JP5283249B2 - 研磨液組成物の製造方法 - Google Patents
研磨液組成物の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5283249B2 JP5283249B2 JP2006353244A JP2006353244A JP5283249B2 JP 5283249 B2 JP5283249 B2 JP 5283249B2 JP 2006353244 A JP2006353244 A JP 2006353244A JP 2006353244 A JP2006353244 A JP 2006353244A JP 5283249 B2 JP5283249 B2 JP 5283249B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- weight
- particles
- aluminum oxide
- acid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Description
〔1〕 二次粒子の体積中位粒子径が0.1〜0.7μmであり、且つ1μm以上の粒子の含有量が、0.2重量%以下である酸化アルミニウム粒子を含有してなる研磨液組成物の製造方法であって、湿式分級装置の分級筒内に5〜50重量%の酸化アルミニウム粒子の懸濁液を供給する工程、及び供給口より上方に設けられた排出口から分級後の液を排出する工程を含み、該分級筒内における該懸濁液の上方垂直方向の平均流速が0.1〜3mm/minであり、該懸濁液の温度は1〜70℃の範囲内である、研磨液組成物の製造方法、並びに
〔2〕 〔1〕記載の製造方法により得られる研磨液組成物
に関する。
本発明は、酸化アルミニウム粒子の粒子径を特定のサイズに制御すること、及び砥粒中に存在する特定の大きさの粗大粒子を特定量以下に低減することにより、この突き刺さりの低減に加えて、うねりの低減が可能になるという知見に基づいてなされたものである。
本発明の製造方法に用いられる酸化アルミニウム粒子の原料としては、分級後に製造される酸化アルミニウム粒子が研磨液組成物として使用されるため、突き刺さり低減の観点、うねり低減、表面粗さ低減、研磨速度向上及び表面欠陥防止の観点から、並びに分級工程の生産性の観点からアルミナとしての純度が95%以上であることが好ましく、より好ましくは97%以上、さらに好ましくは99%以上である。また、研磨速度向上の観点からは、α−アルミナが好ましく、表面性状及びうねり低減の観点からは、中間アルミナ及びアモルファスアルミナが好ましい。中間アルミナとは、α−アルミナ粒子以外の結晶性アルミナ粒子の総称であり、具体的にはγ−アルミナ、δ−アルミナ、θ−アルミナ、η−アルミナ、κ−アルミナ、及びこれらの混合物等が挙げられる。その中間アルミナの中でも、研磨速度向上及びうねり低減の観点から、γ−アルミナ、δ−アルミナ、θ−アルミナ及びこれらの混合物が好ましく、より好ましくはγ−アルミナ及びθ−アルミナである。ここで「本発明の製造方法に用いられる酸化アルミニウム粒子の原料」とは湿式分級装置に用いる懸濁液中の酸化アルミニウム粒子のことをいう。
該分級筒に供給される際の懸濁液中の酸化アルミニウム粒子の濃度は、効率的、且つ経済的な観点から、5重量%以上であり、7重量%以上が好ましく、10重量%以上がより好ましい。
また、生産性の観点より、高濃度とすることが好ましいが、懸濁液の粘度上昇、分級効率の観点から、該濃度は50重量%以下であり、45重量%以下が好ましく、40重量%以下がより好ましく、30重量%以下がさらに好ましく、25重量%以下がさらにより好ましく、20重量%以下が特に好ましい。すなわち、該濃度は5〜50重量%であり、5〜45重量%が好ましく、7〜40重量%がより好ましく、7〜30重量%がさらに好ましく、10〜30重量%がさらにより好ましく、10〜25重量%がさらにより好ましく、10〜20重量%が特に好ましい。尚、懸濁液は、該酸化アルミニウム粒子が分散した水を含むものである。
なお、懸濁液を分級筒に供給する際の導入流量は、特に制限されず、分級装置内での好ましい平均流速を考慮して適宜設定することができる。
尚、該上方垂直方向の平均流速は、上部排出口から排出される懸濁液流量を分級筒内の平均断面積で除することによって求められる。
これらのアルミナは、分級前に混合し、一度に混合物として製造してもよいが、生産性および分級精度の観点から、αアルミナと中間アルミナをそれぞれ分級した後に、混合して研磨液を調製することが好ましい。
研磨液組成物中の酸化アルミニウム粒子の含有量は、研磨速度向上及びうねり低減の観点から、好ましくは0.05重量%以上、より好ましくは0.1重量%以上、さらに好ましくは0.5重量%以上、さらにより好ましくは1重量%以上である。また、該含有量は、表面品質向上及び経済性の観点から、好ましくは30重量%以下、より好ましくは20重量%以下、さらに好ましくは15重量%以下、さらにより好ましくは10重量%以下である。即ち、研磨液組成物中における酸化アルミニウム粒子の含有量は好ましくは0.05〜30重量%、より好ましくは0.1〜20重量%、さらに好ましくは0.5〜15重量%、さらにより好ましくは1〜10重量%である。なお、本発明の研磨液組成物には、1種類または2種類以上の酸化アルミニウム粒子を用いてもよい。
本発明に用いられ得る酸は、研磨速度向上及びうねり低減の観点から、そのpK1が好ましくは7以下、より好ましくは5以下、さらに好ましくは3以下、さらにより好ましくは2以下の酸である。ここで、pK1とは、酸解離定数(25℃)の逆数の対数値をpKaと表したとき、その内の第1酸解離定数の逆数の対数値である。各化合物のpK1は例えば化学便覧改訂4版(基礎編)II、pp316〜325(日本化学会編)等に記載されている。
湿式分級装置は、たとえば、図1に示した分級装置1である。なお大きい矢印は、懸濁液の上部垂直方向への流れ6を示す。
該分級装置の分級筒の材質は、特に制限はなく、ステンレス製、ガラス製、樹脂製、金属製等であって、それらの表面に、樹脂やガラス等をコーティングしたもの等を用いることができる。また、温度制御の観点から、該分級筒をジャケット等により温度制御できる構造をもつことが好ましい。
該分級装置の分級筒の断面構造は、円形、楕円、多角形のいずれでもよいが、効率的な分級および粗大粒子除去の観点並びに経済的観点から、円形が好ましい。
分級筒の断面の大きさとしては、効率的な分級および粗大粒子除去の観点並びに経済的観点より、100〜300,000cm2が好ましく、200〜100,000cm2がより好ましく、500〜50,000cm2がさらに好ましく、1,000〜10,000cm2がさらにより好ましい。
導入口3と上部排出口5との間の高さは、効率的な分級および粗大粒子除去の観点並びに経済的観点より、5〜500cmが好ましく、10〜400cmがより好ましく、30〜300cmがさらに好ましく、40〜200cmがさらにより好ましい。また、該排出口周辺の構造は、特に制限はない。
さらに、下部排出口4は、連続的又は非連続的に分級後の液を排出し、粗大粒子を除去するために備えることが好ましい。
下部排出口4と上部排出口5との間の高さは、効率的な分級および粗大粒子除去の観点並びに経済的観点より、10cm〜5mが好ましく、20cm〜4mがより好ましく、30cm〜3mがさらに好ましい。下部排出口4と導入口3との間の高さは、効率的な分級および粗大粒子除去の観点並びに経済的観点より、2cm〜1mが好ましく、5cm〜70cmがより好ましく、10〜50cmがさらにより好ましい。
該排出口からの粗大粒子を含む液の排出は、分級中、又は分級停止後に実施されてもよい。なお、懸濁液を導入する導入口3、下部排出口4、及び上部排出口5は、それぞれ1つでもよく、必要に応じて複数を使用してもよい。
本発明のハードディスク基板の製造方法は前記研磨液組成物を用いて被研磨基板を研磨する工程(以下、「研磨する工程」と称することがある。)を有する。
本発明が対象とする被研磨基板であるハードディスク基板とは、磁気記録用媒体の基板として使用されるものである。磁気ディスク基板の具体例としては、アルミニウム合金にNi−P合金をメッキした基板が代表的であるが、アルミニウム合金の代わりにガラスやグラッシュカーボンを使用し、これにNi−Pメッキを施した基板、あるいはNi−Pメッキの代わりに、各種金属化合物をメッキや蒸着により被覆した基板を挙げることができる。
<酸化アルミニウム粒子の調製例−1>
平均粒径20μm、BET比表面積250m2/gの擬ベーマイト粒子を1150℃で3時間焼成してα−アルミナ粒子を得た。このα−アルミナ粒子に水および硝酸を加え、0.4重量%の硝酸を含む、40重量%の酸化アルミニウム粒子を含む懸濁液を調製し、5mmのジルコニアビーズを用いて湿式粉砕した後、さらに0.8mmのジルコニアビーズを用いて湿式粉砕して、二次粒子の体積中位粒子径0.2〜1μmの酸化アルミニウム粒子含有懸濁液を調製した。
平均粒径10μm、比表面積7m2/gのギブサイト粒子を1150℃で3時間焼成してα−アルミナ粒子を得た。このα−アルミナ粒子に水およびメタンスルホン酸を加え、0.6重量%のメタンスルホン酸を含む、40重量%の酸化アルミニウム粒子を含む懸濁液を調製し、5mmのジルコニアビーズを用いて湿式粉砕した後、さらに0.8mmのジルコニアビーズを用いて湿式粉砕して、二次粒子の体積中位粒子径0.2〜1μmの酸化アルミニウム粒子含有懸濁液を調製した。
この懸濁液に表1のように水、酸を加え、これを調製例―1と同じ湿式分級装置の分級筒に導入し、酸化アルミニウム粒子を調製した。
平均粒径20μm、比表面積250m2/gの擬ベーマイト粒子を950℃で3時間焼成してθ−アルミナ粒子を得た。このθ−アルミナ粒子に水および硝酸を加え、0.6重量%の硝酸を含む、20重量%の酸化アルミニウム粒子を含む懸濁液を調製し、5mmのジルコニアビーズを用いて湿式粉砕した後、さらに0.8mmのジルコニアビーズを用いて湿式粉砕して、二次粒子の体積中位粒子径0.2〜1μmの酸化アルミニウム粒子含有懸濁液を調製した。
この懸濁液に表1のように水、酸を加え、これを半径20cm、高さ60cmのステンレス製容器の底面から10cm位置に取り付けられた直径1cmの導入口より、懸濁液を一定流量で投入し、底面から50cmの位置に取り付けられた上部排出口より分級後の液を排出させて、酸化アルミニウム粒子を調製した。また同時に、容器の下部排出口より、連続的に粗大粒子を含む分級後の液を排出させた。なお、上記の操作はすべて温度30±1℃で行った。
厚さ1.27mm、直径3.5インチのNi−Pメッキされたアルミニウム合金からなる基板(「Zygo NewView5032」を用いた測定における短波長うねり3.8nm、長波長うねり1.6nm)の表面を両面加工機により、以下の両面加工機の設定条件でポリッシングし、磁気記録媒体用基板として用いられるNi−Pメッキされたアルミニウム合金基板の研磨物を得た。
<両面加工機の設定条件>
両面加工機:スピードファーム(株)製、9B型両面加工機
研磨荷重:9.8kPa
研磨パッド:フジボウ(株)製 1P用研磨パッド 平均気孔径45μm
定盤回転数:50r/分
研磨液組成物供給流量:100mL/分
研磨時間:4分
投入した基板の枚数:10枚
(1)研磨速度
研磨前後の各基板の重さを計り(Sartorius社製「BP−210S」)を用いて測定し、各基板の重量変化を求め、10枚の平均値を減少量とし、それを研磨時間で割った値を重量減少速度とした。重量の減少速度を下記の式に導入し、研磨速度(μm/min)に変換した。比較例1の研磨速度を基準値100として各実験例の研磨速度の相対値(相対速度)を求めた。結果を表3に示す。
重量減少速度(g/min)={研磨前の重量(g)−研磨後の重量(g)}/研磨時間(min)
研磨速度(μm/min)=重量減少速度(g/min)/基板片面面積(mm2)
/Ni-Pメッキ密度(g/cm3)×106
研磨後の10枚の基板から任意に2枚を選択し、選択した各基板の両面を180°おきに2点(計8点)について、下記の条件で測定した。その8点の測定値の平均値を基板の短波長うねり又は長波長うねりとして算出した。比較例1の基板のうねりを基準値100として各実験例の基板のうねりの相対値を求めた。結果を表3に示す。
機器 :Zygo NewView5032
レンズ :2.5倍 Michelson
ズーム比 :0.5
リムーブ :シリンダー
フィルター:FFT Fixed Band Pass
短波長うねり:50〜500μm
長波長うねり:0.5〜5mm
エリア :4.33mm×5.77mm
以下の測定条件で粗大粒子の含有量を測定した。結果を表1に示す。
・測定機器:PSS社製 「アキュサイザー780APS」
・インジェクションループボリューム:1mL
・流速:60mL/分
・データコレクションタイム:60秒
・チャンネル数:128
以下の測定条件で二次粒子の体積中位粒子径(D50)を測定した。結果を表1に示す。
・測定機器:堀場製作所製 レーザー回折/散乱式粒度分布測定装置LA920
・循環強度:4
・超音波強度:4
前記1.で調製した研磨液組成物20gを105℃、5時間乾燥させ、粉末とした後、X線回折装置(型番:RINT2500VPC、理学電機製)を使用し、管電圧40kW、管電流120mAで、104面のピーク面積を測定し、同様に測定した昭和電工製WA-1000のピーク面積を相対比較することによって求めた。結果を表1に示す。
α−アルミナ含量(重量%)=(試験試料ピーク面積)÷(WA-1000のピーク面積)×100
上記2.の研磨方法により得られた研磨基板を、以下の研磨液組成物を用いて研磨量が0.05μm±0.005μmとなるように研磨した後の基板表面を観察することにより、砥粒の突き刺さりを評価した。研磨液組成物の組成、研磨条件、研磨量の測定方法、及び突き刺さりの観察方法を以下に示す。
コロイダルシリカスラリー(デュポン社製、一次粒子の平均粒子径0.02μm)をシリカ粒子濃度として7重量%、HEDP(1−ヒドロキシエチリデン−1,1−ジホスホン酸、ソルーシアジャパン製)を有効分として2重量%、過酸化水素(旭電化製)を有効分として0.6重量%、イオン交換水を残分として含有する研磨液組成物を用いた。
・研磨試験機:スピードファム(株)製、両面9B研磨機
・研磨パッド:フジボウ(株)製、ウレタン製仕上げ研磨用パッド
・上定盤回転数:32.5r/min
・研磨液組成物供給量:100mL/min
・研磨時間:0.5〜2min(研磨量が0.05μm±0.005μmとなるように調整)
・研磨荷重:7.8kPa・投入した基板の枚数:10枚
研磨前後の各基板の重さを計り(Sartorius社製、「BP-210S」)を用いて測定し、下記式に導入することにより、研磨量を求めた。
重量減少量(g)={研磨前の重量(g)−研磨後の重量(g)}
研磨量(μm)=重量減少量(g)/基板片面面積(mm2)/2
/Ni-Pメッキ密度(g/cm3)×106
(基板片面面積は、6597mm2、Ni-Pメッキ密度8.4g/cm3として算出)
オリンパス光学製顕微鏡(本体BX60M、デジタルカメラDP70、対物レンズ100倍、中間レンズ2.5倍)を使用し、暗視野観察(視野100×75μm)し、輝点数を測定した。
上記観察は、研磨後の10枚の基板から任意に2枚を選択し、基板の両面について中心から30mm位置を90°ごとの各4点、計16点観察し、観察された輝点数の平均値を砥粒の突き刺さり数とした。
<突き刺さり評価基準>
5:100個以上
4:30〜99個
3:10〜29個
2:5〜9個
1:0〜4個
2 分級筒
3 導入口
4 下部排出口
5 上部排出口
6 懸濁液の上方垂直方向への流れ
Claims (6)
- 二次粒子の体積中位粒子径が0.1〜0.7μmであり、且つ1μm以上の粒子の含有量が、0.2重量%以下である酸化アルミニウム粒子を含有してなる研磨液組成物の製造方法であって、湿式分級装置の分級筒内に5〜50重量%の酸化アルミニウム粒子が分散した水を含む懸濁液を供給する工程、及び供給口より上方に設けられた排出口から分級後の液を排出する工程を含み、該分級筒内における該懸濁液の上方垂直方向の平均流速が0.1〜3mm/minであり、該懸濁液の温度は1〜70℃の範囲内であり、該懸濁液中の酸化アルミニウム粒子の表面電位が絶対値で50mV以上である、研磨液組成物の製造方法。
- 懸濁液が、1価の酸、1価のアルカリ若しくはそれらの塩、または分散剤を0.001〜2重量%の濃度で含む、請求項1記載の研磨液組成物の製造方法。
- 湿式分級装置が上部及び下部排出口を備え、下部排出口から懸濁液中の粗大粒子が含まれた液を排出し、かつ下部排出量に対する上部排出量の割合が、1〜100倍の範囲である請求項1又は2記載の研磨液組成物の製造方法。
- 酸化アルミニウム粒子がα−アルミナである請求項1〜3いずれか記載の製造方法。
- 酸化アルミニウム粒子中のα−アルミナ粒子の含有量が60〜100重量%である、請求項1〜3いずれか記載の製造方法。
- 研磨液組成物がハードディスク基板用である請求項1〜5いずれか記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006353244A JP5283249B2 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 研磨液組成物の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006353244A JP5283249B2 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 研磨液組成物の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008163154A JP2008163154A (ja) | 2008-07-17 |
JP5283249B2 true JP5283249B2 (ja) | 2013-09-04 |
Family
ID=39693062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006353244A Expired - Fee Related JP5283249B2 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 研磨液組成物の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5283249B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI547552B (zh) * | 2012-03-19 | 2016-09-01 | 福吉米股份有限公司 | 硏光加工用硏磨材及使用此之基板的製造方法 |
JP6096969B1 (ja) * | 2016-04-26 | 2017-03-15 | 株式会社フジミインコーポレーテッド | 研磨材、研磨用組成物、及び研磨方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6342750A (ja) * | 1986-08-11 | 1988-02-23 | Sekisui Plastics Co Ltd | 粒子の分級方法 |
JPH0711005B2 (ja) * | 1988-09-09 | 1995-02-08 | 昭和アルミパウダー株式会社 | メタリック顔料用整粒金属粉末及び整粒金属粉末の製造方法 |
JPH09316430A (ja) * | 1996-03-29 | 1997-12-09 | Showa Denko Kk | 磁気ディスク基板研磨用組成物 |
JPH11268911A (ja) * | 1998-01-08 | 1999-10-05 | Nissan Chem Ind Ltd | アルミナ粉末及びその製造方法並びに研磨用組成物 |
AU2225301A (en) * | 1999-12-27 | 2001-07-09 | Showa Denko Kabushiki Kaisha | Alumina particles, method for producing the same, composition comprising the same, and alumina slurry for polishing |
JP2002020732A (ja) * | 2000-07-05 | 2002-01-23 | Showa Denko Kk | 研磨用組成物 |
JP3875155B2 (ja) * | 2002-07-31 | 2007-01-31 | 花王株式会社 | ロールオフ低減剤 |
JP4383149B2 (ja) * | 2002-11-28 | 2009-12-16 | 京セラ株式会社 | 砥粒およびそれを用いた半導体ブロックのスライス方法 |
JP2005023313A (ja) * | 2003-06-13 | 2005-01-27 | Showa Denko Kk | 研磨用組成物および研磨方法 |
JP2005034986A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-02-10 | Showa Denko Kk | 研磨用組成物とそれを用いた基板研磨方法 |
JP4339034B2 (ja) * | 2003-07-01 | 2009-10-07 | 花王株式会社 | 研磨液組成物 |
JP2005063532A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-03-10 | Kao Corp | 磁気ディスク用研磨液組成物 |
JP4236195B2 (ja) * | 2004-11-01 | 2009-03-11 | 石原薬品株式会社 | 研磨用α−アルミナ組成物、及びその製造方法 |
JP4651532B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2011-03-16 | 花王株式会社 | 磁気ディスク基板の製造方法 |
JP4822348B2 (ja) * | 2006-12-11 | 2011-11-24 | 花王株式会社 | 磁気ディスク基板の製造方法 |
-
2006
- 2006-12-27 JP JP2006353244A patent/JP5283249B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008163154A (ja) | 2008-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4753710B2 (ja) | ハードディスク基板用研磨液組成物 | |
TWI506621B (zh) | 硬碟基板用研磨液組合物 | |
US6440187B1 (en) | Alumina powder, process for producing the same and polishing composition | |
US6454820B2 (en) | Polishing composition | |
KR101216373B1 (ko) | 세리아 재료 및 그 형성 방법 | |
JP5063339B2 (ja) | ハードディスク基板用研磨液組成物、並びにこれを用いた研磨方法及びハードディスク基板の製造方法 | |
JP4836441B2 (ja) | 研磨液組成物 | |
JP4651532B2 (ja) | 磁気ディスク基板の製造方法 | |
JP2007320031A (ja) | 研磨液組成物 | |
JP5283249B2 (ja) | 研磨液組成物の製造方法 | |
JP4214093B2 (ja) | 研磨液組成物 | |
JP5377117B2 (ja) | 粒子分散液中の非球状粒子を検出する方法 | |
JPH11268911A (ja) | アルミナ粉末及びその製造方法並びに研磨用組成物 | |
JP2005034986A (ja) | 研磨用組成物とそれを用いた基板研磨方法 | |
JP2008307676A (ja) | ハードディスク基板用研磨液組成物 | |
JP4822348B2 (ja) | 磁気ディスク基板の製造方法 | |
JP5570685B2 (ja) | ハードディスク基板用研磨液組成物 | |
JP5536433B2 (ja) | ハードディスク基板用研磨液組成物 | |
JP2005023313A (ja) | 研磨用組成物および研磨方法 | |
JP4648367B2 (ja) | 研磨液組成物 | |
JP2001047358A (ja) | 研磨用組成物 | |
JP4949432B2 (ja) | ハードディスク用基板の製造方法 | |
JP6081317B2 (ja) | 磁気ディスク基板の製造方法 | |
JP5142594B2 (ja) | ハードディスク基板の製造方法 | |
JP7460844B1 (ja) | 磁気ディスク基板用研磨液組成物 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090915 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120604 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120802 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130527 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130527 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5283249 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |