JP5540224B2 - インパルス応答測定方法およびインパルス応答測定装置 - Google Patents
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Description
まず、図1を用いて、非同期系システムにおけるTSP法によるインパルス応答測定の処理の流れについて説明する。なお、非同期系システムにおける複数の同一の信号(繰返し信号)の高精度な周期の検出法と、周波数領域での同期加算平均である同期ベクトル加算平均については後述する。
送信側ユニット2では、周波数領域でのインパルス入力I(k)を、伝達関数H(k)のTSPフィルタ4に入力することによって、TSPフィルタ4の出力であるH(k)I(k)が得られる。次に、このTSPフィルタ4の出力であるH(k)I(k)に対して、逆離散フーリエ変換処理部5でIDFT(Inverse Discrete Fourier Transform)を実行することによって、送信側ユニット2のデータのサンプリングクロック周波数fsに同期したサンプル列であるTSP信号h(n)が得られる。次に、このTSP信号h(n)をD/A変換器6に通すことによってTSP信号h(t)が得られる。そして、このTSP信号h(t)を、インパルス応答特性g(t)である空間などからなる測定対象(被測定系)に入力することによって、被測定信号の出力x(t)=h(t)*g(t)(*は畳み込み演算を表す)が得られる。
受信側ユニット3では、被測定系を通して得られた被測定信号x(t)(=h(t)*g(t))を、サンプラー(あるいはA/D変換器)7において、受信側ユニット3のデータのサンプリングクロック周波数f's=fs/α(αは周波数比を表す)でサンプリングすることによって、受信側ユニット3のサンプリングクロック周波数f'sに同期したサンプル列である出力信号x(m)が得られる。次に、この出力信号x(m)に対して、DFT処理部8でDFTを実行することによって、X(l)が得られ、このX(l)とTSP逆フィルタH−1(l)9の伝達特性との乗算H−1(l)X(l)を行うことによってG'(l)が得られる。次に、このG'(l)に対してIDFT処理部10でIDFTを実行することによって、サンプル列であるg(m)が得られ、このg(m)をD/A変換器11に通すことによってインパルス応答波形g(t)が得られる。なお、この例で示したD/A変換器6、11には、入力される信号をD/A変換し、アナログゲート等でパルス列を作り、アナログ低域フィルタで補間を行う機能が含まれている。
まず、周波数領域での同期ベクトル加算平均について詳細に説明する。
<数式1>
θ(ω)=−ωτ、ω=2πf 、τ=[CN+{Cφ/(2π)}]/f's ・・・ (1)
ただし、f's:サンプリングクロック周波数
CN:位置誤差時間τ内に存在するサンプリングクロック数
Cφ:位置誤差時間τ間位相を2πCNで測定しきれない分のサンプリングクロック間位相
この値は、数値の表現範囲での分解能を持つことができるので、データ量を増加せずに精度を確保できる。この特長により、各信号データ列間の周期の時間ずれ量に見合うようDFTした信号データの周波数毎の位相回転量を加減した上で、信号データ列全体における周波数毎にベクトル加算と平均処理をして、補正されたDFT(伝達関数)の結果X(l)を得ることができる。
次に、TSP逆フィルタH-1(k)の補正原理について詳細に説明する。
<数式2>
x(αt)⇔(1/|α|)X(f/α) ・・・ (2)
これは定性的に言えば、α>1とすると、時間領域の波形は時間軸側に縮小した形になるが、周波数領域では周波数軸上で拡大し、振幅は小さくなる。
ここで、TSPフィルタ(伝達関数)あるいは離散的フーリエ変換(DFT)H(k)は以下の式が提案されている(例えば、特許文献3参照)。
<数式3>
H(k)=exp(jβk2) 0≦k≦M/2(Mは整数)
H*(M−k)=exp{−jβ(M−k)2} (M/2)+1<k<M
β(M/2)2=2Lπ⇔β=8Lπ/M2(Lは整数)
・・・ (3)
この式においてN≧αmaxMの条件が成り立つN点DFTを考慮し、かつ式(3)を参考にして、以下の式(4)に変形する。図4のように周期Nの繰り返し特性となる。
<数式4>
H(k)=exp(jβk2) 0≦k≦M/2−1
H*(k)=exp(−jβk2) (M/2)≦k<0
H(k)=0 −N/2≦k≦−(M/2+1)及び(M/2)≦k≦N/2−1
β=8Lπ/M2(Lは整数)
・・・ (4)
上記フーリエ変換対の式x(αt)⇔(1/|α|)X(f/α)より検出波形の時間軸がα倍されたとするとフーリエ変換した周波数軸は1/α倍となる。図4を用いて考察したスケールファクタαのDFTへの展開を踏まえると、送信側ユニット2のTSPフィルタH(k)と受信側ユニット3のTSPフィルタH(l)の位相θの特性は図6のようになる。なお、同図はα>1として描いている。
<数式5>
H(l)=(1/|α|)exp{jβ(l/α)2}
=(1/|α|)exp{j(β/α2 )l2}, 0≦l≦〔αM/2〕−1
H*(l)=(1/|α|)exp{−j(β/α2)l2}, −〔αM/2〕≦l<0
H(l)=0,−N/2≦l≦−〔αM/2〕−1及び〔αM/2〕≦l≦N/2−1
β=8Lπ/M2
・・・ (5)
ただし、〔αM/2〕はαM/2を計算し整数に丸めた値を示す。丸めはたとえば四捨五入をする。
<数式6>
H−1(l)=|α|exp{−j(β/α2)l2}, 0≦l≦〔αM/2〕−1
H*−1(l)=|α|exp{j(β/α2)l2}, −〔αM/2〕≦l<0
H−1(l)=0,−N/2≦l≦−〔αM/2〕−1及び〔αM/2〕≦l≦N/2−1
β=8Lπ/M2
α=fs/f's
fs:送信側のサンプリング周波数
f's:受信側のサンプリング周波数
・・・ (6)
なお、ここでは被測定系のインパルス応答の時間長TLは、図4における受信側の周期T以下であるとしている。
ここで、複数の同期加算データ列が連続している場合と、各データ列間隔が一定でない場合について検討する。特に後者は、低域の外来ノイズに対して強くするために提案されている(特許文献4.特許文献5参照)。
このときのスケールファクタαは、データ列全体の自己相関を取るかあるいは隣接するデータ列の相互相関を取れば周期(隣接するデータ列間の時間差)が求まるので、これにより送信側の予め決められた周期(隣接するデータ列間の時間差)と比較して求められる。前記相互相関処理によって周期を求めるとき補間処理をして精度を上げる方法は、上記した同期加算平均を取るときと同様である。同期加算する先頭のデータ列は回路系の過渡応答等の影響で波形が安定していない場合は、同期加算平均データ列としては使わない。
この場合は、同期加算平均するデータの先端部が過渡応答の影響を受けないようにするため、あるいはその後端部が切り出したときにデータを失わないようにする必要がある。そのために、2つ以上のN点信号データブロックを一塊としたデータブロックとし、このデータブロックの間隔を変えてデータ列を構成する。過渡応答あるいは切り出し時のデータ損失を伴わないのであれば、1つのN点信号データブロックを一塊としたデータブロック構成でも良い。
2 送信側ユニット
3 受信側ユニット
4 TSPフィルタ
5 IDFT処理部
6、11 D/A変換器
7 サンプラー(あるいはA/D変換器)
8 DFT処理部
9 TSP逆フィルタH−1(l)
10 IDFT処理部
12 CD
13 CDプレーヤ
14 スピーカ
15 マイクロホン
16 オーディオサウンドアナライザ(ASA)
17 PC
Claims (8)
- 第1のサンプリングクロック周波数を有する同期信号を用いて、被測定系に入力する任意波形の入力信号を生成する入力信号生成ステップと、
第2のサンプリングクロック周波数を有する同期信号を用いて、前記被測定系から出力される被測定信号の離散値系への変換を行う信号変換ステップと、
前記第1のサンプリングクロック周波数と前記第2のサンプリングクロック周波数との周波数比に応じて前記入力信号の周波数特性を示す関数の逆関数である逆フィルタの位相を少なくとも補正する逆フィルタ補正ステップと、を有し、
補正後の前記逆フィルタを用いて前記被測定系のインパルス応答を計測することを特徴とする、
インパルス応答測定方法。 - 前記入力信号生成ステップは、
同じ任意波形の前記入力信号を等間隔あるいは不等間隔で繰返し発生する信号発生器、または前記入力信号と同じ信号が繰返し記録された媒体と前記入力信号を繰返し再生する再生器を測定用信号源として用い、前記測定用信号源から発生される繰返し信号を前記入力信号として前記被測定系に入力し、
前記信号変換ステップは、
前記被測定信号を受信点で受信し、前記測定用信号源と前記受信点の間で共通の同期信号を使用せずに、前記被測定信号の波形から得られた各周期の波形情報を使用して前記被測定信号を切り分け、切り分けた各周期の時間のずれ量は基準とする周期と他の周期の相互相関の相関値が真の最大値となる時間のずれ量により求め、前記時間ずれの補正には各周期の波形を周波数領域の振幅と位相の情報に変換した後、前記時間ずれに相当する周波数ごとの位相ずれ情報に基づいて位相を補正し、先に変換し位相が補正された各周期の周波数ごとの振幅と位相の情報をベクトル量として加算平均し、
前記逆フィルタ補正ステップは、
前記被測定信号の自己相関あるいは繰り返す信号の隣接する信号間の相互相関によって求められる前記被測定信号の信号周期と、前記繰返し信号の周期とにより前記周波数比を求め、前記繰返し信号の周波数領域における前記逆フィルタの位相を前記周波数比に応じて補正し、
前記信号変換ステップによる加算平均の結果と、前記逆フィルタ補正ステップによる補正後の逆フィルタとの積を算出し、この算出結果を時間領域に変換して前記インパルス応答を計測することを特徴とする、
請求項1に記載のインパルス応答測定方法。 - 前記信号変換ステップは、
前記時間ずれの補正に各周期を離散的フーリエ変換(DFT)して前記周波数領域の振幅と位相の情報に変換した後、前記時間ずれに相当する周波数ごとの位相ずれ情報に基づいて位相を補正し、各周期の和をベクトル量として加算平均することを特徴とする、
請求項2に記載のインパルス応答測定方法。 - 前記逆フィルタ補正ステップは、
前記自己相関または前記相互相関による相関値の最大値を補間して求めることを特徴とする、
請求項2または3に記載のインパルス応答測定方法。 - 第1のサンプリングクロック周波数を有する同期信号を用いて、被測定系に入力する任意波形の入力信号を生成する入力信号生成手段と、
第2のサンプリングクロック周波数を有する同期信号を用いて、前記被測定系から出力される被測定信号の離散値系への変換を行う信号変換手段と、
前記第1のサンプリングクロック周波数と前記第2のサンプリングクロック周波数との周波数比に応じて前記入力信号の周波数特性を示す関数の逆関数である逆フィルタの位相を少なくとも補正する逆フィルタ補正手段と、を有し、
補正後の前記逆フィルタを用いて前記被測定系のインパルス応答を計測することを特徴とする、
インパルス応答測定装置。 - 前記入力信号生成手段は、
同じ任意波形の前記入力信号を等間隔あるいは不等間隔で繰返し発生する信号発生器、または前記入力信号と同じ信号が繰返し記録された媒体と前記入力信号を繰返し再生する再生器を測定用信号源として用い、前記測定用信号源から発生される繰返し信号を前記入力信号として前記被測定系に入力し、
前記信号変換手段は、
前記被測定信号を受信点で受信し、前記測定用信号源と前記受信点の間で共通の同期信号を使用せずに、前記被測定信号の波形から得られた各周期の波形情報を使用して前記被測定信号を切り分け、切り分けた各周期の時間のずれ量は基準とする周期と他の周期の相互相関の相関値が真の最大値となる時間のずれ量により求め、前記時間ずれの補正には各周期の波形を周波数領域の振幅と位相の情報に変換した後、前記時間ずれに相当する周波数ごとの位相ずれ情報に基づいて位相を補正し、先に変換し位相が補正された各周期の周波数ごとの振幅と位相の情報をベクトル量として加算平均し、
前記逆フィルタ補正手段は、
前記被測定信号の自己相関あるいは繰り返す信号の隣接する信号間の相互相関によって求められる前記被測定信号の信号周期と、前記繰返し信号の周期とにより前記周波数比を求め、前記繰返し信号の周波数領域における前記逆フィルタの位相を前記周波数比に応じて補正し、
前記信号変換ステップによる加算平均の結果と、前記逆フィルタ補正ステップによる補正後の逆フィルタとの積を算出し、この算出結果を時間領域に変換して前記インパルス応答を計測することを特徴とする、
請求項5に記載のインパルス応答測定装置。 - 前記信号変換手段は、
前記時間ずれの補正に各周期を離散的フーリエ変換(DFT)して前記周波数領域の振幅と位相の情報に変換した後、前記時間ずれに相当する周波数ごとの位相ずれ情報に基づいて位相を補正し、各周期の和をベクトル量として加算平均することを特徴とする、
請求項6に記載のインパルス応答測定装置。 - 前記逆フィルタ補正手段は、
前記自己相関または前記相互相関による相関値の最大値を補間して求めることを特徴とする、
請求項6または7に記載のインパルス応答測定装置。
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