JP5105660B2 - フェライト材料及びこれを用いたフェライトコア - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波帯域において使用されるNi−Zn系のフェライト材料及びこれを用いたフェライトコアに使用され、特に樹脂モールドタイプのチップインダクタのコア材として使用されるフェライト材料に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年テレビ、パソコン、移動体通信機器等の分野において、高周波化の進展と共にこれらの機器に使用される部品も高周波化の要求が高まっている。
【0003】
また、急速に需要が拡大しつつある樹脂モールドタイプのチップインダクタ、固定コイルの分野において、小型化、軽量化、高信頼性の要求が大きくなっている。
【0004】
この要求に対し、これらの磁心として使用されるフェライトコア材として要求される特性は、(1)高周波での損失が小さい、すなわち高Qであること、(2)巻き線による幅広いインダクタンス値を得るために低い透磁率を有すること、(3)気孔による特性の低下を抑える為に高焼結密度を有すること、(4)モールドされる樹脂による外部応力に対し、インダクタンス変化が少ないこと、すなわち低磁歪特性を有すること、以上4特性が主として挙げられる。
【0005】
この様なフェライト材料としては、例えば特開平2−133509号公報に記載されている、11〜19mol%のFe2O3と11〜25mol%のZnOと0〜10mol%のCuOと残部をNiOからなるNi−Zn系フェライト材料に0.01〜15重量部のPbOと0.01〜15重量部のSiO2と0.01〜15重量部のタルクを添加することにより高焼結密度で優れた抗応力材が提案されている。
【0006】
また、特開平8−325056においてNi−Znフェライト材にCoOとBi2O3とSiO2を添加する事により低磁歪かつ高いQ値のフェライト材料を得ることが試みられている。
【0007】
さらに、特開平8−51012号公報には、Ni−Zn−Cu系フェライト材に対し、0.〜0.5重量部のCo3O4と、0〜10重量部のBi2O3と0〜10重量部のSiO2を添加することが提案されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
特開平2−133509号公報のフェライト材料は透磁率が低すぎる事と、環境に良いとされないPbOが使用されており問題であった。
また、特開平8−325056のNi−Znフェライト材は磁歪が大きく、Q値が低いという問題があった。
【0009】
また、特開平8−51012号公報のフェライト材料は透磁率が15以下と小さく、磁歪も大きいといった問題があった。
さらにこれらの従来技術においては、素子として所定のインダクタンスに調整されていても、実際に樹脂モールドされると樹脂の硬化時や硬化温度から室温への冷却時等に樹脂の収縮による圧縮応力が加わり、この圧縮応力の為にフェライトコアのインダクタンスが低下してしまうという問題、およびこれらのフェライト材料を用いたインダクター素子を用いた回路は信頼性が低いという問題があった。
【0010】
また、インダクタンスの低下率が常に一定であれば予め調整が出来るが、樹脂モールド時の圧力がばらつく為に、インダクタンスの低下率もばらついてしまう。その為、圧縮応力に対してインダクタンス低下率の小さい材料である低磁歪材が望まれている。特に、1MHz以上の高周波においてQ値が高く、透磁率が40〜60を有する材料において、この要望が顕著であった。
そこで、本発明の目的は透磁率が40〜60で高いQ値を持ち、高焼結密度、低磁歪特性を有するフェライトコアを提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明のフェライト材料は、主成分としてFe、Ni及びZnの酸化物をそれぞれFe2O3換算で46〜52mol%、NiO換算で28〜36mol%、ZnO換算16〜22mol%を含有し、平均結晶粒径Dが0.8〜8μmであり、0.2D〜3Dの粒径の結晶が50体積%以上であることを特徴とする。
【0012】
また、前記主成分100重量部に対して、Co、Bi及びSiをCoO換算で0.05〜0.30重量部、BiをBi2 O3換算で4〜8重量部、SiをSiO2換算で1.0〜4.0重量部含有することを特徴とする。
【0013】
また、さらにCu、MnをそれぞれCuO換算で0.4重量部以下、MnO換算で0.45重量部以下含有することを特徴とする。
【0014】
また、前記フェライト材料の透磁率が40〜60、密度が5.1g/cm3以上、10Kgfの圧縮応力下におけるインダクタンスの変化率が±5%以内であることを特徴とする。
