JP5371694B2 - 顕微鏡接続ユニットおよび顕微鏡システム - Google Patents
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Description
本発明は、標本の観察を行う顕微鏡に接続される顕微鏡接続部と、前記標本に光を照射する照射手段または前記標本において発せられる光を検出する検出手段が接続可能な3以上の接続ポートと、前記顕微鏡接続部と前記接続ポートとの間に配置され、前記顕微鏡と前記照射手段または前記検出手段とを光学的に接続する光路を合成する2以上の光路合成部とを備える顕微鏡接続ユニットを提供する。
このように構成することで、リレー光学系により標本の1次像を顕微鏡から遠い位置に再構築することができる。したがって、顕微鏡接続部と接続ポートとの間に光路合成部を容易に配置し、複数の光路を合成し易くすることができる。
このように構成することで、光路合成部によって略平行光束の光路が合成されるので、非点隔差による像の劣化を防止することができる。なお、非点隔差とは、光を集光したときの光軸に垂直な2方向の集光位置のずれのことをいう。
このように構成することで、光路合成部における光の裏面反射の影響により干渉縞が生じて像が劣化するのを防止することができる。
このように構成することで、照射手段および検出手段を接続ポートの数に応じて自由に組み合わせることができ、観察方法のバリエーションを増加することができる。
このように構成することで、切替手段により光路合成部を挿脱するだけで、顕微鏡と照射手段または検出手段との間の光路を合成したり分離したりすることができる。なお、切替手段による光路合成部の挿脱は自動で行うこととしてもよいし手動で行うこととしてもよい。
このように構成することで、照射手段または検出手段による観察方法の切り替えに連動して複数のビームスプリッタから最適なものを光路に配置することができる。
本発明によれば、制御装置により、顕微鏡接続ユニットと照射手段や検出手段間の同期を高速かつ正確にとることができる。
2次元撮像デバイスは面で光を検出するため、共焦点観察を行う場合と比較してフレームレートが高い。したがって、2次元撮像デバイスにより、例えば、カルシウムイオン等の速い反応を捉えることができる。
検出手段としては、DMD(微小偏向素子アレイ)多点レーザ走査やディスク共焦点等が挙げられる。これらはガルバノスキャナやレゾナントスキャナと比較してフレームレートが高いので、標本の速い反応を逃すことなく観察することができる。
以下、本発明の第1の実施形態に係る顕微鏡接続ユニットおよび顕微鏡システムについて、図面を参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡システム100は、図1および図2に示すように、標本Sを目視観察する顕微鏡10と、レーザ光(観察用励起光、刺激光)を発生するレーザユニット(観察用光源、刺激用光源)140と、標本Sを共焦点観察する共焦点観察ユニット(検出手段)50と、標本Sを光刺激する刺激ユニット(照射手段)70と、標本Sの2次元画像を取得する撮影ユニット(検出手段)110と、顕微鏡10とこれら共焦点観察ユニット50、刺激ユニット70および撮影ユニット110とを光学的に接続する顕微鏡接続ユニット120とを備えている。
また、コントローラ152およびPC154は、GUI(図示略)により操作することができるようになっている。これにより、操作が簡単で操作ミスを防止することできる。
なお、共焦点観察ユニット50は、標本Sに光を照射する照明手段としても機能する。また、共焦点観察ユニット50は、標本Sを光刺激する照射手段として用いることもできる。
PMT69A,69B,69Cは、蛍光を検出して得られた画素ごとの検出信号をPC154へ出力するようになっている。これにより、PC154において、入力された検出信号に基づいて2次元画像が構築される。
励起フィルタ77は、刺激ユニットフィルタターレット78に設けられ、波長特性に応じて切り替え可能となっている。
本実施形態に係る顕微鏡システム100を用いて、共焦点観察ユニット50により標本Sを観察しながら刺激ユニット70により標本Sを刺激するとともに、刺激による標本Sの反応を撮影ユニット110により撮影する場合は、コントローラ152により観察方法に応じた適切な光路合成部127A,127Bが顕微鏡接続ユニット120に配置される。
次に、本発明の第2の実施形態に係る顕微鏡接続ユニット120および顕微鏡システム200について説明する。
本実施形態に係る顕微鏡システム200は、図8に示すように、撮影ユニット110に代えて、照明手段および検出手段としての観察用高速レーザ走査ユニット(DMD多点レーザ走査ユニット。以下、単に「多点走査ユニット」という。)210を備える点で、第1の実施形態と異なる。
以下、第1の実施形態に係る顕微鏡システム100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
多点走査ユニットコリメートレンズ217およびシリンドリカルレンズ219は、多点走査ユニットDMD221のマイクロミラーの切替方向に対して直交する方向にライン状にレーザ光を収束するようになっている。
多点走査ユニット励起DM229は多点走査ユニットフィルタターレット228に設けられ、観察方法に合わせて異なる波長特性に切り替え可能となっている。
なお、多点走査ユニット210は、標本Sを光刺激する照射手段として用いることもできる。
本実施形態に係る顕微鏡システム200を用いて、多点走査ユニット210により標本Sの蛍光画像を取得する場合は、コントローラ152により観察方法に応じた適切な第1光路合成部127Cおよび第2光路合成部127Bが顕微鏡接続ユニット120に配置される。
また、第2光路合成部127Bは、撮影ユニット110の場合と同じものである。
例えば、上記各実施形態においては、PC154が、刺激ユニット70等の照射手段による標本S上の照射位置および共焦点観察ユニット50、撮影ユニット110、多点走査ユニット210等の検出手段による光の検出位置の基準情報を記憶する記憶手段として機能し、コントローラ152が、光路合成部127A、127B、127Cの切り替えによって発生する上記照射手段による標本S上の照射位置ずれおよび上記検出手段による光の検出位置ずれを補正する補正手段として機能することとしてもよい。
51 観察ユニット接続部(ユニット接続部)
57 観察ユニットガルバノスキャナ(観察用走査手段)
67A,67B,67C 共焦点ピンホール
69A,69B,69C PMT(光電子増倍管、検出光学系)
70 刺激ユニット(照射手段)
71 刺激ユニット接続部(ユニット接続部)
89 刺激ユニットGS(刺激用走査手段)
100,200 顕微鏡システム
110 撮影ユニット(検出手段)
111 CCD(2次元撮像デバイス)
113 カメラアダプタ(ユニット接続部)
120 顕微鏡接続ユニット
121 顕微鏡接続ポート(顕微鏡接続部)
123A,123B,123C ユニット接続ポート
125 接続ユニット光学系(リレー光学系)
127A,127B,127C 光路合成部
128A,128B 接続ユニットフィルタターレット(切替手段)
140 レーザユニット(観察用光源、刺激用光源、照明手段)
152 コントローラ(制御装置、補正手段)
154 PC(記憶部)
211 多点走査ユニットGS接続部(ユニット接続部)
225 多点走査ユニットGS(多点走査手段)
S 標本
Claims (13)
- 標本の観察を行う顕微鏡と、この顕微鏡に接続された顕微鏡接続ユニットとを備えた顕微鏡システムであって、
前記顕微鏡接続ユニットは、
前記顕微鏡に接続される顕微鏡接続部と、
前記標本に光を照射する照射手段または前記標本において発せられる光を検出する検出手段が接続可能な3以上の接続ポートと、
前記顕微鏡接続部と前記接続ポートとの間に配置され、前記顕微鏡と前記照射手段または前記検出手段とを光学的に接続する光路を合成する2以上の光路合成部と、
前記光路を形成し、前記顕微鏡により結像される前記標本の1次像をリレーして前記3以上の接続ポートのそれぞれに2次像を生成するリレー光学系を備えており、
前記リレー光学系は、前記顕微鏡接続部と前記光路合成部との間に設けられた第1レンズと、前記3以上の接続ポートのそれぞれに対して当該接続ポートと前記光路合成部との間に設けられた複数の第2レンズとを備えており、
レーザー光を二次元走査する走査手段を備えた検出手段または照射手段が前記接続ポートの少なくとも一つに接続され、前記レーザー光が前記顕微鏡接続ユニットを介して前記顕微鏡へ導入されて標本上で二次元走査されるようにした顕微鏡システム。 - 前記顕微鏡接続ユニットの前記光路合成部が、前記リレー光学系によって形成される略平行光束上に配置されている請求項1に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡接続ユニットの前記リレー光学系が非平行光束を形成する請求項2に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡接続ユニットの前記接続ポートが略同一形状を有する請求項1から請求項3のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡接続ユニットの前記光路合成部を切り替え可能な切替手段を備える請求項1から請求項4のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡接続ユニットの前記光路合成部の少なくとも1つが、前記切替手段に着脱可能である請求項5に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡接続ユニットの前記光路合成部が、前記切替手段に着脱可能な複数のビームスプリッタにより構成されている請求項5に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡と、前記顕微鏡接続ユニットに接続された前記照射手段および/または前記検出手段とを制御する制御装置を備える請求項5から請求項7のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記照射手段による前記標本上の照射位置および前記検出手段による光の検出位置の基準情報を記憶する記憶部と、
該記憶部に記憶されている前記基準情報に基づき前記照射手段による照射位置ずれおよび前記検出手段による検出位置ずれを補正する補正手段と備える請求項8に記載の顕微鏡システム。 - 前記検出手段が、前記接続ポートに接続されるユニット接続部と、
前記標本に照射する観察用励起光を発生する観察用光源と、
該観察用光源から発せられる前記観察用励起光を前記標本上で2次元的に走査する観察用走査手段と、
前記観察用励起光が照射された前記標本から発せられ前記観察用走査手段を介して戻る観察光を部分的に通過させる共焦点ピンホールと、
該共焦点ピンホールを通過した前記観察光を検出する検出光学系とを備える請求項1から請求項9のいずれかに記載の顕微鏡システム。 - 前記照射手段が、前記接続ポートに接続されるユニット接続部と、
前記標本に照射する刺激光を発する刺激用光源と、
該刺激用光源から発せられる前記刺激光を前記標本上で2次元的に走査する刺激用走査手段とを備える請求項1から請求項10のいずれかに記載の顕微鏡システム。 - 前記検出手段が、前記接続ポートに着脱可能な2次元撮像デバイスを備える請求項1から請求項11のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記検出手段が、前記光を同時並列に多点走査する多点走査手段と、前記標本に照明光を照射する照明手段とを備える請求項1から請求項12のいずれかに記載の顕微鏡システム。
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