JP5239223B2 - 光増幅器 - Google Patents

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Description

本発明は、波長多重(Wavelength Division Multiplexing:WDM)光伝送システムに用いられる光増幅器に関し、特に、多段に接続された複数の光増幅部を備え、信号光の入力状態に応じて全体利得を可変にする機能をもつ光増幅器に関する。
インターネットや画像伝送サービス等の普及に伴い、ネットワークを介して伝送される情報の量が急速に増加しており、これに対応するためにWDM光伝送システムの導入が進められてきている。WDM光伝送システムは、長距離幹線系から導入が始まったが、波長ルーチング機能を有したWDM光伝送システムとして、都市内リング網にも導入されるようになってきている。
上記のようなWDM光伝送システムで用いられる光増幅器については、その性能若しくは特徴として次の(a)〜(c)に示す事項が要求される。
(a)多種多様な光損失を補償するために、利得可変機能を有すること。
(b)WDM光に含まれる全ての光信号を同様に伝送するために、利得の波長依存性がなく、利得変化時にも利得の波長依存性が生じないこと。
(c)エルビウム添加ファイバ(Erbium Doped Fiber:EDF)等を光増幅媒体に用いた光増幅器においては、その増幅原理から、光増幅媒体での発生利得を変化させると利得波長特性が変化するので、光増幅媒体での発生利得を一定に保つこと。
図12は、上記(a)〜(c)を満たすように構成された従来の光増幅器の一例を示したブロック図である。この従来の構成例では、固定の利得制御部と可変の光損失一定制御との組合せによって、利得可変機能を有する光増幅器を実現している。具体的には、EDF101,102を用いた2段構成の光増幅部の段間に可変光減衰器(Valuable Optical Attenuator:VOA)130が配置され、利得制御部121により前段のEDF101での発生利得が固定の目標値で一定となるように制御され、また、光損失制御部140によりVOA130における光損失が可変の目標値で一定となるように制御され、さらに、利得制御部122により後段のEDF102での発生利得が固定の目標値で一定となるように制御されることにより、上記(a)〜(c)を満たす利得可変光増幅器が構成されている(例えば、下記の特許文献1参照)。
また、都市内リング網に導入されてきているような、波長ルーチング機能を有したWDM光伝送システムでは、長距離幹線系システムと比べてWDM光の波長数が変更される頻度が高くなる。WDM光の波長数が変更されると、光増幅器の信号光入力強度が変化するが、この時にも光増幅媒体での発生利得が変化しないことが光増幅器の性能として求められる。つまり、光増幅器の利得一定制御の高速性(光入力強度変化時の追従性)が要求される。
上記の図12に示したような従来の光増幅器では、各段のEDF101,102に供給される励起光P1,P2の強度Pp1,Pp2の比率(Pp1/Pp2)を光増幅器全体の利得設定値の変化に関係なく一定として各励起光源111,112の制御が行われることにより、VOA130の光損失も含めた光増幅器全体での利得一定制御の高速化が図られている。また、利得一定制御の高速性という観点では、各EDF101,102に対応させて利得制御部121,122を個別に設けるよりも、例えば図13に示すように各EDF101,102に共通な利得制御部120を設けた方が有利である。
特開平8−248455号公報
ところで、上記のような従来の光増幅器については、次の(I)(II)の理由により、各EDF101,102での発生利得を適切な範囲に保つ必要がある。
(I)1段目のEDF101での発生利得が小さくなり過ぎると、光増幅器全体の雑音指数(Noise Figure:NF)が大きくなり光伝送特性に悪影響を及ぼす。
(II)1段目のEDF101での発生利得が大きくなり過ぎると、図14の概念図に示すように、光増幅器内で発生する多光路干渉(Multi Pass Interference:MPI)が大きくなり、EDFを1回通過した光SOUTと複数回通過した光XTOUTのクロストーク(MPI−XT)により信号光の光伝送特性に悪影響を及ぼす。
しかしながら、上記図13に示したような利得一定制御の高速化に有利な従来の構成では、各EDF101,102での発生利得が直接的にはモニタされず、光増幅器全体の利得一定制御が各EDFの励起光強度の比率(Pp1/Pp2)を一定として行われるため、光増幅器全体の利得設定値が変化した時に各EDF101,102での発生利得も変化してしまう。このため、上記(I)(II)を考慮して、各EDF101,102での発生利得を適切な範囲に保つことが困難になり、増幅後の信号光の伝送特性に悪影響を及ぼしてしまうという問題点があった。
ここで、上記(I)(II)の理由について詳しく説明する。まず、前述の図13の構成例について、次のパラメータを定義する。
PsIN:光増幅器の信号光入力強度
NFAMP:光増幅器全体の雑音指数(NF)
MPIAMP:光増幅器内での多光路干渉(MPI)の発生量
Ps1,Ps2:1,2段目のEDFの信号光入力強度
Pp1,Pp2:1,2段目の励起光源の出力強度
1,G2:1,2段目のEDFでの発生利得
NF1,NF2:1,2段目のEDFの雑音指数
Rb1,Rb2:1,2段目のEDFの上流側における反射減衰量
Rf1、Rf2:1,2段目のEDFの下流側における反射減衰量
12:1,2段目のEDFの間における光損失
一般的に、光増幅器の雑音指数NFAMPは次の(1)式で表される。
NFAMP=(NF1/Ps1+NF2/Ps2)×PsIN …(1)式
また、1段目のEDFの信号光入力強度Ps1と2段目のEDFの信号光入力強度Ps2との間には次の(2)式の関係がある。
Ps2=Ps1×G1/L12 …(2)
上記(1)式および(2)式より、1段目のEDFでの発生利得G1が小さくなると、2段目のEDFの信号光入力強度Ps2が小さくなり、光増幅器全体の雑音指数NFAMPが大きくなることが分かる。
また、上記図14に示したような光増幅器内での多光路干渉の発生量MPIAMPは、EDF付近の信号光経路が支配的であり、次の(3)式で表すことができる。
MPIAMP=G1 2/(Rb1×Rf1)+G2 2/(Rb1×Rf1) …(3)
上記(3)式より、1段目のEDFでの発生利得G1が大きくなると、光増幅器内でのる多光路干渉の発生量MPIAMPが大きくなることが分かる。
図15〜図17は、上記の内容について、各EDFの励起光強度の比率(Pp1/Pp2)を大きく設定した場合と、小さく設定した場合とで具体的に比較した一例である。なお、図中のGSETは、光増幅器全体に対する利得設定値を表している。
図15に示すように、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)を大きく設定した場合には、光増幅器全体の利得設定値GSETとして30dBのような比較的大きな値が設定されると、1段目のEDFの利得G1が25dBと大きくなる。この状態は、図17の実線Aに示す関係において横軸の利得設定値GSETを大きくした領域aに対応しており、MPI−XTの許容範囲の上限レベル(破線)を超えた上記(II)に相当する状態となる。なお、図17の上段は、利得設定値GSETに対する励起光強度の比率(Pp1/Pp2)の関係を示し、図17の下段は、利得設定値GSETに対する1段目のEDFでの発生利得G1の関係を示している。
また、図16に示すように、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)を小さく設定した場合には、光増幅器全体の利得設定値GSETとして15dBのような比較的小さな値が設定されると、2段目のEDFへの信号光入力強度Ps2が−20dBmと小さくなる。この状態は、図17の実線Bに示す関係において横軸の利得設定値GSETを小さくした領域bに対応しており、NF劣化の許容範囲の下限レベル(1点鎖線)に達していない上記(I)に相当する状態となる。
なお、上記のような光増幅器におけるMPI−XTの抑圧に関しては、例えば国際公開第03/084007号パンフレットにおいて、段間のVOAの減衰量に応じて出力側反射減衰量が低減されMPI−XTを改善できることが示されている。しかしながら、この従来技術では、各段の光増幅媒体に与えられる励起光強度の比率(各段の光増幅媒体での発生利得)と、MPI−XTやNF劣化との関係についてまでは検討されておらず、前述したような各EDFでの発生利得を適切な範囲に保つという課題を解決することは難しい。
本発明は上記の点に着目してなされたもので、多段構成の光増幅部を一括して利得一定制御すると共に、段間の可変光減衰部を用いて全体利得を可変とした構成について、MPI−XTおよびNF劣化による光伝送特性への悪影響を回避することが可能な光増幅器を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明の光増幅器は、信号光が入力される光入力ポートおよび信号光が出力される光出力ポートと、光増幅媒体および該光増幅媒体を励起する励起光源をそれぞれ有し、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間に直列に接続された複数の光増幅部と、前記各光増幅部の間の光路上に挿入された少なくとも1つの可変光減衰部と、前記各光増幅部での発生利得の和が一定となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御する利得制御部と、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間で得られる信号光の全体利得が、前記光入力ポートに入力される信号光の状態に応じて設定される利得設定値で一定となるように、前記可変光減衰部における光損失を制御する光損失制御部と、を備えた光増幅器であって、前記利得制御部は、2段目以降の前記各光増幅部の励起光強度に対する1段目の前記光増幅部の励起光強度の比率が、前記利得設定値の増大につれて小さくなると共に、当該励起光強度の比率が、信号光の増幅特性に基づいて定めた第1の閾値以下で、かつ、第2の閾値以上となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御する構成としたことを特徴とする。
