JP5164355B2 - 荷電粒子ビームの走査方法及び荷電粒子線装置 - Google Patents
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Description
(Critical Dimension-Scanning Electron Microscope:CD−SEM) や、欠陥評価用走査電子顕微鏡(Defect Review-Scanning electron Microscope:DR−SEM)がある。この内、特にCD−SEMでは測定対象となる半導体ウェハの各部位を精度良く測長する必要がある。
(±X,±Y)の全領域を計測しているが、対称性が予めわかっているのであれば、計測範囲を全領域の1/2或いは1/4の範囲にしてもよい。
(Step104)から誤差量の計測(Step109)までを繰りかえす間にステージ移動量の測定を行わなければならない。例えば図14のように電子ビーム36の移動量が「0」である領域46で画像取得してドットパターンの重心位置を計測する。これを第1の領域
46とする。
「0」なので、第1の領域46と第2の領域46の重心位置のずれ量がステージのドリフト量として計測できる。もちろん、ずれ量が無い場合はステージのドリフトが無いことを意味する。
Y0′)を求める(Step122)。第1の領域46の対象物の重心位置(X0,Y0)との差(Δx0,Δy0)を計算してこれをステージのドリフト量とする(Step123)。このドリフト量をピッチ「11」で割った値(Δx0/11,Δy0/11)を領域51から領域61までの点での測定した誤差量(Δxn,Δyn)に各々加算、或いは減算していく。この値を(Δxn′,Δyn′)で表し、電子ビーム36の走査位置の誤差量として計算される。これを式1で表す。
(式1)
(Δxn′,Δyn′)=(Δxn+Δx0/s,Δyn+Δy0/s)
ドリフト量が「0」であればステージのドリフトが無いことを示し、それ以外の場合はステージの移動を考慮した補正を行わなければならない。
36の移動量制御の精度が向上する。
2 電子源
3 引出電極
4 加速電極
5 レンズ制御電源
6,19 電極
7,8 集束レンズ
9 対物レンズ
10 クロスオーバ
11 位置モニター用測定装置
12 試料ステージ
13 試料
14 可変減速電源
15 絞り
16a,16b 偏向器
17 ブランキング偏向器
18 走査信号発生器
20 直交電磁界発生器
21 検出器
22 試料高さ測定装置
23 ステージ駆動装置
24 走査信号発生器
25 走査位置制御部
26 スケール
27 記憶部
31 制御部
32 像表示装置
33 電子
34 電極制御部
36 電子ビーム
37 画像処理部
40 非点収差補正器
41a,41b 偏向器
42 測定結果マップ
43 光軸
44 理想マップ
45 非点収差補正制御部
46,47,51,52,53 領域
48 誤差量
49 移動範囲
50 表示領域
54 測定結果表
55 入力領域
56 画像表示領域
57 指定ポインタ
Claims (12)
- 偏向器を用いて荷電粒子線の走査位置を偏向して、
前記荷電粒子線を走査する荷電粒子線の走査方法において、
基準対象物と、当該基準対象物との間に既知の寸法を有する複数の対象物が形成された試料の前記基準対象物に、前記荷電粒子線の走査位置を位置づけ、
更に前記荷電粒子線の走査位置を、前記複数の対象物を走査するように偏向し、
当該偏向された走査位置と前記対象物との第1の位置誤差を、前記複数の対象物ごとに検出する工程と、
前記基準対象物に、再度前記荷電粒子線の走査位置を位置づけ、
当該再度位置付けられた走査位置と、前記基準対象物との第2の位置誤差を検出する工程と、
前記第2の位置誤差を当該走査した対象物の数で除算して第3の位置誤差を求め、
当該求めた第3の位置誤差を、当該複数の対象物ごとに検出された第1の位置誤差に加算、或いは減算する工程と、
当該加算、或いは減算結果に基づいて、
前記荷電粒子線の走査位置の偏向範囲における前記偏向器の偏向信号を導出する工程と、を有することを特徴とする荷電粒子線の走査方法。 - 請求項1において、
前記基準対象物は、前記荷電粒子線の光軸下に位置づけられることを特徴とする荷電粒子線の走査方法。 - 請求項1において、
前記荷電粒子線の走査によって、前記基準対象物と、前記複数の対象物の画像を取得し、前記基準対象物の重心と前記対象物の重心間の距離に基づいて、
前記第1の位置誤差を検出することを特徴とする荷電粒子線の走査方法。 - 請求項1において、
前記荷電粒子線の走査によって、前記基準対象物と、前記複数の対象物の画像を取得し、当該基準対象物と前記複数の対象物との間でパターンマッチングを行うことによって得られる両者間の距離に基づいて、前記第1の位置誤差を検出することを特徴とする荷電粒子線の走査方法。 - 請求項1において、
前記複数の対象物は、前記試料上に既知の間隔にて二次元的に配列されていることを特徴とする荷電粒子線の走査方法。 - 請求項1において、
前記第3の位置誤差は、
前記試料を移動させる移動ステージの移動成分であることを特徴とする荷電粒子線の走査方法。 - 荷電粒子源から放出される荷電粒子線の走査位置を偏向する偏向器と、
当該偏向器に偏向信号を供給する制御部を備えた荷電粒子線装置において、
前記制御部は、基準対象物と、当該基準対象物との間に既知の寸法を有する複数の対象物が形成された試料の前記基準対象物に、
前記荷電粒子線の走査位置を位置づけるように前記偏向器を制御し、
更に前記荷電粒子線の走査位置を、前記複数の対象物を走査するように偏向し、
当該偏向された走査位置と前記対象物との第1の位置誤差を、前記複数の対象物ごとに検出したのちに、
前記基準対象物に、再度前記荷電粒子線の走査位置を位置づけ、
当該再度位置付けられた走査位置と、前記基準対象物との第2の位置誤差を検出し、
前記第2の位置誤差を当該走査した対象物の数で除算して第3の位置誤差を求め、
当該求めた第3の位置誤差を、当該複数の対象物ごとに検出された第1の位置誤差に加算、或いは減算し、
当該加算、或いは減算結果に基づいて、
前記荷電粒子線の走査位置の偏向範囲における前記偏向器の偏向信号を導出することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7において、
前記制御部は、前記荷電粒子線の走査によって、前記基準対象物と、前記複数の対象物の画像を取得し、
前記基準対象物の重心と前記対象物の重心間の距離に基づいて、
前記第1の位置誤差を検出することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7において、
前記制御部は、前記荷電粒子線の走査によって、前記基準対象物と、前記複数の対象物の画像を取得し、当該基準対象物と前記複数の対象物との間でパターンマッチングを行うことによって得られる両者間の距離に基づいて、
前記第1の位置誤差を検出することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7において、
前記制御部は、前記荷電粒子線の走査位置の偏向範囲における複数の位置について、前記偏向器に供給される信号を個々に記憶する記憶部を備えていることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項10において、
前記記憶部には、前記導出された偏向信号が記憶されていることを特徴とする荷電粒子装置。 - 請求項7において、
前記制御部は、前記荷電粒子線の走査位置の偏向範囲における複数の位置について、
非点補正器に供給される信号、対物レンズに供給される信号、或いは試料に印加される電圧を、個々に記憶する記憶部を備えていることを特徴とする荷電粒子線装置。
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