JP5196422B2 - マイクロバルブ形成のための選択的ボンディング - Google Patents

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Description

本発明は、一般に、制御バルブおよび半導体エレクトロメカニカル装置に関し、詳しくは、マイクロマシン制御バルブの形成方法に関する。
MEMS(マイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム)は、マイクロメートル範囲のサイズを持つ特徴(feature)を有する物理的に小さいある種のシステムである。これらのシステムは、電気的および機械的な両方の構成要素(component)を有している。用語「ミクロ機械加工」(micromachining)は、一般にMEMS装置の3次元構造および可動部品の生産を意味すると理解される。MEMSは、そもそも修正した集積回路(コンピュータ・チップ)[integrated circuit(computer chip)]作製技術(化学エッチングなど)と材料(シリコン半導体材料など)をこれらの微小なメカニカル装置のミクロ機械加工に用いた。今では、更に多くの利用可能なミクロ機械加工技術と材料がある。本明細書の中で用いられている用語「マイクロバルブ」(microvalve)は、マイクロメートル範囲のサイズを持つ特徴を有し、したがって定義により少なくとも部分的にミクロ機械加工によって形成されているバルブを意味する。本明細書で用いられる用語「マイクロバルブ装置」は、マイクロバルブを含み、かつ他の構成要素も含むことができるデバイスを意味する。マイクロバルブ装置中にマイクロバルブ以外の構成要素が含まれる場合に、これら他の構成要素は、ミクロ機械加工による構成要素か、標準の大きさの(より大きい)構成要素であってよいことに留意されたい。
種々のマイクロバルブ装置が、流体回路内の流量制御用に提案されてきた。一般にマイクロバルブ装置は、閉位置と全開位置の間の動きのために本体によって可動に支持され、動作可能にアクチュエータに結合される変位可能な部材またはバルブを備える。閉の位置にある場合、バルブは、第2流体ポートと連絡する流体内に置かれている第1流体ポートを遮断つまり閉鎖し、したがってこれら流体ポートの間を流体が自由に流れるのを妨げる。バルブが、閉位置から全開位置に動くと、流体がこれら流体ポート間をだんだん流れるようになる。開示が参照により全体として本明細書に組み込まれる、Maluf等の米国特許第6,761,420号として発行されている米国特許出願公開2003/0098612A1号は、第1、第2、および第3層を有するマイクロバルブ装置を開示している。第2層は、第1と第3層の間にボンディングされ、変位可能な部材(バルブ)をそこに有するこれらの層の間に空洞を形成する。開示が参照により全体として本明細書に組み込まれる、「Pilot Operated Microva lve Device」という名称の米国特許第6,540,203号は、電気的に操作されるパイロット・マイクロバルブとその位置がパイロット・マイクロバルブによって制御されるパイロット操作されるマイクロバルブとからなるマイクロバルブ装置について説明している。開示が参照により全体として本明細書に組み込まれる、「Microvalve for Electronically Controlled Transmission」という名称の米国特許第6,494,804号は、流体回路内の流量を制御するマイクロバルブ装置について説明しており、分圧回路を形成する開口を介した流出路の使用を含んでいる。
変位部材を動かすのに足る力の生成に加えて、アクチュエータは、変位部材(displaced member)の意図する変位を妨げる変位可能部材(displaceable member)に働く流体流力(fluid flow force)に打ち勝つことのできる力を生成しなければならない。一般に、これらの流体流力は、流体ポートを通る流速が増加するにつれて増加する。
マイクロバルブの作製の一方法は、シリコン・フュージョン・ボンディング(silicon fusion bonding)などのフュージョン・ボンディングおよびディープ・リアクティブ・イオン・エッチング(DRIE)(deep reactive ion etching)を含む。ウェハ・ボンディングは、1つのシリコン層をもう1つの層に接着して単一の機械的構造を形成することを可能にする。ウェハ・ボンディング工程の一種、フュージョン・ボンディングは、分子レベルで行われることが実証されており、非常に高い機械的強度をもたらす。フュージョン・ボンディング技法はよく知られている。例えば、開示が参照により全体として特に本明細書に組み込まれる、K.E.Petersen、D.Gee、F.Pourahrnadi、J.BrownおよびL.Christelの「Surface Micromachined Structures Fabricated with Silicon Fusion Bonding」という名称の、Proceedings,Transducers 91、1992年6月、397〜399頁を参照されたい。陽極ボンディング、はんだボンディング、接着ボンディングを含む他の例の種類のウェハ・ボンディングが、やはりこの文献の中に説明されている選択的ボンディング工程に適用できる。
発明の要約
様々なマイクロバルブ形成方法が、過去に使用されてきたが、マイクロバルブ装置製造のコストを削減し、製造し易さを増す改善された方法を工夫することは有益である。
本発明は、複数の層を選択的にボンディングする方法に関する。その方法は、第1層および第2層を提供することを含む。第1層と第2層のうち少なくとも1つの一部分が被覆材料で被覆される。次いで、第1層と第2層が互いにボンディングされる。被覆された部分と被覆されない部分が互いに隣接して置かれる場合、被覆は、被覆された部分が他の層の被覆されない対向部分にボンディングするのを防止する。
その方法は、第1シリコン層および第2シリコン層の提供も含むことができる。第2シリコン層の一部分は、エッチングされて摺動部分と層部分を形成する。摺動部分は層部分に対して移動できる。第1シリコン層の一部分は、被覆材料で被覆される。被覆された部分は、摺動部分の寸法および形状に一致する寸法および形状を有する。第1シリコン層の被覆された部分が、ほぼ第2シリコン層の摺動部分に位置合わせされるように第1シリコン層が、第2シリコン層の上に置かれる。最終的に、ボンディング動作が、実施されて第1シリコン層を第2シリコン層にボンディングする。ボンディング動作の間、第2シリコン層の層部分は、第1シリコン部分にボンディングし、一方、被覆材料は、摺動部分を第1シリコン層から分離して摺動部分が、第1層とボンディングするのを防止する。
