時間の短縮や設備面積の縮小、熱によるダメージを受けやすい有機材料やプラスチック基板、樹脂フィルム等への照射を可能としている。
また、エキシマランプは光の発生効率が高いため、低い電力の投入で点灯させることが可能である。また、光による温度上昇の要因となる波長の長い光は発せず、紫外線領域で単一波長のエネルギーを照射するため、照射対象物の表面温度の上昇が抑えられる特徴を有する。このため、熱の影響を受けやすいとされるポリエチレンテレフタレート等の樹脂フィルムを基材1とするバリアーフィルムへの照射に適している。
しかしながら、このようなエキシマランプは、ポリシラザンを改質する効率、特にバリアー性を有する酸化珪素膜または酸化窒化珪素膜への改質効率が高い反面、真空紫外光照射時のエネルギーによって、塗膜であるポリシラザン含有層4a中のポリシラザンの一部の昇華や、ポリシラザンが雰囲気中の水、酸素と反応した副生成物の発生を伴う。
これら発生した物質(昇華したポリシラザンや副生成物)がエキシマランプの真空紫外光によって更に反応するなどして、エキシマランプとポリシラザン含有層4aの間の空間で、酸化珪素または酸化窒化珪素化合物や、アンモニアまたは硝酸塩などを含有した化合物を生成することがある。そのため、ポリシラザン含有層4aが露出している面にエキシマランプで紫外光を直に照射した場合、エキシマランプとポリシラザン含有層4aの間の空間で生成した反応生成物の固体成分がエキシマランプ表面に付着してしまう汚染が生じることにより、真空紫外光の照度が低下してしまうことがあるという問題がある。
このようなエキシマランプの汚染を抑制する手段としては、例えば、ポリシラザン含有層4aを形成する第1の塗布液に前述の触媒を、塗布液中の固形分濃度比率としてポリシラザン重量に対し5%以上添加することが有効である。ポリシラザン含有層4aを形成する第1の塗布液に、その塗布液中の固形分濃度比率としてポリシラザン重量に対し5%以上の触媒を添加すると、真空紫外光照射時にポリシラザン含有層4aからポリシラザンの昇華などが殆ど生じなくなる。ただし、ポリシラザン含有層4aを改質してなるバリアー層4に残留する触媒量が多くなると、十分なバリアー性が確保することが困難となるので、エキシマランプの汚染防止を図ることと、十分なバリアー性を有するバリアー層4を得ることの両立が難しい。
そこで、例えば、図3に示すように、ポリシラザン含有層4a上に、そのポリシラザン含有層4aを覆う拡散抑制層5を形成した後に、拡散抑制層5の表面側から、例えばエキシマランプ90aで真空紫外光を照射することによって、ポリシラザン含有層4aからポリシラザン由来物質が拡散することを抑制して、エキシマランプ90aの汚染を防ぐという本発明の手法が有効となる。こうすることによって、ポリシラザン含有層4a中の触媒含有量を低減する(例えば、ポリシラザン重量に対し5%未満、好ましくは1%)こと、あるいは触媒を不使用(0%)にすることが可能になる。
(拡散抑制層)
本実施形態における拡散抑制層5は、基材1上にポリシラザンを含有する塗布液(第1の塗布液)を塗布し乾燥してなるポリシラザン含有層4aを形成した後、真空紫外光を照射する際にポリシラザン含有層4aから発生するポリシラザン由来物質の拡散を抑制する目的で、ポリシラザン含有層4a上に積層される層である。つまり、拡散抑制層5は、ポリシラザン含有層4aから真空紫外光照射時に一時的に発生する成分を遮断、吸収、もしくは拡散速度の抑制を行うことにより真空紫外光光源の汚染を抑制するための層である。
この拡散抑制層5は、ポリシラザン含有層4a上に第2の塗布液を塗布し乾燥することによって形成することができる。
本発明の拡散抑制層5に用いられる化合物は、有機または無機の化合物で、紫外〜可視光領域において透明な被膜であることが好ましく、有機の樹脂としては、ポリエステル樹脂、イソシアネート樹脂、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、エチレンビニルアルコール樹脂、ビニル変性樹脂、エポキシ樹脂、変性スチレン樹脂、変性シリコン樹脂、アセタール樹脂等を、1または2種以上併せて使用することができる。これらの樹脂には、従来公知の添加剤を加えることもできる。そして、上記の化合物材料(樹脂)は、ロールコート、グラビアコート、ナイフコート、ディップコート、スプレーコート等の公知の方法によりプラスチックフィルム上にコーティングし、溶剤、希釈剤等を乾燥除去することによりアンカーコーティングすることができる。その塗布量としては、0.01〜1g/m(乾燥状態)程度が好ましい。
また、本発明に用いられる拡散抑制層5は、真空紫外光の吸収や真空紫外光が照射されることによる着色が少ない点から無機化合物がより好ましく用いられる。無機化合物として好ましく用いられるものとしては、Si、Ti、Zrの少なくとも1種を含む金属化合物であり、例えば金属アルコキシド、シラン化合物、シラザン化合物、金属ハロゲン化物等が挙げられる。
以下に、拡散抑制層5に用いることができる化合物の具体例を示すが、これらに限定されない。また、下記の化合物を単独または組み合わせて用いてもよく、その他の有機または無機化合物と混合した組成であってもよい。
例えば、テトラクロロシラン、メチルトリクロロシラン、ジメチルジクロロシラン、トリメチルクロロシラン、フェニルトリクロロシラン、メチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、テトラエトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、ヘキサメチルジシラザン、パーヒドロポリシラザン、メチルポリシラザン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド、3−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン、テトライソシアネートシラン、メチルトリイソシアネートシラン等のシラン化合物などが挙げられる。
あるいは下記の一般式(2)(3)(4)で示されるような有機チタン化合物などが挙げられる。一般式中、Rはアルキル基。
Figure 0005857452

Figure 0005857452

Figure 0005857452
また、チタンテトラ−2−エチルヘキソキシド、チタンジイソプロポキシビス(アセチルアセトネート)、チタンテトラアセチルアセトネート、チタンジオクチロキシビス(オクチレングリコレート)、チタンジイソプロポキシビス(エチルアセトアセテート)、チタンジイソプロポキシビス(トリエタノールアミネート)、チタンラクテートアンモニウム塩、チタンラクテート、チタンラクテート、ポリヒドロキシチタンステアレート等のような有機チタン化合物が挙げられる。
あるいは、下記の一般式(5)(6)(7)で示されるような有機ジルコニウム化合物などが挙げられる。一般式中、Rはアルキル基。
Figure 0005857452

