JP5523854B2 - 化学増幅型フォトレジスト組成物及びパターン形成方法 - Google Patents

化学増幅型フォトレジスト組成物及びパターン形成方法 Download PDF

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Description

本発明は、化学増幅型フォトレジスト組成物及びパターン形成方法に関し、より詳細には、半導体の微細加工、液晶、サーマルヘッド等の回路基板の製造、さらにその他のフォトファブリケーション工程に用いられる化学増幅型フォトレジスト組成物及びこれを用いたパターン形成方法に関する。
例えば、メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチル、メタクリル酸3−ヒドロキシ−1−アダマンチル及びα−メタクリロイロキシ−γ−ブチロラクトンを、50:25:25のモル比で仕込み、重合させてなる樹脂と、トリフェニルスルホニウム1−((3−ヒドロキシアダマンチル)メトキシカルボニル)ジフルオロメタンスルホナートからなる酸発生剤と、2,6−ジイソプロピルアニリンからなるクエンチャーと、溶剤とからなる化学増幅型フォトレジスト組成物が提案されている(例えば、特許文献1)。
また、下記モノマーからなる樹脂(繰り返し単位のモル% 40:25:8:27)、トリフェニルスルホニウムパーフルオロオクタンスルホナート及び1−(2−オキソ−2−フェニルエチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロブタンスルホナートからなる酸発生剤と、トリフェニルイミダゾールからなるアミンと溶剤とからなる化学増幅型フォトレジスト組成物が提案されている(例えば、特許文献2)。
Figure 0005523854
特開2006−257078号公報 特開2002−341540号公報
しかしながら、従来の化学増幅型フォトレジスト組成物では、得られるパターンの解像度、ラインエッジラフネス及びパターン倒れ耐性が十分には満足できない場合があった。
本発明は、以下の発明[1]〜[13]を含む。
[1]式(I)で表される酸発生剤(A)と、
酸の作用によりアルカリ可溶となるモノマーから導かれる構造単位(b1)、
少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)及び
ラクトン環を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)を含んでなる樹脂(B)とを含有する化学増幅型フォトレジスト組成物。
Figure 0005523854
[式(I)中、Q及びQは、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
は、単結合又は−[CH−を表し、該−[CH−に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよく、該−[CH−に含まれる水素原子は、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。kは、1〜17の整数を表す。
は、置換基を有してもよい炭素数3〜36の飽和環状炭化水素基を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
は、有機カチオンを表す。]
[2]前記酸の作用によりアルカリ可溶となるモノマーから導かれる構造単位(b1)が、式(II)で表される構造単位である[1]記載の組成物。
Figure 0005523854
[式(II)中、Zは、単結合又は−[CHk1−を表し、−[CHk1−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc1)−で置き換わっていてもよい。k1は、1〜17の整数を表す。Rc1は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。
は、水素原子又はメチル基を表す。
は、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。
は、メチル基を表す。
n1は、0〜14の整数を表す。]
[3]前記式(II)で表される構造単位を導くモノマーが、2−メチル−2−アダマンチルアクリレート、2−メチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−エチル−2−アダマンチルアクリレート、2−エチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−イソプロピル−2−アダマンチルアクリレート又は2−イソプロピル−2−アダマンチルメタアクリレートである[2]記載の組成物。
[4]前記少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)が、式(III)で表される構造単位である[1]〜[3]のいずれか記載の組成物。

Figure 0005523854

[式(III)中、Rは、水素原子又はメチル基を表す。
は、メチル基を表す。
及びRは、互いに独立に、水素原子、メチル基又は水酸基を表す。ただし、R及びRの少なくともいずれか一方は、水酸基を表す。
n2は、0〜10の整数を表す。
は、単結合又は−[CHk2−を表し、−[CHk2−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc2)−で置き換わっていてもよい。k2は、1〜17の整数を表す。Rc2は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。]
[5]式(III)で表される構造単位を導くモノマーが、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート又は3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレートである[4]記載の組成物。
[6]前記ラクトン環を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)が、式(IVa)、式(IVb)又は式(IVc)で表される構造単位である[1]〜[5]のいずれか記載の組成物。

Figure 0005523854

[式(IVa)、式(IVb)及び式(IVc)中、R、R10及びR12は、互いに独立に、水素原子又はメチル基を表す。
は、メチル基を表す。n3は、0〜5の整数を表す。n3が2以上のとき、複数のRは、互いに同一でも異なってもよい。
11及びR13は、互いに独立に、カルボキシル基、シアノ基又は炭素数1〜4の炭化水素基を表す。n4及びn5は、互いに独立に、0〜3の整数を表す。n4及びn5が2以上のとき、複数のR11及びR13は、互いに同一でも異なってもよい。
、Z及びZは、互いに独立に、単結合又は、−[CHk3−を表し、−[CHk3−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc3)−で置き換わっていてもよい。k3は、1〜8の整数を表す。Rc3は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。]
[7]前記式(I)におけるYが、式(Y1)で表される基である[1]〜[6]のいずれか記載の組成物。

Figure 0005523854

[式(Y1)中、環Wは、炭素数3〜36の飽和環状炭化水素基を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる−CH−は、−CO−又は−O−で置き換わっていてもよい。
は、水素原子又は炭素数1〜6の炭化水素基を表す。
は、ハロゲン原子、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、グリシドキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
xは、0〜8の整数を表す。xが2以上の場合、複数のRは、同一でも異なってもよい。]
[8]前記式(I)における前記Zが、アリールスルホニウムカチオンである[1]〜[7]のいずれか記載の組成物。
[9]前記式(I)におけるアニオンは、アダマンタン構造、オキソ−アダマンタン構造又はシクロヘキサン構造を含むアニオンである[1]〜[8]のいずれか記載の組成物。
[10]前記酸発生剤の含有量が、前記樹脂100質量部に対して、1〜20質量部である[1]〜[9]のいずれか記載の組成物。
[11]さらに窒素含有塩基性化合物を含む[1]〜[10]のいずれか記載の組成物。
[12]前記窒素含有塩基性化合物がジイソプロピルアニリンである[11]記載の組成物。
[13](1)上記[1]〜[12]のいずれか記載の化学増幅型フォトレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
本発明の化学増幅型フォトレジスト組成物によれば、優れた解像度、ラインエッジラフネス及びパターン倒れ耐性を有するパターンを形成することができる。
本発明の化学増幅型フォトレジスト組成物(以下、単に「レジスト組成物」という場合がある)は、酸発生剤(A)と、樹脂(B)とを含む。
なお、本明細書では、特に断りのない限り、炭素数を適宜選択しながら、各置換基の例示は、同様の置換基を有するいずれの化学構造式においても適用される。また、直鎖又は分岐の双方をとることができるものは、そのいずれをも含む。
酸発生剤(A)としては、例えば、式(I)で表される酸発生剤が挙げられる。

Figure 0005523854
[式(I)中、Q及びQは、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
は、単結合又は−[CH−を表し、該−[CH−に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよく、該−[CH−に含まれる水素原子は、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。kは、1〜17の整数を表す。
は、置換基を有してもよい炭素数3〜36の飽和環状炭化水素基を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
は、有機カチオンを表す。]
ペルフルオロアルキル基としては、ペルフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロ−n−プロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロ−n−ブチル基、ペルフルオロ−sec−ブチル基、ペルフルオロ−tert−ブチル基、ペルフルオロ−n−ペンチル基、ペルフルオロ−n−ヘキシル基などが挙げられる。
−[CH−としては、例えば、メチレン基、ジメチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、ペンタメチレン基、ヘキサメチレン基、ヘプタメチレン基、オクタメチレン基、ノナメチレン基、デカメチレン基、ウンデカメチレン基、ドデカメチレン基、トリデカメチレン基、テトラデカメチレン基、ペンタデカメチレン基、ヘキサデカメチレン基、ヘプタデカメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソプロピレン基、sec−ブチレン基、tert−ブチレン基などが挙げられる。
−[CH−に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わった基としては、例えば、−CO−O−X11−(Y)、−O−CO−X11−(Y)、−O−X11−(Y)、−X11−O−(Y)、−X11−CO−O−(Y)、−X11−O−CO−(Y)、−X11−O−X12−(Y)、−CO−O−X11−CO−O−(Y)、−CO−O−X11−O−(Y)などが挙げられる。中でも、好ましくは−CO−O−X11−(Y)、−X11−O−(Y)及び−X11−CO−O−(Y)であり、より好ましくは−CO−O−X11−(Y)及び−X11−CO−O−(Y)、さらに好ましくは−CO−O−X11−(Y)である。
ここで、X11及びX12は、互いに独立に、炭素数1〜15のアルキレン基を表す。ただし、このアルキレン基に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わった基において、上記の各基の主鎖を構成する原子数は、kと同じ、1〜17である。
脂肪族炭化水素基としては、具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基等のアルキル基が挙げられる。
飽和環状炭化水素基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロノニル基、シクロデシル基、ノルボルニル基、1−アダマンチル基、2−アダマンチル基、イソボルニル基、

