JP5536540B2 - 磁気記録媒体および磁気記録再生装置 - Google Patents

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Description

本発明は、磁気記録媒体および磁気記録再生装置に関するものである。
磁気記録再生装置の一種であるハードディスク装置(HDD)は、現在その記録密度が年率50%以上増えており、今後も増加傾向が続くと言われている。それに伴って高記録
密度化に適した磁気記録媒体の開発が進められている。
現在市販されている磁気記録再生装置には、磁気記録媒体として、磁性膜内の磁化容易軸が主に垂直に配向した、いわゆる垂直磁気記録媒体が搭載されている。垂直磁気記録媒体は、高記録密度化した際にも記録ビット間の境界領域における反磁界の影響が小さく、鮮明なビット境界が形成されるため、ノイズの増加が抑えられる。しかも、垂直磁気記録媒体は、高記録密度化に伴う記録ビット体積の減少が少なくて済むため、熱揺らぎ特性優れている。
また、垂直磁気記録媒体の記録再生特性を向上させるために、配向制御層を用い、多層の磁性層を形成して、それぞれの磁性層の結晶粒子を連続した柱状晶とし、これにより磁性層の垂直配向性を高めることが提案されている(特許文献1参照)。
また垂直磁気記録媒体にはグラニュラ構造の磁性層が用いられる場合が多い。グラニュラ構造の磁性層は、磁性粒子の周りを非磁性材料が覆った構造を有し、磁性粒子間の磁気的相互作用が非磁性材料により低減されて磁性粒子が磁気的に分離するため媒体ノイズを低減することが可能となる。
グラニュラ構造を形成する非磁性材料には、主に酸化物が使用されている。酸化物としては、より安定した酸化物を形成し、確実に酸化物のまま磁性粒子間に偏析させることが可能な、Ti,Si,Cr,Ta,W,Nb等が用いられる。例えば、特許文献2には、グラニュラ磁性層を形成するスパッタリングターゲットとして、Co合金と、第1の酸化物を形成するTi酸化物及びSi酸化物と、第2の酸化物を形成するCo酸化物を含むものを用いることが記載されている。
特開2004−310910号公報 特開2009−238357号公報
前述のように、垂直磁気記録媒体にグラニュラ構造の磁性層が用いることで、磁性粒子間の磁気的相互作用を低減して媒体ノイズを低減することが可能となったが、磁気記録媒体に対する高記録密度化の要求はとどまることがなく、今まで以上に高記録密度化が可能な磁気記録媒体が求められている。そのため、今まで以上に磁性粒子を微細化し、また磁性粒子を覆う非磁性材料の幅(磁性粒子の粒界幅)を広げたグラニュラ構造の磁性層が求められている。
本発明は、上記事情に鑑みて提案されたものであり、グラニュラ構造の磁性層の磁性粒子を微細化し、また磁性粒子の粒界幅を広げ、今まで以上に高記録密度化に対応可能な電磁変換特性に優れた磁気記録媒体を提供することを目的とする。
本発明者は、上記課題を解決するために、グラニュラ構造の磁性層の形成方法について、以下に示すように、鋭意検討を行った。
すなわち、本発明者は、スパッタリング法によりグラニュラ構造のCo系磁性層を形成するに際し、ターゲットとしてCoOを含む材料を用いると、Co系磁性粒子を微細化し、また磁性粒子の粒界幅を広げ、その界面を鮮明(シャープ)なものとすることが可能であることを見いだした。すなわち、ターゲットに含まれるCoOがスパッタリングに際して分離し、分離したCoはCo系磁性粒子の微細化と孤立化に作用し、他方のOは磁性粒子の粒界幅を広げる作用を有することを解明した。しかしながら、ターゲット中に含まれるCoOはターゲットの焼成等の製造工程において分離しやすく、特にターゲット中に金属CrまたはCr合金が含まれると、これがCoOから奪った酸素と結合して、前述のCo系磁性粒子を微細化し、孤立化し、また磁性粒子の粒界幅を広げる効果がなくなることを見いだした。
そこで本願発明者は、スパッタリング法により基板上にグラニュラ磁性層を形成するに際し、CoOを含み金属CrまたはCr合金を含まないターゲットを用いるとCoOの分離が促進されて、Co系磁性粒子の微細化と粒界幅の拡大が得られ、その界面を鮮明(シャープ)なものとできること、また同時に、Crを含む別のターゲットも併用して磁性層を形成することにより電磁変換特性の優れた磁性層を形成できることを見いだして本願発明を完成させた。
すなわち本願発明は下記に関する。
(1)スパッタリング工程によって基板上にグラニュラ磁性層を形成した磁気記録媒体であって、前記グラニュラ磁性層はCo合金を含む複数の磁性粒子及び前記複数の磁性粒子を分離する酸化物から構成され、前記スパッタリング工程は、酸化コバルトを含み金属CrまたはCr合金を含まないターゲットを用いたことを特徴とする磁気記録媒体。
(2)前記グラニュラ磁性層の磁性粒子の平均粒径が6nm以下であり、磁性粒子の平均粒界幅が1.5nm以上であることを特徴とする(1)に記載の磁気記録媒体。
(3)前記スパッタリング工程には、複数の組成のターゲットを使用し、前記酸化コバルトを含み金属CrまたはCr合金を含まないターゲットと、Crを含むターゲットを用いて、積層成膜もしくはコスパッタ成膜することを特徴とする(1)または(2)に記載の磁気記録媒体。
(4)前記複数の組成のターゲットが、Crを含まないCoPt合金と酸化コバルトを含むターゲットと、CoCr合金を含み酸化コバルト以外の酸化物を含むターゲットであることを特徴とする(3)に記載の磁気記録媒体。
(5)前記Crを含まないCoPt合金と酸化コバルトを含むターゲットが、酸化コバルト以外の酸化物をさらに含むことを特徴とする(4)に記載の磁気記録媒体。
(6)前記酸化コバルト以外の酸化物が、SiO、TiO、TiO、ZrO、Cr、Ta、Nb、Alからなる群から選ばれる何れか1種であることを特徴とする(4)または(5)に記載の磁気記録媒体。
(7)(1)〜(6)のいずれかに1項に記載の磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体に対する情報の記録再生を行う磁気ヘッドとを備えることを特徴とする磁気記録再生装置。
本発明の磁気記録媒体は、磁性粒子が微細であり磁性粒子の粒界幅も広くその界面も鮮明である。よって書き込み特性に優れ、またノイズも低い。この磁気記録媒体を磁気記録再生装置に用いることで高記録密度化に対応可能な装置を提供できる。
図1は、本発明の磁気記録媒体の一例を示したものである。 図2は、配向制御層と垂直磁性層との積層構造を説明するための拡大模式図であり、各層の柱状晶が基板面に対して垂直に成長した状態を示す断面図である。 図3は、垂直磁性層を構成する磁性層の積層構造を拡大して示した断面図である。 図4は、本発明の磁気記録再生装置の一例を示すものである。 図5は、本発明のグラニュラ磁性層のTEM写真である。 図6は、従来のグラニュラ磁性層のTEM写真である。
以下、本発明の磁気記録媒体の製造方法及び磁気記録再生装置について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために、便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。
(磁気記録媒体の製造)
本発明の磁気記録媒体の製造は、例えば、非磁性基板の上に、軟磁性下地層と、直上の層の配向性を制御する配向制御層と、磁化容易軸が前記非磁性基板に対して主に垂直に配向した垂直磁性層とを、少なくとも積層して行う。
図1は、本発明の磁気記録媒体の一例を示したものである。以下、本発明の磁気記録媒体の一例として、図1に示す磁気記録媒体を例に挙げて説明する。図1に示す磁気記録媒体は、非磁性基板1の上に、軟磁性下地層2と、配向制御層3と、垂直磁性層4と、保護層5と、潤滑層6とが順次積層された構造を有している。このうち、軟磁性下地層2と配向制御層3とが下地層を構成している。
「非磁性基板」
非磁性基板1としては、アルミニウムやアルミニウム合金などの金属材料からなる金属基板を用いてもよいし、ガラスや、セラミック、シリコン、シリコンカーバイド、カーボンなどの非金属材料からなる非金属基板を用いてもよい。また、非磁性基板1としては、これら金属基板や非金属基板の表面に、例えばメッキ法やスパッタ法などを用いて、NiP層又はNiP合金層が形成されたものを用いてもよい。
ガラス基板としては、例えば、アモルファスガラスや結晶化ガラスなどを用いることができ、アモルファスガラスとしては、例えば、汎用のソーダライムガラスや、アルミノシリケートガラスなどを用いることができる。また、結晶化ガラスとしては、例えば、リチウム系結晶化ガラスなどを用いることができる。セラミック基板としては、例えば、汎用の酸化アルミニウムや、窒化アルミニウム、窒化珪素などを主成分とする焼結体、又はこれらの繊維強化物などを用いることができる。
非磁性基板1は、その平均表面粗さ(Ra)が2nm(20Å)以下、好ましくは1nm以下であることが、磁気ヘッドを低浮上させた高記録密度記録に適している点から好ましい。また、表面の微小うねり(Wa)が0.3nm以下(より好ましくは0.25nm以下)であることが、磁気ヘッドを低浮上させた高記録密度記録に適している点から好ましい。また、端面のチャンファー部の面取り部と側面部との少なくとも一方の表面平均粗さ(Ra)が10nm以下(より好ましくは9.5nm以下)のものを用いることが、磁気ヘッドの飛行安定性にとって好ましい。なお、微少うねり(Wa)は、例えば、表面荒粗さ測定装置P−12(KLM−Tencor社製)を用い、測定範囲80μmでの表面平均粗さとして測定することができる。
また、非磁性基板1は、Co又はFeが主成分となる軟磁性下地層2と接することで、表面の吸着ガスや、水分の影響、基板成分の拡散などにより、腐食が進行する可能性がある。この場合、非磁性基板1と軟磁性下地層2の間に密着層を設けることが好ましく、これにより、これらを抑制することが可能となる。なお、密着層の材料としては、例えば、Cr、Cr合金、Ti、Ti合金など適宜選択することが可能である。また、密着層の厚みは2nm(30Å)以上であることが好ましい。また、密着層は、スパッタリング法などを用いて形成できる。
「軟磁性下地層」
非磁性基板の上には、軟磁性下地層2が形成される。軟磁性下地層2の形成方法は特に限られるものではなく、例えば、スパッタリング法などを用いることができる。
軟磁性下地層2は、磁気ヘッドから発生する磁束の基板面に対する垂直方向成分を大きくするために、また情報が記録される垂直磁性層4の磁化の方向をより強固に非磁性基板1と垂直な方向に固定するために設けられている。この作用は、特に記録再生用の磁気ヘッドとして垂直記録用の単磁極ヘッドを用いる場合に、より顕著なものとなる。
軟磁性下地層2としては、例えば、Feや、Ni、Coなどを含む軟磁性材料を用いることができる。具体的な軟磁性材料としては、例えば、CoFe系合金(CoFeTaZr、CoFeZrNbなど)、FeCo系合金(FeCo、FeCoVなど)、FeNi系合金(FeNi、FeNiMo、FeNiCr、FeNiSiなど)、FeAl系合金(FeAl、FeAlSi、FeAlSiCr、FeAlSiTiRu、FeAlOなど)、FeCr系合金(FeCr、FeCrTi、FeCrCuなど)、FeTa系合金(FeTa、FeTaC、FeTaNなど)、FeMg系合金(FeMgOなど)、FeZr系合金(FeZrNなど)、FeC系合金、FeN系合金、FeSi系合金、FeP系合金、FeNb系合金、FeHf系合金、FeB系合金などを挙げることができる。
また、軟磁性下地層2としては、Feを60原子%(原子%)以上含有するFeAlO、FeMgO、FeTaN、FeZrN等の微結晶構造、又は微細な結晶粒子がマトリクス中に分散されたグラニュラ構造を有する材料を用いることができる。
その他にも、軟磁性下地層2としては、Coを80原子%以上含有し、Zr、Nb、Ta、Cr、Mo等のうち少なくとも1種を含有し、アモルファス構造を有するCo合金を用いることができる。この具体的な材料としては、例えば、CoZr、CoZrNb、CoZrTa、CoZrCr、CoZrMo系合金などを好適なものとして挙げることができる。
軟磁性下地層2の保磁力Hcは、100(Oe)以下(好ましくは20(Oe)以下)とすることが好ましい。なお、1Oeは79A/mである。軟磁性下地層2の保磁力Hcが上記範囲を超えると、軟磁気特性が不十分となり、再生波形がいわゆる矩形波から歪みをもった波形になるため好ましくない。
軟磁性下地層2の飽和磁束密度Bsは、0.6T以上(好ましくは1T以上)とすることが好ましい。軟磁性下地層2のBsが上記範囲未満であると、再生波形がいわゆる矩形波から歪みをもった波形になるため好ましくない。
また、軟磁性下地層2の飽和磁束密度Bs(T)と軟磁性下地層2の層厚t(nm)との積Bs・t(T・nm)は、15(T・nm)以上(好ましくは25(T・nm)以上)であることが好ましい。軟磁性下地層2のBs・tが上記範囲未満であると、再生波形が歪みを持つようになり、OW(OverWrite)特性(記録特性)が悪化するため
好ましくない。
軟磁性下地層2は、2層の軟磁性膜から構成されていることが好ましく、2層の軟磁性膜の間にはRu膜が設けられていることが好ましい。Ru膜の膜厚を0.4〜1.0nm、又は1.6〜2.6nmの範囲で調整することで、2層の軟磁性膜をAFC構造とすることができる。軟磁性下地層2が、このようなAFC構造を採用したものである場合、いわゆるスパイクノイズを抑制できる。
軟磁性下地層2の最表面(配向制御層3側の面)は、磁性下地層2を構成する材料が、部分的又は完全に酸化されていることが好ましい。例えば、軟磁性下地層2の表面(配向制御層3側の面)及びその近傍に、軟磁性下地層2を構成する材料が部分的に酸化されるか、若しくは上記材料の酸化物を形成して配されていることが好ましい。これにより、軟磁性下地層2の表面の磁気的な揺らぎを抑えることができ、磁気的な揺らぎに起因するノ
イズを低減して、磁気記録媒体の記録再生特性を改善することができる。
「配向制御層」
軟磁性下地層2の上には、配向制御層3が形成されている。配向制御層3は、垂直磁性層4の結晶粒を微細化し、記録再生特性を改善するものである。図1に示すように、本実施形態の配向制御層3は、軟磁性下地層2側に配置された第1配向制御層3aと、第1配向制御層3aの垂直磁性層4側に配置された第2配向制御層3bとからなる。
第1配向制御層3aは、配向制御層3の核発生密度を高めるためのものであり、配向制御層3を構成する柱状晶の核となる結晶を含むものである。本実施形態の第1配向制御層3aでは、図2に示すように、核となる結晶が成長してなる柱状晶S1の頂部に、ドーム状の凸部が形成されている。
第1配向制御層3aは、0.2nm〜1.0nmの範囲内の厚みを有する磁性材料を含む磁性層と、0.2nm〜1.0nmの範囲内の厚みを有し、Ruを50原子%以上含むRu層とを複数積層してなる積層構造からなるものである。 Ru層は、0.2nm〜1.0nmの範囲内の厚みを有し、Ruを50原子%以上含むものであればよいが、Ruを80原子%以上含むものであることが好ましい。Ruを80原子%以上含むRu層とすることで、Ru層のhcp構造が壊れにくくなり、良好なS/N比が得られるものとなる。
第1配向制御層3aのスパッタリングガス圧を0.5Pa〜5Paの範囲とすることで、容易に配向制御層3を構成する柱状晶の核となる結晶を含む第1配向制御層3aが得られる。
第1配向制御層3aのスパッタリングガス圧が上記範囲未満であると、形成する膜の配向性が低下し、垂直磁性層4を構成する磁性粒子42を微細化する効果が不十分となる。また、第1配向制御層3aのスパッタリングガス圧が上記範囲を超えると、形成する膜の結晶性が低下してS/N比が低下するとともに、膜の硬度が低くなり、磁気記録媒体の信頼性が低下する。
第2配向制御層3bは、図2に示すように、第1配向制御層3aに含まれる柱状晶S1の核となる結晶に厚み方向に連続し、頂部にドーム状の凸部が形成された柱状晶S2を含むものである。本実施形態においては、第2配向制御層3bは、第1配向制御層3aに含まれる核となる結晶が成長されてなる柱状晶S1の凸部上に成長され、第1配向制御層3aを構成する結晶粒子と共に厚み方向に連続した柱状晶S2からなる。
第2配向制御層3bの層厚は、7nm以上であることが好ましい。第2配向制御層3bの層厚が上記範囲未満であると、垂直磁性層4の配向性を高め、垂直磁性層4を構成する磁性粒子42を微細化する効果が不十分となり、良好なS/N比が得られない場合がある。
第2配向制御層3bを構成する積層構造は、第1配向制御層3aを構成する積層構造と同様のものを用いることができる。
なお、第2配向制御層3bを構成する積層構造は、第1配向制御層3aを構成する積層構造と同じ材料からなるものであってもよいし、異なる材料からなるものであってもよい。具体的には例えば、第1配向制御層3aおよび第2配向制御層3bのいずれか一方がCo層とRu層とからなる積層構造であり、他方がFe層とRu層とからなる積層構造であってもよい。
第2配向制御層3bは、第1配向制御層3aと同様にスパッタリング法により設けることができるが、第1配向制御層3aよりも高い圧力であって、スパッタリングガス圧5Pa〜18Paの範囲内で形成することが好ましい。
第2配向制御層3bのスパッタリングガス圧を上記範囲とすることで、容易に第1配向制御層3aに含まれる柱状晶S1の核となる結晶に厚み方向に連続し、頂部にドーム状の凸部が形成された柱状晶S2を含む第2配向制御層3bが得られる。
「垂直磁性層」
本願発明の垂直磁性層は、少なくとも1層以上のスパッタリング工程により形成されたグラニュラ磁性層を有し、このグラニュラ磁性層はCo合金を含む複数の磁性粒子及び前記複数の磁性粒子を分離する酸化物から構成される。そしてこのグラニュラ磁性層の形成に際しては酸化コバルトを含み金属CrまたはCr合金を含まないターゲットを用いるため、磁性粒子の微細化、孤立化が図られ、また磁性粒子の粒界の拡大が図られている。
スパッタリング工程に用いられるターゲットは、通常は、金属粉末を所定の組成比に混合後、これを圧縮成形し、これを不活性ガス雰囲気または真空中で高温焼結し製造される。金属粉末は一般的にはガスアトマイズ法により製造される。すなわち、原料を不活性ガス雰囲気中または真空中で溶解し、アルゴンガスまたは窒素ガスの不活性ガスでアトマイズを行う。このとき原料は溶融状態から直接、急速凝固されるため、凝固組織が非常に微細で、組成的にも均一性の高い、平均粒径が数μmの球状粉末が作製できる。
金属粉末の固化成形法には、古くから行われている焼結法やホットプレス法のほかに、高密度化を狙った熱間等方圧プレス(HIP)法、熱間押出法などがある。特に磁気記録媒体用途のターゲットの場合は、組成分布の高い均質性、パーティクル発生が少ないことが求められるため400℃以上での真空中または不活性雰囲気中での高温焼結が必要となり、これに際して前述のCoOの分解が発生する。すなわち、本願発明者は、ターゲットにCoOを含有させると、これがスパッタリングに際して分離し、分離したCoはCo系磁性粒子の微細化に作用し、他方のOは磁性粒子の粒界幅を広げる作用を有することを見いだした。しかしながら、ターゲット中に含まれるCoOはターゲットの高温焼結工程において分離しやすく、特にターゲット中に金属CrまたはCr合金が含まれるとこれがCoOの酸素と結合し、具体的には、CoCr、Cr等を形成し、スパッタリング工程に際してCoとOが分離しにくくなり、前述の効果を失う。そこで本願発明では、ターゲット中に金属CrまたはCr合金を含有させないことにより、ターゲットの製造工程でのCoOとCrとの反応を防止し、スパッタリング工程でのCoとOとの分離を促進可能とする。本願発明の、「金属CrまたはCr合金を含まないターゲット」とは、ターゲット中に実質的に金属CrまたはCr合金を含まない趣旨であり、実質的にとは、3%以下程度の不可避に混入する金属CrまたはCr合金を許容する趣旨である。
また本願発明では、スパッタリング工程に複数の組成のターゲットを使用し、前述の酸化コバルトを含み実質的に金属CrまたはCr合金を含まないターゲットに加え、Crを含むターゲットを使用するのが好ましい。なお、Crを含むターゲットにはCoOを含有させないのがターゲットの製造段階でのCoOの分解による組成変動を防止する上で特に好ましい。
磁気記録媒体のグラニュラ磁性層としてはCoCr系の合金を用いる場合が多い。そのため磁性層にCrを含有させることができないと、磁性合金の選択の幅が狭くなる。そこで本願発明では、スパッタリング工程に、酸化コバルトを含み実質的に金属CrまたはCr合金を含まないターゲットに加え、Crを含むターゲットを使用することにより、スパッタリング工程で前者のターゲットからはCoOの分離物を供給し、後者のターゲットからはCrを供給し、全体としては微細化したCoCr系磁性粒子と、その磁性粒子の粒界幅を広げるOを供給することが可能となる。
特に本願発明では、この複数の組成のターゲットとして、Crを含まないCoPt合金と酸化コバルトを含むターゲットと、CoCr合金を含み酸化コバルト以外の酸化物を含むターゲットを用いることにより、磁気記録媒体の磁性合金として多用されるCoCrPt系の磁性粒子を有するグラニュラ構造の磁性層を形成することができる。またこの際、Crを含まないCoPt合金と酸化コバルトを含むターゲットとして、酸化コバルト以外の酸化物を含有させることが好ましく、また、酸化コバルト以外の酸化物として、SiO、TiO、TiO、ZrO、Cr、Ta、Alからなる群から選ばれる何れか1種を用いるのが好ましい。具体的な複数のターゲットの組み合わせとしては、CoPt−CoOとCoCr−SiO、CoPt−CoOとCoCr−TiO、CoPt−CoOとCoCr−TiO−SiO、CoPt−CoOとCoCr−TiO−SiO−TiO、CoPt−SiO−CoOとCoCrPt−SiO、CoPt−SiO−CoOとCoCrPt−SiO−TiOなどが例示できる。
本願発明のグラニュラ構造磁性層のスパッタリング方法としては、複数の組成のターゲットを同時に使用したコスパッタリング工程の他、一つの組成のターゲットを使用した成膜の後、他の組成のターゲットを使用した成膜を行う工程を用いても良い。前者の方法で、CoPt−CoOとCoCr−SiOのターゲットを用いた場合、CoCrPt−SiO2またはCoCrPt−SiO−CoOの構造の1層のグラニュラ磁性層が形成できるが、後者の方法では、CoPt−CoOとCoCr−SiOの2層構造のグラニュラ磁性層が形成する。ただし後者の場合でも、2層の磁性層の界面では、両層の構成元素の相互拡散によりCoCrPt−SiO−CoOグラニュラ磁性層が形成されていると考えられる。そして後者の製造方法は、2台の成膜装置内に各1種類のターゲットを設置するだけで良いため、成膜装置を簡略化できる効果を有する。
本願発明の垂直磁性層を図1により説明する。本願発明の垂直磁性層4は例えば第2配向制御層3bの上に形成されている。図1に示すように、垂直磁性層4は、例えば非磁性基板1側から、第1の磁性層4a、第2の磁性層7a、第3の磁性層4b、第4の磁性層7b、第5の磁性層4cを含むものである。この内、第1の磁性層4a、第2の磁性層7a、第3の磁性層4b、第4の磁性層7bは、酸化コバルトを含み実質的に金属CrまたはCr合金を含まない磁性層と、酸化コバルトを含まずCrを含む磁性層との積層構造とすることが好ましく、例えば、CoPt−SiO2−CoO(第1の磁性層4a)、CoCrPt−SiO(第2の磁性層7a)、CoPt−SiO−CoO(第3の磁性層4b)、CoCrPt−SiO(第4の磁性層7b)とすることができる。この積層構造の場合、前述のように、各層の界面では、CoCrPt−SiO−CoOの磁性層が形成され、この磁性層では微細化したCoCrPt系磁性粒子と、その磁性粒子の粒界幅を広げる非磁性酸化物が形成している。なお、第5の磁性層4cの好ましい構成については後述する。
各磁性層4a、4b、7a、7bを構成する結晶粒子は、配向制御層3の第1配向制御層3aおよび第2配向制御層3bの柱状晶と連続した柱状晶として、配向制御層3上にエピタキシャル成長している。
図3は、垂直磁性層を構成する磁性層の積層構造を拡大して示した断面図である。図3に示すように、垂直磁性層4を構成する磁性層4aは、グラニュラ構造の磁性層であり、Co、Cr、Ptを含む磁性粒子(磁性を有した結晶粒子)42と、酸化物41とを含むものであることが好ましい。
酸化物41としては、例えばSi、Ta、Al、Ti、Mg、Coなどの酸化物を用いることが好ましい。その中でも特に、TiO、SiOなどを好適に用いることができる。また、磁性層4aは、酸化物を2種類以上添加した複合酸化物からなることが好ましい。その中でも特に、SiO−TiOなどを好適に用いることができる。
磁性粒子42は、磁性層4a中に分散していることが好ましい。また、磁性粒子42は、磁性層4a、4b、7a、7b更には磁性層4cを上下に貫いた柱状構造を形成していることが好ましい。このような構造を有することにより、磁性層4aの配向及び結晶性が良好なものとなり、結果として高密度記録に適した信号/ノイズ比(S/N比)が得られる。
柱状構造の磁性粒子42を有する垂直磁性層4を得るためには、磁性層4aに含まれる酸化物41の含有量及び磁性層4aの成膜条件が重要となる。磁性層4aに含まれる酸化物41の含有量は、磁性粒子42を構成する、例えばCo、Pt等の合金を1つの化合物として算出したmol総量に対して、3mol%以上18mol%以下であること
が好ましく、6mol%以上13mol%以下であることがより好ましい。
磁性層4a中の酸化物41の含有量として上記範囲が好ましいのは、磁性層4aを形成した際に磁性粒子42の周りに酸化物41が析出し、磁性粒子42の孤立化及び微細化が可能となるためである。一方、酸化物41の含有量が上記範囲を超えた場合には、酸化物41が磁性粒子42中に残留し、磁性粒子42の配向性及び結晶性を損ねたり、磁性粒子42の上下に酸化物41が析出して、磁性粒子42が磁性層4a〜4cを上下に貫いてなる柱状構造が形成されなくなったりするため好ましくない。また、酸化物41の含有量が上記範囲未満である場合には、磁性粒子42の分離及び微細化が不十分となり、結果として記録再生時におけるノイズが増大し、高密度記録に適した信号/ノイズ比(S/N比)が得られなくなるため好ましくない。
磁性層4a中のPtの含有量は、8原子%以上25原子%以下であることが好ましい。
Ptの含有量が8原子%未満であると、高密度記録に適した熱揺らぎ特性を得るために垂直磁性層4に必要な磁気異方性定数Kuが得られないため好ましくない。Ptの含有量が25原子%を超えると、磁性粒子42の内部に積層欠陥が生じ、その結果、磁気異方性定数Kuが低くなる。また、Ptの含有量が上記範囲を超えた場合、磁性粒子42中にfcc構造の層が形成され、結晶性及び配向性が損なわれるおそれがあるため好ましくない。
したがって、高密度記録に適した熱揺らぎ特性及び記録再生特性を得るためには、磁性層4a中Ptの含有量を上記範囲とすることが好ましい。
磁性層4aの磁性粒子42には、Co、Ptの他に、B、Ta、Mo、Cu、Nd、W、Nb、Sm、Tb、Ru、Reの中から選ばれる1種類以上の元素が含まれていてもよい。上記元素を含むことにより、磁性粒子42の微細化を促進、又は結晶性や配向性を向上させることができ、より高密度記録に適した記録再生特性、熱揺らぎ特性を得る
ことができる。
また、磁性粒子42中に含まれるCo、Ptの他の上記元素の合計の含有量は、10原子%以下であることが好ましい。上記元素の合計の含有量が10原子%を超えると、磁性粒子42中にhcp相以外の相が形成されるため、磁性粒子42の結晶性及び配向性が乱れ、結果として高密度記録に適した記録再生特性及び熱揺らぎ特性が得られないため好ましくない。
磁性層4aの成膜に適したターゲット材料としては、例えば、80(Co18Pt)−10(SiO)−10(CoO){Pt含有量18原子%、残部Coからなる磁性粒子を1つの化合物として算出したモル濃度が80mol%、SiOからなる酸化物組成が10mol%、CoOからなる酸化物組成が10mol%}、82(Co16Pt)−8(SiO)−10(CoO)、84(Co14Pt4Nb)−6(Cr)−10(CoO)の他、(CoPt)−(Ta)−(CoO)、(CoPt)−(Cr)−(TiO)−(CoO)、(CoPt)−(Cr)−(SiO)−(CoO)、(CoPt)−(Cr)−(SiO)−(TiO)−(CoO)、(CoPtMo)−(TiO)−(CoO)、(CoPtW)−(TiO)−(CoO)、(CoPtB)−(Al)−(CoO)、(CoPtTaNd)−(MgO)−(CoO)、(CoPtBCu)−(Y)−(CoO)、(CoPtRu)−(SiO)−(CoO)などの組成物を挙げることができる。
図3に示すように、垂直磁性層4を構成する磁性層4bも磁性層4aと同様に、グラニュラ構造の磁性層であり、その好ましい組成、成膜に適したターゲット材料は前述の磁性層4aと同様である。
図3で垂直磁性層4を構成する磁性層7a、7bは、磁性層4a、4bと同様にグラニュラ構造の磁性層であるが、これらの層は、Co、Cr、Ptを含む磁性粒子(磁性を有した結晶粒子)42と、酸化物41とを含むものであることが好ましい。またこの層の成膜に用いられるターゲットもCo、Cr、Ptの合金と酸化物を含む構成となるが、このターゲットはCr合金を含むため、酸化物としてCoOを添加しても前述のようにターゲット内でCoOの形態では存在しにくい。
磁性層7a、7bの酸化物41は、Cr、Si、Ta、Al、Ti、Mg、Coの酸化物であることが好ましい。中でも特に、TiO、Cr、SiOを酸化物41として好適に用いることができる。また、磁性層7a、7bを構成する酸化物41は、2種類以上の酸化物からなる複合酸化物であることが好ましい。中でも特に、Cr−SiO、Cr−TiO、Cr−SiO−TiOなどからなる複合酸化物を酸化物41として好適に用いることができる。
磁性層7a、7bを構成する磁性粒子42は、磁性層7a、7b中に分散していることが好ましい。
磁性粒子42は、磁性層4a,7a、4b、7b、更には磁性層4cを上下に貫いた柱状構造を形成していることが好ましい。このような構造を形成することにより、磁性層7a、7bの磁性粒子42の配向及び結晶性が良好なものとなり、結果として高密度記録に適した信号/ノイズ比(S/N比)が得られる。
磁性層7a、7b中の酸化物41の含有量は、磁性粒子42を構成する、例えばCo、Cr、Pt等の化合物の総量に対して、3mol%以上18mol%以下であることが好ましく、さらに好ましくは6mol%以上13mol%以下である。磁性層7a、7b中の酸化物41の含有量として上記範囲が好ましい理由は、垂直磁性層4を構成する磁性層4a、4b中の酸化物41の含有量と同じである。
磁性層7a、7b中のCrの含有量は、4原子%以上18原子%以下(さらに好ましくは8原子%以上15原子%以下)であることが好ましい。Crの含有量を上記範囲としたのは、磁性粒子42の磁気異方性定数Kuを下げ過ぎず、また、高い磁化を維持し、結果として高密度記録に適した記録再生特性と十分な熱揺らぎ特性が得られるためである。
一方、磁性層7a、7b中のCrの含有量が上記範囲を超えた場合には、磁性粒子42の磁気異方性定数Kuが小さくなるため、熱揺らぎ特性が悪化し、また、磁性粒子42の結晶性及び配向性が悪化することで、結果として記録再生特性が悪くなるため好ましくない。また、Crの含有量が上記範囲未満である場合には、磁性粒子42の磁気異方性定数Kuが高くなるため、垂直保磁力が高くなり過ぎてデータを記録する際に、磁気ヘッドで十分に書き込むことができず、結果として高密度記録に適さない記録特性(OW)となるため好ましくない。
磁性層7a、7b中のPtの含有量は、10原子%以上25原子%以下であることが好ましい。Ptの含有量が10原子%未満であると、高密度記録に適した熱揺らぎ特性を得るために垂直磁性層4に必要な磁気異方性定数Kuが得られないため好ましくない。Ptの含有量が25原子%を超えると、磁性粒子42の内部に積層欠陥が生じ、その結果、磁気異方性定数Kuが低くなる。また、Ptの含有量が上記範囲を超えた場合、磁性粒子42中にfcc構造の層が形成され、結晶性及び配向性が損なわれるおそれがあるため好ましくない。したがって、高密度記録に適した熱揺らぎ特性及び記録再生特性を得るためには、磁性層7a、7b中Ptの含有量を上記範囲とすることが好ましい。
磁性層7a、7bの磁性粒子42には、磁性層4aの磁性粒子42と同様に、Co、Cr、Ptの他に、B、Ta、Mo、Cu、Nd、W、Nb、Sm、Tb、Ru、Reの中から選ばれる1種類以上の元素が含まれていてもよい。上記元素を含むことにより、磁性粒子42の微細化を促進、又は結晶性や配向性を向上させることができ、より高密度記録に適した記録再生特性、熱揺らぎ特性を得ることができる。
また、磁性層7a、7bの磁性粒子42中に含まれるCo、Cr、Ptの他の上記元素の合計の含有量は、磁性層4aの磁性粒子42と同様の理由により、10原子%以下であることが好ましい。
垂直磁性層4を構成する磁性層4cは、図3に示すように、Co、Crを含む磁性粒子(磁性を有した結晶粒子)42を含み、酸化物41を含まないものであることが好ましい。磁性層4c中の磁性粒子42は、磁性層4a中の磁性粒子42から柱状にエピタキシャル成長しているものであることが好ましい。この場合、磁性層4a〜4cの磁性粒子42が、各層において1対1に対応して、柱状にエピタキシャル成長することが好ましい。また、磁性層4bの磁性粒子42が磁性層4a中の磁性粒子42からエピタキシャル成長していることで、磁性層4bの磁性粒子42が微細化され、さらに結晶性及び配向性が向上したものとなる。
磁性層4c中のCrの含有量は、10原子%以上24原子%以下であることが好ましい。Crの含有量を上記範囲とすることで、データの再生時における出力を十分確保でき、更に良好な熱揺らぎ特性を得ることができる。一方、Crの含有量が上記範囲を超える場合、磁性層4cの磁化が小さくなり過ぎるため好ましくない。また、Cr含有量が上記範囲未満である場合には、磁性粒子42の分離及び微細化が十分に生じず、記録再生時のノイズが増大し、高密度記録に適した信号/ノイズ比(S/N比)が得られなくなるため好ましくない。
また、磁性層4cを構成する磁性粒子42が、Co、Crの他にPtを含んだ材料である場合、磁性層4c中のPtの含有量は、8原子%以上25原子%以下であることが好ましい。Ptの含有量が上記範囲である場合、高記録密度に適した十分な保磁力を得ることができ、更に記録再生時における高い再生出力を維持し、結果として高密度記録に適した記録再生特性および熱揺らぎ特性が得られる。一方、磁性層4c中のPtの含有量が上記範囲を超えると、磁性層4c中にfcc構造の相が形成され、結晶性及び配向性が損なわれるおそれがあるため好ましくない。また、Ptの含有量が上記範囲未満である場合、高密度記録に適した熱揺らぎ特性を得るための磁気異方性定数Kuが得られないため好ましくない。
磁性層4cを構成する磁性粒子42は、非グラニュラ構造の磁性層であり、Co、Cr、Ptの他に、B、Ta、Mo、Cu、Nd、W、Nb、Sm、Tb、Ru、Re、Mnの中から選ばれる1種類以上の元素を含むことができる。上記元素を含むことにより、磁性粒子42の微細化を促進、又は結晶性や配向性を向上させることができ、より高密度記録に適した記録再生特性及び熱揺らぎ特性を得ることができる。
また、磁性層4cの磁性粒子42中に含まれるCo、Cr、Ptの他の上記元素の合計の含有量は、16原子%以下であることが好ましい。上記元素の合計の含有量が16原子%を超えると、磁性粒子42中にhcp相以外の相が形成されるため、磁性粒子42の結晶性及び配向性が乱れ、結果として高密度記録に適した記録再生特性、熱揺らぎ特性が得られないため好ましくない。
磁性層4cに適した材料としては、特に、CoCrPt系、CoCrPtB系を挙げることできる。CoCrPtB系としては、CrとBとの合計の含有量が18原子%以上28原子%以下であるものが好ましい。
磁性層4cに適した材料としては、例えば、CoCrPt系では、Co14〜24Cr8〜22Pt{Cr含有量14〜24原子%、Pt含有量8〜22原子%、残部Co}、CoCrPtB系では、Co10〜24Cr8〜22Pt0〜16B{Cr含有量10〜24原子%、Pt含有量8〜22原子%、B含有量0〜16原子%、残部Co}が好ましい。その他の系としては、CoCrPtTa系では、Co10〜24Cr8〜22Pt1〜5Ta{Cr含有量10〜24原子%、Pt含有量8〜22原子%、Ta含有量1〜5原子%、残部Co}、CoCrPtTaB系では、Co10〜24Cr8〜22Pt1〜5Ta1〜10B{Cr含有量10〜24原子%、Pt含有量8〜22原子%、Ta含有量1〜5原子%、B含有量1〜10原子%、残部Co}の他にも、CoCrPtBNd系、CoCrPtTaNd系、CoCrPtNb系、CoCrPtBW系、CoCrPtMo系、CoCrPtCuRu系、CoCrPtRe系などの材料を挙げることができる。
垂直磁性層4の垂直保磁力(Hc)は、3000[Oe]以上とすることが好ましい。保磁力が3000[Oe]未満である場合には、記録再生特性、特に周波数特性が不良となり、また、熱揺らぎ特性も悪くなるため、高密度記録媒体として好ましくない。 垂直磁性層4の逆磁区核形成磁界(−Hn)は、1500[Oe]以上であることが好ましい。逆磁区核形成磁界(−Hn)が1500[Oe]未満である場合には、熱揺らぎ耐性に劣るため好ましくない。
垂直磁性層4を構成する磁性粒子42の平均粒径は3〜12nmの範囲内、粒界幅は0.5〜4nmの範囲内であることが好ましく、特に本願発明では平均粒径を6nm以下、Co系磁性粒子の粒界幅は1.5nm以上とし、かつその磁性粒子の界面を鮮明(シャープ)なものとすることができる。前述のように、本願発明ではグラニュラ磁性層を形成するに際し、CoOを含み金属CrまたはCr合金を含まないターゲットを用いているので、CoOの分離が促進されて、Co系磁性粒子の微細化、孤立化と粒界幅の拡大が得られ、その界面を鮮明(シャープ)なものとできる。磁性粒子42の平均粒径、粒界幅、磁性粒子の界面の鮮明さは、例えば垂直磁性層4をTEM(透過型電子顕微鏡)で観察し、観察像を画像処理することにより求めることができる。
図5には本願発明のグラニュラ磁性層、図6には従来のグラニュラ磁性層を示すが、本願発明のグラニュラ磁性層を構成する磁性粒子は粒径6nm以下、粒界幅1.5nm以上であり、その界面が鮮明で、磁性粒子の孤立化が実現されている。なお、TEM写真の画像処理から算出された図5の磁性粒子の平均粒径は5.9nm、粒界幅は1.5nmであり、図6の磁性粒子の平均粒径は6.7nm、粒界幅は0.9nmであった。
垂直磁性層4の厚みは、5〜20nmとすることが好ましい。垂直磁性層4の厚みが上記未満であると、十分な再生出力が得られず、熱揺らぎ特性も低下する。また、垂直磁性層4の厚さが上記範囲を超えると、垂直磁性層4中の磁性粒子42の肥大化が生じ、記録再生時におけるノイズが増大し、信号/ノイズ比(S/N比)や記録特性(OW)に代表される記録再生特性が悪化するため好ましくない。
本発明では、垂直磁性層4を構成する複数の磁性層4a、7a、4b、7b、4cのうち、非磁性基板1側の磁性層4a〜7bをグラニュラ構造の磁性層とし、保護層5側の磁性層4cを、酸化物を含まない非グラニュラ構造の磁性層とすることが好ましい。このような構成とすることにより、磁気記録媒体の熱揺らぎ特性、記録特性(OW)、S/N比等の各特性の制御・調整をより容易に行うことが可能となる。
また、本発明では、上記垂直磁性層4を6層以上の磁性層で構成することも可能である。例えば、上記磁性層4a〜7bに加えて、さらにグラニュラ構造の磁性層を形成し、これら4層のグラニュラ構造の磁性層の上に、さらに酸化物を含む磁性層を設けた構成としてもよい。
また、本発明では、垂直磁性層4を構成する複数の磁性層間に非磁性層を設けても良い。なお前述のように、磁性層4a、4bと磁性層7a、7bとの間では相互拡散が生ずることが好ましいため、複数の磁性層間に非磁性層を設ける場合はこの相互拡散を阻害しない方法、程度で設けるのが好ましい。具体的には、磁性層4bと磁性層7bとの間に非磁性層を設けて磁性層4aと磁性層7aとの間には設けない構成や、磁性層7bと磁性層4cとの間のみに非磁性層を設ける構成や、磁性層4bと磁性層7bとの間と磁性層7bと磁性層4cとの間のみに非磁性層を設ける構成がある。
非磁性層としては、hcp構造を有する材料を用いることが好ましい。具体的には、例えば、Ru、Ru合金、CoCr合金、CoCrX合金(Xは、Pt、Ta、Zr、Re,Ru、Cu、Nb、Ni、Mn、Ge、Si、O、N、W、Mo、Ti、V、Zr、Bの中から選ばれる少なくとも1種又は2種以上の元素を表す)などを好適に用いることができる。
また、非磁性層として、その上下の磁性層の結晶性や配向性を損ねない範囲で、他の構造をとる金属や合金などを使用することもできる。具体的には、例えば、Pd、Pt、Cu、Ag、Au、Ir、Mo、W、Ta、Nb、V、Bi、Sn、Si、Al、C、B、Cr又はそれらの合金を用いることができる。特に、Cr合金としては、CrX(Xは、Ti、W、Mo、Nb、Ta、Si、Al、B、C、Zrの中から選ばれる少なくとも1種又は2種以上の元素を表す。)などを好適に用いることが可能である。Cr合金中のCrの含有量は60原子%以上とすることが好ましい。
また、非磁性層としては、上記合金の金属粒子が酸化物、金属窒化物、又は金属炭化物中に分散した構造のものを用いることが好ましい。さらに、この金属粒子が非磁性層を上下に貫いた柱状構造を有することがより好ましい。このような構造とするためには、酸化物、金属窒化物、又は金属炭化物を含んだ合金材料を使用することが好ましい。具体的には、酸化物として、例えば、SiO、Al、Ta、Cr、MgO、Y、TiOなど、金属窒化物として、例えば、AlN、Si、TaN、CrNなど、金属炭化物として、例えば、TaC、BC、SiCなどをそれぞれ用いることができる。さらに、例えば、CoCr−SiO、CoCr−TiO、CoCr−Cr、CoCrPt−Ta、Ru−SiO、Ru−Si、Pd−TaCなどを用いることができる。
「保護層」
垂直磁性層4上には保護層5が形成される。保護層5は、垂直磁性層4の腐食を防ぐとともに、磁気ヘッドが磁気記録媒体に接触したときの媒体表面の損傷を防ぐためのものである。保護層5としては、従来公知の材料を使用することができ、例えばC、SiO、ZrOを含むものを使用することが可能である。保護層5の厚みは、1〜10nmとすることが、磁気ヘッドと磁気記録媒体との距離を小さくできるので高記録密度の点から好ましい。保護層5は、例えば、CVD(化学気相成長)法などを用いて形成される。
「潤滑層」
保護層5上には潤滑層6が形成される。潤滑層6には、例えば、パーフルオロポリエーテル、フッ素化アルコール、フッ素化カルボン酸などの潤滑剤を用いることが好ましい。潤滑層6は、例えば、ディッピング法などを用いて形成される。
(磁気記録再生装置)
図4は、本発明を適用した磁気記録再生装置の一例を示すものである。
この磁気記録再生装置は、図1に示す構成を有する磁気記録媒体50と、磁気記録媒体50を回転駆動させる媒体駆動部51と、磁気記録媒体50に情報を記録再生する磁気ヘッド52と、この磁気ヘッド52を磁気記録媒体50に対して相対運動させるヘッド駆動部53と、記録再生信号処理系54とを備えている。
記録再生信号処理系54は、外部から入力されたデータを処理して記録信号を磁気ヘッド52に送り、磁気ヘッド52からの再生信号を処理してデータを外部に送ることが可能となっている。本発明を適用した磁気記録再生装置に用いる磁気ヘッド52には、再生素子として巨大磁気抵抗効果(GMR)を利用したGMR素子などを有した、より高記録密度に適した磁気ヘッドを用いることができる。
図4に示す磁気記録再生装置は、本発明の磁気記録媒体の一例である図1に示す磁気記録媒体50と、磁気記録媒体50に対する情報の記録再生を行う磁気ヘッド52とを備えるものであるので、高密度記録に適した信号/ノイズ比(S/N比)、記録特性(OW)が得られる磁気記録媒体を備えた優れたものとなる。
以下、実施例により本発明の効果をより明らかなものとする。なお、本発明は、以下の実施例に限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することができる。
(CoOを含むターゲットの製造)
次の方法にて、82(Co16Pt)−10(CoO)−5(SiO)−3(Cr)からなる組成のターゲットを製造した。
先ず、ガスアトマイズ法により、Co16Pt、CoO、SiO、Cr粉末を製造した。粉末の平均粒径は約5μmとした。この粉末を所定の比率で混合し、モールドに入れ予備成形した後、800℃、圧力200Kgf/cm、アルゴン雰囲気中でホットプレス処理し、その焼結体をターゲット形状に切り出し、上記組成のターゲットを製造した。
(実施例1)
以下に示す製造方法により、実施例1の磁気記録媒体を作製し、評価した。
まず、洗浄済みのガラス基板(コニカミノルタ社製、外形2.5インチ)を、DCマグネトロンスパッタ装置(アネルバ社製C−3040)の成膜チャンバ内に収容して、到達真空度1×10−5Paとなるまで成膜チャンバ内を排気した後、このガラス基板の上に、Crターゲットを用いて層厚10nmの密着層を成膜した。
このようにして得られた密着層の上に、Co−20Fe−5Zr−5Ta{Fe含有量20原子%、Zr含有量5原子%、Ta含有量5原子%、残部Co}のターゲットを用いて100℃以下の基板温度で、層厚25nmの軟磁性層を成膜し、この上にRu層を層厚0.7nmで成膜し、さらにCo−20Fe−5Zr−5Taの軟磁性層を層厚25nmで成膜し、これを軟磁性下地層とした。
次に、軟磁性下地層の上にスパッタリング法により配向制御層を形成した。配向制御層としては、軟磁性下地層側に配置されたRuからなる第1配向制御層と、第1配向制御層の垂直磁性層側に配置されたRuからなる第2配向制御層をスパッタリング法により形成した。なお、第1配向制御層のスパッタリングガス圧は3Pa、第2配向制御層のスパッタリングガス圧は10Paとした。
その後、配向制御層上に、垂直磁性層を形成した。まず、配向制御層上に、82(Co16Pt)−10(CoO)−5(SiO)−3(TiO){Pt含有量18原子%、残部Coの合金を82mol%、CoOからなる酸化物を10mol%、SiOからなる酸化物を5mol%、Crからなる酸化物を3mol%、TiOからなる酸化物を3mol%}のターゲットを用いて磁性層を、スパッタリングガス圧を2Paとして層厚4nmで成膜した。
次に、その上に、92(Co11Cr18Pt)−5(SiO)−3(TiO)からなるターゲットを用いた磁性層を、スパッタリングガス圧を2Paとして層厚4nmで成膜した。
次に、その上に、82(Co16Pt)−10(CoO)−5(SiO)−3(Cr)からなるターゲットを用いた磁性層を、スパッタリングガス圧を2Paとして層厚4nmで成膜した。
次に、その上に、92(Co11Cr18Pt)−5(SiO)−3(Cr)からなるターゲットを用いた磁性層を、スパッタリングガス圧を2Paとして層厚4nmで成膜した。
次に、磁性層の上に、Ruからなる非磁性層を層厚0.3nmで成膜した。 次に、非磁性層の上に、Co20Cr14Pt3B{Cr含有量20原子%、Pt含有量14原子%、B含有量3原子%、残部Co}からなるターゲットを用いて、スパッタリングガス圧を0.6Paとして磁性層を層厚7nmで成膜した。
次に、CVD法により層厚3.0nmの保護層を成膜し、次いで、ディッピング法によりパーフルオロポリエーテルからなる潤滑層を成膜し磁気記録媒体を作製した。
このようにして得られた磁気記録媒体について、米国GUZIK社製のリードライトアナライザRWA1632及びスピンスタンドS1701MPを用いて、記録再生特性として信号/ノイズ比(S/N比)、記録特性(OW)の評価を行った。
なお、磁気ヘッドには、書き込み側にシングルポール磁極を用い、読み出し側にTMR素子を用いたヘッドを使用した。
信号/ノイズ比(S/N比)については、記録密度750kFCIとして測定した。
記録特性(OW)については、先ず、750kFCIの信号を書き込み、次いで100kFCIの信号を上書し、周波数フィルターにより高周波成分を取り出し、その残留割合によりデータの書き込み能力を評価した。その結果、S/N比は13.90dB、OWは42.0dBであった。また評価後、グラニュラ磁性層のTEM観察を行ったところ、磁性粒子の平均粒径は5.8nm、粒界幅は1.6nmであり、磁性粒子の界面は鮮明であった。
(比較例1)
実施例1と同様に磁気記録媒体を製造したが、磁性層は次のように形成した。すなわち、配向制御層上に、92(Co11Cr18Pt)−5(SiO)−3(TiO)の組成のターゲットを用いて磁性層を、スパッタリングガス圧を2Paとして層厚8nmで成膜した。
次に、その上に、92(Co11Cr18Pt)−5(SiO)−3(Cr)からなるターゲットを用いた磁性層を、スパッタリングガス圧を2Paとして層厚8nmで成膜した。
次に、磁性層の上に、Ruからなる非磁性層を層厚0.3nmで成膜した。
次に、非磁性層の上に、Co20Cr14Pt3B{Cr含有量20原子%、Pt含有量14原子%、B含有量3原子%、残部Co}からなるターゲットを用いて、スパッタリングガス圧を0.6Paとして磁性層を層厚7nmで成膜した。
この磁気記録媒体を実施例1と同様の方法で評価したところ、S/N比は13.60dB、OWは39.5dBであった。また評価後、グラニュラ磁性層のTEM観察を行ったところ、磁性粒子の平均粒径は6.7nm、粒界幅は0.8nmであり、磁性粒子の界面は実施例1に比べ不鮮明であった。
1…非磁性基板、2…軟磁性下地層、3…配向制御層、3a…第1配向制御層、3b…第2配向制御層、4…垂直磁性層、7…垂直磁性層、4a…第1の磁性層、7a…第2の磁性層、4b…第3の磁性層、7b…第4の磁性層、4c…第5の磁性層、5…保護層、6…潤滑層、15…酸化物、S1、S2、S3…柱状晶、S1a…凹凸面、41…酸化物、42…磁性粒子、50…磁気記録媒体、51…媒体駆動部、52…磁気ヘッド、53…ヘッド駆動部、54…記録再生信号処理系。

Claims (3)

  1. スパッタリング工程によって基板上にグラニュラ磁性層を形成した磁気記録媒体であって、前記グラニュラ磁性層はCo合金を含む複数の磁性粒子及び前記複数の磁性粒子を分離する酸化物から構成され、前記スパッタリング工程は、複数の組成のターゲットを使用した積層成膜であり、前記複数の組成のターゲットは、CoPt合金と、酸化コバルトと、酸化コバルト以外の酸化物を含み、金属CrまたはCr合金を含まないターゲットと、CoCr合金と、酸化コバルト以外の酸化物を含み、酸化コバルトを含まないターゲットであることを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 前記酸化コバルト以外の酸化物が、SiO、TiO、TiO、ZrO、Cr、Ta、Nb、Alからなる群から選ばれる何れか1種であることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
  3. 請求項1または2に記載の磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体に対する情報の記録再生を行う磁気ヘッドとを備えることを特徴とする磁気記録再生装置。
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