Figure 0005857452

Figure 0005857452
また、ジルコニウムテトラノルマルプロポキシド、ジルコニウムテトラノルマルブトキシド、ジルコニウムテトラアセチルアセトネート、ジルコニウムトリブトキシモノアセチルアセトネート、ジルコニウムモノブトキシアセチルアセトネートビス(エチルアセトアセテート)、ジルコニウムジブトキシビス(エチルアセトアセテート)、ジルコニウムテトラアセチルアセトネート、ジルコニウムトリブトキシモノステアレート等のような有機ジルコニウム化合物が挙げられる。
また、拡散抑制層5に好ましく用いられる化合物の一つとしては、ポリシラザンが挙げられ、前述のポリシラザン含有層4aに添加される触媒を含有することがさらに好ましい。例えば、拡散抑制層5を形成するための塗布液(第2の塗布液)が含有する触媒量は、ポリシラザンを含む液体(第2の塗布液)中の固形分濃度比率として、ポリシラザン重量に対して5%以上20%以下であることが好ましい。さらに好ましくは、5%以上10%以下である。例えば、拡散抑制層5を形成する第2の塗布液に前述の触媒を、塗布液中の固形分濃度比率としてポリシラザン重量に対し5%以上添加すると、真空紫外光照射時にポリシラザンの昇華などが殆ど生じなくなる。
さらに好ましい態様としては、拡散抑制層5を形成するための塗布液(第2の塗布液)がポリシラザンと触媒を含有し、その塗布液中の固形分濃度比(例えば、触媒濃度比)が、ポリシラザン含有層4aを形成するための塗布液(第1の塗布液)よりも拡散抑制層用の塗布液(第2の塗布液)の方が高いことである。この態様により、バリアー層4が含有する触媒濃度を低く抑えて良好なバリアー性を確保しつつ、比較的高い触媒濃度を有する拡散抑制層5によって真空紫外線照射時のポリシラザン由来物質の拡散を抑制することが可能になる。
(拡散抑制層に含まれうるその他の成分)
拡散抑制層5には、常温で固体の有機または無機の化合物を添加することができる。特に、化合物が常温で液体の場合には、その添加物が拡散抑制層5に安定して保持されるものであれば公知の熱可塑性樹脂、熱または光硬化性樹脂、無機微粒子化合物を用いることができる。
(拡散抑制層の積層方法)
本発明の拡散抑制層5は、基材1上に設けられたポリシラザン含有層4aの上に積層される。
拡散抑制層5の形成方法としては、水分と反応性のある無機化合物を用いる場合には、水分含有率の低い溶媒にその化合物を溶解、分散した液(第2の塗布液)を低湿度環境下で塗布し乾燥することによって形成することが好ましい。ここで低湿度環境における湿度は温度により変化するので、温度と湿度の関係は露点温度の規定により好ましい形態が示される。好ましい露点温度は4℃以下(温度25℃/湿度25%)で、より好ましい露点温度は−8℃(温度25℃/湿度10%)以下、さらに好ましい露点温度は−31℃(温度25℃/湿度1%)以下である。
また、本発明の拡散抑制層5の厚みは、真空紫外光に対する透過度によるが、通常1nm以上1000nm以下であり、好ましくは10nm以上500nm以下である。本発明の拡散抑制層の厚みが、当該範囲にあれば、塗布膜の均一性を確保し易くなり、また、バリアー層4の受ける真空紫外光量が十分に満たされ易くなる。
本発明において、拡散抑制層5の厚みは、ポリシラザンを改質した後のバリアー層4の厚みと比較した場合、バリアー層4の厚みを拡散抑制層5の厚みの3倍以上10倍以下とするように形成することが好ましい。
当該範囲にあれば、バリアー層4のガスバリアー性が高くなり易く、さらには、バリアー層4から拡散する成分を拡散抑制層5が抑制し易くなる。
(ブリードアウト防止層)
また、本実施形態における基材1の下面側の表面には、ブリードアウト防止層2を形成してもよい。
ブリードアウト防止層2は、平滑層3を有するフィルムを加熱した際に、基材1中からその表面に未反応のオリゴマー等が移行して、フィルム表面を汚染する現象を抑制する目的で、平滑層3を有する基材1の反対面に設けられる。ブリードアウト防止層2は、この機能を有していれば、基本的に平滑層3と同じ構成をとっても構わない。
ブリードアウト防止層2に含ませることが可能な重合性不飽和基を有する不飽和有機化合物としては、分子中に2個以上の重合性不飽和基を有する多価不飽和有機化合物、あるいは分子中に1個の重合性不飽和基を有する単価不飽和有機化合物等を挙げることができる。
その他の添加剤として、マット剤を含有してもよい。マット剤としては、平均粒子径が0.1〜5μm程度の無機粒子が好ましい。このような無機粒子としては、シリカ、アルミナ、タルク、クレイ、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、硫酸バリウム、水酸化アルミニウム、二酸化チタン、酸化ジルコニウム等の1種または2種以上を併せて使用することができる。なお、無機粒子からなるマット剤は、ハードコート剤の固形分100質量部に対して2質量部以上、好ましくは4質量部以上、より好ましくは6質量部以上、20質量部以下、好ましくは18質量部以下、より好ましくは16質量部以下の割合で混合されていることが望ましい。
また、ブリードアウト防止層2には、ハードコート剤及びマット剤の他の成分として熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、電離放射線硬化性樹脂、光重合開始剤等を含有させてもよい。
熱可塑性樹脂としては、アセチルセルロース、ニトロセルロース、アセチルブチルセルロース、エチルセルロース、メチルセルロース等のセルロース誘導体、酢酸ビニル及びその共重合体、塩化ビニル及びその共重合体、塩化ビニリデン及びその共重合体等のビニル系樹脂、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラール等のアセタール系樹脂、アクリル樹脂及びその共重合体、メタクリル樹脂及びその共重合体等のアクリル系樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミド樹脂、線状ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹脂等が挙げられる。
熱硬化性樹脂としては、アクリルポリオールとイソシアネートプレポリマーとからなる熱硬化性ウレタン樹脂、フェノール樹脂、尿素メラミン樹脂、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、シリコン樹脂等が挙げられる。
電離放射線硬化性樹脂としては、光重合性プレポリマーもしくは光重合性モノマー等の1種または2種以上を混合した電離放射線硬化塗料に、電離放射線(紫外線または電子線)を照射することで硬化するものを使用することができる。ここで光重合性プレポリマーとしては、1分子中に2個以上のアクリロイル基を有し、架橋硬化することにより3次元網目構造となるアクリル系プレポリマーが特に好ましく使用される。このアクリル系プレポリマーとしては、ウレタンアクリレート、ポリエステルアクリレート、エポキシアクリレート、メラミンアクリレート等が使用できる。また光重合性モノマーとしては、上記に記載した多価不飽和有機化合物等が使用できる。
光重合開始剤としては、アセトフェノン、ベンゾフェノン、ミヒラーケトン、ベンゾイン、ベンジルメチルケタール、ベンゾインベンゾエート、ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−1−(4−(メチルチオ)フェニル)−2−(4−モルフォリニル)−1−プロパン、α−アシロキシムエステル、チオキサンソン類等が挙げられる。
以上のようなブリードアウト防止層2は、ハードコート剤、マット剤及び必要に応じて添加される他の成分を配合して、所定の希釈溶剤を加えて塗布液として調製し、その塗布液を基材1の表面に従来公知の塗布方法によって塗布した後、電離放射線を照射して硬化させることにより形成することができる。なお、電離放射線を照射する方法としては、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀灯、カーボンアーク、メタルハライドランプ等から発せられる100〜400nm、好ましくは200〜400nmの波長領域の紫外線を照射する手法、または走査型やカーテン型の電子線加速器から発せられる100nm以下の波長領域の電子線を照射する手法により行うことができる。
