JP4728944B2 - 電源ノイズ解析モデル生成プログラム及び電源ノイズ解析モデル作成装置 - Google Patents
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims description 87
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 177
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 21
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 39
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 23
- 238000011960 computer-aided design Methods 0.000 description 12
- 238000013461 design Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/36—Circuit design at the analogue level
- G06F30/367—Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
- G06F2119/06—Power analysis or power optimisation
-
- H—ELECTRICITY
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- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
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-
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
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Description
従来、回路基板の異なる電源層に存在する電源島が重なった部分を電源ペアとして抽出し、電源ペア単位にノードを配置し、ノード間のインピーダンスを計算して電源ノイズ解析モデルを作成していた。
上記のように抽出した電源ペアを個々にモデル化すると、同じ電源島に存在するする電源ペアが別のモデルとして生成されるので、図16(A)に示すように電源ペア1と電源ペア2の境界線に境界線ノードを設定してそれらの電源ペアを1つのモデルに結合していた。
のように図形演算の誤差により本来存在しない微小な電源ペアが抽出され、電源ノイズ解析モデルの数が増大するという問題もあった。
L1層の電源島の引き出しパターンとL9層の電源島が電源ペアを構成している場合に、従来は、L1層の引き出しパターンの面積とL9層の電源島の面積とL1層とL9層の層間距離からL1層の引き出しパターンのインダクタンスを計算していた。しかしながら、図19(A)に示すように引き出しパターンの近傍の他の層に電源島が存在する場合には、上記のようにして計算したインダクタンスが実際の値と異なっていることが多かった。
ユーザがCAD(Computer Aided Design)装置を利用してプリント基板の構想設計を行うと(図1、S11)、構想段階の設計データであるCADデータ11がハードディスク等の記憶装置に記憶される。
電源ペア抽出部22が、CAD装置から回路基板のCADデータを取得し(図3、S21)、回路基板の異なる層に存在する電源島の内で重なりのある電源島を電源ペアとして抽出する(S22)。
メッシュ生成部24が、電源島毎にノードを囲むメッシュ領域を決定し、インピーダンス計算部25が、ノード間のインピーダンス(L、R,C)を計算する(S24)。
図4は、図3のステップS22の電源ペア抽出処理のフローチャートである。
電源ペアの面積を、C=(ε0×εr/D)・S、の式に代入して電源ペアの容量値Cを計算する(S33)。ε0=8.8541878e-15 [F/cm]、εr:比誘電率、D[cm]:電源ペア間の距離、S[cm2]:電源ペアの面積、である。
上述した電源ペア抽出処理により、容量値が所定値以下の微小な電源ペアは削除されるので、電源ノイズ解析モデルの作成対象となる電源ペアを減らすことができる。
次に、図5は、図3のステップS23のノード配置・投影処理のフローチャートである。
を判定する(S42)。電源ペアのノード座標が上側の層の電源島に存在する場合には(S42、YES)、ステップS43に進み、電源ペアのノードを上側の層の電源島に所属するノードとしてテーブルに登録する。このテーブルは、電源ノイズ解析モデル作成装置21のメモリ等に格納される。
ステップS42がNOの場合またはステップS43の次には、ステップS44において、電源ペアに配置したノードのノード座標が下側の層の電源島内に存在するか否かを判定する。電源ペアのノード座標が下側の層の電源島に存在する場合には(S44,YES)、ステップS45に進み、電源ペアのノードを下側の層の電源島に属するノードとしてテーブルに登録する。上記の処理により、電源ペアに配置したノードが、電源ペアを構成する下側の層の電源島に設定される。
図6(A)は、回路基板が3層の場合の各層の電源島を示す図である。第1層は基板の領域のほぼ全面が電源島31の領域、第2層は、基板の領域の右半部の領域が電源島32の領域、第3層は基板のほぼ全面が電源島33の領域となっている。なお、第1層と第3層の中央の破線は、破線の左側の領域が第1層と第3層の電源ペアを構成する重なり部分であることを示している。
の領域内に存在するか否かが判定される。第2層の電源島32に該当するノード座標が存在する場合には、それらのノードが電源島32のテーブルに登録される。
第3層の電源島33からは電源ペア1と電源ペア3が抽出されているので、電源島33には、電源ペア1の4個のノードと電源ペア3の6個のノードが設定されている。
電源島の2つのノード間の距離dを求める(図9,S51)。次に、ノードが属するメッシュの接辺の長さWを求める(S52)。例えば、任意のノードとその周りのノードを結ぶ直線の二等分線を引き、複数の二等分線で囲まれる領域をそのノードを囲むメッシュ領域とし、隣接するメッシュ領域の接辺の長さをWとする。
図10は、ノード間の抵抗とインダクタンスの計算方法の説明図である。図10に示すように、ノードAとノードBの距離をdとし、ノードAを囲むメッシュ領域とノードBを囲むメッシュ領域の接する辺の長さをWとすると、ノードA、B間の抵抗値は、ノード間の距離dに比例し、接辺Wの長さに反比例する。よって、ノード間の抵抗値Rは、単位面積当たりの抵抗値□Rとノード間の距離dと接辺Wの長さから求めることができる。インダクタンスについても同様に計算できる。
なお、図9に示していないが、電源ペアのノードの容量値は、例えば、上側の層のノードを囲むメッシュ領域の面積と下側の層の対応するメッシュ領域の面積と層間距離から求
めることができる。
図11は、上述したインピーダンスの計算処理で計算した電源/GND層のインピーダンスを示す図である。
図14に示す回路基板は、1番上のL1層の電源島のノード51aとノード51bを結ぶリンク(電源パターン)52と、最下層のL9層の電源島53が電源ペアを構成しており、L1層とL9層の間に電源島を有するL3層とL6層が存在する。L1層とL9層の層間距離はαである。
上記の処理により、リンクの中間点を中心とする所定の半径の円と重なる電源島が、電源ペアの層とは別の中間層に存在する場合には、その層までの層間距離でノード間のインダクタンスが計算される。このように電源ペアを構成する層の電源島より距離が近い電源島までの層間距離を用いてインダクタンスを計算することで、中間層の電源島の影響を考
慮してインダクタンスを求めることができる。
図15は、リンクに近い層にある電源島の探索方法の説明図である。図15は、L1層の電源島のリンクとL9層のリンクが電源ペアを構成し、その間に中間層が存在する場合の例である。
さらに、電源島のノード間のインダクタンスを計算するときに、ノードを結ぶリンクの近傍の層に電源島が存在する場合には、その層までの層間距離を用いてインダクタンスを計算することでノード間のインダクタンスをより正確に求めることができる。これは、電
源島の電源線の引き出しパターン等のインダクタンスの計算に効果がある。
(1)電源ノイズ解析モデルの作成対象は、プリント基板に限らず半導体集積装置の回路基板でも良い。
(2)ノードの配置の決定方法は、波紋処理によりノードの位置を決める方法に限らず、他の公知の方法でノードの配置を決めても良い。
(3)ノード間のインダクタンスの計算は、電源島の引き出しパターンに限らず、基板の中央部のノード間のインダクタンスの計算にも適用できる。
前記回路基板のCADデータに基づいて前記電源ペアにノードを配置するステップと、
前記電源ペアに配置された前記ノードのノード座標が電源ペアを構成する前記電源島に存在するか否かを判定し、前記ノード座標が前記電源島に存在する場合には、前記ノード座標が存在する前記電源島に前記電源ペアに配置された前記ノードを設定するステップと、
前記ノード間のインピーダンスを算出するステップと、
算出された前記ノード間のインピーダンスに基づいて前記電源島単位で電源ノイズ解析モデルを作成するステップとからなる電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
(付記2) 前記電源ペアを抽出するステップは、前記電源ペアの面積から容量値を算出し、算出した容量値が所定値以下の電源ペアを、電源ノイズ解析モデルの作成対象から除外するステップを有する付記1記載の電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
(付記3) 前記ノード間のインピーダンスを算出するステップは、前記ノードを結ぶリンクから所定距離以内の他の層に電源島が存在するか否かを判定し、所定距離以内に電源島が存在する場合に、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出するステップを有する付記1記載の電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
(付記4) 前記ノード間のインピーダンスを算出するステップは、前記ノードを結ぶリンクの中間点を算出するステップと、前記中間点を基準として所定の探索範囲に存在する他の層の電源島を検出するステップと、電源島を検出した場合には、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出するステップを有する付記1記載の電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
(付記5) 回路基板の異なる層に存在する2つの電源島の重なりを検出し、重なりのある電源島を電源ペアとして抽出するステップと、
前記回路基板のCADデータに基づいて前記電源ペアにノードを配置するステップと、
前記電源ペアに配置された前記ノードのノード座標が電源ペアを構成する前記電源島に存在するか否かを判定し、前記ノード座標が前記電源島に存在する場合には、前記ノード座標が存在する前記電源島に前記電源ペアに配置された前記ノードを設定するステップと、
前記ノード間のインピーダンスを算出するステップと、
算出された前記ノード間のインピーダンスに基づいて前記電源島単位で電源ノイズ解析モデルを作成するステップとからなる電源ノイズ解析モデル生成方法。
(付記6) 前記電源ペアを抽出するステップは、前記電源ペアの面積から容量値を算出し、算出した容量値が所定値以下の電源ペアを、電源ノイズ解析モデルの作成対象から除外するステップを有する付記5記載の電源ノイズ解析モデル生成方法。