添付の図面に照らして読み取ると、本発明の様々な目的と利点が以下の詳細な説明から当業者に明らかになるであろう。
当技術分野では、様々な種類のマイクロマシン装置が知られている。これらの装置の多くは複数の一緒にボンディングされている層を有して形成されている。次に図を参照すると、本発明に従って形成し得、全般的に10で表示されているマイクロバルブの分解図が図1に図示されている。マイクロバルブ10は、大まかに、3つの層または基板、第1層12、第2層14および第3層16を備える。第1層12は、入口ポート20および出口ポート22を画定する。第2層14は、第1層12と第3層16の間に確保され、入口ポート20と出口ポート22の間の流体流を可能にする流路面積を含む空洞24を画定する。更に、第2層14は、入口ポート20を開閉するために熱アクチュエータ28、30に応答して変位可能である変位可能部材26を画定する。図示された実施形態では、変位可能部材26は、細長くなっている。アクチュエータ28、30の電気的温度加熱用の電気接点32a、32b、34aおよび34bが、それぞれ第3層すなわちキャップ層16を貫くビア内に設けられる。
電流などの入力が電気接点32a〜b、34a〜bを介して各アクチュエータ28、30に印加されると、各アクチュエータ28、30は、それぞれ矢印D28およびD30によって示された方向に力を加える。矢印D28およびD30によって示された方向の力により、変位可能部材26が矢印D26によって示された方向に変位させられ、したがって変位可能部材26の少なくとも一部分は入口ポート20に対して垂直方向に位置合わせされるようになる。したがって電流は、アクチュエータ28、30を作動させる入力刺激として働く。入口ポート20に対して変位可能部材26が少なくとも部分的に垂直方向に位置合わせされると、少なくとも部分的に入口ポート20が閉鎖される。変位可能部材26の変位または位置合わせの分量は、例えば入口ポート20から出口ポート22へマイクロバルブ10を通る流体流の速度を制御するように選択することができる。アクチュエータ28、30に入力が印加されなくなると、アクチュエータ28、30は、それぞれ矢印D28およびD30によって示されたものと反対の方向に力を及ぼし、矢印D26によって示されたものと反対方向に変位可能部材26を変位させることによって変位可能部材26を入口ポート20に対して常時開の位置(normally open position)に戻す。
別法として、変位可能部材26が入口ポート20に対して常時閉位置(normally closed position)にあり、入口ポート20を開けるのに変位可能であるように、マイクロバルブ10が構成されてよい。別の代替の実施形態では、変位可能部材26が、出口ポート22に対して常時開または常時閉位置にあり、出口ポート22を閉じる、または開くのに変位可能であるように、マイクロバルブ10が構成されてよい。
好ましくは、各第1、第2および第3層12、14、16は、シリコンまたは半導体材料で作製される。別法として、第1および/または第3層12、16が、ガラス(Pyrex)、非導電セラミック(nonconductive ceramic)または任意の他の非導電材料で作製されてよい。好ましくは、第2層14は、強度があり、可撓性で、かつ性能劣化に対しより耐性を有するのでドープ単結晶半導体(SCS)であるが、任意の導電材料で作製されてもよい。
一般に本明細書ではマイクロバルブ10は、入口ポート20を開閉するものとして説明されているが、そのような説明は、単に例示のためのものにすぎず、明らかに、マイクロバルブ10は、出口ポート22を開く、または閉じるように容易に適合させることができる。更に、マイクロバルブ10が、本明細書では、常時開(N.O.)バルブとして説明されているが、マイクロバルブ10は常時閉(N.C.)バルブであるように容易に適合させることができる。加えて、本明細書の説明を分かり易く簡潔にするために、一般にアクチュエータ28とそれに対応する電気接点32a〜bだけが説明されることになるが、説明は同じようにアクチュエータ30と電気接点34a〜bにも適用できる。
図1では、第1層12内だけにくぼみ18が見られるが、第1および第3層12、16が、浅いくぼみ(recess)18を画定する。くぼみ18は、第2層14の変位可能部材26およびアクチュエータ28、30に位置合わせされた領域内に画定され、第1層と第3層12、16の間で変位可能部材26およびアクチュエータ28、30を吊下げるための、また第2層14の面内で、空洞24内でそれらが変位するためのクリアランスを提供する。更に、空洞24を通る流体流を流れ易くするように、くぼみ18は、やはり空洞24と位置合わせされた領域内に画定されてよい。代替的または追加的に、第2層14の変位可能部材26およびアクチュエータ28、30は、第1および第3層12、16より凹ませる、つまり薄くし、それらとの間にクリアランス(clearance)をもたらすことができる。加えて、変位可能部材26が入口ポート20の上に位置合わせされて流体流をせき止める場合、変位可能部材26と入口ポート20の間の間隔(distance)を縮めることによって流体漏れを最小にするために、くぼみ18および凹みは、変位可能部材26と各第1および第3層12、16の間の入口20近傍の領域内に約0.5μmのクリアランスを設けることがある。更に、くぼみ18および凹みは、流体または気体圧力差(fluid or gas pressure differential)を最小にするためにアクチュエータ28、30と各第1および第3層12、16の間の領域などの他の領域内で約1μm以下のクリアランスを設けることがある。
電気接点32a〜bが、第3層16内に提供され熱アクチュエータ28に縦方向に位置合わせされる。電気接点32a〜bは、ビアを通してアクチュエータ28に電流を印加する電気接触を提供する。リブ48が、接点32a〜bの間の第2層14を通る導電路として働く。電気接点32a〜bは、好ましくはリブ48によって形成される導電流路(current conduction path)以外は絶縁されている第2層14の領域と電気接触している。そのような電気的絶縁(electrical isolation)は、第2層14内に、電気接点32a〜bの間の短絡を防ぐトレンチ36を設けることによって確保されてよい。