本実施形態におけるブリードアウト防止層2の厚さとしては、1〜10μm、好ましくは2〜7μmであることが望ましい。1μm以上にすることにより、バリアーフィルムとしての耐熱性を十分なものにし易くなる。10μm以下にすることにより、バリアーフィルムの光学特性のバランスを調整し易くなると共に、平滑層3をバリアーフィルムの一方の面に設けた場合におけるそのバリアーフィルムのカールを抑え易くすることができるようになる。
(バリアーフィルムの製造装置)
本発明に係るバリアーフィルムの製造方法に用いられるバリアーフィルムの製造装置100は、例えば、図4に示すように、基材1の巻き取りと繰り出しを行って基材1を搬送するロール・トゥ・ロールの搬送手段(1A、1B、1C)と、少なくともポリシラザンを含有するバリアー層用の第1の塗布液を塗布する第1塗布ユニット50と、溶媒や水分を乾燥させて除去する第1乾燥ユニット60と、拡散抑制層用の第2の塗布液を塗布する第2塗布ユニット70と、溶媒や水分を乾燥させて除去する第2乾燥ユニット80と、真空紫外光を照射するエキシマランプ90aが配設されたエキシマ処理ユニット90等を備えている。
以下に、このバリアーフィルムの製造装置100によるバリアーフィルムの製造方法の概要を説明する。
(バリアーフィルムの製造工程、製造方法)
第1の搬送ローラ1Aにロール状に巻き取られている基材1を支持ローラ1Cでガイドしつつ第2の搬送ローラ1Bに向けて搬送する。なお、この基材1の上面には平滑層3、下面にはブリードアウト防止層2が形成されている。
まず、基材1に形成された平滑層3上に第1塗布ユニット50で、例えばポリシラザンおよび触媒を含む第1の塗布液を塗布した後、第1乾燥ユニット60で溶媒を除去して乾燥し、ポリシラザン含有層4aを形成する。
その後続けて基材1を搬送し、基材1の平滑層3上に成膜されたポリシラザン含有層4aの上に第2塗布ユニット70で、例えばポリシラザンおよび触媒を含む第2の塗布液を塗布した後、第2乾燥ユニット80で溶媒を除去して乾燥し、拡散抑制層5を形成する。
さらに続けて基材1を搬送し、基材1上に形成された拡散抑制層5側から、エキシマ処理ユニット50で真空紫外光を照射しエキシマ処理を施して、ポリシラザン含有層4aを改質してバリアー層4を形成する。なお、拡散抑制層5も同時にエキシマ処理される。
そして、完成したガスバリアフィルム(10)を第2の搬送ローラ1Bに巻き取る。
このような工程順の製造方法によって、バリアーフィルム10を製造することができる。
(電子機器としての有機ELパネル)
本発明に係るバリアーフィルム10(11)は、太陽電池、液晶表示素子、有機EL素子等の電子デバイスを封止する封止フィルムとして用いることができる。
このバリアーフィルム10を封止フィルムとして用いた電子機器である有機ELパネル20の一例を図5に示す。
有機ELパネル20は、図5に示すように、バリアーフィルム10と、バリアーフィルム10上に形成されたITOなどの透明電極6と、透明電極6を介してバリアーフィルム10上に形成された有機EL素子7と、その有機EL素子7を覆うように接着剤層8を介して配設された対向フィルム9等を備えている。なお、透明電極6は、有機EL素子7の一部を成すともいえる。
このバリアーフィルム10におけるバリアー層4及び拡散抑制層5が形成された面に、透明電極6と有機EL素子7が形成されるようになっている。
また、対向フィルム9は、アルミ箔などの金属フィルムのほか、本発明に係るバリアーフィルムを用いてもよい。対向フィルム9にバリアーフィルムを用いる場合、バリアー層4及び拡散抑制層5が形成された面を有機EL素子7に向けて、接着剤層8によって貼付するようにすればよい。
(有機EL素子)
有機ELパネル20において、バリアーフィルム10(11)で封止される有機EL素子7について説明する。
以下に有機EL素子7の層構成の好ましい具体例を以下に示すが、本発明はこれらに限定されない。
(1)陽極/発光層/陰極
(2)陽極/正孔輸送層/発光層/陰極
(3)陽極/発光層/電子輸送層/陰極
(4)陽極/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/陰極
(5)陽極/陽極バッファー層(正孔注入層)/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/陰極バッファー層(電子注入層)/陰極
(陽極)
有機EL素子7における陽極(透明電極6)としては、仕事関数の大きい(4eV以上)金属、合金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物を電極物質とするものが好ましく用いられる。このような電極物質の具体例としては、Au等の金属、CuI、インジウムチンオキシド(ITO)、SnO、ZnO等の導電性透明材料が挙げられる。また、IDIXO(In−ZnO)等非晶質で透明導電膜を作製可能な材料を用いてもよい。
陽極は、これらの電極物質を蒸着やスパッタリング等の方法により薄膜として形成し、その薄膜をフォトリソグラフィー法で所望の形状のパターンを形成してもよく、あるいはパターン精度をあまり必要としない場合は(100μm以上程度)、上記電極物質の蒸着やスパッタリング時に所望の形状のマスクを介してパターンを形成してもよい。
この陽極より発光を取り出す場合には、透過率を10%より大きくすることが望ましい。また、陽極としてのシート抵抗は数百Ω/□以下が好ましい。また、陽極の膜厚は材料にもよるが、通常10〜1000nm、好ましくは10〜200nmの範囲で選ばれる。
(陰極)
有機EL素子7における陰極としては、仕事関数の小さい(4eV以下)金属(電子注入性金属と称する)、合金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物を電極物質とするものが用いられる。このような電極物質の具体例としては、ナトリウム、ナトリウム−カリウム合金、マグネシウム、リチウム、マグネシウム/銅混合物、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム(Al)混合物、インジウム、リチウム/アルミニウム混合物、希土類金属等が挙げられる。これらの中で、電子注入性及び酸化等に対する耐久性の点から、電子注入性金属とこれより仕事関数の値が大きく安定な金属である第二金属との混合物、例えば、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム(Al)混合物、リチウム/アルミニウム混合物、アルミニウム等が陰極として好適である。
陰極は、これらの電極物質を蒸着やスパッタリング等の方法により薄膜を形成させることにより作製することができる。また、陰極としてのシート抵抗は数百Ω/□以下が好ましい。また、陰極の膜厚は通常10nm〜5μm、好ましくは50〜200nmの範囲で選ばれる。なお、発光した光を透過させるため、有機EL素子7の陽極または陰極のいずれか一方が透明または半透明であれば、発光輝度が向上し好都合である。
また、陰極の説明で挙げた上記金属を1〜20nmの膜厚で作製した後に、陽極の説明で挙げた導電性透明材料をその上に作製することで、透明または半透明の陰極を作製することができ、これを応用することで陽極と陰極の両方が透過性を有する素子を作製することができる。
(注入層:電子注入層、正孔注入層)
注入層には電子注入層と正孔注入層があり、電子注入層と正孔注入層を必要に応じて設け、陽極と発光層または正孔輸送層の間、及び陰極と発光層または電子輸送層との間に存在させる。
注入層とは、駆動電圧低下や発光輝度向上のために電極と有機層間に設けられる層のことで、「有機EL素子とその工業化最前線(1998年11月30日エヌ・ティー・エス社発行)」の第2編第2章「電極材料」(123〜166頁)に詳細に記載されており、正孔注入層(陽極バッファー層)と電子注入層(陰極バッファー層)とがある。
陽極バッファー層(正孔注入層)は、特開平9−45479号公報、特開平9−260062号公報、特開平8−288069号公報等にもその詳細が記載されており、具体例として、銅フタロシアニンに代表されるフタロシアニンバッファー層、酸化バナジウムに代表される酸化物バッファー層、アモルファスカーボンバッファー層、ポリアニリン(エメラルディン)やポリチオフェン等の導電性高分子を用いた高分子バッファー層等が挙げられる。
陰極バッファー層(電子注入層)は、特開平6−325871号公報、特開平9−17574号公報、特開平10−74586号公報等にもその詳細が記載されており、具体的には、ストロンチウムやアルミニウム等に代表される金属バッファー層、フッ化リチウムに代表されるアルカリ金属化合物バッファー層、フッ化マグネシウムに代表されるアルカリ土類金属化合物バッファー層、酸化アルミニウムに代表される酸化物バッファー層等が挙げられる。上記バッファー層(注入層)はごく薄い膜であることが望ましく、素材にもよるが、その膜厚は0.1nm〜5μmの範囲が好ましい。