(付記7) 前記ノード間のインピーダンスを算出するステップは、前記ノードを結ぶリンクから所定距離以内の他の層に電源島が存在するか否かを判定し、所定距離以内に電源島が存在する場合に、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出するステップを有する付記5記載の電
源ノイズ解析モデル生成方法。
(付記8) 前記ノード間のインピーダンスを算出するステップは、前記ノードを結ぶリンクの中間点を算出するステップと、前記中間点を基準として所定の探索範囲に存在する他の層の電源島を検出するステップと、電源島を検出した場合には、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出するステップを有する付記5記載の電源ノイズ解析モデル生成方法。
(付記9) 回路基板の異なる層に存在する2つの電源島の重なりを検出し、重なりのある電源島を電源ペアとして抽出する電源ペア抽出手段と、
前記回路基板のCADデータに基づいて前記電源ペアにノードを配置すると共に、前記電源ペアに配置された前記ノードのノード座標が前記2つの電源島に存在するか否かを判定し、前記ノード座標が前記電源島に存在する場合には、前記ノード座標が存在する前記電源島に前記電源ペアに配置された前記ノードを設定するノード配置・投影手段と、
前記ノード配置・投影手段により設定された前記ノード間のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段と、
算出された前記ノード間のインピーダンスに基づいて前記電源島単位で電源ノイズ解析モデルを作成するモデル作成手段とを備える電源ノイズ解析モデル作成装置。
(付記10) 前記電源ペア抽出手段は、前記電源ペアの面積から容量値を算出し、算出した容量値が所定値以下の電源ペアを、電源ノイズ解析モデルの作成対象から除外する請求項9記載の電源ノイズ解析モデル作成装置。
(付記11) 前記インピーダンス算出手段は、前記ノードを結ぶリンクから所定距離以内の他の層に電源島が存在するか否かを判定し、所定距離以内に電源島が存在する場合に、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出する付記9記載の電源ノイズ解析モデル作成装置。
(付記12) 前記インピーダンス算出手段は、前記ノードを結ぶリンクの中間点を算出し、前記中間点を基準として所定の探索範囲に存在する電源島を検出し、所定の探索範囲に電源島が存在する場合には、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出する付記9記載の電源ノイズ解析モデル作成装置。
22 電源ペア抽出部
23 ノード配置・投影部
24 メッシュ生成部
25 インピーダンス計算部
26 モデル生成部
31〜33 電源島
41a〜41n ノード
42a〜42n ノード
Claims (5)
- コンピュータに、
回路基板の異なる層に存在する2つの電源島の重なりを検出し、重なりのある電源島を電源ペアとして抽出するステップと、
前記回路基板のCADデータに基づいて前記電源ペアにノードを配置するステップと、
前記電源ペアに配置された前記ノードのノード座標が電源ペアを構成する前記電源島に存在するか否かを判定し、前記ノード座標が前記電源島に存在する場合には、前記ノード座標が存在する前記電源島に前記電源ペアに配置された前記ノードを設定するステップと、
前記ノード間のインピーダンスを算出するステップと、
算出された前記ノード間のインピーダンスに基づいて前記電源島単位で電源ノイズ解析モデルを作成するステップとを実行させる電源ノイズ解析モデル生成プログラム。 - 前記電源ペアを抽出するステップは、前記電源ペアの面積から容量値を算出し、算出した容量値が所定値以下の電源ペアを、電源ノイズ解析モデルの作成対象から除外するステップを有する請求項1記載の電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
- 前記ノード間のインピーダンスを算出するステップは、前記ノードを結ぶリンクから所定距離以内の他の層に電源島が存在するか否かを判定し、所定距離以内に前記電源島が存在する場合に、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する最近傍の他の層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出するステップを有する請求項1記載の電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
- 前記ノード間のインピーダンスを算出するステップは、前記ノードを結ぶリンクの中間点を算出するステップと、前記中間点を基準として所定の探索範囲に存在する電源島を検出するステップと、電源島を検出した場合に、前記リンクが存在する層から前記電源島が存在する最近傍の他の層までの層間距離に基づいて前記ノード間のインダクタンスを算出するステップを有する請求項1記載の電源ノイズ解析モデル生成プログラム。
- 回路基板の異なる層に存在する2つの電源島の重なりを検出し、重なりのある電源島を電源ペアとして抽出する電源ペア抽出手段と、
前記回路基板のCADデータに基づいて前記電源ペアにノードを配置すると共に、前記電源ペアに配置された前記ノードのノード座標が前記2つの電源島に存在するか否かを判定し、前記ノード座標が前記電源島に存在する場合には、前記ノード座標が存在する前記電源島に前記電源ペアに配置された前記ノードを設定するノード配置・投影手段と、
前記ノード配置・投影手段により設定された前記ノード間のインピーダンスを算出するインピーダンス算出手段と、
