JP4969785B2 - カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法 - Google Patents

カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4969785B2
JP4969785B2 JP2005038955A JP2005038955A JP4969785B2 JP 4969785 B2 JP4969785 B2 JP 4969785B2 JP 2005038955 A JP2005038955 A JP 2005038955A JP 2005038955 A JP2005038955 A JP 2005038955A JP 4969785 B2 JP4969785 B2 JP 4969785B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
solar cell
substrate
mica
chalcopyrite
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005038955A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006228867A (ja
Inventor
諭 米澤
匡史 林田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP2005038955A priority Critical patent/JP4969785B2/ja
Priority to US11/884,485 priority patent/US20090205715A1/en
Priority to CNB200680009974XA priority patent/CN100524839C/zh
Priority to DE112006000394T priority patent/DE112006000394T5/de
Priority to PCT/JP2006/301664 priority patent/WO2006087914A1/ja
Publication of JP2006228867A publication Critical patent/JP2006228867A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4969785B2 publication Critical patent/JP4969785B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/072Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type
    • H01L31/0749Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type including a AIBIIICVI compound, e.g. CdS/CulnSe2 [CIS] heterojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • H01L31/0322Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIBIIICVI chalcopyrite compounds, e.g. Cu In Se2, Cu Ga Se2, Cu In Ga Se2
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/541CuInSe2 material PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

本発明は、カルコパイライト化合物の光吸収層を有する太陽電池、特に高い柔軟性を有し量産性に適すると共に高い変換効率を有する太陽電池及びその製造方法に関する。
光を受光し電気エネルギーに変換する太陽電池は、半導体の厚さによりバルク系と薄膜系とに分類されている。このうち薄膜系の太陽電池は、半導体層が数10μm〜数μm以下の厚さを持つ太陽電池であり、Si薄膜系と化合物薄膜系に分類されている。化合物薄膜系には、II−VI 族化合物、カルコパイライト系等の太陽電池があり、これまでいくつかのもの製品化されてきた。この中で、カルコパイライト系の太陽電池は、使用されている物質から、別名CIGS(Cu(InGa)Se)系薄膜太陽電池、もしくは、CIGS太陽電池又はI−III−VI族系と称されている。
カルコパイライト系の太陽電池は、カルコパイライト化合物を光吸収層として形成された太陽電池であり、高効率、光劣化(経年変化)がない、耐放射線特性に優れ、光吸収波長領域が広く、光吸収係数が高い等の特徴を有し、現在量産に向けた研究が行われている。
一般的なカルコパイライト型太陽電池の断面構造を図1に示す。図1に示すように、カルコパイライト型太陽電池は、ガラス基板上に形成された下部電極薄膜と、銅・インジウム・ガリウム・セレンを含む光吸収層薄膜と、光吸収層薄膜の上側に形成されたバッファ層薄膜と、上部電極薄膜とから構成されている。このカルコパイライト系太陽電池に太陽光等の光が照射されると、電子(−)と正孔(+)の対が発生し、電子(−)と正孔(+)はp型半導体とn型半導体との接合面で、電子(−)がN型半導体へ正孔(+)がp型半導体に集まり、その結果、n型半導体とp型半導体との間に起電力が発生する。この状態で電極に導線を接続することにより、電流を外部に取り出すことができる。
図2及び図3に、カルコパイライト型太陽電池を製造する工程を示す。初めに、ソーダライムガラス等のガラス基板に下部電極となるMo(モリブデン)電極をスパッタリングによって成膜する。次に図3(a)に示すように、Mo電極をレーザー照射等によって分割する(第1のスクライブ)。第1のスクライブの後、削り屑を水等で洗浄し、銅(Cu)、インジウム(In)及びガリウム(Ga)をスパッタリング等で付着させ、プリカーサを形成する。このプリカーサを炉に投入し、HSeガスの雰囲気中でアニールすることにより、光吸収層薄膜が形成される。このアニール工程は、通常気相セレン化もしくは単にセレン化と称されている。
次に、CdS、ZnOやInS等のn型バッファ層を光吸収層上に積層する。バッファ層は、一般的なプロセスとしては、スパッタリングやCBD(ケミカル・バス・デポジション)等の方法によって形成される。次に図3(b)に示すように、レーザー照射や金属針等によりバッファ層及びプリカーサを分割する(第2のスクライブ)。
その後図3(c)に示すように、上部電極となるZnOAl等の透明電極(TCO)をスパッタリング等で形成する。最後に図3(d)に示すように、レーザー照射や金属針等によりTCO、バッファ層及びプリカーサを分割する(第3のスクライブ)ことにより、CIGS系薄膜太陽電池が完成する。
ここで得られる太陽電池はセルと称せられるものであるが、実際に使用する際には、複数のセルをパッケージングし、モジュール(パネル)として加工する。セルは、各スクライブ工程により、複数の直列段を形成する太陽電池に分割されており、この直列段数を変更することにより、セルの電圧を任意に設計変更することが可能となる。
このような従来のカルコパイライト型太陽電池は、その基板材料としてガラス基板が用いられてきた。この理由は、ガラス基板が絶縁性であること、入手が容易であること、価格が比較的安価であること、Mo電極層(下部電極薄膜)との密着性が高いこと、及び表面が平滑であることに基づいている。さらに、ガラス中に含まれているナトリウム成分が、光吸収層(p層)に拡散することにより、エネルギー変換効率が高くなることも挙げられる。その反面、ガラスは融点が低く、セレン化工程でアニール温度を高く設定できないため、結果的にエネルギー変換効率が低く抑えられてしまうこと、基板が厚く質量がかさむため製造設備が大がかりになり、製造後の取り扱いも不便であること、ほとんど変形しないためロール・トウ・ロールプロセス等の大量生産工程が適用できないこと等の欠点があった。
これらの課題を解決するために、高分子フィルム基板を用いたカルコパイライト系太陽電池が提案されている(例えば、特許文献1参照)。また、ステンレス基板の上側及び下側表面に酸化シリコン又はフッカ鉄の層を形成した基体を用い、その上にカルコパイライト型太陽電池構造体を形成する技術も提案されている(例えば、特許文献2参照)。さらに、カルコパイライト系基板材料として、ガラス、アルミナ、マイカ、ポリイミド、モリブデン、タングステン、ニッケル、グラファイト、ステンレススチールを列挙した技術も開示されている(例えば、特許文献3参照)。
特開平5−259494号公報 特開2001−339081号公報 特開2000−58893号公報
従来のカルコパイライト型太陽電池の基板材料としてガラス以外の素材を用いているもののうち、特許文献1に記載の高分子フィルムを用いているものについては、特性上例えばポリイミドの場合、260°C以上の高温で処理することができなかった。従って、気相セレン化のような500°Cを超える高温プロセスを用いることができず、結果として、変換効率の高い電池を製造することができなかった。
また、特許文献2に記載のステンレス基板の上下に酸化シリコン又はフッカ鉄の層(保護層)を形成する技術では、気相セレン化工程で、HSeガスの攻撃性からステンレス基板を保護するのに十分ではなく、腐食したステンレス基板からMo電極層(裏面電極薄膜)が剥離する等の不具合があった。また、保護層が剥がれてしまい、導電性のステンレス基板が露出してしまうため、金属針によるスクライブ工程を導入することができなかった。
さらに、特許文献3に記載の技術では、様々な基板材料が提示されているが、その実施の形態に完結した実施例として記載されている技術は全てガラス基板を用いたものであり、提示された基板材料の各々について当業者が実施できる程度に詳細に開示されていない。例えば、各実施例中では、基板を385°Cから495°Cの間でアニールしているが、これはソーダ石灰ガラスに合わせたものであり、他に列挙されている基板材料を用いて同一のプロセスで作成できるか否か不明である。
このように、従来の技術では、絶縁性の高さ、入手が容易にできること、価格が比較的安価であること、Mo電極層(下部電極薄膜)との密着性が良好であること、表面が平滑であること、融点が600°C以上であること、薄く軽量であること、フレキシブル性に富むことの要件を満たす基板材料が用いられていないのが実情である。
本発明の目的は、上述した基板材料に課せられる要件を満たし、高い変換効率が得られる太陽電池を実現することにある。
