JP5359033B2 - テスト装置、テスト方法および集積回路 - Google Patents
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Description
11 カウンタ制御ブロック
12 アップカウンタ
13 ダウンカウンタ
2 セレクタ
3 反転回路
4 比較回路
5 ユーザ回路
8 メモリ
14、15、17 第1〜3のOR回路
16 AND回路
Claims (6)
- アップカウンタと、
ダウンカウンタと、
前記アップカウンタの出力と前記ダウンカウンタの出力が入力し、いずれかのカウンタ出力を選択して出力するセレクタと、
前記セレクタから出力する一方のカウンタ出力と、前記セレクタで選択されなかった他方のカウンタ出力との一方に接続され、反転信号を出力する反転回路と、
前記反転回路により反転されたカウンタ出力と反転されなかったカウンタ出力とが入力し、両者の比較を行う比較回路と、
を備えるテスト装置。 - 前記アップカウンタは、前記テスト装置に接続されるメモリのアドレスをインクリメントし、前記ダウンカウンタは、前記メモリのアドレスをデクリメントする請求項1に記載のテスト装置。
- 前記反転回路には、前記セレクタで選択されなかったカウンタ出力が入力し、
前記比較回路では、前記セレクタで選択されたカウンタ出力と、前記反転回路からの出力とが比較される請求項1または2に記載のテスト装置。 - 前記反転回路には、前記セレクタからの出力が入力し、
前記比較回路は、前記セレクタで選択されなかったカウンタ出力と前記反転回路からの出力とが比較される請求項1または2に記載のテスト装置。 - アップカウンタと、ダウンカウンタとを備える回路のテスト方法であって、
前記アップカウンタによるカウントアップ動作と、前記ダウンカウンタによるカウントダウン動作とを並列に動作させ、
前記アップカウンタの出力と、前記ダウンカウンタの出力の一方を選択するとともに、選択されなかったカウンタの出力を反転して反転カウンタ出力を生成し、
前記反転カウンタ出力と、前記選択されたカウンタ出力とを比較する、
テスト方法。 - 請求項1のテスト装置を備える集積回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008143771A JP5359033B2 (ja) | 2008-05-30 | 2008-05-30 | テスト装置、テスト方法および集積回路 |
US12/379,371 US8143901B2 (en) | 2008-05-30 | 2009-02-19 | Test apparatus, test method, and integrated circuit |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008143771A JP5359033B2 (ja) | 2008-05-30 | 2008-05-30 | テスト装置、テスト方法および集積回路 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009288199A JP2009288199A (ja) | 2009-12-10 |
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ID=41381339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008143771A Expired - Fee Related JP5359033B2 (ja) | 2008-05-30 | 2008-05-30 | テスト装置、テスト方法および集積回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8143901B2 (ja) |
JP (1) | JP5359033B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01238317A (ja) | 1988-03-18 | 1989-09-22 | Fujitsu Ltd | 並列型エラーカウンタ回路 |
JP2964487B2 (ja) * | 1989-07-21 | 1999-10-18 | 日本電気株式会社 | カウンタ |
JPH03191616A (ja) * | 1989-12-21 | 1991-08-21 | Fujitsu Ltd | カウンタ回路 |
JP3566342B2 (ja) | 1994-06-30 | 2004-09-15 | 株式会社アドバンテスト | 並列動作高速カウンタ装置 |
US5940874A (en) * | 1996-08-16 | 1999-08-17 | Hughes Electronics Corporation | Memory device speed tester |
KR100258978B1 (ko) * | 1997-07-02 | 2000-06-15 | 윤종용 | 동적 메모리 테스트 회로의 어드레스 발생 장치 및방법 |
KR100468675B1 (ko) * | 1997-07-25 | 2005-03-16 | 삼성전자주식회사 | 스태틱램자기테스트회로의어드레스발생기및어드레스발생방법 |
-
2008
- 2008-05-30 JP JP2008143771A patent/JP5359033B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2009
- 2009-02-19 US US12/379,371 patent/US8143901B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8143901B2 (en) | 2012-03-27 |
JP2009288199A (ja) | 2009-12-10 |
US20090300443A1 (en) | 2009-12-03 |
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A621 | Written request for application examination |
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