JP5101975B2 - 眼底観察装置及び眼底画像処理装置 - Google Patents

眼底観察装置及び眼底画像処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5101975B2
JP5101975B2 JP2007261189A JP2007261189A JP5101975B2 JP 5101975 B2 JP5101975 B2 JP 5101975B2 JP 2007261189 A JP2007261189 A JP 2007261189A JP 2007261189 A JP2007261189 A JP 2007261189A JP 5101975 B2 JP5101975 B2 JP 5101975B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer thickness
fundus
standard
displacement
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007261189A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009089792A (ja
Inventor
正紀 板谷
長久 吉村
明彦 関根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2007261189A priority Critical patent/JP5101975B2/ja
Publication of JP2009089792A publication Critical patent/JP2009089792A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5101975B2 publication Critical patent/JP5101975B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Description

この発明は、眼底に光を照射し、その反射光に基づく干渉光を検出して眼底の画像を形成する眼底観察装置、及び、眼底の画像を処理する眼底画像処理装置に関する。特に、眼底の層の厚さを参照する診断に好適な技術に関するものである。
眼科分野の診断において、眼底の層厚は重要な情報の一つである。特に、緑内障や浮腫のように、疾患の有無や進行状況が眼底の層の厚さとして現れる疾患については、層厚は極めて重要である。
眼底の層厚を計測する装置としては、たとえば特許文献1に記載のOCT装置(眼底観察装置)が知られている。この眼底観察装置は、眼底の断層画像を取得し、この断層画像を基に複数の位置における網膜神経線維層の厚さを求める。更に、この眼底観察装置は、網膜神経線維層の厚さの分布を4分円の各範囲で平均して呈示する。
なお、OCT装置は、OCT(Optical Coherence Tomography)技術を応用して眼底の断層画像を取得する。OCT技術は、低コヒーレンス光を二分し、その一方を被測定物体に照射し、その反射光と他方とを重畳して得られる干渉光を検出して被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成する技術である。OCT技術は、人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野での展開が期待されている。
OCT装置には、計測手法の異なる様々なタイプがある。たとえば、フーリエドメイン(Fourier Domain)タイプのOCT装置は、干渉光を分光してスペクトル強度分布を取得し、それをフーリエ変換することにより被測定物体の断層画像を形成する。フーリエドメインタイプのOCT装置は、一般に、被測定物体に向かう光を所定の軌跡に沿って走査することにより、当該軌跡を断面とする断層画像を形成する(たとえば特許文献2、3を参照)。
また、特許文献1、4には、被測定物体に照射される光の波長を走査するタイプのOCT装置が記載されている。このOCT装置は、スウェプトソース(Swept Source)タイプなどと呼ばれる。
また、特許文献5には、所定のビーム径を有する光を被測定物体に照射して、光の進行方向に直交する断面の画像を形成するOCT装置が記載されている。このOCT装置は、フルフィールド(full−field)タイプ、或いはエンフェイス(en−face)タイプなどと呼ばれる。
また、特許文献3には、信号光を2次元的に走査することにより3次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。
特表2004−502483号公報 特開2007−101365号公報 特開2007−185243号公報 特開2007−24677号公報 特開2006−153838号公報
従来の眼底観察装置では、特許文献1のように、眼底の層厚の分布を所定範囲内で平均化していた。このような眼底観察装置は、広範囲における疾患の状態を把握するのに有効であるが、狭い範囲(特に一点)における層厚の値を把握できないために、微小な病変を特定するのには有効とは言い難い。
なお、平均値を算出するときには様々な位置での層厚の計測値が用いられるので、これらの計測値を選択的に呈示することは可能である。実際、そのような眼底観察装置も開発されている。一例として、視神経乳頭や黄斑部を中心とする円形の軌跡に沿って層厚を計測する装置がある。
このような計測手法は、疾患の有無や大域的な状態を判断するのに有効ではあるが、次のような問題がある。第1に、或る位置の層厚が異常値を示した場合であっても、この異常値がアーティファクト(artifact)によるものか、又は真に異常を示すものであるかを判定することが困難であった。
第2に、眼底の或る組織の配置に応じて病変が進行すると考えられる場合があるが、従来の計測手法では、このような病変の進行状況を把握することはできなかった。たとえば緑内障においては、網膜神経線維に沿って病変(層厚の減少)が進行するものがあると考えられているが、従来の手法では、このような病変の進行状況、すなわち層厚の減少状況を高確度で把握することは困難であった。
これらの問題により、従来の技術では、眼底の層厚を高い確度で計測することは困難であった。
この発明は、以上のような事情に鑑みてなされたもので、眼底の層厚を高確度で計測することが可能な眼底観察装置及び眼底画像処理装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、眼底を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光の検出結果に基づいて前記眼底の断層画像を形成し、断面位置が異なる複数の断層画像に基づいて前記眼底の3次元画像を形成する眼底観察装置であって、眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、を備え、前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置の層厚値のうちから前記標準位置に相当する層厚値を抽出する抽出手段と、前記抽出された層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段とを備えることを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の眼底観察装置であって、前記記憶手段は、前記標準位置を表す標準位置情報を予め記憶し、前記抽出手段は、前記標準位置情報に基づいて前記標準位置に相当する前記複数の位置を決定する、ことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、眼底を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光の検出結果に基づいて前記眼底の断層画像を形成し、断面位置が異なる複数の断層画像に基づいて前記眼底の3次元画像を形成する眼底観察装置であって、眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、を備え、前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置のそれぞれの層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段と、前記複数の位置の前記変位のうちから前記標準位置に相当する位置における変位を抽出する変位抽出手段とを備える、ことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の眼底観察装置であって、前記記憶手段は、前記標準位置を表す標準位置情報を予め記憶し、前記変位抽出手段は、前記標準位置情報に基づいて前記標準位置に相当する位置を決定する、ことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項1〜請求項のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、表示手段と、前記変位に基づく表示情報を前記表示手段に表示させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の眼底観察装置であって、前記制御手段は、前記変位と所定閾値とを比較して病変の有無を判定する判定手段を備え、その判定結果を前記表示情報として表示させる、ことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の眼底観察装置であって、前記所定組織は網膜神経線維であり、前記標準位置は、眼底における網膜神経線維の標準的な走行軌跡上の位置であり、前記制御手段は、前記走行軌跡上の複数の位置における変位を比較して病変の有無を判定する判定手段を備え、その判定結果を前記表示情報として表示させる、ことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、請求項に記載の眼底観察装置であって、前記所定組織は網膜神経線維であり、前記標準位置は、眼底における網膜神経線維の標準的な走行軌跡上の位置であり、前記3次元画像は、前記眼底の中心窩を含む領域の画像であり、前記制御手段は、前記標準位置における変位と、前記中心窩を通る横軸に対して前記標準位置に対称な位置における変位とを比較して病変の有無を判定する判定手段を備え、その判定結果を前記表示情報として表示させる、ことを特徴とする。
また、請求項に記載の発明は、眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、眼底の3次元画像を受け付ける受付手段と、前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、を備え、前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置の層厚値のうちから前記標準位置に相当する層厚値を抽出する抽出手段と、前記抽出された層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段とを備える、ことを特徴とする眼底画像処理装置である。
また、請求項10に記載の発明は、眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、眼底の3次元画像を受け付ける受付手段と、前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、を備え、前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置のそれぞれの層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段と、前記複数の位置の前記変位のうちから前記標準位置に相当する位置における変位を抽出する変位抽出手段とを備える、ことを特徴とする眼底画像処理装置である
また、請求項11に記載の発明は、請求項9又は請求項10に記載の眼底画像処理装置であって、表示手段と、前記変位に基づく表示情報を前記表示手段に表示させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
この発明に係る眼底観察装置は、断面位置が異なる複数の断層画像を形成し、これらの断層画像に基づいて眼底の3次元画像を形成する装置である。更に、この眼底観察装置は、眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶し、標準位置に相当する3次元画像中の領域における層厚値と、標準層厚との変位を求めるように作用する。
このような眼底観察装置によれば、眼底の所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができるので、たとえば所定組織に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
この発明に係る眼底画像処理装置は、眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶している。この眼底画像処理装置は、眼底の3次元画像を受け付け、標準位置に相当する3次元画像中の領域における層厚値と、標準層厚との変位を求めるように作用する。
このような眼底画像処理装置によれば、眼底の所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができるので、たとえば所定組織に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
この発明に係る眼底観察装置及び眼科画像処理装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
以下に説明する眼底観察装置は、OCT技術を用いて眼底の断層画像や3次元画像を形成する。適用される計測手法は、フーリエドメインタイプ、スウェプトソースタイプ、フルフィールドタイプなど、任意の手法でよい。
また、以下に説明する眼底画像処理装置は、OCT技術等を用いて取得された眼底の3次元画像を処理する装置である。なお、眼底画像処理装置は、外部から入力される断層画像に基づいて眼底の3次元画像を形成するものでもよいし、眼底の3次元画像を外部から受け付けるものでもよい。
[装置構成]
図1に示す眼底観察装置1は、フーリエドメインタイプのOCT装置としての機能とともに、眼底表面の2次元画像(眼底画像)を撮影する機能を有する。
[全体構成]
眼底観察装置1は、眼底カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制御装置200を含んで構成される。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。なお、眼底カメラは眼底画像を撮影する装置である。OCTユニット150は、OCT画像を取得するための光学系を格納している。演算制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
OCTユニット150には、接続線152の一端が取り付けられている。接続線152の他端には、接続線152を眼底カメラユニット1Aに接続するコネクタ部151が取り付けられている。接続線152の内部には光ファイバが導通されている。このように、OCTユニット150と眼底カメラユニット1Aは、接続線152を介して光学的に接続されている。
〔眼底カメラユニットの構成〕
