JP5125768B2 - 電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム - Google Patents
電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5125768B2 JP5125768B2 JP2008141402A JP2008141402A JP5125768B2 JP 5125768 B2 JP5125768 B2 JP 5125768B2 JP 2008141402 A JP2008141402 A JP 2008141402A JP 2008141402 A JP2008141402 A JP 2008141402A JP 5125768 B2 JP5125768 B2 JP 5125768B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- network analysis
- supply network
- analysis target
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/36—Circuit design at the analogue level
- G06F30/367—Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
以下に添付図面を参照し、電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラムにかかる実施形態の一例を詳細に説明する。以下の実施形態の一例では、集積回路は、CAD装置を使用して設計されるLSIであるとする。
図6−1の第1層に対し、領域分割時の境界部から外側方向へ第1層〜第2層間のビアを検索する。検出されたビアVIA(1)の座標を保持し、該当座標の位置で第1層の配線Lを分割する。分割された配線Lを境界部に接続する。そして、第1層の分割位置までに存在する下位配線層側に接続するビアVIAを取得する。取得されたビアVIAを第1層の配線に接続する。
さらに高精度な解析を行なう場合(図6−2)は、ビアVIA(4)に接する第4層に対し、第3層〜第4層間のビアVIAを検索する。検出されたビアVIA(5)の座標を保持し、該当座標の位置で、第4層の配線を分割する。
前記解析対象領域分割処理部によって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える境界隣接領域を抽出し、前記境界隣接領域を前記分割電源網解析対象領域に付加する隣接境界領域抽出付加処理部と、
前記隣接境界領域抽出付加処理部によって前記境界隣接領域が付加された前記分割電源網解析対象領域の抵抗モデルを生成する抵抗モデル生成処理部と、
前記抵抗モデル生成処理部によって生成された前記抵抗モデルに対して、電源網解析処理を行う電源網解析処理部と
を有することを特徴とする電源網解析装置。
前記境界隣接領域解析結果除去処理部によって除去された前記抵抗モデルの解析結果を、前記集積回路の電源網解析対象領域全体の電源網解析結果に統合する電源網解析結果統合処理部と
をさらに有することを特徴とする付記1、2又は3記載の電源網解析装置。
前記解析対象領域分割処理ステップによって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える境界隣接領域を抽出し、前記境界隣接領域を前記分割電源網解析対象領域に付加する隣接境界領域抽出付加処理ステップと、
前記隣接境界領域抽出付加処理ステップによって前記境界隣接領域が付加された前記分割電源網解析対象領域の抵抗モデルを生成する抵抗モデル生成処理ステップと、
前記抵抗モデル生成処理ステップによって生成された前記抵抗モデルに対して、電源網解析処理を行う電源網解析処理ステップと
を含むことを特徴とする電源網解析方法。
前記境界隣接領域解析結果除去処理ステップによって除去された前記抵抗モデルの解析結果を、前記集積回路の電源網解析対象領域全体の電源網解析結果に統合する電源網解析結果統合処理ステップと
をさらに含むことを特徴とする付記7、8又は9記載の電源網解析方法。
前記解析対象領域分割処理手順によって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える境界隣接領域を抽出し、前記境界隣接領域を前記分割電源網解析対象領域に付加する隣接境界領域抽出付加処理手順と、
前記隣接境界領域抽出付加処理手順によって前記境界隣接領域が付加された前記分割電源網解析対象領域の抵抗モデルを生成する抵抗モデル生成処理手順と、
前記抵抗モデル生成処理手順によって生成された前記抵抗モデルに対して、電源網解析処理を行う電源網解析処理手順と
をコンピュータに実行させることを特徴とする電源網解析プログラム。
前記境界隣接領域解析結果除去処理手順によって除去された前記抵抗モデルの解析結果を、前記集積回路の電源網解析対象領域全体の電源網解析結果に統合する電源網解析結果統合処理手順と
をさらに前記コンピュータに実行させることを特徴とする付記13、14又は15記載の電源網解析プログラム。
101 設計データ読み込み部
102 データ処理部
102a 領域分割処理部
102b 修正箇所抽出処理部
102c 境界処理部
102d モデル化処理部
102e 電源網解析処理部
102f 影響範囲部分除去処理部
102g 処理結果結合処理部
103 解析結果情報出力部
200 CAD装置
201 配置設計部
202 配線設計部
203 設計データDB
L 配線
R 電源網解析対象領域
r 電源網解析対象分割領域
V 電源供給部
VIA ビア
Claims (8)
- 集積回路の設計情報に基づき、前記集積回路の電源網解析対象領域を、分割電源網解析対象領域へと分割する解析対象領域分割処理部と、
前記解析対象領域分割処理部によって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える境界隣接領域を抽出し、前記境界隣接領域を前記分割電源網解析対象領域に付加する隣接境界領域抽出付加処理部と、
前記隣接境界領域抽出付加処理部によって前記境界隣接領域が付加された前記分割電源網解析対象領域の抵抗モデルを生成する抵抗モデル生成処理部と、
前記抵抗モデル生成処理部によって生成された前記抵抗モデルに対して、電源網解析処理を行う電源網解析処理部と
を有することを特徴とする電源網解析装置。 - 前記解析対象領域分割処理部は、ユーザ指示の分割数又は分割サイズに基づき、前記集積回路の電源網解析対象領域を、前記分割電源網解析対象領域へと、自動的に等分割することを特徴とする請求項1記載の電源網解析装置。
- 前記隣接境界領域抽出付加処理部は、前記解析対象領域分割処理部によって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える電流源及び/又は電源供給源を抽出することによって、前記境界隣接領域を抽出することを特徴とする請求項1又は2記載の電源網解析装置。
- 前記電源網解析処理部による前記抵抗モデルの解析結果から、前記境界隣接領域に関する抵抗モデルの解析結果を除去する境界隣接領域解析結果除去処理部と、
前記境界隣接領域解析結果除去処理部によって除去された前記抵抗モデルの解析結果を、前記集積回路の電源網解析対象領域全体の電源網解析結果に統合する電源網解析結果統合処理部と
をさらに有することを特徴とする請求項1、2又は3記載の電源網解析装置。 - 前記電源網解析結果統合処理部によって統合された前記集積回路の電源網解析対象領域全体の電源網解析結果に基づいて、前記電源網解析対象領域内の負荷素子への印可電圧が正常であるか否かを判定する印可電圧判定処理部をさらに有することを特徴とする請求項4記載の電源網解析装置。
- 前記印可電圧判定処理部による前記電源網解析対象領域内の負荷素子への印可電圧が正常であるか否かの判定結果を、前記集積回路の設計を支援するコンピュータ設計支援装置へと通知する通知手段をさらに有することを特徴とする請求項5記載の電源網解析装置。
- 電源網解析装置が実行する電源網解析方法であって、
記憶部から読み出した集積回路の設計情報に基づき、前記集積回路の電源網解析対象領域を、分割電源網解析対象領域へと分割する解析対象領域分割処理ステップと、
前記解析対象領域分割処理ステップによって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える境界隣接領域を抽出し、前記境界隣接領域を前記分割電源網解析対象領域に付加する隣接境界領域抽出付加処理ステップと、
前記隣接境界領域抽出付加処理ステップによって前記境界隣接領域が付加された前記分割電源網解析対象領域の抵抗モデルを生成する抵抗モデル生成処理ステップと、
前記抵抗モデル生成処理ステップによって生成された前記抵抗モデルに対して、電源網解析処理を行う電源網解析処理ステップと
を含むことを特徴とする電源網解析方法。 - 集積回路の設計情報に基づき、前記集積回路の電源網解析対象領域を、分割電源網解析対象領域へと分割する解析対象領域分割処理手順と、
前記解析対象領域分割処理手順によって分割された分割電源網解析対象領域に電気的に影響を与える境界隣接領域を抽出し、前記境界隣接領域を前記分割電源網解析対象領域に付加する隣接境界領域抽出付加処理手順と、
前記隣接境界領域抽出付加処理手順によって前記境界隣接領域が付加された前記分割電源網解析対象領域の抵抗モデルを生成する抵抗モデル生成処理手順と、
前記抵抗モデル生成処理手順によって生成された前記抵抗モデルに対して、電源網解析処理を行う電源網解析処理手順と
をコンピュータに実行させることを特徴とする電源網解析プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008141402A JP5125768B2 (ja) | 2008-05-29 | 2008-05-29 | 電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム |
US12/320,287 US8249849B2 (en) | 2008-05-29 | 2009-01-22 | Power source network analyzing apparatus, power source network analyzing method, and power source network analyzing program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008141402A JP5125768B2 (ja) | 2008-05-29 | 2008-05-29 | 電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009289062A JP2009289062A (ja) | 2009-12-10 |
JP5125768B2 true JP5125768B2 (ja) | 2013-01-23 |
Family
ID=41380859
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008141402A Expired - Fee Related JP5125768B2 (ja) | 2008-05-29 | 2008-05-29 | 電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8249849B2 (ja) |
JP (1) | JP5125768B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5434355B2 (ja) * | 2009-08-11 | 2014-03-05 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法 |
JP5471872B2 (ja) | 2010-06-18 | 2014-04-16 | 富士通株式会社 | 電源回路解析装置,電源回路解析プログラムおよび電源回路解析方法 |
US8689157B1 (en) * | 2012-06-28 | 2014-04-01 | Cadence Design Systems, Inc. | Extracting capacitance and resistance from FinFET devices |
US20150195912A1 (en) * | 2014-01-08 | 2015-07-09 | Zhuhai Advanced Chip Carriers & Electronic Substrate Solutions Technologies Co. Ltd. | Substrates With Ultra Fine Pitch Flip Chip Bumps |
KR102276908B1 (ko) * | 2014-12-05 | 2021-07-13 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치의 파워 노이즈 해석 방법을 수행하는 프로그램을 실행 가능한 컴퓨팅 장치, 상기 방법을 포함하는 반도체 장치의 설계 방법, 및 상기 프로그램을 저장하는 프로그램 저장 매체 |
