JP5522824B2 - スイッチング素子の損失低減回路 - Google Patents

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本発明は、スイッチング動作に伴う逆向き電流による損失を抑制するためのスイッチング素子の損失低減回路に関するもので、より具体的には、MOSFETの寄生ダイオードを流れる電流の抑制を行う構成の改良に関する。
よく知られるように、インバータやコンバータ等のスイッチング電源では、MOSFETをスイッチング素子に利用することが行われている。MOSFETは、電圧制御素子なので駆動電力が小さく、単一極性キャリアによる動作のためキャリア蓄積効果がなく高速スイッチングが行える等の特徴を有することから電力制御の用途に好まれている。
電力制御の用途では各種のスイッチング方式が知られているが、その一つに、MOSFETをハイサイドおよびローサイドに配置して交互にオン・オフ動作させるハーフブリッジ方式の構成がある。また、より高効率化するため、例えば特許文献1などに見られるように、トランスの1次側に誘導性素子L,容量性素子Cを備えて共振動作させるハーフブリッジ共振型の構成も採用が多い。
ハーフブリッジ方式など、ハイサイドおよびローサイドのMOSFETを誘導性負荷(トランス)へ接続して交互にオン・オフ動作させるスイッチング動作では、MOSFETのターンオフ時にトランスの1次側で誘導起電力が誘起し、これによる誘導電流は他方のMOSFETの寄生ダイオードを通じて流れる。このため、寄生ダイオードで電力損失が生じ、スイッチング動作に不整があると、当該寄生ダイオードの逆方向回復時間の影響によりハイサイド,ローサイドがともに導通状態になって過大電流が流れる問題を起こすことが知られている。対策には特許文献2や非特許文献1などに見られるように、MOSFETのドレイン側にショットキーダイオードを逆極性の直列に接続し、ショットキーダイオードは逆方向回復時間が短く高速動作が行える特徴があるため、寄生ダイオードに対して突き合わせに配置して寄生ダイオードの導通を阻止する動作を高速に行わせる構成にしている。そして、非特許文献1(図6−28)にあるように、MOSFET,ショットキーダイオードに対して並列に高速ダイオードを接続し、上記した誘導電流は高速ダイオードを通してバイパスする対策がよく行われている。
特開2007−312522号公報 特開2006−311594号公報
長谷川彰著「改訂スイッチング・レギュレータ設計ノウハウ」 CQ出版社,215頁,図6−28,1993年刊行
しかし、ショットキーダイオードは逆方向の漏れ電流が大きいという欠点がある。このため、MOSFETへ高速ダイオードを並列に接続して誘導電流をバイパスする構成を採っても、寄生ダイオードを通る電流成分がわずかながら生じてしまい、電力損失が発生する。また、誘導電流は高速ダイオードを通してバイパスするので当該高速ダイオードにおいて順方向の電圧降下が生じ、やはり電力損失が発生するといった課題を有する。
上記の課題を解決するため、本発明は、(1)スイッチング動作に伴う逆向き電流による損失を抑制するためのスイッチング素子の損失低減回路であって、スイッチング素子がMOSFETであり、ハイサイドおよびローサイドのスイッチング素子を誘導性負荷へ接続して交互にオン・オフ動作させるブリッジ回路において、MOSFETのドレインから流出する逆向き電流を検出するドレイン逆電流検出手段と、ドレイン逆電流検出手段から検出信号を受けてMOSFETをオン動作させるオン駆動手段とを備える構成を前提とする。
係る前提において、ドレイン逆電流検出手段は、前記MOSFETのドレイン側の配線に配置したカレントトランスを備え、前記カレントトランスの接地側端子は前記MOSFETのソース側へ接続し、前記カレントトランスの出力側端子は前記MOSFETのゲート側に接続する構成にする。
係る構成にすることにより本発明では、MOSFETのドレインから流出する逆向き電流(誘導電流)はドレイン逆電流検出手段が検出し、その逆向き電流の検出があるときはオン駆動手段が当該MOSFETをオン動作させるので、誘導電流はMOSFETのオン抵抗により流通させることができる。
本発明では、スイッチング素子(MOSFET)のドレインから流出する逆向き電流(誘導電流)があるとき、当該MOSFETをオン動作させるので、誘導電流はMOSFETのオン抵抗により流通させることができる。このため、寄生ダイオードを通る電流を抑制することができる。MOSFETのオン抵抗はきわめて小さく、誘導電流を速やかに消滅できる。これにより、スイッチング動作に伴う逆向き電流による電力損失を低減でき、従来の構成に設けたバイパス用の高速ダイオード等は必要としない。その結果、高効率を得ることができ、MOSFETの発熱を減らすことができる。
本発明に係るスイッチング素子の損失低減回路の好適な一実施の形態を示す回路図である。 ハーフブリッジのスイッチング動作を示し、ハーフブリッジの接続状態を(a)から(d)まで順に1サイクルを示している。
図1は本発明の好適な一実施の形態を示している。同図に示す回路はスイッチング電源の要部であり、トランスTを備えて、1次側に、2つのスイッチング素子S1,S2を配置してハーフブリッジとし、さらにインダクタLr,コンデンサCrを配置して共振タンク素子とし、2次側には2つの整流ダイオードD1,D2および平滑コンデンサCを配置し、ハーフブリッジ共振型コンバータの構成になっている。
スイッチング素子S1,S2はMOSFETを用い、トランスTの1次側でハイサイドとローサイドとの縦列に接続する。そして、各ゲートはそれぞれゲートドライバ1,2へ接続して2つの制御信号(PWM1,PWM2)により交互にスイッチング動作するようになっている。ハイサイド側(MOSFET・S1)のドレインは電源V+へ接続し、ローサイド側(MOSFET・S2)のドレイン,ソース間にインダクタLr,トランスTの1次側,コンデンサCrを直列に接続して当該ソースは接地している。これにより、インダクタLr,コンデンサCrが直列の共振タンク素子を構成し、さらにトランスTの磁化インダクタンスがもう一つの共振周波数を生成することに機能し、いわゆるLLC共振型になっている。
トランスTの2次側はセンタータップを有し、両端に整流ダイオードD1,D2をそれぞれ接続するとともに、それら整流ダイオードD1,D2の他端は共に接続して接地側とする。また、センタータップには平滑コンデンサCを接地側と並列に渡して接続し、当該センタータップ側が直流出力を取り出す正極ラインになる。
MOSFET・S1,S2は、ソース−ドレイン間に寄生ダイオードが存在する。すなわち、図中に点線で示す素子Dp1,Dp2が、それぞれの寄生ダイオードである。MOSFET・S1,S2の各ゲートとゲートドライバ1,2との間にはゲート抵抗(Rg11,Rg21)とゲートダイオード(Dg1,Dg2)とを直列に設けている。さらにゲートダイオード(Dg1,Dg2)にはゲート抵抗(Rg12,Rg22)を並列に接続している。ゲートドライバ1,2が出力する制御信号PWM1,PWM2は、パルス幅変調(PWM:Pulse Width Modulation)による駆動信号であり、制御信号PWM1と制御信号PWM2とは逆相の関係になる。
スイッチング素子S1,S2の損失低減回路は、カレントトランスCT1,CT2とバイアス抵抗R1,R2とを備えて、MOSFET・S1,S2のドレインから流出する逆向き電流を検出し、逆向き電流の検出があるとき、MOSFET・S1,S2をオン動作させる構成になっている。
カレントトランスCT1,CT2はMOSFET・S1,S2のドレイン側の配線に配置し、接地側端子はソース側へ接続し、出力側端子をゲート側へ接続させていて、MOSFET・S1,S2のドレインから流出する逆向き電流を検出する動作を行い、ドレイン逆電流検出手段になっている。そして、バイアス抵抗R1,R2はMOSFET・S1,S2のゲート,ソースに渡して接続している。このため、カレントトランスCT1,CT2が検出信号を出力すると、検出信号はバイアス抵抗R1,R2を通りゲート電位が上がってMOSFET・S1,S2がオン動作し、バイアス抵抗R1,R2はMOSFET・S1,S2をオン動作させるオン駆動手段になっている。
ドレイン逆電流検出手段は、カレントトランスを備えて電流の検出を行う構成には限らない。例えばフォトカプラを備えて電流の検出を行う構成にしてもよく、適宜に構成できる。
(スイッチング動作)
ハイサイドのMOSFET・S1とローサイドのMOSFET・S2は交互にオン・オフ動作し、交互の切り替え動作では両者が同時にオフする期間(デッドタイム)を設ける動作になっている。MOSFET・S1がターンオンしてMOSFET・S2がオフ状態では図2(a)に示すように、電源V+から電流がMOSFET・S1,インダクタLr,トランスTの1次側,コンデンサCrの経路で接地へ流れる。次に、MOSFET・S1がターンオフしてMOSFET・S2がオフ状態のデッドタイム期間では図2(b)に示すように、トランスTの1次側で誘導起電力Viが誘起し、これによる誘導電流はコンデンサCr,寄生ダイオードDp2,インダクタLrの経路でトランスTの1次側へ戻り流れるが、このとき、カレントトランスCT2が誘導電流を検出するので、その検出信号によりゲート電位が上がってMOSFET・S2がターンオンする。このため、誘導電流はMOSFET・S2のオン抵抗を流通し、その結果、トランスTが蓄えたエネルギの放出が速やかに完了する動作になる。誘導電流の消滅によりMOSFET・S2がオフ状態に戻る。
続いて、MOSFET・S1がオフ状態でMOSFET・S2がターンオンすると図2(c)に示すように、コンデンサCrの蓄積エネルギの放出が始まり電流はトランスTの1次側,インダクタLr,MOSFET・S2(オン抵抗)の経路で接地へ流れる。そして、MOSFET・S1がオフ状態でMOSFET・S2がターンオフするデッドタイム期間では図2(d)に示すように、トランスTの1次側で誘導起電力Viが誘起し、これによる誘導電流はインダクタLr,寄生ダイオードDp1の経路で電源V+側へ流れ出すが、このとき、カレントトランスCT1が誘導電流を検出するので、その検出信号によりゲート電位が上がってMOSFET・S1がターンオンする。このため、誘導電流はMOSFET・S1のオン抵抗を流通し、その結果、トランスTが蓄えたエネルギの放出が速やかに完了する動作になる。誘導電流の消滅によりMOSFET・S1がオフ状態に戻る。
このように、MOSFET・S1,S2のドレインから流出する逆向き電流(誘導電流)はドレイン逆電流検出手段が検出し、その逆向き電流の検出があるときはオン駆動手段が当該MOSFET・S1,S2をオン動作させるので、誘導電流はMOSFET・S1,S2のオン抵抗により流通させることができる。このため、寄生ダイオードDp1,Dp2を通る電流を抑制することができ、MOSFET・S1,S2のオン抵抗はきわめて小さく、トランスTが蓄えたエネルギの放出を速やかに完了できる。これにより、スイッチング動作に伴う逆向き電流による電力損失を低減でき、従来の構成に設けたバイパス用の高速ダイオード等は必要としない。
計算例を示すと、MOSFET・S1,S2の特性はオン抵抗Ronが0.38[Ω]程度であり、誘導電流Isが例えばピーク値で2[A]であるときは、電力損失Plossは、

Ploss = Ron×Is = 0.38×(2÷√3) = 0.51[W]

となる。従来の構成では寄生ダイオードDp1,Dp2に流通するので、寄生ダイオードDp1,Dp2の特性は順方向電圧Vsdが1.4[V]程度であり、このため誘導電流Is=2[A]ピーク値では電力損失Plossは、

Ploss = Vsd×Is = 1.4×2÷√3 = 1.62[W]

となり、従来との差が1.11[W]であることがわかる。すなわち、従来と比べて電力損失は約1/3以下に低減することができる。したがって本発明にあっては、電力損失を低減できることから高効率を得ることができ、MOSFET(スイッチング素子S1,S2)の発熱を減らすことができる。その結果、当該素子へ組み付ける放熱器を小型化あるいは不要にすることができ、これにより装置の小型化がよりさらに行える。
1,2 ゲートドライバ
C 平滑コンデンサ
Cr コンデンサ
CT1,CT2 カレントトランス
D1,D2 整流ダイオード
Dg1,Dg2 ゲートダイオード
Lr インダクタ
R1,R2 バイアス抵抗
Rg11,Rg12,Rg21,Rg22 ゲート抵抗
S1,S2 スイッチング素子(MOSFET)
T トランス
Vi 誘導起電力

Claims (2)

  1. スイッチング動作に伴う逆向き電流による損失を抑制するためのスイッチング素子の損失低減回路であって、前記スイッチング素子がMOSFETであり、ハイサイドおよびローサイドのスイッチング素子を誘導性負荷へ接続して交互にオン・オフ動作させるブリッジ回路において、
    前記MOSFETのドレインから流出する逆向き電流を検出するドレイン逆電流検出手段と、前記ドレイン逆電流検出手段から検出信号を受けて前記MOSFETをオン動作させるオン駆動手段とを備え、
    前記ドレイン逆電流検出手段は、前記MOSFETのドレイン側の配線に配置したカレントトランスを備え、
    前記カレントトランスの接地側端子は前記MOSFETのソース側へ接続し、前記カレントトランスの出力側端子は前記MOSFETのゲート側に接続することを特徴とするスイッチング素子の損失低減回路。
  2. 前記MOSFETのゲート,ソース間を渡すようにバイアス抵抗を配置し、そのバイアス抵抗が前記オン駆動手段を構成することを特徴とする請求項1に記載のスイッチング素子の損失低減回路。
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