JP4974671B2 - 表示素子製造用マスク - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 claims 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
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- C23C14/042—Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
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- H—ELECTRICITY
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
一方、図3(a)及び(b)における矢印は、マスク10のエッジ部に把持されたグリッパーを介して加えられる引張力の方向を示している。
一方、図1の右側部の上端及び下端コーナー部に形成されたグリル部では、図3(a)及び(b)に図示された方向と反対方向(引張力の作用方向)において、同じ現象が発生する。
また、表示素子製造用マスクにおいて、少なくとも一つのグリルが形成された複数のグリル部を含み、前記グリル部の最外縁にあるグリル部の上端部に位置する第1グリル部に配列されたグリルの一部または全部が前記マスクに加えられる引張力の作用方向と反対方向に傾斜角を形成して傾斜し、前記傾斜角は、前記グリルの上端に対し垂直に延びた仮想線と前記グリルとの間の角度であり、前記最外縁にあるグリル部の下端部に位置する第2グリル部に配列されたグリルの一部または全部が前記マスクに加えられる引張力の作用方向と反対方向に傾斜角を形成して傾斜し、前記傾斜角は、前記グリルの上端に対し垂直に延びた仮想線と前記グリルとの間の角度であり、前記傾斜したグリルは、前記マスクの内側方向に向かって傾斜したことを特徴とする。
本発明に係るマスクは、基板の予定されたアクティブ領域とそれぞれ対応する多数のグリル部を含み、各グリル部は、マスクの基本部材に形成された多数のグリル(パターン)からなる。各グリルは、一定の長さ及び幅を有する。
本発明に係るマスク100の最も大きな特徴は、上端コーナー部に配置されたグリル部112を構成する各グリル112A−1、112A−2、112A−3、112A−4、112A−5の一部(または全部)、および下端コーナー部に配置されたグリル部113を構成する各グリル113A−1、113A−2、113A−3、113A−4、113A−5の一部または全部を傾斜するように構成したものである。
図4(a)に示されるように、マスク100を構成する基本部材111の左側上端コーナー部に形成されたグリル部112には、多数のグリル112A−1、112A−2、112A−3、112A−4、112A−5が形成されている。
上記用語"傾斜角"は、図5(a)に示されるように、各グリルの上端(図5(a)基準)において、垂直に延びた仮想線とグリルとの間の角度を意味する。
一方、上記条件と違って、最外側の第1グリル112A−1、その内側の第2グリル112A−2及び第3グリル112A−3の傾斜角を同一に構成することもできる。
上記用語、"傾斜角"は、図5(b)に示されるように、各グリルの下端(図5(b)基準)で垂直に延びた仮想線と各グリルとの間の角度を意味する。
一方、上記条件と違って、最外側の第1グリル113A−1、その内側の第2グリル113A−2及び第3グリル113A−3の傾斜角を同一に構成することもできる。
従って、引張力によって各グリル113A−1〜113A−3が変形されても、変形状態が異なる正常な(即ち、変形されていない)グリルと同じ形状を有するようになる。
従って、マスク100を用いた成膜工程時、基板の正確な位置に、変形されていないグリルの形状と同じ形状の膜を形成することができる。
111 基本部材
111−1 ソリッド領域
112 グリル部
112A−1 第1グリル
112A−2 第2グリル
112A−3 第3グリル
112A−4 第4グリル
112A−5 第5グリル
a−1、a−2、a−3、a−4 間隔
Claims (15)
- 表示素子製造用マスクにおいて、
少なくとも一つのグリルが形成された複数のグリル部を含み、
前記グリル部の第1グリル部に形成されたグリルの一部または全部が前記マスクに加えられる引張力の作用方向と反対方向に傾斜角を形成して傾斜し、
前記傾斜角は、前記グリルの上端に対し垂直に延びた仮想線と前記グリルとの間の角度であり、
前記第1グリル部は、前記マスクの最外縁にあるグリル部の一つであることを特徴とするマスク。 - 前記第1グリル部は、最外縁にあるグリル部の上端部に形成されることを特徴とする請求項1に記載のマスク。
- 前記グリル部の第2グリル部は、前記最外縁にあるグリル部の下端部に形成され、前記第2グリル部に形成されたグリルの一部または全部が傾斜したことを特徴とする請求項2に記載のマスク。
- 前記第1グリル部及び前記第2グリル部は、前記マスクのコーナー部分に形成されることを特徴とする請求項3に記載のマスク。
- 前記第1グリル部及び前記第2グリル部は、前記マスクの中心を基準に互いに対称的に配列されることを特徴とする請求項4に記載のマスク。
- 前記第2グリル部に形成されたグリルの中で傾斜したグリルは、前記マスクの内側方向に向かって傾斜したことを特徴とする請求項3に記載のマスク。
- 前記第2グリル部に形成された傾斜したグリルの上端部が前記マスクの内側方向に向かって傾斜し、前記第2グリル部に形成された傾斜したグリルの下端部間の間隔は実質的に同じであることを特徴とする請求項6に記載のマスク。
- 前記第2グリル部に形成された傾斜したグリルは、前記マスクの外側方向へ行くほど、より大きな傾斜角を有し、前記マスクの最外縁グリルの傾斜角は、前記最外縁グリルのより内側のグリルの傾斜角より大きいことを特徴とする請求項6に記載のマスク。
- 前記第1グリル部に形成されたグリルの中で傾斜したグリルは、前記マスクの内側方向に向かって傾斜したことを特徴とする請求項1に記載のマスク。
- 前記第1グリル部に形成された傾斜したグリルの下端部が、前記マスクの内側方向に向かって傾斜したことを特徴とする請求項9に記載のマスク。
- 前記第1グリル部に形成された傾斜したグリルの上端部間の間隔は、実質的に同じであることを特徴とする請求項10に記載のマスク。
- 前記第1グリル部に形成された傾斜したグリルは、前記マスクの外側方向へ行くほど、より大きな傾斜角を有し、前記マスクの最外縁グリルの傾斜角は、前記最外縁グリルのより内側のグリルの傾斜角より大きいことを特徴とする請求項9に記載のマスク。
- 前記マスクは、有機電界発光素子の製造過程中の有機物蒸着工程に用いられることを特徴とする請求項1に記載のマスク。
- 表示素子製造用マスクにおいて、
少なくとも一つのグリルが形成された複数のグリル部を含み、
前記グリル部の最外縁にあるグリル部の上端部に位置する第1グリル部に配列されたグリルの一部または全部が前記マスクに加えられる引張力の作用方向と反対方向に傾斜角を形成して傾斜し、
前記傾斜角は、前記グリルの上端に対し垂直に延びた仮想線と前記グリルとの間の角度であり、
前記最外縁にあるグリル部の下端部に位置する第2グリル部に配列されたグリルの一部または全部が前記マスクに加えられる引張力の作用方向と反対方向に傾斜角を形成して傾斜し、
前記傾斜角は、前記グリルの上端に対し垂直に延びた仮想線と前記グリルとの間の角度であり、
前記傾斜したグリルは、前記マスクの内側方向に向かって傾斜したことを特徴とするマスク。 - 前記第1グリル部及び前記第2グリル部は、前記マスクの中心を基準に互いに対称的に配列されることを特徴とする請求項14に記載のマスク。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2006-0084677 | 2006-09-04 | ||
KR1020060084677A KR100775846B1 (ko) | 2006-09-04 | 2006-09-04 | 디스플레이 소자 제조용 마스크 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008066269A JP2008066269A (ja) | 2008-03-21 |
JP4974671B2 true JP4974671B2 (ja) | 2012-07-11 |
Family
ID=39061860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006354480A Active JP4974671B2 (ja) | 2006-09-04 | 2006-12-28 | 表示素子製造用マスク |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080057850A1 (ja) |
JP (1) | JP4974671B2 (ja) |
KR (1) | KR100775846B1 (ja) |
CN (1) | CN101139698B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008057100A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Mmi-Ipco Llc | 感温性且つ感湿性のスマートテキスタイル |
US8389100B2 (en) * | 2006-08-29 | 2013-03-05 | Mmi-Ipco, Llc | Temperature responsive smart textile |
US8089579B1 (en) * | 2009-08-27 | 2012-01-03 | Rockwell Collins, Inc. | System and method for providing a light control mechanism for a display |
CN103225059A (zh) * | 2012-01-30 | 2013-07-31 | 群康科技(深圳)有限公司 | 阴影掩膜及其补偿设计方法 |
JP6303154B2 (ja) * | 2014-07-08 | 2018-04-04 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 成膜マスク、その製造方法及びタッチパネル |
US11340061B2 (en) | 2018-03-26 | 2022-05-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Measuring device and measuring method |
CN109825802B (zh) * | 2019-04-10 | 2021-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 掩模板及其制备方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10319870A (ja) * | 1997-05-15 | 1998-12-04 | Nec Corp | シャドウマスク及びこれを用いたカラー薄膜el表示装置の製造方法 |
JPH1117313A (ja) | 1997-06-20 | 1999-01-22 | Hitachi Ltd | スクリーン印刷用ソリッドメタルマスク |
KR100300424B1 (ko) * | 1999-03-05 | 2001-09-26 | 김순택 | 음극선관용 텐션 마스크와 텐션마스크 프레임 조립체 |
KR100385214B1 (ko) * | 1999-12-09 | 2003-05-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평면형 음극선관의 텐션 마스크 프레임 조립체 |
JP4006173B2 (ja) * | 2000-08-25 | 2007-11-14 | 三星エスディアイ株式会社 | メタルマスク構造体及びその製造方法 |
KR100382491B1 (ko) * | 2000-11-28 | 2003-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 유기 el의 새도우 마스크 |
JP2002169266A (ja) | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Nikon Corp | マスク、結像特性計測方法、及び露光方法 |
WO2003019988A1 (fr) * | 2001-08-24 | 2003-03-06 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Dispositif de masque de formation a plusieurs faces pour depot sous vide |
US6955726B2 (en) * | 2002-06-03 | 2005-10-18 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Mask and mask frame assembly for evaporation |
JP2004273896A (ja) | 2003-03-11 | 2004-09-30 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | 荷電粒子ビーム露光用マスク、それを用いた荷電粒子ビーム露光方法及びその露光方法を用いた半導体装置の製造方法 |
JP3794407B2 (ja) * | 2003-11-17 | 2006-07-05 | セイコーエプソン株式会社 | マスク及びマスクの製造方法、表示装置の製造方法、有機el表示装置の製造方法、有機el装置、及び電子機器 |
JP2005179739A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Sony Corp | 蒸着用マスクおよびその製造方法 |
KR100700838B1 (ko) * | 2005-01-05 | 2007-03-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 섀도우마스크 패턴 형성방법 |
-
2006
- 2006-09-04 KR KR1020060084677A patent/KR100775846B1/ko active IP Right Grant
- 2006-12-13 US US11/637,774 patent/US20080057850A1/en not_active Abandoned
- 2006-12-20 CN CN2006101690512A patent/CN101139698B/zh active Active
- 2006-12-28 JP JP2006354480A patent/JP4974671B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080057850A1 (en) | 2008-03-06 |
CN101139698B (zh) | 2013-09-11 |
CN101139698A (zh) | 2008-03-12 |
JP2008066269A (ja) | 2008-03-21 |
KR100775846B1 (ko) | 2007-11-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20080501 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090824 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110506 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110705 |
|
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120321 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120410 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4974671 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150420 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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