(発光層)
有機EL素子7における発光層は、電極(陰極、陽極)または電子輸送層、正孔輸送層から注入されてくる電子及び正孔が再結合して発光する層であり、発光する部分は発光層の層内であっても発光層と隣接層との界面であってもよい。
有機EL素子7の発光層には、以下に示すドーパント化合物(発光ドーパント)とホスト化合物(発光ホスト)が含有されることが好ましい。これにより、より一層発光効率を高くすることができる。
(発光ドーパント)
発光ドーパントは、大きく分けて蛍光を発光する蛍光性ドーパントとリン光を発光するリン光性ドーパントの2種類がある。
蛍光性ドーパントの代表例としては、クマリン系色素、ピラン系色素、シアニン系色素、クロコニウム系色素、スクアリウム系色素、オキソベンツアントラセン系色素、フルオレセイン系色素、ローダミン系色素、ピリリウム系色素、ペリレン系色素、スチルベン系色素、ポリチオフェン系色素、または希土類錯体系蛍光体等が挙げられる。
リン光性ドーパントの代表例としては、好ましくは元素の周期表で8属、9属、10属の金属を含有する錯体系化合物であり、更に好ましくはイリジウム化合物、オスミウム化合物であり、中でも最も好ましいのはイリジウム化合物である。
発光ドーパントは複数種の化合物を混合して用いてもよい。
(発光ホスト)
発光ホスト(単にホストとも言う)とは、2種以上の化合物で構成される発光層中にて混合比(質量)の最も多い化合物のことを意味し、それ以外の化合物については「ドーパント化合物(単に、ドーパントとも言う)」という。例えば、発光層を化合物A、化合物Bという2種で構成し、その混合比がA:B=10:90であれば化合物Aがドーパント化合物であり、化合物Bがホスト化合物である。更に発光層を化合物A、化合物B、化合物Cの3種から構成し、その混合比がA:B:C=5:10:85であれば、化合物A、化合物Bがドーパント化合物であり、化合物Cがホスト化合物である。
発光ホストとしては構造的には特に制限はないが、代表的にはカルバゾール誘導体、トリアリールアミン誘導体、芳香族ボラン誘導体、含窒素複素環化合物、チオフェン誘導体、フラン誘導体、オリゴアリーレン化合物等の基本骨格を有するもの、またはカルボリン誘導体やジアザカルバゾール誘導体(ここで、ジアザカルバゾール誘導体とは、カルボリン誘導体のカルボリン環を構成する炭化水素環の少なくとも一つの炭素原子が窒素原子で置換されているものを表す。)等が挙げられる。中でも、カルボリン誘導体、ジアザカルバゾール誘導体等が好ましく用いられる。
そして、発光層は上記化合物を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法、インクジェット法等の公知の薄膜化法により成膜して形成することができる。発光層としての膜厚は特に制限はないが、通常は5nm〜5μm、好ましくは5〜200nmの範囲で選ばれる。この発光層はドーパント化合物やホスト化合物が1種または2種以上からなる一層構造であってもよいし、あるいは同一組成または異種組成の複数層からなる積層構造であってもよい。
(正孔輸送層)
正孔輸送層とは正孔を輸送する機能を有する正孔輸送材料からなり、広い意味で正孔注入層、電子阻止層も正孔輸送層に含まれる。正孔輸送層は単層または複数層設けることができる。
正孔輸送材料としては、正孔の注入または輸送、電子の障壁性のいずれかを有するものであり、有機物、無機物のいずれであってもよい。例えば、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミノ置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、シラザン誘導体、アニリン系共重合体、また導電性高分子オリゴマー、特にチオフェンオリゴマー等が挙げられる。正孔輸送材料としては上記のものを使用することができるが、ポルフィリン化合物、芳香族第3級アミン化合物及びスチリルアミン化合物、特に芳香族第3級アミン化合物を用いることが好ましい。更にこれらの材料を高分子鎖に導入した、またはこれらの材料を高分子の主鎖とした高分子材料を用いることもできる。また、p型−Si、p型−SiC等の無機化合物も正孔注入材料、正孔輸送材料として使用することができる。
正孔輸送層は上記正孔輸送材料を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、インクジェット法を含む印刷法、LB法等の公知の方法により、薄膜化することにより形成することができる。正孔輸送層の膜厚については特に制限はないが、通常は5nm〜5μm程度、好ましくは5〜200nmである。この正孔輸送層は上記材料の1種または2種以上からなる一層構造であってもよい。
(電子輸送層)
電子輸送層とは電子を輸送する機能を有する電子輸送材料からなり、広い意味で電子注入層、正孔阻止層も電子輸送層に含まれる。電子輸送層は単層または複数層設けることができる。
電子輸送材料としては、陰極より注入された電子を発光層に伝達する機能を有していればよく、その材料としては従来公知の化合物の中から任意のものを選択して用いることができ、例えば、ニトロ置換フルオレン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、チオピランジオキシド誘導体、カルボジイミド、フレオレニリデンメタン誘導体、アントラキノジメタン及びアントロン誘導体、オキサジアゾール誘導体等が挙げられる。さらに、上記オキサジアゾール誘導体において、オキサジアゾール環の酸素原子を硫黄原子に置換したチアジアゾール誘導体、電子吸引基として知られているキノキサリン環を有するキノキサリン誘導体も、電子輸送材料として用いることができる。さらにこれらの材料を高分子鎖に導入した、またはこれらの材料を高分子の主鎖とした高分子材料を用いることもできる。また、8−キノリノール誘導体の金属錯体、例えば、トリス(8−キノリノール)アルミニウム(Alq)、トリス(5,7−ジクロロ−8−キノリノール)アルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−8−キノリノール)アルミニウム、トリス(2−メチル−8−キノリノール)アルミニウム、トリス(5−メチル−8−キノリノール)アルミニウム、ビス(8−キノリノール)亜鉛(Znq)等、及びこれらの金属錯体の中心金属がIn、Mg、Cu、Ca、Sn、GaまたはPbに置き替わった金属錯体も、電子輸送材料として用いることができる。その他、メタルフリーもしくはメタルフタロシアニン、またはそれらの末端がアルキル基やスルホン酸基等で置換されているものも、電子輸送材料として好ましく用いることができる。また、正孔注入層、正孔輸送層と同様に、n型−Si、n型−SiC等の無機半導体も電子輸送材料として用いることができる。
電子輸送層は上記電子輸送材料を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、インクジェット法を含む印刷法、LB法等の公知の方法により、薄膜化することにより形成することができる。電子輸送層の膜厚については特に制限はないが、通常は5nm〜5μm程度、好ましくは5〜200nmである。電子輸送層は上記材料の1種または2種以上からなる一層構造であってもよい。
(有機EL素子の作製方法)
有機EL素子7の作製方法について説明する。
ここでは有機EL素子7の一例として、陽極/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/電子注入層/陰極からなる有機EL素子の作製方法について説明する。
まず、バリアーフィルム10上に所望の電極物質、例えば、陽極用物質からなる薄膜を1μm以下、好ましくは10〜200nmの膜厚になるように、例えば、蒸着やスパッタリング、プラズマCVD等の方法により形成させ、陽極を作製する。
次に、その上に有機EL素子材料である正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層の有機化合物薄膜を形成させる。この有機化合物薄膜の成膜方法としては、蒸着法、ウェットプロセス(スピンコート法、キャスト法、インクジェット法、印刷法)等があるが、均質な膜が得られやすく、且つピンホールが生成しにくい等の点から、真空蒸着法、スピンコート法、インクジェット法、印刷法が特に好ましい。更に層毎に異なる成膜法を適用してもよい。成膜に蒸着法を採用する場合、その蒸着条件は使用する化合物の種類等により異なるが、一般にボート加熱温度50〜450℃、真空度10−6〜10−2Pa、蒸着速度0.01〜50nm/秒、基板温度−50〜300℃、膜厚0.1nm〜5μm、好ましくは5〜200nmの範囲で適宜選ぶことが望ましい。
