JP5033037B2 - ガスハイドレートの製造方法とその製造装置 - Google Patents
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Description
3)原料ガスと原料水とを水和反応させてガスハイドレートを生成する生成装置と、この生成装置で生成されたガスハイドレートに含まれる水分を排出する脱水装置と、この脱水装置で水分が排水されたガスハイドレートを圧縮成形する成形装置とを備えたガスハイドレートの製造装置において、前記脱水装置は、ガスハイドレートから排水された水分を生成装置に戻す還流路と、系外へ排出する排出路と、前記水分に含まれている電解質イオン濃度を計測する計測手段とを備えており、この計測手段により測定された電解質イオン濃度の信号により開閉する調整弁が、前記排出路と、前記生成装置に純水を供給する供給路とにそれぞれ設けられていることを特徴としている。
(ガスハイドレートの製造)
次に、このように構成された本発明に係るガスハイドレートの製造装置によるガスハイドレートの製造について説明する。
(イオン濃度の調整)
次に、本発明に係るガスハイドレートの製造装置における、原料水w1中のイオン濃度の調整について説明する。ガスハイドレートの製造の概略は、上述しているので、ここでは要部のみ説明する。
P1 スラリポンプ
P2 ポンプ
1 生成装置
1A 耐圧容器
1B 攪拌機
1C スページャ(散気装置)
2 脱水装置
2A 筒状本体
2B 脱水室
2C スクリューコンベア
3 成形装置
3A 受入室
3B 成形ロール
3C 押込装置
7 測定手段
8 制御装置
g1 原料ガス
w1 原料水
w2 排水
v1,v2,v3 バルブ
L1 原料ガス供給管
L2 原料水供給管
L3 原料ガス循環配管
L4 スラリ供給管
L5 排水管
L6 ガスハイドレート供給管
L8 廃棄管
L9 還流管
h ガスハイドレート結晶
h1 ガスハイドレートスラリー
h2 ガスハイドレート脱水体
h3 ペレット体
S1 検出信号
S2,S3,S4 制御信号
Claims (4)
- 原料ガスと原料水とを水和反応させてガスハイドレートを生成する生成工程と、この生成工程で生成されたガスハイドレートに含まれる水分を排出する脱水工程と、この脱水工程で水分が排水されたガスハイドレートを圧縮成形する成形工程とを備えたガスハイドレートの製造方法において、
前記脱水工程の排水中のイオン濃度が1000ppmを超えた時、前記脱水工程の排水を系外に排出すると共に前記生成工程に純水を添加し、前記脱水工程の排水中のイオン濃度が1000ppm以下となった時、前記脱水工程の排水を前記生成工程に戻す一方、前記脱水工程の排水の系外への排出および前記生成工程への純水の添加を中止することを特徴とするガスハイドレートの製造方法。 - 前記イオンは、塩素イオン、フッ素イオン、臭素イオン、ヨウ素イオン、ナトリウムイオン、カリウムイオン、リチウムイオン、カルシウムイオン、マグネシウムイオン、アンモニウムイオン、鉄イオン、塩化物イオン、硫化物イオン、硫酸イオン、炭酸イオンであることを特徴とする請求項1記載のガスハイドレートの製造方法。
- 原料ガスと原料水とを水和反応させてガスハイドレートを生成する生成装置と、この生成装置で生成されたガスハイドレートに含まれる水分を排出する脱水装置と、この脱水装置で水分が排水されたガスハイドレートを圧縮成形する成形装置とを備えたガスハイドレートの製造装置において、
前記脱水装置は、ガスハイドレートから排水された水分を生成装置に戻す還流路と、系外へ排出する排出路と、前記水分に含まれている電解質イオン濃度を計測する計測手段とを備えており、
この計測手段により測定された電解質イオン濃度の信号により開閉する調整弁が、前記排出路と、前記生成装置に純水を供給する供給路とにそれぞれ設けられていることを特徴とするガスハイドレートの製造装置。 - 前記電解質イオンは、塩素イオン、フッ素イオン、臭素イオン、ヨウ素イオン、ナトリウムイオン、カリウムイオン、リチウムイオン、カルシウムイオン、マグネシウムイオン、アンモニウムイオン、鉄イオン、塩化物イオン、硫化物イオン、硫酸イオン、炭酸イオンであることを特徴とする請求項3記載のガスハイドレートの製造装置。
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- 2009-03-30 WO PCT/JP2009/056572 patent/WO2009123155A1/ja active Application Filing
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