変位可能部材26は、熱アクチュエータ28、30と接触して第1アクチュエータ端部40と、入口ポート20開閉用に配置され、成形された第2ストッパー端部42とを有する。変位可能部材26は、第1アクチュエータ端部40からストッパー端部42の方に断面積が増加する。第2ストッパー端部42でより大きな断面積が、変位可能部材26の能力を最大化して、流体差圧に耐える。リブ48を通る電流印加が、リブに熱的膨張を引き起こし、それが、ひいては軸44に変位可能部材26上で、矢印D28によって示された方向に力を及ぼす。
マイクロバルブ10の動作は、やはり、その開示が参照により全体として本明細書に組み込まれるHunnicuttの米国特許第6,637,722号および国際特許出願公開WO01/71226号に説明されている駆動機構と実質的に類似である。マイクロバルブ10の構成要素および全般的な動作が、マイクロバルブの例示のための唯一の実施形態として上述されてきた。しかし、マイクロバルブは、マイクロバルブ10の所望の応用によって決まる任意の望ましく、かつ適した構造または設定を有することができる。本明細書で説明されたマイクロバルブ10に代わって用途によってはふさわしいと思われるマイクロバルブの追加の詳細な構造や動作が、前述の参照によって組み込まれた参考文献中に見出されてよい。
図1に1つ示されたような、複数の層から形成されるマイクロバルブの作製は、シリコン・フュージョン・ボンディングなどのフュージョン・ボンディングおよび深堀り反応性イオン・エッチング(DRIE)によって達成されてよい。フュージョン・ボンディングは、1つのシリコン層を別の層にボンディングして単一の機械構造を形成可能にする。フュージョン・ボンディングは、分子レベルで行われることが実証されており、非常に高い機械的強度を提供する。フュージョン・ボンディング技法はよく知られている。例えば、参照により全体として本明細書に特に組み込まれる、K.E.Petersen、D.Gee、F.Pourahmadi、J.BrownおよびL.Christelの「Surface Micromachined Structures Fabricated with Silicon Fusion Bonding」という名称の、Proceedings,Transducers 91、1992年6月、397〜399頁を参照されたい。
本発明の好ましい実施形態によるマイクロストラクチャ作製工程が、図2A〜2Fを参照して説明される。本実施形態は、3つのシリコン層またはウェハ(例えば、12’、14’および16’)を使用する。3つのシリコン層を用いて、工程は、第2層14’に相当する第2層の集積部分として前述された単結晶シリコン構造(SCS)マイクロストラクチャの形成ということになる。第1および第3層12’、16’は、第2層14’の支持体として働く。別法として、支持体は、例えば、ガラス(Pyrex)または、限定しないが任意の適した結晶、金属またはセラミック材料を含む、任意の他の適した材料で形成されてよい。以下の説明は、3層12’、14’、16’だけに言及するが、当然、原理は2層以上の積層を含むマイクロストラクチャの形成に適用し得ると理解されるであろう。
図2Aでは、第1層12’がフォトレジストでパターン化されて層内に形成されるべきくぼみ領域100を画定し、かつ、くぼみ領域100が、例えばプラズマ・エッチング、KOHまたは他のシリコン・エッチング液での湿式エッチング、あるいは示差的な酸化膜成長などの、標準的な半導体技法を用いて形成される。くぼみ領域100は、どれか任意の外形を有することができ、更に例えば0.1μm未満から、100μmより厚い、任意の所望の深さを有してよい。この実施形態では、くぼみ領域100は約1μmの深さを有する。
くぼみ領域100は単一の一様な深さを有する必要がないことを理解されたい。例えば、種々の標準的シリコン・エッチング段階が利用されて、別個の機械的機能用に使用可能である様々な異なる深さを生成し得る。別法として、または追加的に、第2層14’が、第1層12’および第3層16’よりくぼみをつけられ前述されたように、それらとの間にクリアランスを与えることも理解されたい。更に、各第1層表面12’aおよび第3層表面16’aは、ベア・シリコンであっても酸化物層で被覆されてもよい。くぼみ領域100の基部102は、ベア・シリコン、酸化シリコン、ドープ・シリコンのいずれであっても、後続の層ボンディングおよび処理温度に耐えることができる任意の他の薄膜で被覆されてもよい。
図2Bに示されているように、次いで入口ポート104が、第1層12’を貫通してエッチングされる。図示されていないが、出口ポートが、同時に第1層12’を貫通してエッチングされてよい。代替的または追加的に出口ポートが、同時に第3層16’を貫通してエッチングされてもよい。
図2Cでは、第1層12’のパターン表面が、シリコン・フュージョン・ボンディング(つまり直接ボンディング)工程によって、好ましくはドープされた第2層14’にボンディングされる。フュージョン・ボンディング技法はよく知られている。例えば、開示が参照により全体として本明細書に組み込まれる、K.E.Petersen、D.Gee、F.Pourahmadi、R.Craddock,J.BrownおよびL.Christelの「Surface Micromachined Structures Fabricated with Silicon Fusion Bonding」という名称の、Proceedings,Transducers 91、1992年6月、397〜399頁を参照されたい。好ましいフュージョン・ボンディング技法では、第1層12’および第2層14’は親水性にされる。すなわち層12’、14’は、熱硝酸または熱硫酸および過酸化水素水溶液または他の強い酸化剤などの化学薬品で処理され、それによって水をそれらの層に付着させる。乾燥の後、次いで2つの層12’、14’は、約1時間、400℃〜1200℃の温度の酸化雰囲気中で調整(paced)される。
上述されたシリコン・フュージョン・ボンディング技法は、単結晶シリコン層と異なる熱膨張係数を有することがある中間の接着材料を使用せずに、第1層12’と第2層14’を共にボンディングする。更に、フュージョン・ボンディングは、層12’、14’の一方または両方のボンディングされる表面に酸化物または窒化物層が形成されて実施されてよい。
フュージョン・ボンディングに代わって、例えば第1および第2層12’、14’が、フォトレジストなどの粘着剤で共に接着されてもよい。代替として、第1および第2層12’、14’は、金などの金属層で被覆された主面を有し、その層を互いに合金化するのに用いることもできる。ガラス支持体が、第1シリコン層12’の代わりに使用される場合には、第2層14’はそのようなガラス支持体に陽極(結合)されてよい。
もし必要なら、第2層14’は、特定の応用によって必要とされる厚さに薄くされ、研磨されてよい。別法として、電気機械的エッチング(ECE)が層を薄くするために使用されてよい。拡散される発熱体が、拡散によって第2層14’の平面内へ組み込まれることがある。更に、任意の必要な回路または他の薄膜堆積とパターン化が、標準のシリコン加工技術を用いて実施されてよい。
次いで、第2層は、エッチングされるべき層の領域を画定する、深堀り反応性イオン・エッチング(DRIE)段階のためにパターン化される。DRIE技法は、ますます、よく知られるようになってきている。例えば、以下A.A.Ayon、C.C.Lin、R.A.BraffおよびM.A.Schmidtの「Etching Characteristics and Profile Control in a Time−Multiplexed ICP Etcher」という名称のProceedings of Solid State Sensor and Actuator Workshop、Hilton Head Island、SC、1998年、6月、41〜44頁、V.A.Yunkin、D.FischerおよびE.Vogesの「Highly Anoisotropic Selective Reactive Ion Etching of Deep Trenches in Silicon」という名称のMicromechanical Engineering、Vol.23、1994年、373〜376頁、C.Linder、T.Tschan、N.F.de Rooijの「Deep Dry Etching Techniques as a New IC Compatible Tool for Silicon Micromachining」という名称のProceedings,Transducers ’91、1991年6月、524〜527頁、C.D.FungおよびJ.R.Linkowskiの「Deep Etching of Silicon Using Plasma」という名称のProceedings of the Workshop on Micromachining and Micropackaging of Transducers、1984年、11月7〜8日、150〜164頁、ならびにJ.W.Bartha、J.Greeschner、M.PuechおよびP.Maquinの「Low Temperature Etching of Si in High Density Plasma Using SF/O」という名称のMicroelectronic Engineering、Vol.27、1995年、453〜456頁を参照されたい、これら全ての開示が参照により全体として本明細書に組み込まれる。現在では反応性イオン・エッチング装置は、非常に深い(100μmより深い)穴やトレンチのエッチングを可能にし、一方高いアスペクト比(エッチングされる領域の深さと幅の比)を維持する。この装置では、300μmほどの深さのトレンチに対し少なくともアスペクト比30:1が可能であることが分かっている。
DRIEは、本質的に化学エッチングとイオン打込みの相乗効果を含む。電圧を付加された衝突イオンが、化学的にシリコン表面と反応する。DRIE工程は、有利にシリコン結晶面または結晶方位に関係なく横方向よりも縦方向に(つまり、異方性に)相当速い速度でエッチングする。その結果、全般に106で示された、相対的に深いほぼ垂直なトレンチまたはスロットが、単結晶シリコン(SCS)第2層14’内に形成可能である。これらのほぼ垂直なトレンチまたはスロットが、第2層14’中のどこにでも層14’内の結晶方位に関係なく形成されてよい。したがって、容量性または静電的な平板などの高いアスペクト比の構造が形成可能であり、円、楕円および螺旋などの任意の外形の構造が形成可能である。
図2Dに示されているように、DRIE工程が、第2層を完全に貫通してエッチングするのに使用されて、変位可能部材108およびアクチュエータ106を画定する。DRIEエッチング段階は、機械的に第2層14’に形成された単結晶シリコン(SCS)・マイクロストラクチャを取り外し、したがってそのマイクロストラクチャは、第2層14’の面に対し、またその面内で自由に動かすことができる。アスペクト比20:1(高さ/幅))以上の吊下げの平板/梁構造が、以下に説明されるDRIE工程を使用して作製されている。
誘導結合プラズマ源は、マスクとしてフォトレジストまたは二酸化シリコンを用いてシリコンをエッチングする。エッチングされるトレンチ106の側壁上で原料ガスの重合が、横方向のエッチング速度を落とし、高い異方性を可能にする。エッチング化学物質は、例えば、50mTorrでのSF6である。サーフェイス・テクノロジー・システムズ(Surface Technology Systems)から入手可能な酸素添加ガスおよびフッ素処理ガスは、高いSi/フォトレジスト・エッチング速度比をもたらすのに役立つ。6ミクロンのフォトレジストが、パターン・マスクとして使えることがある。フォトレジスト選択比が約50:1であり、約6μmのレジストで深さ300μmのエッチングが可能になる。RIEシステムが、誘導結合プラズマDRIEを実施するのに使用可能であり、カリフォルニア州レッドウッド市(Redwood City)に事業所のあるサーフェイス・テクノロジー・システムズ(Surface Technology Systems)またはフロリダ州セント・ピーターバーグ(St.Petersburg,Florida)にあるユナキス・ユー・エス・エイ・インコーポレイテッド(Unaxis USA,Inc.)から入手可能である。
ウェハボンディングとDRIEの組合せは、本発明のマイクロバルブ10’などの層12’、14’および16’からなる3次元構造の構成を可能にする。例えば、E.H.Klaassen、K.Petersen、J.M.Noworolski、J.Logan、N.I.Maluf、J.Brown、C.Storment、W.McCulleyおよびG.T.A.Kovacsの「Silicon Fusion Bonding and Deep Reactive Ion Etching;A New Technology for Microstructures」という名称のProceedings,Transducers95、Stockholm、Sweden、1995年、556〜559頁を参照されたい。
図2Eでは、第3層16’のパターン表面110が、図2Cを参照して前述されたシリコン・フュージョン・ボンディング(つまり直接ボンディング)工程によって第2層14’にボンディングされる。図示されていないが、ボンディング前に第3層16’が、層を貫通するコンタクト・ホールつまりビアばかりでなく、第1層12’と同じように処理されてくぼみ領域112、入口ポート114および出口ポート116も画定可能であることを理解されたい。
図2Fに示されたように、アルミニウムなどの電気的に導電性の材料層120が、コンタクト・ホールつまりビアの表面118、コンタクト・ホールを通して露出された第2層14’の表面および第3層16’の平らな外表面の少なくとも一部16’bの上にスパッタリングなどによって堆積される。したがって導電層120は、ボンディング・パッドを形成しアクチュエータ106と電気的接触できる。任意の必要な回路または他の薄膜堆積ならびにパターン化が、第3層16’上に標準のシリコン加工技術を用いて実施可能である。
いくつでも変形形態が、容易にこの工程内に組み込み可能である。例えば、第1層、第2層12’および/または第3層16’が、シリコンでない他の適切な材料で作製されてよい。マイクロバルブ10’が3層(例えば、12’、14’、16’)より多い層から形成されても、あるいは任意の他のマイクロメカニカル装置が2つ以上の層から形成されてもよい。更に、浅い空洞が、第1および第3層12’、16’内とは別に、または第1および第3層12’、16’に加えて第2層14’に画定可能である。別法として、各層12’、14’、16’が、別々に処理され、次いで位置合わせされたボンディング段階によって組立てられてよい。他の種類のボンディングが、ウェハを共にボンディングするのに使用可能である。明らかなように、当業者は、容易に、そのことでも、また例えば単なる配置変更によって作製工程に多くの他の変更形態もなし得る。
非常に単純化されたマイクロバルブ装置が図3に示されている。図示されたマイクロバルブ組立て品10”は、第1層12”および第2層14”を含む。第3層(図示されていない)が、マイクロバルブ組立て品10”と共に使用されてよいし、ほぼ第1層12”と同じであると思われている。前述されたように、ほぼ長方形を有する第1層12”が、それを貫通して形成される複数の開口を含むことができる。第1層12”および第3層に一致するほぼ長方形の形状と寸法を有する第2層14”は、第2層14”の前面52および背面に共に形成されるチャネル(図示されていない)ばかりでなく、そこを貫通して形成される少なくとも1つの開口をも含むことができる。ほぼ長方形て、第1層12”および第2層14”に一致する寸法を有する第3層が、第2層14”を貫通して形成される少なくともいくつかの開口の位置に対応する位置に貫通して形成される少なくとも1つの開口をも含むことができる。
多くのマイクロバルブ装置(図1に示されたように)は、1つまたは複数の層12、14、16内に形成された複数のポート20、22を利用して、流体源からバルブ10を介して負荷およびリザーバへ流体連通をもたらす。前述のように多くのバルブが、流体ポート開閉用に第2層本体によって支持される摺動可能なバルブ部分を含むことができる。第2層は、バルブ部分を動かすためのバルブ部分に操作可能に結合されているアクチュエータも含むことができる。マイクロバルブ部分は、バルブ部分によって制御される流体によって配置される。マイクロバルブは、第2層内に形成された空洞内で第1位置と第2位置の間に可動に配置されるスライド・バルブを含むことができる。バルブ配置によって決まって、スライド・バルブを第1位置から第2位置に移動し、主要ポート間で流体流を可変に制限するためにポートを部分的に遮断および開放する。
マイクロバルブの第2層内に形成された可動の構成要素の動きを楽にするために、可動部分は隣接層にボンディングされない。これを実現するために、くぼみ部分を有する隣接層を形成することが知られており、したがってマイクロバルブの可動部分は、可動部分の動き(図1に示されたマイクロバルブ10に関連して説明されたように)を摩擦によって阻むことがある隣接表面を持たない。別法として、可動の構成要素は、それが一部である層の厚さより薄い厚さを有して形成し、可動部分がマイクロバルブ装置の隣接層に接触しないようにクリアランスを設けることができる。くぼみと、低減された厚さとの部材の任意の組合せを使用し、隣接構成要素との接着と摩擦をともなう嵌合を防ぐという所望の目的を果たすことができることを理解されたい。
開示が参照により全体として本明細書に組み込まれる、国際特許出願公開WO01/71226号は、層の領域がくぼみを付けられて、マイクロバルブ装置の様々な層の選択的ボンディング部分を提供可能であることを教示している。更に、マイクロバルブの層のくぼみを付けられた領域に被覆を適用することを教示している。そのようにする理由は、装置の層の間の漏れを防ぐことにある。被覆として使用される材料の組成、あるいは、その材料の特性がどのようなものであるかは開示されていない。それに対し、以下に説明されるように、本発明では、複数層のマイクロバルブの隣接層の部分の間に選択的ボンディングを提供する被覆の使用について説明する。本発明によれば、くぼみを形成し、またはバルブの可動部分の厚さを低減するのに必要とされる追加的段階(図2A〜2Fから理解可能であるように)は、省くことが可能であるか、あるいはそれらの必要性は削減可能である。別法として、本発明の工程は、前述された段階と併せて用いられてよい。
層ボンディング工程を実施する場合に、選択的ボンディング工程は、ボンディングしない領域を選択的に生成するのに利用される。好ましい実施形態では、窒化ケイ素(炭化ケイ素、ケイ素セラミック材料、ダイアモンド、フルオロカーボンなどの材料およびTeflonなどのポリマーが、その他の可能な被覆材料のいくつかである)などの被覆材料が、62で全般的に示されて、シリコン層のボンディング表面に選択的に配置される。後続の層ボンディング加工の間に、窒化ケイ素(SiN)または他の被覆材料62で覆われたこれらの領域が、被覆された領域が隣接するシリコン層に接触するところでボンディングしないことになる。シリコンが、シリコン(または二酸化ケイ素)と接触する領域に、ボンディングが生じることになる。したがって、一ボンディング層内でエッチングされ、その他のボンディングされる層に対して並進または回転することを意図される機械部品に相当する被覆材料62で覆われたボンディング領域は、層ボンディング工程後にボンディングされずに残ることになる。ボンディングされる層内の構造的領域などの他の領域は、好ましくは被覆材料62で覆われない。したがって、これらの被覆されない領域は、十分にボンディング可能となって、これらの層の間に十分な機械的強度と気密性をもたらす。
選択接着は、ボンディングされるべく選択された領域を被覆し、非ボンディング領域が被覆されずに残る工程を用いて成し遂げることもできる。この工程の方式では、金などの材料がボンディングされるべき領域に被覆として堆積される。次いで、ウェハが金被覆がある場所にだけに形成する結合で共にはんだボンディングされる。別法として、他の被覆層が、ボンディング動作を容易にするのに適用されることがある。例えば、シリコン、二酸化ケイ素、ガラス、金、銀などの金属、およびはんだ材料、およびセラミック材料が、ボンディング工程を促すのに使用されることもある材料である。
図3に示されているように、マイクロマシン装置10”の第1、第2層12”、14”が、図示されている。非常に単純化されたマイクロマシン装置10”が図示されているが、本発明のその工程は、図1および2に関して大体、前述されたこれらのデバイスなどの任意のレベルの複雑さのマイクロマシン装置に使用可能であることを理解されるであろう。図3では、マイクロマシン装置10”の第1層12”が、ほぼ長方形の、ほぼ連続的本体として示されている。第2層14”は、同様に寸法合わせされ、本体の中央部分が除去されているほぼ長方形の本体として示されている。前述されたように、中央部分は、エッチングなどの任意の適切な工程を用いて除去可能であり、それによってエッチング・スロット54を生成する。やはり、第2層14”の本体のエッチング・スロット54内に形成されるのが、マイクロマシン装置10”の可動部分56である。したがって、可動部分56の端部は、第2層14”の外側部58に固く取り付けられないことが好ましい。可動部分56は、所望なら、米国特許第6,540,203号に図示されているスプリング172と同様のフレキシブルなスプリング部材(図示されていない)によって外側部に弾性的に接続されることがある。前述されたように、可動部分56に接続されているアクチュエータ分(図示されていない)もそこにあってよい。しかし任意の適切な駆動機構が使用されてよい。可動部分56は、第2層14”に固く取り付けられていないので、可動部分56は、第2層に相対的に、エッチング・スロット54内で、移動できる。第3層は第1層12”の本体と同様に形成可能であり、したがって第2層14”の可動部分56は、第1層12”と第3層の間に制限されることになると予期されている。
好ましい実施形態では、第1層12”の下面上の領域60が、前述されたように被覆材料62で被覆される。第3層が、同様に被覆されることがあることも予期されている。選択された領域60にだけ被覆材料62を適用するために、任意の適切なマスク方法が用いられてよい。しかし、第2層14”の可動部分56が、第2層14”の可動部分56と第3層の間のボンディングを防止する別の手段を提供するために、第3層に対してくぼませることがある。同様に、第3層の部分が、ボンディング工程が実施される場合に、第2層14”の可動部分56が第3層に接触しないように、くぼませた部分を有することがある。
マイクロマシン装置10”を形成するために、被覆材料62が第1層12”の領域60に適用された後で、第1層12”の対応する隅と第2層14”が重ね合わされる。前述のように、マスク装置が使用されている場合、マスクが、第1層12”と第2層14”を重ねる前に取り除かれて(もし必要なら)よい。図3に示されているように、第1層12”上に示めされた隅Aと、第2層14”上に示された隅A’が互いに重ねられる。同様に、第1層上に示された隅Bと、第2層14”上に示された隅B’が、互いに重ねられる。一度、この重なり方で、層が配置されると、前述されたこれらの1つなどの層ボンディング工程が用いられて第1層12”と第2層14”を共にボンディングする。ボンディング工程は、シリコン直接ボンディング工程であることが好ましいが、任意の適切なボンディング工程が用いられてよい。被覆材料62の存在によって、第2層の可動部分56は、第1層12”とボンディングしないことになる。第1層12”の領域60が被覆材料62で覆われているとして示されているが、可動部分56が、やはり被覆材料62で覆われていても、または代替的に可動部分56だけが、そのように覆われていてもよいことを理解されるであろう。
被覆材料62で覆われた領域60は、好ましくは、第2層14”の可動部分56の寸法および形状にほぼ一致する。寸法および形状でエッチング・スロット54に一致する第1層12”上の全領域が、必ずしも被覆材料62で覆われる必要はない。好ましくは第2層14”の可動部分56がボンディング工程の間に単一の位置に維持され、したがって可動部分56は、ボンディング工程の間、第1層12”の被覆された部分とだけ接触したままなので、全領域の被覆は必要とされない。ボンディング工程が終わると、ボンディングが生じるのに必要とされる条件のいくつか(例えば、延長された時間、高められた温度など)が、バルブ10”の動作の間に存在しないことになるので、可動部分56は、それと共にボンディングしてないエッチング・スロット54内で移動できることになる。更に、一般に被覆材料62は、ボンディング工程が終わった後も、被覆された領域60の表面上に留まることになる。被覆された領域60上の残留被覆材料62は、マイクロマシン装置10”の層の間の漏れ防止にも役立ち得る。
好ましい実施形態では、被覆材料62は、約100Åと約10μmの間の厚さに適用される。好ましい厚さは、数100Åから数1000Åの間であることになる。被覆は、任意の適切な厚さを有して適用されてよいことを理解されるであろう。層の間の被覆の付加的な厚さを調整するために、第2被覆材料(図示されていない)が、被覆材料62を取り囲む領域に適用されてよい。第2被覆材料はボンディング工程を容易にする働きも、あるいはボンディング工程に何も影響しないことも可能である。別法として、または追加的に、被覆材料62をそこに適用される領域が、被覆されている層の厚さに比例して薄くされることがあり、したがって被覆材料62が所望の厚さに適用される場合、被覆材料の表面は、被覆されている層の隣接表面とほぼ同一平面になる。しかし、被覆材料62は、マイクロマシン装置の全体厚さに影響しない厚さを有し、したがって第2被覆または薄くする段階は、複数の層を合わせてボンディングする前に必要とされないことがあることも理解されたい。
代替的なマイクロバルブ形成方法が、図4A〜Dに図示されている。前の図3のように、マイクロマシン装置10’”のいくつかの層が、図4A〜Dに図示されている。非常に単純化されたマイクロマシン装置10’”が図示されているが、本発明のその工程は、図1および2に関して大体、前述されたこれらのデバイスなどの任意のレベルの複雑さのマイクロマシン装置に使用可能であることを理解されるであろう。この実施形態では、第2層14’”が提供される。マイクロマシン装置10’”の第2層14’”が、ほぼ長方形の、ほぼ連続的本体として示されている。しかし、第2層14’”の部分のエッチング前に第2層14’”の選択的領域が、前述された被覆材料62で覆われる。被覆材料62を選択された領域70だけに適用するために、任意の適切なマスク方法が使用されてよい。被覆62は、第2層14’”の可動部分66または部分の所望の形状および寸法に一致する領域70内の第2層14’”の上面および下面に(図4A〜Dに見られるように)共に適用されるのが好ましい。一度所望の領域70が被覆されると、第2層14’”の中央部分(スロット64)がエッチング可能である。スロット64を形成するための、第2層14’”を貫通してエッチングされるべき領域の内部および外部境界が、図4Aに破線で示されている。これらのエッチングされるべきでない領域が、エッチング工程によって影響されるのを防ぐためにマスクされるか、さもなければ保護されてよい。
前述されたように、第2層14”’内の中央部は、エッチングなどの適切な工程を用いて除去可能であり、それによってエッチング・スロット64を生成する。やはり、第2層14”’の本体のエッチング・スロット64内に形成されるのは、マイクロマシン装置10”’の可動部分66である。したがって、可動部分66の端部は、第2層14”’の外側部分68に固く取り付けられないのが好ましい。可動部分66は、所望なら米国特許第6,540,203号に図示されているスプリング172と同様のフレキシブルなスプリング部材(図示されていない)によって外側部に弾性的に接続されることがある。前述されたように、可動部分66に接続されているアクチュエータ分(図示されていない)がそこにあってよい。しかし、任意の適切な駆動機構が使用可能である。可動部分66は、第2層14”’に固く接続されていないので、可動部分66は、第2層に相対的に、エッチング・スロット64内で、移動できる。
第2層12”’と第3層16”’が、前述された任意の層のそれと同様に形成可能であることも予期されている。マイクロマシン装置10”’形成方法の次の段階は、第1層12”’と第3層16”’の間に第2層14”’の配置を含む。したがって、第2層14”’の可動部分66は、第1層12”’と第3層16”’の間に制限されることになる。一度、この重なり方で、層が配置されると、前述されたこれらの1つなどの層ボンディング工程が用いられて層12”’、14”’、16”’を合わせてボンディングする。ボンディング工程は、シリコン直接ボンディング工程であることが好ましいが、任意の適切なボンディング工程が使用されてよい。被覆材料62の存在によって、第2層14”’の可動部分66は、第1層12”’または第3層16”’とボンディングしないことになる。
被覆材料62で覆われた領域70は、好ましくは、第2層14”’の可動部分66の寸法および形状にほぼ一致する。寸法および形状でエッチング・スロット64に一致する第1層12”’および第3層16”’上の領域が、必ずしも被覆材料62で覆われる必要はない。第2層14”’の可動部分66は、好ましくはボンディング工程の間、単一の位置に維持され、したがって可動部分66はボンディング工程の間に、第1層12”’と第3層16”’の被覆された部分とだけ接触したままであることになるので、全領域の被覆は必要とされない。ボンディング工程が終わると、ボンディングが生じるのに必要とされる条件のいくつか(例えば、延長された時間、高められた温度など)が、バルブ10”’の動作の間に存在しないことになるので、可動部分66は、それと共にボンディングしてないエッチング・スロット64内で移動できることになる。更に、一般に被覆材料62は、ボンディング工程が終わった後も、被覆された領域70の表面上に留まることになる。被覆された領域70上の残留被覆材料62は、マイクロマシン装置10”’の層の間の可動部分66を通り抜ける漏れ防止にも役立ち得る。
本発明は、一般に、被覆された領域と隣接層との間で、ボンディングを妨げる一層または複数層の領域の被覆として説明されてきたが、本発明はボンディングされるべき領域だけが被覆材料で覆われ、ボンディングされな領域が被覆されずに残される実施形態にも適用可能であることを理解されたい。
図5に示されているのは、全般的に100で表示された流れ図であって、本発明の一実施形態でのマイクロバルブ形成段階を列記している。前述されたように、第1段階101で第1材料層が、与えられる。第2材料層が、第2段階102で与えられる。第3段階103では、被覆が第1層と第2層のうち少なくとも1つの一部分上に生成される。被覆は、その部分が、その他の第2層および第1層にボンディングするのを防止するのに効果的である。第4段階104では、第1および第2層が、互いにボンディングされる。
図6に示されているのは、全般的に200で表示された流れ図であって、本発明のもう1つの実施形態でのマイクロバルブ形成段階を列記している。第1段階201では、第1および第2材料が与えられる。第2段階202では、第1層が、ミクロ機械加工され第1層の停止位置に対して移動できる部分を形成する。第3段階203では、第2層の一部分が、後続のボンディング動作の間に第1層と第2層の間のボンディングを抑えるのに効果のある材料で被覆される。第4段階204では、第2層の被覆された部分が、第1層の可動部分に隣接して配置される。第5段階205では、ボンディング動作が実施され複数の層を合わせてボンディングする。
図7に示されているのは、全般的に300で表示された流れ図であって、本発明の他の実施形態でのマイクロバルブ形成段階を列記している。第1段階301では、第1および第2材料層が与えられる。第2段階302では、第1層がミクロ機械加工され第1層の静止位置に対して移動できる部分を形成する。第3段階303では、第2層の一部分が、後続のボンディング動作の間に第1層と第2層の間のボンディングを促すのに効果のある材料で被覆される。第4段階304では、第2層の被覆された部分が、第1層の静止部分に隣接して配置される。第5段階305では、ボンディング動作が実施され複数の層を合わせてボンディングする。