【0015】
また、前記フェライト材料でもって所定形状になしたフェライトコアとすることを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】
本発明について以下に説明する。
【0017】
本発明のフェライト材料は、未焼結体を成形し、焼成して得られる焼結体のことを意味している。そして、高Q値、高密度、透磁率40〜60、低いインダクタンスの変化率を有するためには以下に示すフェライト材料であることが重要である。
【0018】
すなわち、主成分としてFe、NiおよびZnの酸化物をそれぞれFe2 O3 換算で46〜52mol%、NiO換算で28〜36mol%、ZnO換算16〜22mol%を含有し、平均結晶粒径をDとする時、0.2D〜3Dの粒径の結晶が50体積%以上であるフェライト材料であることが重要である。
FeをFe2 O3 換算で46〜52mol%としたのは、46mol%より少ないと透磁率が40よりも小さくなり、52mol%より多いと焼結が悪く密度が低下したり、Q値が低下するためである。
【0019】
NiをNiO換算で28〜36mol%としたのは、28mol%より少ないとQ値が低下し、36mol%を超えると磁歪特性が大きくなりインダクタンス変化率が大きくなるためである。
【0020】
ZnをZnO換算で16〜22mol%としたのは、ZnがZnO換算で16mol%より少ないと透磁率が40よりも小さくなり、22mol%を超えるとQ値が低下するためである。
【0021】
平均結晶粒径をDとする時、0.2D〜3Dの粒径の結晶が50体積%以上とするのは、50体積%よりも少ないとQ値が低下し好ましくないからである。Q値を高くするためには0.2D〜3Dの粒径の結晶が75体積%以上であることがさらに好ましい。
【0022】
また、本発明のフェライト材料において、前記平均結晶粒径Dが0.8〜8μmであることが好ましい。これは平均結晶粒径Dが0.8〜8μmの範囲外ではQ値の向上が著しくないからである。
【0023】
なお、本発明のフェライト材料の平均結晶粒径Dおよび0.2D〜3Dの結晶の体積%は焼結体のSEM写真を用いて測定する。
【0024】
また、本発明のフェライト材料は前記主成分100重量部に対して、Co、BiおよびSiをCoO換算で0.05〜0.30重量部、BiをBi2 O3換算で4〜8重量部、SiをSiO2換算で1.0〜4.0重量部含有することが好ましい。
【0025】
前記主成分100重量部に対してCoをCoO換算で0.05〜0.30重量部含有するのは、0.05重量部より少ないとQ値の向上が著しくなく、0.3重量部より多いと透磁率が40〜60の範囲内で低い値となりやすいからである。
【0026】
また、前記主成分100重量部に対してBiをBi2 O3換算で4〜8重量部含有するのは4重量部より少ないと密度の向上が著しくなく、8重量部より多いと密度の向上が著しくなかったり、透磁率が40〜60の範囲内で高い値となりやすいからである。
【0027】
また、前記主成分100重量部に対してSiをSiO2換算で1.0〜4.0重量部含有するのは、1.0重量部より少ないとインダクタンス変化率を小さくする効果が著しくなく、4重量部より多いと透磁率が40〜60の範囲内で低い値となりやすいからである。
【0028】
また、本発明のフェライト材料は前記主成分100重量部に対してCu、MnをそれぞれCuO換算で0.4重量部以下、MnO2換算で0.45重量部以下含有することが好ましい。
【0029】
Cu、MnをそれぞれCuO換算で0.4重量部以下、MnO2換算で0.45重量部以下含有するのは、Cu、Mnの含有量がこの範囲外では、透磁率が40〜60の範囲内で低い値となりやすいからである。
【0030】
また、本発明のフェライト材料においては透磁率が40〜60、密度が5.1g/cm3以上、98MPaの圧縮応力下におけるインダクタンスの変化率が±5%以内であることが好ましい。これらの範囲外では、フェライト材料をチップインダクタやコイル等として用いた場合、これらの製品としての信頼性が充分高くならないからである。インダクタンスの変化率が±3%以内であることが特に好ましい。
【0031】
また、本発明のフェライトコアは前記フェライト材料でもって所定形になしたことを特徴とする。
【0032】
ここで、フェライトコアとしてはリング状のトロイダルコア、あるいはボビン状コアとすれば良く、それぞれに巻き線を施すことによってコイルとすることができる。
【0033】
本発明のフェライト材料の製造方法は例えば以下に示す通りである。
