JP5001640B2 - 半導体メモリ装置及びこれを具備するメモリシステム、並びにそのスイング幅制御方法 - Google Patents
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Description
4 半導体メモリ装置
12 スイング幅校正部
21〜2n 出力ドライバ
31〜3n データスイング幅制御部
41 動作制御部
42 スイング幅校正部
43 スイング幅再校正部
44 制御モード選択部
ccode 校正コード
cctrl スイング幅校正信号
com1、com2 第1及び第2命令語
csig 通報信号
D01〜D0n データ
tctrl スイング幅再校正信号
Vref 基準電圧
Claims (20)
- 校正コードに応答してデータスイング幅をそれぞれ可変する複数の出力ドライバと、
少なくとも1つの前記出力ドライバに対応し、前記対応する出力ドライバのデータスイング幅によって前記校正コードを可変して前記データスイング幅を校正スイング幅に校正した後、前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送される範囲内で前記校正コードを再び可変して前記データスイング幅を減少させる複数のデータスイング幅制御部と、
を具備することを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記複数のデータスイング幅制御部のそれぞれは、
スイング幅校正動作を行い、前記スイング幅校正動作が完了されると前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送されないようになるまでスイング幅再校正動作を行うようにする動作制御部と、
前記スイング幅校正動作時に前記対応する出力ドライバのデータスイング幅と校正スイング幅とを比較し、その比較結果によって前記校正コードを順次増加または減少させて、前記データスイング幅を前記校正スイング幅に校正するスイング幅校正部と、
前記スイング幅再校正動作時に前記スイング幅校正部の前記校正コードを順次減少(または増加)させて前記データスイング幅を減少させた後、前記スイング幅再校正動作が完了されると前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送されるように前記校正コードを再び増加(または減少)させて前記データスイング幅を再び増加させるスイング幅再校正部と、
を具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 前記スイング幅再校正部は、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部を介して増加または減少された前記校正コードを保存し、前記スイング幅再校正動作時には前記保存された校正コードを再び減少(または増加)させる校正コード可変部と、
前記スイング幅再校正動作が完了されると前記校正コードを増加(または減少)させるためのコード値を有するマージンコードを発生するマージンコード発生部と、
前記校正コード可変部の前記校正コードに前記マージンコード発生部の前記マージンコードを加えて前記対応する出力ドライバに出力する再校正コード発生部と、
を具備することを特徴とする請求項2に記載の半導体メモリ装置。 - 前記マージンコード発生部は、
前記校正コードがそのまま出力されるようにする第1値を有する第1マージンコードを保存する第1マージンコード保存部と、
前記校正コードが増加(または減少)されるようにする第2値を有する第2マージンコードを保存する第2マージンコード保存部と、
前記スイング幅再校正動作時には前記第1マージンコードを出力し、前記スイング幅再校正動作完了時には前記第2マージンコードを出力するマージンコード選択部と、
を具備することを特徴とする請求項3に記載の半導体メモリ装置。 - 前記校正コード可変部は、
前記校正コードの減少(または増加)単位を決定するためのコード値を有する可変コードを保存する可変コード保存部と、
前記スイング幅再校正動作時に前記スイング幅校正部から出力される前記校正コードを前記可変コードによって順次に減少(または増加)させる校正コード減算部と、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部から出力される前記校正コードを保存し、前記スイング幅再校正動作時には前記校正コード減算部から出力される前記校正コードを保存する校正コード保存部と、
を具備することを特徴とする請求項3に記載の半導体メモリ装置。 - 前記複数のデータスイング幅制御部のそれぞれは、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部の前記校正コードを前記対応する出力ドライバに出力し、前記スイング幅再校正動作時には前記スイング幅再校正部の前記校正コードを前記対応する出力ドライバに出力する制御モード選択部をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置。 - 校正コードに応答してデータスイング幅をそれぞれ可変する複数の出力ドライバと、
ドライバ選択信号によって前記複数の出力ドライバのうち少なくとも1つの出力ドライバを選択し、前記選択された出力ドライバのデータスイング幅によって前記校正コードを可変して前記データスイング幅を校正スイング幅に校正した後、前記選択された出力ドライバのデータが正常に伝送される範囲内で前記校正コードを再び可変して前記データスイング幅を減少させるデータスイング幅制御部と、
を具備することを特徴とする半導体メモリ装置。 - 前記データスイング幅制御部は、
スイング幅校正動作を行い、前記スイング幅校正動作が完了されると前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送されないようになるまでスイング幅再校正動作を行うようにする動作制御部と、
前記スイング幅校正動作時に前記対応する出力ドライバのデータスイング幅と校正スイング幅とを比較し、その比較結果によって前記校正コードを順次増加または減少させて前記データスイング幅を前記校正スイング幅に校正するスイング幅校正部と、
前記スイング幅再校正動作時に前記スイング幅校正部の前記校正コードを順次減少(または増加)させて前記データスイング幅を減少させた後、前記スイング幅再校正動作が完了されると前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送されるように前記校正コードを再び増加(または減少)させて前記データスイング幅を再び増加させるスイング幅再校正部と、
前記ドライバ選択信号によって前記複数の出力ドライバの中で少なくとも1つの出力ドライバを選択し、前記選択された出力ドライバに前記スイング幅校正部または前記スイング幅再校正部から出力される前記校正コードを伝送したり、または前記選択された出力ドライバから出力されるデータを前記スイング幅校正部に伝送する校正ドライバ選択部と、
を具備することを特徴とする請求項7に記載の半導体メモリ装置。 - 前記スイング幅再校正部は、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部を介して増加または減少された前記校正コードを保存し、前記スイング幅再校正動作時には前記保存された校正コードを再び減少(または増加)させる校正コード可変部と、
前記スイング幅再校正動作が完了されると前記校正コードを増加(または減少)させるためのコード値を有するマージンコードを発生するマージンコード発生部と、
前記校正コード可変部の前記校正コードに前記マージンコード発生部の前記マージンコードを加えて前記対応する出力ドライバに出力する再校正コード発生部と、
を具備することを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。 - 前記マージンコード発生部は、
前記校正コードがそのまま出力されるようにする第1値を有する第1マージンコードを保存する第1マージンコード保存部と、
前記校正コードが増加(または減少)されるようにする第2値を有する第2マージンコードを保存する第2マージンコード保存部と、
前記スイング幅再校正動作時には前記第1マージンコードを出力し、前記スイング幅再校正動作完了時には前記第2マージンコードを出力するマージンコード選択部と、
を具備することを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 前記校正コード可変部は、
前記校正コードの減少(または増加)単位を決定するためのコード値を可変コードに保存する可変コード保存部と、
前記スイング幅再校正動作時に前記スイング幅校正部から出力される前記校正コードを前記可変コードによって順次減少(または増加)させる校正コード減算部と、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部から出力される前記校正コードを保存し、前記スイング幅再校正動作時には前記校正コード減算部から出力される前記校正コードを保存する校正コード保存部と、
を具備することを特徴とする請求項9に記載の半導体メモリ装置。 - 前記校正ドライバ選択部は、
前記ドライバ選択信号によって前記複数の出力ドライバの中で少なくとも1つの出力ドライバを選択し、前記選択された出力ドライバに前記スイング幅校正部または前記スイング幅再校正部から出力される前記校正コードを伝送する出力選択部と、
前記ドライバ選択信号によって前記複数の出力ドライバの中で少なくとも1つの出力ドライバを選択し、前記選択された出力ドライバから出力されるデータを前記スイング幅校正部に伝送する入力選択部と、
を具備することを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。 - 前記データスイング幅制御部は、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部の前記校正コードを前記対応する出力ドライバに出力し、前記スイング幅再校正動作時には前記スイング幅再校正部の前記校正コードを前記対応する出力ドライバに出力する制御モード選択部をさらに具備することを特徴とする請求項8に記載の半導体メモリ装置。 - スイング幅校正動作を要請する第1命令語を発生した後、スイング幅再校正動作を要請する第2命令語を発生し、前記第2命令語発生時には入力されるデータのエラー発生可否を感知して感知信号をさらに発生する制御装置と、
各校正コードに応答してデータスイング幅をそれぞれ可変する複数の出力ドライバと、前記第1命令語に応答して前記校正コードをそれぞれ可変して前記各出力ドライバのデータスイング幅を校正スイング幅に校正し、前記第2命令語に応答して前記各出力ドライバがデータを正常に伝送される範囲内で前記校正コードを再び可変して前記データスイング幅を減少させるデータスイング幅制御部と、
を具備することを特徴とするメモリシステム。 - 前記データスイング幅制御部は複数で、前記複数の出力ドライバそれぞれに対応し、
前記複数のデータスイング幅制御部のそれぞれは、
前記第1命令語に応答してスイング幅校正動作を行い、前記第2命令語に応答してスイング幅再校正動作を行い、前記スイング幅再校正動作時に入力される前記感知信号に応答して前記スイング幅再校正動作の完了可否を決める動作制御部と、
前記スイング幅校正動作時に前記対応する出力ドライバのデータスイング幅と校正スイング幅とを比較し、その比較結果によって前記校正コードを順次増加または減少させて前記データスイング幅を前記校正スイング幅に校正するスイング幅校正部と、
前記スイング幅再校正動作時に前記スイング幅校正部の前記校正コードを順次減少(または増加)させて前記データスイング幅を減少させた後、前記スイング幅再校正動作が完了されると前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送されるように前記校正コードを再び増加(または減少)させて前記データスイング幅を再び増加させるスイング幅再校正部と、
を具備することを特徴とする請求項14に記載のメモリシステム。 - 前記スイング幅再校正部は、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部を介して増加または減少された前記校正コードを保存し、前記スイング幅再校正動作時には前記保存された校正コードを再び減少(または増加)させる校正コード可変部と、
前記スイング幅再校正動作時には第1値を有するマージンコードを発生し、前記スイング幅再校正動作が完了されると第2値を有する前記マージンコードを発生するマージンコード発生部と、
前記校正コード可変部の前記校正コードに前記マージンコード発生部の前記マージンコードを加えて前記対応する出力ドライバに出力する再校正コード発生部と、
を具備することを特徴とする請求項15に記載のメモリシステム。 - 前記データスイング幅制御部は、
前記第1命令語に応答してスイング幅校正動作を行い、前記第2命令語に応答してスイング幅再校正動作を行い、前記スイング幅再校正動作時に入力される前記感知信号に応答して前記スイング幅再校正動作の完了可否を決める動作制御部と、
前記スイング幅校正動作時に前記対応する出力ドライバのデータスイング幅と校正スイング幅とを比較し、その比較結果によって前記校正コードを順次増加または減少させて前記データスイング幅を前記校正スイング幅に校正するスイング幅校正部と、
前記スイング幅再校正動作時に前記スイング幅校正部の前記校正コードを順次減少(または増加)させて前記データスイング幅を減少させた後、前記スイング幅再校正動作が完了されると前記対応する出力ドライバのデータが正常に伝送されるように前記校正コードを再び増加(または減少)させて前記データスイング幅を再び増加させるスイング幅再校正部と、
ドライバ選択信号によって前記複数の出力ドライバのうち少なくとも1つの出力ドライバを選択し、前記選択された出力ドライバに前記スイング幅校正部または前記スイング幅再校正部から出力される前記校正コードを伝送したり、または前記選択された出力ドライバから出力されるデータを前記スイング幅校正部に伝送する校正ドライバ選択部と、
を具備することを特徴とする請求項14に記載のメモリシステム。 - 前記スイング幅再校正部は、
前記スイング幅校正動作時には前記スイング幅校正部を介して増加または減少された前記校正コードを保存し、前記スイング幅再校正動作時には前記保存された校正コードを再び減少(または増加)させる校正コード可変部と、
前記スイング幅再校正動作が完了されると前記校正コードを増加(または減少)させるためのコード値を有するマージンコードを発生するマージンコード発生部と、
前記校正コード可変部の前記校正コードに前記マージンコード発生部の前記マージンコードを加えて前記対応する出力ドライバに出力する再校正コード発生部と、
を具備することを特徴とする請求項17に記載のメモリシステム。 - 出力データのスイング幅と校正スイング幅とを比較し、その比較結果によって校正コードを可変して前記出力データのスイング幅が前記校正スイング幅と等しくなるようにするスイング幅校正段階と、
前記出力データが正常に伝送される範囲内で前記校正コードを再び可変して前記出力データのスイング幅を減少させるスイング幅再校正段階と、
前記出力データが非正常に伝送されたら前記校正コードにマージンコードを加えて前記出力データのスイング幅を小幅増加させた後、前記増加された出力データのスイング幅を維持するスイング幅再校正完了段階と、
を具備することを特徴とする半導体メモリ装置のスイング幅制御方法。 - 前記スイング幅再校正段階は、
前記スイング幅校正段階を可変した前記校正コードを獲得する獲得段階と、
前記校正コードを再び可変して前記出力データのスイング幅を減少させた後、前記出力データが正常に伝送されるか否かを感知する可変段階と、
前記出力データが正常に伝送されたら前記可変段階に再進入し、前記出力データが非正常に伝送されたら前記スイング幅再校正完了段階に進入する決定段階と、
を具備することを特徴とする請求項19に記載の半導体メモリ装置のスイング幅制御方法。
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KR100604851B1 (ko) * | 2004-04-06 | 2006-07-31 | 삼성전자주식회사 | 선택적으로 입출력 신호의 스윙 폭을 변경시키는 고속출력 회로, 고속 입력 회로, 및 입출력 신호의 스윙 폭변경방법 |
TWI271032B (en) * | 2004-04-06 | 2007-01-11 | Samsung Electronics Co Ltd | Output drivers having adjustable swing widths during test mode operation |
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