Figure 0005523854

などが挙げられる。なお、飽和環状炭化水素基は、その中に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
置換基を有してもよい飽和環状炭化水素基における置換基としては、ハロゲン原子、炭素数1〜6の炭化水素基、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、グリシドキシ基及び炭素数2〜4のアシル基が挙げられる。
ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。
炭化水素基としては、上述した脂肪族炭化水素基、飽和環状炭化水素が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントラニル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基などが挙げられる。
アラルキル基としては、例えば、ベンジル、フェネチル、フェニルプロピル、トリチル、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基等が挙げられる。
アシル基としては、アセチル、プロピオニル、ブチリル等が挙げられる。
としては、好ましくは式(Y1)で表される基が挙げられる。

Figure 0005523854
[式(Y1)中、環Wは、炭素数3〜36の飽和環状炭化水素基を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる−CH−は、−CO−又は−O−で置き換わっていてもよい。
は、水素原子又は炭素数1〜6の炭化水素基を表す。
は、ハロゲン原子、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、グリシドキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
xは、0〜8の整数を表す。xが2以上の場合、複数のRは、同一でも異なってもよい。]
前記の環Wとしては、例えば、式(W1)〜式(W25)で表される基が挙げられる。

Figure 0005523854
中でも、式(W12)、式(W15)、式(W16)及び式(W20)等が好ましい。
としては、さらに、環Wに含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された基(ただし、該環Wに含まれる−CH−は−O−で置き換わっていてもよい。)、環Wに含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換された基(ただし、ラクトン構造を有するものを除く)、環Wに含まれる隣接する2つの−CH−が−CO−及び−O−で置き換わったラクトン構造を有する基、環Wに含まれる1つの−CH−が−CO−で置き換わったケトン構造を有する基、及び、環Wに含まれる水素原子が芳香族炭化水素基で置換された基などが挙げられる。
環Wに含まれる水素原子が置換されていないか又は脂肪族炭化水素基のみで置換された(該炭化水素基に含まれる−CH−は−O−で置き換わっていてもよい。)Yとしては、例えば、以下の基が挙げられる。なお、結合手は以下に示した位置以外の任意の位置とすることができる(以下同じ)
Figure 0005523854
環Wに含まれる水素原子が芳香族炭化水素基で置換されたYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。
Figure 0005523854
環Wに含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたY(ただし、ラクトン構造を有さない。)としては、例えば、以下の基が挙げられる。
Figure 0005523854
環Wに含まれる1つの−CH−が−O−で置き換わったエーテル構造を有するYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。
Figure 0005523854
環Wに含まれる隣接する2つの−CH−が−CO−及び−O−で置き換わったラクトン構造を有するYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。
Figure 0005523854
環Wに含まれる1つの−CH−が−CO−で置き換わったケトン構造を有するYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。
Figure 0005523854
式(I)で表される酸発生剤(A)のアニオン部としては、例えば、以下の式(IA)〜式(ID)で表されるアニオン等が挙げられる。
Figure 0005523854
[式(IA)〜(ID)中、Q、Q及びYは、式(I)におけるにおけるものと同じものを表す。
10は、単結合又は炭素数1〜15のアルキレン基を表す。
11及びX12は、互いに独立に、炭素数1〜15のアルキレン基を表す。]
アルキレン基としては、メチレン、エチレン、n−プロピレン基、イソプロピレン基、n−ブチレン基、sec−ブチレン基、tert−ブチレン基、n−ペンチレン基、n−ヘキシレン基などが挙げられる。
中でも、X10としては、好ましくは単結合である。
式(IA)中、環Wに含まれる水素原子が炭化水素基のみで置換された(該炭化水素基に含まれる−CH−は−O−で置き換わっていてもよい。)アニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。

Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854

Figure 0005523854
式(IA)中、環Wに含まれる水素原子が芳香族炭化水素基で置換されたアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
式(IA)中、環Wに含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオン(ただし、ラクトン構造を有さない。)の具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854

Figure 0005523854
式(IA)中、環Wに含まれる−CH−が−O−で置き換わったエーテル構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IA)中、環Wに含まれる隣接する2つの−CH−が−CO−及び−O−で置き換わったラクトン構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。

Figure 0005523854
式(IA)中、環Wに含まれるメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IB)中、環Wに含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環Wに含まれる−CH−は−O−で置換されていてもよい。)アニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854

Figure 0005523854
式(IB)中、環Wに含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IB)中、環Wに含まれる隣接する2つの−CH−が−CO−及び−O−で置き換わったラクトン構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IB)中、環Wに含まれる1つの−CH−が−CO−で置き換わったケトン構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IB)中、環Wに含まれる水素原子が芳香族炭化水素基で置換されたアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IC)中、環Wに含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環Wに含まれる−CH−は−O−で置き換わっていてもよい。)アニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IC)中、環Wに含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(IC)中、環Wに含まれる1つの−CH−が−CO−で置き換わったケトン構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(ID)中、環Wに含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環Wに含まれる−CH−は−O−で置き換わっていてもよい。)アニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(ID)中、環Wに含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
式(ID)中、環Wに含まれる1つの−CH−が−CO−で置き換わったケトン構造を有するアニオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
これらのアニオンのうち、アダマンタン構造、オキソ−アダマンタン構造及びシクロヘキサン構造から選ばれる少なくとも1種を含むものが好ましい。
なかでも、下記のアニオンがより好ましい。
Figure 0005523854
式(I)におけるZとしては、例えば、式(IXz)、式(IXb)、式(IXc)又は式(IXd)などのカチオン等が挙げられる。
Figure 0005523854
[式(IXa)中、P、P及びPは、互いに独立に、炭素数1〜30のアルキル基又は炭素数3〜30の飽和環状炭化水素基を表す。P、P及びPのいずれかがアルキル基である場合、該アルキル基は、水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の飽和環状炭化水素基で置換されていてもよく、P、P及びPのいずれかが飽和環状炭化水素基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基で置換されていてもよい。
式(IXb)中、P及びPは、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
式(IXc)中、P及びPは、互いに独立に、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数3〜12のシクロアルキル基を表すか、PとPとが一緒になって、炭素数3〜12の環を形成してもよい。
は、水素原子を表し、Pは、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基又は置換基を有していてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表すか、PとPとが一緒になって、炭素数3〜12の環を形成してもよい。
式(IXd)中、P10〜P21は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。Eは、硫黄原子又は酸素原子を表す。
mは、0又は1を表す。]
アルコキシ基としては、メチトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、イソプロポキシ基、n−ブトキシ基、sec−ブチトキシ基、tert−ブチトキシ基、n−ペントキシ基、n−ヘキトキシ基、ヘプトキシ基、オクトキシ基、2−エチルヘキシルオキシ基、ノニルオキシ基、デシルオキシ基、ウンデシルオキシ基、ドデシルオキシ基等のアルキル基が挙げられる。
シクロアルキルとしては、上述したものと同様のものが例示される。
とPとが一緒になって形成する環としては、テトラヒドロチオフェニウム基などが挙げられる。
における芳香族炭化水素基の置換基としては、炭素数1〜12のアルキル基等が挙げられる。
とPとが一緒になって形成する環としては、上述した式(W13)〜式(W15)の基などが挙げられる。
前記の式(IXa)で表されるカチオンの中でも、例えば、式(IXaa)で表されるカチオン等が好ましく挙げられる。
Figure 0005523854
[式(IXaa)中、P〜Pは、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数4〜36の飽和環状炭化水素を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシドキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよい。]
特に、飽和環状炭化水素基としては、アダマンチル骨格、イソボルニル骨格を含むものなどが挙げられ、好ましくは2−アルキル−2−アダマンチル基、1−(1−アダマンチル)−1−アルキル基及びイソボルニル基などが好ましい。
式(IXaa)で表されるカチオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
式(IXaa)で表されるカチオンの中でも、式(IXaaa)で表されるカチオンが、その製造が容易であること等の理由により、好ましく挙げられる。
Figure 0005523854
[式(IXe)中、P22、P23及びP24は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。]
前記式(IXb)で表されるカチオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
前記式(IXc)で表されるカチオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
前記式(IXd)で表されるカチオンの具体例としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
上記のうち、アリールスルホニウムカチオンが好ましい。
前記のアニオン及びカチオンは、任意に組合せることができる。
例えば、式(I)で表される化合物として、式(Xa)〜式(Xi)で表される化合物が挙げられる。これらの化合物は、優れた解像性能及びパターン形状を示すレジスト組成物を与える酸を発生するため好ましい。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
[式(Xa)〜(Xi)中、P25、P26及びP27は、互いに独立に、水素原子、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基又は炭素数4〜36の飽和環状炭化水素基を表す。
28及びP29は、互いに独立に、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基又は炭素数4〜36の飽和環状炭化水素基を表すか、あるいはP28とP29とが一緒になってSを含んで炭素数2〜6の環を形成してもよい。
30は、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数4〜36の飽和環状炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表すか、あるいはP30とP31とが一緒になって炭素数3〜12の環を形成してもよい。
ここで、該環に含まれる−CH−は、−O−、−S−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
及びQは、上記と同義である。
13は、単結合または−CH−を表す。]
28とP29とが一緒になって形成する環としては、テトラヒドロチオフェニウム基などが挙げられる。
30とP31とが一緒になって形成する環としては、上述した式(W13)〜式(W15)の基などが挙げられる。
上記の組合せのうち、以下の酸発生剤が好ましい。
Figure 0005523854
中でも、カチオンとして式(IXe)で表されるカチオンにおいて、P22、P23及びP24がいずれも水素原子であるトリフェニルスルホニウムカチオンと、式(IB)で表されるアニオンの具体的例示に挙げられたものとを組合せた酸発生剤が好ましい。
式(I)で表される酸発生剤は、単独で又は2種以上を組合せて用いてもよい。
式(I)で表される酸発生剤(A)は、以下の製造方法によって形成することができる。なお、以下の酸発生剤の製造方法で示される式においては、特記しないかぎり、各置換基の定義は、上記したものと同じ意味を示す。
例えば、式(1)で表される塩と、式(3)で表されるオニウム塩とを、例えば、アセトニトリル、水、メタノール、クロロホルム、塩化メチレン又は非プロトン性溶媒等の不活性溶媒中にて、0〜150℃程度の温度範囲、好ましくは0〜100℃程度の温度範囲で攪拌して反応させる方法などにより酸発生剤(A)を製造することができる。
ここで、非プロトン性溶媒中とは、例えば、ジクロロエタン、トルエン、エチルベンゼン、モノクロロベンゼン、アセトニトリル、N,N−ジメチルホルムアミド等が挙げられる。
Figure 0005523854
[式中、Mは、Li、Na、K又はAgを表す。
1−は、F、Cl、Br、I、BF 、AsF 、SbF 、PF 又はClO を表す。]
式(3)のオニウム塩の使用量は、通常、式(1)で表される塩1モルに対して、0.5〜2モル程度である。該塩は再結晶で取り出してもよいし、水洗して精製してもよい。
式(1)で表される塩のうち、前記式(IA)で表されるアニオンを有する塩は、例えば、先ず、式(4)で表されるアルコールと、式(5)で表されるカルボン酸とをエステル化反応させて得ることができる。
Figure 0005523854
エステル化反応における式(5)で表されるカルボン酸の使用量は、通常、式(4)で表されるアルコール1モルに対して、0.2〜3モル程度、好ましくは0.5〜2モル程度である。エステル化反応における酸触媒の使用量は、触媒量でも溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001〜5モル程度である。
また、式(1)で表される塩のうち、前記式(IIA)で表されるアニオンを有する塩は、例えば、式(6)で表されるアルコールと式(7)で表されるカルボン酸とをエステル化反応した後、MOHで表されるアルカリ金属水酸化物で加水分解するなどによっても製造することができる。
Figure 0005523854
MOHとしては、例えば、水酸化リチウム、水酸化ナトリウム及び水酸化カリウムなどが挙げられ、好ましくは水酸化リチウム及び水酸化ナトリウムが挙げられる。
前記エステル化反応は、通常、上記と同様の非プロトン性溶媒中にて、20〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、50〜150℃程度の温度範囲で攪拌して行えばよい。
エステル化反応は、通常、酸触媒として、p−トルエンスルホン酸などの有機酸又は硫酸等の無機酸を添加してもよい。
さらに、前記のエステル化反応においては、脱水剤を添加してもよい。
脱水剤として、例えば、ジシクロヘキシルカルボジイミド、1−アルキル−2−ハロピリジニウム塩、1,1−カルボニルジイミダゾール、ビス(2−オキソ−3−オキサゾリジニル)ホスフィン酸塩化物、1−エチル−3−(3−ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド塩酸塩、ジ−2−ピリジル炭酸塩、ジ−2−ピリジルチオノ炭酸塩、4−(ジメチルアミノ)ピリジン存在下での6−メチル−2−ニトロ安息香酸無水物等が挙げられる。
酸触媒を用いたエステル化反応は、ディーンスターク装置を用いるなどして、脱水しながら実施すると、反応時間が短縮化される傾向があることから好ましい(以下同じ)。
さらに、式(1)で表される塩のうち、前記式(IA)で表されるアニオンを有する塩は、例えば、先ず、式(8)で表されるカルボン酸と、式(9)で表されるアルコールとをエステル化反応させて得ることができる。
Figure 0005523854
前記の反応は、式(IB)で表されるアニオンを有する塩の製造においても、同様に適用できる。
さらに、式(1)で表される塩のうち、式(IC)で表されるアニオンを有する塩は、例えば、先ず、式(8)で表されるカルボン酸と、式(10)で表されるアルコールとをエステル化反応させて得ることができる。
Figure 0005523854
エステル化反応における式(10)で表されるアルコールの使用量は、式(8)で表されるカルボン酸1モルに対して、0.5〜3モル程度、好ましくは1〜2モル程度である。エステル化反応における酸触媒は、式(8)で表されるカルボン酸1モルに対して、触媒量でも溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001〜5モル程度である。エステル化反応における脱水剤は、式(8)で表されるカルボン酸1モルに対して、0.5〜5モル程度、好ましくは1〜3モル程度である。
式(8)で表されるカルボン酸と式(10)で表されるアルコールとのエステル化反応は、式(8)で表されるカルボン酸を対応する酸ハライドに変換して、式(10)で表されるアルコールと反応させることにより行うこともできる。
酸ハライドに変換する試薬としては、塩化チオニル、臭化チオニル、三塩化リン、五塩化リン、三臭化リン等が挙げられる。酸ハライド化反応に用いられる溶媒としては、上記と同様の非プロトン性溶媒が挙げられる。反応は、20〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、50〜150℃程度の温度範囲で、攪拌して行うことが適している。
前記の反応において、触媒として、アミン化合物を添加してもよい。
得られた酸ハライドを、式(10)で表されるアルコールと不活性溶媒(例えば、非プロトン性溶媒等)中で反応させることにより、式(IC)で表されるアニオンを有する塩を得ることができる。反応は、20〜200℃程度の温度範囲、さらに50〜150℃程度の温度範囲で行うことが好ましい。また、脱酸剤を用いることが適している。
脱酸剤としては、トリエチルアミン、ピリジン等の有機塩基又は水酸化ナトリウム、炭酸カリウム、水素化ナトリウム等の無機塩基が挙げられる。
用いる脱酸剤の量は、酸ハライド1モルに対して、溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001〜5モル程度、好ましくは1〜3モル程度である。
さらに、前記(IC)で表されるアニオンを有する塩の製造方法としては、式(8)で表されるカルボン酸と式(11)で表されるアルコールとをエステル化反応した後、MOHで表されるアルカリ金属水酸化物で加水分解して塩を得る方法もある。Mは、上記と同じ意味を表す。
Figure 0005523854
式(8)で表されるカルボン酸と式(11)で表されるアルコールとのエステル化反応は、通常、上記と同様の非プロトン性溶媒中にて、20〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、50〜150℃程度の温度範囲で攪拌して行えばよい。
エステル化反応においては、通常、上記と同様の酸触媒が添加される。
さらに、このエステル化反応では、上述したように脱水剤を添加してもよい。
この反応におけるアルコール、酸触媒及び脱水剤の使用量は、上記と同様とすることができる。
式(ID)で表されるアニオンを有する塩の製造方法としては、例えば、先ず、式(12)で表されるアルコールと式(13)で表されるアルコールとを脱水縮合させる方法などが挙げられる。
Figure 0005523854
また、式(ID)で表されるアニオンを有する塩の製造方法としては、式(14)で表されるアルコールと式(15)で表されるアルコールとを反応させた後、MOHで表されるアルカリ金属水酸化物で脱水縮合させる方法もある。
Figure 0005523854
式(14)で表されるアルコールと式(15)で表されるアルコールとの反応は、通常、非プロトン性溶媒中にて、20〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、50〜150℃程度の温度範囲で攪拌して行えばよい。
前記反応においては、通常は、酸触媒が用いられる。
さらに、前記反応においては、上述した脱水剤を添加してもよい。
前記反応における式(14)で表されるアルコールの使用量としては、式(15)で表されるアルコール1モルに対して、0.5〜3モル程度、好ましくは1〜2モル程度である。エーテル化反応における酸触媒は、式(15)で表されるアルコール1モルに対して、触媒量でも溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001〜5モル程度である。エーテル化反応における脱水剤は式(15)で表されるアルコール1モルに対して、0.5〜5モル程度、好ましくは1〜3モル程度である。
また、式(16)で表されるアルコールと式(17)で表されるアルコールとの反応は、式(17)で表されるアルコールを式(18)で表される化合物に変換して、得られた式(18)で表される化合物と式(16)で表されるアルコールとを反応させることにより行うこともできる。
Figure 0005523854
[式中、Lは、塩素、臭素、ヨウ素、メシルオキシ基、トシルオキシ基又はトリフルオロメタンスルホニルオキシ基を表す。]
式(17)で表されるアルコールを式(18)で表される化合物に変換させるために、例えば、塩化チオニル、臭化チオニル、三塩化リン、五塩化リン、三臭化リン、メシルクロリド、トシルクロリド、トリフルオロメタンスルホン酸無水物等を、式(17)で表されるアルコールと反応させる。
前記の反応は、上述した不活性溶媒中で行われる。また前記の反応は、−70〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、−50〜150℃程度の温度範囲で攪拌して行われる。また、上述したような脱酸剤を用いることが適している。
用いる塩基の量は、式(17)で表されるアルコール1モルに対して、溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001〜5モル程度で、好ましくは1〜3モル程度である。
得られた式(18)で表される化合物を、式(16)で表されるアルコールと不活性溶媒中で反応させることにより、式(ID)で表されるアニオンを有する塩を得ることができる。反応は、20〜200℃程度の温度範囲、好ましくは、50〜150℃程度の温度範囲で行われる。
前記の反応は、脱酸剤を用いることが適している。
脱酸剤を用いる場合、その量は、式(18)で表される化合物1モルに対して、溶媒に相当する量でもよく、通常、0.001〜5モル程度で、好ましくは1〜3モル程度である。
樹脂(B)としては、酸の作用によりアルカリ可溶となるモノマーから導かれる構造単位(b1)と、少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)と、ラクトン環を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)とを含む。
酸の作用によりアルカリ可溶となるモノマーから導かれる構造単位(b1)は、例えば、式(II)で表される構造単位を挙げることができる。
Figure 0005523854
[式(II)中、Zは、単結合又は−[CHk1−を表し、−[CHk1−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc1)−で置き換わっていてもよい。k1は、1〜17の整数を表す。Rc1は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。
は、水素原子又はメチル基を表す。
は、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。
は、メチル基を表す。
n1は、0〜14の整数を表す。]
−[CH−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc1)−で置き換わった基としては、上述した基の他、(O)−X11−CO−O−、(O)−X11−O−、(O)−CO−O−X11−、(O)−O−CO−X11−、(O)−X11−S−、(O)(R)−等が挙げられる。好ましくは、酸素原子及び/又はカルボニル基で置換された基の他、(O)−X11−CO−O−、(O)−X11−O−、(O)−CO−O−X11−、(O)−O−CO−X11−等が挙げられる。ここで、X11は上記と同義である。
式(II)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854

Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
中でも、2−メチル−2−アダマンチルアクリレート、2−メチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−エチル−2−アダマンチルアクリレート、2−エチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−イソプロピル−2−アダマンチルアクリレート又は2−イソプロピル−2−アダマンチルメタアクリレート等が好ましい。
樹脂における酸の作用によりアルカリ可溶となるモノマーから導かれる構造単位(b1)の含有量は、樹脂の全単位において、通常10〜95モル%であり、好ましくは15〜90モル%であり、より好ましくは20〜85モル%である。
少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)としては、水酸基(ただし、カルボキシル基の−OH基は除く)を側鎖に2以上有するアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位である。
このような構造単位としては、例えば、カルボン酸の各種エステル、例えば、シクロペンチルエステル、シクロヘキシルエステルに代表される環状アルキルエステル;ノルボルニルエステル、1−アダマンチルエステル、2−アダマンチルエステルのような多環式エステルに含まれる水素原子の一部が水酸基で置換された構造等が挙げられる。
前記(b2)としては、例えば、式(III)で表される構造単位等を挙げることができる。
Figure 0005523854
[式(III)中、Rは、水素原子又はメチル基を表す。
は、メチル基を表す。
及びRは、互いに独立に、水素原子、メチル基又は水酸基を表す。ただし、R及びRの少なくともいずれか一方は、水酸基を表す。
n2は、0〜10の整数を表す。
は、単結合又は−[CHk2−を表し、−[CHk2−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc2)−で置き換わっていてもよい。k2は、1〜17の整数を表す。Rc2は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。]
−[CH−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc2)−で置き換わった基としては、上述した基の他、(O)−X11−CO−O−、(O)−X11−O−、(O)−CO−O−X11−、(O)−O−CO−X11−、(O)−X11−S−、(O)(R)−等が挙げられる。好ましくは、酸素原子及び/又はカルボニル基で置換された基の他、(O)−X11−CO−O−、(O)−X11−O−、(O)−CO−O−X11−、(O)−O−CO−X11−等が挙げられる。ここで、X11は上記と同義である。
式(III)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
中でも、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート又は3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、アクリル酸1−(3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルオキシカルボニル)メチル又はメタクリル酸1−(3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルオキシカルボニル)メチル等が好ましく、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート又は3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレートがより好ましい。
樹脂における少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)の含有量は、樹脂の全単位において、通常3〜40モル%であり、好ましくは5〜35モル%であり、より好ましくは5〜30モル%である。
ラクトン構造を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)としては、例えば、β−ブチロラクトン構造を有する化合物、γ−ブチロラクトン構造を有する化合物、シクロアルキル骨格やノルボルナン骨格にラクトン構造が付加した化合物などが挙げられる。
中でも、例えば、式(IVa)、式(IVb)又は式(IVc)のいずれかで表される構造単位等を好ましく挙げることができる。
Figure 0005523854
[式(IVa)、式(IVb)及び式(IVc)中、R、R10及びR12は、互いに独立に、水素原子又はメチル基を表す。
は、メチル基を表す。n3は、0〜5の整数を表す。n3が2以上のとき、複数のRは、互いに同一でも異なってもよい。
11及びR13は、互いに独立に、カルボキシル基、シアノ基又は炭素数1〜4の炭化水素基を表す。n4及びn5は、互いに独立に、0〜3の整数を表す。n4及びn5が2以上のとき、複数のR11及びR13は、互いに同一でも異なってもよい。
、Z及びZは、互いに独立に、単結合又は、−[CHk3−を表し、−[CHk3−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc3)−で置き換わっていてもよい。k3は、1〜8の整数を表す。Rc3は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。]
式(IVa)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
また、式(IVb)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
また、式(IVc)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
Figure 0005523854
Figure 0005523854
中でも、(メタ)アクリル酸ヘキサヒドロ−2−オキソ−3,5−メタノ−2H−シクロペンタ[b]フラン−6−イル、(メタ)アクリル酸テトラヒドロ−2−オキソ−3−フリル、(メタ)アクリル酸2−(5−オキソ−4−オキサトリシクロ[4.2.1.03.7]ノナン−2−イルオキシ)−2−オキソエチル等が好ましい。
樹脂におけるラクトン環を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)の含有量は、樹脂の全単位において、通常5〜50モル%であり、好ましくは10〜45モル%であり、より好ましくは15〜40モル%である。
また、樹脂は、上述した構造単位(b1)〜(b3)を有するものであり、各構造単位(b1)〜(b3)は、それぞれ1種又は2種以上を組合せてもよい。
また、構造単位(b1)〜(b3)以外の構造単位を1種又は2種以上有してもよい。
構造単位(b1)〜(b3)以外の構造単位としては、例えば、モノヒドロキシアダマンチル基を含む構造単位が挙げられ、具体的には下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
樹脂におけるモノヒドロキシアダマンチル基を含む構造単位の含有量は、樹脂の全単位において、通常5〜50モル%であり、好ましくは10〜45モル%であり、より好ましくは15〜40モル%である。
さらに、構造単位(b1)〜(b3)以外の構造単位としては、例えば、2−ノルボルネンから導かれる構造単位等が挙げられる。2−ノルボルネンから導かれる構造単位は、ノルボルネン構造の二重結合が開いて形成され、式(d)で表すことができる。また、2−ノルボルネンは、重合の際に、例えば、対応する2−ノルボルネンの他に無水マレイン酸や無水イタコン酸のような脂肪族不飽和ジカルボン酸無水物を併用したラジカル重合により主鎖へ導入してもよい。無水マレイン酸及び無水イタコン酸から導かれる構造単位は、無水マレイン酸及び無水イタコン酸の二重結合が開いて形成され、それぞれ式(e)及び(f)で表すことができる。
Figure 0005523854
ここで、式(d)中のR25及びR26は、互いに独立に、水素原子、炭素数1〜3の脂肪族炭化水素基、カルボキシル基、シアノ基もしくは−COOU(Uはアルコール残基である)を表すか、あるいは、R25及びR26が、−C(=O)OC(=O)−で表されるカルボン酸無水物残基を表す。
前記−COOUは、カルボキシル基がエステルとなったものであり、Uに相当するアルコール残基としては、例えば、置換されていてもよい炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基、2−オキソオキソラン−3−又は−4−イル基などを挙げることができる。ここで、脂肪族炭化水素基の置換基として、水酸基や炭素数4〜36の飽和環状炭化水素残基などが結合していてもよい。
25及びR26における脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基などが挙げられ、水酸基が結合した脂肪族炭化水素基としては、ヒドロキシメチル基、2−ヒドロキシエチル基などが挙げられる。
式(d)で表されるノルボネン構造を導くモノマーの具体例としては、例えば、2−ノルボルネン、2−ヒドロキシ−5−ノルボルネン、5−ノルボルネン−2−カルボン酸、 5−ノルボルネン−2−カルボン酸メチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−ヒドロキシ−1−エチル、5−ノルボルネン−2−メタノール、5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物等が挙げられる。
樹脂における式(d)、式(e)又は式(f)で表されるモノマーに由来する構造単位の含有量は、樹脂の全単位において、通常2〜40モル%であり、好ましくは3〜30モル%であり、より好ましくは5〜20モル%である。
なお、式(d)中の前記−COOUのUについて、カルボキシル基の酸素側に結合する炭素原子が4級炭素原子である飽和環状エステルなどの酸に不安定な基であれば、ノルボルネン構造を有するといえども、酸に不安定な基を有する構造単位である。ノルボルネン構造と酸に不安定な基とを含むモノマーとしては、例えば、5−ノルボルネン−2−カルボン酸−tert−ブチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−シクロヘキシル−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチルシクロヘキシル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−メチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−エチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−メチルシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチル−1−(4−オキソシクロヘキシル)エチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチルなどが挙げられる。
本発明の本発明レジスト組成物は、酸発生剤の含有量が、樹脂100質量部に対して、1〜20質量部であることが好ましく、さらに1〜15質量部であることがより好ましい。
また、本発明レジスト組成物は、酸発生剤及び樹脂とともに、塩基性化合物、好ましくは、塩基性含窒素有機化合物、とりわけ好ましくはアミン又はアンモニウム塩を含有させることができる。塩基性化合物を、例えば、クエンチャーとして添加することにより、露光後の引き置きに伴う酸の失活による性能劣化を改良することができる。
クエンチャーに用いられる塩基性化合物としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Figure 0005523854
[式中、T、T及びTは、互いに独立に、水素原子、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基、炭素数5〜10の飽和環状炭化水素基又は炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表す。該脂肪族炭化水素基の水素原子、該飽和環状炭化水素基の水素原子及び芳香族炭化水素基に含まれる水素原子は、水酸基、アミノ基又は炭素数1〜6のアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基に含まれる水素原子は、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。
〜Tは、互いに独立に、水素原子、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数5〜10の飽和環状炭化水素基又は炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表す。該脂肪族炭化水素基、該飽和環状炭化水素基、該芳香族炭化水素基及び該アルコキシ基に含まれる水素原子は、水酸基、アミノ基又は炭素数1〜6のアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基に含まれる水素原子は、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。
は、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基又は炭素数5〜10の飽和環状炭化水素基を表す。該脂肪族炭化水素基及び該飽和環状炭化水素基に含まれる水素原子は、水酸基、アミノ基又は炭素数1〜6のアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基に含まれる水素原子は、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。
Aは、炭素数1〜6のアルキレン基、カルボニル基、イミノ基、スルフィド基又はジスルフィド基を表す。]
このような化合物として、例えば、ジイソプロピルアニリン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、アニリン、2−,3−又は4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、1−又は2−ナフチルアミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノ−1,2−ジフェニルエタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、ジブチルアミン、ジペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジヘプチルアミン、ジオクチルアミン、ジノニルアミン、ジデシルアミン、N−メチルアニリン、ピペリジン、ジフェニルアミン、トリエチルアミン、トリメチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、トリノニルアミン、トリデシルアミン、メチルジブチルアミン、メチルジペンチルアミン、メチルジヘキシルアミン、メチルジシクロヘキシルアミン、メチルジヘプチルアミン、メチルジオクチルアミン、メチルジノニルアミン、メチルジデシルアミン、エチルジブチルアミン、エチルジペンチルアミン、エチルジヘキシルアミン、エチルジヘプチルアミン、エチルジオクチルアミン、エチルジノニルアミン、エチルジデシルアミン、ジシクロヘキシルメチルアミン、トリス〔2−(2−メトキシエトキシ)エチル〕アミン、トリイソプロパノールアミン、N,N−ジメチルアニリン、2,6−イソプロピルアニリン、イミダゾール、ピリジン、4−メチルピリジン、4−メチルイミダゾール、ビピリジン、2,2’−ジピリジルアミン、ジ−2−ピリジルケトン、1,2−ジ(2−ピリジル)エタン、1,2−ジ(4−ピリジル)エタン、1,3−ジ(4−ピリジル)プロパン、1,2−ビス(2−ピリジル)エチレン、1,2−ビス(4−ピリジル)エチレン、1,2−ビス(4−ピリジルオキシ)エタン、4,4’−ジピリジルスルフィド、4,4’−ジピリジルジスルフィド、1,2−ビス(4−ピリジル)エチレン、2,2’−ジピコリルアミン、3,3’−ジピコリルアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトライソプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−ヘキシルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−オクチルアンモニウムヒドロキシド、フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、3−(トリフルオロメチル)フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド及びコリンなどを挙げることができる。
さらに、特開平11−52575号公報に記載されているピペリジン骨格を有するヒンダードアミン化合物をクエンチャーとして用いてもよい。
中でも、ジイソプロピルアニリン及び上記式で例示した4級アンモニウム塩が適している。例えば、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラヘキシルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラオクチルアンモニウムハイドロオキサイド、フェニルトリメチルアンモニウムハイドロオキサイド、3−トリフルオロメチル−フェニルトリメチルアンモニウムハイドロオキサイドなどが挙げられる。
本発明レジスト組成物が、クエンチャーとして塩基性化合物を含有する場合、塩基性化合物の含有量は、樹脂100質量部に対して、好ましくは0.01〜5質量部であり、より好ましくは0.05〜3質量部である。
本発明レジスト組成物は、通常、溶剤に前記の各成分を溶解した状態で提供される。
溶剤としては、例えば、エチルセロソルブアセテート、メチルセロソルブアセテート及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートのようなグリコールエーテルエステル類、乳酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミル及びピルビン酸エチルのようなエステル類、アセトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン及びシクロヘキサノンのようなケトン類、γ−ブチロラクトンのような環状エステル類、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどを挙げることができる。これらは単独で又は2種以上を組合せて用いてもよい。
また、本発明レジスト組成物は、さらに、必要に応じて、増感剤、溶解抑止剤、他の樹脂、界面活性剤、安定剤、染料など、各種の添加剤を含有していてもよい。これらの添加剤は、当該分野で公知の添加剤の全てを利用することができる。
本発明のパターン形成方法は、
(1)上述した本発明のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含む。
レジスト組成物の基体上への塗布は、スピンコーターなど、通常、用いられる装置によって行うことができる。
溶剤の除去は、例えば、ホットプレート等の加熱装置を用いて溶剤を蒸発させることにより行われるか、あるいは減圧装置を用いて行われ、溶剤が除去された組成物層が形成される。この場合の温度は、例えば、50〜200℃程度が例示される。また、圧力は、1〜1.0×10Pa程度が例示される。
得られた組成物層は、露光機又は液浸露光機を用いて露光する。この際、通常、求められるパターンに相当するマスクを介して露光が行われる。露光光源としては、KrFエキシマレーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長193nm)、F2レーザ(波長157nm)のような紫外域のレーザ光を放射するもの、固体レーザ光源(YAG又は半導体レーザ等)からのレーザ光を波長変換して遠紫外域または真空紫外域の高調波レーザ光を放射するもの等、種々のものを用いることができる。
露光後の組成物層は、脱保護基反応を促進するための加熱処理が行われる。加熱温度としては、通常50〜200℃程度、好ましくは70〜150℃程度である。
加熱後の組成物層を、現像装置を用いて、通常、アルカリ現像液を利用して現像する。
ここで用いられるアルカリ現像液は、この分野で用いられる各種のアルカリ性水溶液であればよい。例えば、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドや(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称コリン)の水溶液等が挙げられる。
現像後、超純水でリンスし、基板及びパターン上に残った水を除去することが好ましい。
以下、本発明を実施例によって詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
実施例、比較例及び参考例中、含有量ないし使用量を表す%及び部は、特記ないかぎり質量基準である。また重量平均分子量は、ポリスチレンを標準品として、ゲルパーミュエーションクロマトグラフィー(東ソー株式会社製HLC−8120GPC型、カラムは”TSKgel Multipore HXL−M”3本、溶媒はテトラヒドロフラン)により求めた値である。
カラム:TSKgel Multipore HXL−M 3連結+guardcolumn(東ソー社製)
溶離液:テトラヒドロフラン
流量:1.0mL/min
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:100μL
分子量標準:標準ポリスチレン(東ソー社製)
化合物の構造はNMR(日本電子製GX−270型又はEX−270型)、質量分析(LCはAgilent製1100型、MASSはAgilent製LC/MSD型又はLC/MSD TOF型)で確認した。
合成例1
(酸発生剤A1の合成)
ジフルオロ(フルオロスルホニル)酢酸メチルエステル100部及びイオン交換水150部に、氷浴下、30%水酸化ナトリウム水溶液230部を滴下した。得られた混合物を100℃で3時間還流し、冷却後、これを濃塩酸88部で中和した。得られた溶液を濃縮することによりジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩164.4部(無機塩含有、純度62.7%)を得た。得られたジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩1.9部及びN,N−ジメチルホルムアミド9.5部に、1,1’−カルボニルジイミダゾール1.0部を添加し、2時間撹拌して混合物を調製した。
一方、3−ヒドロキシアダマンチルメタノール1.1部及びN,N−ジメチルホルムアミド5.5部に、水素化ナトリウム0.2部を添加し、2時間撹拌した。この溶液に、前記の混合物を添加した。得られた混合物を15時間撹拌した後、生成したジフルオロメタンスルホン酸−3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメトキシカルボニルエステルのナトリウム塩を含む溶液をそのまま次の反応に用いた。
得られたジフルオロメタンスルホン酸−3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメトキシカルボニルエステルのナトリウム塩を含む溶液に、クロロホルム17.2部及び14.8%トリフェニルスルホニウムクロライド水溶液2.9部を添加した。15時間撹拌した後、分液して有機層を回収した。次いで、残った水層をクロロホルム6.5部で抽出することにより有機層を回収した。さらに残った水層に、前記の抽出操作を繰り返して行い、さらに有機層を回収した。
前記の各有機層を合せた後、イオン交換水で洗浄し、その後、得られた有機層を濃縮した。濃縮物にtert−ブチルメチルエーテル5.0部を添加し、撹拌後、濾過することにより白色固体としてトリフェニルスルホニウム((3−ヒドロキシ−1−アダマンチル)メトキシカルボニル)ジフルオロメタンスルホナート(A1)0.2部を得た。
Figure 0005523854
合成例2
(酸発生剤A2の合成)
ジフルオロ(フルオロスルホニル)酢酸メチルエステル100部及びイオン交換水250部に、氷浴下、30%水酸化ナトリウム水溶液230部を滴下した。得られた混合物を100℃で3時間還流し、冷却した後、これを濃塩酸88部で中和した。得られた溶液を濃縮することによりジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩164.8部(無機塩含有、純度62.6%)を得た。得られたジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩5.0部、4−オキソ−1−アダマンタノール2.6部及びエチルベンゼン100部の混合物に、濃硫酸0.8部を加え、30時間加熱還流した。得られた混合物を冷却した後、濾過し、濾過残渣をtert−ブチルメチルエーテルで洗浄することにより、ジフルオロメタンスルホン酸−4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルのナトリウム塩5.5部を得た。H−NMRによる純度分析の結果、その純度は35.6%であった。
得られたジフルオロメタンスルホン酸−4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルのナトリウム塩5.4部(純度35.6%)に、アセトニトリル16部及びイオン交換水16部を加えた。得られた混合物に、トリフェニルスルホニウムクロライド1.7部、アセトニトリル5部及びイオン交換水5部を添加した。得られた混合物を15時間撹拌した後、濃縮し、得られた混合物をクロロホルム142部で抽出することにより有機層を回収した。回収された有機層をイオン交換水で洗浄した後、得られた有機層を濃縮した。濃縮物をtert−ブチルメチルエーテル24部で洗浄することにより、白色固体としてトリフェニルスルホニウム・4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(A2)1.7部を得た。
Figure 0005523854
合成例3
(酸発生剤A3の合成)
ジフルオロ(フルオロスルホニル)酢酸メチルエステル200部及びイオン交換水300部に、氷浴下、30%水酸化ナトリウム水溶液460部を滴下した。得られた混合物を100℃で2.5時間還流し、冷却した後、これを濃塩酸175部で中和した。得られた溶液を濃縮することによりジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩328.2部(無機塩含有、含有量63.5%)を得た。得られたジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩39.4部、1−アダマンタンメタノール21.0部及びジクロロエタン200部の混合物に、p−トルエンスルホン酸(p−TsOH)24.0部を加え、これを7時間加熱還流した。その後、濃縮してジクロロエタンを留去し、濃縮残渣にtert−ブチルメチルエーテル250部添加し、リパルプ後、濾過した。残渣にアセトニトリル250部を添加し、撹拌した後、ろ過し、得られた濾液を濃縮することにより、ジフルオロスルホ酢酸−1−アダマンチルメチルエステルナトリウム塩32.8部を得た。
得られたジフルオロスルホ酢酸−1−アダマンチルメチルエステルナトリウム塩32.8部を、イオン交換水100部に溶解させることにより得られた溶液に、トリフェニルスルホニウムクロライド28.3部及びメタノール140部溶液を添加した。得られた混合物を15時間撹拌した後、濃縮し、得られた濃縮物をクロロホルム200部で2回抽出した。2回の抽出により得られた回収された有機層を合せて、該有機層が中性になるまで、イオン交換水を用いた洗浄操作を繰り返し、その後、得られた有機層を濃縮した。濃縮液に、tert−ブチルメチルエーテル300部を添加し、撹拌した後、濾過して白色析出物を回収し、これを減圧乾燥することにより白色結晶としてトリフェニルスルホニウム1−アダマンチルメトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(A3)39.7部得た。
Figure 0005523854
合成例4
(酸発生剤A4の合成)
ジフルオロ(フルオロスルホニル)酢酸メチルエステル100部及びイオン交換水250部に、氷浴下、30%水酸化ナトリウム水溶液230部を滴下した。これを100℃で3時間還流し、冷却した後、これを濃塩酸88部で中和した。得られた溶液を濃縮することによりジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩164.8部(無機塩含有、純度62.6%)を得た。得られたジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩5.0部(純度62.8%)、4−オキソ−1−アダマンタノール2.6部及びエチルベンゼン100部の混合物に、濃硫酸0.8部を加え、これを30時間加熱還流した。その後、室温まで冷却し、濾過して濾過残渣を回収し、該濾過残渣をtert−ブチルメチルエーテルを用いて洗浄し、ジフルオロメタンスルホ酢酸−4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルのナトリウム塩5.5部を得た。
H−NMRによる純度分析の結果、純度35.6%であった。
先に得られたジフルオロメタンスルホ酢酸−4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルのナトリウム塩10.0部を、アセトニトリル30部とイオン交換水20部との混合溶媒に溶解させた。得られた溶液に、1−(2−オキソ−2−フェニルエチル)テトラヒドロチオフェニウムブロミド5.0部、アセトニトリル10部及びイオン交換水5部の溶液を添加した。得られた混合物を15時間撹拌した後、濃縮し、得られた濃縮物をクロロホルム98部で抽出した。抽出された有機層をイオン交換水で洗浄し、得られた有機層をさらに濃縮した。濃縮液を酢酸エチル70部でリパルプすることにより白色固体として1−(2−オキソ−2−フェニルエチル)テトラヒドロチオフェニウム4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(A4)5.2部を得た。
Figure 0005523854
合成例5
(酸発生剤A5の合成)
リチウムアルミニウムハイドライド10.4部、無水テトラヒドロフラン120部を仕込み23℃で30分間攪拌した。次いで、エチルジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩62.2部を無水THF900部に溶かした溶液を氷冷下で滴下し、23℃で5時間攪拌した。反応マスに酢酸エチル50.0部、6N塩酸50.00部を添加、攪拌後、分液を行った。有機層を濃縮後、カラム(メルク シリカゲル60−200メッシュ 展開溶媒:クロロホルム/メタノール=5/1)分取することにより、2,2−ジフルオロ−2−スルホエタノールのナトリウム塩を84.7部得た(純度60%)。
また、4−オキソ−1−アダマンタンカルボン酸4.5部を、無水THF90部に添加し室温で30分間攪拌し溶解した。この溶液にカルボニルジイミダゾール3.77部、無水THF45部の混合溶液を室温で滴下し、23℃で4時間攪拌した。得られた反応溶液を、2,2−ジフルオロ−2−スルホエタノールのナトリウム塩7.87部(純度60%)、無水THF50部の混合中に、54℃〜60℃で30分間で滴下した。反応溶液を65℃で18時間加熱し、冷却後、ろ過した。得られたろ液を濃縮し、濃縮物をカラム(メルク シリカゲル60−200メッシュ 展開溶媒:クロロホルム/メタノール=5/1)分取することにより、2−(4−オキソ−1−アダマンチル)カルボニルオキシ−1,1−ジフルオロエタンスルホナートのナトリウム塩4.97部(収率59%)を得た。
次いで、2−(4−オキソ−1−アダマンチル)カルボニルオキシ−1,1−ジフルオロエタンスルホナートのナトリウム塩1.0部、クロロホルム20部を仕込み、23℃で30分間攪拌後、更に塩化トリフェニルスルホニウム(13.1%水溶液)6.3部を23℃で加えた。12時間室温で攪拌した後、分液を行った。有機層にイオン交換水10部を添加、分液水洗を行った。この操作を3回行った。その後、硫酸マグネシウム1部を添加、23℃で30分間攪拌後、ろ過し、ろ液を濃縮して、化合物(A5)1.36部を得た。
Figure 0005523854
合成例6
(酸発生剤A6の合成)
3−ヒドロキシ−アダマンタン−1−カルボン酸3.51部、無水THF75部を仕込み23℃で30分間攪拌した。次いで、カルボニルジイミダゾール2.89部、無水THF50部の混合溶液を23℃で滴下し、23℃で4時間攪拌した。得られた反応液を、2,2−ジフルオロ−2−スルホエタノールのナトリウム塩6.04部(純度60%)、無水THF50部の混合液中に54〜60℃で、25分間で滴下し、65℃で18時間加熱し、冷却後、ろ過した。得られたろ液を濃縮し、濃縮物をカラム(メルク シリカゲル60−200メッシュ 展開溶媒:クロロホルム/メタノール=5/1)分取することにより、2−(3−ヒドロキシ−1−アダマンチル)カルボニルオキシ−1,1−ジフルオロエタンスルホナートのナトリウム塩2.99部を得た。
2−(3−ヒドロキシ−1−アダマンチル)カルボニルオキシ−1,1−ジフルオロエタンスルホナートのナトリウム塩1.0部、クロロホルム30部を仕込み23℃で30分間攪拌した。次いで、塩化トリフェニルスルホニウム(13.1%水溶液)6.3部を添加し、23℃で12時間攪拌した後、分液を行った。有機層にイオン交換水10部を添加、分液水洗を行った。この操作を3回行った。その後、硫酸マグネシウム1部を添加、23℃で30分間攪拌後、ろ過し、ろ液を濃縮して、化合物(A6)1.6部を得た。
Figure 0005523854
合成例7
(酸発生剤A7の合成)
5−ヒドロキシメチル−2−アダマンタノン エチレンアセタール1.00部、ピリジン2.47部、無水塩化メチレン5部を添加し23℃で30分間攪拌した。次いで、氷冷下、トリフルオロメタンスルホン酸無水物2.37部、塩化メチレン5部の溶解液を滴下し、3〜5℃で2時間攪拌した。反応溶液に塩化メチレン10部、イオン交換水10部を添加、分液水洗を行った。この操作を3回行った。その後、硫酸マグネシウム1部を添加、23℃で30分間攪拌後、ろ過し、ろ液を濃縮し、濃縮物をカラム(メルク シリカゲル60−200メッシュ 展開溶媒:ヘキサン/酢酸エチル=1/1)分取することにより、5−トリフルオロメタンスルホニルメチル−2−アダマンタノン エチレンケタール1.19部を得た。
水素化ナトリウム0.2285部、無水ジメチルスルホキシド3部を添加し、60℃で30分間攪拌した。次いで、2,2−ジフルオロ−2−スルホエタノールのナトリウム塩0.62部を添加し、60℃で1時間攪拌した。更に、5−トリフルオロメタンスルホニルオキシメチル−2−アダマンタノンエチレンアセタール1.00部、無水ジメチルスルホキシド9部の溶解液を滴下し、60℃で5時間攪拌した。冷却後、反応マスをカラム(メルク シリカゲル60−200メッシュ 展開溶媒:クロロホルム/メタノール=5/1)分取することにより、ナトリウム塩0.28部を得た。
得られたナトリウム塩0.2部、クロロホルム10部を仕込み23℃で30分間攪拌した。次いで、塩化トリフェニルスルホニウム(12.8%水溶液)1.5部を23℃で36時間攪拌した後、分液を行った。有機層にイオン交換水10部を添加、分液水洗を行った。この操作を3回行った。その後、硫酸マグネシウム1部を添加、23℃で30分間攪拌後、ろ過し、ろ液を濃縮して、化合物(A7)0.24部を得た。
Figure 0005523854
合成例8
(酸発生剤A8の合成)
塩化トリフェニルスルホニウム(14.2%水溶液)573.7部、ジフルオロスルホ酢酸 ナトリウム塩(18.0%水溶液)300.0部を仕込み、25℃で約20時間攪拌した。析出した白色固体をろ別、イオン交換水100部で洗浄した後、乾燥してトリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナートを88.4部得た。
得られたトリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート9.5部、N,N’−ジメチルホルムアミド47.6部を仕込み溶解し、炭酸カリウム3.0部、ヨウ化カリウム0.9部を添加し、50℃で約1時間攪拌した。その後、40℃まで冷却し、クロロ酢酸 ヘキサヒドロ−2−オキソ−3,5−メタノ−2H−シクロペンタ[b]フラン−6−イル5.0部、N,N’−ジメチルホルムアミド40部の溶解液を滴下し、40℃で23時間反応した。反応後冷却し、クロロホルム106部、イオン交換水106部を加えて攪拌、静置後、分離した。水層をクロロホルム106部で2回抽出し、全有機層を合わせて、イオン交換水106部で水層が中性になるまで水洗を繰り返した。有機層に活性炭3.5部を加えて攪拌した後、ろ別した。ろ液を濃縮し、酢酸エチル38部を加えて攪拌した後、上澄液を除去した。残渣にtert−ブチルメチルエーテル38部を加えて攪拌した後、上澄液を除去した。残渣をクロロホルムに溶解した後、濃縮して燈色オイル状物として、化合物(A8)4.3部を得た。
Figure 0005523854
合成例9
(酸発生剤A9の合成)
ジフルオロ(フルオロスルホニル)酢酸メチルエステル100部及びイオン交換水150部に、氷浴下、30%水酸化ナトリウム水溶液230部を滴下した。得られた混合物を100℃で3時間還流し、冷却した後、これを濃塩酸88部で中和した。得られた溶液を濃縮することによりジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩164.4部を得た(無機塩含有、純度62.7%)。得られたジフルオロスルホ酢酸ナトリウム塩1.9部(純度62.7%)及びN,N−ジメチルホルムアミド9.5部に、1,1’−カルボニルジイミダゾール1.0部を添加し、2時間撹拌して混合物を調製した。
一方、3−ヒドロキシアダマンチルメタノール1.1部及びN,N−ジメチルホルムアミド5.5部に、水素化ナトリウム0.2部を添加し、2時間撹拌した。この溶液に、前記の混合物を添加した。得られた混合物を15時間撹拌した後、生成したジフルオロスルホン酸−3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメトキシカルボニルのナトリウム塩を含む溶液をそのまま次の反応に用いた。
得られたジフルオロスルホン酸−3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメトキシカルボニルのナトリウム塩を含む溶液に、クロロホルム17.2部、トリス(4−メチルフェニル)スルホニウムクロライド0.5部及び水2.5部を添加した。15時間撹拌した後、分液して有機層を回収した。次いで、残った水層をクロロホルム6.5部で抽出することにより、有機層を回収した。前記の各有機層を合せた後、イオン交換水で洗浄し、その後、得られた有機層を濃縮し、トリス(4−メチルフェニル)スルホニウム((3−ヒドロキシ−1−アダマンチル)メトキシカルボニル)ジフルオロメタンスルホナート(A9)0.15部を得た。
Figure 0005523854
また、本実施例等に用いたモノマーは、下記の通りである。
Figure 0005523854
合成例10
〔樹脂B1の合成〕
モノマーA、モノマーH、モノマーC及びモノマーDを、モル比40:10:20:30の割合で仕込み、次いで、全モノマーの合計質量に対して、1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを78℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約8500である共重合体を収率73%で得た。得られた共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B1とした。
Figure 0005523854
合成例11
〔樹脂B2の合成〕
モノマーF、モノマーE、モノマーH、モノマーC及びモノマーDを、モル比30:15:5:20:30の割合で仕込み、全モノマー量の1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ1mol%と3mol%との割合で添加し、これを73℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約8500である共重合体を収率73%で得た。得られた共重合体は、次式の次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B2とした。
Figure 0005523854
合成例12
〔樹脂B3の合成〕
モノマーF、モノマーG、モノマーH、モノマーC及びモノマーDを、モル比30:15:5:20:30の割合で仕込み、次いで、全モノマーの合計質量に対して1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを73℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行って精製し、重量平均分子量が約8200である共重合体を収率74%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B3とした。
Figure 0005523854
合成例13
〔樹脂B4の合成〕
モノマーF、モノマーE、モノマーH及びモノマーCを、モル比40:10:10:40の割合で仕込み、全モノマーの合計質量に対して、1.2質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを75℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約7400である共重合体を収率74%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B4とした。
Figure 0005523854
合成例14
〔樹脂B5の合成〕
モノマーF、モノマーE、モノマーB、モノマーH及びモノマーCを、モル比35:10:10:5:40の割合で仕込み、全モノマーの合計質量の1.2質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを、全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを75℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約7400である共重合体を収率74%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B5とした。
Figure 0005523854
合成例15
〔樹脂B6の合成〕
モノマーA、モノマーB及びモノマーDを、モル比50:25:25の割合で仕込み、全モノマーの合計質量の1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを77℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約8000である共重合体を収率60%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B6とした。
Figure 0005523854
合成例16
〔樹脂B7の合成〕
モノマーA、モノマーH及びモノマーDを、モル比50:15:35の割合で仕込み、全モノマーの合計質量の1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを76℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約8500である共重合体を収率65%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B7とした。
Figure 0005523854
合成例17
〔樹脂B8の合成〕
モノマーA、モノマーD、モノマーH及びモノマーJを、モル比40:25:8:27の割合で仕込み、全モノマーの合計質量の1.2質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを70℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約10000である共重合体を収率65%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーから導かれる構造単位を有するものであり、これを樹脂B8とした。
Figure 0005523854
実施例1〜15、比較例1及び2、並びに参考例1及び2
表1で示した各成分を混合して溶解し、さらに孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターで濾過して、レジスト組成物を調製した。
Figure 0005523854
<酸発生剤>
A1〜A9:合成例1〜9で合成された酸発生剤
C1:トリフェニルスルホニウム・ペンタフルオロエタンスルホナート
C2:トリフェニルスルホニウム・パーフルオロオクタンスルホナート
C3:1−(2−オキソ−2−フェニルエチル)テトラヒドロチオフェニウム・パーフルオロブタンスルホナート
<樹脂>
B1〜B8:合成例10〜17で合成された樹脂
<クエンチャー>
Q1:2,6−ジイソプロピルアニリン
Q2:トリフェニルイミダゾール
<溶剤>
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 145部
2−ヘプタノン 20.0部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 20.0部
γ−ブチロラクトン 3.5部
シリコンウェハに、有機反射防止膜用組成物(ARC−29;日産化学(株)製)を塗布して、205℃、60秒の条件でベークすることによって、厚さ780Åの有機反射防止膜を形成させた。次いで、前記の有機反射防止膜の上に、上記のレジスト組成物を、その乾燥後の膜厚が0.15μmとなるようにスピンコートした。レジスト組成物塗布後、得られたシリコンウェハをダイレクトホットプレート上にて、95℃で60秒間プリベーク(以下、PBと略すことがある。)した。このようにしてレジスト膜を形成したそれぞれのシリコンウェハに、ArFエキシマステッパー〔FPA5000−AS3;(株)キャノン製、NA=0.75、2/3Annular〕を用いて、露光量を段階的に変化させて、ラインアンドスペースパターンを露光した。
露光後、前記シリコンウェハは、ホットプレート上にて95℃で60秒間ポストエキスポジャーベーク(以下、PEBと略すことがある。)処理された。次いで、得られたシリコンウェハは、2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で、60秒間、パドル現像された。
有機反射防止膜基板上の現像後のダークフィールドパターンを走査型電子顕微鏡(S−4100;(株)日立製作所製)で観察し、その結果を表2に示した。ここで、ダークフィールドパターンとは、外側にクロム層(遮光層)をベースとしてライン状にガラス面(透光部)が形成されたレチクルを介した露光及び現像によって得たものである。したがって露光現像後は、ラインアンドスペースパターンの周囲のレジスト層が残されるパターンである。
実効感度:100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で示した。
解像性評価:100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光し、レジストパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、比較例1を基準(△で表記)とし、これよりも解像しているものを○、同等のものを△、これよりも解像していないものを×として判断した。比較例1は90nmを解像しているが、テーパー形状であり、裾引きが観察された。
ラインエッジラフネス評価(LER):リソグラフィプロセス後のレジストパターンの壁面を走査型電子顕微鏡で観察し、比較例1を基準(△で表記)とし、これよりも滑らかになっているものを○、同等のものを△、滑らかでなくなっているものを×として判断した。
パターン倒れ評価:100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光した際のレジストパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、比較例1を基準(△で表記)とし、これと比べて、パターンが保持されているものを○、同等のものを△、パターンが保持されていないものを×として判断した。
Figure 0005523854
本発明の化学増幅型レジスト組成物は、高い解像度を維持したまま、より良好なラインエッジラフネスを与え、これを用いてパターンを形成する際にパターン倒れが改善されるため、ArFやKrFなどのエキシマレーザーリソグラフィならびにArF液浸露光リソグラフィに好適な化学増幅型フォトレジスト組成として用いることができる。また、液浸露光のほか、ドライ露光にも用いることができる。さらに、ダブルイメージング用にも用いることができ、工業的に有用である。

Claims (12)

  1. 式(I)で表される酸発生剤(A)と、
    酸の作用によりアルカリ可溶となるモノマーから導かれ、式(II)で表される構造単位(b1)、
    少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)
    ラクトン環を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)及び
    モノヒドロキシアダマンチル基を含む構造単位を含んでなる樹脂(B)とを含有する化学増幅型フォトレジスト組成物。
    Figure 0005523854
    [式(I)中、Q及びQは、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
    は、単結合又は−[CH−を表し、該−[CH−に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよく、該−[CH−に含まれる水素原子は、炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。kは、1〜17の整数を表す。
    は、置換基を有してもよい炭素数3〜36の飽和環状炭化水素基を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
    は、有機カチオンを表す。]
    Figure 0005523854
    [式(II)中、Z は、単結合又は−[CH k1 −を表し、−[CH k1 −に含まれる−CH −は、−CO−、−O−、−S−又は−N(R c1 )−で置き換わっていてもよい。k1は、1〜17の整数を表す。R c1 は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。
    は、水素原子又はメチル基を表す。
    は、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。
    は、メチル基を表す。
    n1は、0〜14の整数を表す。]
  2. 前記式(II)で表される構造単位を導くモノマーが、2−メチル−2−アダマンチルアクリレート、2−メチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−エチル−2−アダマンチルアクリレート、2−エチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−イソプロピル−2−アダマンチルアクリレート又は2−イソプロピル−2−アダマンチルメタアクリレートである請求項記載の組成物。
  3. 前記少なくとも2つの水酸基で置換されたアダマンチル基を有するモノマーから導かれる構造単位(b2)が、式(III)で表される構造単位である請求項1又は2記載の組成物。
    Figure 0005523854
    [式(III)中、Rは、水素原子又はメチル基を表す。
    は、メチル基を表す。
    及びRは、互いに独立に、水素原子、メチル基又は水酸基を表す。ただし、R及びRの少なくともいずれか一方は、水酸基を表す。
    n2は、0〜10の整数を表す。
    は、単結合又は−[CHk2−を表し、−[CHk2−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc2)−で置き換わっていてもよい。k2は、1〜17の整数を表す。Rc2は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。]
  4. 式(III)で表される構造単位を導くモノマーが、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート又は3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレートである請求項記載の組成物。
  5. 前記ラクトン環を有するモノマーから導かれる構造単位(b3)が、式(IVa)、式(IVb)又は式(IVc)で表される構造単位である請求項1〜のいずれか記載の組成物。
    Figure 0005523854
    [式(IVa)、式(IVb)及び式(IVc)中、R、R10及びR12は、互いに独立に、水素原子又はメチル基を表す。
    は、メチル基を表す。n3は、0〜5の整数を表す。n3が2以上のとき、複数のRは、互いに同一でも異なってもよい。
    11及びR13は、互いに独立に、カルボキシル基、シアノ基又は炭素数1〜4の炭化水素基を表す。n4及びn5は、互いに独立に、0〜3の整数を表す。n4及びn5が2以上のとき、複数のR11及びR13は、互いに同一でも異なってもよい。
    、Z及びZは、互いに独立に、単結合又は、−[CHk3−を表し、−[CHk3−に含まれる−CH−は、−CO−、−O−、−S−又は−N(Rc3)−で置き換わっていてもよい。k3は、1〜8の整数を表す。Rc3は、水素原子又は炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基を表す。]
  6. 前記式(I)におけるYが、式(Y1)で表される基である請求項1〜のいずれか記載の組成物。
    Figure 0005523854
    [式(Y1)中、環Wは、炭素数3〜36の飽和環状炭化水素基を表し、該飽和環状炭化水素基に含まれる−CH−は、−CO−又は−O−で置き換わっていてもよい。
    は、水素原子又は炭素数1〜6の炭化水素基を表す。
    は、ハロゲン原子、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、グリシドキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
    xは、0〜8の整数を表す。xが2以上の場合、複数のRは、同一でも異なってもよい。]
  7. 前記式(I)における前記Zが、アリールスルホニウムカチオンである請求項1〜のいずれか記載の組成物。
  8. 前記式(I)におけるアニオンは、アダマンタン構造、オキソ−アダマンタン構造又はシクロヘキサン構造を含むアニオンである請求項1〜のいずれか記載の組成物。
  9. 前記酸発生剤の含有量が、前記樹脂100質量部に対して、1〜20質量部である請求項1〜のいずれか記載の組成物。
  10. さらに窒素含有塩基性化合物を含む請求項1〜のいずれか記載の組成物。
  11. 前記窒素含有塩基性化合物がジイソプロピルアニリンである請求項10記載の組成物。
  12. (1)請求項1〜11のいずれか記載の化学増幅型フォトレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
    (2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
    (3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
    (4)露光後の組成物層を加熱する工程、
    (5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
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