すなわち、主組成としてFe2O3、NiO、ZnOを上述した組成範囲となるように各原料を調合し、ボールミル等で粉砕混合した後、750〜1000℃の範囲で仮焼して仮焼後の平均粒径が0.5〜1μm、且つ比表面積が3〜4m2/gとなる様にする。
【0034】
次に、得られた仮焼粉にCoO、Bi2 O3、SiO2、CuO、MnOを上述した組成範囲となる様に添加し、ボールミル等で粉砕混合して粒度分布を制御した粉体Aを得る。
【0035】
得られた粉体Aの粒度分布は、平均粒径を0.5〜0.7μmとなる様にする。
【0036】
得られた粉体Aを公知の方法で造粒、所定形状に成形し、900〜1300℃の範囲で焼成する事によって本発明のフェライト材料を得ることが出来る。
本発明のフェライト材料において平均結晶粒径をDとする時、0.2D〜3Dの粒径の結晶が50体積%以上とするためには、仮焼後の平均粒径を0.5〜1μm、かつ比表面積を3〜4m2/gとなるように原料の粒径や仮焼温度条件を制御し、さらに仮焼粉を0.5〜0.7μmの平均粒径に粉砕することが重要である。この製造方法を用いることにより、透磁率を40〜60に制御し、Q値が高く、インダクタンスの変化率の小さいフェライト材料を得ることができる。
【0037】
尚、本発明のフェライト材料は、信号用チップインダクタに用いられ、特に高周波において高いQ値を必要とする部品、または樹脂モールドタイプのチップインダクタの様にインダクタンス変化率を抑えたい部品などに好適に使用することが出来る。
【0038】
また、上記フェライトコアに限らず様々な用途に用いることが出来る。
【0039】
例えば、各種電子部品を搭載したり、分割して電子部品とするためのフェライト基板や、電磁波を吸収して磁気ヘッド等をシールドしたり、発熱したりするための電磁波吸収部材等として用いることが出来る。
【0040】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲で種々の変更は何等差し支えない。
【0041】
【実施例】
実施例1
Fe2O3、NiO、ZnOを表1の組成範囲となる様に各原料を調合し、ボールミル等で粉砕混合した後、750〜1000℃の範囲で仮焼して仮焼後の粒径が0.5〜1.0μm、比表面積が3〜4m2/gとなる様にした。
【0042】
次に、得られた仮焼粉をボールミル等で粉砕混合して平均粒径を0.5〜0.7μmとした粉体Aを得た。
【0043】
得られた粉体Aに所定のバインダーを加えて造粒し、圧縮成形機においてトロイダルコアの形状(透磁率μ、Q値評価用試料)と3×3×15の角棒状(磁歪特性評価用試料)と円柱形状(焼結密度評価用試料)に成形し、これら成形体を900〜1300℃の範囲で焼成し、フェライトコアを得た。なお、このフェライトコアに線径0.2mmの被膜銅線を7回巻き付け各特性を測定した。
【0044】
100KHzで透磁率μ、磁歪特性である98MPaの圧縮応力下におけるインダクタンスの変化率△L/Lを、1MHzでQ値をLCRメータを用いて測定した。
【0045】
焼結密度B.Dはアルキメデス法に従い評価した。
【0046】
また、得られた焼結体の平均結晶粒径Dおよび0.2D〜3Dの結晶の体積%を以下の通り焼結体のSEM写真を用いて測定した。
【0047】
焼結体の内部の断面を平面研磨、鏡面仕上した。鏡面仕上げしたサンプルを熱エッチング法により、例えば1100℃15分の熱処理を行い、SEM像で結晶の形が観察できる様にした。熱処理後、各々のサンプルについて波長分散型X線マイクロアナライザ−を用いて、加速電圧15kV、プローブ電流5×10-10A程度、倍率300〜3000倍程度での反射電子像の写真をとった。こうして得られた写真から粒径を画像解析法により測定した。この画像解析法では粒径Hdは、Aを粒子内面積とするとHd=2(A/π)1/2から求めた。
【0048】
結果は、表1に示す通りである。
【0049】
この結果より、本発明の範囲内の試料は透磁率が40〜60の範囲内でQ値が140以上、インダクタンスの変化率△L/Lが5%以下、焼結密度B.Dが5.15g/cm3以上と優れた特性が得られた。
【0050】
これに対して、本発明の範囲外の試料では透磁率μが40〜60の範囲外となったり、インダクタンスの変化率が5%を超えたり、焼結密度が5.1g/cm3未満となったりした。
【0051】
【表1】
【0052】
実施例2
次に主成分を49mol%のFe2O3と32mol%のNiOと19mol%のZnOに固定し、副成分のCoOを0.03〜0.35重量部とBi2O3を3〜9重量部とSiO2を0.5〜5重量部の範囲で表2に示す様に幾通りにも変化させ、その他条件は上記実施例1と同様にしてトロイダルコアの形状と角棒形状と円柱状をなす試料を得た。
【0053】
得られた焼結体に対して実施例1と同様にして透磁率、Q値、磁歪特性によるインダクタンスの変化率、焼結密度、焼結体の平均結晶粒径Dおよび0.2D〜3Dの結晶の体積%を測定したところ表2に示す様な結果が得られた。
【0054】
この結果より、CoOの添加量を0.05〜0.3重量部とBi2O3の添加量を4〜8重量部とSiO21〜4重量部とした本発明の試料は、透磁率μが40〜60、Q値が160以上、インダクタンスの変化率△L/Lが3%以下、焼結密度が5.1g/cm3以上とさらに良好な結果が得られた。
【0055】
【表2】
【0056】
実施例3
次に主成分を49mol%のFe2O3と32mol%のNiOと19mol%のZnOに固定し、副成分として0.15重量部のCoOと6重量部のBi2O3と2重量部のSiO2を添加した組成に0.4重量部以下のCuOと0.45重量部以下のMnOを表3に示す様に幾通りにも変化させ、その他条件は上記実施例1と同様にトロイダル形状と角棒形状と円柱形状をなす試料を得た。
【0057】
得られた焼結体に対して、実施例1と同様にして透磁率、Q値、磁歪特性、焼結密度、焼結体の平均結晶粒径Dおよび0.2D〜3Dの結晶の体積%を評価したところ、表3に示す様な結果が得られた。
【0058】
この結果より、本発明の範囲内の試料は透磁率μが40〜60、Q値が160以上、インダクタンスの変化率△L/Lが3%以下、焼結密度が5.2g/cm3以上とさらに良好な結果が得られた。
【0059】
【表3】
【0060】
実施例4
次に主成分を49mol%のFe2O3と32mol%のNiOと19mol%のZnOに固定し、副成分として0.15重量部のCoOと6重量部のBi2O3と2重量部のSiO2と0.3重量部のCuOと0.40重量部のMnOの組成に固定し、0.3D〜3Dの結晶の体積%を仮焼後の粉体の粒径、比表面積、および仮焼後の粉砕粒径を制御し変化させ、上記実施例1と同様にトロイダル形状と角棒形状と円柱形状をなす試料を得た。
【0061】
得られた焼結体に対して、実施例1と同様にして透磁率、Q値、磁歪特性、焼結密度、焼結体の平均結晶粒径Dおよび0.2D〜3Dの結晶の体積%を評価したところ、表4に示す様な結果が得られた。
【0062】
表4に示す通り、本発明の範囲内の試料は、透磁率μが40〜60、Q値が160以上、インダクタンスの変化率△L/Lが3%以下、焼結密度が5.2g/cm3以上とさらに良好な結果が得られた。
【0063】
【表4】
【0064】
【発明の効果】
本発明において、Fe、Ni及びZnの酸化物をそれぞれ特定範囲含有し、平均結晶粒径をDとする時、0.2D〜3Dの粒径の結晶が50体積%以上とすることにより透磁率が40〜60の範囲内でQ値が高く、密度が高く、磁歪特性に優れたフェライト材料を得ることができる。
【0065】
そのため、本発明のフェライト材料でフェライトコアを形成すれば、低磁歪のフェライトコアを得ることができる。
【0066】
これによって、樹脂封止等による圧力に対して特性変化を抑える事が出来るため小型化、軽量化、高信頼性を得られる為、樹脂封止タイプのチップインダクタ、その他電子部品に幅広く使用することができる。
Claims (7)
- 主成分としてFe、Ni及びZnの酸化物をそれぞれFe2O3換算で46〜52mol%、NiO換算で28〜36mol%、ZnO換算で16〜22mol%含有し、平均結晶粒径Dが0.8〜8μmであり、0.2D〜3Dの粒径の結晶が50体積%以上であることを特徴とするフェライト材料。
- 前記主成分100重量部に対して、Co、Bi及びSiをCoO換算で0.05〜0.30重量部、BiをBi2O3換算で4.0〜8.0重量部、SiをSiO2換算で1.0〜4.0重量部含有することを特徴とする請求項1記載のフェライト材料。
- 前記主成分100重量部に対してCu、MnをそれぞれCuO換算で0.4重量部以下、MnO換算で0.45重量部以下含有することを特徴とする請求項1または2に記載のフェライト材料。
- 透磁率が40〜60、密度が5.1g/cm3以上、98MPaの圧縮応力下におけるインダクタンスの変化率が±5%以内であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のフェライト材料。
- 請求項1〜5のいずれかに記載のフェライト材料により形成されたことを特徴とするフェライトコア。
- 請求項1〜5のいずれかに記載のフェライト材料により形成されたことを特徴とするフェライト基板。
- 請求項1〜5のいずれかに記載のフェライト材料により形成されたことを特徴とする電磁波吸収部材。
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