JP4378533B2 - 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 - Google Patents
光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4378533B2 JP4378533B2 JP2005291789A JP2005291789A JP4378533B2 JP 4378533 B2 JP4378533 B2 JP 4378533B2 JP 2005291789 A JP2005291789 A JP 2005291789A JP 2005291789 A JP2005291789 A JP 2005291789A JP 4378533 B2 JP4378533 B2 JP 4378533B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- light
- light source
- scanning
- oct
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
前記光コヒーレンストモグラフィーにより前記波長走査型光源をモニタリングしてスペクトル干渉信号を時間信号として検出し、該スペクトル干渉信号から走査波長の時間依存性を求め、前記波長走査型光源の走査波長の時間依存特性を較正することを特徴とする較正方法を提供する。
2 波長走査型光源
3、5、7、14 ファイバ
4 ファイバカップラー
6、25、48 被計測物体
8 固定参照鏡
9、11、12、13、23、26、38、42 レンズ
10 角度が可変な走査鏡
15 光検知器
16 コンピュータ
17 ディスプレー
18 FD−OCT
19 広帯域光源
20 低コヒーレンス干渉計
21 分光器(スペクトロメーター)
22 ビームスプリッター
24 ガルバノミラー
27、50 参照鏡(平面鏡)
28 回折格子
29 CCD
30 PS−FD−OCT
31 低コヒーレンス干渉計(マイケルソン干渉計)
32 光ウェッジ
33 偏光子
34、41 1/2波長板
35、37、40 1/4波長板
36 ビームスプリッター
39 ミラー
43 OCT
44 光源
45 コリメートレンズ
46 ビームスプリッター
47 物体アーム内の対物レンズ
49 参照アーム内の対物レンズ
51 集光レンズ
52 (フォトダイオード等)光検出器
Claims (4)
- 時間的に波長を走査する波長走査型光源を有する光コヒーレンストモグラフィーの前記波長走査型光源を較正する較正方法において、
前記光コヒーレンストモグラフィーにより前記波長走査型光源をモニタリングしてスペクトル干渉信号を時間信号として検出し、該スペクトル干渉信号から走査波長の時間依存性を求め、前記波長走査型光源の走査波長の時間依存特性を較正することを特徴とする較正方法。 - 前記スペクトル干渉信号をフーリエ変換し、周波数成分の1次のピークを検出し、切り出し、その部分のみ逆フーリエ変換し、スペクトル信号空間にもどし、その複素周波数信号の位相情報を取り出し、2πの不確定性をアンラッピングし、多項式関数でフィッティングを行い、該関数から走査波長の時間依存特性を較正することを特徴とする請求項1記載の較正方法。
- 前記スペクトル干渉信号をヒルベルト変換し、前記干渉スペクトル干渉信号との比の逆正接をとることにより、位相情報を取り出し、2πの不確定性をアンラッピングし、多項式数でフィッティングを行い、該関数から掃引特性の時間依存特性を較正することを特徴とする請求項1記載の較正方法。
- 前記波長走査型光源は、モノクロメーターによる波長を走査をするものであることを特徴とする請求項1記載の較正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005291789A JP4378533B2 (ja) | 2005-10-04 | 2005-10-04 | 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005291789A JP4378533B2 (ja) | 2005-10-04 | 2005-10-04 | 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009183270A Division JP5079755B2 (ja) | 2009-08-06 | 2009-08-06 | 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007101365A JP2007101365A (ja) | 2007-04-19 |
JP4378533B2 true JP4378533B2 (ja) | 2009-12-09 |
Family
ID=38028451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005291789A Active JP4378533B2 (ja) | 2005-10-04 | 2005-10-04 | 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4378533B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103792192A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-05-14 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于单探测器的偏振频域光学相干层析成像系统 |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4837982B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2011-12-14 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
EP2136443A1 (en) | 2007-01-29 | 2009-12-23 | Optical Comb, Inc. | Wavelength scanning light source and optical coherence tomography device |
JP5037215B2 (ja) * | 2007-05-02 | 2012-09-26 | 富士フイルム株式会社 | 補償テーブル生成方法、装置、プログラムおよびこれを用いた断層画像処理装置 |
JP2009031238A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-02-12 | Optical Comb Inc | 光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP5181384B2 (ja) * | 2007-07-20 | 2013-04-10 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 光干渉トモグラフィー装置,光形状計測装置 |
JP2009025245A (ja) * | 2007-07-23 | 2009-02-05 | Optical Comb Inc | 光干渉観測装置 |
DE102007046507A1 (de) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Meditec Ag | Kurzkoheränz-Interferometer |
JP5101975B2 (ja) * | 2007-10-04 | 2012-12-19 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置及び眼底画像処理装置 |
US9347765B2 (en) * | 2007-10-05 | 2016-05-24 | Volcano Corporation | Real time SD-OCT with distributed acquisition and processing |
KR101029606B1 (ko) | 2007-10-19 | 2011-05-09 | 주식회사 엠티씨메디칼 | 광간섭 결맞음 단층촬영장치 |
CN100545632C (zh) * | 2007-11-22 | 2009-09-30 | 中国科学院力学研究所 | 光纤光谱仪波长标定方法 |
JP5247264B2 (ja) * | 2008-07-02 | 2013-07-24 | 富士フイルム株式会社 | 較正用治具 |
US8441648B2 (en) | 2008-02-07 | 2013-05-14 | Fujifilm Corporation | Calibration jig for optical tomographic imaging apparatus and method for generating a calibration conversion table |
JP5242473B2 (ja) * | 2009-03-23 | 2013-07-24 | 株式会社ニデック | 眼科撮影装置、及び眼科撮影装置のキャリブレーション方法 |
WO2011068862A2 (en) * | 2009-12-01 | 2011-06-09 | Brigham And Women's Hospital, Inc. | System and method for calibrated spectral domain optical coherence tomography and low coherence interferometry |
JP2012210358A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-01 | Terumo Corp | 光干渉断層像形成装置 |
JP5946654B2 (ja) * | 2012-03-02 | 2016-07-06 | 株式会社トーメーコーポレーション | 眼科装置 |
JP6057210B2 (ja) | 2012-12-13 | 2017-01-11 | 株式会社トプコン | 光学特性計測装置および光学特性計測方法 |
JP5544036B2 (ja) * | 2013-04-30 | 2014-07-09 | テルモ株式会社 | 光断層画像化装置の較正用治具 |
JP6198448B2 (ja) | 2013-05-02 | 2017-09-20 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
CN103267732B (zh) * | 2013-05-21 | 2016-12-28 | 浙江大学 | 基于移动光栅空间载频谱域oct全量程成像方法 |
JP6180961B2 (ja) * | 2014-02-26 | 2017-08-16 | 株式会社トプコン | 干渉計の較正方法及びこの較正方法を用いた干渉計 |
JP6261450B2 (ja) * | 2014-05-30 | 2018-01-17 | 株式会社トーメーコーポレーション | 眼科装置 |
CN104266758B (zh) * | 2014-10-21 | 2016-05-25 | 中国科学院光电研究院 | 一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪基准波数定标方法 |
CN107064001A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-08-18 | 福建师范大学 | 基于光开关的单光谱仪偏振频域光学相干层析成像系统 |
CN108095704B (zh) * | 2018-02-13 | 2024-04-23 | 天津恒宇医疗科技有限公司 | 一种单光源双波段oct成像系统 |
CN109692071A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-04-30 | 佛山科学技术学院 | 视力矫正仪及利用其进行近视矫正的方法 |
CN110755031B (zh) * | 2019-10-31 | 2021-11-12 | 天津迈达医学科技股份有限公司 | 一种眼前后节频域光相干层析成像系统 |
CN111829954B (zh) * | 2020-09-09 | 2023-07-25 | 广东工业大学 | 一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统及方法 |
CN115035210B (zh) * | 2022-08-10 | 2022-11-11 | 天津恒宇医疗科技有限公司 | 基于偏振多参量融合的ps-oct可视度提升方法及系统 |
CN117109450B (zh) * | 2023-07-25 | 2024-05-10 | 广东工业大学 | 一种自适应参数谱估计的高分辨光谱共焦干涉薄膜测厚法 |
-
2005
- 2005-10-04 JP JP2005291789A patent/JP4378533B2/ja active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103792192A (zh) * | 2014-01-27 | 2014-05-14 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于单探测器的偏振频域光学相干层析成像系统 |
CN103792192B (zh) * | 2014-01-27 | 2016-03-09 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于单探测器的偏振频域光学相干层析成像系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007101365A (ja) | 2007-04-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4378533B2 (ja) | 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 | |
US11029258B2 (en) | Optical phase measurement method and system | |
JP4344829B2 (ja) | 偏光感受光画像計測装置 | |
JP4505807B2 (ja) | 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー | |
US9927355B2 (en) | Fourier domain terahertz coherence tomography (TCT) | |
JP5626687B2 (ja) | 2ビーム型光コヒーレンストモグラフィー装置 | |
JP4461258B2 (ja) | 光断層画像化法における補正方法 | |
US20170131081A1 (en) | Interferometric distance measurement based on compression of chirped interferogram from cross-chirped interference | |
KR20140006057A (ko) | Psoct의 계측 데이터를 보정하는 프로그램 및 이 프로그램을 탑재한 psoct 시스템 | |
JP2013545113A (ja) | イメージマップ光干渉断層法 | |
US10330462B2 (en) | System for analyzing optical properties of an object | |
JP2009025245A (ja) | 光干渉観測装置 | |
JP2020517911A (ja) | スペクトル制御干渉法による曲率半径測定 | |
WO2013115018A9 (ja) | 光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法 | |
WO2014018140A2 (en) | Static interferometer with step-style reflective element | |
EP3674698B1 (en) | Inspection apparatus and inspection method | |
JP3619113B2 (ja) | 角分散光空間干渉断層画像化装置 | |
KR101251292B1 (ko) | 편광을 이용한 3차원 형상 및 두께 측정 장치 | |
JP2013152191A (ja) | 多波長干渉計 | |
JP4852651B2 (ja) | 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー | |
JP2010151684A (ja) | 局所的な複屈折情報を抽出可能な偏光感受光画像計測装置 | |
JP2006250849A (ja) | 光コヒーレンストモグラフィー装置を用いた光画像計測方法及びその装置 | |
JP5173305B2 (ja) | 測定信号のノイズ処理方法 | |
JP5079755B2 (ja) | 光コヒーレンストモグラフィーの構成機器の較正方法 | |
JP5149923B2 (ja) | 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070306 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090526 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090609 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090708 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090825 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |