JP5005645B2 - 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 - Google Patents
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Description
以下に実施例を挙げて、本発明の実施の形態について具体的に説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
フロート法で製造した厚さ0.95mmのアルミノシリケートガラスからなる板状ガラス素材1を所定の大きさの四角形に切断したものを使用し、そのトップ面にガラスカッターで、磁気ディスク用ガラス基板となされる領域の外周側及び内周側の略周縁を描く円形の切り筋2を形成した。尚、このアルミノシリケートガラスとしては、SiO2:58質量%〜75質量%、Al2O3:5質量%〜23質量%、Li2O:3質量%〜10質量%、Na2O:4質量%〜13質量%を含有する化学強化用ガラスを使用した。次いで、上記切り筋2を形成した板状ガラス1のトップ面側を全体的にヒータで加熱し、上記切り筋2を板状ガラス1のボトム面側に進行させて所定の直径を有するガラスディスク(鏡面板ガラス)3を切り出した。
次に、外周端面及び内周端面の研削をして外径を65mmφ、内径(中心部の円孔の直径)を20mmφとした後、外周端面および内周端面に所定の面取り加工を施した。このときのガラスディスク端面の表面粗さは、Rmaxで2μm程度であった。なお、一般に、2.5(インチ)型HDD(ハードディスクドライブ)では、外径が65mmの磁気ディスクを用いる。
平面研磨機による遊離砥粒研磨を用いる機械的方法を適用した。遊離砥粒研磨を用いて鏡面ガラスディスク3の表面全体がほぼ均一の表面粗さRa=0.01μm〜0.4μm程度になるように研磨加工した。粗面化工程で目標とする表面粗さは、後の精ラッピング工程で使用する固定砥粒の粒度との関係で決めることが望ましい。上記した通り、粗面化されたガラスディスク3の表面粗さ(A)で固定砥粒の平均粒径Bを徐算して、(B/A)<50を満たすようにする。ここでは、ガラスディスク3の表面粗さはRa0.27μmであった。
粗面化されたガラスディスク3の主表面を、固定砥粒研磨パッドを用いて研削した。固定砥粒研磨パッドとして、図2に示すダイヤモンドシート10を用いた。ダイヤモンドシート10は、ダイヤモンド粒子を研削砥粒として備えたものである。ダイヤモンドシート10は、基材としてPETからなるシート11を備えている。ダイヤモンド粒子12の平均粒径はB=4μmであった。したがって、B/A=15となり、上記(B/A)<50を満たしている。
次いで、ブラシ研磨により、ガラスディスク3を回転させながらガラスディスク3の端面(内周、外周)の表面の粗さを、Rmaxで0.4μm、Raで0.1μm程度に研磨した。そして、上記端面研磨を終えたガラスディスク3の表面を水洗浄した。
次に、上述したラッピング工程で残留した傷や歪みの除去するための第1研磨工程を両面研磨装置を用いて行った。両面研磨装置においては、研磨パッドが貼り付けられた上下研磨定盤の間にキャリアにより保持したガラスディスク3を密着させ、このキャリアを太陽歯車と内歯歯車とに噛合させ、上記ガラスディスクを上下研磨定盤によって挟圧する。その後、研磨パッドとガラスディスクの研磨面との間に研磨液を供給して回転させることによって、ガラスディスクが研磨定盤上で自転しながら公転して両面を同時に研磨加工するものである。具体的には、ポリシャとして硬質ポリシャ(硬質発泡ウレタン)を用い、第1研磨工程を実施した。
次に、上記洗浄を終えたガラスディスクに化学強化を施した。ガラス基板の表面に存在するイオン(例えば、アルミノシリケートガラス使用の場合、Li+及びNa+)よりもイオン半径の大きなイオン(Na+及びK+)にイオン交換する。ガラス基板の表面において(例えば、ガラス基板表面から約5μmまで)、イオン半径の大きい原子とイオン交換を行って、ガラス表面に圧縮応力を与えることでガラス基板の剛性を上げている。このようにして、本実施例の磁気ディスク用ガラス基板を得た。
実施例と同様にしてフロート法で製造した厚さ0.95mmのアルミノシリケートガラスからなる板状ガラス素材1に対して切り出し工程および形状加工工程を行い、粗面化工程を経ることなく固定砥粒を用いた精ラッピング工程を行った。精ラッピング工程における加工レートを調べたところ、図3に示すように非常に低かった。
2 切り筋
3 ガラスディスク(鏡面板ガラス)
10 ダイヤモンドシート
11 シート
12 ダイヤモンド粒子
Claims (8)
- 主表面が鏡面となっている鏡面板ガラスを、固定砥粒を用いて必要な平坦度及び表面粗さに加工する表面研削工程を備えた磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記固定砥粒を用いた表面研削工程前に、前記固定砥粒が研磨作用する程度まで前記鏡面板ガラス表面を機械的方法又は化学的方法で粗面化する粗面化工程を具備することを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記粗面化工程は、前記機械的方法として遊離砥粒を用いた研磨加工を行うことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 前記粗面化工程は、前記化学的方法として薬液によるエッチング作用を利用することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 前記薬液によるエッチング作用を利用する化学的方法がフロスト加工であることを特徴とする請求項3記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 前記粗面化工程は、鏡面の表面粗さがRa=0.001μm以下となる鏡面板ガラスを、表面粗さRa=0.01〜0.4μmに粗面化することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 前記粗面化工程による鏡面板ガラスの表面粗さをAとし、前記固定砥粒の平均粒径をBとして、B/A<50とすることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 前記固定砥粒を用いて鏡面板ガラス表面を加工する工程では、表面粗さRa=0.1μm以下で、かつ平坦度7μm以下に加工することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 請求項1から請求項7のいずれかに記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法によって製造された磁気ディスク用ガラス基板の主表面上に少なくとも磁性層を形成することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
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