また、前記利得制御部は、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間で発生する多光路干渉の許容範囲の上限レベルを前記第1の閾値とするのがよく、さらに、前記各光増幅部の雑音指数劣化の許容範囲の下限レベルを前記第2の閾値とするのが好ましい。
上記のような構成の光増幅器によれば、従来技術のように各光増幅部での発生利得を直接モニタして各々の光増幅部毎に利得一定制御を行わなくても、2段目以降の前記各光増幅部の励起光強度に対する1段目の光増幅部の励起光強度の比率を利得設定値に応じて最適化しながら、光増幅器全体の利得一定制御を高速に行うようにしたことで、利得設定値が変化した時でも各光増幅部での発生利得を適切な範囲に保つことができ、MPI−XTやNF劣化による光伝送特性への悪影響を回避することが可能になる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について添付図面を参照しながら説明する。なお、全図を通して同一の符号は同一または相当部分を示すものとする。
図1は、本発明の第1実施形態による光増幅器の構成を示すブロック図である。
図1において、本実施形態の光増幅器は、例えば、光入力ポートINおよび光出力ポートOUTの間に直列に接続された2段の光増幅部1,2と、該光増幅部1,2の間の光路上に挿入された配置された可変光減衰器(VOA)5と、を備える。また、この光増幅器は、可変光減衰器5の減衰量を含めた光増幅器全体の利得が、外部より指示される利得設定値GSETで一定となるように、各光増幅部1,2における励起光強度の比率を上記利得設定値GSETに応じて変化させながら各光増幅部1,2を制御する利得制御部40と、可変光減衰器5における光損失が上記利得設定値GSETに対応した目標値で一定となるように可変光減衰器5を制御する光損失制御部50と、を備える。
さらに、ここでは、光入力ポートIN、1段目の光増幅部1、可変光減衰器5、2段目の光増幅部2および光出力ポートOUTの間に光アイソレータ7がそれぞれ配置されると共に、1段目の光増幅部1および可変光減衰器5の間には各光増幅部1,2における利得の波長依存性を等化するための利得等化器(GEQ)8が設けられている。なお、各光アイソレータ7および利得等化器8は、必要に応じて適宜に設ければよく、省略することも可能である。
1段目および2段目の光増幅部1,2は、それぞれ、エルビウム添加ファイバ(EDF)11,21、励起光源(LD)12,22およびWDMカプラ13,23を有し、励起光源12,22から出力される励起光P1,P2がWDMカプラ13,23で信号光Sと合波されてEDF11,21に供給される構成である。各励起光源12,22から出力される励起光P1,P2の強度Pp1,Pp2は、利得制御部40から各励起光源12,22に伝えられる制御信号に従って可変制御される。
なお、ここでは光増幅媒体としてEDFを用いる一例を示したが、エルビウム以外の希土類が添加された光ファイバを光増幅媒体として使用してもよい。本発明は、利得設定が変化すると波長特性が変わる増幅特性をもつ光増幅媒体を用いた光増幅器に対して有効である。また、EDFに対して信号光および励起光が同方向に与えられる前方励起型の構成例を示したが、本発明はこれに限らず、EDFに対して信号光および励起光が逆方向に与えられる後方励起型、または、前方励起および後方励起を組み合わせた双方向励起型の構成にも適用可能である。
利得制御部40には、図示を省略した外部インターフェース部を介して利得設定値GSETに関する情報が与えられると共に、光入力ポートINおよびWDMカプラ13の間の光路上に挿入された光分岐カプラ41および該光分岐カプラ41の分岐ポートに接続された光検出器(PD)42を用いて、光入力ポートINから1段目の光増幅部1に入力される信号光Sの強度PsINをモニタした結果と、EDF21および光出力ポートOUTの間の光路上に挿入された光分岐カプラ43および該光分岐カプラ43の分岐ポートに接続された光検出器(PD)44を用いて、2段目の光増幅部2から光出力ポートOUTに出力される信号光Sの強度PsOUTをモニタした結果と、が与えられる。この利得制御部40は、後で詳しく説明するように、外部から指示される利得設定値GSETに応じて、1段目の光増幅部1の励起光源12から出力される励起光P1の強度Pp1と2段目の光増幅部2の励起光源22から出力される励起光P2の強度Pp2との比率(Pp1/Pp2)を決定し、信号光入力強度PsINおよび信号光出力強度PsOUTのモニタ値を用いて算出した光増幅器全体の利得GAMPが上記利得設定値GSETで一定となるように、各励起光源12,22の出力強度Pp1,Pp2を上記比率(Pp1/Pp2)に従って制御する。
可変光減衰器5は、1段目のEDF11で増幅され光アイソレータ7および利得等化器8を通過した信号光Sが入力され、光損失制御部50により制御される可変の減衰量に従って信号光Sに損失を与え、該信号光Sを光アイソレータ7およびWDMカプラ23を介して2段目のEDF21に出力する。
