JP5430687B2 - 電気被検体の検査のための電気検査装置並びに電気検査方法 - Google Patents
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Description
2 コンタクトヘッド
3 ガイド穿孔部
4 コンタクトプローブ
5 自由端
6 もう一方の端部
7 コンタクト部間隔変換器
8 支持部
9 コンタクト部間隔変換回路
10 収容部
11 参照面
12 導体基板
13 導体板
14 第1コンタクト面
15 面コンタクト部
16 導体基板の一方の側
17 導体基板のもう一方の側
18 コンタクト手段
19 絶縁支持部
20 コンタクト部
21 コンタクト部間隔ト変換器の導体基板に面した側
22 対向コンタクト面
23 第2コンタクト面
24 参照面
25 傾斜装置
26 第1補強装置
27 第2補強装置
28 締付け手段
29 収容貫通孔
30 スペーサ
31 開口部
32 傾斜要素
33 傾斜板
34 傾斜調整手段
35 開口部
36 ネジボルト
37 ネジボルト
38 調整ボルト
39 位置固定ボルト
40 張出部
41 ネジ孔
42 端部
43 外面
44 ネジ孔
45 ヘッド
46 位置合わせ手段
47 アライメントピン
48 ガイド開口部
49 ガイド開口部
50 固定ボルト
51 開口部
60 ネジボルト
61 ヘッド
62 収容部
63 ネジ孔
64 シャフト
65 収容部
66 区間
67 区間
68 区間
69 ナット
70 フランジ
71 ネジリング
71’ 段
72 雄ネジ
73 短管
74 保持ボルト
75 クランプ小板
76 クランプバネ
77 縁
Claims (14)
- 電気被検体の検査のための電気検査装置(1)であって、
コンタクト部間隔変換器(7)を介して検査ヘッド(2)と電気的に結合された導体基板(12)を備え、
前記検査ヘッド(2)は、ガイド穿孔部(3)内において変位可能に取り付けられたコンタクトプローブ(4)を有し、
前記コンタクトプローブ(4)は、屈曲針として形成され、前記電気被検体と物理的電気的に接触するための自由端(5)を有し、
前記コンタクトプローブ(4)の他端(6)は、前記コンタクト部間隔変換器(7)と物理的に接触しており、
前記コンタクト部間隔変換器(7)は、支持部(8)と電気的コンタクト部間隔変換回路(9)を備え、
前記支持部(8)は、前記電気的コンタクト部間隔変換回路(9)が埋没して接着されることにより収容された収容部(10)を有し、
前記導体基板(12)は、第1補強装置(26)と機械的に結合され、且つそれによって補強されており、
複数のスペーサ(30)が、前記コンタクト部間隔変換器(7)と機械的に結合されており、且つ前記第1補強装置(26)上で傾斜調整手段(34)によって保持され、
前記スペーサ(30)は、互いに対し間隔をあけて配置され、前記導体基板(12)を貫通し、かつボルト(60)として構成されており、
前記ボルト(60)はヘッド(61)を有し、前記ヘッド(61)は前記ボルト(60)を前記コンタクト部間隔変換器(7)のネジ孔(63)内にねじ込むことによって前記コンタクト部間隔変換器(7)の収容部(62)内に固定的に入れられており、
各前記ボルト(60)のシャフト(64)は、前記導体基板(12)のガイド開口部(48)を、それぞれ隙間をあけて貫通し、それぞれ前記第1補強装置(26)の収容部(65)内に食い込んでおり、
前記収容部(65)は、雌ネジを備えた直径の大きい区間(66)と、それに接続したより小さな直径でネジ山のない区間(67)と、さらに小さな直径でネジ山のない区間(68)とを有し、前記区間(68)は、割り当てられた前記ボルト(60)の前記シャフト(64)に対して遊びを有しており、
前記ボルト(60)のネジ山にナット(69)がねじ留めされており、前記ナット(69)は、フランジ(70)によって段(71’)に突っ張り支持され、前記段(71’)は、前記区間(66)と前記区間(67)の間に形成されており、
前記フランジ(70)のもう一方の側にはネジリング(71)があり、前記ネジリング(71)は雄ネジ(72)を有しており、前記雄ネジ(72)は前記区間(66)の雌ネジ内にねじ込まれており、
前記ネジリング(71)は、ねじ留めされた状態で前記ナット(69)を前記段(71’)に対して押し付けている
ことを特徴とする検査装置。 - 前記ネジリング(71)の内側は前記ナット(69)の短管(73)に被さっている
ことを特徴とする請求項1記載の検査装置。 - 前記導体基板(12)が第1コンタクト面(14)を有しており、前記第1コンタクト面が、コンタクト手段(18)を介して前記コンタクト部間隔変換器(7)の対向コンタクト面(22)と結合する
ことを特徴とする請求項1または2に記載の検査装置。 - 前記コンタクト手段(18)が、傾斜調整によって生じた、前記導体基板(12)と前記コンタクト部間隔変換器(7)の間の角度変位を補償する
ことを特徴とする請求項3記載の検査装置。 - 前記コンタクト部間隔変換器(7)が第2コンタクト面(23)を有しており、前記第2コンタクト面が、前記検査ヘッド(2)のコンタクトプローブ(4)/コンタクト針、特に屈曲針と電気的にコンタクトする
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記コンタクト部間隔変換器(7)に、前記被検体の電気的な接触コンタクトのためのコンタクト要素が堅固に配置される
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記コンタクト手段(18)が、前記コンタクト部間隔変換器(7)に直接的且つ堅固に配置される
ことを特徴とする請求項3または4記載の検査装置。 - 第2補強装置(27)を備えており、前記第1補強装置(26)が前記導体基板(12)の一方の側に、且つ前記第2補強装置(27)が前記導体基板(12)のもう一方の側に配置される
ことを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の検査装置。 - 前記第2補強装置(27)が前記コンタクト部間隔変換器(7)に割り当てられることを特徴とする請求項8記載の検査装置。
- 前記第2補強装置(27)が収容貫通孔(29)を有しており、前記収容貫通孔内に、前記コンタクト部間隔変換器(7)が、接触せずに少なくとも部分的に収容される
ことを特徴とする請求項8または9記載の検査装置。 - 前記導体基板(12)が導体板(13)として形成されることを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の検査装置。
- 前記第1及び/又は第2補強装置(26,27)が板状に形成されることを特徴とする請求項8から10のいずれか一項に記載の検査装置。
- 前記導体基板(12)をコンタクト部間隔変換器(7)に対して横方向で位置合わせする位置合わせ手段(46)を備える
ことを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載の検査装置。 - 請求項1から13のいずれか一項記載の検査装置を用いて電気被検体を電気検査する方法であって、
それぞれの前記ボルト(60)上に、それぞれの前記ナット(69)を相応に深くねじ嵌めることによって、前記コンタクト部間隔変換器(7)を前記導体基板(12)に相対的に、相応に望ましい傾斜で調整し、関連する前記ネジリング(71)をねじ締めて固定することによって、それぞれの前記ナット(69)の位置を固定する
ことを特徴とする方法。
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