眼底カメラユニット1Aは、眼底画像を形成するための光学系を有する。ここで、眼底画像とは、眼底表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)などを表す。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラと同様に、眼底Efを照明する照明光学系100と、この照明光の眼底反射光を撮像装置10に導く撮影光学系120とを備えている。
照明光学系100は、観察光源101、コンデンサレンズ102、撮影光源103、コンデンサレンズ104、エキサイタフィルタ105及び106、リング透光板107、ミラー108、LCD(Liquid Crystal Display)109、照明絞り110、リレーレンズ111、孔開きミラー112、対物レンズ113を含んで構成される。
観察光源101は、たとえば約400nm〜700nmの範囲に含まれる可視領域の波長の照明光を出力する。撮影光源103は、たとえば約700nm〜800nmの範囲に含まれる近赤外領域の波長の照明光を出力する。この近赤外光は、OCTユニット150で用いられる光の波長よりも短く設定されている(後述)。
また、撮影光学系120は、対物レンズ113、孔開きミラー112(の孔部112a)、撮影絞り121、バリアフィルタ122及び123、変倍レンズ124、リレーレンズ125、撮影レンズ126、ダイクロイックミラー134、フィールドレンズ(視野レンズ)128、ハーフミラー135、リレーレンズ131、ダイクロイックミラー136、撮影レンズ133、撮像装置10(撮像素子10a)、反射ミラー137、撮影レンズ138、撮像装置12(撮像素子12a)、レンズ139及びLCD140を含んで構成される。
更に、撮影光学系120には、ダイクロイックミラー134、ハーフミラー135、ダイクロイックミラー136、反射ミラー137、撮影レンズ138、レンズ139及びLCD140が設けられている。
ダイクロイックミラー134は、照明光学系100からの照明光の眼底反射光を反射し、OCTユニット150からの信号光LSを透過させる。
また、ダイクロイックミラー136は、観察光源101からの照明光の眼底反射光を透過させ、撮影光源103からの照明光の眼底反射光を反射する。
LCD140は、被検眼Eを固視させるための固視標(内部固視標)を表示する。LCD140からの光は、レンズ139により集光され、ハーフミラー135により反射され、フィールドレンズ128を経由してダイクロイックミラー136に反射される。更に、この光は、撮影レンズ126、リレーレンズ125、変倍レンズ124、孔開きミラー112(の孔部112a)、対物レンズ113等を経由して、被検眼Eに入射する。それにより、被検眼Eの眼底Efに内部固視標が投影される。
撮像素子10aは、CCD(Charge Coupled Devices)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子である。撮像素子10aは、特に、近赤外領域の波長の光を検出する。つまり、撮像装置10は、近赤外光を検出する赤外線テレビカメラとして機能する。撮像装置10は、近赤外光の検出結果として映像信号を出力する。なお、撮像装置10による撮影時には、たとえば撮影光源103からの照明光が用いられる。
タッチパネルモニタ11は、この映像信号に基づいて眼底画像Ef′を表示する。また、この映像信号は演算制御装置200に送られる。
撮像素子12aは、CCDやCMOS等の撮像素子である。撮像素子12aは、特に、可視領域の波長の光を検出する。つまり、撮像装置12は、可視光を検出するテレビカメラである。撮像装置12は、可視光の検出結果として映像信号を出力する。なお、撮像装置12による眼底撮影時には、たとえば観察光源101からの照明光が用いられる。
タッチパネルモニタ11は、この映像信号に基づいて眼底画像Ef′を表示する。また、この映像信号は演算制御装置200に送られる。
眼底カメラユニット1Aには、走査ユニット141とレンズ142とが設けられている。走査ユニット141は、OCTユニット150から出力される光(信号光LS;後述)の眼底Efに対する照射位置を走査する。
レンズ142は、OCTユニット150から接続線152を通じて導光された信号光LSを平行な光束にして走査ユニット141に入射させる。また、レンズ142は、走査ユニット141を経由してきた信号光LSの眼底反射光を集束させる。
図2に、走査ユニット141の構成の一例を示す。走査ユニット141は、ガルバノミラー141A、141Bと、反射ミラー141C、141Dとを含んで構成されている。
ガルバノミラー141A、141Bは、それぞれ回動軸141a、141bを中心に回動可能に配設された反射ミラーである。各ガルバノミラー141A、141Bは、後述の駆動機構(図5に示すミラー駆動機構241、242)によって回動軸141a、141bを中心にそれぞれ回動される。それにより、各ガルバノミラー141A、141Bの反射面(信号光LSを反射する面)の向きが変更される。
回動軸141a、141bは、互いに直交して配設されている。図2においては、ガルバノミラー141Aの回動軸141aは、紙面に対して平行方向に配設されている。また、ガルバノミラー141Bの回動軸141bは、紙面に対して直交する方向に配設されている。
すなわち、ガルバノミラー141Bは、図2中の両側矢印に示す方向に回動可能に構成され、ガルバノミラー141Aは、当該両側矢印に対して直交する方向に回動可能に構成されている。それにより、ガルバノミラー141A、141Bは、信号光LSの反射方向を互いに直交する方向に変更するようにそれぞれ作用する。図1、図2から分かるように、ガルバノミラー141Aを回動させると信号光LSはx方向に走査され、ガルバノミラー141Bを回動させると信号光LSはy方向に走査される。
ガルバノミラー141A、141Bにより反射された信号光LSは、反射ミラー141C、141Dにより反射され、ガルバノミラー141Aに入射したときと同じ向きに進行する。
なお、接続線152の内部の光ファイバ152aの端面152bは、レンズ142に対峙して配設される。端面152bから出射された信号光LSは、レンズ142に向かってビーム径を拡大しつつ進行し、レンズ142によって平行な光束とされる。逆に、眼底Efを経由した信号光LSは、レンズ142により端面152bに向けて集束されて光ファイバ152aに入射する。
〔OCTユニットの構成〕
次に、OCTユニット150の構成について図3を参照しつつ説明する。OCTユニット150は、眼底のOCT画像を形成するための光学系を有する。
OCTユニット150は、従来のフーリエドメインタイプのOCT装置とほぼ同様の光学系を備えている。すなわち、OCTユニット150は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、そのスペクトル成分を検出する。この検出結果(検出信号)は演算制御装置200に入力される。演算制御装置200は、この検出信号を解析して眼底の断層画像や3次元画像を形成する。
低コヒーレンス光源160は、低コヒーレンス光L0を出力する広帯域光源により構成される。広帯域光源としては、たとえば、スーパールミネセントダイオード(SLD:Super Luminescent Diode)や、発光ダイオード(LED:Light Emitted Diode)などが用いられる。
低コヒーレンス光L0は、たとえば、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する光とされる。低コヒーレンス光L0は、眼底カメラユニット1Aの照明光(波長約400nm〜800nm)よりも長い波長、たとえば約800nm〜900nmの範囲に含まれる波長を有する。
低コヒーレンス光源160から出力された低コヒーレンス光L0は、光ファイバ161を通じて光カプラ162に導かれる。光ファイバ161は、たとえばシングルモードファイバやPMファイバ(Polarization maintaining fiber;偏波面保持ファイバ)等により構成される。光カプラ162は、低コヒーレンス光L0を参照光LRと信号光LSとに分割する。
なお、光カプラ162は、光を分割する手段(スプリッタ;splitter)、及び、光を重畳する手段(カプラ;coupler)の双方として作用するものであるが、ここでは慣用的に「光カプラ」と称することにする。
光カプラ162により生成された参照光LRは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ163により導光されてファイバ端面から出射される。更に、参照光LRは、コリメータレンズ171により平行光束とされた後に、ガラスブロック172及び濃度フィルタ173を経由し、参照ミラー174により反射される。参照ミラー174は、この発明の「参照物体」の例である。
参照ミラー174により反射された参照光LRは、再び濃度フィルタ173及びガラスブロック172を経由し、コリメータレンズ171によって光ファイバ163のファイバ端面に集光され、光ファイバ163を通じて光カプラ162に導かれる。
ここで、ガラスブロック172と濃度フィルタ173は、参照光LRと信号光LSの光路長(光学距離)を合わせるための遅延手段として、また、参照光LRと信号光LSの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。
また、濃度フィルタ173は、参照光LRの光量を減少させる減光フィルタとしても作用する。濃度フィルタ173は、たとえば、回転型のND(Neutral Density)フィルタにより構成される。濃度フィルタ173は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構(図5に示す濃度フィルタ駆動機構244)によって回転駆動される。それにより、干渉光LCの生成に寄与する参照光LRの光量が変更される。
また、参照ミラー174は、参照光LRの進行方向(図3に示す両側矢印方向)に移動可能とされている。それにより、被検眼Eの眼軸長やワーキングディスタンス(対物レンズ113と被検眼Eとの距離)などに応じた参照光LRの光路長を確保できる。また、参照ミラー174を移動させることにより、眼底Efの任意の深度位置の画像を取得することができる。なお、参照ミラー174は、モータ等の駆動装置を含んで構成される駆動機構(図5に示す参照ミラー駆動機構243)によって移動される。
一方、光カプラ162により生成された信号光LSは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ164により接続線152の端部まで導光される。接続線152の内部には光ファイバ152aが導通されている。ここで、光ファイバ164と光ファイバ152aは、単一の光ファイバから形成されていてもよいし、各々の端面同士を接合するなどして一体的に形成されていてもよい。いずれにしても、光ファイバ164、152aは、眼底カメラユニット1AとOCTユニット150との間で、信号光LSを伝送可能に構成されていれば十分である。
信号光LSは、接続線152内部を導光されて眼底カメラユニット1Aに案内される。更に、信号光LSは、レンズ142、走査ユニット141、ダイクロイックミラー134、撮影レンズ126、リレーレンズ125、変倍レンズ124、撮影絞り121、孔開きミラー112の孔部112a、対物レンズ113を経由して被検眼Eに照射される。なお、信号光LSを被検眼Eに照射させるときには、バリアフィルタ122、123は、それぞれ事前に光路から退避される。
被検眼Eに入射した信号光LSは、眼底Ef上にて結像し反射される。このとき、信号光LSは、眼底Efの表面で反射されるだけでなく、眼底Efの深部領域にも到達して屈折率境界において散乱される。したがって、眼底Efを経由した信号光LSは、眼底Efの表面形態を反映する情報と、眼底Efの深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んでいる。
信号光LSの眼底反射光は、眼底カメラユニット1A内の上記経路を逆向きに進行して光ファイバ152aの端面152bに集光され、光ファイバ152aを通じてOCTユニット150に入射し、光ファイバ164を通じて光カプラ162に戻ってくる。
光カプラ162は、被検眼Eを経由して戻ってきた信号光LSと、参照ミラー174にて反射された参照光LRとを重畳して干渉光LCを生成する。干渉光LCは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ165を通じてスペクトロメータ180に導かれる。
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。
スペクトロメータ(分光計)180は、コリメータレンズ181、回折格子182、結像レンズ183、CCD184を含んで構成される。回折格子182は、光を透過させる透過型の回折格子であってもよいし、光を反射する反射型の回折格子であってもよい。また、CCD184に代えて、CMOS等の他の光検出素子を用いることも可能である。
スペクトロメータ180に入射した干渉光LCは、コリメータレンズ181により平行光束とされ、回折格子182によって分光(スペクトル分解)される。分光された干渉光LCは、結像レンズ183によってCCD184の撮像面上に結像される。CCD184は、干渉光LCの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。CCD184は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、CCD184は、この検出信号を演算制御装置200に送信する。電荷の蓄積時間や蓄積タイミング、更には検出信号の送信タイミングは、たとえば演算制御装置200により制御される。
〔演算制御装置の構成〕
次に、演算制御装置200の構成について説明する。演算制御装置200は、OCTユニット150のCCD184から入力される検出信号を解析して、眼底EfのOCT画像を形成する。このときの解析手法は、従来のフーリエドメインOCTの手法と同様である。
また、演算制御装置200は、眼底カメラユニット1Aの撮像装置10、12から出力される映像信号に基づいて眼底Efの表面の形態を示す2次元画像を形成する。
更に、演算制御装置200は、眼底カメラユニット1A及びOCTユニット150の各部を制御する。
眼底カメラユニット1Aの制御として、演算制御装置200は、観察光源101や撮影光源103による照明光の出力制御、エキサイタフィルタ105、106やバリアフィルタ122、123の光路上への挿入/退避動作の制御、LCD140等の表示装置の動作制御、照明絞り110の移動制御(絞り値の制御)、撮影絞り121の絞り値の制御、変倍レンズ124の移動制御(倍率の制御)などを行う。更に、演算制御装置200は、ガルバノミラー141A、141Bの動作制御を行う。
また、OCTユニット150の制御として、演算制御装置200は、低コヒーレンス光源160による低コヒーレンス光L0の出力制御、参照ミラー174の移動制御、濃度フィルタ173の回転動作(参照光LRの光量の減少量の変更動作)の制御、CCD184の蓄積タイミングや信号出力タイミングの制御などを行う。
演算制御装置200のハードウェア構成について図4を参照しつつ説明する。
演算制御装置200は、従来のコンピュータと同様のハードウェア構成を備えている。具体的には、演算制御装置200は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ(HDD)204、キーボード205、マウス206、ディスプレイ207、画像形成ボード208及び通信インターフェイス(I/F)209を含んで構成される。これら各部は、バス200aにより接続されている。