図8に示されているのは、全般的に400で表示された流れ図であって、本発明の他の実施形態でのマイクロバルブ形成段階を列記している。第1段階401では、第1部分および第2部分を有する第1シリコン層が与えられる。第2段階402では、第2シリコン層が与えられる。第3段階403では、第2シリコン層の一部分がエッチングされ、摺動部分と、層部分を形成する。第4段階404では、第1シリコン層の第1部分が、第2層の摺動部分の寸法および形状に一致する寸法および形状に被覆材料で被覆される。被覆材料は、後続のボンディング動作の間に摺動部分を第1シリコン層から分離するのに効果的であり、摺動部分が位置合わせされた第1層の第1部分にボンディングするのを防止する。第1層の第2部分は被覆されずに残る。第5段階405では、第1層の被覆された部分が第2シリコン層の摺動部分にほぼ位置合わせされるように第1シリコン層が、第2シリコン層の上に配置される。第6段階406では、ボンディング動作が実施され第1シリコン層と第2シリコン層をボンディングする。
図9に示されているのは、全般的に500で表示された流れ図であって、本発明の他の実施形態でのマイクロバルブ形成段階を列記している。第1段階501では、第1シリコン層が与えられる。第2段階502では、第2シリコン層が与えられる。第3段階503では、第2シリコン層の一部分がエッチングされ、摺動部分と、層部分とを形成する。第4段階504では、第1シリコン層の一部分が、層の間でボンディングが望まれる領域内について被覆材料で覆われる。任意選択の第5段階505では、被覆が、選択的に摺動部分の上の領域から除去される。第6段階506では、第1シリコン層の被覆されない部分が、ほぼ第2シリコン層の摺動部分に位置合わせされるように第1シリコン層が、第2シリコン層の上に配置される。第7段階507では、ボンディング動作が実施され第1シリコン層と第2シリコン層を、被覆が配置されている領域についてだけボンディングする。
図10に示されているのは、全般的に600で表示された流れ図であって、本発明の他の実施形態でのマイクロバルブ形成段階を列記している。第1段階601では、第1材料層が与えられる。第2段階602では、第2材料層が与えられる。第3段階603では、被覆が第1層の一部分の上になされる。その被覆は、後続のボンディング動作の間、第1層の被覆された部分と第2層の間のボンディングを防ぐ効果がある。第4段階604では、第1材料層がエッチングされ、第1層内に摺動部分と、層部分を形成する。摺動部分は、層部分に対して移動できる。摺動部分は、やはり被覆された部分の寸法と形状に一致する。第5段階605では、第1層と第2層が互いにボンディングされる。
本発明の動作の原理および形態がその好ましい実施形態について説明されてきた。しかし、本発明は、その趣旨から逸脱することなく具体的に図示され、説明されたのとは別のやり方で実施され得るということに留意されるべきである。
本発明により作製されるべきマイクロバルブ組立て品の第1、第2および第3層の分解斜視図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明による被覆された部分および可動部分を有するマイクロバルブの第1層および第2層の分解平面図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成の作製工程の流れを示す図である。 本発明によるマイクロバルブ形成のための作製工程の代替実施形態の流れ図である。 本発明によるマイクロバルブ形成のための作製工程の代替実施形態の流れ図である。 本発明によるマイクロバルブ形成のための作製工程の代替実施形態の流れ図である。 本発明によるマイクロバルブ形成のための作製工程の代替実施形態の流れ図である。 本発明によるマイクロバルブ形成のための作製工程の代替実施形態の流れ図である。 本発明によるマイクロバルブ形成のための作製工程の代替実施形態の流れ図である。

Claims (11)

  1. 複数の材料層の選択的ボンディングによってマイクロマシン装置を作製する方法であって、
    a)第1材料層を提供する段階と、
    b)第2材料層を提供する段階と、
    c)前記第1材料層の第1部分を被覆材料で被覆する段階と、
    d)マイクロマシン装置を形成するために前記第1材料層と前記第2材料層とをフュージョン・ボンディング・プロセスを使用することによって互いにボンディングする段階を含み、前記被覆材料が、前記第1部分が前記第2材料層にボンディングするのを防ぐのに効果的であるマイクロマシン装置を作製する方法。
  2. 前記被覆材料が、窒化ケイ素、炭化ケイ素、ポリマー・フィルム、フルオロカーボン・フィルムおよびケイ素セラミック材料からなる群より選択される、請求項1に記載の方法。
  3. 前記被覆材料が、窒化ケイ素である、請求項1に記載の方法。
  4. 前記第2材料層内に複数の機械的部品を形成し、前記機械的部品が前記第2材料層の静止部分に対して移動できる、請求項1に記載の方法。
  5. 前記段階c)では、前記被覆材料が、前記第2材料層内に形成される前記機械的部品の位置に一致する位置で、前記第1材料層上に設けられ、したがって前記第1材料層が前記第2材料層に隣接して配置される場合に、前記被覆材料が前記機械的部品に隣接する、請求項4に記載の方法。
  6. 更に、前記段階d)に次いで、
    e)第3材料層を提供する段階と、
    f)前記第3材料層の第1部分を被覆材料で被覆する段階と、
    g)前記第3材料層を前記第2材料層にボンディングする段階とを含み、前記第3材料層上の前記被覆材料が、前記第3材料層の前記第1部分が前記第2材料層にボンディングするのを防ぐのに効果的である、請求項5に記載の方法。
  7. 前記段階f)では、前記被覆材料が、前記第2材料層上に形成される前記機械的部品の位置に一致する位置で、前記第3材料層上に設けられ、したがって前記第3材料層が前記第2材料層に隣接して配置された場合に、前記被覆材料が前記機械的部品に隣接する、請求項6に記載の方法。
  8. 更に、前記段階a)に次いで、a1)前記被覆材料が前記段階c)で前記第1部分に適用される場合に、前記被覆材料の上面が、ほぼ前記第1材料層の隣接上面と同一平面にあるように、そこの厚さを低減するために前記第1材料層の前記第1部分を薄くする段階を含む、請求項1に記載の方法。
  9. 更に、前記段階c)の前に、
    c’)前記第1材料層の第2部分のマスク段階であって、前記第2部分が、前記被覆材料によって覆われない前記第1材料層の領域を含むマスク段階を備える、請求項1に記載の方法。
  10. 前記被覆材料が、10Åから100μmの厚さで適用される、請求項1に記載の方法。
  11. 前記マイクロマシン装置がマイクロバルブである請求項1に記載の方法。
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