これらの層を形成後、その上に陰極用物質からなる薄膜を1μm以下好ましくは50〜200nmの範囲の膜厚になるように、例えば、蒸着やスパッタリング等の方法により形成させ、陰極を設けることにより所望の有機EL素子が得られる。
この有機EL素子7の作製は、一回の真空引きで一貫して陽極、正孔注入層から陰極まで作製するのが好ましいが、途中で取り出して異なる成膜法を施しても構わない。その際、作業を乾燥不活性ガス雰囲気下で行う等の配慮が必要となる。また、作製順序を逆にして、陰極、電子注入層、電子輸送層、発光層、正孔輸送層、正孔注入層、陽極の順に作製することも可能である。
このようにして得られた有機EL素子7を備える多色の表示装置(有機ELパネル20)に、直流電圧を印加する場合には、陽極をプラス、陰極をマイナスの極性として電圧2〜40V程度を印加すると発光が観測できる。また、交流電圧を印加してもよい。なお、印加する交流の波形は任意でよい。
以下、具体的な実施例を挙げて本発明のバリアーフィルムを詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、実施例において「部」あるいは「%」の表示を用いるが、特に断りがない限り「質量部」あるいは「質量%」を表す。
(基材の作製)
熱可塑性樹脂支持体であって、両面に易接着加工された75μm厚みのポリエステルフィルム(東洋紡績株式会社製、コスモシャインA4300)を基材1として用い、下記に示すように、片面にブリードアウト防止層2、反対面に平滑層3を作製して用いた。
(ブリードアウト防止層の形成)
上記基材1の片面に、JSR株式会社製 UV硬化型有機/無機ハイブリッドハードコート材OPSTAR Z7535を、乾燥後の膜厚が4μmになるようにワイヤーバーで塗布した後、空気下で高圧水銀ランプ使用1.0J/cmの硬化条件、80℃×3分の乾燥条件で硬化を行い、ブリードアウト防止層2を形成した。
(平滑層の形成)
続けて上記基材1の反対面に、JSR株式会社製 UV硬化型有機/無機ハイブリッドハードコート材OPSTAR Z7501を、乾燥後の膜厚が4μmになるようにワイヤーバーで塗布した後、乾燥条件80℃×3分で乾燥し、その後、空気雰囲気下で高圧水銀ランプ使用1.0J/cmの硬化条件で硬化を行い、平滑層3を形成した。
得られた平滑層3のJIS B 0601で規定される表面粗さで、最大断面高さRt(p)は16nmであった。
表面粗さは、AFM(原子間力顕微鏡)で、極小の先端半径の触針を持つ検出器で連続測定した凹凸の断面曲線から算出され、極小の先端半径の触針により測定方向が30μmの区間内を多数回測定し、微細な凹凸の振幅に関する平均の粗さである。
このように、ブリードアウト防止層2と平滑層3が形成された基材1を「B0」とした。
次いで、パーヒドロポリシラザン(アクアミカ NN120−10、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製)の10質量%ジブチルエーテル溶液と、アミン触媒のN,N,N’,N’−テトラメチル−1,6−ジアミノヘキサンの10質量%ジブチルエーテル溶液を、99対1の割合で混合した液体(第1の塗布液)を、ワイヤレスバーにて、乾燥後の(平均)膜厚が、150nmとなるように「B0」の平滑層3上に塗布し、温度25℃、露点−5℃の乾燥空気で1分間乾燥して塗布試料を得た(塗布工程)。得られた塗布試料を、温度85℃、露点−5℃の乾燥空気で2分間処理し、基材1上面の平滑層3上にポリシラザン含有層4aを形成した試料「B1」を得た。
[第1の実施例]
(比較例、試料1)
上記、試料B1(拡散抑制層5が形成されていない試料)の表面に下記装置、条件で真空紫外光照射(エキシマ改質処理)を行い、ポリシラザン含有層4aを改質してバリアー層4を形成した。
・エキシマ改質処理
ポリシラザン塗膜を乾燥し、ポリシラザン含有層4aを形成した後(拡散抑制層5は形成せず)の上記試料に対し、下記の装置、条件でエキシマ改質処理を施してポリシラザン含有層4aを改質してバリアー層4を形成した。改質処理時の露点温度は−20℃で実施した(エキシマ処理工程)。
・改質処理装置
(株)エム・ディ・コム製エキシマ照射装置MODEL:MECL−M−1−200
波長:172nm
ランプ封入ガス:Xe
・改質処理条件
エキシマ光強度 :130mW/cm(172nm)
試料と光源の距離 :2mm
ステージ加熱温度 :95℃
照射装置内の酸素濃度:0.3%
エキシマ光照射時のステージ搬送速度:10mm/秒
エキシマ光照射時のステージ搬送回数:6往復
(比較例、試料2)
上記、試料1の表面(バリアー層4上)に、パーヒドロポリシラザン(アクアミカ NN120−10、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製)の10質量%ジブチルエーテル溶液と、アミン触媒のN,N,N’,N’−テトラメチル−1,6−ジアミノヘキサンの10質量%ジブチルエーテル溶液を、95対5の割合で混合した液体(第2の塗布液)を、ワイヤレスバーにて、乾燥後の(平均)膜厚が、17nmとなるように塗布し、温度25℃、露点−5℃の乾燥空気で1分間乾燥して塗布試料を得た(塗布工程)。得られた塗布試料を、温度85℃、露点−5℃の乾燥空気で2分間処理し、真空紫外光で改質前のポリシラザン塗布膜を形成した。
続けて、そのポリシラザン塗布膜を乾燥した後の上記試料に対し、下記の装置、条件でエキシマ改質処理を施してポリシラザン塗布膜を改質し、ポリシラザン改質層である拡散抑制層5を形成した。改質処理時の露点温度は−20℃で実施した(エキシマ処理工程)。
・改質処理装置
(株)エム・ディ・コム製エキシマ照射装置MODEL:MECL−M−1−200
波長:172nm
ランプ封入ガス:Xe
・改質処理条件
エキシマ光強度 :130mW/cm(172nm)
試料と光源の距離 :2mm
ステージ加熱温度 :95℃
照射装置内の酸素濃度:0.3%
エキシマ光照射時のステージ搬送速度:10mm/秒
エキシマ光照射時のステージ搬送回数:10往復
(比較例、試料3)
上記試料2において、ポリシラザン塗布膜(拡散抑制層5)に対してエキシマ改質処理を行わないものを試料3とした。
(本発明、試料4)
上記試料2における試料B1のポリシラザン含有層4aに対して、エキシマ改質処理を行わなかった以外は同様にして作製したものを試料4とした。
つまり、試料4では、ポリシラザン含有層4aとポリシラザン塗布膜(拡散抑制層5)に対して同時にエキシマ改質処理を行った。
(本発明、試料5)
上記試料4における試料B1の塗布液(第1の塗布液)に関して、下記に変更した以外は同様にして作製したものを試料5とした。
パーヒドロポリシラザン(アクアミカ NN120−10、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製)の10質量%ジブチルエーテル溶液と、アミン触媒のN,N,N’,N’−テトラメチル−1,6−ジアミノヘキサンの10質量%ジブチルエーテル溶液を、97対3の割合で混合した液体を用いた。
(本発明、試料6)
上記試料4における試料B1の塗布液(第1の塗布液)に関して、下記に変更した以外は同様にして作製したものを試料6とした。
パーヒドロポリシラザン(アクアミカ NN120−10、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製)の10質量%ジブチルエーテル溶液と、アミン触媒のN,N,N’,N’−テトラメチル−1,6−ジアミノヘキサンの10質量%ジブチルエーテル溶液を、96対4の割合で混合した液体を用いた。
(比較例、試料7)
上記試料6における試料B1に対して、比較例の試料1と同様な条件でエキシマ改質処理を施した以外は同様にして作製したものを試料7とした。
(本発明、試料8)
上記試料4における試料B1の塗布液(第1の塗布液)に関して、下記に変更した以外は同様にして試料8を作製した。
パーヒドロポリシラザン(アクアミカ NN120−10、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製)の10質量%ジブチルエーテル溶液からなる液体(触媒を含まない)を用いた。
