JP5010873B2 - チタン、アルミニウム金属積層膜エッチング液組成物 - Google Patents
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Description
しかしながら、ふっ化水素酸系エッチング液は、下地のガラス基板、シリコン基板および化合物半導体基板に対しダメージを与えるため使用できない。また、アンモニア水−過酸化水素水を用いた場合、過酸化水素水の分解により気泡が発生し、気泡の基板への付着によりエッチングが不完全となったり、液寿命が短いことから使用が困難である。
即ち、本発明は、チタンまたはチタンを主成分とする合金からなる層とアルミニウムまたはアルミニウムを主成分とする合金からなる層とを含む金属積層膜を一括エッチングするのに用いるエッチング液組成物であって、ふっ化水素酸の金属塩またはアンモニウム塩、ヘキサフルオロケイ酸、ヘキサフルオロケイ酸の金属塩またはアンモニウム塩、テトラフルオロホウ酸およびテトラフルオロホウ酸の金属塩またはアンモニウム塩からなる群から選ばれた少なくとも1種のふっ素化合物と酸化剤とを含有する、前記エッチング液組成物に関する。
さらに本発明は、酸化剤が、硝酸、硝酸アンモニウム、硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸カリウム、過塩素酸、過塩素酸アンモニウム、過塩素酸ナトリウム、過塩素酸カリウム、過ヨウ素酸、過ヨウ素酸ナトリウム、過ヨウ素酸カリウム、メタンスルホン酸、過酸化水素水、硫酸および硫酸エチレンジアミンの中から選ばれた少なくとも1種である、前記エッチング液組成物に関する。
本発明は、また、酸化剤が、硝酸またはメタンスルホン酸である、前記エッチング液組成物に関する。
さらに本発明は、酸化剤として、硝酸アンモニウム、硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸カリウム、過塩素酸、過塩素酸アンモニウム、過塩素酸ナトリウム、過塩素酸カリウム、過ヨウ素酸、過ヨウ素酸ナトリウム、過ヨウ素酸カリウム、過酸化水素水、硫酸および硫酸エチレンジアミンの中から選ばれた少なくとも1種をさらに含む前記エッチング液組成物に関する。
本発明はまた、アミド硫酸、酢酸および塩酸の中から選ばれる少なくとも1種をさらに含む、前記エッチング液組成物に関する。
さらに本発明は、下地基板が、半導体装置用シリコン基板または化合物半導体基板である、前記エッチング液組成物に関する。
本発明はまた、チタンまたはチタンを主成分とする合金からなる層と、アルミニウムまたはアルミニウムを主成分とする合金からなる層とを含む金属積層膜のエッチング後のテーパー角度を、30〜90度の範囲で制御することが可能な、前記エッチング液組成物に関する。
また本発明は、テーパー角度を30〜85度の範囲で制御することが可能な、前記エッチング液組成物に関する。
本発明のエッチング液に使用されるふっ素化合物は、本エッチング液の成分である酸化剤により酸化された金属積層膜上の酸化チタンを溶解することにより、主としてエッチングするものと考えられる。本発明のエッチング液に使用するふっ素化合物は、ふっ化水素酸の金属塩またはアンモニウム塩、ヘキサフルオロケイ酸、ヘキサフルオロケイ酸の金属塩またはアンモニウム塩、テトラフルオロホウ酸およびテトラフルオロホウ酸の金属塩またはアンモニウム塩からなる群から選ばれた少なくとも1種である。ふっ素化合物は、例えばふっ化アンモニウム、ふっ化カリウム、ふっ化カルシウム、ふっ化水素アンモニウム、ふっ化水素カリウム、ふっ化ナトリウム、ふっ化マグネシウム、ふっ化リチウム、ヘキサフルオロケイ酸、ヘキサフルオロケイ酸アンモニウム、ヘキサフルオロケイ酸ナトリウム、ヘキサフルオロケイ酸カリウム、テトラフルオロホウ酸、テトラフルオロホウ酸アンモニウム、テトラフルオロホウ酸ナトリウム、テトラフルオロホウ酸カリウム等が好ましく、特にふっ化アンモニウムまたはふっ化水素アンモニウムが好ましい。
硫酸アンモニウム、硫酸エチレンジアミン以外の含窒素有機化合物硫酸塩、例えばピペラジン、1−(2−アミノエチル)ピペラジン、1−アミノーメチルピペラジン等の硫酸塩も酸化剤として使用できるが、入手性の点で硫酸アンモニウム、硫酸エチレンジアミンが好ましい。
硝酸またはメタンスルホン酸は、低濃度においてもテーパー角度を低く、例えば40度以下とすることができるので特に好ましい。硝酸およびメタンスルホン酸以外の酸化剤は、テーパー角度を低減する効果は低いものの、レジストへのダメージが小さく、サイドエッチング量を制御することができるので好ましい。上記ふっ素化合物と、硝酸またはメタンスルホン酸を含むエッチング液は、テーパー角度を40度以下に制御することが可能であり、さらに硝酸およびメタンスルホン酸以外の酸化剤、またはアミド硫酸、酢酸および塩酸から選択された少なくとも1種を加えることにより、テーパー角度を30〜90度、好ましくは30度以上90度未満、より好ましくは30〜85度、さらに好ましくは30〜80度の間で制御することができる。
本発明のエッチング液組成物として好ましい組み合わせとしては、ふっ化アンモニウムと硝酸、ふっ化アンモニウムとメタンスルホン酸の他、酸化剤を2種以上使用する組み合わせとして、ふっ化アンモニウムと硝酸および過塩素酸、ふっ化アンモニウムと硝酸および硫酸、ふっ化アンモニウムと硝酸、過塩素酸およびメタンスルホン酸、ふっ化アンモニウムと硝酸、過塩素酸および硫酸等が挙げられる。
又、基板との濡れ性を高める目的で、本エッチング液に、一般に使用されている界面活性剤や有機溶剤を添加しても良い。
また、テーパー角度を適宜制御するには、とくに30〜90度とするためには、硝酸またはメタンスルホン酸を単独で用いるか、硝酸またはメタンスルホン酸と他の酸化剤を適宜組み合わせることにより行う。この場合、硝酸またはメタンスルホン酸は、0.1〜30質量%、特に0.5〜15質量%とすることが好ましく、他の酸化剤は、0.1〜20質量%、特に0.5〜15質量%とすることが好ましい。
とくに、テーパー角度を40度以下にするためには、硝酸またはメタンスルホン酸を用いることが好ましい。
また、アミド硫酸、酢酸および塩酸から選ばれる少なくとも1種をさらに含む場合は、これらの濃度は、0.01〜10質量%、特に0.5〜5質量%が好ましい。
以下に、実施例と比較例を挙げて本発明を更に詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものでない。
図1に示すように、ガラス基板(1)上にスパッタリング法によりチタン(700Å)/アルミニウム(2500Å)/チタン(200Å)を成膜した基板を準備した。
次に、ガラス/チタン/アルミニウム/チタン金属積層膜上に、レジスト(4)を用いてパターニングし、表1に示す実施例1〜26のエッチング液(各実施例に記載の成分を含有する水溶液)に浸漬した(エッチング温度30℃)。その後、超純水で洗浄し、窒素ブローで乾燥後基板形状を電子顕微鏡により観察した。結果を表1に示す。
ガラス基板上にスパッタリング法によって形成した実施例で用いたガラス/チタン/アルミニウム/チタンを表1の比較例1〜2の各成分からなるエッチング液に浸漬し、実施例と同様にして処理を行った。結果を表1に併せて示す。
特許文献5に記載のエッチング液を追試する目的で以下の組成のエッチング液(水溶液)を調製した。
比較例3:ふっ化水素酸(0.3質量%)+過ヨウ素酸(0.5質量%)+硫酸(0.54質量%)
比較例4:ふっ化水素酸(15質量%)+過ヨウ素酸(1.5質量%)+硫酸(5.4質量%)
比較例5:ふっ化水素酸(0.03質量%)+過ヨウ素酸(0.05質量%)+硫酸(0.06質量%)
(2)チタンまたはチタン合金膜
(3)アルミニウムまたはアルミニウム合金膜
(4)レジスト
(a)本願発明のエッチング液によりエッチングした後のゲート電極(略一様なテーパー形状と40度以下のテーパー形状)
(b)本願発明のエッチング液によりエッチングした後のソースまたはドレイン電極(90度のテーパー角度)
Claims (9)
- チタンまたはチタンを主成分とする合金からなる層とアルミニウムまたはアルミニウムを主成分とする合金からなる層とを含む金属積層膜を一括エッチングするのに用いるエッチング液組成物であって、ふっ化水素酸の金属塩またはアンモニウム塩、ヘキサフルオロケイ酸、ヘキサフルオロケイ酸の金属塩またはアンモニウム塩、テトラフルオロホウ酸およびテトラフルオロホウ酸の金属塩またはアンモニウム塩からなる群から選ばれた少なくとも1種のふっ素化合物と、
硝酸アンモニウム、硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸カリウム、過塩素酸、過塩素酸アンモニウム、過塩素酸ナトリウム、過塩素酸カリウム、過ヨウ素酸、過ヨウ素酸ナトリウム、過ヨウ素酸カリウム、メタンスルホン酸、過酸化水素水および硫酸エチレンジアミンの中から選ばれた少なくとも1種の酸化剤と、
を含有する、前記エッチング液組成物。 - 構成原料としてふっ化水素酸の金属塩またはアンモニウム塩、ヘキサフルオロケイ酸、ヘキサフルオロケイ酸の金属塩またはアンモニウム塩、テトラフルオロホウ酸およびテトラフルオロホウ酸の金属塩またはアンモニウム塩からなる群から選ばれた少なくとも1種のふっ素化合物、硝酸アンモニウム、硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸アンモニウム、ペルオキソ二硫酸カリウム、過塩素酸、過塩素酸アンモニウム、過塩素酸ナトリウム、過塩素酸カリウム、過ヨウ素酸、過ヨウ素酸ナトリウム、過ヨウ素酸カリウム、メタンスルホン酸、過酸化水素水および硫酸エチレンジアミンの中から選ばれた少なくとも1種の酸化剤および水のみを使用してなる、請求項1に記載のエッチング液組成物。
- ふっ素化合物の濃度が、0.01〜5質量%、酸化剤の濃度が0.1〜50質量%である、請求項1または2に記載のエッチング液組成物。
- 酸化剤が、硝酸、過塩素酸および硫酸である、請求項1または3に記載のエッチング液組成物。
- アミド硫酸、酢酸および塩酸の中から選ばれる少なくとも1種をさらに含む、請求項1、3および4のいずれかに記載のエッチング液組成物。
- 下地基板が、液晶ディスプレイ用ガラス基板である、請求項1〜5のいずれかに記載のエッチング液組成物。
- 下地基板が、半導体装置用シリコン基板または化合物半導体基板である、請求項1〜5のいずれかに記載のエッチング液組成物。
- チタンまたはチタンを主成分とする合金からなる層と、アルミニウムまたはアルミニウムを主成分とする合金からなる層とを含む金属積層膜のエッチング後のテーパー角度を30〜90度の範囲で制御することが可能な、請求項1〜7のいずれかに記載のエッチング液組成物。
- テーパー角度を30〜85度の範囲で制御することが可能な、請求項8に記載のエッチング液組成物。
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