JP5323945B2 - タッチパネルの製造方法、及び、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法 - Google Patents

タッチパネルの製造方法、及び、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、絶縁性の透明基板上に透明導電膜によってタッチ電極が形成されたタッチパネルの製造方法、及び、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法に関する。
近年、パーソナル・デジタル・アシスタント(PDA)、パームトップコンピュータ、携帯用ゲーム機器などの普及に伴って、表示装置と組み合わせ可能な入力手段として、透明な基板上に形成されたタッチパネルが広く用いられている。
例えば、タッチパネル付きの表示装置としての液晶表示装置では、液晶パネルの画像表示面に透明なタッチパネルを重ねた構成を有していて、該タッチパネルを通して液晶パネルに表示される画像を観視することができる。このような液晶表示装置は、表示される画像に合わせて、タッチパネルの視認側の面、すなわち、液晶パネルの表示画像を観察する側の表面を、指先や入力ペンなどによって押圧した場合に、その位置を検出可能に構成されている。これにより、タッチパネルの入力内容をPDAなどの使用機器の制御に反映させることができる。
透明基板を用いたタッチパネルの一例としての静電容量方式のタッチパネルは、ガラスやフィルムなどの絶縁性の透明基板上に、透明導電膜のタッチ電極が平面的なパターンとして形成されている。特に、タッチ電極が所定の間隔で配置されている投影型の静電容量方式は、複数のタッチ点を同時に検出するいわゆるマルチタッチに対応しているため、近年特に注目が集まっている。
このような静電容量方式のタッチパネルでは、表示パネルの画像表示面と重なる部分に形成されるタッチ電極は透明導電膜によって形成される。一方、タッチ電極の電位を外部の回路基板に出力するための接続端子や、タッチ電極と接続端子とを接続する引き出し配線は、透明導電膜よりも抵抗値が低いアルミなどの金属材料を用いた金属層によって形成される。金属層を接続端子や引き出し配線として用いる場合には、金属層の酸化や剥がれを防止するために該金属層の表面が保護膜によって覆われる。しかしながら、接続端子の少なくとも一部は、タッチパネルと外部回路とをつなぐフレキシブルプリント基板(FPC)などの接続部材が接続されるために、保護膜で覆われることなく露出している必要がある。
図33は、従来の静電容量方式タッチパネルの製造工程の一例を示す断面図である。なお、図33(a)、図33(b)及び図33(c)において、左側の図が、タッチ電極が形成された部分、すなわち電極パターンを示す図1におけるA−A’矢視線部分に相当するA部の断面を示している。また、図33(a)、図33(b)及び図33(c)において、中央の図が、引き出し配線が形成されている部分、すなわち電極パターンを示す図1におけるB−B’矢視線部分に相当するB部の断面を示している。さらに、図33(a)、図33(b)及び図33(c)において、右側の図が、接続端子が形成されている部分、すなわち電極パターンを示す図1におけるC−C’矢視線部分に相当するC部の断面を示している。
図33に示すように、従来のタッチパネルの製造方法では、ガラス製または透明フィルム製の透明基板701上の全面に、アルミ(Al)層及び該アルミ層を覆うモリブデン(Mo)層をスパッタ法によって順次積層して、その上にレジスト膜を形成する。そして、このレジスト膜を、引き出し配線及び接続端子が形成される部分にのみレジスト膜を残すようにマスクを用いて露光し、現像する。その後、残ったレジスト膜をマスクとしてエッチングを行う。その結果、図33(a)に示すように、引き出し配線及び接続電極が形成される部分に、アルミ層711及びモリブデン層712の積層体からなる金属層が形成される。
続いて、透明基板701上に、ITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電膜層をスパッタ法により形成する。そして、透明導電膜層上に図示しないレジスト膜を塗布した後、露光現像して、タッチ電極部分及び接続端子部分にレジスト膜を残存させる。このレジスト膜をマスクとして透明導電膜層をエッチングすることにより、タッチ電極部分及び接続端子部分のアルミ層711及びモリブデン層712の積層体上に、透明導電膜層713を形成する。該透明導電膜713が形成された構成を図33(b)に示す。
その後、SiN、SiO2または透明樹脂製の保護膜714を、CVD法などによって透明基板701の全面に形成する。そして、レジストパターンを用いて保護膜714をエッチングすることにより、接続端子部分に開口部715を形成する。
このようにして、図33(c)に示すように、タッチ電極702、フローティング電極703、引き出し電極704及び接続端子705を備えたタッチパネルが製造される。ここで、タッチ電極702は、平面的なパターンとして形成された透明導電膜層713からなる。フローティング電極703は、タッチ電極702,702間に配置される透明導電膜層713からなる。引き出し電極704は、アルミ層711及びモリブデン層712の積層体である。接続端子705は,アルミ層711、モリブデン層712及び透明導電膜層713を積層してなる。なお、このタッチパネルでは、接続端子705上の開口715部分を除くパネル全面に、透明樹脂製の保護膜714が形成されている。
次に、従来のタッチパネルの製造方法の別の例を説明する。タッチ電極パターンが細かい場合や引き出し配線を配置する領域が狭い場合などには、透明基板上に、引き出し配線を、互いに導通しないように2層に分けて形成することがある。この場合には、接続端子が接続される引き出し配線が形成されている層に合わせて、接続端子も2層に分けて形成する。
図34及び図35は、引き出し配線が立体的に2層に分けて形成されている静電容量方式タッチパネルの製造工程の一例を示す断面図である。
なお、図34の(a)〜(c)及び図35の(a)〜(c)において、左側の図が、タッチ電極が形成された部分、すなわち2層に分かれた引き出し配線を有するタッチパネルの電極パターンを示す図6におけるD−D’矢視線部分に相当するD部の断面を示している。また、図34の(a)〜(c)及び図35の(a)〜(c)において、中央の図が、引き出し配線が形成されている部分、すなわち電極パターンを示す図6におけるE−E’矢視線部分に相当するE部の断面を示している。さらに、図34の(a)〜(c)及び図35の(a)〜(c)において、右側の図が、接続端子が形成されている部分、すなわち電極パターンを示す図6におけるF−F’矢視線部分に相当するF部の断面を示している。
まず、ガラス製または透明フィルム製の透明基板801上の全面に、アルミ層及び該アルミ層を覆うモリブデン層をスパッタ法によって順次積層して形成し、その上にレジスト膜を形成する。そして、このレジスト膜を露光現像して、第1層、すなわち、透明基板上に直接形成される下側の層において、引き出し配線及び接続端子が形成される部分にのみレジスト膜を残す。この残ったレジスト膜をマスクとして用いてエッチングを行う。その結果、図34(a)に示すように、第1層の引き出し配線及び第1層の接続電極が形成される部分に、アルミ層811及びモリブデン層812の積層体が形成される。
続いて、図34(b)に示すように、第1層と第2層との層間絶縁膜としての機能を有する、SiN、SiO2または透明樹脂製の第1層の保護膜813をCVD法などによって形成する。
次に、形成された第1層の保護膜813上に、アルミ層及び該アルミ層を覆うモリブデン層を、再びスパッタ法によって順次積層して形成し、その上にレジスト膜を形成する。そして、このレジスト膜を露光現像して、第2層、すなわち、タッチパネルの表面側である上側の層において、引き出し配線及び接続端子が形成される部分にのみレジスト膜を残す。この残ったレジスト膜をマスクとして用いてエッチングを行う。その結果、図34(c)に示すように、第2層の引き出し配線及び第2層の接続電極が形成される部分にアルミ層814及びモリブデン層815の積層体が形成される。
次に、第1層の保護膜813において、該第1層の接続端子となるアルミ層811及びモリブデン層812の積層体の上方以外の部分に、パターン化されたレジスト膜を残存させる。このレジスト膜をマスクとして第1層の保護膜813をエッチングして開口部816を設け、モリブデン層812の表面を露出させる。この状態を、図35(a)に示す。
続いて、第1層の保護膜813の表面に、CVD法などによってITOなどの透明導電膜層を形成する。そして、タッチ電極とタッチ電極との間に形成されるフローティング電極の平面的パターンに合わせて、パターン化されたレジスト膜を形成する。このとき同時に、接続端子が形成されるF部において、第1層の保護膜813の開口部816を覆うようにレジスト膜を残存させる。そして、このレジスト膜をマスクとしてエッチングを行い、図35(b)に示すように、D部のタッチ電極及びフローティング電極が形成される部分と、F部の第1層の接続端子を覆う部分とに、パターン化された透明導電膜層817を残存させる。
次に、透明基板801の全面に、SiN、SiO2または透明樹脂製の第2層の保護膜818をCVD法などによって形成する。第2層の保護膜818上に、第1層の接続端子及び第2層の接続端子が形成される部分を残してレジスト膜をパターン化して形成する。このレジスト膜をマスクとしてエッチングを行い、第2層の保護膜818に開口部819及び開口部820を形成する。この結果、図35(c)に示すように、フローティング電極803と、第1層の引き出し電極804aと、第2層の引き出し電極804bと、第1層の接続端子805aと、第2層の接続端子805bとが形成されたタッチパネルが製造される。ここで、フローティング電極803は、第2層の保護膜818に覆われていて、且つ、タッチ電極802とタッチ電極802の間に形成されている。第1層の接続端子805a及び第2層の接続端子805bは、第1層の保護膜813及び第2層の保護膜818に設けられた開口部816,819,820から表面が露出している。
なお、例えば特開2008−233976号公報には、タッチ電極とともに引き出し配線や接続端子を透明導電膜層によって形成する場合、タッチ電極と引き出し配線との電気的導通を確実なものとするために、両者の接続部分の透明導電膜をタッチ電極部分よりも厚くすることが提案されている。
上記従来のタッチパネルの製造方法では、図33に示した引き出し配線704や接続端子705が1層構造のタッチパネルの場合でも、少なくとも3枚の露光マスクが必要となる。すなわち、まず、アルミ膜711とモリブデン膜712とからなる引き出し配線704及び接続端子705の金属層のパターンを形成するために、第1の露光マスクが必要である。そして、タッチ電極702及びフローティング電極703を構成するとともに、接続端子705の金属層の保護膜となる透明導電膜層713をパターンニングするために、第2の露光マスクが必要である。さらに、保護膜714において、接続端子705形成部分に導通を取るためのスルーホールとなる開口715を形成するために、第3の露光マスクが必要となる。
また、図34及び図35に示すように、引き出し配線804及び接続端子805の金属層を2層構造として形成するタッチパネルの場合には、少なくとも5枚の露光マスクが必要となる。すなわち、まず、アルミ膜811とモリブデン膜812とによってそれぞれ構成される、第1層の引き出し配線804a及び第1層の接続端子805aのパターンを形成するために、第1の露光マスクが必要である。そして、アルミ膜814とモリブデン膜815とによってそれぞれ構成される、第2層の引き出し配線804b及び第2層の接続端子805bのパターンを形成するために、第2の露光マスクが必要である。また、第1層の保護膜813に、第1層の接続端子805aを露出させるための開口部816を形成するための第3の露光マスクが必要となる。そして、タッチ電極802、フローティング電極803、第1層の接続端子805aの金属層及び第2層の接続端子805bの金属層をそれぞれ保護する膜となる透明導電膜817をパターンニングするために、第4の露光マスクが必要である。さらに、第2層の保護膜818において、接続端子805a,805bが形成される部分に、導通を取るためのスルーホールとなる開口部819,820を形成するために、第5の露光マスクが必要となる。
このように、多数の露光マスクを用いることは、多数回の露光現像工程を経てレジストパターンを形成し、形成されたレジストパターンを用いて多数回のエッチング工程を行うことになる。そのため、タッチパネルの製造コスト及び製造時間の増大に繋がる。また、露光マスクの枚数が増えることは、マスクの位置あわせ回数が増えることでもあるため、形成された各層の位置あわせのずれが増大する要因となり、製造されたタッチパネルのパターン精度の低下に繋がる。
そこで、以下の実施形態では、パターン形成に必要な露光マスクの枚数を低減したタッチパネルの製造方法、及び、このタッチパネルを備えた表示装置の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態にかかるタッチパネルの製造方法は、絶縁性の透明基板上に透明導電膜層及び金属層を順に積層した後、同一のレジストパターンを用いて、該透明導電膜層及び金属層を所定の電極パターンに形成し、該透明導電膜層及び前記金属層を覆う保護膜を形成して、該保護膜の所定位置に該保護膜を貫通する開口部を設け、該開口部が設けられた前記保護膜を用いて前記金属層をエッチングによって除去して前記透明導電膜層を露出させることにより、タッチ電極及び該タッチ電極の電位をタッチパネルの外部に出力する接続端子の少なくとも一方を形成する。
本発明の一実施形態にかかるタッチパネルの製造方法により、パターン形成に必要な露光マスクの枚数を低減することができる。
図1は、第1の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法によって製造され、且つ、引き出し配線が1層構造であるタッチパネルの電極パターンを示す平面図である。 図2は、第1の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図3は、第1の実施形態の第1の応用例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図4は、第1の実施形態の第2の応用例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図5は、第1の実施形態の第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図6は、第2の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法で製造され、且つ、タッチ電極、引き出し配線及び接続端子が、それぞれ2層構造となっているタッチパネルの電極パターンを示す平面図である。 図7は、第2の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の初期の部分を示す断面図である。 図8は、第2の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の中間の部分を示す断面図である。 図9は、第2の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の後期の部分を示す断面図である。 図10は、第2の実施形態の第1の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の中間の部分を示す断面図である。 図11は、第2の実施形態の第1の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の後期の部分を示す断面図である。 図12は、第2の実施形態の第2の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の中間の部分を示す断面図である。 図13は、第2の実施形態の第2の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の後期の部分を示す断面図である。 図14は、第2の実施形態の第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の初期の部分を示す断面図である。 図15は、第2の実施形態の第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の中間の部分を示す断面図である。 図16は、第2の実施形態の第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の後期の部分を示す断面図である。 図17は、第2の実施形態の第4の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の中間の部分を示す断面図である。 図18は、第2の実施形態の第4の応用例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程の後期の部分を示す断面図である。 図19は、第3の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法で製造され、且つ、引き出し配線の一部が繋ぎ替え配線となっているタッチパネルの電極パターンを示す平面図である。 図20は、第3の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図21は、第3の実施形態の応用例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図22は、第3の実施形態の第1の変形例にかかるタッチパネルの製造方法で製造され、且つ、引き出し配線の一部が繋ぎ替え配線となっているタッチパネルの電極パターンを示す平面図である。 図23は、第3の実施形態の第1の変形例にかかるタッチパネルの製造方法において、製造工程を示す断面図である。 図24は、第3の実施形態の第1の変形例の応用例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図25は、第3の実施形態の第2の変形例にかかるタッチパネルの製造方法で製造され、且つ、引き出し配線の一部が繋ぎ替え配線となっているタッチパネルの電極パターンを示す平面図である。 図26は、第3の実施形態の第2の変形例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図27は、第3の実施形態の第2の変形例の応用例にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図28は、他の形態にかかるタッチパネルの製造方法で製造され、且つ、引き出し配線の一部が繋ぎ替え配線となっているタッチパネルの電極パターンを示す平面図である。 図29は、他の形態にかかるタッチパネルの製造方法の製造工程を示す断面図である。 図30は、第4の実施形態にかかるタッチパネルを備えた表示装置の製造方法のうち第1の製造方法を説明するフローチャートである。 図31は、第4の実施形態にかかるタッチパネルを備えた表示装置の製造方法のうち第2の製造方法を説明するフローチャートである。 図32は、第4の実施形態にかかるタッチパネルを備えた表示装置の製造方法によって製造される液晶表示装置の構成を示す断面図である。 図33は、引き出し配線が1層構造であるタッチパネルにおいて、従来の製造方法の製造工程を示す断面図である。 図34は、引き出し配線が2層構造であるタッチパネルにおいて、従来の製造方法の製造工程の前半を示す断面図である。 図35は、引き出し配線が2層構造であるタッチパネルにおいて、従来の製造方法の製造工程の後半を示す断面図である。
本発明の一実施形態にかかるタッチパネルの製造方法は、絶縁性の透明基板上に透明導電膜層及び金属層を順に積層した後、同一のレジストパターンを用いて、該透明導電膜層及び金属層を所定の電極パターンに形成し、該透明導電膜層及び前記金属層を覆う保護膜を形成して、該保護膜の所定位置に該保護膜を貫通する開口部を設け、該開口部が設けられた前記保護膜を用いたエッチングによって前記金属層を除去し、前記透明導電膜層を露出させることにより、タッチ電極及び該タッチ電極の電位をタッチパネルの外部に出力する接続端子の少なくとも一方を形成する(第1の方法)。
上記方法により、例えば、タッチ電極、引き出し配線及び接続端子が同じ層に形成されているタッチパネルを、2枚の露光マスクによって製造することができる。具体的には、透明導電膜層及び金属層を所定の電極パターンに形成するための第1の露光マスク、及び、保護膜の所定位置に開口部を形成するための第2の露光マスクによって、上述の構成のタッチパネルを製造することができる。このため、同じ電極パターンを有するタッチパネルの製造には最低でも3枚の露光マスクが必要であった従来のタッチパネルの製造方法に比べて、マスク枚数が低減されることによる製造工程の簡略化及び低コスト化を実現することができる。また、マスクの位置あわせ回数の低減によるマスク位置ずれの少ない高い精度でタッチパネルを製造することが可能になる。
前記第1の方法において、前記金属層上に表面透明導電膜層を積層した後、前記同一のレジストパターンを用いて該表面透明導電膜層を所定の電極パターンに形成し、前記形成された表面透明導電膜層のうち前記接続端子となる部分を、前記エッチングによって除去されないように改質することが好ましい(第2の方法)。
こうすることで、抵抗値の低い金属層が積層されているとともに露出表面が透明導電膜層によって覆われて保護された接続端子を有するタッチパネルを、マスク枚数を増やすことなく製造することが可能になる。
前記第1または第2の方法において、前記保護膜は、有機樹脂膜によって構成されていて、前記エッチングによって前記透明導電膜層を露出させた後、前記保護膜を部分的に溶解させて、前記開口部の壁面を滑らかにすることが好ましい(第3の方法)。
これにより、タッチパネルの使用時に保護膜の破損を防止することができる。すなわち、上述の方法によって、保護膜の開口部の壁面の凹凸がなくなるため、タッチパネル使用時に該壁面での引っ掛かりをなくすことができ、耐久性の優れたタッチパネルを製造することができる。
前記第1の方法において、前記透明基板上に、第1層の前記透明導電膜層及び第1層の前記金属層を順に積層して、同一のレジストパターンを用いて該第1層の透明導電膜層及び第1層の金属層を所定の電極パターンに形成し、該第1層の透明導電膜層及び第1層の金属層を覆う第1層の前記保護膜を形成し、該第1層の保護膜上に第2層の透明導電膜層及び第2層の金属層を順に積層して、同一のレジストパターンを用いて前記第2層の透明導電膜層及び前記第2層の金属層を所定の電極パターンに形成し、該第2層の透明導電膜層及び該第2層の金属層を覆う第2層の保護膜を形成し、該第1層の保護膜及び該第2層の保護膜の所定位置に、該第1層の保護膜を貫通する第1層の開口部と、前記第2層の保護膜を貫通する第2層の開口部とを設け、該第1層の開口部が設けられた前記第1層の保護膜及び該第2層の開口部が設けられた前記第2層の保護膜を用いたエッチングによって、前記第1層の金属層及び前記第2層の金属膜を除去し、前記第1層の透明導電膜層及び前記第2層の透明導電膜層を露出させることにより、前記タッチ電極及び前記接続端子の少なくとも一方を形成することが好ましい(第4の方法)。
これにより、タッチ電極、引き出し電極及び接続端子が2層構造で形成されたタッチパネルを、3枚の露光マスクによって形成することができる。すなわち、第1層の電極パターンを形成するための第1の露光マスクと、第2層の電極パターンを形成する第2の露光マスクと、第1層及び第2層の保護膜に所定の開口部を形成するための第3の露光マスクとによって上述のタッチパネルを製造することができる。
前記第4の方法において、前記第1層の保護膜及び前記第2層の保護膜は、同一の材料によって構成されていて、前記第1層の保護膜における前記第1層の開口部を、前記第2層の保護膜上に形成されたレジストパターンをマスクとして用いて、第2層の保護膜における前記第2層の開口部と同時に形成することが好ましい(第5の方法)。こうすることで、3枚の露光マスクによってタッチパネルを製造することができる。
また、前記第4の方法において、前記第1層の保護膜は、前記第2層の保護膜とは異なる材料によって構成されていて、前記第1層の保護膜における前記第1層の開口部を、前記第2層の開口部が形成された前記第2層の保護膜をマスクとして用いて形成することが好ましい(第6の方法)。これにより、第1層の保護膜及び第2層の保護膜が異なる材料であっても、同じく3枚の露光マスクでタッチパネルを製造することができる。
前記第4から第6の方法のうちいずれか一つの方法において、前記第2層の保護膜は、有機樹脂膜によって構成されていて、前記エッチングによって、前記第1層の透明導電膜層及び前記第2層の前記透明導電膜層を露出させた後、前記第2層の保護膜を部分的に溶解させて、前記第1層の開口部及び前記第2層の開口部の各壁面を滑らかにすることが好ましい(第7の方法)。このようにすることで、タッチ電極、引き出し電極及び接続端子が2層構造によって形成されている場合でも、タッチパネルの使用時において、保護膜が破損することを防止できる。したがって、上述の方法によって、耐久性のより高いタッチパネルを製造することができる。
前記第1の方法において、前記タッチ電極と前記接続端子とを接続する引き出し配線は、その一部分が、該タッチ電極及び該接続端子とは異なる層に形成された繋ぎ替え配線によって構成されていて、前記保護膜の前記開口部は、前記繋ぎ替え配線と前記引き出し配線との接続部分となる部分にも形成されていて、前記繋ぎ替え配線と前記引き出し配線との接続部分は、前記所定の電極パターンの一部として形成され、前記繋ぎ替え配線を、前記保護膜上に形成された導電膜をレジストパターンによってパターンニングすることにより形成することが好ましい(第8の方法)。
このようにすることで、引き出し配線の一部が繋ぎ替え配線を構成しているタッチパネルを、3枚の露光マスクによって製造することができる。具体的には、透明導電膜層及び金属層を所定の電極パターンに形成するための第1の露光マスクと、保護膜の開口部を形成するための第2の露光マスクと、繋ぎ替え配線を形成するための第3の露光マスクとによって、上述のタッチパネルを製造することができる。
前記第8の方法において、前記繋ぎ替え配線は、前記引き出し配線が立体的に交差する部分に設けられることが好ましい(第9の方法)。この繋ぎ替え配線によって、引き出し配線を立体交差させることができるため、該引き出し配線の設計自由度を高めることができる。
前記第8の方法において、前記引き出し配線は、前記一部分以外の部分も、前記繋ぎ替え配線によって構成されていて、前記引き出し配線が立体的に交差する部分は、前記タッチ電極及び前記接続端子と同じ層に設けられていることが好ましい(第10の方法)。
このような構成でも、上述の第8の方法と同様、3枚の露光マスクによって、タッチパネルを製造することができる。
前記第8から第10の方法のうちいずれか一つの方法において、前記レジストパターンは、前記繋ぎ替え配線上に残存して、該繋ぎ替え配線の保護膜となることが好ましい(第11の方法)。これにより、新たな保護膜を形成することなく、繋ぎ替え配線を保護することができる。
前記第8から第10の方法のうちいずれか一つの方法において、前記繋ぎ替え配線を覆うように、前記露出した透明導電膜層以外の部分に絶縁性の表面保護膜を形成することが好ましい(第12の方法)。これにより、表面保護膜によって、金属層が空気に触れて酸化するのを防止することができる。
前記第1から第12の方法のうちいずれか一つの方法において、前記タッチ電極同士の間に、該タッチ電極と導通しないフローティング電極を有し、該フローティング電極は、前記タッチ電極と同時に前記透明導電膜層から形成されることが好ましい(第13の方法)。
このようにすることで、タッチ電極の電極パターンが使用者に視認されることを抑制することができる。しかも、タッチ電極形成部分で不所望な浮遊電荷が生じるのを抑制することができる。
本発明の一実施形態にかかるタッチパネルを備えた表示装置の製造方法は、第1から第13の方法のいずれか一つに記載のタッチパネルの製造方法によって製造されたタッチパネルの透明基板を基板として、表示パネルを製造する(第14の方法)。
これにより、タッチパネルの透明基板を、表示パネルの基板として兼用することができる。また、本発明のタッチパネルの製造方法の特長を活かして、低コストで電極パターンの形成精度が高いタッチパネルを備えた表示装置を製造することができる。
また、本発明の一実施形態にかかるタッチパネルを備えた表示装置の製造方法は、前面基板及び背面基板を有する表示パネルを形成した後、該表示パネルの前記前面基板を透明基板として、第1から第13の方法のいずれか一つに記載のタッチパネルの製造方法によってタッチパネルを形成する(第15の方法)。
このような製造方法によっても、タッチパネルの透明基板と表示パネルの基板とを兼用することができる。
前記第14または第15の方法において、前記表示パネルは、液晶パネルであることが好ましい(第16の方法)。
以下、本発明の一実施形態にかかるタッチパネルの製造方法、および、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法について、それぞれ具体的な実施形態を用いて図面を参照しながら説明する。
なお、以下のタッチパネルの製造方法、および、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法の各実施形態の説明では、タッチパネルとして、ガラス製の透明基板上に形成された、投影型静電容量式のタッチパネルを例示して説明する。しかし、以下の各実施形態におけるタッチパネルの製造方法は、投影型静電容量式のものに限らず、透明基板上に平面的なパターンとして形成された透明導電膜層をタッチ電極とする、各種のタッチパネルの製造方法として用いることができる。
また、以下で参照する各図は、説明の便宜上、タッチパネルの製造方法、および、該タッチパネルを備えた表示装置の製造方法により形成されるタッチパネルおよび表示装置の構成部材のうち、説明のために必要な主要部材のみを簡略化して示したものである。従って、タッチパネルの製造方法、および、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法は、参照する各図に示されていない任意の構成部材を備えたタッチパネルおよび表示装置の製造方法として適用することができる。また、各図中の部材の寸法、特に、タッチパネルの厚さ方向の寸法は、実際の構成部材の寸法および各部材の寸法比率等を必ずしも忠実に表したものではない。
(第1の実施の形態)
まず、タッチ電極や引き出し配線、接続端子が、透明基板上に1層に形成されたタッチパネルの製造方法を、第1の実施形態として説明する。
図1は、第1の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法で製造されるタッチパネル100において、タッチ電極パターンを示す平面図である。
タッチパネル100には、絶縁性の透明基板であるガラス基板1上に、ITOなどの透明導電膜層を平面的なパターンとして形成することにより、タッチ電極2が形成されている。本実施形態のタッチパネル100は投影型静電容量方式であるため、タッチ電極2は、図1に示すように、同じ大きさの略長方形の電極パターンが複数並ぶように形成されている。本実施形態のタッチパネルでは、横方向に10個の電極パターンが縦方向に上下2列並んでいて、合計20個の電極パターンを有している。
なお、タッチ電極2の配置パターンは、図1に示すものに限らない。したがって、タッチ電極2の電極パターンの形状は、図1に示した長方形状である必要はなく、また、横・縦に配列される電極パターンの個数も、10×2に限られない。
投影型静電容量方式のタッチパネルでは、パターン化されたタッチ電極がその近傍に触れた使用者の指の位置を感知可能なように、タッチ電極同士は、所定の間隔、例えば200μm〜800μm程度の間隔を有するように配置する必要がある。このため、タッチ電極同士の間には、タッチ電極が形成されていない領域が存在する。
本実施形態のタッチパネル100では、図1に示すように、タッチ電極2同士の間隔部分に、タッチ電極2と同じくITOなどの透明導電膜層によって形成されたフローティング電極3が設けられている。
なお、フローティング電極3は、タッチ電極2の電極パターンを使用者が視認しにくくする。また、フローティング電極3は、タッチ電極2が形成されていないタッチ電極2同士の間隔部分に不所望な浮遊電荷が貯まってタッチ電極の電位が変動することを防止する。このため、フローティング電極3の配置間隔や形状には、タッチ電極2のような制約はない。図1に示す本実施形態のタッチパネル100では、図1において横方向に隣り合うタッチ電極2同士の間には、タッチ電極2の長辺と同じ長さの長辺を有する長方形のフローティング電極3が配置される。また、図1において縦方向に隣り合うタッチ電極2同士の間には、タッチ電極2同士を接続する接続配線6を避けるようにして、さまざまな縦横比を有する四角形のフローティング電極3が形成されている。これらはあくまでもフローティング電極3の形状及び配置を例示するものに過ぎず、フローティング電極3の形状を制限するものではない。
また、タッチ電極2を使用者に視認されにくくするフローティング電極3は、タッチパネル100として必須の構成要件ではない。したがって、本実施形態をはじめ、他の実施形態においても、タッチパネルの製造方法において製造されるタッチパネルの電極パターンとして、フローティング電極3は必ずしも形成されていることを要しない。当然ながら、この場合には、パターン化されたタッチ電極2同士の間には、電極の形成されていない部分が存在することになる。
タッチ電極2は、該タッチ電極2によってタッチ位置を検出するための検出領域の周囲に設けられた引き出し配線4を介して、ガラス基板1の一端部に形成された接続端子5に接続されている。具体的には、各タッチ電極2は、タッチ位置の検出領域の周辺領域に形成された引き出し配線4と、タッチ位置の検出領域内でタッチ電極2同士を接続する接続配線6とによって、接続端子5に接続されている。本実施形態のタッチパネル100では、4つの接続端子5が設けられている。そして、本実施形態のタッチパネル100では、タッチ電極2に指先などが近づくことによって生じる静電容量の変化を、この4つの接続端子5の電圧の変化として把握することで、タッチ位置を検出する。
図2は、本実施形態にかかるタッチパネルの製造方法の、製造工程の一例を示す断面図である。
図2(a)、図2(b)及び図2(c)において、左側の図が、タッチ電極2とフローティング電極3とが形成された部分、すなわち電極パターンを示した図1におけるA−A’矢視線の部分の断面を示している。以下の説明では、図1におけるA−A’矢視線の部分をA部と称する。
また、図2(a)、図2(b)及び図2(c)において、中央の図が、引き出し配線が形成されている部分、すなわち電極パターンを示す図1におけるB−B’矢視線の部分の断面を示している。以下の説明では、図1におけるB−B’矢視線の部分をB部と称する。
そして、図2(a)、図2(b)及び図2(c)において、右側の図が、接続端子が形成されている部分、すなわち電極パターンを示す図1におけるC−C’矢視線の部分の断面を示している。以下の説明では、図1におけるC−C’矢視線の部分をC部と称する。
本実施形態のタッチパネルの製造方法では、透明基板であるガラス基板1上の全面に、ITOなどの透明導電膜層11を形成した後、金属層12を形成するMoN層12a、アルミ層12b及びBMメタル層12cを、スパッタ法によって順に積層する。
その後、金属層12の最も上層であるBMメタル層12cの上に、図示しないレジスト膜を形成する。このレジスト膜をマスクで覆って露光、現像するという通常のフォトリソグラフィ法によって、図1に示すA部のタッチ電極2及びフローティング電極3、B部の引き出し配線4、C部の接続端子5、さらに図2には図示されない接続配線6の部分に、レジストパターンを残存させる。
なお、タッチ位置の検出領域においてタッチ電極2同士を接続する接続配線6は、製造方法上、タッチ電極2と全く同様に形成されるものであるため、説明の煩雑化を回避するために以下本明細書において特に言及しない。また、接続配線6に関する詳細な説明も省略する。
次に、上述のように形成されたレジストパターンをマスクとして、酸系の混酸液にてBMメタル層12cをエッチングした後、同一のレジストパターンを用いて、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によってアルミ層12b及びMoN層12aをエッチングする。更に、同一のレジストパターンを用いて、蓚酸液によって透明導電膜層11をエッチングする。その後、BMメタル層12c上に残っているレジスト膜を、レジスト剥離液にて剥離除去する。
このようにして、図1に示すような電極パターンを有する透明導電膜層11及び金属層12の積層体が形成される。このように積層体が形成された状態を図2(a)に示す。
次に、透明導電膜層及び金属層の積層体を覆うように、例えばSiNの保護膜13を、CVD法を用いてガラス基板1上に形成する。そして、フォトリソグラフィ法を用いて、A部のタッチ電極2及びフローティング電極3となる部分以外の部分、及び、C部の接続端子5となる部分以外の部分に、それぞれ、レジスト膜を残存させる。
その後、残存させたレジスト膜をマスクとして、フッ素系のガスを用いたドライエッチング(RIE法)によって保護膜13をエッチングする。これにより、A部に保護膜13を貫通する開口部15,16を、C部に保護膜13を貫通する開口部14をそれぞれ形成して、透明導電膜層11及び金属層12の積層体の表面に形成されたBMメタル層12cを露出させる。そして、保護膜13上に残っているレジスト膜を、レジスト剥離液で剥離除去する。この状態を図2(b)に示す。
次に、貫通した開口部14,15,16が形成された保護膜13をマスクとして、酸系の混酸液によってBMメタル層12cをエッチングした後、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によってアルミ層12b及びMoN層12aを連続してエッチングする。この結果、タッチ位置の検出領域であるA部と、接続端子が形成される領域であるC部とでは、金属層12が除去されて、透明導電膜層11が露出する。引き出し配線が形成されるB部では、保護膜13が残存しているので、該保護膜13によって覆われた透明導電膜層11及び金属層12の積層体が残っている。
このようにして、図1に示した電極パターンが構成されるとともに、A部に、透明導電膜層11によって構成されたタッチ電極2及びフローティング電極3が形成される。B部には、透明導電膜層11に金属層12が積層されることによって抵抗値が引き下げられた引き出し配線4が、保護膜13によって覆われた状態で形成される。そして、C部では、保護膜13に接続のためのビアホールとなる開口部14が形成されることによって、透明導電膜層11からなる接続端子5が露出する。
図2(a)、図2(b)及び図2(c)に製造工程を示した、本実施形態のタッチパネルの製造方法によれば、図1に示した電極パターンを有するタッチ電極2と接続端子5とを接続する引き出し配線4を、抵抗値の低い金属膜12を積層して形成することができる。このとき使用する露光マスクは、図2(a)に示すように透明導電膜層11及び金属層12をパターン化するための第1の露光マスク、及び、図2(b)に示すように保護膜13の所定の位置に、開口部14,15,16を形成するための第2の露光マスクの合計2枚となる。
このため、図33に示すように3枚の露光マスクを必要とする従来の製造方法と比較して、本実施形態のタッチパネルの製造方法は、使用するマスクの数を低減することができる。これにより、タッチパネルを低コストで製造することができ、また、マスクの位置合わせ誤差に起因するパターンのずれが発生しにくい。
次に、図1の電極パターンを有するタッチパネルの製造方法について、いくつかの応用例を説明する。
図3は、本実施形態のタッチパネルの製造方法において、第1の応用例を示す断面図である。
なお、図3(a)、図3(b)及び図3(c)の各図が示している部分は、上記本実施形態のタッチパネルの製造方法において各部の断面を示した図2(a)、図2(b)及び図2(c)とそれぞれ同じ部分である。すなわち、左側の図が、タッチ電極2及びフローティング電極3が形成された部分である図1のA−A’矢視線の部分(A部)を示している。また、中央の図が、引き出し配線4が形成されている部分である図1のB−B’矢視線の部分(B部)を、右側の図が、接続端子5が形成されている部分である図1のC−C’矢視線の部分(C部)を、それぞれ示している。
図3に示すように、まず、透明基板であるガラス基板1上の全面に、ITOなどの透明導電膜層11を形成した後、金属層12を形成するMoN層12a、アルミ層12b及びBMメタル層12cを、スパッタ法によって順に積層する。そして、フォトリソグラフィ法によってレジストパターンを形成し、このレジストパターンを用いて金属層12及び透明導電膜層11をエッチングする。その後、レジスト膜の除去を行う。図3(a)は、この状態を示していて、A部のタッチ電極2及びフローティング電極3となる部分、B部の引き出し配線4となる部分、及び、C部の接続端子5となる部分に、透明導電膜層11及び金属層12の積層体が図1に示す電極パターンで形成される。
次に、保護膜としての透明有機樹脂膜17をガラス基板1上の全面に塗布し、フォトリソグラフィ法によってA部に開口部19,20、C部に開口部18をそれぞれ形成して、透明導電膜層11及び金属層12の積層体の表面を露出させる。この状態を図3(b)に示す。
次に、所定位置に開口部18,19,20が形成された透明有機樹脂膜17をマスクとして、酸系の混酸液によってBMメタル層12cをエッチングした後、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によってアルミ層12b及びMoN層12aを連続してエッチングする。この結果、タッチ位置の検出領域であるA部と、接続端子が形成される領域であるC部とでは、金属層12が除去されて透明導電膜層11が露出する。引き出し配線4が形成されるB部では、透明有機樹脂膜17によって覆われた透明導電膜層11及び金属層12の積層体が残っている。この状態を図3(c)に示す。
その後、透明有機樹脂膜17に対して、樹脂膜を硬化させる場合の最適露光の7倍から8倍の露光量の紫外線を照射して、環境温度が200℃など、透明有機樹脂膜17に用いられている材料に適したメルト条件で透明有機樹脂膜17をアニールする。その結果、透明有機樹脂層17が部分的に溶解して、タッチ電極2及びフローティング電極3の表面を露出させるA部の開口部19,20、及び、接続端子5の表面を露出させるC部の開口部18の各壁面が、図3(d)に示すような滑らかなものとなる。
図2に示した本実施形態のタッチパネルの製造方法では、タッチ電極2、フローティング電極3及び接続端子5となる部分の金属層12の表面積に比べて、保護膜13の開口部14,15,16の底面部の大きさが小さくなる。このため、保護膜13をマスクとして金属層12をエッチングした後、タッチ電極2、フローティング電極3及び接続端子5の周囲には、図2(c)に示すように、頭部が傘のように開いた形状を呈する保護膜13が残存する。
このように、保護膜13の断面形状が傘状になって、底面側よりも表面側に面積が大きくなる部分が存在すると、タッチパネル使用時にこの傘状の突起部分に物体が引っかかりやすく、保護膜が破損するおそれが生じる。そうすると、破損部分がタッチパネルの表面の異物になったり、保護膜とともにパターン化された透明導電膜層が剥がれてしまったりすることが考えられる。これに対し、図3に示すような第1の応用例では、保護膜の開口部の壁面の形状を滑らかにするアニール工程を備えているため、タッチパネル使用時の保護膜の破損や剥がれを防止して、信頼性の高いタッチパネルを得ることができる。
なお、図3に示す第1の応用例で用いられたアニール工程は、タッチパネルの保護膜のメルト条件下において該保護膜の断面形状を滑らかにするものであり、フォリソグラフィ法のようなマスクによる露光現像工程によって滑らかな断面形状を得るものではない。このため、第1の応用例においても、図1に示した電極パターンを有し、且つ、タッチ電極2及び接続端子5を接続する引き出し配線4を抵抗値の低い金属膜12を用いて形成したタッチパネルを、合計2枚のマスクで製造することができる。
次に、図4は、本実施形態のタッチパネルの製造方法における第2の応用例を示す断面図である。なお、図4(a)、図4(b)及び図4(c)の各図におけるA部、B部、C部は、上記図2や図3と同様に、それぞれ、図1におけるA−A’矢視線で示すA部、図1におけるB−B’矢視線で示すB部、図1におけるC−C’矢視線で示すC部である。
図4に示す第2の応用例では、透明基板であるガラス基板1上の全面に、ITOなどの透明導電膜層11を形成した後、金属層12を形成するMoN層12a、アルミ層12b及びMoNb層12dを、スパッタ法によって順に積層する。その後、フォトリソグラフィ法を用いて、図4(a)に示すように、A部のタッチ電極2及びフローティング電極3となる部分、B部の引き出し配線4となる部分、及び、C部の接続端子5となる部分に、それぞれ、透明導電膜層11及び金属層12の積層体を形成する。
次に、SiNまたは透明有機樹脂の保護膜21をガラス基板1上の全面に塗布し、フォトリソグラフィ法を用いて、タッチ位置の検出領域であるA部と接続端子が形成されるC部とに、開口部22,23を設ける。ここで、第2の応用例にかかるタッチパネルの製造方法では、A部の開口部23を、タッチ電極2及びフローティング電極3が形成されるタッチ位置を検出する検出領域全体を露出させる大きな開口部としている点で図2に示した上述の実施形態の構成とは異なる。また、接続端子5が形成されるC部の開口部22を、透明導電膜層11及び金属層12の形成パターンよりも開口面積が大きな開口部としている点で、図2に示した本実施形態の構成とは異なる。
その後、保護膜21をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によってMoNb層12d、アルミ層12b及びMoN層12aをエッチングする。これにより、タッチ位置の検出領域であるA部と接続端子5が形成される領域であるC部とにおいて、透明導電膜層11を露出させる。この状態を図4(c)に示す。
図4(c)に示すように、第2の応用例では、タッチ電極2、フローティング電極3及び接続端子5の形成部分における保護膜21の開口部22,23の面積を大きくしているため、図2(c)に示す上述の実施形態のように、保護膜の断面形状が頭部の大きい傘状となることがない。したがって、第2の応用例の製造方法によれば、保護膜の破損や剥がれを防止可能な耐久性の面で信頼性の高いタッチパネルを、2枚の露光マスクによって得ることができる。
以上、本実施形態、第1の応用例及び第2の応用例として説明したタッチパネルの製造方法では、透明導電膜層11及び金属層12の積層体から、開口部14,18,22が設けられた保護膜13,17,21をマスクとして、金属層12を除去した。金属層12がタッチパネルの表面に露出すると外気に触れて容易に酸化されるため、上述のように金属層12を除去することによって接続端子5の表面の酸化を防止することができる。これにより、接続端子5と、該接続端子5からタッチ位置検出信号となるタッチ電極の電位を出力するための図示しないFPCなどとの間で接続不良が生じやすくなることを防止できる。
一方、接続端子5は、タッチパネルのタッチ位置検出領域の周辺領域に配置されるものであるために透明である必要はない。接続端子5は、引き出し配線4と同様により高い導通性が求められる部分であるため、むしろ透明導電膜層11に金属層12が積層されている方が好ましい。
このように低抵抗の金属層12が積層された接続端子5を備えたタッチパネルの製造方法を、以下、本実施形態の第3の応用例として説明する。
図5は、第3の応用例を示す断面図である。なお、図5(a)、図5(b)及び図5(c)の各図におけるA部、B部、C部も、上記図2、図3及び図4と同様、それぞれ、図1におけるA−A’矢視線の部分、図1におけるB−B’矢視線の部分、図1におけるC−C’矢視線の部分を示す。
図5に示す第3の応用例では、透明基板であるガラス基板1上の全面に、ITOなどの透明導電膜層11を形成した後、金属層12を形成するMoN層12a、アルミ層12b及びMoNb層12dを、スパッタ法にて順に積層する。そして、MoNb層12d上に、再びITOなどの表面透明導電膜層24をスパッタ法などによって形成する。
その後、図5(a)に示すように、A部のタッチ電極2及びフローティング電極3となる部分、B部の引き出し配線4となる部分、及び、C部の接続端子5となる部分に、透明導電膜層11、金属層12及び表面透明導電膜層24の積層体を、レジストパターンを用いて形成する。
次に、SiNの保護膜25をガラス基板1上の全面にスパッタ法などによって形成する。そして、図5(b)に示すように、タッチパネルの接続端子5となる部分にレーザー光26を照射して、表面透明導電膜層24をレーザーアニールしてその組成を改質し、後のエッチング工程で使用されるエッチング液によってエッチングされないようにする。
続いて、フォトリソグラフィ法を用いて、タッチ位置検出部分であるA部及び接続端子が形成されるC部の保護膜25に、開口部27及び開口部28を形成する。ここで、図5(c)に示すように、第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法では、A部の開口部28として、上記第2の応用例と同様、タッチ電極2及びフローティング電極3が形成されるタッチ位置の検出領域全体を露出させるような大きな開口部が形成される。また、C部の接続端子5が形成される部分では、透明導電膜層11、金属層12及び表面透明導電膜層24の積層体の形成パターンの幅よりも、C部の開口部27の開口面積の方が小さい。
その後、保護膜25をマスクとして、蓚酸液によって表面透明導電膜層24をエッチングした後、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によってMoNb層12d、アルミ層12b及びMoN層12aをエッチングする。このようにすることで、図5(d)に示すように、タッチ位置の検出領域であるA部には、タッチ電極2及びフローティング電極3を構成する透明導電膜層11が露出する。
一方、積層体の最上層の表面透明導電膜層24が保護膜25によって覆われているB部と、最上層の表面透明導電膜層24がレーザーアニールにより改質されたれたC部とでは、表明透明導電膜層24が蓚酸ではエッチングされない。そのため、これらのB部及びC部では、透明導電膜層11、金属層12及び表面透明導電膜層24の積層体がそのまま残存する。
このように、第3の応用例のタッチパネルの製造方法によれば、タッチ電極2及びフローティング電極3が透明導電膜層11によって形成され、且つ、低抵抗な引き出し配線4及び接続端子5を有するタッチパネルを、2枚の露光マスクを用いて製造することができる。
なお、図5(c)に示すように、タッチ電極2及びフローティング電極3が形成されるタッチ位置の検出領域全体が露出するような大きな開口部28が設けられているが、この開口部28は、第3の応用例の構成において必須のものではない。例えば、図2に示す本実施形態のタッチパネルの製造方法のように、タッチ電極2及びフローティング電極3にそれぞれ対応するような開口部19,20を設けてもよい。
一方、C部の接続端子5が形成される部分の開口部27は、透明導電膜層11、金属層12及び表面透明導電膜層24の積層体の形成パターンの幅よりも、開口面積を小さくすることが重要である。このC部の開口部27の面積が、上記図4に示した第2の応用例の開口部22のように、透明導電膜層11及び金属層12の積層体の幅よりも大きい場合には、A部に形成された金属層12と同様にエッチングされてしまうからである。すなわち、エッチング工程において、表面透明導電膜層24はレーザーアニールによって改質されているため、容易にエッチングされないものの、開口部27の面積が大きくて金属層12が露出していると、該金属層12がエッチングされてしまい、接続端子5を形成できなくなるからである。
以上の説明では、図1に示すような1層のタッチ電極パターンを有するタッチパネル100の製造方法について、基本となる実施形態及びその応用例について図面を用いて説明した。これらの全ての形態において、従来の製造方法よりも少ない2枚の露光マスクで所望のタッチ電極パターンを有するタッチパネルを製造することができる。また、タッチパネルの製造方法として工程を簡略化できるため、製造時間及び製造コストを低減することができる。さらに、露光マスクの位置あわせ回数を低減することができるため、電極パターンの形成精度の高いタッチパネルが得られる。
なお、上述の実施形態におけるタッチパネルの製造方法で例示した各層の膜厚は、一例として、ガラス基板1の厚さが0.7mmであり、透明導電膜層11の厚さが70nmである。また、例えば、金属層12を形成するMoN層12aが50nmであり、アルミ層12bが150nm、BMメタル層12cが100nm、MoNb層12dが100nm、保護膜13,17,21,25が3μmである。
また、透明導電膜層11及び表面透明導電膜層24として、上述の実施形態ではITOを用いる例を示したが、その他にIZO、ZnOなどが使用できる。金属層として、上述の実施形態ではMoN層、アルミ層及びBMメタル層の3層の積層体の例と、MoN層、アルミ層及びMoNb層の3層の積層体の例を示したが、これらは、使用環境や表示品位に応じて適宜使い分けることが望ましい。なお、BMメタル層として、酸化クロム膜やニッケル(Ni)、モリブデン(Mo)、アルミ(Al)、チタン(Ti)を含んだ合金の酸化膜などの黒色金属膜を用いることができる。また、金属層は、3層の積層体に限らず、BM層及びMoNなどの2層の積層体、BMメタル、MoNなどからなる単層を用いることができる。
また、形成後に部分的に溶解させない保護膜13,17,25として、SiN膜やSiO2膜を例示したが、他にSiONなどを用いることができる。一方、形成後に部分的に溶解させて開口部の壁面を滑らかにする場合の保護膜21として用いられる透明有機樹脂として、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ノボラック樹脂などを用いることができる。
なお、透明導電膜層11や表面透明導電膜層24,金属層12,保護膜13,17,21,25として、上記例示して説明した材料と異なる材料を用いる場合には、当然ながら、各膜を良好に選択的にエッチングできるエッチング液を用いることとなる。具体的には、エッチング液として、例えば、金属膜をエッチングする場合には硝酸、燐酸及び酢酸の混酸液を、透明導電膜層をエッチングする場合には蓚酸などをそれぞれ用いることができる。
また、レジストパターンを形成するレジスト剤としては、ノボラック樹脂、アクリル樹脂などを用いることができる。さらに、レジスト膜の現像液としては、NaOH、KOHを用いることができる。レジスト膜の剥離液としては、NMP、アミン、グリコルエーテルなどを用いることかできる。
(第2の実施の形態)
次に、タッチ電極や引き出し配線、接続端子が、絶縁性の透明基板上にそれぞれ2層構造として形成されたタッチパネルの製造方法を、第2の実施形態として説明する。
図6は、第2の実施形態にかかるタッチパネルの製造方法で製造されたタッチパネル200の電極パターンを示す平面図である。
タッチパネル200には、絶縁性の透明基板であるガラス基板101上に、ITOにより構成された透明導電膜層を平面的なパターンとして形成したタッチ電極が設けられている。本実施形態のタッチパネル200は、タッチ電極102a,102b、引き出し配線104a,104b及び接続端子105a,105bが、それぞれ上下2つの層に分かれた2層構造で形成されている。この点が、図1に示した第1の実施形態にかかるタッチパネル100の電極パターンと異なっている。
図6では、必要以上に図面が煩雑になることを防ぐために、引き出し配線104a,104bが一部分で立体的に交差している以外は、タッチ電極102a,102b及び接続端子105a,105bの形状や配置は図1のタッチパネル100と同じとしている。しかしながら、タッチ電極のパターンが細かい場合や、タッチ電極が形成されたタッチ位置検出領域の周囲の領域が狭く、引き出し配線の引き回しが困難な場合には、タッチ電極、引き出し配線、及び、これらに接続される接続端子を、2層構造として形成することがある。本実施形態では、このように、タッチ電極102a,102bや引き出し配線104a,104b、接続端子105a,105bが2層構造で形成されるタッチパネル200を、少ない数の露光マスクで露光する製造方法を説明する。
図6に示すように、本実施形態のタッチパネルの製造方法で製造されるタッチパネル200も、図1に示したタッチパネル100と同様、同じ大きさの略長方形のタッチ電極が横方向に10個、縦方向に2列の合計20個、並ぶように設けられている。このタッチ電極は、ガラス基板101上に直接形成された透明電極層によって構成される、下層である第1層のタッチ電極102aと、この第1層のタッチ電極102aとはタッチパネルの厚さ方向の異なる層に形成された、上層である第2層のタッチ電極102bとを有する。これらのタッチ電極102a,102bは、平面視で、交互に並ぶように配置されている。
なお、各タッチ電極102a,102bのパターン形状は、図6に示した長方形状である必要はなく、また、横・縦に配置されるパターンの個数も10×2に限らない点は、図1の場合と同様である。
本実施形態のタッチパネルの製造方法によって製造されるタッチパネル200には、タッチ電極102同士の間で且つタッチ電極102aと同じ第1層に、ITOによって形成されたフローティング電極103が設けられている。なお、フローティング電極103の配置や形状について何ら制約がないことは、図1で示したタッチパネル100のタッチ電極パターンと同じである。また、フローティング電極103が、第1層のタッチ電極102aと同じ層に形成される場合を示したが、本実施形態では、これは必須の要件ではないため、第2層のタッチ電極102bと同じ層にフローティング電極103が形成されていてもよい。
また、タッチ電極102を使用者に視認されにくくするフローティング電極103はタッチパネル200として必須の構成要件ではない点も、図1に示すタッチパネル100と同様である。
本実施形態のタッチパネル200では、引き出し配線及び接続端子も、タッチ電極と同様、下層である第1層と上層である第2層とに分かれて形成されている。具体的には、引き出し配線104a及び接続端子105aが、タッチ電極102a及びフローティング電極103と同じ第1層に形成されていて、引き出し配線104b及び接続端子105bが、タッチ電極102bと同じ第2層に形成されている。
次に、本実施形態にかかるタッチパネルの製造方法を、製造工程の一例を示す断面図である図7から図9を用いて説明する。
なお、図7(a)、図7(b)、図8(a)、図8(b)、図9(a)及び図9(b)において、左側の図が、タッチ電極102a、102b及びフローティング電極103が形成された部分、すなわち図6におけるD−D’矢視線の部分の断面構成を示している。以下の説明において、図6におけるD−D’矢視線の部分をD部と称する。
また、図7(a)、図7(b)、図8(a)、図8(b)、図9(a)及び図9(b)において、中央の図が、引き出し配線104a、104bが形成されている部分、すなわち図6におけるE−E’矢視線の部分の断面構成を示している。以下の説明において、図6におけるE−E’矢視線の部分をE部と称する。
さらに、図7(a)、図7(b)、図8(a)、図8(b)、図9(a)及び図9(b)において、右側の図が、接続端子105a、105bが形成されている部分、すなわち図6におけるF−F’矢視線の部分の断面構成を示している。以下の説明において、図6におけるF−F’矢視線の部分をF部と称する。
本実施形態のタッチパネル200の製造方法では、透明基板であるガラス基板101上の全面に、ITOなどの透明導電膜層111を形成した後、金属層112を形成するMoN層112a、アルミ層112b及びMoNb層112cを、スパッタ法によって順に積層する。
その後、金属層112の最上層であるMoNb層112cの上に、図示しないレジスト膜を形成する。このレジスト膜を所定のマスクで覆って露光、現像するという通常のフォトリソグラフィ法によって、D部の第1層のタッチ電極102a及びフローティング電極103となる部分、E部の第1層の引き出し配線104aとなる部分、及び、F部の第1層目の接続端子105aとなる部分に、レジストパターンを残存させる。
次に、形成されたレジストパターンをマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoNb層112c、アルミ層112b及びMoN層112aを同時にエッチングする。更に、同一のレジストパターンを用いて、蓚酸液によって透明導電膜層111をエッチングする。
その後、MoNb層112cの上に残っているレジスト膜を、レジスト剥離液にて剥離除去する。この状態を図7(a)に示す。
次に、図7(b)に示すように、例えばSiNからなる第1層の保護膜113を、CVD法を用いてガラス基板101の全面に形成する。この第1層の保護膜113が、第2層と第1層とを絶縁分離する膜になる。
次に、第1層の保護膜113上の全面に、ITOなどの透明導電膜層114を形成した後、金属層115を形成するMoN層115a、アルミ層115b及びMoNb層115cを、スパッタ法によって順に積層する。
その後、金属層115の最上層であるMoNb層115cの上に、図示しないレジスト膜を形成する。そして、このレジスト膜を所定のマスクで覆って露光、現像するという通常のフォトリソグラフィ法によって、第1層と同様に、D部の第2層のタッチ電極102bとなる部分、E部の第2層の引き出し配線104bとなる部分、及び、F部の第2層の接続端子105bとなる部分に、レジストパターンを残存させる。
次に、形成されたレジストパターンをマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoNb層115c、アルミ層115b及びMoN層115aを同時にエッチングする。さらに、同一のレジストパターンを用いて蓚酸液によって透明導電膜層114をエッチングする。
その後、MoNb層115cの上に残っているレジスト膜を、レジスト剥離液にて剥離除去する。この状態を図8(a)に示す。
次に、図8(b)に示すように、例えばSiNからなる第2層の保護膜116を、CVD法を用いてガラス基板101の全面に形成する。
そして、フォトリソグラフィ法によって、D部の第1層のタッチ電極102a、フローティング電極103及び第2層のタッチ電極102bとなる部分以外、及び、F部の第1層の接続端子105a及び第2層の接続端子105bとなる部分以外に、レジスト膜を残存させる。
その後、残存させたレジスト膜をマスクとして、フッ素系のガスを用いたドライエッチング(RIE法)によって第2層の保護膜116及び第1層の保護膜113をエッチングする。これにより、D部に開口部119,120,121を,F部に開口部117,118をそれぞれ形成して、第1層の透明導電膜層111及び金属層112の積層体の表面、及び、第2層の透明導電膜層114及び金属層115の積層体の表面をそれぞれ露出させる。そして、第2層の保護膜116上に残っているレジスト膜を、レジスト剥離液で剥離除去する。この状態が、図9(a)の状態である。
次に、所定位置に開口部117,118,119,120,121が形成された第1層の保護膜113及び第2層の保護膜116をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoNb層112c,115c、アルミ層112b,115b及びMoN層112a,115aを連続してエッチングする。この結果、タッチ位置の検出領域であるD部及び接続端子105が形成される領域であるF部では、第1層の金属層112及び第2層の金属層115が除去されて、第1層の透明導電膜層111及び第2層の透明導電膜層114が露出する。第1層の引き出し配線104a及び第2層の引き出し配線104bが形成されるE部では、第1層の保護膜113及び第2層の保護膜116が残存している。そのため、第1層では、保護膜113によって覆われた透明導電膜層11及び金属層112の積層体が残っていて、第2層では、保護膜116によって覆われた透明導電膜層114及び金属層115の積層体が残っている。
このようにして、図9(b)に示すように、D部に、第1層の透明導電膜層111によって構成された第1層のタッチ電極102a及びフローティング電極103が形成されるとともに、第2層の透明導電膜層114によって構成された第2層のタッチ電極102bが形成される。E部には、第1層に、金属層112が積層されて抵抗値が引き下げられた引き出し配線104aが、第1層の保護膜113及び第2層の保護膜116によって覆われた状態で形成される。また、E部には、第2層に、金属層115が積層されて抵抗値が引き下げられた引き出し配線104bが、第2層の保護膜116によって覆われた状態で形成される。そして、F部では、第1層の保護膜113及び第2層の保護膜116に、接続のためのビアホールとなる開口部118及び開口部117が形成されるため、透明導電膜層111からなる第1層の接続端子105a及び透明導電膜層114からなる第2層の接続端子105bが露出している。
図7から図9に示す本実施形態のタッチパネルの製造方法によれば、図6に示すように2層に分離された電極パターンを有する構成を実現できる。また、この製造方法によれば、タッチ電極102aと接続端子105aとを接続する引き出し配線104a、及び、タッチ電極102bと接続端子105bとを接続する引き出し配線104bを、抵抗値の低い金属膜112,115を積層した構成とすることができる。
このとき使用する露光マスクは、合計3枚である。具体的には、図7(a)に示すように第1層に形成される透明導電膜層111及び金属層112をパターン化するための第1の露光マスクが必要である。また、図8(a)に示すように第2層に形成される透明導電膜層114及び金属層115をパターン化するための第2の露光マスクが必要である。さらに、図8(a)に示すように第1層の保護膜113及び第2層の保護膜116の所定の位置に、開口部117,118,119,120,121を形成するための第3の露光マスクが必要である。
このため、図34及び図35に示した従来の製造方法では、最低限5枚必要であったマスクを3枚に減らすことができる。そのため、本実施形態のタッチパネルの製造方法は、タッチ電極のパターンが2層に形成されたタッチパネルの製造方法として、製造コストが安く、且つ、マスク合わせ誤差に起因するパターンのずれが発生しにくい製造方法である。
次に、図10及び図11を用いて、本実施形態における第1の応用例のタッチパネルの製造方法について説明する。なお、図10(a)、図10(b)、図11(a)及び図11(b)の各図が示しているD部、E部及びF部の各部分は、上述の本実施形態のタッチパネルの製造方法で各部の断面構造を示した図7から図9と同様である。すなわち、D部、E部及びF部は、それぞれ、図6におけるD−D’矢視線の部分、E−E’矢視線の部分、F−F’矢視線の部分を示している。
第1の応用例のタッチパネルの製造方法は、上述の本実施形態のタッチパネルの製造方法とは異なり、第1層の保護膜と第2層の保護膜とが同じ材料によって形成されていない。すなわち、第1層の保護膜が例えばSiN膜で、第2層の保護膜が例えば透明有機樹脂というように、第1層の保護膜と第2層の保護膜とが異なる材料によって形成されている。
第1の応用例のタッチパネルの製造方法でも、透明基板101上に、下層である第1層の透明導電膜層111及び金属層112の積層体を形成した後、第1層の保護膜113を形成し、該保護膜113上に上層である第2層の透明導電膜層114及び金属層115の積層体を形成する。ここまでは、図7(a)、図7(b)及び図8(a)に順次示した上記本実施形態のタッチパネルの製造方法と同じである。このため、ここまでの製造工程の図示は省略する。この状態を示す図10(a)は、図8(a)と同じ状態を示している。
次に、第1の応用例のタッチパネルの製造方法では、第2層の透明導電膜層114及び第2層の金属層115の積層体を覆うように、第1層の保護膜113上の全面に、透明有機樹脂製の第2層の保護膜122を形成する。
そして、フォトリソグラフィ法によって、図10(b)に示すように、透明有機樹脂製の第2層の保護膜122に、D部でタッチ電極102aとなる部分に開口部127を、フローティング電極103となる部分に開口部126を、それぞれ形成する。また、第2層の保護膜122には、第2層のタッチ電極102bとなる部分に開口部125を形成する。また、F部で第1層の接続端子105aとなる部分に開口部124を、第2層の接続端子105bとなる部分に開口部123を、それぞれ形成する。
その後、開口部が形成されずに残存している保護膜122をマスクとして、フッ素系のガスを用いたドライエッチング(RIE法)によって第1層の保護膜113をエッチングする。具体的には、図11(a)に示すように、第2層の保護膜122に形成された開口部124を用いて第1層の保護膜113に開口部128を、第2層の保護膜122に形成された開口部126を用いて第1層の保護膜113に開口部129を、それぞれ形成する。また、第2層の保護膜122に形成された開口部127を用いて第1層の保護膜113に開口部130を形成する。
次に、開口部128〜130が形成された第1層の保護膜113及び開口部123〜127が形成された第2層の保護膜122をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoNb層112c,115c、アルミ層112b,115b及びMoN層112a,115aを連続してエッチングする。この結果、タッチ位置の検出領域であるD部及び接続端子105a,105bが形成される領域であるF部では、金属層112,115が除去されて、透明導電膜層111,114が露出する。引き出し配線104a,104bが形成されるE部では、第1層の保護膜113及び第2層の保護膜116が残存しているので、保護膜113,116によって覆われた透明導電膜層111,114及び金属層112,115の積層体が残っている。
このようにして、図11(b)に示すように、図6に示す電極パターンを構成する2層構造のタッチパネル200を形成することができる。
本実施形態の第1の応用例では、第2層の保護膜122を第1層の保護膜材料であるSiNとは異なる透明有機樹脂によって形成したため、図7から図9に示す製造方法のように、第2層の保護膜116及び第1層の保護膜113を一度にエッチングして開口部を形成することはできない。しかしながら、第2層の透明有機樹脂製の保護膜116に形成した開口部124,126,127を用いて、第1層の保護膜113の開口部128〜130を形成するエッチングを行うことができる。
このため、本実施形態の第1の応用例のタッチパネルの製造方法においても、使用する露光マスクは、合計3枚となる。具体的には、第1層の透明導電膜層111及び金属層112をパターン化するための第1の露光マスク、第2層の透明導電膜層114及び金属層115をパターン化するための第2の露光マスク、図10(b)に示すように、第2層の保護膜122に開口部123〜127を形成するための第3の露光マスクである。
したがって、本実施形態の第1の応用例では、タッチパネルの第1層の保護膜と第2層の保護膜とを異なる材料で形成した場合でも、図6に示すタッチパネル200を、3枚のマスクを用いて、低コストで精度良く製造することができる。
次に、本実施形態の第2の応用例のタッチパネルの製造方法について、図12及び図13を用いて説明する。なお、図12(a)、図12(b)、図13(a)及び図13(b)の各図が示しているD部、E部及びF部の各部分は、上記本実施形態のタッチパネルの製造方法や第1の応用例の製造方法を示した図7から図11と同様である。すなわち、D部、E部及びF部は、それぞれ、図6におけるD−D’矢視線の部分、E−E’矢視線の部分及びF−F’矢視線の部分を示している。
本実施形態の第2の応用例のタッチパネルの製造方法は、透明基板101上に、第1層の透明導電膜層111及び金属層112の積層体が形成された後、例えばSiO2からなる第1層の保護膜113が形成される。そして、該保護膜113上に、第2層の透明導電膜層114及び金属層115の積層体が形成され、さらに透明有機樹脂製の第2層の保護膜122が形成される。
続いて、第2層の保護膜122には、フォトリソグラフィ法によって、D部の第1層のタッチ電極102aとなる部分に開口部127を、フローティング電極103となる部分に開口部126を、それぞれ形成する。また、第2層のタッチ電極102bとなる部分に開口部125を、さらに、F部の第1層の接続端子105aとなる部分に開口部124を、第2層の接続端子105bとなる部分に開口部123を、それぞれ形成する。ここまでが、上述の第1の応用例と同じである。この状態、すなわち第1の応用例の図10(b)と同じ状態を、図12(a)に示す。
次に、この第2の応用例の製造方法においても、透明有機樹脂である第2層の保護膜122に形成された開口124,126,127を用いて、フッ素系のガスを用いたドライエッチング(RIE法)によって第1層の保護膜113に開口部128〜130を形成する。ここで、第2の応用例では、図12(b)に示すように、第1層の保護膜113に形成された開口部128〜130の上部の開口面積が、第2層の保護膜122に形成された開口124,126,127の下部の開口面積よりも大きな面積を有するように、エッチング条件をコントロールする。この点が、図11(a)に示すように第1層の保護膜113に形成された開口部128,129,130が第2層の保護膜122に形成された開口部124,126,127と連続する形状で形成される、第1の応用例とは異なる。
そして、第2の応用例では、開口部128〜130が形成された第1層の保護膜113及び開口部123〜127が形成された第2層の保護膜122をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoNb層112c,115c、アルミ層112b,115b及びMoN層112a,115aを連続してエッチングする。この結果、図13(a)に示すように、金属層112,115が除去されるため、D部及びF部において、透明導電膜層111,114が露出する。
次に、透明有機樹脂膜である第2の保護膜122に、硬化させる時の最適露光の7倍から8倍の露光量の紫外線を照射して、環境温度が200℃など、材料である透明有機樹脂膜に適したメルト条件でアニールする。その結果、タッチ電極102a、102b及びフローティング電極103の表面を露出させるD部の開口部133〜135の壁面,及び、接続端子105a,105bの表面を露出させるF部の開口部131,132の壁面を、それぞれ、図13(b)に示すように、ガラス基板101側から連続する滑らかな面にすることができる。
このように、第2の応用例におけるタッチパネル200の製造方法では、タッチ電極102a,102b、フローティング電極103、接続端子105a,105bを露出させるような開口部131〜135を、連続して滑らかな壁面を有する断面形状に形成することができる。このため、タッチパネルの使用時に、第1層の保護膜113や第2層の保護膜122の段差部が引っかかり、第1層の保護膜113や第2層の保護膜122が破損してその破損部分がタッチパネルの表面の異物となることを防止できる。また、第1層の保護膜113や第2層の保護膜122とともに、パターン化されたタッチ電極102a,102bや、フローティング電極103,接続端子105a,105bが剥がれるといった不都合を防止できる信頼性の高いタッチパネルを得ることができる。
なお、図13(b)に示すように第2の応用例のタッチパネルの製造方法で用いられたアニール工程は、第2層の保護膜122のメルト条件下で該保護膜122の断面形状を滑らかにするものであり、マスクによる新たな露光現像工程は必要としない。したがって、第2の応用例においても、図6に示すように2層に分離された電極パターンを有し、且つ、抵抗値の低い金属膜112,115が積層された引き出し配線104a,104bを有するタッチパネルを、合計3枚のマスクによって製造することができる。
次に、本実施形態の第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法について、図14から図16を用いて説明する。図14から図16の各図において、D部、E部、F部は、それぞれ、図6におけるD−D’矢視線の部分、E−E’矢視線の部分及びF−F’矢視線の部分を示している。
第3の応用例にかかるタッチパネルの製造方法では、まず、透明基板であるガラス基板101上の全面に、ITOなどの透明導電膜層111を形成した後、金属層112を形成するMoN層112a、アルミ層112b及びMoNb層112cを、スパッタ法によって順に積層する。そして、図示しないレジスト膜を形成して、通常のフォトリソグラフィ法によって所定のレジストパターンを形成した後、このレジストパターンをマスクとして、MoNb層112c、アルミ層112b、MoN層112a及び透明導電膜層111をエッチングする。この状態が図14(a)に示す状態であり、本実施形態の製造方法を説明した図7(a)と同じ状態である。
次に、図14(b)に示すように、透明有機樹脂膜による第1層の保護膜136を、ガラス基板101の全面に形成する。そして、第1層の保護膜136に、通常のフォトリソグラフィ法によって、第1層のタッチ電極102a、フローティング電極103及び接続端子105aとなる部分に、それぞれ、開口部139,138,137を形成して、金属層112の最上層であるMoNb層112cを露出させる。このとき、図14(b)に示すように、E部に形成される第1層の引き出し配線104aとなる透明導電膜層111及び金属層112の積層体は、第1層の保護膜136によって覆われている。
次に、第1層の保護膜136上に、ITOなどの透明導電膜層114を形成した後、金属層115を形成する第1層のMoN層115a、第2層のアルミ層115b及び第3層のMoNb層115cを、スパッタ法によって順に積層する。そして、レジスト膜を用いた通常のフォトリソグラフィ法によって、第1層と同様に、D部の第2層のタッチ電極102b、E部の第2層の引き出し配線104b及びF部の第2層の接続端子105bとなる部分に、透明導電膜層114及び金属層115の積層体を形成する。これにより、図15(a)に示す状態とする。
次に、透明有機樹脂膜による第2層の保護膜140をガラス基板101の全面に亘って形成する。そして、フォトリソグラフィ法によって、図15(b)に示すように、D部における第1層のタッチ電極102a、フローティング電極103及び第2層のタッチ電極102bとなる部分にそれぞれ開口部145、144,143を形成する。また、F部における第1層の接続端子105a及び第2層の接続端子105bとなる部分に、それぞれ開口部142,141を形成する。
このとき、第1層の保護膜136には、既に開口部137,138,139が形成されているため、図15(b)に示すように、第2層の保護膜140に形成された開口部145,144,142と第1層の保護層136に形成された開口部139,138,137とが繋がる。具体的には、第2層の保護層140に形成された開口部145と第1層の保護膜136に形成された開口部139とが繋がり,第2層の保護膜140に形成された開口部144と第1層の保護膜136に形成された開口部138とが繋がる。さらに、第2層の保護膜140に形成された開口部142と第1層の保護膜136に形成された開口部137とが繋がる。これにより、D部のタッチ電極102a、102b、フローティング電極103及びF部の接続端子105a、105bとなる部分にそれぞれ形成された、第1層の透明導電膜層111及び金属層112の積層体、または第2層の透明導電膜層114及び金属層115の積層体が露出することになる。
その後、開口部141〜145が形成された第2層の保護膜140及び開口部137〜139が形成された第1層の保護層136をマスクとして用いてエッチングを行い、D部及びF部において、透明導電膜層111,114に積層された金属層112,115を除去する。金属層112,115を除去した状態を示した図が、図16(a)である。
その後、透明有機樹脂膜の第1層の保護膜136及び第2層の保護膜140を溶かすのに適したメルト条件で、アニールを行う。これにより、タッチ電極102a,102b及びフローティング電極103の表面を露出させるD部の開口部148,150,149の壁面、及び、接続端子105a,105bの表面を露出させるF部の開口部146,147の壁面を、図16(b)に示すように、連続した滑らかな面にすることができる。
図14から図16に示す第3の応用例の製造方法によれば、図6に示す2層に分離された電極パターンを有し、且つ、抵抗値の低い金属膜112,115が積層された引き出し配線104a,104bを有するタッチパネル200を得ることができる。
このとき使用する露光マスクは、合計4枚である。具体的には、まず、図14(a)に示すように第1層に形成される透明導電膜層111及び金属層112をパターン化するための第1の露光マスクが必要である。また、図14(b)に示すように第1層の保護膜136に所定の開口部137,138,139を形成するための第2の露光マスクが必要である。さらに、図15(a)に示すように第2層に形成される透明導電膜層114及び金属層115をパターン化するための第3の露光マスクが必要である。そして、図15(b)に示すように第2層の保護膜140の所定の位置に、開口部141,142,143,144,145を形成するための第4の露光マスクが必要である。
このように、タッチ電極を微細化して電極数(チャネル数)を増やし、タッチパネルのタッチ感度を上げるために、第1層の絶縁膜136と第2層の絶縁膜140とを別々のマスクで露光してパターンニングする必要がある。そのため、必要となる露光マスクの枚数は、合計4枚となり、上述の本実施形態にかかるタッチパネルの製造方法に比べて1枚多くなってしまう。しかし、この第3の応用例によれば、第1層の保護膜136及び第2層の保護膜140にアクリル樹脂である透明有機樹脂を用いるとともに2層構造の電極パターンを有するタッチパネルを、図34及び図35で示した従来の製造方法で必要なマスク枚数(5枚)よりも少ないマスク枚数で製造することができる。
次に、図17及び図18を用いて、本実施形態の第4の応用例にかかるタッチパネルの製造方法について説明する。なお、図17及び図18におけるD部、E部、F部の各部分は、それぞれ、図6におけるD−D’矢視線の部分、E−E’矢視線の部分及びF−F’矢視線の部分を示している。
第4の応用例にかかる製造方法は、第1層の透明導電膜層111及び金属層112の積層体をパターン化した後、例えばSiO2からなる第1層の保護膜を形成し、第2層の透明導電膜層114及び金属層115の積層体をパターン化するまでの工程は、上述の第1の応用例と同じであるため図示を省略する。第2層の透明導電膜層114及び金属層115の積層体がパターン化された状態を図17(a)に示す。
続いて、第1層の保護膜113上に、透明有機樹脂からなる第2層の保護膜151を形成する。ここで、図10及び図11に示した第1の応用例では、第2層の保護膜122のD部のタッチ電極102a,102b、フローティング電極103及びF部の接続端子105a,105bとなる部分に、それぞれ、開口部127,125,126,124,123を形成した。しかし、この第4の応用例では、図17(b)に示すように、D部には、タッチ電極102a,102b及びフローティング電極103が形成されるタッチ位置の検出領域全体を露出させるように開口部154が形成されている。また、F部の接続端子105a,105bとなる部分に形成された開口部153,152は、その開口面積が、接続端子105a,105bとなる透明電極111,114及び金属層112,115の積層体の面積よりも大きく形成されている。以上の点で、この第4の応用例は、第1の追応用例とは異なっている。
続いて、フッ素系のガスを用いたドライエッチング(RIE法)により、第2層の保護膜151をマスクとして、SiO2の第1層の保護膜113をエッチングする。このとき、エッチング条件を制御して、図18(a)に示すように、第2層のタッチ電極102b及び第2層の接続端子105bとなる部分において、透明導電膜層114及び金属層115の積層体の下に形成されている第1層の保護膜113がエッチングされないようにする。
そして、図18(a)に示すように、いずれも第1層として形成される、タッチ電極102a、フローティング電極103及び接続端子105aとなる部分において、透明導電膜層111及び金属層112の積層体の上面及び側面を露出させる。
次に、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoNb層112c,115c、アルミ層112b,115b及びMoN層112a,115aを連続してエッチングする。この結果、タッチ位置の検出領域であるD部、及び、接続端子105a,105bが形成される領域であるF部では、金属層112,115が除去されて、透明導電膜層111,114が露出する。このとき、第2層のタッチ電極102b及び接続端子105bは、下方に残存した第1層の保護層113上に位置する。
第4の応用例においても、使用する露光マスクは、合計3枚となる。具体的には、第2層に形成される透明導電膜層111及び金属層112をパターン化するための第1の露光マスクが必要である。また、第1層に形成される透明導電膜層114及び金属層115をパターン化するための第2の露光マスクが必要である。さらに、図17(b)に示すように、保護膜151の所定の位置に開口152,153,154を形成するための第3の露光マスクが必要である。
したがって、第4の応用例によって、タッチパネル表面の保護膜に透明なアクリル樹脂などの透明有機樹脂を用いるとともに、図6に示す電極パターン形状を有し、タッチ位置検出領域の全体を露出させたタッチパネル200を、3枚のマスクを用いて低コストで精度良く製造できる。
以上、本実施形態にかかるタッチパネルの製造方法及びその応用例について説明した。これらのタッチパネルの製造方法によって、上下2層にタッチ電極や引き出し配線、接続端子が形成されたタッチ電極パターンを有するタッチパネルを、従来の製造方法よりも少ない枚数の露光マスクによって製造することができる。これにより、タッチパネルの製造コストを低減できるとともに、マスクの位置合わせ回数を低減することができる。したがって、上述の各製造方法を用いることによって、タッチパネルの製造時に誤差が発生しにくい。
なお、上述の実施形態におけるタッチパネルの製造方法において例示した各層の膜厚は、基本的に第1の実施形態として示したものと同じである。
例えば、ガラス基板1の厚さが0.7mmであり、第1層の透明導電膜層111及び第2層の透明導電膜層114の厚さが70nmである。また、例えば、第1層の金属層112及び第2層の金属層115を形成するMoN層112a,115aが50nmであり、アルミ層112b,115bが150nmである。さらに、例えば、MoNb層112c,115cが100nmであり、第1層の保護膜113,136及び第2層の保護膜122,140,151が3μmである。
また、透明導電膜層や保護膜の形成材料、及び、レジスト膜やエッチング液などとして用いることができる材料なども、第1の実施形態において説明した各種材料を用いることができる。
(第3の実施の形態)
次に、タッチパネルの製造方法の第3の実施形態について説明する。この実施形態は、タッチ電極及び接続端子が同じ1層に形成されているが、引き出し配線の少なくとも一部分が、タッチ電極や接続端子が形成された層とは異なる層でつなぎ直された、いわゆる繋ぎ替え配線を有するタッチパネルの製造方法に関する。
図19は、本実施形態のタッチパネルの製造方法で製造されるタッチパネル300の電極パターンを示す平面図である。
タッチパネル300は、絶縁性の透明基板であるガラス基板201上に、ITOからなる透明導電膜層が平面的なパターンとして形成されたタッチ電極202を有している。本実施形態のタッチパネル300では、タッチ電極202と接続端子205とを接続する引き出し配線204が、タッチ電極202や接続端子205が形成された層において途切れている。そして、引き出し配線204は、異なる層に形成された繋ぎ替え配線207によって、平面的には十字状になる立体交差部分を有している。
図19では、必要以上に図面が煩雑になることを防ぐために、タッチ電極202、引き出し配線204及び接続端子205の形状、基本的な配置パターンは、引き出し配線4がタッチ電極2と同じ層に形成された図1に示す第1の実施形態の電極パターンと同様としている。しかしながら、電極パターンが細かくなった場合や、タッチ位置検出領域の周辺の領域が狭く、一つの平面だけでは引き出し配線204の引き回しが困難な場合には、図19に示すように引き出し配線204を立体交差させるための繋ぎ替え配線207を備えた継ぎ換え部が形成されることがある。
なお、図19に電極パターンを示すタッチパネル300において、タッチ電極202自体の配列や形状、タッチ電極202同士の間にフローティング電極203が配置されている点などは、図1に示すタッチパネル100と同様であるため、詳細な説明は省略する。
図20は、図19に示すタッチパネル300の製造方法の製造工程の一例を示す断面図である。
なお、図20(a)、図20(b)及び図20(c)には、それぞれ、4つの図が示されている。左端の図が、電極パターンを示した図19におけるG−G’矢視線部分、すなわち、タッチ電極202、フローティング電極203及び2本の引き出し配線204が形成された部分の断面構成を示している。以下の説明において、図19におけるG−G’矢視線の部分をG部と称する。
また、図20(a)、図20(b)及び図20(c)において、左から2番目の図が、図19におけるH−H’矢視線部分、すなわち、接続端子205が形成された部分の断面構成を示している。以下の説明において、図19におけるH−H’矢視線の部分をH部と称する。
さらに、図20(a)、図20(b)及び図20(c)において、左から3番目の図が、電極パターンを示した図19におけるI−I’矢視線部分、すなわち、引き出し配線204と繋ぎ替え配線207との接続部分の断面構成を示している。以下の説明において、図19におけるI−I’矢視線の部分をI部と称する。
そして、図20(a)、図20(b)及び図20(c)において、右端の図が、電極パターンを示した図19におけるJ−J’矢視線部分、すなわち、タッチ電極202と引き出し配線204との接続部分の断面構成を示している。以下の説明において、図19におけるJ−J’矢視線の部分をJ部と称する。
本実施形態のタッチパネル300の製造方法では、透明基板であるガラス基板201上の全面に、ITOなどの透明導電膜層211を形成した後、金属層212を構成するMoN層212a、アルミ層212b及びMoN層212cを、スパッタ法によって順に積層する。
その後、金属層212の最上層であるMoN層212cの上に、保護膜となるレジスト膜213を形成する。このレジスト膜213に、通常のフォトリソグラフィ法によって、図20(b)に示すように、タッチ電極202及びフローティング電極203を含むタッチ位置の検出領域に対応して、開口部216を形成する。また、レジスト膜213において、フォトリソグラフィ法によって、接続端子205が形成される部分に開口部215を、及び、引き出し配線204と繋ぎ替え配線207との接続部となる部分に開口部214をそれぞれ形成する。
次に、繋ぎ替え配線となるMoなどの導電膜217をスパッタ法などによって成膜し、該導電膜217にレジスト膜218を重ねて形成した後、継ぎ換え配線207となる部分にレジスト膜218を残存させる。
その後、レジスト膜213,218をマスクとして、導電膜217と、タッチ電極202、フローティング電極203及び接続端子205の形成部分の金属層212(MoN層212c、アルミ層212b及びMoN層212a)とを、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によってエッチングする。なお、繋ぎ替え配線207上のレジスト膜218は、繋ぎ替え配線207の保護膜とするために残存させる。こうすることで、図20(c)の状態となる。
本実施形態のタッチパネルの製造方法では、透明導電膜層211及び低抵抗の金属層212が積層されてなる引き出し配線204と、該引き出し配線204を立体交差させる繋ぎ替え配線207とを備えたタッチパネル300を、合計3枚のマスクによって製造できる。具体的には、タッチパネル300の製造には、透明導電膜211及び金属層212の積層体をパターンニングするための第1の露光マスクが必要である。また、レジスト膜213に開口部214,215,216を形成するための第2の露光マスク、及び、繋ぎ替え配線207を形成するために必要なレジスト膜218をパターンニングするための第3の露光マスクが必要である。
このため、繋ぎ替え配線207を備えていて、引き出し配線204の配置の設計自由度が高いタッチパネル300を、少ない数の露光マスクで製造することができる。これにより、タッチパネルの製造コストの削減することができるとともに、マスクの位置あわせ回数の低減による製造精度の向上を図れる。
次に、本実施形態の応用例にかかるタッチパネルの製造方法について説明する。
図21は、本実施形態のタッチパネルの製造方法の応用例を示す断面図である。なお、図21(a)及び図21(b)における4つの図は、図20と同様、左端の図が図19におけるG−G’矢視線部分であるG部を、左から2番目の図が図19におけるH−H’矢視線部分であるH部を、それぞれ示している。また、図21(a)及び図21(b)において、左から3番目の図が図19におけるI−I’矢視線部分であるI部を、右端の図が図19におけるJ−J’矢視線部分であるJ部を、それぞれ示している。
本実施形態の応用例にかかるタッチパネルの製造方法では、透明基板であるガラス基板201上の全面に、ITOなどの透明導電膜層211を形成した後、MoN層212a、アルミ層212b及びMoN層212cからなる金属層212を積層してパターン化する。その後、フォトリソグラフィ法によって、レジスト膜213に3つの開口214,215,216を形成する。以上の点までは、図20を用いて説明したタッチパネルの製造方法と同じである。
その後、本応用例では、レジスト膜213を、たとえば温度220℃で50分のアニール処理をする。
次に、繋ぎ替え配線となるMoなどの導電膜217をスパッタ法などによって成膜し、該導電膜217にレジスト膜218を重ねて形成した後、継ぎ換え配線207となる部分にレジスト膜218を残存させる。その後、レジスト膜213,218をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、導電膜217と、タッチ電極202、フローティング電極203及び接続端子205の形成部分の金属層212(MoN層212c、アルミ層212b及びMoN層212a)とをエッチングする。エッチングされた後の状態を図21(a)に示す。
この図21(a)に示す構成は、図20(c)の構成と外形的には同じであるが、形成されたレジスト膜213がアニールされている点で、図20(c)の構成とは異なる。
続いて、剥離液にて繋ぎ替え配線207上のレジスト膜218を剥離する。このとき、アニールされたレジスト膜213は、硬化しているため剥離されない。
最後に、表面保護膜であるレジスト膜219を塗布形成した後、G部のタッチ電極202及びフローティング電極203の形成部分以外の部分、及び、H部の接続端子205形成部分以外の部分に、それぞれ、レジスト膜219を残存させる。
したがって、上述の応用例の製造方法によって、タッチ電極202とフローティング電極203とが形成されたタッチ位置検出領域及び接続端子205を除いた部分が同じ厚さの表面保護膜によって覆われたタッチパネル300を、合計4枚のマスクによって製造できる。具体的には、上述の応用列の製造方法では、透明導電膜層及び金属層の積層体をパターンニングするための第1のマスク、レジスト膜213に開口214,215,216を形成するための第2のマスクが必要である。また、継ぎ換え配線217を形成するために必要なレジスト膜218をパターンニングするための第3のマスク、タッチパネルの表面を覆う表面保護層となるレジスト膜219をパターンニングするための第4のマスクが必要である。
特に、本応用例によれば、図21(b)のJ部に示すように、タッチ電極202と引き出し配線204との接続部分では、引き出し配線204において、透明導電膜211に積層された金属層212の側部端面を、表面保護膜であるレジスト膜219によって覆うことができる。これにより、金属層212が空気に触れて酸化するなどの不都合を回避することができる。
次に、本実施形態の第1の変形例のタッチパネルの製造方法を説明する。この変形例では、タッチパネルは、引き出し配線が、繋ぎ替え配線として、タッチ電極や接続端子とは異なる層に形成された電極パターンを有する。
図22は、第1の変形例のタッチパネルの製造方法によって製造されるタッチパネル400の電極パターンを示す平面図である。
タッチパネル400は、絶縁性の透明基板であるガラス基板301上に、ITOによって構成された透明導電膜層が平面的なパターンとして形成されたタッチ電極302を有する。また、タッチパネル400では、タッチ電極302で検出したタッチ位置信号をタッチパネル400の外部へ出力するための接続端子305が、ガラス基板301上に形成されている。これらのタッチ電極302と接続端子305とを接続する引き出し配線304は、タッチ電極302や接続端子305とは異なる層に、繋ぎ替え配線として形成されている。すなわち、タッチパネル400では、異なる層に形成されたタッチ電極302と引き出し配線304とが接続部分308に設けられた貫通孔で電気的に接続されている。また、タッチパネル400では、異なる層に形成された接続端子305と引き出し配線304とが、接続部分307に設けられた貫通孔で電気的に接続されている。また、タッチパネル400では、引き出し配線同士が立体交差するように、引き出し配線304と、タッチ電極302や接続端子305と同じ層に形成された引き出し配線交差部310とが接続部分309に設けられた貫通孔で接続されている。
なお、図22において、タッチ電極302の配列パターンや、タッチ電極302同士の間にフローティング電極303が配置されている点などは、図1に示したタッチパネル100と同様であるため、詳細な説明は省略する。
図23は、図22に示すタッチパネル400の製造方法の製造工程の一例を示す断面図である。
なお、図23(a)、図23(b)及び図23(c)において、それぞれ、3つの図が示されているが、左側の図が、電極パターンを示した図22におけるK−K’矢視線部分、すなわち、タッチ電極302、フローティング電極303、接続端子305、及び、引き出し配線304と接続端子305との接続部分307が形成された部分の断面を示している。以下の説明において、図22におけるK−K’矢視線の部分をK部と称する。
また、図23(a)、図23(b)及び図23(c)において、中央の図が、図22におけるL−L’矢視線部分、すなわち、タッチ電極302と引き出し配線304との接続部分308が形成された部分の断面を示している。以下の説明において、図22におけるL−L’矢視線の部分をL部と称する。
さらに、図23(a)、図23(b)及び図23(c)において、右側の図が、図22におけるM−M’矢視線部分、すなわち、引き出し配線304と、該引き出し配線304に対して立体交差する引き出し配線交差部310部分との接続部分309の周辺の断面を示している。以下の説明において、図22におけるM−M’矢視線の部分をM部と称する。
本実施形態の第1の変形例のタッチパネル400の製造方法では、透明基板であるガラス基板301上の全面に、ITOなどの透明導電膜層311と、金属層としてのMo層312とをスパッタ法によって順に積層する。そして、図23(a)に示すように、透明導電膜層311及び金属層312の積層体を、タッチ電極302及びフローティング電極303が形成されるタッチ位置の検出領域、接続端子305が形成される部分、及び、繋ぎ替え配線である引き出し電極304とタッチ電極302との接続部分308にパターン形成する。また,透明導電膜層311及び金属層312の積層体は、引き出し電極304と接続端子305との接続部分307,引き出し配線交差部310部分、及び、引き出し電極304と引き出し配線交差部310部分との接続部分309にもパターン形成される。
その後、Mo層312の上に保護膜であるレジスト膜313を形成する。このレジスト膜313において、通常のフォトリソグラフィ法によって、図23(b)に示すように、タッチ電極302及びフローティング電極303が形成されるK部の図中右側部分及びL部の図中右側部分に、開口部316を形成する。また、レジスト膜313において、接続端子305が形成されるK部の図中左端部分に開口部319を形成するとともに、引き出し配線304と接続端子305との接続部分307が形成されるK部の図中中央部分に開口部318を形成する。さらに、レジスト膜313において、タッチ電極302と引き出し配線304との接続部分308が形成されるL部の図中左側に開口部317を形成するとともに、引き出し配線304と引き出し配線交差部310との接続部分309が設けられるM部に、2つの開口部314,315を形成する。
次に、繋ぎ替え配線である引き出し配線304を形成する金属層として、例えばアルミ層320及びMoN層321を、スパッタ法を用いて積層形成する。そして、引き出し配線304、接続部分307、接続部分308及び接続部分309となる部分に、それぞれ、レジスト膜322を残存させる。
その後、このレジストパターンをマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって、MoN層321、アルミ層320、及び、透明導電膜層311上に積層された金属層としてのMo層312をエッチングする。これにより、タッチ電極302、フローティング電極303及び接続端子305を構成する透明導電膜層311を露出させる。また、図23(c)のL部に示すように、引き出し配線304と引き出し配線交差部310との立体交差部分では、互いに接触して導通しないように、レジスト膜322に形成された隙間部323によって、引き出し配線304と接続部分309との間に所定の間隔を確保する。
このとき、引き出し配線304及び接続部分307,308,309上に残存するレジスト膜322は、引き出し配線304及び接続部分307,308,309の表面を覆う酸化保護膜として機能するため、除去せずに残しておく。
第1の変形例の製造方法では、タッチ電極302及び接続端子305とは異なる層に繋ぎ替え配線として形成され、且つ、低抵抗を実現可能な金属層からなる引き出し配線304を備えたタッチパネル400を、合計3枚のマスクによって製造することができる。具体的には、タッチパネル400を製造する際には、透明導電膜層311及び金属層312をパターンニングするための第1の露光マスクが必要である。また、レジスト膜313に開口314,315,316、317,318,319を形成するための第2の露光マスクが必要である。さらに、継ぎ換え配線である引き出し配線304を形成するために必要なレジスト膜322をパターンニングするための第3の露光マスクが必要である。
これにより、低抵抗の引き出し配線304を備えたタッチパネル400を、少ない数のマスクによって製造することができる。したがって、マスク製造のコストを削減できるとともに、マスク位置あわせ回数の低減によって製造精度の向上を図れる。
次に、第1の変形例の製造方法の応用例について説明する。
図24は、第1の変形例の製造方法の応用例を示す断面図である。なお、図24(a)及び図24(b)における3つの図は、図23と同様、左側の図が図22におけるK−K’矢視線部分であるK部を、中央の図が図22におけるL−L’矢視線部分であるL部を、右側の図が図22におけるM−M’矢視線部分であるM部をそれぞれ示している。
第1の変形例の製造方法の応用例では、透明基板であるガラス基板301上の全面に、ITOなどの透明導電膜層311と、金属層としてのMo層312とをスパッタ法によって順に積層した後、パターン化する。そして、全面に形成したレジスト膜313に、フォトリソグラフィ法によって、開口314,315,316、317,318、319を形成する。ここまでは、図23を用いて説明した第1の変形例の製造方法と同じである。
その後、本応用例では、レジスト膜313を、たとえば温度220℃で50分のアニール処理を行って硬化させる。
次に、繋ぎ替え配線である引き出し配線304を形成する金属層として、アルミ層320及びMoN層321を積層形成した後、これらのアルミ層320及びMoN層321を、パターン化されたレジスト膜322を用いてエッチングする。このエッチングした状態を図24(a)に示す。この図24(a)の構成は、図23(c)構成と外形的には同じであるが、形成されているレジスト膜313がアニールされたものである点で、図23(c)の構成とは異なる。
続いて、剥離液によって、引き出し配線304及び接続部分307,308,309上のレジスト膜322を剥離する。このとき、アニールされたレジスト膜313は、硬化しているため、剥離されない。
最後に、表面保護膜であるレジスト膜324を塗布した後、K部及びL部におけるタッチ電極302及びフローティング電極303の形成部分以外の部分、及び、K部の接続端子305形成部分以外の部分に、レジスト膜324を残存させる。
これにより、第1の変形例の応用例では、タッチ位置検出領域及び接続端子305が形成される部分以外が同じ厚さの表面保護膜であるレジスト膜324によって覆われたタッチパネル400を、合計4枚のマスクによって製造することができる。具体的には、透明導電膜311及び金属層312の積層体をパターンニングするための第1の露光マスク、レジスト膜313に開口314,315,316,317,318,319を形成するための第2の露光マスクが必要である。また、継ぎ換え配線である引き出し配線304及び接続部分307,308,309を形成するために必要なレジスト膜322をパターンニングするための第3の露光マスク、タッチパネルの表面を覆う表面保護層となるレジスト膜324をパターンニングするための第4の露光マスクが必要である。
特に、本応用例によれば、図24(b)のK部の左側に示す接続端子305と引き出し配線304との接続部分307において、金属層312及び繋ぎ替え配線を形成する金属層320,321の側部端面を、表面保護膜であるレジスト膜324によって覆うことができる。同様に、L部の右側に示すタッチ電極302と引き出し配線304との接続部分308や,M部に示す引き出し配線304と引き出し配線交差部310との接続部分309においても、金属層312,320,321の側部端面をレジスト膜324によって覆うことができる。これにより、金属層312,320,321が、空気に触れて酸化するなどの不都合を回避することができる。
次に、本実施形態の第2の変形例のタッチパネルの製造方法を説明する。この第2の変形例では、タッチパネルは、引き出し配線が、繋ぎ替え配線によって立体交差していて、引き出し配線の側面がエッチングされない構造である。
図25は、第2の変形例の製造方法で製造されるタッチパネル500の電極パターンを示す平面図である。
タッチパネル500は、絶縁性の透明基板であるガラス基板401上に、ITOによって構成された透明導電膜層が平面的なパターンとして形成されたタッチ電極402を有する。また、タッチパネル500には、タッチ電極402で検出されたタッチ位置信号をタッチパネル500の外部へ出力するための接続端子405が、ガラス基板401上の端部に形成されている。これらのタッチ電極402と接続端子405とを接続する引き出し配線404は、タッチパネル500の周辺部領域に形成されている。また、引き出し配線404は、その一部で、他の部分の引き出し配線404とは異なる層に形成された繋ぎ替え配線407と立体交差している。引き出し配線404と繋ぎ替え配線407とは、他の部分の引き出し配線404と繋ぎ替え配線407とを隔てる絶縁層となる保護膜に形成された貫通孔内の接続部分によって電気的に接続されている。
なお、図25では、タッチパネル500において、タッチ電極402自体の配列パターンや、タッチ電極402同士の間にフローティング電極403が配置されている点などは、図19に示すタッチパネル300と同様であるため、詳細な説明は省略する。
図26は、図25に示すタッチパネル500の製造方法の製造工程の一例を示す断面図である。
なお、図26(a)、図26(b)及び図26(c)において、それぞれ、3つの図が示されているが、左側の図が、電極パターンを示した図25におけるO−O’矢視線部分、すなわち、タッチ電極402、フローティング電極403、引き出し配線404、及び、引き出し配線404と接続端子405との接続部分の断面構成を示している。以下の説明において、図25におけるO−O’矢視線の部分をO部と称する。
また、図26(a)、図26(b)及び図26(c)において、中央の図が、電極パターンを示した図25におけるP−P’矢視線部分、すなわち、タッチ電極402と引き出し配線404との接続部分が形成された部分の断面構成を示している。以下の説明において、図25におけるP−P’矢視線の部分をP部と称する。
さらに、図26(a)、図26(b)及び図26(c)において、右側の図が、電極パターンを示した図25におけるQ−Q’矢視線部分、すなわち、引き出し配線404同士が、繋ぎ替え配線407を介して立体的に交差している部分の断面構成を示している。以下の説明において、図25におけるQ−Q’矢視線の部分をQ部と称する。
第2の変形例のタッチパネル500の製造方法では、透明基板であるガラス基板401上の全面に、ITOなどの透明導電膜層411と、MoN層412a、アルミ層412b及びMoN層412cからなる金属層412とをスパッタリング法などによって、順次積層して形成する。
続いて、金属層412の最上層であるMoN層412cを覆うように、図示しないレジスト膜を形成し、所定のフォトリソグラフィ法によって、タッチ電極402やフローティング電極403,引き出し配線404、接続端子405などのパターンを形成する。その後、レジスト膜をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって透明導電膜層411及び金属層412の積層体を、図26(a)に示す所定の形状にパターニングする。
その後、MoN層412c上に保護膜であるレジスト膜413を形成する。このレジスト膜413には、通常のフォトリソグラフィ法によって、図26(b)に示すように、タッチ電極402及びフローティング電極403が形成されるO部の図中右側部分及びP部の図中右側部分に、開口部416を形成する。また、レジスト膜413には、フォトリソグラフィ法によって、接続端子が形成されるO部の図中左端部分に開口部417を、引き出し配線404と繋ぎ替え配線407との接続部分であるQ部に開口部414を、それぞれ形成する。
このとき、この第2の変形例にかかるタッチパネル500の製造方法では、図26(b)に示すように、引き出し配線404となる透明導電膜層411及び金属層412の積層体の側面が露出しないように、Q部に示す繋ぎ替え配線の形成部分に形成される開口部414,415の大きさは、透明導電膜層411及び金属層412の積層体の面積よりも小さい。
次に、繋ぎ替え配線407を形成する金属層として、例えばMo層などの金属層418を、スパッタ法を用いて形成する。そして、繋ぎ替え配線407となる部分にレジスト膜419を残存させた後、パターン化されたレジスト膜413,419をマスクとして、燐酸、酢酸及び硝酸の混酸液によって繋ぎ替え配線407となるMoN層418をパターン化する。同時に、タッチ電極402、フローティング電極403及び接続端子405となる部分の透明導電膜層411上に残存している金属層412をエッチングして、タッチ電極402、フローティング電極403及び接続端子405を形成する透明導電膜層411を露出させる。
この時、繋ぎ替え配線407上に残存するパターン化されたレジスト膜419は、繋ぎ替え配線407の表面を覆う保護膜として機能するため、除去せずに残しておく。これにより、図26(c)のような構成が得られる。
第2の変形例の製造方法では、上記のように、繋ぎ替え配線407を形成する際に、引き出し配線404の側面が露出しないようになっている。このため、開口部415,414を形成するエッチングの際に、引き出し配線404を形成するアルミ層412bが浸食されることを防止することができる。これにより、抵抗値が低いアルミ層412bがエッチング時に浸食されて、抵抗値が高くなってしまうことを防止することができる。
上記説明した第2の変形例の製造方法では、低抵抗の金属層412を重ねて形成された引き出し配線404と、該引き出し配線404を立体的に交差させるための繋ぎ替え配線407とを備えたタッチパネル500を、合計3枚のマスクによって製造することができる。具体的には、上述のタッチパネル500の製造方法では、透明導電膜層411及び金属層412をパターンニングするための第1の露光マスクが必要である。また、レジスト膜413に開口414,415,416,417を形成するための第2の露光マスクが必要である。さらに、継ぎ換え配線407を形成するためのレジスト膜419をパターンニングするとともに、タッチ電極402などの透明導電膜層411上に残存する金属層412を除去するための第3の露光マスクが必要である。
これにより、低抵抗の引き出し配線404を備えたタッチパネル500を、少ない数のマスクによって製造することができる。したがって、マスク製造のコストを削減できるとともに、マスクの位置あわせ回数の低減による製造精度の向上を図れる。
なお、上記本実施形態の第2の変形例にかかる製造方法では、繋ぎ替え電極407を、Mo層を用いて形成した。しかしながら、繋ぎ替え配線を形成するためのエッチング工程において、該繋ぎ替え配線は透明絶縁膜411上に残っている金属層412と同時にエッチングされるため、繋ぎ替え配線の構成を金属層412と同じ構成、すなわち、MoN層、アルミ層及びMoN層の3層構成としてもよい。
次に、第2の変形例の製造方法の応用例について説明する。
図27は、第2の変形例の製造方法の応用例を示す断面図である。なお、図27(a)及び図27(b)における3つの図は、図26と同様、左側の図が図25におけるO−O’矢視線部分であるO部を、中央の図が図25におけるP−P’矢視線部分であるP部を、右側の図が図25におけるQ−Q’矢視線部分であるQ部をそれぞれ示している。
第2の変形例の製造方法の応用例では、透明基板であるガラス基板401上の全面に、ITOなどの透明導電膜層411と、MoN層412a、アルミ層412b、MoN層412cの3層構成の金属層412とを順次積層した後、所定の平面形状にパターン化する。そして、全面に形成した保護膜であるレジスト膜413に、フォトリソグラフィ法によって、4つの開口414,415,416、417を形成する。ここまでは、図26を用いて説明した第2の変形例の製造方法と同じである。
その後、本応用例では、レジスト膜413を、たとえば温度220℃で50分のアニール処理を行って硬化させる。
次に、繋ぎ替え配線407を形成する金属層として、Mo層418を形成した後、パターン化されたレジスト膜419を用いてエッチングを行う。このとき、同時に、タッチ電極402、フローティング電極403及び接続端子405を構成する透明導電膜層411上の金属層412をエッチングして除去する。これによって得られる構成を図27(a)に示す。この図27(a)の構成は、図26(c)の構成と外形的には同じであるが、形成されているレジスト膜413がアニールされたものである点で、図26(c)の構成とは異なる。
続いて、剥離液によって繋ぎ替え配線407上のレジスト膜419を剥離する。このとき、アニールされたレジスト膜413は、硬化しているため剥離されない。
最後に、表面保護膜であるレジスト膜420を塗布形成した後、O部及びP部のタッチ電極402及びフローティング電極403の形成部分以外、及び、O部の接続端子405形成部分以外の部分に、レジスト膜420を残存させる。
これにより、第2の変形例の応用例では、タッチ位置検出領域及び接続端子405の形成部分以外が同じ厚さの保護膜420で覆われたタッチパネル500を、合計4枚のマスクによって製造することができる。具体的には、上述の製造方法では、透明導電膜層411及び金属層412の積層体をパターンニングするための第1の露光マスク、レジスト層413に開口414,415,416、417を形成するための第2の露光マスクが必要である。また、繋ぎ替え配線407を形成するためのレジスト膜419をパターンニングし、透明導電膜層411を露出させるための第3の露光マスク、タッチパネルの表面を覆う保護層となるレジスト膜420をパターンニングするための第4の露光マスクが必要である。
特に、本応用例によれば、図27(b)のO部の左側やP部の右側に示すように、接続端子405と引き出し電極404との接続部分、及び、タッチ電極402と引き出し配線404との接続部分で、金属層412の側部端面を保護膜であるレジスト膜420によって覆うことができる。これにより、金属層412が空気に触れて酸化するなどの不都合を回避することができる。
なお、上記本実施形態のタッチパネルの製造方法において例示した各層の膜厚は、基本的に第1の実施形態として示したものと同じであるため、詳細な説明を省略する。
第1の実施形態では示されなかった部材の各膜厚は、例えば以下のとおりである。繋ぎ替え配線207,407及び引き出し配線304を形成するMo膜の膜厚は、例えば100nmであり、繋ぎ替え配線207及び引き出し配線304,407上に形成される保護膜として残存させるレジスト膜218,322、419の膜厚は、例えば1.6nmである。また、応用例として説明した、タッチパネル全面を覆う表面保護膜としてのレジスト膜219,324,420の膜厚としては、例えば1.6nmである。
(他の形態について)
以上、本発明の第3の実施形態として、引き出し配線の少なくとも一部が他の層に形成される繋ぎ替え配線を有するタッチパネルの製造方法について、変形例や応用例を、図面を用いて説明した。
ここで、本発明の実施形態ではないが、第3の実施形態として説明してきた繋ぎ替え配線を有するタッチパネルの製造方法について、露光マスクの数を低減して製造することができる他の形態にも言及しておく。
他の形態として説明するタッチパネルの製造方法は、引き出し配線が繋ぎ替え配線で立体交差するタッチパネルの製造方法であって、繋ぎ替え配線が金属膜ではなく、ITOなどの透明導電膜によって構成されているタッチパネルの製造方法である。
図28は、他の形態のタッチパネルの製造方法によって製造されるタッチパネル600の電極パターンを示す平面図である。
タッチパネル600は、絶縁性の透明基板であるガラス基板501上に、ITOによって形成された透明導電膜が平面的なパターンとして形成されたタッチ電極502を有する。また、タッチパネル600では、タッチ電極502で検出されたタッチ位置信号をタッチパネル600の外部へ出力するための接続端子505が、ガラス基板501上の端部に形成されている。これらのタッチ電極502と接続端子505とを接続する引き出し配線504は、タッチパネル600の周辺部領域に形成されている。引き出し配線504は、一部で、他の部分の引き出し配線504とは異なる層に形成された透明導電膜からなる繋ぎ替え配線508によって立体交差している。引き出し配線504と繋ぎ替え配線508とは、他の部分の引き出し配線504と繋ぎ替え配線508とを隔てる保護膜に形成された貫通孔内の接続部分によって電気的に接続されている。
また、この実施形態で示すタッチパネル600は、タッチ電極502とタッチ電極間に配置されるフローティング電極503とが、ガラス基板501上に直接形成されているのではなく、繋ぎ替え配線508と同じ層に形成されている。このため、タッチ電極502と引き出し配線504とは、保護膜を貫通する接続部分507によって電気的に導通している。
なお、図28に示すタッチパネル600において、タッチ電極502自体の配列パターンや、タッチ電極502同士の間にフローティング電極503が配置されている点などは、図19に示すタッチパネル300と同様であるため、詳細な説明は省略する。
図29は、図28に示すタッチパネル600の製造方法の製造工程の一例を示す断面図である。
なお、図29(a)、図29(b)及び図29(c)において、それぞれ、4つの図が示されているが、左端の図が、電極パターンを示した図28におけるR−R’矢視線部分、すなわち、タッチ電極502、フローティング電極503及び引き出し配線504が形成された部分の断面構成を示している。以下の説明において、図28におけるR−R’矢視線の部分をR部と称する。
また、図29(a)、図29(b)及び図29(c)において、左から2番目の図が、図28におけるS−S’矢視線部分、すなわち、接続端子505が形成されている部分の断面構成を示している。以下の説明において、図28におけるS−S’矢視線の部分をS部と称する。
さらに図29(a)、図29(b)及び図29(c)において、左から3番目の図が、図28におけるT−T’矢視線の部分を、すなわち、タッチ電極502と引き出し配線504との接続部分の断面構成を示している。以下の説明において、図28におけるT−T’矢視線の部分をT部と称する。
そして、図29(a)、図29(b)及び図29(c)において、右端側の図が、図28におけるU−U’矢視線部分、すなわち、引き出し配線504同士が、繋ぎ替え配線を介して立体的に交差している部分の断面構成を示している。以下の説明において、図28におけるU−U’矢視線の部分をU部と称する。
他の形態であるタッチパネル600の製造方法では、まず、透明基板であるガラス基板501上の全面に、金属層として、アルミ膜511及びMoN膜512をスパッタリング法などによって積層して形成する。
続いて、MoN膜512を覆うように図示しないレジスト膜を形成し、通常のフォトリソグラフィ法によって、R部、T部及びU部の引き出し配線504となる部分、U部の繋ぎ替え配線508と引き出し配線504との接続部分、及び、S部の接続端子505となる部分で、レジスト膜をパターンニングする。そして、このレジスト膜を用いて金属層511,512をエッチングして、図29(a)に示す所定の形状パターンとする。
その後、MoN層512上に保護膜であるレジスト膜513を形成する。このレジスト膜513において、通常のフォトリソグラフィ法によって、図29(b)に示すように、S部に接続端子505の形成部分である開口517を形成する。また、レジスト膜513において、フォトリソグラフィ法によって、T部にタッチ電極502と引き出し電極504との接続部分507となる開口部516を、U部に繋ぎ替え配線508と引き出し電極504との接続部分となる開口部514,515をそれぞれ形成する。
その後、例えば温度220℃で50分のアニール処理をして、レジスト膜513を硬化させる。
続いて、ITOなどの透明導電膜層518を、ガラス基板501の全面に形成する。そして、図示しないレジスト膜を形成し、通常のフォトリソグラフィ法によって、タッチ電極502となる部分、フローティング電極503となる部分、接続端子505となる部分、タッチ電極502と引き出し配線504との接続部分507となる部分、及び、引き出し配線504同士を接続する繋ぎ替え電極508となる部分で、レジスト膜をパターンニングする。その後、このパターンニングされたレジスト膜をマスクとして、蓚酸によってITOなどの透明導電膜層518をエッチングする。さらに、透明導電膜層518上に残っているレジスト膜を、剥離液によって剥離除去する。このようにして、図29(c)に示す構成となる。
以上説明した他の実施形態によれば、低抵抗の金属層511、512と透明導電膜層518とが積層された接続端子505と、接続部分507と,引き出し配線504を立体交差するための繋ぎ替え配線508とを備えたタッチパネル600を、合計3枚のマスクによって製造することができる。具体的には、上述の他の実施形態では、引き出し配線504を形成する金属層511,512をパターンニングするための第1の露光マスクが必要である。また、レジスト層513に開口514,515,516,517を形成するための第2の露光マスク、及び、タッチ電極402、接続端子505の保護膜507及び繋ぎ替え配線508となる透明導電膜層518をパターンニングするための第3の露光マスクが必要である。
これにより、引き出し配線504及び接続端子505に低抵抗の金属層511、512を積層することができ、且つ、繋ぎ替え配線508を有していて引き出し配線504のパターン設計に高い自由度を備えたタッチパネル600を、少ない数のマスクによって製造することができる。したがって、タッチパネル製造上のコストを削減できるとともに、マスクの位置あわせ回数の低減による製造精度の向上を図れる。
(第4の実施形態)
次に、以上説明したタッチパネルの製造方法によって形成されたタッチパネルを備えた表示装置の製造方法について、図面を用いて説明する。
図30は、以上説明したタッチパネルの製造方法により製造されたタッチパネルを備えた表示装置の製造方法の一例として、表示パネルが液晶パネルである液晶表示装置の第1の製造方法を示すフローチャートである。
図30に示すように、液晶表示装置の第1の製造方法は、まず、第1の実施形態から第3の実施形態として説明してきたタッチパネルの製造方法によって、透明なガラス基板にタッチパネルを製造するタッチパネル工程を有する(ステップS1)。
このタッチパネル工程によって一方の面にタッチ電極などが形成されたガラス基板を、液晶表示装置の画像観視側である前面側に位置する前面基板として取り扱う(ステップS2)。
そして、前面基板のタッチ電極が形成されている側とは反対側の表面に、通常のカラーフィルタ形成工程(CF工程)によって、カラーフィルタ層、ブラックマトリクス(BM)層、対向電極、保護膜、及び、液晶分子を所定の方向に向けるための配向膜などを形成する(ステップS3)。
このようにして、一方の表面にタッチパルが、他方の表面にCF層がそれぞれ形成されたタッチパネル付きCF基板である前面基板が得られる(ステップS4)。
続いて、ガラス基板に、通常のアクティブ基板形成工程であるTFT工程によって、画素電極や、該画素電極に画像表示のための電圧信号を印加するゲート線、ソース線、画素電極に対応して形成されるスイッチング素子としてのTFTを形成する(ステップS5)。また、この工程では、保護膜や、液晶分子を配向させるための配向膜などが適宜形成される。
このようにして、液晶パネルの背面側に位置するTFT基板である背面基板が得られる(ステップS6)。
続いて、液晶工程において、前面基板もしくは背面基板のいずれか一方の基板の表面に、封止樹脂を枠状に塗布し、液晶層を滴下して、該一方の基板を他方の基板と貼り合わせる(ステップS7)。
その後、封止樹脂を硬化させることにより、液晶パネルが得られる(ステップS8)。
得られた液晶パネルの両外面に、互いに偏光方向が異なるように2枚の偏光板が貼り付けられ、液晶パネルの背面側にバックライト装置が配置される。これにより、タッチパネルを備えた液晶表示装置が得られる。なお、タッチパネルを備えた液晶表示装置が、1枚のガラス基板に複数の液晶表示パネルが連続して形成される場合、液晶パネルは、封止樹脂が硬化されて液晶パネルとなった後に、タッチパネル付き液晶表示装置のサイズに合わせて分断される(ステップS9)。
図31は、上述のタッチパネルの製造方法によって製造されたタッチパネルを備えた表示装置の第2の製造方法を示すフローチャートである。
図31に示すように、第2の製造方法では、まず、ガラス基板の一方の表面に、通常のカラーフィルタ形成工程(CF工程)によって、カラーフィルタ層、ブラックマトリクス(BM)層、対向電極、保護膜、及び、液晶分子を所定の方向に向けるための配向膜などを形成する(ステップS11)。
このようにして、一方の表面にCF層が形成されたCF基板である前面基板が得られる(ステップS12)。
続いて、別のガラス基板に通常のアクティブ基板形成工程であるTFT工程によって、画素電極、該画素電極に画像表示のための電圧信号を印加するゲート線、ソース線、画素電極に対応して形成されるスイッチング素子としてのTFTを形成する。また、この工程では、保護膜や、液晶分子を配向させるための配向膜などが適宜形成される(ステップS13)。
このようにして、液晶パネルの背面側に位置するTFT基板である背面基板が得られる(ステップS14)。
続いて、液晶工程では、前面基板もしくは背面基板のいずれか一方の基板の表面に、封止樹脂を枠状に塗布し、液晶層を滴下して、該一方の基板を他方の基板と貼り合わせる(ステップS15)。
その後、封止樹脂を硬化させることにより、液晶パネルが得られる。
続いて、必要に応じて液晶パネルを研磨して薄型化した後、液晶パネルの前面基板、すなわちCF基板である基板の外側の表面に、上述のタッチパネルの製造方法によって、タッチパネルを製造する(ステップS16)。
得られた液晶パネルの両外面に、互いに偏光方向が異なるように2枚の偏光板が貼り付けられるとともに、液晶パネルの背面側にバックライト装置が配置される。これにより、タッチパネルを備えた液晶表示装置が形成される。なお、タッチパネルを備えた液晶表示装置が、1つのガラス基板に複数の液晶表示パネルが連続して形成される場合、液晶パネルは、タッチパネル付き液晶表示装置のサイズに合わせて分断される(ステップS17)。
図32は、図30もしくは図31に示す製造方法で得られる液晶表示装置の断面構成を示す図である。なお、本実施形態では、一例として、第1の実施形態として説明したタッチパネル100を前面基板に有する透過型液晶表示装置を説明する。
図32に示すように、本実施形態にかかるタッチパネル付き液晶表示装置1000は、外部からのタッチ位置を検出するタッチパネル100と、表示パネルである液晶パネル1100とを備えている。タッチパネル100と液晶パネル1100とは積層されていて、該液晶パネル1100を構成する一つの基板である前面基板がタッチパネル100のガラス基板1を兼ねている。
液晶パネル1100は、一般的な透過型の液晶パネルであって、液晶パネル1100を構成する2つのガラス製の基板である前面基板1と背面基板1200との間に、液晶層1300が形成されている。
前面基板1の内表面には、カラー画像表示のためにそれぞれの画素に対応して図示しないカラーフィルタが形成されている。また、前面基板1の内表面には、液晶層12に所定の電圧を印加する図示しない対向電極が設けられている。
背面基板1200の内表面には、複数の行および複数の列を形成するようにマトリクス状に図示しない画素電極が配置されている。液晶パネル1100では、この画素電極と前面基板1の対向電極との間の電位を調整することによって、液晶層1300の液晶分子の配向状態を変化させて画像表示が行われる。この背面基板1200の画素電極が形成されている領域が液晶パネル1100の表示領域となる。この液晶パネル1100の表示領域は、タッチパネル100のタッチ位置の検出領域とほぼ一致している。
また、背面基板1200の表示領域には、いずれも図示しない、画素電極の行方向に配置された複数のゲート線、列方向に配置された複数のソース線、及び、直交するゲート線とソース線との交点近傍に配置され、それぞれの画素電極に接続されたTFTが設けられている。このゲート線に順次ゲート電圧を印加することで、行ごとにスイッチング素子であるTFTがオンとなって選択され、選択された行に属するそれぞれの画素電極に、ソース線を介して画像表示に必要な電圧が印加される。
図32におけるタッチパネル100の図中上側、及び、液晶パネル1100の背面基板1200の図中下側には、液晶層1300と組み合わされることで透過光を制御して画像表示を行うための図示しない一対の偏光板が、各偏光角を所定角度異ならせた状態で配置されている。また、液晶パネル1100の前面基板1及び背面基板1200における液晶層1300に面する内表面には、上記した電極類やスイッチング素子を覆う絶縁膜が形成されていて、そのさらに表面には液晶分子の配列方向を定める配向膜が形成されている。これらの絶縁膜や配向膜の構成は、液晶パネルとして一般的なものであるので、図示及び詳細な説明を省略する。
また、液晶パネル1100の背面には、液晶パネル1100で画像を表示するために必要な照射光を照射する図示しないバックライトが配置される。本実施形態のタッチパネル付き液晶表示装置1000のバックライトは、例えば、サイドライト型またはエッジライト型と呼ばれる、平板状の導光体とその側面に設けられた冷陰極蛍光管または発光ダイオードなどの光源とを有するものを用いることができる。また、液晶パネル1100の背面に、液晶パネル1100側に光を照射するように光源を平面的に配置して、光源からの照射光を集光シートや拡散シートなどの光学シートを介して液晶パネルに照射する、直下型とばれるタイプのバックライトを用いることもできる。なお、バックライトの光源としては、冷陰極蛍光管や発光ダイオードに限らず、熱陰極蛍光管やEL発光体など各種のものを用いることができる。
上記の説明では、タッチパネルが形成される前面基板をカラーフィルタ基板として説明した。しかしながら、上述の製造方法によって得られる液晶表示装置は、これに限らず、タッチパネルが形成される前面基板をアクティブマトリクス基板として、背面基板をカラーフィルタ基板としてもよい。また、アクティブマトリクス基板上にカラーフィルタが形成された、いわゆるCFオンアレイ形式の液晶パネルとすることもできる。
また、上記の説明では、液晶パネルの構成として、いわゆるアクティブマトリクス方式のものを例示した。しかしながら、上述の製造方法によって得られる液晶表示装置は、これに限らず、いわゆる単純マトリクス方式の液晶パネルとすることもできる。また、液晶パネルの駆動方法も、対向する基板間に電圧を印加する、いわゆる垂直配向方式に限らず、基板の平面方向に電圧を印加するIPS方式など、他の駆動方式も採用することができる。
さらに、液晶パネル自体も、バックライトからの照射光を画像表示に用いる透過型または半透過型と呼ばれるものに限らず、前面基板1を透過して入射する外光を背面基板に形成された反射電極で反射させて画像表示に用いる、反射型の液晶パネルであってもよい。この場合にはバックライト、及び、背面基板の外側(図32における下側)に配置される上述の偏光板が不要となる。
上記実施形態では、タッチパネルと積層されて画像表示を行う表示装置として、液晶パネルを用いた液晶表示装置の例について説明した。しかしながら、表示装置の表示パネルとして液晶パネルを用いたものに限らず、有機および無機のエレクトロルミネッセンス(EL)パネルや、プラズマディスプレイパネル(PDP)、さらには、電界放出型ディスプレイなど各種の平板型ディスプレイであってもよい。
以上、タッチパネルの製造方法と、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法について、具体的な実施形態を、図面を用いて説明した。しかし、タッチパネルの製造方法及び該タッチパネルを備えた表示装置の製造方法は、上述の各実施形態には限定されない。
例えば、タッチパネルは、表示パネルと積層されて接着剤で固着される構成であってもよい。すなわち、タッチパネルのガラス基板と表示パネルの前面基板とが別々の基板であってもよい。
なお、このように、タッチパネルの基板が液晶パネルなどの表示パネルの前面基板を兼ねない場合には、タッチパネルの基板として、上記の実施形態で説明したガラス基板以外に、例えば可撓性の樹脂基板なども用いることができる。
本発明は、タッチパネルの製造方法、及び、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法として産業上利用可能である。

Claims (16)

  1. 絶縁性の透明基板上に透明導電膜層及び金属層を順に積層した後、同一のレジストパターンを用いて、該透明導電膜層及び金属層を所定の電極パターンに形成し、
    前記透明導電膜層及び前記金属層を覆う保護膜を形成して、該保護膜の所定位置に該保護膜を貫通する開口部を設け、
    前記開口部が設けられた前記保護膜を用いたエッチングによって前記金属層を除去し、前記透明導電膜層を露出させることにより、タッチ電極及び該タッチ電極の電位をタッチパネルの外部に出力する接続端子の少なくとも一方を形成する、タッチパネルの製造方法。
  2. 前記金属層上に表面透明導電膜層を積層した後、前記同一のレジストパターンを用いて該表面透明導電膜層を所定の電極パターンに形成し、
    前記形成された表面透明導電膜層のうち前記接続端子となる部分を、前記エッチングによって除去されないように改質する、請求項1に記載のタッチパネルの製造方法。
  3. 前記保護膜は、有機樹脂膜によって構成されていて、
    前記エッチングによって前記透明導電膜層を露出させた後、前記保護膜を部分的に溶解させて、前記開口部の壁面を滑らかにする、請求項1または2に記載のタッチパネルの製造方法。
  4. 前記透明基板上に、第1層の前記透明導電膜層及び第1層の前記金属層を順に積層して、同一のレジストパターンを用いて該第1層の透明導電膜層及び第1層の金属層を所定の電極パターンに形成し、
    前記第1層の透明導電膜層及び第1層の金属層を覆う第1層の前記保護膜を形成し、
    前記第1層の保護膜上に第2層の透明導電膜層及び第2層の金属層を順に積層して、同一のレジストパターンを用いて前記第2層の透明導電膜層及び前記第2層の金属層を所定の電極パターンに形成し、
    前記第2層の透明導電膜層及び前記第2層の金属層を覆う第2層の保護膜を形成し、
    前記第1層の保護膜及び前記第2層の保護膜の所定位置に、該第1層の保護膜を貫通する第1層の開口部と、前記第2層の保護膜を貫通する第2層の開口部とを設け、
    前記第1層の開口部が設けられた前記第1層の保護膜及び前記第2層の開口部が設けられた前記第2層の保護膜を用いたエッチングによって、前記第1層の金属層及び前記第2層の金属膜を除去し、前記第1層の透明導電膜層及び前記第2層の透明導電膜層を露出させることにより、前記タッチ電極及び前記接続端子の少なくとも一方を形成する、請求項1に記載のタッチパネルの製造方法。
  5. 前記第1層の保護膜及び前記第2層の保護膜は、同一の材料によって構成されていて、
    前記第1層の保護膜における前記第1層の開口部を、前記第2層の保護膜上に形成されたレジストパターンをマスクとして用いて、該第2層の保護膜における前記第2層の開口部と同時に形成する、請求項4に記載のタッチパネルの製造方法。
  6. 前記第1層の保護膜は、前記第2層の保護膜とは異なる材料によって構成されていて、
    前記第1層の保護膜における前記第1層の開口部を、前記第2層の開口部が形成された前記第2層の保護膜をマスクとして用いて形成する、請求項4に記載のタッチパネルの製造方法。
  7. 前記第2層の保護膜は、有機樹脂膜によって構成されていて、
    前記エッチングによって、前記第1層の透明導電膜層及び前記第2層の前記透明導電膜層を露出させた後、前記第2層の保護膜を部分的に溶解させて、前記第1層の開口部及び前記第2層の開口部の各壁面を滑らかにする、請求項4から6のいずれか1項に記載のタッチパネルの製造方法。
  8. 前記タッチ電極と前記接続端子とを接続する引き出し配線は、その一部分が、該タッチ電極及び該接続端子とは異なる層に形成された繋ぎ替え配線によって構成されていて、
    前記保護膜の前記開口部は、前記繋ぎ替え配線と前記引き出し配線との接続部分となる部分にも形成されていて、
    前記繋ぎ替え配線と前記引き出し配線との接続部分は、前記所定の電極パターンの一部として形成され、
    前記繋ぎ替え配線を、前記保護膜上に形成された導電膜をレジストパターンによってパターンニングすることにより形成する、請求項1に記載のタッチパネルの製造方法。
  9. 前記繋ぎ替え配線は、前記引き出し配線が立体的に交差する部分に設けられる、請求項8に記載のタッチパネルの製造方法。
  10. 前記引き出し配線は、前記一部分以外の部分も、前記繋ぎ替え配線によって構成されていて、
    前記引き出し配線が立体的に交差する部分は、前記タッチ電極及び前記接続端子と同じ層に設けられている、請求項8に記載のタッチパネルの製造方法。
  11. 前記レジストパターンは、前記繋ぎ替え配線上に残存して、該繋ぎ替え配線の保護膜となる、請求項8から10のいずれか1項に記載のタッチパネルの製造方法。
  12. 前記繋ぎ替え配線を覆うように、前記露出した透明導電膜層以外の部分に絶縁性の表面保護膜を形成する、請求項8から10のいずれか1項に記載のタッチパネルの製造方法。
  13. 前記タッチ電極同士の間に、該タッチ電極と導通しないフローティング電極を有し、
    前記フローティング電極は、前記タッチ電極と同時に前記透明導電膜層から形成される、請求項1から12のいずれか1項に記載のタッチパネルの製造方法。
  14. 請求項1から13のいずれか1項に記載のタッチパネルの製造方法によって製造されたタッチパネルの透明基板を基板として、表示パネルを製造する、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法。
  15. 前面基板及び背面基板を有する表示パネルを形成した後、該表示パネルの前記前面基板を透明基板として、請求項1から13のいずれか1項に記載のタッチパネルの製造方法によってタッチパネルを形成する、タッチパネルを備えた表示装置の製造方法。
  16. 前記表示パネルは、液晶パネルである、請求項14または15に記載のタッチパネルを備えた表示装置の製造方法。
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