(比較例、試料9)
上記試料1においてエキシマ改質処理を行う前に、トリエチルアミン及び蒸留水を室温のまま窒素でバブリングさせてトリエチルアミンガスを発生させたゾーン(30℃、40%RH)の中を搬送させ、ポリシラザン含有層4aをトリエチルアミンガスに2分間暴露した。次いで、試料1と同一条件でエキシマ改質処理を行い、水蒸気雰囲気(95℃、60%RH)の加湿炉内を通過させることによって、ポリシラザン含有層4a(バリアー層4)を3分間水蒸気雰囲気に暴露して試料9を作製した。
[第2の実施例]
上述した第1の実施例の試料4におけるバリアー層4の厚み(150nm)と、拡散抑制層5の厚み(17nm)を、表2に示す値に変更した以外は同様にして作製したものを試料10〜20(本発明)とした。
<各層の膜厚の測定方法>
透過型電子顕微鏡(TEM)による断面観察により、各層の膜厚を10箇所測定し、平均した値を膜厚とした。
(膜厚方向の断面のTEM画像)
断面TEM観察として、観察試料を以下のFIB加工装置により薄片作成後、TEM観察を行った。
(FIB加工)
装置:SII製SMI2050
加工イオン:(Ga 30kV)
試料厚み:100nm〜200nm
(TEM観察)
装置:日本電子製JEM2000FX(加速電圧:200kV)
[第3の実施例]
上述した第1の実施例の試料4における拡散抑制層に用いた第2の塗布液を下記組成に変更した以外は同様にして作製したものを試料21(参考例)、試料22〜25(本発明)、試料26〜27(参考例)及び試料28〜29(本発明)とした。
参考例、試料21)
パラジウム触媒を含有したパーヒドロポリシラザン(アクアミカ NL120A、AZエレクトロニックマテリアルズ(株)製)の10質量%ジブチルエーテル溶液を用いた。
(本発明、試料22)
3−アミノプロピルトリメトキシシラン(KBM−903 信越化学工業(株)製)の10質量%トルエン希釈溶液を用いた。
(本発明、試料23)
チタンブトキシダイマー(オルガチックスTA−22 マツモトファインケミカル(株)製)の10質量%トルエン希釈溶液を用いた。
(本発明、試料24)
ジルコウニウムテトラアセチルアセトネート(オルガチックスZC−150 マツモトファインケミカル(株)製)の10質量%トルエン溶液を用いた。
(本発明、試料25)
チタンオリゴマー(オルガチックスPC−685 マツモトファインケミカル(株)製)の10質量%ブタノール希釈溶液を用いた。
参考例、試料26)
ポリビニルブチラール樹脂(エスレックBL−1 積水化学(株)製)の脱水トルエン/メチルエチルケトン=1/1の3質量%溶液を用いた。
参考例、試料27)
ポリエステル樹脂(バイロン200 東洋紡績(株)製)の脱水トルエン/メチルエチルケトン=1/1の3質量%溶液を用いた。
(本発明、試料28)
ハイドロジェンシルセスキオキサン(FOX−14 東レ・ダウコーニング(株)製)の10質量%MIBK溶液を用いた。
(本発明、試料29)
3−アミノプロピルトリメトキシシラン(KBM−903 信越化学工業(株)製)の10質量%トルエン希釈溶液と、チタンオリゴマー(オルガチックスPC−685 マツモトファインケミカル(株)製)の10質量%ブタノール希釈溶液の1:1質量比の混合液を用いた。
以上のように作製したバリアーフィルムの試料1〜29について、バリアーフィルムとしての性能評価を行った。
バリアーフィルムの性能評価は、バリアー性(水蒸気透過率;WVTR)と、バリアーフィルムに起因する有機EL素子の発光斑の、2つの評価項目について行った。
また、バリアーフィルムの試料1〜29を製造する製造方法についての評価は、エキシマランプなどの光量低下率に基づいて行った。
(バリアー性の評価)
以下の測定方法に従って、各試料のバリアーフィルムの水蒸気バリアー性(水蒸気透過率;WVTR)を評価した。
特に、バリアーフィルムの試料1〜29を製造する際のエキシマ照射処理において、エキシマ処理ユニット90におけるエキシマランプ90aに未使用品(新品、初期のランプ)を用いた場合と、バリアーフィルムを10m製造することに使用した後のエキシマランプ90a(10m処理後のランプ)を用いた場合の、それぞれの水蒸気バリアー性(水蒸気透過率;WVTR)について評価した。
・装置
蒸着装置:日本電子(株)製真空蒸着装置JEE−400
恒温恒湿度オーブン:Yamato Humidic ChamberIG47M
水分と反応して腐食する金属:カルシウム(粒状)
水蒸気不透過性の金属:アルミニウム(φ3〜5mm、粒状)
・水蒸気バリアー性評価用セルの作製
真空蒸着装置(日本電子製真空蒸着装置 JEE−400)を用い、バリアーフィルム試料1〜29の拡散抑制層5(あるいはバリアー層4)の表面に金属カルシウムを蒸着させた。その後、乾燥窒素ガス雰囲気下で、厚さ0.2mmの石英ガラスに封止用紫外線硬化樹脂(ナガセケムテックス製)を介して金属カルシウム蒸着面を対面させて接着し、紫外線を照射することで、評価用セルを作製した。
得られた試料(評価用セル)を40℃、90%RHの高温高湿下で保存し、特開2005−283561号公報に記載の方法に基づき、金属カルシウムの腐食量からセル内に透過した水分量を計算した。
なお、バリアーフィルム面以外からの水蒸気の透過がないことを確認するために、比較試料としてバリアーフィルム試料の代わりに、厚さ0.2mmの石英ガラス板を用いて金属カルシウムを蒸着した試料を、同様な40℃、90%RHの高温高湿下保存を行い、10000時間経過後でも金属カルシウム腐食が発生しないことを確認した。
こうして測定された各試料のバリアーフィルムの水分量を下記の5段階に分類し、バリアー性を評価した。
5:水分量が1×10−4g/m/day未満
4:水分量が1×10−4g/m/day以上、1×10−3g/m/day未満
3:水分量が1×10−3g/m/day以上、1×10−2g/m/day未満
2:水分量が1×10−2g/m/day以上、1×10−1g/m/day未満
1:水分量が1×10−1g/m/day以上
(有機EL素子の発光斑の評価)
作製した試料1〜29の拡散抑制層5(あるいはバリアー層4)上に、以下の方法により透明導電膜を作製した。
・透明導電膜の形成
プラズマ放電装置としては電極が平行平板型のものを用い、この電極間に上記各試料のバリアーフィルムを載置し、且つ混合ガスを導入して薄膜形成を行った。なお、アース(接地)電極としては、200mm×200mm×2mmのステンレス板に高密度、高密着性のアルミナ溶射膜を被覆し、その後、テトラメトキシシランを酢酸エチルで希釈した溶液を塗布乾燥後、紫外線照射により硬化させ封孔処理を行い、このようにして被覆した誘電体表面を研磨し、平滑にしてRmaxが5μmとなるように加工した電極を用いた。また、印加電極としては、中空の角型の純チタンパイプに対し、アース電極と同様の条件にて誘電体を被覆した電極を用いた。印加電極は複数作製し、アース電極に対向して設け放電空間を形成した。また、プラズマ発生に用いる電源としては、パール工業(株)製高周波電源CF−5000−13Mを用い、周波数13.56MHzで、5W/cmの電力を供給した。
そして、電極間に以下の組成の混合ガスを流し、プラズマ状態とし、上記のバリアーフィルムを大気圧プラズマ処理し、拡散抑制層5(あるいはバリアー層4)上に錫ドープ酸化インジウム(ITO)膜を100nmの厚さで成膜し、透明導電膜付の試料1〜29を得た。
放電ガス:ヘリウム 98.5体積%
反応性ガス1:酸素 0.25体積%
反応性ガス2:インジウムアセチルアセトナート 1.2体積%
反応性ガス3:ジブチル錫ジアセテート 0.05体積%
・有機EL素子の作製
得られた透明導電膜付の試料1〜29の100mm×100mmを基板とし、これにパターニングを行った後、このITO透明電極を設けたバリアーフィルム基板をイソプロピルアルコールで超音波洗浄し、乾燥窒素ガスで乾燥した。この透明支持基板を市販の真空蒸着装置の基板ホルダーに固定し、一方、モリブデン製抵抗加熱ボートにα−NPD(下記の式(8))を200mg入れ、別のモリブデン製抵抗加熱ボートにホスト化合物としてCBP(下記の式(9))を200mg入れ、別のモリブデン製抵抗加熱ボートにバソキュプロイン(BCP(下記の式(10)))を200mg入れ、別のモリブデン製抵抗加熱ボートにIr−1(下記の式(11))を100mg入れ、更に別のモリブデン製抵抗加熱ボートにAlq(下記の式(12))を200mg入れ、真空蒸着装置に取り付けた。
Figure 0005857452

Figure 0005857452

Figure 0005857452

Figure 0005857452

Figure 0005857452
次いで、真空槽を4×10−4Paまで減圧した後、α−NPDの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度0.1nm/秒で透明支持基板に蒸着し、正孔輸送層を設けた。更にCBPとIr−1の入った前記加熱ボートに通電して加熱し、それぞれ蒸着速度0.2nm/秒、0.012nm/秒で前記正孔輸送層上に共蒸着して発光層を設けた。なお、蒸着時の基板温度は室温であった。更にBCPの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度0.1nm/秒で前記発光層の上に蒸着して膜厚10nmの正孔阻止層を設けた。その上に、更にAlqの入った前記加熱ボートに通電して加熱し、蒸着速度0.1nm/秒で前記正孔阻止層の上に蒸着して、更に膜厚40nmの電子輸送層を設けた。なお、蒸着時の基板温度は室温であった。
引き続き、フッ化リチウム0.5nm及びアルミニウム110nmを蒸着して陰極を形成し、それぞれ透明導電膜付の試料1〜29を用いた有機EL素子試料1〜29を作製した。
・有機EL素子試料の封止
窒素ガス(不活性ガス)によりパージされた環境下で、有機EL素子試料1〜29のアルミニウム蒸着面と、厚さ100μmのアルミ箔を対面させる様にして、ナガセケムテックス社製エポキシ系接着剤を用いて接着させて封止を行った。
・有機EL素子試料の評価(ダークスポット、輝度ムラ)
封止された有機EL素子試料1〜29を40℃、90%RHの環境下で通電を行い、ダークスポットの発生等の発光ムラの状況を、0日から120日までの変化を観察した。
こうして観測された各試料の発光ムラを下記の5段階に分類し、評価した。
5:0日目でダークスポット、輝度ムラは観察されず、120日経過後に非発光領域が全発光面積の0.1%以下で、発生したダークスポットは全て目視では用意に観察できない大きさ(0.1mm径以下)であった。
4:0日目で発生したダークスポットは、全て目視では用意に観察できない大きさ(0.1mm以下)であり、輝度ムラは観察されず、120日経過後に非発光領域が全発光面積の0.2%以下で、発生したダークスポットは目視では容易に観察できない大きさ(0.1mm以下)を維持した。
3:0日目で発生したダークスポットは、全て目視では用意に観察できない大きさ(0.1mm以下)であり、120日経過後に非発光領域が全発光面積の2%を超えた。
2:0日目に目視で判別可能なダークスポット、輝度ムラが観察され、120日経過後に非発光領域が全発光面積の2%を超えた。
1:0日目に目視で判別可能なダークスポット、輝度ムラの非発光領域が全発光面積の1%を超えて観察され、120日以内に非発光領域が全発光面積の10%を超えた。
(連続処理による光源の光量低下率の評価)
実施例1〜3における試料1〜29の各製造方法によって作製されるバリアーフィルム試料の総面積が10mとなるように処理を連続的に行った後(10m処理後)のエキシマランプ90aの光量と、その処理前のエキシマランプ90aの初期の光量を、172nmでの光量を測定して、10m処理後における光量低下率を比較した。
(光量の測定)
紫外線積算光量計(浜松ホトニクス(株)製 コントローラ C9536 センサヘッド H9535−172)を用いて、窒素パージにより酸素濃度を0.3%の状態でエキシマランプの管面とセンサヘッドの距離を1mmとして室温(24℃)状態のランプを点灯直後から10分までの積算光量を測定した。
光量低下率は、(10m処理後の光量)/(0m処理(処理前・初期)の光量)の算出式に基づく下記の5段階で評価した。
5:光量低下率が1%未満
4:光量低下率が1%以上、2%未満
3:光量低下率が2%以上、5%未満
2:光量低下率が5%以上、20%未満
1:光量低下率が20%以上
以上の評価結果(5段階評価)に関し、第1の実施例における試料1〜9の評価を表1、第2の実施例における試料10〜20の評価を表2、第3の実施例における試料21〜29の評価を表3に示す。
Figure 0005857452
Figure 0005857452
Figure 0005857452
表1に示すように、バリアー層4(ポリシラザン含有層4a)上の拡散抑制層5を介して真空紫外光を照射してエキシマ改質した本発明のバリアーフィルム(試料4〜6、試料8)は、初期(未使用)のエキシマランプを用いた場合でも、連続的に改質処理した使用後(10m処理後)のエキシマランプを用いた場合でも、良好な水蒸気バリアー性(WVTR)が得られ、またエキシマランプの光量低下は殆ど起こらなかった。更に、有機EL素子の発光斑の低減も図られていることがわかる。
また、表2に示すように、バリアー層4と拡散抑制層5の厚みの比率の関係が特定の範囲内(比率A/B=3〜10)にある本発明のバリアーフィルム(試料11〜14、試料17〜19)では、良好な水蒸気バリアー性(WVTR)が得られ、有機EL素子の発光斑の低減が図られていることがわかる。
さらに、表3に示すように、拡散抑制層5として、特定の無機金属化合物を含有する本発明のバリアーフィルム(試料22〜25、試料28〜29)では、良好な水蒸気バリアー性(WVTR)が得られ、有機EL素子の発光斑の低減が図られていることがわかる。
以上のように、拡散抑制層5をポリシラザン含有層4aの上に設け、その拡散抑制層5を介してポリシラザン含有層4aに真空紫外光を照射してバリアー層4に改質するという、本発明のバリアーフィルムの製造方法によれば、広い面積を連続的に製造した後でもバリアーフィルム10(11)の性能が低下することはない。
つまり、本発明のバリアーフィルムの製造方法によれば、高いバリアー性能を有するバリアーフィルムを、性能が低下することなく安定した性能を維持して連続的に生産することができる。
そして、安定した性能の高いバリアー性を有するバリアーフィルムを得ることができるので、そのバリアーフィルムを用いて優れた電子機器を得ることができる。
1 基材
2 ブリードアウト防止層
3 平滑層
4 バリアー層
4a ポリシラザン含有層
5 拡散抑制層
10、11 バリアーフィルム
7 有機EL素子(電子デバイス)
20 有機ELパネル(電子機器)
100 バリアーフィルムの製造装置
50 第1塗布ユニット
60 第1乾燥ユニット
70 第2塗布ユニット
80 第2乾燥ユニット
90 エキシマ処理ユニット
90a エキシマランプ

Claims (4)