マイクロプロセッサ201は、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro Processing Unit)等を含んで構成される。マイクロプロセッサ201は、制御プログラム204aをハードディスクドライブ204から読み出してRAM202上に展開することにより、この実施形態に特徴的な動作を眼底観察装置1に実行させる。
また、マイクロプロセッサ201は、前述した装置各部の制御や、各種の演算処理などを実行する。また、マイクロプロセッサ201は、キーボード205やマウス206からの操作信号を受け、その操作内容に応じて装置各部を制御する。更に、マイクロプロセッサ201は、ディスプレイ207による表示処理の制御や、通信インターフェイス209によるデータや信号の送受信処理の制御などを行う。
キーボード205、マウス206及びディスプレイ207は、眼底観察装置1のユーザインターフェイスとして使用される。キーボード205は、たとえば文字や数字等をタイピング入力するためのデバイスとして用いられる。マウス206は、ディスプレイ207の表示画面に対する各種入力操作を行うためのデバイスとして用いられる。
また、ディスプレイ207は、たとえばLCDやCRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ等の表示デバイスであり、眼底観察装置1により形成された眼底Efの画像などの各種の画像を表示したり、操作画面や設定画面などの各種の画面を表示したりする。
なお、眼底観察装置1のユーザインターフェイスは、このような構成に限定されるものではなく、たとえばトラックボール、ジョイスティック、タッチパネル式のLCD、眼科検査用のコントロールパネルなどを含んでいてもよい。ユーザインターフェイスとしては、情報を表示出力する機能と、情報を入力したり装置の操作を行ったりする機能とを具備する任意の構成を採用できる。
画像形成ボード208は、眼底Efの画像(画像データ)を形成する処理を行う専用の電子回路である。画像形成ボード208には、眼底画像形成ボード208aとOCT画像形成ボード208bとが設けられている。
眼底画像形成ボード208aは、撮像装置10や撮像装置12からの映像信号に基づいて眼底画像の画像データを形成する専用の電子回路である。眼底画像形成ボード208aは、眼底画像Ef′を撮影するための光学系(照明光学系100、撮影光学系120)とともに、この発明の「撮影手段」の一例として機能する。
また、OCT画像形成ボード208bは、OCTユニット150のCCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する専用の電子回路である。
このような画像形成ボード208を設けることにより、眼底画像や断層画像を形成する処理の処理速度を向上させることができる。
通信インターフェイス209は、マイクロプロセッサ201からの制御信号を、眼底カメラユニット1AやOCTユニット150に送信する。また、通信インターフェイス209は、撮像装置10、12からの映像信号や、OCTユニット150のCCD184からの検出信号を受信して、画像形成ボード208に入力する。このとき、通信インターフェイス209は、撮像装置10、12からの映像信号を眼底画像形成ボード208aに入力し、CCD184からの検出信号をOCT画像形成ボード208bに入力するようになっている。
また、演算制御装置200がLAN(Local Area Network)やインターネット等の通信回線に接続されている場合には、LANカード等のネットワークアダプタやモデム等の通信機器を通信インターフェイス209に具備させ、この通信回線を介してデータ通信を行えるように構成できる。この場合、制御プログラム204aを格納するサーバを通信回線上に設置するとともに、演算制御装置200を当該サーバのクライアント端末として構成することにより、眼底観察装置1を動作させることができる。
〔制御系の構成〕
次に、眼底観察装置1の制御系の構成について図5及び図6を参照しつつ説明する。
(制御部)
眼底観察装置1の制御系は、演算制御装置200の制御部210を中心に構成される。制御部210は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)、通信インターフェイス209等を含んで構成される。
制御部210には、主制御部211と記憶部212が設けられている。主制御部211は、前述した各種の制御を行う。
記憶部212は、各種のデータを記憶する。記憶部212に記憶されるデータとしては、たとえば、OCT画像の画像データ、眼底画像Ef′の画像データ、被検者情報などがある。なお、被検者情報は、患者IDや氏名など、被検者に関する情報である。主制御部211は、記憶部212にデータを書き込む処理や、記憶部212からデータを読み出す処理を行う。
記憶部212には、標準位置情報212aと標準層厚情報212bとが予め記憶されている。記憶部212は、この発明の「記憶手段」の一例であり、たとえばハードディスクドライブ204を含んで構成される。
標準位置情報212aは、眼底の所定の組織の標準位置を表す情報である。ここで、眼底の所定の組織とは、眼底を形成する任意の組織(構造体)を意味し、たとえば解剖学的に分類される組織を意味する。
この実施形態では、眼底の所定の組織の例として網膜神経線維を考慮する。ここで網膜神経線維について図7を参照しつつ説明する。図7は、角膜側から見たときの眼底の概略形態を表している。
網膜神経線維は、網膜の神経細胞(視細胞、双極細胞、アマクリン細胞、神経節細胞)により生成された神経信号を、視神経乳頭を介して脳中枢に伝達する。図7に示すように、網膜神経線維Fi(i=1、2、3、・・・)は、視神経乳頭Pに集まっている。
この実施形態では、黄斑中心(中心窩)Mを原点とする2次元座標系(X、Y)を定義し、これにより眼底における位置を表現することにする。なお、視神経乳頭Pの中心(乳頭中心)Cと中心窩Mとを結んだ方向にX軸を定義し、X軸に直交するようにY軸を定義することにする。また、乳頭中心Cから中心窩Mに向かう方向をX軸の正方向(+X方向)として定義し、被検者の頭部方向をY軸の正方向(+Y方向)として定義することにする。なお、眼底における位置の定義方法は、これに限定されるものではない。たとえば、視神経乳頭を原点とした座標系を用いることができる。いずれにしても、眼底における位置を一意的に定義可能な任意の座標系を用いることが可能である。
各網膜神経線維Fiは、図7に示すように、一端が視神経乳頭P内に導かれている。また、各網膜神経線維Fiは、X軸に対して所定の角度θiを成して視神経乳頭Pから離れていき、弧形状の軌跡に沿って走行する線維である。標準的な眼(正常眼等)においては、網膜神経線維Fiは、ほぼ同様に配置されている。
なお、標準的な眼においては、網膜神経線維はX軸に対して対称に配置されている。図7には、+Y側に位置する網膜神経線維のみが記載されているが、−Y側にも同様に網膜神経線維が配置されている。
標準位置情報212aは、このような網膜神経線維Fiの標準的な位置を表す情報である。標準位置情報212aには、たとえば、XY座標系における各網膜神経線維Fiの走行軌跡の座標値が記録されている。また、網膜神経線維Fiの走行軌跡が連続曲線である場合など、走行軌跡を定式化できる場合には、その走行軌跡を表す方程式を標準位置情報212aとして記録してもよい。また、網膜神経線維Fiが視神経乳頭Pから離れていく角度θiや、X軸と交差する位置(交差しない場合には、その延長線の交差位置)Xiや、Y軸と交差する位置Yiなどを標準位置情報212aとして記録してもよい。
なお、網膜神経線維Fiの走行軌跡は、たとえば、多数の臨床データに基づいて統計的に取得できる。具体的には、多数の眼について眼底のOCT画像を取得し、各OCT画像を解析して網膜神経線維の走行軌跡を求め、これらの統計値(平均値、中央値、標準偏差等)を用いて、網膜神経線維Fiの走行軌跡を取得することができる。また、眼底を解剖したり顕微鏡で観察するなどして網膜神経線維Fiの走行軌跡を取得することもできる。
また、標準的な眼においては、網膜神経線維は非常に多数存在しているが、全ての網膜神経線維の配置を標準位置情報212aに記録する必要はない。たとえば、特定の角度θi(たとえば5度間隔)の網膜神経線維Fiについてのみ、その配置を記録するようにしてもよい。
次に、標準層厚情報212bについて説明する。標準層厚情報212bは、眼底の標準層厚を表す。ここで、眼底の標準層厚とは、標準的な眼の眼底における層の厚さを表す。
標準層厚は、たとえば、標準的な眼における層厚の臨床データに基づいて取得される。具体的には、多数の眼についてOCT画像を取得し、このOCT画像を解析して層厚を計測し、多数の計測値の統計値(平均値、中央値、標準偏差等)に基づいて標準層厚を取得できる。なお、標準層厚は、眼底の様々な位置について取得される。特に、標準位置情報212aに示す標準位置における標準層厚が取得される。
一般に、眼底は、網膜、脈絡膜、強膜により構成されている。更に、網膜は、眼底表面から深度方向に向かって順に、内境界膜、神経線維層、神経節細胞層、内網状層、内顆粒層、外網状層、外顆粒層、外境界膜、視細胞層、網膜色素上皮層を有することが知られている。なお、網膜神経線維は神経線維層に位置する。
標準層厚情報212bは、このような積層構造を有する眼底における所定の層(一つ以上の層)の厚さを記録している。この実施形態では、たとえば、次に列挙する層の厚さのうちの少なくとも一つを用いることができる:(1)神経線維層の厚さ;(2)神経節細胞層の厚さ;(3)神経節細胞層及び内網状層の厚さ;(4)(内境界膜から内網状層までの層厚)−(神経線維層の層厚)。
標準層厚情報212bは、眼底における位置と、当該位置における標準層厚とを関連付けて記録している。眼底における位置は、たとえば上記のXY座標系により定義される。その場合、標準層厚情報212bは、眼底における任意の位置(X、Y)における標準層厚d(X、Y)を記録する。標準層厚情報212bは、少なくとも、標準位置情報212aに示す網膜神経線維Fiの標準位置における標準層厚を含んでいる。
(画像形成部)
画像形成部220は、撮像装置10、12からの映像信号に基づいて眼底画像Ef′の画像データを形成する。
また、画像形成部220は、CCD184からの検出信号に基づいて眼底Efの断層画像の画像データを形成する。この処理には、たとえば、ノイズ除去(ノイズ低減)、フィルタ処理、FFT(Fast Fourier Transform)などが含まれている。画像形成部220は、たとえば、検出信号の強度、より詳しくは周波数成分の強度に基づいて画素値(輝度値)を決定することにより、断層画像の画像データを形成する。
画像形成部220は、画像形成ボード208や通信インターフェイス209等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づいて表示される「画像」とを同一視することがある。
(画像処理部)
画像処理部230は、画像形成部220により形成された画像の画像データに対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部230は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。画像処理部230には、3次元画像形成部231、層厚演算部232、層厚値抽出部233、変位演算部234及び評価処理部235が設けられている。以下、これらの各部231〜235について説明する。
(3次元画像形成部)
3次元画像形成部231は、眼底Efの複数の断層画像に基づいて眼底Efの3次元画像(の画像データ)を形成する。3次元画像形成部231は、たとえば、隣接する断層画像の間の画素を補間する補間処理を実行することにより3次元画像を形成する。
なお、3次元画像とは、3次元座標系により画素の位置が定義された画像を意味する。3次元画像としては、3次元的に配列されたボクセルからなる画像がある。この3次元画像は、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部230は、このボリュームデータに対してレンダリング処理(ボリュームレンダリングやMIP(Maximum Intensity Projection:最大値投影)など)を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な表示用の3次元画像を形成する。
また、3次元画像形成部231は、眼底Efの3次元画像として、複数の断層画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層画像を、走査線の位置関係に基づいて3次元的に配列させることにより得られる。
この実施形態に係る眼底観察装置1は、標準位置情報212aに示す標準位置の少なくとも一部を含む眼底Efの領域における3次元画像を形成する。そのために、眼底観察装置1は、標準位置を含む眼底Efの領域を信号光LSで走査する。たとえば、眼底観察装置1は、眼底Efの中心窩を含み、視神経乳頭の近傍まで届くサイズの矩形状の走査領域(図9を参照)を設定し、この走査領域内を信号光LSで走査する。また、信号光LSの走査可能範囲を拡大できる場合には、眼底の中心窩を含み、視神経乳頭の少なくとも一部を含むように走査領域を設定することができる。
なお、走査領域は、その中心に中心窩が位置するように設定されることが望ましい。これは、内部固視標を用いて被検眼を所定方向に固視させることにより実現できる。ただし、固視が確実に行われているか判定することは難しく、また固視微動等の影響などもあるため、走査領域の中心に中心窩が位置するかは保証されない。しかしながら、被検眼を固視させることにより、走査領域の中心からそれほど遠くない位置に中心窩が配置されるように信号光LSを走査することは可能である。
(層厚演算部)
層厚演算部232は、眼底Efの3次元画像を解析して眼底Efの層厚を演算する。演算対象となる層厚は、標準層厚情報212bに示す標準層厚と同じ層の厚さとされる。層厚演算部232は、眼底Efの様々な位置における層厚を求める。たとえば、層厚演算部232は、xyz座標系にて定義された眼底Efの3次元画像について、xy座標面に配列された各画素の位置における層厚を演算する。層厚演算部232は、この発明の「層厚演算手段」の一例である。
層の厚さの演算手法については、たとえば特開2007−130403号公報に開示されている。簡単に説明すると、まず、3次元画像(又は断層画像)の画素値に基づいて所定の層を特定し、その層の上端と下端の距離(z方向の距離)を演算することで層の厚さを求める。また、3次元画像(又は断層画像)の画素値に基づいて、所定の層と層との境界位置を特定し、境界位置の間の距離(z方向の距離)を演算することにより、層の厚さを求めることもできる。以下、xy座標系の座標値(x、y)における層厚値をD(x、y)と表すことがある。
(層厚値抽出部)
層厚値抽出部233は、層厚演算部232により取得された眼底Efの様々な位置における層厚値のうちから、標準位置情報212aに示す標準位置に相当する層厚値を抽出する。層厚値抽出部233は、この発明の「抽出手段」の例である。
層厚値抽出部233が実行する処理の例を説明する。最初に、層厚値抽出部233は、眼底Efの3次元画像が定義された座標系(xyz座標系)と、標準位置情報212aに示す標準位置が定義された座標系との位置合わせを行う。
