JP5249955B2 - 電子顕微鏡検鏡用試料の作製法 - Google Patents
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Description
即ち、試料を固体材料から切出し、試料に構成された試料表面を、イオンビームによって所定の入射角度で処理し、かくして、試料のイオンビームの投射ゾーンの範囲に、電子顕微鏡による試料の所望範囲の観察を実現できる所望の観察表面が露出されるまで、イオンエッチングによって試料表面から材料を切除する形式の、電子顕微鏡検鏡用試料を作製する方法において、少なくとも3つのイオンビームがこれらの横断面で見て、試料表面において互いに接触するおよび/または部分的に重畳して上記試料表面に投射ゾーンを形成するよう、少なくとも3つの不動のイオンビームを所定の角度で相互に配向して試料表面に導き、該イオンビームは1つの平面内にあり、試料も該イオンビームも、イオンエッチング中には移動されず、かくて、位置不変の状態で処理されることを特徴とする方法である。
従属請求項に、有利な操作工程を定義した。
なお、特許請求の範囲に付記した図面参照符号は専ら理解を助けるためのものであり、図示の態様に限定することを意図するものではない。
以下に本発明の実施の形態の概要を述べる。
[実施の形態]
[形態1]
試料を固体材料から切出し、試料に構成された試料表面を、イオンビームによって所定の入射角度で処理し、かくして、試料のイオンビームの投射ゾーンの範囲に、電子顕微鏡による試料の所望範囲の観察を実現できる所望の観察表面が露出されるまで、イオンエッチングによって試料表面から材料を切除する形式の、電子顕微鏡検鏡用試料を作製する方法において、少なくとも2つのイオンビームが試料表面において互いに少なくとも接触するか又は交叉して、上記試料表面に投射ゾーンを形成するよう、少なくとも2つ(好ましくは3つ)の不動のイオンビームを所定の角度(α)で相互に配向して試料表面に導き、試料も該イオンビームも、移動されず、かくて、位置不変の状態で処理される方法。
[形態2]
斜切エッチング法にもとづき、イオンビームで試料を処理する形態1の方法。
[形態3]
ワイヤシャドウ法にもとづき、イオンビームで試料を処理する形態1の方法。
[形態4]
試料表面の切除のため、少なくとも2つ(好ましくは3つ)のイオンビームを、それぞれ、1つの試料側へ向けることによって、標準TEM試料をイオンビームで処理する形態1の方法。
[形態5]
移動されない複数の、好ましくは3つの、イオンビームを異なる角度(α,α´,α´´)で試料表面に導き、この場合、すべてのイオンビームが、投射ゾーンにおいて少なくとも接触されるか、好ましくは少なくとも部分的に、重畳される形態1〜4の1つに記載の方法。
[形態6]
好ましくはエッチング操作中において、投射ゾーン内のイオンビームの相互位置を調節でき、かくて、少なくとも1つのイオンビームの重畳度を調節できる形態1〜5の1つに記載の方法。
[形態7]
単一のイオン源によって、少なくとも2つのイオンビームを同時に形成する形態1〜6の1つに記載の方法。
[形態8]
それぞれ固有のイオン源によって、少なくとも2つのイオンビームを形成する形態1〜7の1つに記載の方法。
[形態9]
少なくとも1つのイオンビームのイオンエネルギおよび/またはイオン流密度を、個々に、調節および/または調整できる形態1〜8の1つに記載の方法。
[形態10]
イオンビームのイオンエネルギおよび/またはイオン流密度を、同一にまたは予め設定可能な異なる所定値に調節できる形態1〜9の1つに記載の方法。
[形態11]
少なくとも1つのイオンビームの径を投射ゾーンにおいて調節できる形態1〜10の1つに記載の方法。
[形態12]
少なくとも1つのイオンビームのパラメータ、即ち、イオンエネルギ、イオン流および/またはビーム径の少なくとも1つを変更することによって、予め設定可能なエッチングプロフィルを調節する形態1〜11の1つに記載の方法。
[形態13]
イオンビームのイオンエネルギを200eV〜12keVの範囲に、好ましくは500eV〜8keVの範囲に調節する形態1〜12の1つに記載の方法。
[形態14]
エッチング処理中において、観察手段、好ましくは光学顕微鏡または走査電子顕微鏡、によって高い解像度で、静止試料を少なくとも一時的に観察する形態1〜13の1つに記載の方法。
[形態15]
イオンエッチング前に、試料を観察手段に対し配向設定し、エッチング処理中、もはや移動しない形態1〜14の1つに記載の方法。
[形態16]
エッチング処理中において、試料を冷却する形態1〜15の1つに記載の方法。
[形態17]
イオンビーム斜切エッチングの場合、10μm〜100μmの範囲の間隔(空隙)をもって試料表面に当接する平坦な表面を有するマスクを使用し、かくして、双方の表面が、上記範囲に境界線を形成し、その範囲に、イオンビームの投射ゾーンが位置し、イオンビームが、境界線が位置する平面を形成し、この平面が、マスクの表面に対して0°〜10°の範囲、好ましくは0°〜5°の範囲に若干傾斜して配置されると共に、マスクの表面が、試料表面に対して好ましくは直角に配置される形態2の方法。
[形態18]
イオンビームが、所定角度の円切片を形成し、この角度が、10°〜180°の範囲、好ましくは30°〜140°の範囲、にあり、すべてのイオンビームが、上記円切片の平面内にある形態2または17の方法。
[形態19]
ワイヤシャドウ法の場合、ワイヤに平行である平面内にイオンビームを導き、試料表面の垂線(N)も、上記平面内にある形態3の方法。
[形態20]
イオンビームによって形成された平面を、法線(N)に対して、±20°の範囲、好ましくは±10°の範囲、の角度(β)をなすよう、配置する形態3または19の方法。
[形態21]
イオンビームが、所定角度(α)の円切片を形成し、この角度(α)が、10°〜180°の範囲好ましくは、30°〜140°の範囲にあり、すべてのイオンビームが、上記円切片の平面内にあり、好ましくは、2つのイオンビームを、表面法線(N)に関して対称に設置して、処理する形態3または19の方法。
[形態22]
イオンビームを、試料の少なくとも1つの側で、円錐体外周面上にあるよう配列し、イオンビームが統合される円錐先端が、少なくとも上記試料側で投射ゾーンに当たる形態4の方法。
若干のエッチング時間後、試料1の材料切除によって、試料1の両側に、エッチング操作の終了時にTEMの観察表面20を形成するフランク6が構成される。更に、図3および4に示した如く、試料の櫛状尖端が構成されることも認められる。試料1は、試料の長さlに直角に見て(直角の断面において)明確なくさび状構造が生ずるよう、イオンビームJによって強くエッチングする。さて、試料1の両側のエッチングされたフランク6は、長い櫛を包含し、この櫛は、先細に推移し、試料縦方向に直角な矢印で示した如く、試料の側から、好ましくは、直角な観察方向12へ行われるTEM観察のために、上記範囲において電子透過性である。ファイバ7は、この状態において、同じく強くエッチングされる。
3 試料表面
4 投射ゾーン
12 観察装置
20 観察表面
J イオンビーム
α (イオンビームの)相互角度
Claims (22)
- 試料を固体材料から切出し、試料に構成された試料表面(3)を、イオンビーム(J)によって所定の入射角度で処理し、かくして、試料(1)のイオンビーム(J)の投射ゾーン(4)の範囲に、電子顕微鏡による試料(1)の所望範囲の観察(12)を実現できる所望の観察表面(20)が露出されるまで、イオンエッチングによって試料表面(3)から材料を切除する形式の、電子顕微鏡検鏡用試料(1)を作製する方法において、
少なくとも3つのイオンビーム(J1,J2,J3)がこれらの横断面で見て、試料表面(3)において互いに接触するおよび/または部分的に重畳して上記試料表面に投射ゾーン(4)を形成するよう、少なくとも3つの不動のイオンビーム(J1,J2,J3)を所定の角度(α)で相互に配向して試料表面(3)に導き、該イオンビーム(J1,J2,J3)は1つの平面内にあり、
試料(1)も該イオンビーム(J1,J2,J3)も、イオンエッチング中には移動されず、かくて、位置不変の状態で処理されることを特徴とする方法。 - 斜切エッチング法にもとづき、イオンビーム(J1,J2,J3)で試料(1)を処理することを特徴とする請求項1の方法。
- ワイヤシャドウ法にもとづき、イオンビーム(J1,J2,J3)で試料(1)を処理することを特徴とする請求項1の方法。
- 試料表面(3a,3b)の切除のため、少なくとも3つのイオンビーム(J1,J2,J3)を、それぞれ、少なくとも1つの試料側(3a,3b)へ向けることによって、標準TEM試料(1)をイオンビーム(J1,J2,J3)で処理することを特徴とする請求項1の方法。
- 移動されない複数のイオンビーム(J1,J2,J3)を異なる角度(α,α´,α´´)で試料表面(3)に導き、この場合、すべてのイオンビームがこれらの横断面で見て、投射ゾーン(4)において互いに接触されるおよび/または部分的に重畳されることを特徴とする請求項1〜4の1つに記載の方法。
- 投射ゾーン(4)内のイオンビーム(J1,J2,J3)の相互位置を調節でき、かくて、少なくとも1つのイオンビームの重畳度を調節できることを特徴とする請求項1〜5の1つに記載の方法。
- 単一のイオン源によって、少なくとも3つのイオンビーム(J1,J2,J3)を同時に形成することを特徴とする請求項1〜6の1つに記載の方法。
- それぞれ固有のイオン源によって、少なくとも3つのイオンビーム(J1,J2,J3)を形成することを特徴とする請求項1〜7の1つに記載の方法。
- 少なくとも1つのイオンビーム(J1,J2,J3)のイオンエネルギおよび/またはイオン流密度を、個々に、調節および/または調整できることを特徴とする請求項1〜8の1つに記載の方法。
- イオンビーム(J1,J2,J3)のイオンエネルギおよび/またはイオン流密度を、同一にまたは予め設定可能な異なる所定値に調節できることを特徴とする請求項1〜9の1つに記載の方法。
- 少なくとも1つのイオンビーム(J1,J2,J3)のビーム径を投射ゾーン(4)において調節できることを特徴とする請求項1〜10の1つに記載の方法。
- 少なくとも1つのイオンビーム(J1,J2,J3)のパラメータ、即ち、イオンエネルギ、イオン流および/またはビーム径の少なくとも1つを変更することによって、予め設定可能なエッチングプロフィルを調節することを特徴とする請求項1〜11の1つに記載の方法。
- イオンビーム(J1,J2,J3)のイオンエネルギを200eV〜12keVの範囲に調節することを特徴とする請求項1〜12の1つに記載の方法。
- エッチング処理中において、観察手段によって高い解像度で、静止試料(1)を少なくとも一時的に観察することを特徴とする請求項1〜13の1つに記載の方法。
- エッチング処理中において、投射ゾーン(4)内のイオンビーム(J1,J2,J3)の相互位置を調節でき、かくて、少なくとも1つのイオンビームの重畳度を調節できることを特徴とする請求項6に記載の方法。
- イオンビーム斜切エッチングの場合、10μm〜100μmの範囲の間隔をもって試料表面(3)に当接する平坦な表面を有するマスク(2)を使用し、かくして、双方の表面が、上記範囲に境界線を形成し、
その範囲に、イオンビーム(J1,J2,J3)の投射ゾーン(4)が位置し、イオンビームが、境界線が位置する平面(10)を形成し、
この平面(10)が、マスク(2)の表面に対して0°〜10°の範囲に若干傾斜して配置されると共に、マスク(2)の表面が、試料表面(3)に対して直角に配置されることを特徴とする請求項2の方法。 - イオンビーム(J1,J2,J3)が、所定角度(α)の円切片を形成し、この角度(α)が、10°〜180°の範囲にあり、すべてのイオンビーム(J1,J2,J3)が、上記円切片の平面内にあることを特徴とする請求項2または16の方法。
- ワイヤシャドウ法の場合、ワイヤ(7)に平行である平面(10)内にイオンビーム(J1,J2,J3)を導き、試料表面(3)の垂線(N)も、上記平面(10)内にあることを特徴とする請求項3の方法。
- イオンビーム(J1,J2,J3)によって形成された平面(10)を、法線(N)に対して、±20°の範囲の角度(β)をなすよう、配置することを特徴とする請求項3または18の方法。
- イオンビーム(J1,J2,J3)が、所定角度(α)の円切片を形成し、この角度(α)が、10°〜180°の範囲にあり、すべてのイオンビームが、上記円切片の平面内にあることを特徴とする請求項3または18の方法。
- 前記円切片を形成する前記所定角度(α)が30°〜140°の範囲にあることを特徴とする請求項17または20の方法。
- 前記イオンビーム(J1,J2,J3)のうち2つのイオンビーム(J1,J2)を、表面法線(N)に関して対称に設置して処理することを特徴とする請求項20の方法。
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