光損失制御部50には、利得制御部40を介して利得設定値GSETが伝えられると共に、可変光減衰器5の入力端に挿入された光分岐カプラ51および該光分岐カプラ51の分岐ポートに接続された光検出器(PD)52を用いて、可変光減衰器5に入力される信号光Sの強度をモニタした結果と、可変光減衰器5の出力端に挿入された光分岐カプラ53および該光分岐カプラ53の分岐ポートに接続された光検出器(PD)54を用いて、可変光減衰器5から出力される信号光Sの強度をモニタした結果と、が与えられる。この光損失制御部50は、利得設定値GSETに応じて、可変光減衰器5における光損失の目標値を決定し、各光検出器52,54から出力される信号光強度のモニタ値を用いて算出した可変光減衰器5における光損失が上記目標値で一定となるように、可変光減衰器5の減衰量を制御する。
なお、ここでは、可変光減衰器5に対して入出力される信号光の強度をモニタして可変光減衰器5における光損失を制御する構成例を示したが、光分岐カプラ51,53および光検出器52,54を省略し、可変光減衰器5の減衰量を光損失の目標値に対応した所定値に直接制御するようにしても構わない。
次に、第1実施形態の動作について説明する。
上記のような構成の光増幅器では、1段目および2段目の光増幅部1,2の各励起光源12,22から出力される励起光P1,P2の強度の比率(Pp1/Pp2)を利得設定値GSETに応じて変化させる、具体的には、利得設定値GSETが大きくなるにつれて、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)が小さくなるようにすることによって、利得設定値GSETが変化しても各光増幅部1,2のEDF11,21での発生利得が適切な範囲に保たれるようにしている。
図2は、第1実施形態の光増幅器について、異なる利得設定値GSET(ここでは、例えば30dBと15dBを想定する)に対応したレベルダイヤの一例である。この例に示すように、本光増幅器では、利得設定値GSETの変化に関係なく各EDF11,21での発生利得G1,G2が一定(ここでは15dB)に保たれ、可変光減衰器5での光損失L12を変化させることにより利得設定値GSETの変化が補償される。
ここで、各EDF11,21での発生利得G1,G2が一定に保たれるようにするための条件をEDFの基本的な増幅特性に基づいて詳しく説明する。
EDFを用いて信号光を増幅する場合、基本的な増幅特性として、EDFの信号光入力強度、励起光強度および発生利得の間には図3に示すような線形性があることが知られている。このようなEDF増幅特性の線形性に着目すると、EDF11,21それぞれについて発生利得G1,G2が一定に保たれるための信号光入力強度Ps1,Ps2および励起光強度Pp1,Pp2の条件は、次の(4)式および(5)式で表すことができる。
Pp1=a1×Ps1+b1 …(4)
Pp2=a2×Ps2+b2 …(5)
ただし、a1,a2,b1,b2は比例定数であり固定値である。
また、1段目のEDF11の信号光入力強度Ps1と2段目のEDF21の信号光入力強度Ps2との間には、前述した(2)式の関係が成り立ち、それを変形することで次の(6)式が得られる。
Ps1/Ps2=L12/G1 …(6)
さらに、1,2段目のEDFの間における光損失L12は、利得設定値GSETの最大値をGMAXとして、次の(7)式で表すことができる。
12=GMAX/GSET …(7)
上記(4)〜(7)式を整理することにより、1段目の励起光源12の出力強度Pp1と2段目の励起光源22の出力強度Pp2との関係を次の(8)式で記述することが可能である。
(Pp1−b1)/(Pp2−b2)=a/GSET …(8)
ただし、aは定数で、a=(a1/a2)×(GMAX/G1)としている。
したがって、上記(8)式の各定数a,b1,b2を、光増幅器の光回路構成やEDFの増幅特性に基づき、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲を考慮して適切に設定することにより、当該(8)式の関係に従って、光増幅器全体の利得設定値GSETに対応した励起光強度の比率(Pp1/Pp2)を算出することができる。
図4は、第1実施形態の光増幅器における励起光強度の比率(Pp1/Pp2)と利得設定値GSETとの関係の一例を示したものである。また、図5は、第1実施形態の光増幅器における1段目のEDF11での発生利得G1と利得設定値GSETとの関係の一例を示したものである。
図4に示すように、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)は、上記(8)式の関係に従い、利得設定値GSETが大きくなるにつれて小さくなると共に、MPI−XTの許容範囲の上限レベル(第1の閾値、破線)以下で、NF劣化の許容範囲の下限レベル(第2の閾値、1点鎖線)以上となるように設定される。このように利得設定値GSETに応じて最適化した励起光強度の比率(Pp1/Pp2)に従って、利得制御部40により光増幅器全体の利得一定制御を行うことで、1段目のEDF11での発生利得G1は、図5に示すように、利得設定値GSETの変化に関係なく、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲(斜線部分)内で一定となる。また、2段目のEDF21での発生利得G2についても、利得設定値GSETの変化が可変光減衰器5における光損失L12の制御により補償されるため、利得設定値GSETの変化に関係なく、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲内で一定となる。
よって、第1実施形態の光増幅器によれば、利得設定値GSETの変化時においても、各EDF11,21での発生利得G1,G2を適切な範囲に保ちながら光増幅器全体の利得一定制御を高速に行うことができ、MPI−XTやNF劣化による光伝送特性への悪影響を回避することが可能になる。
なお、上記の第1実施形態では、(8)式の関係に従い、利得設定値GSETが大きくなるにつれて、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)が連続的に小さくなるようにしたが(図4)、例えば図6に示すように、利得設定値GSETの可変範囲を複数(ここでは3つ)の区間に分け、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)が区間ごとに一定となり段階的に小さくなるようにしてもよい。また、例えば図7に示すように、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)を連続的に変化させる区間と一定とする区間とが混在するようにしても構わない。
さらに、各EDFでの発生利得G1,G2が一定に保たれる条件を考える際に、EDF増幅特性の線形性を利用する一例を示したが、上記とは異なる光増幅媒体の増幅特性を想定して各光増幅部での発生利得G1,G2が一定に保たれるための条件を数式化してもよい。
加えて、励起光強度の比率(Pp1/Pp2)が、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲内の中間レベル付近に設定される一例を示したが(図4および図5)、NF劣化に関しては1段目のEDF11での発生利得を大きくすることで抑圧効果が得られるので、MPI−XT許容範囲の上限レベルを超えない範囲で励起光強度の比率(Pp1/Pp2)をより大きくした方が、NF劣化の抑圧という観点では優れている。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。
図8は、本発明の第2実施形態による光増幅器の構成を示すブロック図である。
図8において、本実施形態の光増幅器は、例えば、光入力ポートINおよび光出力ポートOUTの間に直列に接続された3段の光増幅部1,2,3と、2段目および3段目の光増幅部2,3の間の光路上に挿入された可変光減衰器5と、を備える。前述した第1実施形態の構成との相違点は、第1実施形態の光増幅部1,2の後段に3段目の光増幅部3を追加し、可変光減衰器5の配置を2,3段目の光増幅部2,3の段間に変更している点であり、その他の構成は第1実施形態の場合と同様である。なお、図8では、第1実施形態の構成において光入力ポートINおよび光出力ポートOUT間の光路上に配置される光アイソレータ7および利得等化器8の図示を省略している。
3段目の光増幅部3は、1,2段目光増幅部1,2と同様に、EDF31、励起光源32およびWDMカプラ33を有し、利得制御部40からの制御信号に従って励起光源32が制御される。ここでは、EDF31に入力される信号光Sの強度をPs3、励起光源32から出力される励起光をP3、該励起光の強度をPp3、EDF31での発生利得をG3とする。なお、3段目の光増幅部3から光出力ポートOUTに出力される信号光Sは、その一部が、EDF31および光出力ポートOUTの間の光路上に挿入された光分岐カプラ43で分岐されて光検出器44に送られ信号光出力強度PsOUTがモニタされる。該光検出器44のモニタ結果は、第1実施形態の場合と同様に利得制御部40に伝えられ、光増幅器全体の利得一定制御に用いられる。
上記のような3段構成の光増幅器においても、前述した第1実施形態の場合と同様にして、利得設定値GSETの変化に関係なく各EDF11,21,31での発生利得G1,G2,G3が一定に保たれ、可変光減衰器5での光損失を変化させることにより利得設定値GSETの変化が補償される。各EDF11,21,31での発生利得G1,G2,G3が一定に保たれるとき、各々のEDFの信号光入力強度Ps1,Ps2,Ps3の間には、次の(9)式および(10)式に示す関係が成り立つ。
Ps1/Ps3=a13/GSET …(9)
Ps2/Ps3=a23/GSET …(10)
ただし、a13、a23は比例係数であり固定値である。
また、各EDF11,21,31の増幅特性が前述の図3に示したような線形性を有する場合、各々のEDFの信号光入力強度Ps1,Ps2,Ps3および励起光強度Pp1,Pp2,Pp3の間の関係は、次の(11)〜(13)式で表すことができる。
Pp1=a1×Ps1+b1 …(11)
Pp2=a2×Ps2+b2 …(12)
Pp3=a3×Ps3+b3 …(13)
ただし、a1〜a3,b1〜b3は比例係数であり固定値である。
上記(9)式〜(13)式により、各EDFの励起光強度Pp1,Pp2,Pp3の間の関係は、次の(14)式および(15)式で表すことができる。
(Pp1−b1)/(Pp3−b3)=c13/GSET …(14)
(Pp2−b2)/(Pp3−b3)=c23/GSET …(15)
ただし、c13=a13×a1/a3,23=a23×a2/a3であり、c13,c23は固定値である。
したがって、上記(14)式および(15)式における定数b1〜b3,c13,c23を、光増幅器の光回路構成やEDFの増幅特性に基づき、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲を考慮して適切に設定することにより、当該(14)式および(15)式の関係に従って、光増幅器全体の利得設定値GSETに対応した、1,3段目のEDFの励起光強度の比率(Pp1/Pp3)および2,3段目のEDFの励起光強度の比率(Pp2/Pp3)をそれぞれ算出することができる。具体的には、利得設定値GSETが大きくなるにつれて、各々の励起光強度の比率(Pp1/Pp3),(Pp2/Pp3)を小さくすればよい。
このように利得設定値GSETに応じて最適化した励起光強度の比率(Pp1/Pp3),(Pp2/Pp3)に従い、前述した第1実施形態の場合と同様にして、利得制御部40および光損失制御部50により光増幅器全体の利得一定制御を行うことで、各EDF11,21,31での発生利得G1,G2,G3は、利得設定値GSETの変化に関係なく、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲内で一定となる。
よって、第2実施形態の光増幅器によれば、利得設定値GSETの変化時においても、各EDF11,21,31での発生利得G1,G2,G3を適切な範囲に保ちながら光増幅器全体の利得一定制御を高速に行うことができ、MPI−XTやNF劣化による光伝送特性への悪影響を回避することが可能になる。
次に、本発明の第3実施形態について説明する。
図9は、本発明の第3実施形態による光増幅器の構成を示すブロック図である。
図9において、本実施形態の光増幅器は、前述の図8に示した第2実施形態の構成について、1,2段目の光増幅部1,2の段間にも可変光減衰器を配置するようにしたものである。ここでは、可変光減衰器51およびそれを制御する光損失制御部501が1,2段目の光増幅部1,2の段間に設けられ、可変光減衰器52およびそれを制御する光損失制御部502が2,3段目の光増幅部2,3の段間に設けられる。なお、可変光減衰器51,52および光損失制御部501,502は、上述した第1実施形態における可変光減衰器5および光損失制御部50と同様のものである。
上記のような構成の光増幅器では、光増幅器全体の利得設定値GSETの変化が、2個の可変光減衰器51,52における光損失の制御により補償される。利得設定値GSETに対する各可変光減衰器51,52の光損失の関係は、例えば図10に示すように、予め定めた基準値G0に対する利得設定値GSETの大小に応じて、次の(i)(ii)のように設定することが可能である。
(i)利得設定値GSETが基準値G0以下の場合(GSET≦G0)、利得設定値GSETの変化を1段目の可変光減衰器51における光損失の制御により補償し、2段目の可変光減衰器52における光損失は一定とする。
(ii)利得設定値GSETが基準値G0より大きい場合(GSET>G0)、利得設定値GSETの変化を2段目の可変光減衰器52における光損失の制御により補償し、1段目の可変光減衰器51における光損失は一定とする。
上記(ii)の場合には、1段目の可変光減衰器51の光損失が固定になるので、2段目の可変光減衰器52の制御も含めた光増幅器全体の利得一定制御は、前述した第2実施形態の場合と同様となる。
一方、上記(i)の場合には、各EDF11,21,31の発生利得G1,G2,G3
が一定に保たれるとき、各々のEDFの信号光入力強度Ps1,Ps2,Ps3の間には、次の(16)式および(17)式に示す関係が成立する。
Ps1/Ps2=a12/GSET …(16)
Ps1/Ps3=a13/GSET …(17)
ただし、a12,a13は比例係数であり固定値である。
各EDF11,21,31の増幅特性が上述の図3に示したような線形性を有する場合、各々のEDFの励起光強度Pp1,Pp2,Pp3は、前述した(11)〜(13)式と同様の関係で表すことができるので、上記(16)〜(17)式と(11)〜(13)式とにより、各EDFの励起光強度Pp1、Pp2、Pp3の間の関係は、次の(18)式および(19)式で表すことができる。
(Pp1−b1)/(Pp2−b2)=c12/GSET …(18)
(Pp1−b1)/(Pp3−b3)=c13/GSET …(19)
ただし、c12=a12×a1/a2,c13=a13×a1/a3であり、c12,c13は固定値である。
したがって、(i)GSET>G0の場合についても、上記(18)式および(19)式
における定数b1〜b3,c12,c13を、光増幅器の光回路構成やEDFの増幅特性に基づき、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲を考慮して適切に設定することにより、当該(18)式および(19)式の関係に従って、光増幅器全体の利得設定値GSETに対応した、1,2段目のEDFの励起光強度の比率(Pp1/Pp2)および1,3段目のEDFの励起光強度の比率(Pp1/Pp3)をそれぞれ算出することができる。具体的には、利得設定値GSETが大きくなるにつれて、各々の励起光強度の比率(Pp1/Pp2),(Pp1/Pp3)を小さくすればよい。
このように、基準値G0に対する利得設定値GSETの大小関係に応じて、利得設定値GSETの変化を補償する可変光減衰器51,52を切り替えると共に、利得設定値GSETに応じて最適化した励起光強度の比率(Pp1/Pp3),(Pp2/Pp3)若しくは(Pp1/Pp2),(Pp1/Pp3)に従い、上述した第1実施形態の場合と同様にして、利得制御部40および光損失制御部501,502により光増幅器全体の利得一定制御を行うことで、各EDF11,21,31での発生利得G1,G2,G3は、利得設定値GSETの変化に関係なく、MPI−XTおよびNF劣化の許容範囲内で一定となる。図11に第3実施形態の光増幅器におけるレベルダイヤの一例を示しておく。
よって、第3実施形態のような構成を適用しても、各EDF11,21,31での発生利得G1,G2,G3を適切な範囲に保ちながら光増幅器全体の利得一定制御を高速に行うことができ、MPI−XTやNF劣化による光伝送特性への悪影響を回避することが可能になる。
なお、上述した第1〜第3実施形態では、2段または3段の光増幅部を備えた光増幅器について説明したが、光増幅部が4段以上の場合についても各実施形態と同様にして本発明を適用することが可能である。
以上、本明細書で開示した主な発明について以下にまとめる。
(付記1) 信号光が入力される光入力ポートおよび信号光が出力される光出力ポートと、
光増幅媒体および該光増幅媒体を励起する励起光源をそれぞれ有し、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間に直列に接続された複数の光増幅部と、
前記各光増幅部の間の光路上に挿入された少なくとも1つの可変光減衰部と、
前記各光増幅部での発生利得の和が一定となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御する利得制御部と、
前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間で得られる信号光の全体利得が、前記光入力ポートに入力される信号光の状態に応じて設定される利得設定値で一定となるように、前記可変光減衰部における光損失を制御する光損失制御部と、を備えた光増幅器であって、
前記利得制御部は、2段目以降の前記各光増幅部の励起光強度に対する1段目の前記光増幅部の励起光強度の比率が、前記利得設定値の増大につれて小さくなると共に、当該励起光強度の比率が、信号光の増幅特性に基づいて定めた第1の閾値以下で、かつ、第2の閾値以上となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御する構成としたことを特徴とする光増幅器。
(付記2) 前記利得制御部は、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間で発生する多光路干渉の許容範囲の上限レベルを前記第1の閾値とすることを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記3) 前記利得制御部は、前記各光増幅部の雑音指数劣化の許容範囲の下限レベルを前記第2の閾値とすることを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記4) 前記利得制御部は、前記利得設定値の変化に関係なく、前記各光増幅部での発生利得が一定に保たれるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御し、
前記光損失制御部は、前記可変光減衰部における光損失を変化させることで、前記利得設定値の変化を補償することを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記5) 前記利得制御部は、前記励起光強度の比率が前記利得設定値の増大につれて連続的に小さくなるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御することを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記6) 前記利得制御部は、前記励起光強度の比率が前記利得設定値の増大につれて段階的に小さくなるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御することを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記7) 前記利得制御部は、前記利得設定値の可変範囲のうちの一部の区間において、前記励起光強度の比率が前記利得設定値の増大につれて連続的に小さくなり、前記利得設定値の可変範囲のうちの残りの区間において、前記励起光強度の比率が一定となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御することを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記8) 前記各光増幅部の光増幅媒体は、希土類が添加された光ファイバであることを特徴とする付記1に記載の光増幅器。
(付記9) 前記各光増幅部の光増幅媒体は、エルビウム添加ファイバであり、該エルビウム添加ファイバの増幅特性が、信号光入力強度、励起光強度および発生利得の間の関係に線形性を有することを特徴とする付記7に記載の光増幅器。
(付記10) 付記1に記載の光増幅器を備えて構成されたことを特徴とする波長多重光伝送システム。
本発明の第1実施形態による光増幅器の構成を示すブロック図である。 上記第1実施形態について異なる利得設定値に対応したレベルダイヤの一例を示す図である。 EDFの基本的な増幅特性を示す図である。 上記第1実施形態における励起光強度の比率と利得設定値との関係の一例を示す図である。 上記第1実施形態における1段目のEDFでの発生利得と利得設定値との関係の一例を示す図である。 上記第1実施形態に関連した励起光強度の比率と利得設定値との関係の他の例を示す図である。 上記第1実施形態に関連した励起光強度の比率と利得設定値との関係の別の例を示す図である。 本発明の第2実施形態による光増幅器の構成を示すブロック図である。 本発明の第3実施形態による光増幅器の構成を示すブロック図である。 上記第3実施形態について利得設定値に対する各可変光減衰器の光損失の関係の一例を示す図である。 上記第1実施形態について異なる利得設定値に対応したレベルダイヤの一例を示す図である。 従来の光増幅器の構成例を示すブロック図である。 利得一定制御の高速化に有利な構成例を示すブロック図である。 光増幅器におけるMPI−XTを説明するための図である。 図13の構成について各EDFの励起光強度の比率を大きく設定した場合の一例を示す図である。 図13の構成について各EDFの励起光強度の比率を小さく設定した場合の一例を示す図である。 図13の構成において利得設定値の変化により生じるMPI−XTおよびNF劣化の様子を示す図である。
符号の説明
1,2,3…光増幅部
5,51,52…可変光減衰器(VOA)
7…光アイソレータ
8…利得等化器(GEQ)
11,21,31…エルビウム添加ファイバ(EDF)
12,22,32…励起光源(LD)
13,23,33…WDMカプラ
40…利得制御部
50,501,502…光損失制御部
41,43,51,53…光分岐カプラ
42,44,52,54…光検出器(PD)
IN…光入力ポート
OUT…光出力ポート
S…信号光
1,P2,P3…励起光
SET…利得設定値

Claims (5)

  1. 信号光が入力される光入力ポートおよび信号光が出力される光出力ポートと、
    光増幅媒体および該光増幅媒体を励起する励起光源をそれぞれ有し、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間に直列に接続された複数の光増幅部と、
    前記各光増幅部の間の光路上に挿入された少なくとも1つの可変光減衰部と、
    前記各光増幅部での発生利得の和が一定となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御する利得制御部と、
    前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間で得られる信号光の全体利得が、前記光入力ポートに入力される信号光の状態に応じて設定される利得設定値で一定となるように、前記可変光減衰部における光損失を制御する光損失制御部と、を備えた光増幅器であって、
    前記利得制御部は、2段目以降の前記各光増幅部の励起光強度に対する1段目の前記光増幅部の励起光強度の比率が、前記利得設定値の増大につれて小さくなると共に、当該励起光強度の比率が、信号光の増幅特性に基づいて定めた第1の閾値以下で、かつ、第2の閾値以上となるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御する構成としたことを特徴とする光増幅器。
  2. 前記利得制御部は、前記光入力ポートおよび前記光出力ポートの間で発生する多光路干渉の許容範囲の上限レベルを前記第1の閾値とすることを特徴とする請求項1に記載の光増幅器。
  3. 前記利得制御部は、前記各光増幅部の雑音指数劣化の許容範囲の下限レベルを前記第2の閾値とすることを特徴とする請求項1に記載の光増幅器。
  4. 前記利得制御部は、前記利得設定値の変化に関係なく、前記各光増幅部での発生利得が一定に保たれるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御し、
    前記光損失制御部は、前記可変光減衰部における光損失を変化させることで、前記利得設定値の変化を補償することを特徴とする請求項1に記載の光増幅器。
  5. 前記利得制御部は、前記励起光強度の比率が前記利得設定値の増大につれて連続的に小さくなるように、前記各光増幅部の励起光強度を制御することを特徴とする請求項1に記載の光増幅器。
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