この位置合わせ処理の例を説明する。以下に説明する処理例は4段階の処理を含む。第1段階として、層厚値抽出部233は、3次元画像又は断層画像を解析して、眼底Efの中心窩に相当する画像中の位置を特定する。中心窩は黄斑部の中心に位置し、黄斑部は眼底Efの表面における窪みである。層厚値抽出部233は、たとえば硝子体−網膜境界面(vitreo−retinal interface;VRI)に相当する画像領域を3次元画像から特定することにより、眼底表面に相当する画像領域(眼底表面領域)を特定する。
第2段階として、層厚値抽出部233は、この眼底表面領域の形状を解析して、黄斑部に相当する窪みに相当する3次元画像中の位置を特定する。なお、3次元画像には、視神経乳頭に相当する窪みや、アーティファクトによる窪みや、眼底表面の小さな窪みに相当する窪みなどが存在する場合がある。
視神経乳頭に相当する窪みは、黄斑部に相当する窪みよりも深いので、たとえば、黄斑部の深さの最大値を閾値として予め設定し、この閾値より深い窪みを無視することにより除外できる。
また、アーティファクトによる窪みや眼底表面の小さな窪みは、一般に、黄斑部に相当する窪みと比較して非常に狭い範囲に形成されるので、たとえば、窪みの口径の閾値を予め設定し、この閾値よりも小さな口径の窪みを無視することにより除外できる。また、これらの窪みは、眼底表面領域にスムージング処理を施して除去することもできる。
第3段階として、層厚値抽出部233は、黄斑部に相当する窪みに相当する3次元画像中の位置に基づいて、中心窩に相当する位置を決定する。この処理は、たとえば、当該窪みの口径に相当する画像領域(ほぼ楕円形や円形である)の中心位置や重心位置を特定し、この特定位置を中心窩に相当する位置に設定することで実行できる。また、当該窪みの最深部に相当する位置を中心窩に相当する位置に設定するようにしてもよい。
第4段階として、層厚値抽出部233は、中心窩に相当する3次元画像中の位置の座標M0(x0、y0、z0)を、標準位置情報212aに示す標準位置の座標の原点M(X、Y)=(0、0)とを対応付けることにより、xyz座標系とXY座標系を位置合わせする。
この処理の例として、層厚値抽出部233は、座標M0のx座標値x0を原点MのX座標値0に変換し、y座標値y0をY座標値0に変換する変換式を求める。この座標変換は、2次元座標系の平行移動であるので、容易に変換式を求めることができる。
なお、座標系の向きを一致させる処理については、たとえば、x軸の方向とX軸の方向とを一致させ、y軸の方向とY軸の方向とを一致させることにより行える。以上で、座標系の位置合わせ処理の説明を終了する。以下の説明において、XY座標系とxy座標系とを同一視することがある。
座標系の位置合わせが終わったら、層厚値抽出部233は、標準位置情報212aに示す各標準位置に対応する3次元画像中の位置(対応位置)を特定する。この処理は、座標系の位置合わせ結果を参照して容易に行うことができる。
続いて、層厚値抽出部233は、層厚演算部232により求められた層厚値のうちから、対応位置における層厚値を抽出する。以下、抽出された層厚値をD(X、Y)と表すことがある(XY座標系とxy座標系との同一視による)。
(変位演算部)
変位演算部234は、各標準位置(X、Y)における標準層厚d(X、Y)を標準層厚情報212bから取得する。そして、変位演算部234は、各標準位置(X、Y)について、その標準層厚d(X、Y)に対する、対応位置における層厚値(演算結果)D(X、Y)の変位を演算する。以下、標準位置(X、Y)における変位をΔ(X、Y)と表すことがある。
この処理は、標準位置と対応位置とが対応付けられており、標準層厚及び層厚値(演算結果)が既知であるので、単なる減算として実行できる。この減算処理は、標準層厚から層厚値を減算するものであってもよいし、層厚値から標準層厚を減算するものであってもよい。また、一方から他方を減算した差の絶対値を算出するものであってもよい。また、減算処理以外にも、標準層厚に対する層厚値の比率を算出する処理や、層厚値に対する標準層厚の比率を演算するものであってもよい。また、標準層厚に対する層厚値の減少比率を演算するものであってもよい。一般に、変位演算部234は、層厚値と標準層厚とを比較可能とする任意の演算処理を実行する。変位演算部234は、この発明の「変位演算手段」の例である。
(評価処理部)
評価処理部235は、変位演算部234により演算された変位Δ(X、Y)に基づいて、眼底Efにおける病変の有無を評価(判定)する。また、評価処理部235は、この評価結果に基づいて、表示用の情報(表示情報)を生成する。評価処理部235は、この発明の「判定手段」の例である。
ここで、病変の有無の評価とは、病変の有る/無しの評価に限定されるものではなく、眼底の層厚に基づく病変に関する任意の評価であればよい。このような評価の具体例としては、病変の進行程度の評価や、病変が存在する可能性の評価などを行うものであってもよい。
評価処理部235は、たとえば、評価の基準となる情報(評価基準情報:図示せず)を参照することにより、眼底Efにおける病変の有無を評価する。評価基準情報は、たとえば、変位Δ(X、Y)の許容範囲(閾値)を示す情報である。この許容範囲は、たとえば、眼底の層厚と病変との関連を表す多数の臨床データに基づいて統計的に求められる。なお、病変の進行程度などを評価する場合には、評価基準情報は、段階的に複数の閾値を設定するものであってもよい。また、評価基準情報は、位置(X、Y)に応じて異なる閾値を設定するものであってもよい。
評価処理部235が実行する処理の具体例を説明する。第1の処理例として、評価処理部235は、閾値αを定義する評価基準情報に基づいて評価を行う。閾値αは、標準層厚に対する層厚の減少比率の閾値を表すものとする(たとえばα=10%)。また、変位演算部234は、標準層厚d(X、Y)に対する層厚値D(X、Y)の減少比率を変位Δ(X、Y)として求めるものとする(つまり、Δ(X、Y)={d(X、Y)−D(X、Y)}/d(X、Y))。
この場合、評価処理部235は、変位Δ(X、Y)と閾値αとを比較し、変位が閾値以下(Δ(X、Y)≦α)である場合には病変のおそれ無しと判定し、変位が閾値を超える(Δ(X、Y)>α)場合には病変のおそれ有りと判定する。
更に、評価処理部235は、この評価結果に基づいて表示情報を生成する。表示情報には、たとえば、層厚値D(X、Y)、標準層厚d(X、Y)、変位Δ(X、Y)、病変のおそれの有無を示すメッセージ、などが含まれる。このように、第1の処理例は、変位Δ(X、Y)の大きさに応じて病変の有無を評価するものである。以上で、第1の処理例の説明を終了する。
第2の処理例では、図7に示す網膜神経線維Fiのように、眼底の所定組織が線維構造を有する場合や、眼底血管のように樹状構造を有する場合などに適用可能な評価処理を説明する。以下、網膜神経線維の場合について説明する。
この場合、標準位置(X、Y)は、眼底における網膜神経線維Fiの標準的な走行軌跡上の位置を表す。このとき、変位演算部234は、網膜神経線維Fiの走行軌跡上の多数の位置(Xp、Yp)における変位Δ(Xp、Yp)を取得する(p=1、2、3、・・・)。たとえば、変位演算部234は、網膜神経線維Fiの走行軌跡上の各画素の位置における変位を取得する。
評価処理部235は、多数の変位Δ(Xp、Yp)のうちから、所定個数の位置における変位Δ(Xq、Yq)を選択する。このとき、同一の網膜神経線維の走行軌跡上における変位を選択してもよいし、異なる網膜神経線維の走行軌跡上における変位を選択してもよい。
同一の網膜神経線維の走行軌跡上における変位を選択する場合であっても、異なる網膜神経線維の走行軌跡上における変位を選択する場合であっても、評価処理部235は、たとえば、互いに近接する2つの位置(Xs、Ys)、(Xt、Yt)における変位を選択する。この処理は、たとえば、或る位置(Xs、Ys)を基準としたときに、この位置(Xs、Ys)から所定距離(たとえば数画素〜数十画素程度)だけ離れた位置(Xt、Yt)を特定することにより行う。
次に、評価処理部235は、位置(Xs、Ys)における変位Δ(Xs、Ys)と、位置(Xt、Yt)における変位Δ(Xt、Yt)とを比較する。
変位Δ(Xs、Ys)と変位Δ(Xt、Yt)との相異が所定閾値βより大きい場合、評価処理部235は、位置(Xs、Ys)又は位置(Xt、Yt)にアーティファクトが発生したと判断し、位置(Xs、Ys)及び位置(Xt、Yt)には病変のおそれは無いと判定する。
このとき、たとえば変位の相違を比率Δ(Xs、Ys)/Δ(Xt、Yt)で表す場合には、閾値βはたとえば80%程度に設定される。つまり、Δ(Xs、Ys)/Δ(Xt、Yt)>0.8である場合には、位置(Xs、Ys)及び位置(Xt、Yt)に病変は無いと判定される。なお、閾値βは、たとえば、比較対象となる位置(Xs、Ys)、(Xt、Yt)の間の距離に応じて設定される。
他方、変位Δ(Xs、Ys)と変位Δ(Xt、Yt)との相異が閾値β以下である場合、評価処理部235は、位置(Xs、Ys)及び/又は位置(Xt、Yt)に病変のおそれが有ると判定する。
更に、評価処理部235は、この評価結果に基づいて表示情報を生成する。表示情報には、たとえば、層厚値D(Xq、Yq)、標準層厚d(Xq、Yq)、変位Δ(Xq、Yq)、変位の相違(比率Δ(Xs、Ys)/Δ(Xt、Yt)等)、病変のおそれの有無を示すメッセージ、アーティファクトの有無を示すメッセージなどが含まれる。
このように、第2の処理例は、複数の位置での変位を比較してアーティファクトの有無を判定し、それにより病変の有無を評価するものである。アーティファクトは、画像中の狭い範囲に現れることが多い。第2の処理例を適用する場合、たとえば事前に取得されたアーティファクトの標準的な大きさに基づいて、比較対象の位置の間隔や閾値βが設定される。それにより、変位Δ(Xq、Yq)の異常がアーティファクトに起因するものであるか、又は病変に起因するものであるかを判定するものである。以上で、第2の処理例の説明を終了する。
第3の処理例は、第2の処理例と同様に、眼底の所定組織が線維構造を有する場合や樹状構造を有する場合などに適用可能な評価処理である。以下、網膜神経線維の場合について説明する。第3の処理例を適用する場合には、眼底Efの中心窩を含む領域の3次元画像が形成される。
図8に示すように、網膜神経線維Fiの走行軌跡上の任意の位置U=U(X、Y)における病変の有無を判定する場合を説明する。なお、X軸は、中心窩Mを通る横軸の例である。ここで、「横」とは、被検体の体軸方向(縦方向)に対してほぼ直交する方向を表すものとする。
まず、評価処理部235は、X軸に対して位置Uに対称な位置U′を特定する。図8に示す例では、位置U=U(X、Y)であるので、対称位置U′=U′(X、−Y)である。なお、前述のように、網膜神経線維はX軸に対してほぼ対称に配置されているので、対称位置U′は、網膜神経線維Fiと線対称に走行する網膜神経線維Fi′上の位置である。
次に、評価処理部235は、位置Uにおける変位Δ(X、Y)と、対称位置U′における変位Δ(X、−Y)とを比較する。
変位Δ(X、Y)と変位Δ(X、−Y)との相異が所定閾値γ以下である場合、評価処理部235は、位置(X、Y)及び対称位置(X、−Y)には病変のおそれは無いと判定する。閾値γは、たとえば、多数の臨床データに基づく層厚値の変位の差の許容範囲を表す。
他方、変位Δ(X、Y)と変位Δ(X、−Y)との相異が閾値γを超える場合、評価処理部235は、位置(X、Y)又は位置(X、−Y)に病変のおそれが有ると判定する。このとき、評価処理部235は、たとえば、変位が大きい側に病変のおそれがあると判定する。
更に、評価処理部235は、この評価結果に基づいて表示情報を生成する。表示情報には、たとえば、層厚値D(X、Y)、(X、−Y)、標準層厚d(X、Y)、d(X、−Y)、変位Δ(X、Y)、Δ(X、−Y)、変位の相違、病変のおそれの有無を示すメッセージなどが含まれる。
このように、第3の処理例は、網膜神経線維等の配置の対称性を利用して病変の有無を評価するものである。以上で、第3の処理例の説明及び評価処理部235が実行する処理の説明を終了する。
画像処理部230は、マイクロプロセッサ201、RAM202、ROM203、ハードディスクドライブ204(制御プログラム204a)等を含んで構成される。
なお、層厚演算部232、層厚値抽出部233及び変位演算部234は、この発明の「演算手段」の一例として機能するものである。また、主制御部211及び評価処理部235は、この発明の「制御手段」の一例として機能するものである。
(ユーザインターフェイス)
ユーザインターフェイス(User Interface;UI)240には、表示部240Aと操作部240Bが設けられている。表示部240Aは、ディスプレイ207等の表示デバイスにより構成される。また、操作部240Bは、キーボード205やマウス206などの入力デバイスや操作デバイスにより構成される。
〔信号光の走査及び画像処理について〕
信号光LSの走査態様及び画像処理の態様について、その一例を説明する。信号光LSは、走査ユニット141により走査される。より詳しくは、信号光LSは、制御部210がミラー駆動機構241、242を制御してガルバノミラー141A、141Bの反射面の向きを変更することにより走査される。
ガルバノミラー141Aは、信号光LSを水平方向(図1のx方向)に走査する。ガルバノミラー141Bは、信号光LS垂直方向(図1のy方向)に走査する。また、ガルバノミラー141A、141Bの双方を同時に動作させることで、xy平面上の任意方向に信号光LSを走査できる。
図9は、眼底Efの画像を形成するための信号光LSの走査態様の一例を表している。図9(A)は、信号光LSが被検眼Eに入射する方向から眼底Efを見た(つまり図1の−z方向から+z方向を見た)ときの、信号光LSの走査態様の一例を表す。また、図9(B)は、眼底Ef上の各走査線における走査点(計測位置)の配列態様の一例を表す。
図9(A)に示すように、信号光LSは、矩形の走査領域R内を走査される。走査領域R内には、x方向に沿った複数(m本)の走査線R1〜Rmが設定されている。走査線Ri(i=1〜m)は、y方向に配列されている。各走査線Riの方向(x方向)を「主走査方向」と呼び、それに直交する方向(y方向)を「副走査方向」と呼ぶ。
各走査線Ri上には、図9(B)に示すように、複数(n個)の走査点Ri1〜Rinが設定されている。なお、走査領域Rや走査線Riや走査点Rijの位置は、計測を行う前に適宜に設定される。
図9に示す走査を実行するために、制御部210は、まず、ガルバノミラー141A、141Bを制御し、眼底Efに対する信号光LSの入射目標を第1の走査線R1上の走査開始位置RS(走査点R11)に設定する。続いて、制御部210は、低コヒーレンス光源160を制御し、低コヒーレンス光L0をフラッシュ発光させて、走査開始位置RSに信号光LSを入射させる。CCD184は、この信号光LSの走査開始位置RSにおける反射光に基づく干渉光LCを受光して電荷を蓄積し、検出信号を生成する。
次に、制御部210は、ガルバノミラー141Aを制御して、信号光LSを主走査方向に走査して、その入射目標を走査点R12に設定し、低コヒーレンス光L0をフラッシュ発光させて走査点R12に信号光LSを入射させる。CCD184は、この信号光LSの走査点R12における反射光に基づく干渉光LCを受光して電荷を蓄積し、検出信号を生成する。
制御部210は、同様にして、信号光LSの入射目標を走査点R13、R14、・・・、R1(n−1)、R1nと順次移動させつつ、各走査点において低コヒーレンス光L0をフラッシュ発光させることにより、各走査点に対応する検出信号を生成させる。
第1の走査線R1の最後の走査点R1nにおける計測が終了したら、制御部210は、ガルバノミラー141A、141Bを同時に制御して、信号光LSの入射目標を、線換え走査rに沿って第2の走査線R2の最初の走査点R21まで移動させる。そして、制御部210は、この第2の走査線R2の各走査点R2j(j=1〜n)について同様の計測を実行させ、各走査点R2jに対応する検出信号をそれぞれ生成させる。
同様に、制御部210は、第3の走査線R3、・・・・、第m−1の走査線R(m−1)、第mの走査線Rmのそれぞれについて計測を行わせ、各走査点に対応する検出信号を生成させる。なお、走査線Rm上の符号REは、走査点Rmnに対応する走査終了位置である。
このようにして、制御部210は、走査領域R内のm×n個の走査点Rij(i=1〜m、j=1〜n)に対応するm×n個の検出信号を生成させる。走査点Rijに対応する検出信号をDijと表すことがある。
以上の制御において、制御部210は、ガルバノミラー141A、141Bを動作させるときに、各走査点Rijの位置情報(xy座標系における座標)を取得する。この位置情報(走査位置情報)は、OCT画像を形成するときなどに参照される。
次に、図9に示す走査が実施された場合における画像処理の例を説明する。
画像形成部220は、各走査線Ri(主走査方向)に沿った眼底Efの断層画像を形成する。また、画像処理部230は、画像形成部220により形成された断層画像に基づいて眼底Efの3次元画像を形成する。
断層画像の形成処理は、従来と同様に、2段階の演算処理を含んで構成される。第1段階では、各検出信号Dijに基づいて、走査点Rijにおける眼底Efの深度方向(図1に示すz方向)の画像を形成する。
第2段階では、走査点Ri1〜Rinにおける深度方向の画像を走査位置情報に基づいて配列させて、走査線Riに沿った断層画像Giを形成する。以上のような処理により、m個の断層画像G1〜Gmが得られる。
画像処理部230は、走査位置情報に基づいて断層画像G1〜Gmを配列させ、隣接する断層画像Gi、G(i+1)の間の画像を補間する補間処理などを行って、眼底Efの3次元画像を生成する。この3次元画像は、たとえば走査位置情報に基づく3次元座標系(x、y、z)により定義されている。
また、画像処理部230は、この3次元画像に基づいて、任意の断面における断層画像を形成できる。断面が指定されると、画像処理部230は、指定断面上の各走査点(及び/又は補間された深度方向の画像)の位置を特定し、各特定位置における深度方向の画像(及び/又は補間された深度方向の画像)を3次元画像から抽出し、抽出された複数の深度方向の画像を走査位置情報等に基づき配列させることにより、指定断面における断層画像を形成する。
なお、図10に示す画像Gmjは、走査線Rm上の走査点Rmjにおける深度方向の画像を表す。同様に、前述した第1段階の処理において形成される、走査点Rijにおける深度方向の画像を「画像Gij」と表す。
眼底観察装置1による信号光LSの走査態様は、上記のものに限定されるものではない。たとえば、信号光LSを水平方向(x方向)にのみ走査させたり、垂直方向(y方向)にのみ走査させたり、縦横1本ずつ十字型に走査させたり、放射状に走査させたり、円形状に走査させたり、同心円状に走査させたり、螺旋状に走査させたりできる。すなわち、前述のように、走査ユニット141は、信号光LSをx方向及びy方向にそれぞれ独立に走査できるように構成されているので、xy面上の任意の軌跡に沿って信号光LSを走査することが可能である。
また、信号光LSを走査させる範囲、つまり眼底観察装置1により取得されるOCT画像の範囲は任意である。たとえば、上記の走査領域Rは、中心窩を含みかつ視神経乳頭を含まない範囲であってもよいし、視神経乳頭を含みかつ中心窩を含まない範囲であってもよいし、中心窩及び視神経乳頭の双方を含む範囲であってもよい。なお、信号光LSの走査範囲は広い方が望ましく、たとえば眼底全体を走査範囲として設定することができる。ここで、信号光LSの走査範囲を広げるためには、たとえば、ガルバノミラー141A、141Bの可動範囲を大きくするなど信号光LSを導光する光学系の構成を工夫したり、被検眼を散瞳させたり、固視標により被検眼を誘導したりといった様々な手法を適用することが可能である。
[使用形態]
眼底観察装置1の使用形態について説明する。図11に示すフローチャートは、眼底観察装置1の使用形態の一例である。
まず、被検眼Eに対する光学系のアライメントを行う(S1)。アライメントは、従来の眼底カメラと同様にして行われる。たとえば、被検眼Eにアライメント輝点(図示せず)を投影してその状態を観察しつつ眼底カメラユニット1Aの位置を調整することによりアライメントを行う。
次に、参照ミラー174の位置を調整し、信号光と参照光との干渉状態を調整する(S2)。このとき、眼底Efの所望の深度位置の画像が明瞭になるように調整を行う。なお、参照ミラー174の位置調整は、操作部240Bを用いて手作業で行ってもよいし、自動的に行うようにしてもよい。
干渉状態の調整が終わったら、オペレータは、操作部240Bを操作して、OCT画像の取得を要求する。この要求を受けた主制御部211は、低コヒーレンス光源160、走査ユニット141、CCD184等を制御して、OCT画像を取得するための計測を実行させる。画像形成部220は、CCD184から入力される検出信号に基づいて眼底Efの断層画像G1〜Gmを形成する(S3)。このとき、必要に応じ、眼底画像Ef′の撮影も行うことができる。
次に、3次元画像形成部231は、断層画像Giに基づいて、眼底Efの3次元画像を形成する(S4)。
次に、層厚演算部232は、眼底Efの3次元画像について、xy座標面に配列された各画素の位置(x、y)における層厚値D(x、y)を求める(S5)。
次に、層厚値抽出部233は、標準位置情報212aを参照し、層厚演算部232により演算された層厚値D(x、y)のうちから、眼底Efの所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する層厚値D(X、Y)を抽出する(S6)。
次に、変位演算部234は、標準層厚情報212bを参照し、各標準位置(X、Y)における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を演算する(S7)。
次に、評価処理部235は、変位演算部234により取得された各標準位置(X、Y)における変位Δ(X、Y)に基づいて表示情報を生成する(S8)。
主制御部211は、評価処理部235により生成された表示情報を表示部240Aに表示させる(S9)。このとき、眼底Efの断層画像Giや、擬似的な3次元画像を表示させることもできる。また、眼底Efの層厚を表すグラフや、層厚分布を表す分布画像を表示させることもできる。以上で、使用形態の説明を終了する。
[作用・効果]
以上のような眼底観察装置1の作用及び効果について説明する。
眼底観察装置1は、OCT技術を用いて眼底Efの断層画像Giを形成し、これら断層画像Giに基づいて眼底Efの3次元画像を形成する。更に、眼底観察装置1は、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)における標準層厚d(X、Y)を表す標準層厚情報212bを予め記憶し、眼底Efの3次元画像及び標準層厚情報212bに基づいて、標準位置(X、Y)に相当する3次元画像中の領域における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を求めるように作用する。
このような眼底観察装置1によれば、眼底Efの所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができるので、たとえば網膜神経線維に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
また、評価処理部235の第2の処理例を適用することにより、層厚の異常値がアーティファクトによるものか、又は真に異常を示すものであるかを判定することができるので、眼底の層厚を高確度で計測することが可能である。
また、眼底観察装置1によれば、変位Δ(X、Y)に基づく表示情報(病変の有無の評価など)を生成して表示することができるので、オペレータは、変位Δ(X、Y)に基づく評価結果等を容易に把握することが可能である。
[変形例]
以上に説明した構成は、この発明に係るOCT装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
〔変形例1〕
上記実施形態における演算手段は、次のように処理を実行しているが、これに限定されるものではない:(1)眼底Efの3次元画像に基づいて層厚値を演算する;(2)眼底の所定組織の標準位置に相当する層厚値を抽出する;(3)抽出された層厚値と標準層厚との変位を演算する。変形例1、2では、演算手段が実行する処理の他の例を説明する。
この変形例に係る眼底観察装置の演算制御装置200の構成例を図12に示す。図12は、上記実施形態の図6に相当する。以下において特に説明する構成部分以外については、この眼底観察装置は上記実施形態と同様に構成可能である。上記実施形態と同様の構成部分については同じ符号を付して説明する。
この眼底観察装置の演算制御装置200には、層厚値抽出部233の代わりに標準位置特定部236が設けられている。標準位置特定部236は、眼底の所定組織(網膜神経線維等)に相当する、眼底Efの3次元画像内の領域を特定する。この処理は、たとえば、標準位置情報212aに基づいて上記実施形態で説明したxyz座標系とXY座標系との位置合わせを行い、各標準位置(X、Y)に対応する3次元画像内の位置を特定することにより実現される。標準位置特定部236は、この発明の「特定手段」の例である。
この眼底観察装置の使用形態を説明する。図13は、この眼底観察装置の使用形態の一例を表す。
まず、被検眼Eに対する光学系のアライメントを行い(S21)、干渉状態の調整を行う(S22)。
干渉状態の調整が終わったら、OCT画像を取得するための計測を実行して眼底Efの断層画像G1〜Gmを形成する(S23)。このとき、必要に応じ、眼底画像Ef′の撮影も行うことができる。
次に、3次元画像形成部231は、断層画像Giに基づいて、眼底Efの3次元画像を形成する(S24)。
次に、標準位置特定部236は、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する眼底Efの3次元画像内の領域を特定する(S25)。
次に、層厚演算部232は、標準位置特定部236により特定された領域について、各標準位置(X、Y)における層厚値D(X、Y)を求める(S26)。
次に、変位演算部234は、標準層厚情報212bを参照し、各標準位置(X、Y)における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を演算する(S27)。
次に、評価処理部235は、変位演算部234により取得された各標準位置(X、Y)における変位Δ(X、Y)に基づいて表示情報を生成する(S28)。
主制御部211は、評価処理部235により生成された表示情報を表示部240Aに表示させる(S29)。このとき、眼底Efの断層画像Giや、擬似的な3次元画像を表示させることもできる。また、眼底Efの層厚を表すグラフや、層厚分布を表す分布画像を表示させることもできる。以上で、使用形態の説明を終了する。
このような眼底観察装置によれば、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する眼底Efの3次元画像中の領域における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を求めることができる。したがって、眼底Efの所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができ、たとえば網膜神経線維に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
また、この眼底観察装置によれば、所定組織の標準位置に相当する領域についてのみ層厚を演算するように作用するので、眼底Efの3次元画像全体の層厚を求める上記実施形態と比較して処理時間の短縮を図ることが可能である。
また、この眼底観察装置によれば、変位Δ(X、Y)に基づく表示情報(病変の有無の評価など)を生成して表示することができるので、オペレータは、変位Δ(X、Y)に基づく評価結果等を容易に把握することが可能である。
なお、上記実施形態においては、眼底Efの3次元画像全体の層厚を求めることにより、広い範囲における層厚の状態を把握できるという利点がある。また、複数の位置の層厚値を比較する処理を行う際に、位置を選択する自由度が大きいという利点もある。
〔変形例2〕
この変形例に係る眼底観察装置の演算制御装置200の構成例を図14に示す。以下において特に説明する構成部分以外については、この眼底観察装置は上記実施形態と同様に構成可能である。上記実施形態と同様の構成部分については同じ符号を付して説明する。
この眼底観察装置の演算制御装置200には、上記実施形態の層厚値抽出部233は設けられておらず、その代わりに変位抽出部237が設けられている。変位抽出部237は、3次元画像内の多数の位置(たとえばxy平面上に配列された各画素の位置)における層厚値の標準層厚に対する変位のうちから、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置に相当する変位を抽出する。この処理は、たとえば、標準位置情報212aに基づいてxyz座標系とXY座標系との位置合わせを行い、各標準位置(X、Y)に対応する3次元画像内の位置を特定し、特定された位置における変位を抽出することにより実現される。なお、以下の使用形態においては、変位演算部234が座標系の位置合わせ処理を行う。変位抽出部237は、その位置合わせ結果を利用して目的の変位を抽出する。変位抽出部237は、この発明の「変位抽出手段」の例である。
なお、この変形例の標準層厚情報212bには、所定組織(網膜神経線維等)の標準位置以外の位置における標準層厚も含まれている。たとえば、この標準層厚情報212bには、中心窩や視神経乳頭を含む所定範囲内の各位置における標準層厚が記録されている。この標準層厚情報212bも、上記実施形態と同様にして作成することが可能である。
この眼底観察装置の使用形態を説明する。図15は、この眼底観察装置の使用形態の一例を表す。
まず、被検眼Eに対する光学系のアライメントを行い(S41)、干渉状態の調整を行う(S42)。
干渉状態の調整が終わったら、OCT画像を取得するための計測を実行して眼底Efの断層画像G1〜Gmを形成する(S43)。このとき、必要に応じ、眼底画像Ef′の撮影も行うことができる。
次に、3次元画像形成部231は、断層画像Giに基づいて、眼底Efの3次元画像を形成する(S44)。
次に、層厚演算部232は、眼底Efの3次元画像について、xy座標面に配列された各画素の位置(x、y)における層厚値D(x、y)を求める(S45)。
次に、変位演算部234は、標準位置情報212aに示す位置(標準位置以外の位置も含まれる)のXY座標系と、眼底Efの3次元画像のxyz座標系との位置合わせを実行する。更に、変位演算部234は、標準層厚情報212bを参照し、XY座標系の各位置(X、Y)に対応する3次元画像内の位置(x、y)を求め、位置(X、Y)に対応する層厚値D(x、y)と、標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を演算する(S46)。
次に、変位抽出部237は、変位演算部234により演算された変位Δ(X、Y)のうちから、眼底Efの所定組織(網膜神経線維等)の標準位置に相当する変位を抽出する(S47)。
次に、評価処理部235は、変位抽出部237により抽出された各標準位置(X、Y)における変位Δ(X、Y)に基づいて表示情報を生成する(S48)。
主制御部211は、評価処理部235により生成された表示情報を表示部240Aに表示させる(S49)。このとき、眼底Efの断層画像Giや、擬似的な3次元画像を表示させることもできる。また、眼底Efの層厚を表すグラフや、層厚分布を表す分布画像を表示させることもできる。以上で、使用形態の説明を終了する。
このような眼底観察装置によれば、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する眼底Efの3次元画像中の領域における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を求めることができる。したがって、眼底Efの所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができ、たとえば網膜神経線維に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
また、この眼底観察装置によれば、所定組織の標準位置以外の位置についても、標準層厚に対する層厚値の変位を求めることができるので、より広範囲の変位を把握できるという利点がある。
また、この眼底観察装置によれば、変位Δ(X、Y)に基づく表示情報(病変の有無の評価など)を生成して表示することができるので、オペレータは、変位Δ(X、Y)に基づく評価結果等を容易に把握することが可能である。
〔その他〕
上記の実施形態及び変形例では、標準位置情報212aを参照することにより、層厚値の抽出(抽出手段)や、標準位置に相当する領域の特定(特定手段)や、標準位置に相当する位置における変位の抽出(変位抽出手段)を行っているが、他の手法でこれらの処理を実行することも可能である。
たとえば、抽出手段は、眼底の3次元画像を解析して所定組織(網膜神経線維等)に相当する画像領域を特定し、この画像領域内の位置における層厚値を抽出することができる。この画像領域の特定処理は、所定組織の形態を表すテンプレート等の形態情報を予め記憶しておき、この形態情報に示す形態に一致(類似)する画像領域を3次元画像内にて探索することにより実行できる。更に、所定組織の深度位置(たとえば眼底表面からの深度)を予め記憶しておき、この深度位置を探索することにより処理をスムースに行うことが可能である。また、層厚値の抽出処理は、層厚値のxy座標値と当該画像領域のxy座標値とを比較することにより行うことができる。
特定手段は、たとえば、上記抽出手段と同様の画像領域特定処理を実行することにより、標準位置に相当する領域を特定することができる。
変位抽出手段は、たとえば、上記抽出手段と同様の画像領域特定処理を実行することにより標準位置に相当する画像領域を特定し、更に同様の抽出処理を行うことにより標準位置に相当する位置における変位を抽出することができる。
上記の実施形態においては、参照ミラー174の位置を変更して信号光LSの光路と参照光LRの光路との光路長差を変更しているが、光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、被検眼Eに対して眼底カメラユニット1A及びOCTユニット150を一体的に移動させて信号光LSの光路長を変更することにより光路長差を変更することができる。また、被検眼E(被検体)を深度方向(z方向)に移動させることにより光路長差を変更するように構成することも可能である。
[眼底画像処理装置]
この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の一例を説明する。この実施形態に係る眼底画像処理装置は、たとえば、前述の眼底観察装置の演算制御装置200と同様の構成を有する。
〔第1の実施形態〕
図16に示す眼底画像処理装置300は、上記実施形態の眼底観察装置1の演算制御装置200と同様の構成を有する。眼底画像処理装置300は、LAN等の通信回線を介してOCT装置1000に接続されている。
OCT装置1000は、眼底のOCT画像を形成する装置である。OCT装置1000は、少なくとも眼底の断層画像を形成する。OCT装置1000は、眼底の3次元画像を形成する機能を備えていてもよい。
制御部310は、主制御部311と記憶部312を有する。主制御部311は、眼底画像処理装置300の各部を制御する。
記憶部312は、この発明の「記憶手段」の一例であり、標準位置情報312aと標準層厚情報312bとを予め記憶している。標準位置情報312aは、眼底の所定の組織(網膜神経線維等)の標準位置を表す情報である。標準層厚情報312bは、眼底の標準層厚を表す。
画像受付部320は、OCT装置1000から眼底のOCT画像を受け付ける。画像受付部320は、この発明の「受付手段」の一例である。
画像受付部320は、OCT装置1000から受け付けたOCT画像が3次元画像であるか断層画像であるかを判別する機能を備えていてもよい。この判別処理は、たとえば、画像の種別(3次元画像/断層画像)を表す情報(たとえばDICOM付帯情報)をOCT画像に予め付帯させておき、この種別情報を参照することにより実行される。
受け付けたOCT画像が3次元画像である場合、画像受付部320は、この3次元画像を制御部310に送る。
また、複数の断層画像を受け付けた場合、画像受付部320は、これらの断層画像を制御部310に送る。主制御部311は、これらの断層画像を画像処理部330に送る。画像処理部330は、これらの断層画像に基づいて3次元画像を形成する。この処理は、上記実施形態の3次元画像形成部231と同様にして実行される。なお、「眼底の3次元画像を受け付ける」には、眼底の断層画像を外部から受け付けて3次元画像を形成する場合も含まれるものとする。
OCT装置1000から常に3次元画像が入力される場合、画像処理部330は、3次元画像を形成する機能を有する必要はないが、OCT装置1000から断層画像が入力されることがある場合には、画像処理部330に当該機能を設ける。
なお、図16に示す眼底画像処理装置300は、OCT装置1000から直接にOCT画像を受け付けるようになっているが、OCT画像を保管するデータベースからOCT画像を受け付けるように構成することも可能である。この場合、当該データベースは、たとえばNAS(Network Attached Storage)など、通信回線上の記憶装置を含んで構成される。画像受付部320は、たとえば、主制御部311の制御の下に、通信回線を介して当該データベースに向けてOCT画像の配信要求を送信する。この配信要求には、OCT画像を識別する各種の情報(患者ID、検査日時、画像IDなど)や、通信回線上における眼底画像処理装置300のアドレス情報などが含まれる。当該データベースは、この要求に応じてOCT画像を検索して眼底画像処理装置300に向けて送信する。画像受付部320は、このOCT画像を受信して制御部310に送る。
また、画像受付部320は、記録媒体に記録されたOCT画像を受け付けるように構成されていてもよい。この場合、画像受付部320は、たとえば、記録媒体に記録された情報を読み取るドライブ装置を含んで構成される。
画像処理部330は、上記実施形態の画像処理部230と同様に、OCT画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。画像処理部330には、図6に示した画像処理部230と同様に、層厚演算部332、層厚値抽出部333、変位演算部334及び評価処理部335が設けられている。
層厚演算部332は、上記実施形態の層厚演算部232と同様に、眼底の3次元画像を解析して眼底の層厚を演算する。演算対象となる層厚は、標準層厚情報312bに示す標準層厚と同じ層の厚さとされる。層厚演算部332は、この発明の「層厚演算手段」の一例である。
層厚値抽出部333は、上記実施形態の層厚値抽出部233と同様に、層厚演算部332により取得された眼底の様々な位置における層厚値のうちから、標準位置情報312aに示す標準位置に相当する層厚値を抽出する。層厚値抽出部333は、この発明の「抽出手段」の例である。
変位演算部334は、上記実施形態の変位演算部234と同様に、各標準位置(座標値を(X、Y)で表す)における標準層厚d(X、Y)を標準層厚情報312bから取得し、各標準位置(X、Y)について、その標準層厚d(X、Y)に対する、対応位置における層厚値(演算結果)D(X、Y)の変位Δ(X、Y)を演算する。変位演算部334は、この発明の「変位演算手段」の例である。
評価処理部335は、上記実施形態の評価処理部235と同様に、変位演算部334により演算された変位Δ(X、Y)に基づいて、眼底における病変の有無を評価する。また、評価処理部335は、上記実施形態の評価処理部235と同様に、病変の有無の評価結果に基づいて、表示用の情報(表示情報)を生成する。評価処理部335は、この発明の「判定手段」の例である。
層厚演算部332、層厚値抽出部333及び変位演算部334は、この発明の「演算手段」の一例として機能する。また、主制御部311及び評価処理部335は、この発明の「制御手段」の一例として機能する。
ユーザインターフェイス340には、上記実施形態のユーザインターフェイス240と同様に、表示デバイスと操作デバイスが設けられている。ユーザインターフェイス340(表示デバイス)は、この発明の「表示手段」の一例である。
眼底画像処理装置300の使用形態を説明する。図17に示すフローチャートは、眼底画像処理装置300の使用形態の一例を表す。
まず、画像受付部320が、OCT装置1000から眼底の3次元画像を受け付ける(S61)。なお、眼底の断層画像を受け付けた場合には、画像処理部330が3次元画像を形成する。3次元画像は、眼底観察装置の実施形態と同様に、xyz座標系により定義されているものとする。また、眼底の所定組織の標準位置は、XY座標系により定義されているものとする。
次に、層厚演算部332は、眼底の3次元画像について、xy座標面に配列された各画素の位置(x、y)における層厚値D(x、y)を求める(S62)。
次に、層厚値抽出部333は、標準位置情報312aを参照し、層厚演算部332により演算された層厚値D(x、y)のうちから、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する層厚値D(X、Y)を抽出する(S63)。
次に、変位演算部334は、標準層厚情報312bを参照し、各標準位置(X、Y)における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を演算する(S64)。
次に、評価処理部335は、変位演算部334により取得された各標準位置(X、Y)における変位Δ(X、Y)に基づいて表示情報を生成する(S65)。
主制御部311は、評価処理部335により生成された表示情報をユーザインターフェイス340に表示させる(S66)。このとき、眼底の断層画像や、擬似的な3次元画像を表示させることもできる。また、眼底の層厚を表すグラフや、層厚分布を表す分布画像を表示させることもできる。以上で、使用形態の説明を終了する。
以上のような眼底画像処理装置300の作用及び効果について説明する。
眼底画像処理装置300は、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)における標準層厚d(X、Y)を表す標準層厚情報312bを予め記憶している。眼底画像処理装置300は、OCT装置1000により形成された眼底の3次元画像(断層画像でもよい)を受け付け、眼底の3次元画像及び標準層厚情報312bに基づいて、標準位置(X、Y)に相当する3次元画像中の領域における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を求めるように作用する。
このような眼底画像処理装置300によれば、眼底の所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができるので、たとえば網膜神経線維に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
また、眼底画像処理装置300によれば、前述の眼底観察装置1と同様に、層厚の異常値がアーティファクトによるものか、又は真に異常を示すものであるかを判定することができるので、眼底の層厚を高確度で計測することが可能である。
また、眼底画像処理装置300によれば、変位Δ(X、Y)に基づく表示情報(病変の有無の評価など)を生成して表示することができるので、オペレータは、変位Δ(X、Y)に基づく評価結果等を容易に把握することが可能である。
〔第2の実施形態〕
図18に示す眼底画像処理装置400は、前述の眼底観察装置1の演算制御装置200と同様の構成を有する。眼底画像処理装置400は、LAN等の通信回線を介してOCT装置1000に接続されている。OCT装置1000は、上記第1の実施形態と同様の装置である。
制御部410は、主制御部411と記憶部412を有する。主制御部411は、眼底画像処理装置400の各部を制御する。
記憶部412は、この発明の「記憶手段」の一例であり、標準位置情報412aと標準層厚情報412bとを予め記憶している。標準位置情報412aは、眼底の所定の組織(網膜神経線維等)の標準位置を表す情報である。標準層厚情報412bは、眼底の標準層厚を表す。
画像受付部420は、OCT装置1000から眼底のOCT画像(3次元画像、断層画像)を受け付ける。画像受付部420は、この発明の「受付手段」の一例である。画像受付部420は、第1の実施形態の画像受付部320と同様に、通信回線上のデータベースからOCT画像を受け付けるものであってもよいし、記録媒体に記録されたOCT画像を読み取るものであってもよい。
画像処理部430は、第1の実施形態の画像処理部330と同様に、OCT画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。画像処理部430には、図12に示した画像処理部230と同様に、標準位置特定部436、層厚演算部432、変位演算部434及び評価処理部435が設けられている。
標準位置特定部436は、前述の眼底観察装置の標準位置特定部236と同様に、眼底の所定組織(網膜神経線維等)に相当する、眼底の3次元画像内の領域を特定する。この処理は、たとえば、標準位置情報412aに基づいてxyz座標系とXY座標系との位置合わせを行い(眼底観察装置の実施形態を参照)、各標準位置(X、Y)に対応する3次元画像内の位置を特定することにより実現される。標準位置特定部436は、この発明の「特定手段」の例である。
層厚演算部432、変位演算部434及び評価処理部435については、それぞれ、第1の実施形態の層厚演算部332、変位演算部334及び評価処理部335と同様に動作する。層厚演算部432は、この発明の「層厚演算手段」の一例である。変位演算部434は、この発明の「変位演算手段」の一例である。標準位置特定部436、層厚演算部432及び変位演算部434は、この発明の「演算手段」の一例を成している。評価処理部435は、この発明の「判定手段」の一例である。主制御部411及び評価処理部435は、この発明の「制御手段」の例である。
ユーザインターフェイス440は、表示デバイスと操作デバイスを含んで構成される。ユーザインターフェイス440(表示デバイス)は、この発明の「表示手段」の一例である。
眼底画像処理装置400の使用形態を説明する。図19に示すフローチャートは、眼底画像処理装置400の使用形態の一例を表す。
まず、画像受付部420が、OCT装置1000から眼底の3次元画像を受け付ける(S81)。なお、眼底の断層画像を受け付けた場合には、画像処理部430が3次元画像を形成する。3次元画像は、眼底観察装置の実施形態と同様に、xyz座標系により定義されているものとする。また、眼底の所定組織の標準位置は、XY座標系により定義されているものとする。
次に、標準位置特定部436は、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する眼底Efの3次元画像内の領域を特定する(S82)。
次に、層厚演算部432は、標準位置特定部436により特定された領域について、各標準位置(X、Y)における層厚値D(X、Y)を求める(S83)。
次に、変位演算部434は、標準層厚情報412bを参照し、各標準位置(X、Y)における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を演算する(S84)。
次に、評価処理部435は、変位演算部434により取得された各標準位置(X、Y)における変位Δ(X、Y)に基づいて表示情報を生成する(S85)。
主制御部411は、評価処理部435により生成された表示情報をユーザインターフェイス440に表示させる(S86)。以上で、使用形態の説明を終了する。
このような眼底画像処理装置400によれば、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する眼底の3次元画像中の領域における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を求めることができる。したがって、眼底の所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができ、たとえば網膜神経線維に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
また、この眼底画像処理装置400によれば、所定組織の標準位置に相当する領域についてのみ層厚を演算するように作用するので、第1の実施形態と比較して処理時間の短縮を図ることが可能である。
また、この眼底画像処理装置400によれば、変位Δ(X、Y)に基づく表示情報(病変の有無の評価など)を生成して表示することができるので、オペレータは、変位Δ(X、Y)に基づく評価結果等を容易に把握することが可能である。
〔第3の実施形態〕
図20に示す眼底画像処理装置500は、前述の眼底観察装置1の演算制御装置200と同様の構成を有する。眼底画像処理装置500は、LAN等の通信回線を介してOCT装置1000に接続されている。OCT装置1000は、上記第1の実施形態と同様の装置である。
制御部510は、主制御部511と記憶部512を有する。主制御部511は、眼底画像処理装置500の各部を制御する。
記憶部512は、この発明の「記憶手段」の一例であり、標準位置情報512aと標準層厚情報512bとを予め記憶している。標準位置情報512aは、眼底の所定の組織(網膜神経線維等)の標準位置を表す情報である。標準位置は、上記実施形態と同様にXY座標系により定義されているものとする。標準層厚情報512bは、眼底の標準層厚を表す。
画像受付部520は、OCT装置1000から眼底のOCT画像(3次元画像、断層画像)を受け付ける。画像受付部520は、この発明の「受付手段」の一例である。画像受付部520は、第1の実施形態の画像受付部320と同様に、通信回線上のデータベースからOCT画像を受け付けるものであってもよいし、記録媒体に記録されたOCT画像を読み取るものであってもよい。
画像処理部530は、第1の実施形態の画像処理部330と同様に、OCT画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。画像処理部530には、図14に示した画像処理部230と同様に、層厚演算部532、変位演算部534、変位抽出部537及び評価処理部535が設けられている。
変位抽出部537は、眼底観察装置の実施形態の変位抽出部237と同様に、3次元画像内の多数の位置(たとえば3次元画像が定義されたxyz座標系においてxy平面上に配列された各画素の位置)における層厚値の標準層厚に対する変位のうちから、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置に相当する変位を抽出する。この処理は、たとえば、標準位置情報512aに基づいてxyz座標系とXY座標系との位置合わせを行い、各標準位置(X、Y)に対応する3次元画像内の位置を特定し、特定された位置における変位を抽出することにより実現される。なお、以下の使用形態においては、変位演算部534が座標系の位置合わせ処理を行う。変位抽出部537は、その位置合わせ結果を利用して目的の変位を抽出する。変位抽出部537は、この発明の「変位抽出手段」の例である。
なお、この変形例の標準層厚情報512bには、所定組織(網膜神経線維等)の標準位置以外の位置における標準層厚も含まれている。たとえば、標準層厚情報512bには、中心窩や視神経乳頭を含む所定範囲内の各位置における標準層厚が記録されている。
層厚演算部532、変位演算部534及び評価処理部535については、それぞれ、第1の実施形態の層厚演算部332、変位演算部334及び評価処理部335と同様に動作する。層厚演算部532は、この発明の「層厚演算手段」の一例である。変位演算部534は、この発明の「変位演算手段」の一例である。層厚演算部532、変位演算部534及び変位抽出部573は、この発明の「演算手段」の一例を成している。評価処理部535は、この発明の「判定手段」の一例である。主制御部411及び評価処理部435は、この発明の「制御手段」の例である。
ユーザインターフェイス540は、表示デバイスと操作デバイスを含んで構成される。ユーザインターフェイス540(表示デバイス)は、この発明の「表示手段」の一例である。
この眼底観察装置の使用形態を説明する。図21は、眼底画像処理装置500の使用形態の一例を表す。
まず、画像受付部520が、OCT装置1000から眼底の3次元画像を受け付ける(S101)。なお、眼底の断層画像を受け付けた場合には、画像処理部530が3次元画像を形成する。3次元画像は、眼底観察装置の実施形態と同様に、xyz座標系により定義されているものとする。また、眼底の所定組織の標準位置は、XY座標系により定義されているものとする。
次に、層厚演算部532は、眼底の3次元画像について、xy座標面に配列された各画素の位置(x、y)における層厚値D(x、y)を求める(S102)。
次に、変位演算部534は、標準位置情報512aに示す位置(標準位置以外の位置も含まれる)のXY座標系と、眼底の3次元画像のxyz座標系との位置合わせを実行する。更に、変位演算部534は、標準層厚情報512bを参照し、XY座標系の各位置(X、Y)に対応する3次元画像内の位置(x、y)を求め、位置(X、Y)に対応する層厚値D(x、y)と、標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を演算する(S103)。
次に、変位抽出部537は、変位演算部534により演算された変位Δ(X、Y)のうちから、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置に相当する変位を抽出する(S104)。
次に、評価処理部535は、変位抽出部537により抽出された各標準位置(X、Y)における変位Δ(X、Y)に基づいて表示情報を生成する(S105)。
主制御部511は、評価処理部535により生成された表示情報をユーザインターフェイス540に表示させる(S106)。以上で、使用形態の説明を終了する。
このような眼底画像処理装置500によれば、眼底の所定組織(網膜神経線維等)の標準位置(X、Y)に相当する眼底の3次元画像中の領域における層厚値D(X、Y)と標準層厚d(X、Y)との変位Δ(X、Y)を求めることができる。したがって、眼底の所定組織の配置に応じて眼底の層厚を取得することができ、たとえば網膜神経線維に沿って層厚の減少が進行するような疾患について、眼底の層厚を高い確度で計測することが可能である。
また、眼底画像処理装置500によれば、所定組織の標準位置以外の位置についても、標準層厚に対する層厚値の変位を求めることができるので、より広範囲の変位を把握できるという利点がある。
また、眼底画像処理装置500によれば、変位Δ(X、Y)に基づく表示情報(病変の有無の評価など)を生成して表示することができるので、オペレータは、変位Δ(X、Y)に基づく評価結果等を容易に把握することが可能である。
〔変形例〕
眼底画像処理装置の変形例を説明する。この実施形態に係る眼底画像処理装置には、前述の演算制御装置200に係る変形例と同様の変形を施すことが可能である。
たとえば、眼底画像処理装置の抽出手段は、眼底の3次元画像を解析して所定組織(網膜神経線維等)に相当する画像領域を特定し、この画像領域内の位置における層厚値を抽出することができる。
また、眼底画像処理装置の特定手段は、たとえば上記抽出手段と同様の画像領域特定処理を実行することにより、標準位置に相当する領域を特定することができる。
また、眼底画像処理装置の変位抽出手段は、たとえば、上記抽出手段と同様の画像領域特定処理を実行することにより標準位置に相当する画像領域を特定し、更に同様の抽出処理を行うことにより標準位置に相当する位置における変位を抽出することができる。
[プログラムについて]
この発明に係る眼底観察装置や眼底画像処理装置は、所定のコンピュータプログラムにしたがって動作するものである。たとえば、前述の眼底観察装置1は、図4に示す制御プログラム204aにしたがって動作するものである。
このようなプログラムを、コンピュータのドライブ装置によって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、光ディスク、光磁気ディスク(CD−ROM/DVD−RAM/DVD−ROM/MO等)、磁気記憶媒体(ハードディスク/フロッピー(登録商標)ディスク/ZIP等)、半導体メモリ(USBメモリ等)などを用いることが可能である。また、インターネットやLAN等のネットワークを通じてこのプログラムを送信することも可能である。
この発明に係る眼底観察装置の実施形態の全体構成の一例を表す概略構成図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態における眼底カメラユニットに内蔵される走査ユニットの構成の一例を表す概略構成図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態におけるOCTユニットの構成の一例を表す概略構成図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態における演算制御装置のハードウェア構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の標準位置情報の一例を説明するための概略説明図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の評価処理の一例を説明するための概略説明図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態による信号光の走査態様の一例を表す概略図である。図9(A)は、被検眼に対する信号光の入射側から眼底を見たときの信号光の走査態様の一例を表している。また、図9(B)は、各走査線上の走査点の配列態様の一例を表している。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態による信号光の走査態様、及び、各走査線に沿って形成される断層画像の態様の一例を表す概略図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の使用形態の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の使用形態の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る眼底画像処理装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
符号の説明
1 眼底観察装置
1A 眼底カメラユニット
141 走査ユニット
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
174 参照ミラー
180 スペクトロメータ
184 CCD
200 演算制御装置
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
212a 標準位置情報
212b 標準層厚情報
220 画像形成部
230 画像処理部
231 3次元画像形成部
232 層厚演算部
233 層厚抽出部
234 変位演算部
235 評価処理部
236 標準位置特定部
237 変位抽出部
240 ユーザインターフェイス
240A 表示部
300、400、500 眼底画像処理装置
1000 OCT装置

Claims (11)

  1. 光源からの光を信号光と参照光とに分割し、眼底を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光の検出結果に基づいて前記眼底の断層画像を形成し、断面位置が異なる複数の断層画像に基づいて前記眼底の3次元画像を形成する眼底観察装置であって、
    眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、
    前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、
    を備え
    前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置の層厚値のうちから前記標準位置に相当する層厚値を抽出する抽出手段と、前記抽出された層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段とを備える、
    ことを特徴とする眼底観察装置。
  2. 前記記憶手段は、前記標準位置を表す標準位置情報を予め記憶し、
    前記抽出手段は、前記標準位置情報に基づいて前記標準位置に相当する前記複数の位置を決定する、
    ことを特徴とする請求項に記載の眼底観察装置。
  3. 光源からの光を信号光と参照光とに分割し、眼底を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光の検出結果に基づいて前記眼底の断層画像を形成し、断面位置が異なる複数の断層画像に基づいて前記眼底の3次元画像を形成する眼底観察装置であって、
    眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、
    前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、
    を備え、
    前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置のそれぞれの層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段と、前記複数の位置の前記変位のうちから前記標準位置に相当する位置における変位を抽出する変位抽出手段とを備える、
    ことを特徴とする眼底観察装置。
  4. 前記記憶手段は、前記標準位置を表す標準位置情報を予め記憶し、
    前記変位抽出手段は、前記標準位置情報に基づいて前記標準位置に相当する位置を決定する、
    ことを特徴とする請求項に記載の眼底観察装置。
  5. 表示手段と、
    前記変位に基づく表示情報を前記表示手段に表示させる制御手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1〜請求項のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
  6. 前記制御手段は、前記変位と所定閾値とを比較して病変の有無を判定する判定手段を備え、その判定結果を前記表示情報として表示させる、
    ことを特徴とする請求項に記載の眼底観察装置。
  7. 前記所定組織は網膜神経線維であり、
    前記標準位置は、眼底における網膜神経線維の標準的な走行軌跡上の位置であり、
    前記制御手段は、前記走行軌跡上の複数の位置における変位を比較して病変の有無を判定する判定手段を備え、その判定結果を前記表示情報として表示させる、
    ことを特徴とする請求項に記載の眼底観察装置。
  8. 前記所定組織は網膜神経線維であり、
    前記標準位置は、眼底における網膜神経線維の標準的な走行軌跡上の位置であり、
    前記3次元画像は、前記眼底の中心窩を含む領域の画像であり、
    前記制御手段は、前記標準位置における変位と、前記中心窩を通る横軸に対して前記標準位置に対称な位置における変位とを比較して病変の有無を判定する判定手段を備え、その判定結果を前記表示情報として表示させる、
    ことを特徴とする請求項に記載の眼底観察装置。
  9. 眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、
    眼底の3次元画像を受け付ける受付手段と、
    前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、
    を備え
    前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置の層厚値のうちから前記標準位置に相当する層厚値を抽出する抽出手段と、前記抽出された層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段とを備える、
    ことを特徴とする眼底画像処理装置。
  10. 眼底の所定組織の標準位置における標準層厚を表す標準層厚情報を予め記憶する記憶手段と、
    眼底の3次元画像を受け付ける受付手段と、
    前記3次元画像及び前記標準層厚情報に基づいて、前記標準位置に相当する前記3次元画像中の領域における層厚値と、前記標準層厚との変位を求める演算手段と、
    を備え、
    前記演算手段は、前記3次元画像内の複数の位置における層厚値を演算する層厚演算手段と、前記複数の位置のそれぞれの層厚値と前記標準層厚との変位を演算する変位演算手段と、前記複数の位置の前記変位のうちから前記標準位置に相当する位置における変位を抽出する変位抽出手段とを備える、
    ことを特徴とする眼底画像処理装置。
  11. 表示手段と、
    前記変位に基づく表示情報を前記表示手段に表示させる制御手段と、
    を備えることを特徴とする請求項9又は請求項10に記載の眼底画像処理装置。
JP2007261189A 2007-10-04 2007-10-04 眼底観察装置及び眼底画像処理装置 Active JP5101975B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007261189A JP5101975B2 (ja) 2007-10-04 2007-10-04 眼底観察装置及び眼底画像処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007261189A JP5101975B2 (ja) 2007-10-04 2007-10-04 眼底観察装置及び眼底画像処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009089792A JP2009089792A (ja) 2009-04-30
JP5101975B2 true JP5101975B2 (ja) 2012-12-19

Family

ID=40662391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007261189A Active JP5101975B2 (ja) 2007-10-04 2007-10-04 眼底観察装置及び眼底画像処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5101975B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9622656B2 (en) 2013-10-24 2017-04-18 Canon Kabushiki Kaisha Ophthalmological apparatus, comparison method, and non-transitory storage medium

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5473358B2 (ja) * 2009-03-02 2014-04-16 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP5478914B2 (ja) * 2009-03-02 2014-04-23 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP4909378B2 (ja) 2009-06-02 2012-04-04 キヤノン株式会社 画像処理装置及びその制御方法、コンピュータプログラム
JP4909377B2 (ja) 2009-06-02 2012-04-04 キヤノン株式会社 画像処理装置及びその制御方法、コンピュータプログラム
JP5436076B2 (ja) 2009-07-14 2014-03-05 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
JP5474435B2 (ja) 2009-07-30 2014-04-16 株式会社トプコン 眼底解析装置及び眼底解析プログラム
US8419186B2 (en) * 2009-09-30 2013-04-16 Nidek Co., Ltd. Fundus observation apparatus
JP2011072716A (ja) * 2009-10-01 2011-04-14 Osaka Univ 緑内障の診断及び/又は監視をする装置
JP5351066B2 (ja) * 2010-01-25 2013-11-27 浜松ホトニクス株式会社 Oct装置
JP2012135476A (ja) * 2010-12-27 2012-07-19 Fujifilm Corp 診断支援装置、診断支援方法、病変部検出装置、及び病変部検出方法
JP5850292B2 (ja) * 2010-11-05 2016-02-03 株式会社ニデック 眼科装置
EP2449957B1 (en) 2010-11-05 2015-03-25 Nidek Co., Ltd. Control method of a fundus examination apparatus
JP5702991B2 (ja) * 2010-11-19 2015-04-15 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP6025311B2 (ja) * 2011-08-01 2016-11-16 キヤノン株式会社 眼科診断支援装置および方法
JP2013068529A (ja) * 2011-09-22 2013-04-18 Sanyo Engineer & Construction Inc 断層画像処理方法及び断層画像処理装置
JP5017491B2 (ja) * 2011-11-22 2012-09-05 キヤノン株式会社 眼科装置
JP5174232B2 (ja) * 2011-12-26 2013-04-03 キヤノン株式会社 画像処理方法、画像処理装置、断層像撮像システム及び、コンピュータプログラム
JP5631339B2 (ja) * 2012-01-06 2014-11-26 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、眼科装置、眼科システム及びコンピュータプログラム
JP5936254B2 (ja) * 2012-02-29 2016-06-22 国立大学法人京都大学 眼底観察装置及び眼底画像解析装置
JP5241937B2 (ja) * 2012-04-27 2013-07-17 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP6158535B2 (ja) * 2013-02-28 2017-07-05 国立大学法人大阪大学 眼底解析装置
JP6429448B2 (ja) 2013-10-24 2018-11-28 キヤノン株式会社 眼科装置、比較方法およびプログラム
JP6481250B2 (ja) * 2013-10-29 2019-03-13 株式会社ニデック 眼底解析装置及び眼底解析プログラム
JP5871890B2 (ja) * 2013-12-11 2016-03-01 キヤノン株式会社 眼科装置、層厚比較方法およびプログラム
JP6499398B2 (ja) 2014-04-01 2019-04-10 キヤノン株式会社 眼科装置および制御方法
US10143370B2 (en) 2014-06-19 2018-12-04 Novartis Ag Ophthalmic imaging system with automatic retinal feature detection
JP6637743B2 (ja) * 2015-11-25 2020-01-29 株式会社トプコン 眼科装置
JP6033478B2 (ja) * 2016-01-13 2016-11-30 キヤノン株式会社 眼科装置、層厚比較方法およびプログラム
JP6223527B2 (ja) * 2016-10-26 2017-11-01 キヤノン株式会社 眼科装置、層厚比較方法およびプログラム
JP6626485B2 (ja) * 2017-10-04 2019-12-25 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム
JP2020028786A (ja) * 2019-11-29 2020-02-27 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6112114A (en) * 1991-12-16 2000-08-29 Laser Diagnostic Technologies, Inc. Eye examination apparatus employing polarized light probe
JP3508112B2 (ja) * 1993-09-21 2004-03-22 株式会社トプコン 眼底疾患解析装置
JP4275274B2 (ja) * 1999-11-18 2009-06-10 株式会社トプコン 緑内障診断装置
US6293674B1 (en) * 2000-07-11 2001-09-25 Carl Zeiss, Inc. Method and apparatus for diagnosing and monitoring eye disease
JP4501007B2 (ja) * 2004-08-26 2010-07-14 国立大学法人名古屋大学 光干渉断層装置
JP4597744B2 (ja) * 2004-11-08 2010-12-15 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測方法
JP4804820B2 (ja) * 2005-07-15 2011-11-02 サンテック株式会社 光断層画像表示システム
JP4378533B2 (ja) * 2005-10-04 2009-12-09 国立大学法人 筑波大学 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法
JP4884777B2 (ja) * 2006-01-11 2012-02-29 株式会社トプコン 眼底観察装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9622656B2 (en) 2013-10-24 2017-04-18 Canon Kabushiki Kaisha Ophthalmological apparatus, comparison method, and non-transitory storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009089792A (ja) 2009-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5101975B2 (ja) 眼底観察装置及び眼底画像処理装置
JP4940070B2 (ja) 眼底観察装置、眼科画像処理装置及びプログラム
JP4971864B2 (ja) 光画像計測装置及びそれを制御するプログラム
JP4896794B2 (ja) 光画像計測装置、それを制御するプログラム及び光画像計測方法
JP5231085B2 (ja) 眼科情報処理装置及び眼科検査装置
JP4940069B2 (ja) 眼底観察装置、眼底画像処理装置及びプログラム
JP5192250B2 (ja) 眼底観察装置
JP4971863B2 (ja) 光画像計測装置
JP5523658B2 (ja) 光画像計測装置
JP5117787B2 (ja) 光画像計測装置
JP4869756B2 (ja) 眼底観察装置
JP5324839B2 (ja) 光画像計測装置
JP5085086B2 (ja) 眼底観察装置、眼底画像表示装置及びプログラム
JP5138977B2 (ja) 光画像計測装置
JP4971872B2 (ja) 眼底観察装置及びそれを制御するプログラム
JP5367047B2 (ja) 眼底観察装置
JP5628636B2 (ja) 眼底画像処理装置及び眼底観察装置
JP6598466B2 (ja) 断層撮像装置、断層撮像方法、およびプログラム
JP4994911B2 (ja) 光画像計測装置
JP2007181632A (ja) 眼底観察装置
JP2019154764A (ja) 涙液層厚み測定装置及び方法
JP5209143B2 (ja) 眼底観察装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120427

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120501

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120627

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120925

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120927

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5101975

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250