算出された前記ノード間のインピーダンスに基づいて前記電源島単位で電源ノイズ解析モデルを作成するモデル作成手段とを備える電源ノイズ解析モデル作成装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006352084A JP4728944B2 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 電源ノイズ解析モデル生成プログラム及び電源ノイズ解析モデル作成装置 |
US11/864,122 US7975253B2 (en) | 2006-12-27 | 2007-09-28 | Power supply noise analysis model generating method and power supply noise analysis model generating apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006352084A JP4728944B2 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 電源ノイズ解析モデル生成プログラム及び電源ノイズ解析モデル作成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008165355A JP2008165355A (ja) | 2008-07-17 |
JP4728944B2 true JP4728944B2 (ja) | 2011-07-20 |
Family
ID=39585864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006352084A Expired - Fee Related JP4728944B2 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 電源ノイズ解析モデル生成プログラム及び電源ノイズ解析モデル作成装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7975253B2 (ja) |
JP (1) | JP4728944B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5125768B2 (ja) * | 2008-05-29 | 2013-01-23 | 富士通株式会社 | 電源網解析装置、電源網解析方法及び電源網解析プログラム |
JP5136333B2 (ja) * | 2008-09-29 | 2013-02-06 | 富士通株式会社 | 電源ノイズ解析モデル作成方法、電源ノイズ解析モデル作成装置および電源ノイズ解析モデル作成プログラム |
JP5471872B2 (ja) * | 2010-06-18 | 2014-04-16 | 富士通株式会社 | 電源回路解析装置,電源回路解析プログラムおよび電源回路解析方法 |
CN103853861B (zh) | 2012-11-30 | 2016-12-21 | 国际商业机器公司 | 评估3d ic的电源供应的方法和装置 |
CN108509720B (zh) * | 2018-03-31 | 2022-08-02 | 国网浙江省电力有限公司温州供电公司 | 一种电力管线用附带地质状况切换的坐标系转换方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3348709B2 (ja) * | 1999-11-24 | 2002-11-20 | 日本電気株式会社 | プリント回路基板設計支援装置及び制御プログラム記録媒体 |
JP4325274B2 (ja) * | 2002-12-06 | 2009-09-02 | 富士通株式会社 | 半導体装置モデル作成方法及び装置 |
JP2004334654A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Fujitsu Ltd | 電源ノイズ解析モデル生成装置、電源ノイズ解析モデル生成方法、電源ノイズ解析モデル生成プログラム |
US7231618B2 (en) * | 2004-04-22 | 2007-06-12 | Optimal Corporation | Fringe RLGC model for interconnect parasitic extraction |
JP2007041867A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Elpida Memory Inc | インダクタンス解析システムと方法並びにプログラム |
WO2008072530A1 (ja) * | 2006-12-13 | 2008-06-19 | Nec Corporation | プリント回路基板解析システム、プリント回路基板設計支援システム、及びそれらの方法、並びにプログラム |
-
2006
- 2006-12-27 JP JP2006352084A patent/JP4728944B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-09-28 US US11/864,122 patent/US7975253B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080163138A1 (en) | 2008-07-03 |
JP2008165355A (ja) | 2008-07-17 |
US7975253B2 (en) | 2011-07-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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