JP5525230B2 - 積層物検査装置 - Google Patents
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Description
複数の層が積層されてなる積層物の層間の汚れを検出する積層物検査装置であって、
前記複数の層が積層されていない状態における前記複数の層毎の登録画像データを取得する画像データ取得手段と、
前記複数の層が積層された状態において前記複数の層の画像を全て含む前記積層物の画像を撮影する画像撮影手段と、
前記画像データ取得手段にて取得された登録画像データと前記画像撮影手段にて撮影された画像とを前記複数の層毎に照合することにより、前記積層物を構成する複数の層のそれぞれについて、前記画像撮影手段にて撮影された画像の前記登録画像データに対するずれを検出するずれ検出手段と、
前記画像データ取得手段にて取得された複数の層毎の登録画像データを、前記ずれ検出手段にて検出されたずれに応じてずらして重ね合わせることにより比較用画像を生成する比較用画像生成手段と、
前記画像撮影手段にて撮影された画像と、前記比較用画像生成手段にて生成された比較用画像とを比較し、差分が生じた場合に当該差分を汚れとして検出する画像比較手段とを有し、
前記ずれ検出手段は、前記画像データ取得手段にて取得された登録画像データから切出された切出し部を、該切出し部に含まれる照合用部位と前記画像撮影手段にて撮影された画像に含まれる照合用部位とが一致するように、前記画像撮影手段にて撮影された画像上に重ね合わせ、所定の領域を基準とした前記切出し部の位置を検出することによって前記ずれを検出する。
2 表面シート
3 印刷層
3a,13a,53a 情報
4 剥離紙
5 インレット
6,56 ICチップ
7 アンテナ
7a,7b,17a,17b,57a,57b 導体部
8 樹脂シート
9 粘着剤
10a〜10c 登録画像データ
12a,12c 切出し部
20 画像データ取得部
30 画像撮影部
31 撮影情報
40 ずれ検出部
50 比較用画像生成部
51 比較用画像
60 画像比較部
70 汚れ
Claims (1)
- 複数の層が積層されてなる積層物の層間の汚れを検出する積層物検査装置であって、
前記複数の層が積層されていない状態における前記複数の層毎の登録画像データを取得する画像データ取得手段と、
前記複数の層が積層された状態において前記複数の層の画像を全て含む前記積層物の画像を撮影する画像撮影手段と、
前記画像データ取得手段にて取得された登録画像データと前記画像撮影手段にて撮影された画像とを前記複数の層毎に照合することにより、前記積層物を構成する複数の層のそれぞれについて、前記画像撮影手段にて撮影された画像の前記登録画像データに対するずれを検出するずれ検出手段と、
前記画像データ取得手段にて取得された複数の層毎の登録画像データを、前記ずれ検出手段にて検出されたずれに応じてずらして重ね合わせることにより比較用画像を生成する比較用画像生成手段と、
前記画像撮影手段にて撮影された画像と、前記比較用画像生成手段にて生成された比較用画像とを比較し、差分が生じた場合に当該差分を汚れとして検出する画像比較手段とを有し、
前記ずれ検出手段は、前記画像データ取得手段にて取得された登録画像データから切出された切出し部を、該切出し部に含まれる照合用部位と前記画像撮影手段にて撮影された画像に含まれる照合用部位とが一致するように、前記画像撮影手段にて撮影された画像上に重ね合わせ、所定の領域を基準とした前記切出し部の位置を検出することによって前記ずれを検出する積層物検査装置。
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