  1. 基材上に、少なくともポリシラザンを含有する第1の塗布液を塗布し乾燥してなるポリシラザン含有層を形成し、次いで前記ポリシラザン含有層上に、第2の塗布液を塗布し乾燥してなる拡散抑制層を形成した後に、前記拡散抑制層に真空紫外光を照射することによって、前記ポリシラザン含有層をバリアー層に改質する方法であって、
    前記拡散抑制層は、ポリシラザンを含有せず、かつ、Si、Ti、Zrの少なくとも1つを含む金属化合物を含有することを特徴とするバリアーフィルムの製造方法。
  2. 基材上に、少なくともポリシラザンを含有する第1の塗布液を塗布し乾燥してなるポリシラザン含有層を形成し、次いで前記ポリシラザン含有層上に、第2の塗布液を塗布し乾燥してなる拡散抑制層を形成した後に、前記拡散抑制層に真空紫外光を照射することによって、前記ポリシラザン含有層をバリアー層に改質する方法であって、
    前記第2の塗布液は、ポリシラザンを含有しており、
    前記第1の塗布液と前記第2の塗布液のうち、少なくとも前記第2の塗布液は、ポリシラザンの少なくとも一部を酸化珪素化合物に転化させる反応を促進する触媒を含有し、
    前記第1の塗布液と前記第2の塗布液とでは、前記第2の塗布液の方が触媒濃度比が高いことを特徴とするバリアーフィルムの製造方法。
  3. 前記第1の塗布液と前記第2の塗布液とでは、前記第2の塗布液の方が固形分濃度比が高いことを特徴とする請求項2に記載のバリアーフィルムの製造方法。
  4. 前記バリアー層の厚みを、前記拡散抑制層の厚みの3倍以上10倍以下となるように形成することを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載のバリアーフィルムの製造方法。
JP2011125008A 2011-06-03 2011-06-03 バリアーフィルムの製造方法 Expired - Fee Related JP5857452B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011125008A JP5857452B2 (ja) 2011-06-03 2011-06-03 バリアーフィルムの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011125008A JP5857452B2 (ja) 2011-06-03 2011-06-03 バリアーフィルムの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012250181A JP2012250181A (ja) 2012-12-20
JP5857452B2 true JP5857452B2 (ja) 2016-02-10

Family

ID=47523518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011125008A Expired - Fee Related JP5857452B2 (ja) 2011-06-03 2011-06-03 バリアーフィルムの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5857452B2 (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014109353A1 (ja) * 2013-01-11 2014-07-17 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルムの製造方法
US20150364720A1 (en) * 2013-01-31 2015-12-17 Konica Minolta, Inc. Gas barrier film
WO2014136969A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 コニカミノルタ株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子、及び、有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
US20160072096A1 (en) * 2013-04-30 2016-03-10 Konica Minolta, Inc. Sealing film, method for producing same and functional element sealed by sealing film
JPWO2014188981A1 (ja) * 2013-05-21 2017-02-23 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルム
JP2016145649A (ja) * 2013-05-27 2016-08-12 コニカミノルタ株式会社 乾燥装置及び乾燥方法
JP6060848B2 (ja) * 2013-08-07 2017-01-18 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルム
WO2015020011A1 (ja) * 2013-08-07 2015-02-12 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルム
JP6426705B2 (ja) * 2014-03-19 2018-11-21 富士フイルム株式会社 機能性積層フィルム、機能性積層フィルムの製造方法、および機能性積層フィルムを含む有機電界発光装置
JP6402518B2 (ja) * 2014-07-16 2018-10-10 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルムおよびその製造方法、ならびにこれを用いた電子デバイス
JP6295864B2 (ja) * 2014-07-16 2018-03-20 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルムおよびその製造方法、ならびにこれを用いた電子デバイス
JPWO2016010118A1 (ja) * 2014-07-16 2017-04-27 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルムおよびガスバリア性フィルムの製造方法
JPWO2016136840A1 (ja) * 2015-02-25 2017-12-07 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルム
JPWO2016152956A1 (ja) * 2015-03-25 2018-01-25 リンテック株式会社 ガスバリア層付き成形物の製造装置
JP6828261B2 (ja) * 2016-03-31 2021-02-10 凸版印刷株式会社 バリアフィルム及びその製造方法、並びに、波長変換シート及びその製造方法
JP6927225B2 (ja) 2016-08-12 2021-08-25 凸版印刷株式会社 蛍光体保護フィルム、波長変換シート及び発光ユニット
US11315784B2 (en) * 2017-09-11 2022-04-26 Tokyo Electron Limited Method for forming insulating film, apparatus for processing substrate, and system for processing substrate
CN112201754B (zh) * 2020-02-18 2022-08-19 天津大学 超薄晶态连续有机半导体薄膜及其制备方法和应用

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3666915B2 (ja) * 1993-12-17 2005-06-29 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 セラミックスの低温形成方法
JPH10279362A (ja) * 1997-03-31 1998-10-20 Tonen Corp SiO2系セラミックス膜の形成方法
JP2002301793A (ja) * 2001-01-31 2002-10-15 Dainippon Printing Co Ltd バリア性積層フィルムおよびその製造方法
JP2009255040A (ja) * 2008-03-25 2009-11-05 Kyodo Printing Co Ltd フレキシブルガスバリアフィルムおよびその製造方法
JP5659477B2 (ja) * 2009-09-26 2015-01-28 コニカミノルタ株式会社 バリアフィルム、その製造方法及び有機光電変換素子

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012250181A (ja) 2012-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5857452B2 (ja) バリアーフィルムの製造方法
JP5533585B2 (ja) ガスバリアフィルムの製造方法、ガスバリアフィルム及び電子機器
JP5929775B2 (ja) ガスバリア性フィルムおよびその製造方法、ならびに前記ガスバリア性フィルムを含む電子デバイス
JP6156388B2 (ja) ガスバリアー性フィルムの製造方法、ガスバリアー性フィルム及び電子デバイス
WO2014142036A1 (ja) ガスバリアフィルム、ガスバリアフィルムの製造方法、及び、有機エレクトロルミネッセンス素子
JP5884531B2 (ja) 水蒸気バリアーフィルムの製造方法、水蒸気バリアーフィルム及び電子機器
JP5895684B2 (ja) ガスバリア性フィルムの製造方法、および前記ガスバリア性フィルムを用いた電子デバイスの製造方法
JP6070411B2 (ja) ガスバリアー性フィルム、ガスバリアー性フィルムの製造方法及び有機エレクトロルミネッセンス素子
JP5895689B2 (ja) 電子デバイスおよびその製造方法
JP6229506B2 (ja) ガスバリア性フィルム、およびこれを用いた電子デバイス
JPWO2010026869A1 (ja) 複合フィルム、ガスバリアフィルム及びその製造方法並びに有機エレクトロルミネッセンス素子
JP2014201032A (ja) ガスバリア性フィルムおよびその製造方法
JP2015103389A (ja) 有機el素子
JP5849790B2 (ja) 水蒸気バリアーフィルムの製造方法、水蒸気バリアーフィルム及び電子機器
JP2012067193A (ja) ガスバリア性フィルムの洗浄方法、ガスバリア性包装体及び有機電子デバイス
JP5761005B2 (ja) 水蒸気バリアーフィルムの製造方法、水蒸気バリアーフィルム及び電子機器
WO2010026852A1 (ja) 樹脂フィルム及びその製造方法並びに有機エレクトロルミネッセンス素子
JP2014201033A (ja) ガスバリア性フィルムおよびその製造方法
JP2013226732A (ja) ガスバリアフィルムの製造方法
JP5768652B2 (ja) バリアーフィルムの製造方法
JP6520932B2 (ja) ガスバリア性フィルム
JPWO2015178069A6 (ja) ガスバリア性フィルム
JP6102986B2 (ja) 水蒸気バリアーフィルムの製造方法、水蒸気バリアーフィルム、電子機器及び有機エレクトロルミネッセンスパネル
JP5552979B2 (ja) ガスバリアフィルムの製造方法、該ガスバリアフィルムを有する有機電子デバイス
JP2014076590A (ja) ガスバリアーフィルム及び電子デバイス

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140116

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150127

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150327

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150908

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151027

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151117

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151130

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5857452

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees