TWI610080B - 探針卡總成 - Google Patents

Abstract

本發明揭露一種探針卡總成，其是藉由微調該探針卡總成中的可調式支撐組件中的至少一可調式中柱及至少三個可調式側柱的Z軸，使得該探針卡總成中的一加固件與該可調式支撐組件處於同一水平線，從而提升該探針卡總成的測試良率。

Description

探針卡總成

本發明是關於一種探針卡總成，特別是有關於一種含有可調式支撐組件的探針卡總成。

請參照第1圖，其顯示一種習知探針卡總成1之剖視圖。該習知探針卡總成1包含一電路板10、一加固件30及一支撐組件50。該加固件30是設置於該電路板10上，該加固件30的一區域具有一裸露該電路板10的開孔。該支撐組件50是設置於該開孔中的該電路板10上，該支撐組件50與該加固件30之間具有一間距。該支撐組件50包含一支撐件501、至少三個螺絲模板502(screw plate)、複數個墊片503及一支撐體504。該支撐體504是夾設於該支撐件501與該電路板10之間，且位於該支撐件501的中心位置。該至少三個螺絲模板502是設置於該電路板10上，且圍繞該支撐體504。該等墊片503是夾設於該支撐件501與該至少三個螺絲模板502之間。

然而，該習知探針卡總成1具有以下缺點：

(1)使用墊片503調整會產生新的間隙D：

將該支撐件501組裝上該習知探針卡總成1後，會利用墊片503將該支撐件501調整到水平線A的高度。但是當間隙值小於墊片503的厚度時，會產生無法由墊片503補足的空間。

(2)該支撐件501無法與上方的測試機台(圖中未示)平行：

該支撐件501的水平與否會影響該習知探針卡總成1的測試良率，所以需將該支撐件501調整與該測試機台平行(亦即，調整至水平線A)。若產生無法由墊片503補足的間隙，會讓該支撐件501無法調整到與該測試機台平行的理想水平。

(3)無法確認該支撐體504完全抵靠於該電路板10：

由於該電路板10的上表面為不規則面，在該支撐體504未完全抵靠於該電路板10上時會產生間隙，使力量無法有效地傳遞至該支撐件501。

(4)無法觀測調整情況：

由於該支撐件501覆蓋於該支撐體504上，當使用墊片503調整該支撐件501與該至少三個螺絲模板502之間的間隙時無法觀測該支撐體504是否完全抵靠於該電路板10上。

因此，有必要提供一種新穎的探針卡總成結構，以解決先前技術所存在的問題。

有鑑於此，本發明目的在於提供一種探針卡總成，其是藉由微調該探針卡總成中的可調式支撐組件中的至少一可調式中柱及至少三個可調式側柱的Z軸，使得該探針卡總成中的一加固件與該可調式支撐組件處於同一水平線，從而提升該探針卡總成的測試良率。

為達成上述目的，本發明提供一種探針卡總成，其包含：一電路板；一探針頭，固定於該電路板的底側，該探針頭具有以一微細間距(fine pitch) 設置的多個探針固持於其內；一加固件(stiffener)，設置於該電路板上，該加固件的一區域具有一裸露該電路板的開孔；以及一可調式支撐組件，設置於該開孔中的該電路板上，該可調式支撐組件與該加固件之間具有一間距，該可調式支撐組件包含：一支撐件(backer)；至少一可調式中柱，設置於該支撐件與該電路板之間且位於該支撐件的中心位置；以及至少三個可調式側柱，設置於該支撐件與該電路板之間且圍繞該至少一可調式中柱。

在本發明的一實施例中，該探針頭的位置對應於該開孔的中心位置。

在本發明的一實施例中，該至少一可調式中柱的上端是連接於該支撐件。

在本發明的一實施例中，該至少一可調式中柱的下端是抵靠於該電路板。

在本發明的一實施例中，該至少一可調式中柱和該電路板之間更包含一支撐體(supporter)，該支撐體的下表面是抵靠於該電路板。

在本發明的一實施例中，該至少三個可調式側柱的上端及下端分別連接於該支撐件及該電路板。

在本發明的一實施例中，該至少一可調式中柱具有至少一第一調整機構，該至少一第一調整機構是位於該至少一可調式中柱的上端 及中間段的至少之一者。

在本發明的一實施例中，位於該至少一可調式中柱的上端的該第一調整機構是裸露於該支撐件的上表面。

在本發明的一實施例中，該至少三個可調式側柱具有至少一第二調整機構，該至少一第二調整機構是位於該至少三個可調式側柱的上端、中間段及下端的至少之一者。

在本發明的一實施例中，位於該至少三個可調式側柱的上端的該第二調整機構是裸露於該支撐件的上表面。

在本發明的一實施例中，位於該至少三個可調式側柱的下端的該第二調整機構是裸露於該電路板的下表面。

在本發明的一實施例中，該可調式支撐組件包含至少八個可調式側柱。

相較於先前技術，本發明是提供一種探針卡總成，其是藉由微調該可調式支撐組件中的該至少一可調式中柱及該至少三個可調式側柱的Z軸，使得該可調式支撐組件與該加固件處於同一水平線，從而提升該探針卡總成的測試良率。

1‧‧‧習知探針卡總成

2‧‧‧探針卡總成

10‧‧‧電路板

20‧‧‧探針頭

30‧‧‧加固件

40‧‧‧可調式支撐組件

50‧‧‧支撐組件

201‧‧‧探針

301‧‧‧開孔

401‧‧‧支撐件

402‧‧‧可調式中柱

403‧‧‧可調式側柱

404‧‧‧支撐體

501‧‧‧支撐件

502‧‧‧螺絲模板

503‧‧‧墊片

504‧‧‧支撐體

A‧‧‧水平線

D‧‧‧間隙

G‧‧‧間距

第1圖係習知探針卡總成之剖視圖。

第2圖係本發明一實施例中探針卡總成之立體上視圖。

第3圖係本發明一實施例中探針卡總成之立體下視圖。

第4圖係沿第2圖之A-A剖面線所取之剖視圖。

為詳細說明本發明之技術內容、構造特徵、所達成目的及功效，以下茲舉例並配合圖式詳予說明。

請參閱第2-4圖，第2圖為本發明一實施例中探針卡總成2之立體上視圖；第3圖為本發明一實施例中探針卡總成2之立體下視圖；第4圖為沿第2圖之A-A剖面線所取之剖視圖。該探針卡總成2包括一電路板10、一探針頭20、一加固件30及一可調式支撐組件40。

該探針頭20是固定於該電路板10的底側。該探針頭20具有以一微細間距(fine pitch)設置的多個探針201固持於其內。該加固件30是設置於該電路板10上。該加固件30的中間區域具有一裸露該電路板10的開孔301。該探針頭20的位置是對應於該開孔301的中心位置。該可調式支撐組件40是設置於該開孔301中的該電路板10上。該可調式支撐組件40與該加固件30之間具有一間距G。

該可調式支撐組件40包含一支撐件401、一可調式中柱402、八個可調式側柱403及一支撐體404。該支撐件401是一板狀體。該支撐體404是夾設於該支撐件401與該電路板10之間，且位於該支撐件401的中心位置。該可調式中柱402的上端和該等可調式側柱403的上端與下端皆為調整機構。該調整機構是一具有十字槽的螺絲頭，其可藉由十字螺絲起子進行Z軸的微調。

該可調式中柱402的上端是埋設於該支撐件401中，該可調式中柱402的下端是鎖固於該支撐體404，且該可調式中柱402的上端的該調整機構是裸露於該支撐件401的上表面。該可調式中柱402是位於該支撐件 401的中心位置。在此，藉由十字螺絲起子旋轉該可調式中柱402的上端的該調整機構可以調整該支撐體404的下表面抵靠於該電路板10上。

該等可調式側柱403是由上半部的螺帽和下半部的螺絲組合構成。該螺帽的上端是埋設於該支撐件401中，該螺絲則是由下而上地穿透該電路板10，而相互地組合。位於該等可調式側柱403的上端(亦即，該螺帽的上端)及下端(亦即，該螺絲的下端)的該調整機構是分別裸露於該支撐件401的上表面及該電路板10的下表面。該等可調式側柱403是圍繞該可調式中柱402。

如上所述，本發明的探針卡總成2係藉由微調該可調式支撐組件40中的該可調式中柱402及該等可調式側柱403的Z軸，使得該可調式支撐組件40與該加固件30處於同一水平線。因此，本發明具有可穩定抵靠於測試機台而提升該探針卡總成2的測試良率、不產生多餘間隙、確保該支撐體404完全抵靠於該電路板10及可觀測調整狀態等優點。

雖然本發明已以較佳實施例揭露，然其並非用以限制本發明，任何熟習此項技藝之人士，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種更動與修飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧電路板

20‧‧‧探針頭

30‧‧‧加固件

40‧‧‧可調式支撐組件

201‧‧‧探針

301‧‧‧開孔

401‧‧‧支撐件

402‧‧‧可調式中柱

403‧‧‧可調式側柱

404‧‧‧支撐體

G‧‧‧間距

Claims (9)

1. 一種探針卡總成，包括：一電路板；一探針頭，固定於該電路板的底側，該探針頭具有以一微細間距設置的多個探針固持於其內；一加固件，設置於該電路板上，該加固件的一區域具有一裸露該電路板的開孔；以及一可調式支撐組件，設置於該開孔中的該電路板上，該可調式支撐組件與該加固件之間具有一間距，該可調式支撐組件包含：一支撐件；至少一可調式中柱，設置於該支撐件與該電路板之間且位於該支撐件的中心位置；以及至少三個可調式側柱，設置於該支撐件與該電路板之間且圍繞該至少一可調式中柱，其中該至少三個可調式側柱的上端及下端分別連接於該支撐件及該電路板。
2. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡總成，其中該探針頭的位置對應於該開孔的中心位置。
3. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡總成，其中該至少一可調式中柱的上端是連接於該支撐件。
4. 如申請專利範圍第3項所述之探針卡總成，其中該至少一可調式中柱的下端是抵靠於該電路板。
5. 如申請專利範圍第3項所述之探針卡總成，其中該至少一可調式中柱和該電路板之間更包含一支撐體，該支撐體的下表面是抵靠於該電路板。
6. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡總成，其中該至少一可調式中柱具有至少一第一調整機構，該至少一第一調整機構是位於該至少一可調式中柱的上端及中間段的至少之一者。
7. 如申請專利範圍第6項所述之探針卡總成，其中位於該至少一可調式中柱的上端的該第一調整機構是裸露於該支撐件的上表面。
8. 如申請專利範圍第1項所述之探針卡總成，其中該至少三個可調式側柱具有至少一第二調整機構，該至少一第二調整機構是位於該至少三個可調式側柱的上端、中間段及下端的至少之一者。
9. 如申請專利範圍第8項所述之探針卡總成，其中位於該至少三個可調式側柱的上端的該第二調整機構是裸露於該支撐件的上表面；位於該至少三個可調式側柱的下端的該第二調整機構是裸露於該電路板的下表面。