CN115358173B (zh) * | 2022-10-21 | 2023-04-07 | 芯和半导体科技(上海)股份有限公司 | 一种芯片封装电源网络电磁建模方法及系统 |
CN116314183B (zh) * | 2023-05-17 | 2023-08-29 | 之江实验室 | 晶圆基板电源完整性的优化方法、晶圆基板及晶上系统 |
CN116522857B (zh) * | 2023-07-03 | 2023-09-08 | 上海韬润半导体有限公司 | 一种电源网络最优方案的选择方法和系统 |
Family Cites Families (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2901087B2 (ja) * | 1989-10-17 | 1999-06-02 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路の電源配線設計方法及び電源配線設計装置 |
US5761076A (en) * | 1994-04-19 | 1998-06-02 | Hitachi, Ltd. | Method for evaluating a driving characteristic of a device for a wiring, based upon lower order coefficients of series expansion form of complex admittance of the wiring |
US5629860A (en) * | 1994-05-16 | 1997-05-13 | Motorola, Inc. | Method for determining timing delays associated with placement and routing of an integrated circuit |
US5798937A (en) * | 1995-09-28 | 1998-08-25 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for forming redundant vias between conductive layers of an integrated circuit |
US6086238A (en) * | 1996-10-07 | 2000-07-11 | International Business Machines Corporation | Method and system for shape processing within an integrated circuit layout for parasitic capacitance estimation |
US5826215A (en) * | 1997-01-14 | 1998-10-20 | International Business Machines Corporation | Method and computer program product for stable integral equation models |
US5956497A (en) * | 1997-02-26 | 1999-09-21 | Advanced Micro Devices, Inc. | Methodology for designing an integrated circuit using a reduced cell library for preliminary synthesis |
US6080204A (en) * | 1997-10-27 | 2000-06-27 | Altera Corporation | Method and apparatus for contemporaneously compiling an electronic circuit design by contemporaneously bipartitioning the electronic circuit design using parallel processing |
US6691296B1 (en) * | 1998-02-02 | 2004-02-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Circuit board design aiding |
US7016794B2 (en) * | 1999-03-16 | 2006-03-21 | Lsi Logic Corporation | Floor plan development electromigration and voltage drop analysis tool |
US6845346B1 (en) * | 1999-12-09 | 2005-01-18 | Intel Corporation | Iterative method of parasitics estimation for integrated circuit designs |
JP2001332825A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-11-30 | Fuji Xerox Co Ltd | 回路基板装置及び設計支援装置 |
JP2003233637A (ja) * | 2002-02-08 | 2003-08-22 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路の電源電圧ドロップ・シミュレーション方法及び装置 |
US6904575B2 (en) * | 2002-06-11 | 2005-06-07 | International Business Machines Corporation | Method for improving chip yields in the presence of via flaring |
US7818157B2 (en) * | 2002-06-19 | 2010-10-19 | LS1 Corporation | Instantaneous voltage drop sensitivity analysis tool (IVDSAT) |
US6931613B2 (en) * | 2002-06-24 | 2005-08-16 | Thomas H. Kauth | Hierarchical feature extraction for electrical interaction calculations |
US7319946B2 (en) * | 2002-10-21 | 2008-01-15 | International Business Machines Corporation | Method for on-chip signal integrity and noise verification using frequency dependent RLC extraction and modeling techniques |
JP2004157584A (ja) * | 2002-11-01 | 2004-06-03 | Fujitsu Ltd | 電源解析方法及びコンピュータプログラム |
JP4018994B2 (ja) * | 2003-02-17 | 2007-12-05 | 株式会社Nec情報システムズ | 基板層数見積もりシステム、方法、プログラム |
JP4460227B2 (ja) * | 2003-03-10 | 2010-05-12 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
JP2004334654A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Fujitsu Ltd | 電源ノイズ解析モデル生成装置、電源ノイズ解析モデル生成方法、電源ノイズ解析モデル生成プログラム |
US20080140379A1 (en) * | 2003-05-22 | 2008-06-12 | Xoomsys, Inc. | Approximations for simulations of systems |
US20060168551A1 (en) * | 2003-06-30 | 2006-07-27 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Integrated circuit having a multi-layer structure and design method thereof |
US7603641B2 (en) * | 2003-11-02 | 2009-10-13 | Mentor Graphics Corporation | Power/ground wire routing correction and optimization |
US7000214B2 (en) * | 2003-11-19 | 2006-02-14 | International Business Machines Corporation | Method for designing an integrated circuit having multiple voltage domains |
US7401304B2 (en) * | 2004-01-28 | 2008-07-15 | Gradient Design Automation Inc. | Method and apparatus for thermal modeling and analysis of semiconductor chip designs |
US7134106B2 (en) * | 2004-04-09 | 2006-11-07 | Incentia Design Systems Corp. | Method and system for providing fast design for testability prototyping in integrated circuit designs |
JP2006019690A (ja) * | 2004-06-02 | 2006-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | パターン解析方法及びパターン解析装置並びに歩留まり算出方法及び歩留まり算出装置 |
JP4086816B2 (ja) * | 2004-07-01 | 2008-05-14 | 株式会社Nec情報システムズ | Bga部品搭載基板の層数見積もり装置及び方法並びに層数見積もりプログラム |
JP4266362B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2009-05-20 | 富士通株式会社 | 電磁界シミュレータおよび電磁界シミュレートプログラム |
US7260802B2 (en) * | 2004-11-08 | 2007-08-21 | Synopsys, Inc. | Method and apparatus for partitioning an integrated circuit chip |
JP2006253187A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Nec Electronics Corp | 電源解析方法および電源解析を実行するプログラム |
US7472366B1 (en) * | 2005-08-01 | 2008-12-30 | Cadence Design Systems, Inc. | Method and apparatus for performing a path search |
JP2007052591A (ja) | 2005-08-17 | 2007-03-01 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路の電源電圧分布シミュレーション方法およびシミュレーションプログラム |
TWI292605B (en) * | 2006-01-09 | 2008-01-11 | Himax Tech Ltd | Method for creating new via |
US7454300B2 (en) * | 2006-02-08 | 2008-11-18 | Roberto Suaya | Extracting high frequency impedance in a circuit design using broadband representations |
US7689962B2 (en) * | 2006-02-08 | 2010-03-30 | Roberto Suaya | Extracting high frequency impedance in a circuit design using an electronic design automation tool |
US7644381B2 (en) * | 2006-04-18 | 2010-01-05 | University Of Washington | Electromagnetic coupled basis functions for an electronic circuit |
US7875810B2 (en) * | 2006-12-08 | 2011-01-25 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Electronic component-inspection wiring board and method of manufacturing the same |
JP4728944B2 (ja) * | 2006-12-27 | 2011-07-20 | 富士通株式会社 | 電源ノイズ解析モデル生成プログラム及び電源ノイズ解析モデル作成装置 |
JP5029351B2 (ja) * | 2007-12-28 | 2012-09-19 | 富士通株式会社 | 解析モデル作成技術および基板モデル作成技術 |
JP5089478B2 (ja) * | 2008-04-28 | 2012-12-05 | キヤノン株式会社 | 解析モデル作成装置及び解析モデル作成方法 |
JP5136333B2 (ja) * | 2008-09-29 | 2013-02-06 | 富士通株式会社 | 電源ノイズ解析モデル作成方法、電源ノイズ解析モデル作成装置および電源ノイズ解析モデル作成プログラム |
-
2008
- 2008-05-29 JP JP2008141402A patent/JP5125768B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-01-22 US US12/320,287 patent/US8249849B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009289062A (ja) | 2009-12-10 |
US20090299718A1 (en) | 2009-12-03 |
US8249849B2 (en) | 2012-08-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5125768B2 (ja) | 電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム | |
KR102402673B1 (ko) | Beol의 공정 변이를 고려하여 집적 회로를 설계하기 위한 컴퓨터 구현 방법 및 컴퓨팅 시스템 | |
US11392741B2 (en) | Computer implemented system and method for generating a layout of a cell defining a circuit component | |
US8024051B2 (en) | Parallel power grid analysis | |
JP2004139181A (ja) | レイアウト装置及びプログラム | |
JP5404910B2 (ja) | 独占所有権を有する回路配置の識別 | |
JP2008224315A (ja) | テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 | |
KR20200050427A (ko) | 시스템적 물리적 고장 분석(pfa) 결함 위치 결정을 위한 시스템 및 방법 | |
US8187924B2 (en) | Method, design program and design support device for semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit | |
JP2015166981A (ja) | レイアウト検証方法、検証装置、及び検証プログラム | |
CN117110847B (zh) | 印刷电路板的内阻测试方法、装置、设备及存储介质 | |
US20030030445A1 (en) | Method of analyzing an integrated electric circuit, computer program utilizing the method, data carrier including the method, and method for downloading the program | |
US20100077374A1 (en) | Automatic Alignment of Macro Cells | |
CN111368464A (zh) | 一种功率半导体器件的芯片筛选方法及装置 | |
JP2009122732A (ja) | 動作タイミング検証装置及びプログラム | |
JP4851216B2 (ja) | 半導体集積回路における試験時の電源供給方法および半導体集積回路用cadシステム | |
JP2009271607A (ja) | 回路解析方法、半導体集積回路の製造方法、回路解析プログラム、及び回路解析装置 | |
JP4668974B2 (ja) | 半導体装置の設計方法、半導体装置設計システム及びコンピュータプログラム | |
JP6754174B2 (ja) | 設計レイアウトデータの不良検出方法及び設計レイアウトデータの不良検出プログラム | |
JP2008097541A (ja) | レイアウト検証方法およびレイアウト検証装置 | |
US11901223B2 (en) | Stress analysis method and semiconductor device manufacturing method | |
JP2013004125A (ja) | 半導体集積回路テスト方法 | |
JP2015169588A (ja) | 故障解析プログラム、故障解析方法、および故障解析装置 | |
JP2008015898A (ja) | レイアウト検証方法及びレイアウト検証装置 | |
JP2013008125A (ja) | 半導体集積回路の設計方法、設計プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120605 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120803 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121002 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121015 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151109 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |