CN111829954B - 一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统，包括：激光扫频光源，用于发出入射光；凸透镜，用于将所述入射光调整成平行光；分光棱镜，用于将所述入射光分成若干光束；载玻片，所述载玻片用作被测件；削光片，所述削光片用于减弱所述载玻片的反射光；光楔，所述光楔作为参考面；信号采集器，用于采集干涉光谱。通过降低采样图像的帧数实现欠采样，并且本发明应用是在SS‑OCT系统上，基于希尔伯特变换的相位求解算法，能够有效解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程。
Description
技术领域
本发明涉及扫频光学相干层析技术领域，尤其涉及一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的装置及方法。
背景技术
扫频光学相干层析技术是现代光学测量中的高精度检测技术，是当前检测技术的重要发展方向之一，具有广泛的发展前景，现国内外许多学者都致力于扫频光学相干层析技术的研究。
而在扫频光学相干层析测量过程中，系统的最大测量量程与最大的被测频率成正比，根据奈奎斯特采样定理，在对采样信号进行重建时，需要满足采样频率大于两倍最大被测频率，而采样频率的极限受系统采样传感器限制，因此系统的测量量程也具有最大范围。
最直接有效的提高测量量程方法就是：在采样频率低于奈奎斯特采样速率，即采样频率低于两倍最大被测频率时，并且在保证信号不失真、信息完整的情况下，完成图像重建，进而提高测量系统的最大测量量程。
但欠采样同样会带来新的问题：频率混叠。此时，对干涉信号进行频谱分析时会出现不同频率混叠在一起，无法分解，进而无法精确得出各个频率对应的相位信息。从而严重影响了测量的精度。
目前已有的提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程的方法主要有提高采样传感器的最大采样频率、压缩感知等。前者是通过更换更好的硬件设备实现；后者是通过压缩感知稀疏采样后，实现在欠采样下的谱估计，进而提高测量量程。该压缩感知的方法是应用在SD-OCT中，是通过降低图像的像素来实现欠采样，并且该方法对于欠采样下的相位混乱无法有效求解。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统及方法，应用在扫频光学相干层析(SS-OCT)系统上，通过降低采样图像的帧数实现欠采样，解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程。
为达此目的，本发明采用以下技术方案：一种全场扫频光学相干层析测量系统，包括：激光扫频光源，用于发出入射光；凸透镜，用于将所述入射光调整成平行光；分光棱镜，用于将所述入射光分成若干光束；载玻片，所述载玻片用作被测件；削光片，所述削光片用于减弱所述载玻片的反射光；光楔，所述光楔作为参考面；信号采集器，用于采集干涉光谱。
进一步的，所述激光扫频光源的中心波长λc＝765nm，带宽Δλ＝50nm，波长扫描范围Δλ＝5.04×105nm-1，扫频速度v为2nm/s，一个扫描周期t为25s。
进一步的，所述第一信号采集器和所述第二信号采集器均为CCD相机。
进一步的，所述方法包括如下步骤：
所述方法包括如下步骤：
第一步：由所述提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统进行所述干涉信号的欠采样，得到两组所述干涉信号的采样数据；
第二步：随机选取所述干涉信号的采样数据中的条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到两组时域干涉信号数据对应的频谱图；
第三步：分别对两个频谱图中第一个干涉信号、第二个干涉信号的频率信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号准确的全场频率图；
第四步：对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的相位信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号准确的全场相位图。
进一步的，所述由所述全场扫频光学相干层析测量装置进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据，具体为：
设两个通道的采样频率分别是Fa、Fb，并且满足Fa、Fb小于奈奎斯特采样频率，定义A(x，y，na)，B(x，y，nb)分别为两个通道在na、nb时刻采集的输出采样序列：
公式一：
公式二：
上式中，(x，y)为空间坐标，fk表示第k(1≤k≤K)个干涉信号的频率；ak，bk分别表示两个通道采集第k(1≤k≤K)个干涉信号的复幅值。
进一步的，所述随机选取干涉条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到干涉信号频谱图，具体为：
对采集到的干涉信号序列A(x，y，na)，B(x，y，nb)进行傅里叶变换，分别得到干涉信号频谱信息，并得到欠采样下的频率估计：
公式三：
公式四：
其中，为通道A采样序列中第k(1≤k≤K)个干涉信号频谱图中第一个周期下的正频率；/>为通道B采样序列中第k(1≤k≤K)个干涉信号频谱图中第一个周期下的正频率；pk，qk分别表示两个采样通道A、B在第k个采样信号频率相对于采样频率Fa，Fb的模糊次数，且为正整数。
进一步的，所述对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的频率信息进行估计，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的准确的全场频率图，具体为：
求解干涉信号频率fk转化为估计pk，qk。对pk，qk进行最小化求解：
公式五：将求解得到的pk，qk分别代入公式三、公式四，就可以求解出干涉信号的频率fk(x，y)。
进一步的，所述干涉信号序列A(x，y，na)表示为：
公式六：
其中Ap(x，y)表示干涉信号幅值，fp(x，y)表示干涉信号频率，φp(x，y)表示干涉信号相位，p表示第p(1≤p≤P)个干涉信号，n为光学折射率，t为时间。
进一步的，所述对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的相位信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的准确的全场相位图，具体为：
对所述公式六进行希尔伯特变换，得到公式七，并将公式六和公式七结合，得到公式八，
公式七：
所述得到公式八之后，将公式八离散化，并用矩阵形式表达：
公式九：SM*1＝AM*p*XP*1
其中，M为通道A的采样帧数，并且M远低于奈奎斯特采样帧数，
公式十：
公式十一：
公式十二：
根据矩阵伪逆运算，对公式九进行求解，得出矩阵XP*1的解析解：
公式十三：
结合欧拉公式，求解公式十二中的φp(x，y)：
公式十四：φp(x，y)＝arctan(XP*1)
得到所述干涉信号序列A(x，y，na)相位信息。
进一步的，可以通过对所述干涉信号序列B(x，y，n)进行所述公式六至所述公式十四的处理，得到所述干涉信号序列B(x，y，n)的相位信息。
本发明的有益效果：本发明公开了一种全场扫频光学相干层析测量系统，包括：激光扫频光源，用于发出入射光；凸透镜，用于将所述入射光调整成平行光；分光棱镜，用于将所述入射光分成若干光束；载玻片，所述载玻片用作被测件；削光片，所述削光片用于减弱所述载玻片的反射光；光楔，所述光楔作为参考面；信号采集器，用于采集干涉光谱。利用这个全场扫频光学相干层析测量系统进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据；随机选取干涉条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到两组时域干涉信号数据对应的频谱图；并对干涉信号的频率信息进行计算，得到干涉信号准确的全场频率图；对干涉信号的相位信息进行计算，干涉信号准确的全场相位图。通过降低采样图像的帧数实现欠采样，并且本发明应用是在SS-OCT系统上，基于希尔伯特变换的相位求解算法，能够有效解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统的示意图；
图2为本发明实施例提供的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法的步骤流程图；
图3(a)为本发明实施例提供的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统采集到的一组干涉信号条纹时间序列图
图3(b)为本发明实施例提供的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统采集到的另一组干涉信号条纹时间序列图；
图4(a)为本发明实施例提供的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法中随机选取干涉图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换后的一组频谱图；
图4(b)为本发明实施例提供的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法中随机选取干涉图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换后的另一组频谱图；
图5(a)为本发明实施例第一个干涉信号的全场频率图；
图5(b)为本发明实施例的第二个干涉信号的全场频率图；
图6(a)为本发明实施例的第一个干涉信号的全场相位图；
图6(b)为本发明实施例的第二个干涉信号的全场相位图。
图中：1、激光扫频光源；2、凸透镜；3、第一分光棱镜；4、载玻片；5、削光片；6、第二分光棱镜；7、光楔；8、第一信号采集器；9、第二信号采集器。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统及方法，通过降低采样图像的帧数实现欠采样，应用在SS-OCT系统，解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程。
为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
本发明实施例一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统及方法，通过降低采样图像的帧数实现欠采样，应用在SS-OCT系统，解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程，具有很强的实用性。
请参考图1，图1为本发明实施例的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统的示意图，如图1所示，本发明实施例的一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统，包括：激光扫频光源1，所述激光扫频光源1用于发出入射光；所述激光扫频光源1的一侧设有凸透镜2，所述凸透镜2用于将所述入射光调整成平行光；所述凸透镜2远离所述激光扫频光源1的一侧设有第一分光棱镜3，所述第一分光棱镜3用于将所述入射光分成若干光束；所述第一分光棱镜3远离所述凸台镜2的一侧设有载玻片4，所述载玻片4用作被测件；所述第一分光棱镜3和所述载玻片4之间设有削光片5，所述削光片5用于减弱所述载玻片4的反射光；
所述激光扫频光源1、所述凸透镜2、所述第一分光棱镜3、所述载玻片4和所述削光片5位于同一条直线上；
所述第一分光棱镜3的左右两边分别设有第二分光棱镜6和光楔7，所述光楔7作为参考面；所述第二分光棱镜6远离所述第一分光棱镜3的一侧设有第一信号采集器8，所述第二分光棱镜6和所述第一信号采集器8相邻的一侧设有第二信号采集器9，所述第一信号采集器8和所述第二信号采集器9都用于采集干涉信号；
所述光楔7、所述第一分光棱镜3、所述第二分光棱镜6和所述第一信号采集器8位于同一条直线上，两条所述直线互相垂直。
具体的，凸透镜2的焦距50mm，削光片5用来减弱作为被测件的载玻片4的反射光，使载玻片4与作为参考面的光楔7之间的干涉条纹更加明显。
具体的干涉光谱信号采集流程如下：激光扫频光源1发出入射光，由凸透镜2将入射光准则成平行光，到达第一分光棱镜3将入射光分成两束光，一束穿过削光片5打到载玻片4上，另一束打到光楔7上，载玻片4和光楔7反射的光重新汇合到第一分光棱镜3中，再打到第二分光棱镜6中，第二分光棱镜6将光分成两束，一束进入其中一个信号采集器8，另一束进入另外一个信号采集器9，完成干涉信号光谱的采集。采集到的光谱如图3所示。图3左侧为第一信号采集器8相机采集到的713帧图像，图3右边的图为第二信号采集器9相机采集到的315帧图像，每帧数据图像像素大小为290×193。
进一步的，所述激光扫频光源1的中心波长λc＝765nm，带宽Δλ＝50nm，波长扫描范围Δλ＝5.04×105nm-1，扫频速度v为2nm/s，一个扫描周期t为25s。
具体的，光扫频光源1的中心波长λc＝765nm，带宽Δλ＝50nm，波长扫描范围Δλ＝5.04×105nm-1，扫频速度v为2nm/s，一个扫描周期t为25s。
进一步的，所述第一信号采集器8和所述第二信号采集器9均为CCD相机。
具体的，如图1所示，所述第一分光棱镜3将所述入射光分成两束光；所述第一信号采集器8和第二信号采集器9为CCD相机，所示第一信号采集器8和第二信号采集器9的像素为：2048像素，12bit。
进一步的，如图2所示，所述方法包括如下步骤：
步骤10：第一步，由所述全场扫频光学相干层析测量系统进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据；如图1所示，利用全场扫频光学相干层析测量系统进行干涉信号的数据采集。图3(a)为通道A干涉条纹图，图3(b)为通道B干涉条纹图；
步骤20：第二步，随机选取干涉条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到两组时域干涉信号数据对应的频谱图；
具体的，如图4所示，得到两组时域干涉信号数据对应的频谱图。图4(a)为通道A频谱图，对应所述第一干涉信号，图4(b)为通道B的频谱图，对应所述第二个干涉信号。
步骤30：第三步，分别对两个频谱图中第一个干涉信号、第二个干涉信号的频率信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号准确的全场频率图；
具体的，如图5所示，图5为干涉信号全场频率图，图5(a)为第一个干涉信号全场频率图，图5(b)为第二个干涉信号全场频率图。
步骤40：第四步，对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的相位信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号准确的全场相位图。
具体的，如图6所示，图6为干涉信号的全场相位图，图6(a)为第一个干涉信号的全场相位图，图6(b)第二个干涉信号的全场相位图。
进一步的，所述由所述全场扫频光学相干层析测量装置进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据，具体为：
设两个通道的采样频率分别是Fa、Fb，并且满足Fa、Fb小于奈奎斯特采样频率，定义A(x，y，na)，B(x，y，nb)分别为两个通道在na、nb时刻采集的输出采样序列：
公式一：
公式二：
上式中，(x，y)为空间坐标，fk表示第k(1≤k≤K)个干涉信号的频率；ak，bk分别表示两个通道采集第k(1≤k≤K)个干涉信号的复幅值。
进一步的，所述随机选取干涉条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到干涉信号频谱图，具体为：
对采集到的干涉信号序列A(x，y，na)，B(x，y，nb)进行傅里叶变换，分别得到干涉信号频谱信息，并得到欠采样下的频率估计：
公式三：
公式四：
其中，为通道A采样序列中第k(1≤k≤K)个干涉信号频谱图中第一个周期下的正频率；/>为通道B采样序列中第k(1≤k≤K)个干涉信号频谱图中第一个周期下的正频率；pk，qk分别表示两个采样通道A、B在第k个采样信号频率相对于采样频率Fa，Fb的模糊次数，且为正整数。
进一步的，所述对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的频率信息进行估计，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的准确的全场频率图，具体为：
求解干涉信号频率fk转化为估计pk，qk。对pk，qk进行最小化求解：
公式五：
将求解得到的pk，qk分别代入公式三、公式四，就可以求解出干涉信号的频率fk(x，y)。
进一步的，所述干涉信号序列A(x，y，na)表示为：
公式六：
其中Ap(x，y)表示干涉信号幅值，fp(x，y)表示干涉信号频率，φp(x，y)表示干涉信号相位，p表示第p(1≤p≤P)个干涉信号，n为光学折射率，t为时间。
进一步的，所述对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的相位信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的准确的全场相位图，具体为：
对所述公式六进行希尔伯特变换，得到公式七，并将公式六和公式七结合，得到公式八，
公式七：
所述得到公式八之后，将公式八离散化，并用矩阵形式表达：
公式九：SM*1＝AM*p*XP*1
其中，M为通道A的采样帧数，并且M远低于奈奎斯特采样帧数，
公式十：
公式十一：
公式十二：
根据矩阵伪逆运算，对公式九进行求解，得出矩阵XP*1的解析解：
公式十三：
结合欧拉公式，求解公式十二中的φp(x，y)：
公式十四：φp(x，y)＝arctan(XP*1)
得到所述干涉信号序列A(x，y，na)相位信息。
进一步的，可以通过对干涉信号序列B(x，y，n)进行公式六至公式十四的处理，得到干涉信号序列B(x，y，n)的相位信息。
综上所述，本发明公开了一种全场扫频光学相干层析测量系统，包括：激光扫频光源，用于发出入射光；凸透镜，用于将所述入射光调整成平行光；分光棱镜，用于将所述入射光分成若干光束；载玻片，所述载玻片用作被测件；削光片，所述削光片用于减弱所述载玻片的反射光；光楔，所述光楔作为参考面；信号采集器，用于采集干涉光谱。利用这个全场扫频光学相干层析测量系统进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据；
随机选取干涉条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到两组时域干涉信号数据对应的频谱图；并对干涉信号的频率信息进行计算，得到干涉信号准确的全场频率图；对干涉信号的相位信息进行计算，干涉信号准确的全场相位图。通过降低采样图像的帧数实现欠采样，并且本发明应用是在SS-OCT系统上，基于希尔伯特变换的相位求解算法，能够有效解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程。
以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (4)
1.一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法，其特征在于，使用提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统，该系统包括激光扫频光源（1），所述激光扫频光源（1）用于发出入射光；所述激光扫频光源（1）的一侧设有凸透镜（2），所述凸透镜（2）用于将所述入射光调整成平行光；所述凸透镜（2）远离所述激光扫频光源（1）的一侧设有第一分光棱镜（3），所述第一分光棱镜（3）用于将所述入射光分成若干光束；所述第一分光棱镜（3）远离凸透镜（2）的一侧设有载玻片（4），所述载玻片（4）用作被测件；所述第一分光棱镜（3）和所述载玻片（4）之间设有削光片（5），所述削光片（5）用于减弱所述载玻片（4）的反射光；所述激光扫频光源（1）、所述凸透镜（2）、所述第一分光棱镜（3）、所述载玻片（4）和所述削光片（5）位于同一条直线上；所述第一分光棱镜（3）的左右两边分别设有第二分光棱镜（6）和光楔（7），所述光楔（7）作为参考面；所述第二分光棱镜（6）远离所述第一分光棱镜（3）的一侧设有第一信号采集器（8），所述第二分光棱镜（6）和所述第一信号采集器（8）相邻的一侧设有第二信号采集器（9），所述第一信号采集器（8）和所述第二信号采集器（9）都用于采集干涉信号；
所述光楔（7）、所述第一分光棱镜（3）、所述第二分光棱镜（6）和所述第一信号采集器（8）位于同一条直线上，两条所述直线互相垂直；
所述激光扫频光源（1）的中心波长，带宽/>，波长扫描范围/>=，扫频速度/>为2nm/s，一个扫描周期t为25s；所述第一信号采集器（8）和所述第二信号采集器（9）均为CCD相机；
所述方法包括如下步骤：
第一步：由所述提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据；
第二步：随机选取干涉信号的采样数据中的条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到两组时域干涉信号数据对应的频谱图；
第三步：分别对两个频谱图中第一个干涉信号、第二个干涉信号的频率信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号准确的全场频率图；
第四步：对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的相位信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号准确的全场相位图；由全场扫频光学相干层析测量装置进行干涉信号的欠采样，得到两组干涉信号的采样数据，具体为：
设两个通道的采样频率分别是、/>，并且满足/>、/>小于奈奎斯特采样频率，定义，/>分别为两个通道在/>、/>时刻采集的输出采样序列：
公式一：
公式二：
上式中，为空间坐标，/>表示第/>个干涉信号的频率；/>，/>分别表示两个通道采集第/>个干涉信号的复幅值；所述干涉信号序列/>表示为：
公式六：
其中表示干涉信号幅值，/>表示干涉信号频率，/>表示干涉信号相位，表示第/>个干涉信号，/>为光学折射率，/>为时间；所述对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的相位信息进行计算，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的准确的全场相位图，具体为：
对所述公式六进行希尔伯特变换，得到公式七，并将公式六和公式七结合，得到公式八，
公式七：
公式八
所述得到公式八之后，将公式八离散化，并用矩阵形式表达：
公式九：
其中，为通道A的采样帧数，并且/>远低于奈奎斯特采样帧数，
公式十：
公式十一：
公式十二：
根据矩阵伪逆运算，对公式九进行求解，得出矩阵的解析解：
公式十三：
结合欧拉公式，求解公式十二中的：
公式十四：
得到干涉信号序列相位信息。
2.根据权利要求1所述的提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法，其特征在于，随机选取干涉条纹图像上某一像素点时间序列光强，进行傅里叶变换，得到干涉信号频谱图，具体为：
对采集到的干涉信号序列，干涉信号序列/>进行傅里叶变换，分别得到干涉信号频谱信息，并得到欠采样下的频率估计：
公式三：，
公式四：，
其中，为通道A采样序列中第/>个干涉信号频谱图中第一个周期下的正频率；/>为通道B采样序列中第/>个干涉信号频谱图中第一个周期下的正频率；/>，分别表示两个采样通道A、B在第k个采样信号频率相对于采样频率/>，/>的模糊次数，且为正整数。
3.根据权利要求2所述的提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法，其特征在于，所述对所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的频率信息进行估计，得到所述第一个干涉信号、所述第二个干涉信号的准确的全场频率图，具体为：
求解干涉信号频率转化为估计/>对/>进行最小化求解：
公式五：，
将求解得到的分别代入公式三、公式四，就求解出干涉信号的频率/>。
4.根据权利要求2所述的提高全场扫频光学相干层析测量量程的方法，其特征在于，通过对所述干涉信号序列进行所述公式六至所述公式十四的处理，得到所述干涉信号序列/>的相位信息。
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