さらに、本発明の目的は、優れたフレキシブル性を有し、ロール・トウ・ロルプロセスの大量生産工程に適合すると共に高い変換効率が得られる太陽電池を実現することにある。
本発明による太陽電池は、マイカ又はマイカを含む材料の基板と、
前記基板上に基板表面を平滑化又は平坦化するために形成された中間層と、
前記中間層上に形成したバインダ層と、
前記バインダ層上に形成した金属下部電極層と、
前記金属下部電極層上に形成され、カルコパイライト系材料で構成されるp型の光吸収層と、
前記光吸収層上に形成されたn型のバッファ層と、
前記バッファ層上に形成したn型の透明電極層とを備える。
本発明では、基板として、マイカ又はマイカを主成分とする材料の基板を用いる。マイカは、1012〜1016 Ωの高い絶縁性を有すると共に、耐熱温度が800〜1000°Cと高く、しかも、酸やアルカリ及びHSeガスに対する耐性も高い特性を有している。従って、最適な温度で気相セレン化処理を行うことができるので、高い変換効率を得ることができる。すなわち、CIGS太陽電池の製造工程において、ソーダライムガラス基板で使用される500°C程度の比較的低い処理温度でセレン化処理を行ったのでは、Gaが光吸収層の下部電極薄膜側に未結晶の状態で偏析するためバンドギャップが小さく、電流密度が低下してしまう。これに対して、600°C以上700°C以下の温度で気相セレン化の熱処理を行うと、光吸収層中にGaが均一に拡散し、しかも未結晶の状態が解消されるためバンドギャップが拡大し、結果的に開放電圧(Voc)が向上する。従って、基板材料としてマイカ又はマイカを主体とする材料を用いることにより、高い変換効率の太陽電池を実現することができる。さらに、マイカ及び集成マイカは、高いフレキシブル性を有しているから、ロール・トウ・ロールの製造工程で生産できるため、量産性の要求に対しても適合することができる。
しかしながら、マイカ又はマイカを主体とする材料である集成マイカ基板の表面は平滑ではなく、数10μmの範囲において5〜6μmの最大表面粗度が存在することが判明した。このような大きな表面粗度を有する基板を用いたのでは、表面被覆性が不完全なものとなり、リークを誘発し、太陽電池の開放電圧(Voc)が低下する傾向があり、十分な変換効率が得られない不具合が生じてしまう。この課題を解決するため、本発明では、マイカ又は集成マイカ基板と金属電極との間に、基板表面を平坦化又は平滑化するための厚膜の中間層を形成する。この中間層を形成することにより、基板上に形成される太陽電池を構成する各種の層間の整合性を確保することができ、変換効率が低下する不具合を解消することができる。形成される中間層の厚さは、マイカ或いは集成マイカの表面を平坦化する観点より2μm以上であることが望ましく、基板のフレキシブル性を確保する観点より20μm以下に設定することが望ましい。一方、厚膜の中間層を形成する場合、スパッタリング等の真空処理により酸化膜や窒化膜を形成したのでは、膜形成に長時間かかるだけでなく、太陽電池を曲げたり湾曲させた場合酸化膜や窒化膜に割れが発生するだけでなく、フレキシブル性も低下する不具合が生じてしまう。そこで、本発明では、厚膜の中間層は、例えば刷毛による塗布、スプレー塗布、シルク印刷、スピンコーティング等の非真空処理により形成する。これらの非真空処理による膜形成技術を利用することにより、所望の厚さの中間層を容易に形成することができる。
さらに、本発明では、マイカ又は集成マイカの基板上に形成した中間層とその上側に形成されるモリブデン電極との間に、ナイトライド系化合物のバインダ層を設ける。TiN及びTaN等の窒化物のバインダ層は、不純物の拡散を抑制するバリヤ効果を有すると共にモリブデン等との間において高い密着性を有するので、基板及び中間層に含まれる不純物ないし組成物がカルコパイライト系材料の光吸収層に拡散するのが防止されると共に中間層と金属電極層との間に高い密着性を確保することができる。
本発明による太陽電池の好適実施例は、基板を、マイカの粉体と樹脂とが混合され、圧延工程及び焼成工程経て製造される集成マイカで構成したことを特徴とする。集成マイカは、樹脂が混合されているため純粋のマイカ基板よりも耐熱性は低いが、600〜800°Cの耐熱温度を有しており、気相セレン化処理の最適温度である600〜700°Cにおいて処理することができる。しかも、高いフレキシブル性を有しているので、ロール・トウ・ロールプロセスに適している。しかも、ガラス基板よりもコストが大幅に安価である。従って、基板として集成マイカを用いることにより、大量生産に適合すると共に高い変換効率を有する太陽電池を一層安価な製造コストで製造することができる。
本発明による太陽電池の好適実施例は、中間層をセラミック系材料で構成し、その厚さを2〜20μmの厚さに設定したことを特徴とする。セラミック系材料は、高い耐熱温度を有しているから、気相セレン化処理を最適な温度で行うことができ、従って、高い変換効率の太陽電池を実現することができる。
本発明による太陽電池の別の好適実施例は、バインダ層をTiN又はTaNを含むナイトライド系化合物で構成し、その厚さを3000Å〜1μmの範囲に設定した。
本発明による太陽電池の別の好適実施例は、中間層とバインダ層との間に、窒化シリコン又は酸化シリコンで構成される表面平滑層が形成されている。
本発明による太陽電池の製造方法は、カルコパイライト系材料で構成される光吸収層を有する太陽電池を製造するに際し、
マイカ又はマイカを含む材料の基板を用意し、当該基板上に基板表面を平坦化するための中間層を形成する工程と、
前記中間層上にバインダ層を形成する工程と、
前記バインダ層上に金属下部電極層を形成する工程と、
前記金属下部電極層上にカルコパイライト化合物の光吸収層を形成する工程と、
前記光吸収層の上側に透明電極層を形成する工程とを備える。
本発明による太陽電池の製造方法では、基板並びに基板上に形成される中間層及び中間バッファ層を高い耐熱温度を有する材料で構成しているので、カルコパイライト化合物のプリカーサについて気相セレン化処理する際、最適な処理温度で処理することができ、この結果高い変換効率の太陽電池を製造することができる。
本発明による太陽電池の製造方法の好適実施例は、光吸収層を形成する工程が、前記金属電極層が形成されている基体上にプリカーサを形成する工程と、当該プリカーサを、600〜700°Cの処理温度で気相セレン化処理を行う工程とを含む。
本発明によるセラミック系材料でコーティングされたマイカ基板又は集成マイカ基板を用いることにより、軽量でフレキシブル性に富む変換効率の高いカルコパイライト系太陽電池を製造することが可能になった。特に、セラミック系材料で平滑化された集成マイカ基板を用いることにより、ガラス基板を使用した場合に比べ安価に、且つ高い変換効率を有するカルコパイライト系太陽電池を製造することができる。また、マイカ基板からの不純物が光吸収層に拡散するのを防止するためのバインダ層(併せて、密着性を高める効果を有する)を設けたことにより、基板側からの不純物の拡散を防止することが可能になった。
さらに、SiNもしくはSiOのシリコン系の平滑層を設けたことにより、セラミック系材料のコーティングされたマイカ基板の微小な粗さを平滑にし、バインダ層との密着度を向上させることが可能になる。
実施例の説明に先立って、集成マイカ基板の表面形状について説明する。図4(A)及び(B)は、集成マイカ基板の任意の2箇所の表面形状の測定結果を示す。図4において、横軸は集成マイカ基板の横方向の位置を示し、縦軸は高さ方向の位置を示す。集成マイカ基板の特徴として最大高低差が非常に急峻に変化している(アスペクト比が大きい)。図4から明らかなように、横方向に数10μmの範囲において5〜6μmの最大高低差が存在する。この原因は、集成マイカの製法に起因しているものと解され、粉砕したマイカを樹脂中に混合しているため、粉砕マイカ片が表面に存在することになり、アスペクト比を極めて大きくしているものと解される。尚、集成マイカ基板の表面粗度は、測定した2カ所について、それぞれRa=1.6μm及びRa=0.8μmであった。このような表面状態の場合、基板上にMo等の電極を直接成膜し、その上に光吸収層を形成しても、表面被覆が不完全な状態となり、リークを誘発し太陽電池としての機能が著しく低下する。具体的には、太陽電池の開放電圧(Voc)が低下し、変換効率が低下してしまう。
次に、集成マイカ基板表面に中間層の材料であるセラミック系の塗料を8μmの厚さにコーティングした後の表面形状の測定結果を図4A及びBに示す。 図5は、任意の2箇所の測定結果を示す。図5から明らかなように、基板が本来有している大きなうねりが測定されたが、集成マイカ基板の表面形状測定で観測された数μmの範囲で生じている5〜6μmの最大高低差は消滅している。従って、図4及び図5に示す測定結果より、中間層の厚さは、2μm以上あればよく、好ましく5μmあれは良い。
図6は本発明による太陽電池の一例の構成を示す断面図である。本例では、基板として集成マイカ基板1を用いる。集成マイカは、粉体状のマイカを樹脂と共に混合し、圧延及び焼成を経て製造される高絶縁性材料である。集成マイカの耐熱温度は600〜800°C程度であり、従来の太陽電池で用いられているソーダライムガラスの耐熱温度(500〜550°C)よりも高温に耐えることができる。また、気相セレン化処理における最適な処理温度は600〜700°Cであるから、カルコパイライトの光吸収層を形成する際にも最適温度で形成することができる。しかも、集成マイカは高いフレキシブル性を有するので、ロール・トウ・ロールで生産する場合にも好適である。
集成マイカ基板1上に厚膜の中間層2を形成する。この中間層2は、集成マイカ基板表面を平坦化ないし平滑化するものであり、2〜20μmの厚さに形成する。この中間層2はセラミック系の材料で構成することができ、一例として、チタンが39重量%、酸素が28.8重量%、ケイ素が25.7重量%、炭素が2.7重量%、アルミニウムが1.6重量%の塗料を用いることができる。また、厚膜の中間層2の形成方法として、非真空処理を用い、例えば刷毛によるコーティング、スプレー塗布、シルク印刷、スピンコーティング等により塗膜を形成し、乾燥及び焼成工程を経て形成される。この中間層の厚さは、集成マイカの表面を平坦化するためには2μm以上の厚さが必要であり、太陽電池を形成したときのフレキシブル性を確保するためには20μm以下とすることが望ましい。中間層の形成に用いられるセラミック材料系の塗料は、ゾルゲルプロセスで製造された無機樹脂を基体とし、ケイ素と酸素がイオン結合により強力に結び付き、1200°C程度の耐熱温度を有している。従って、後述するカルコパイライト層を形成するための気相セレン処理の理想的な処理温度においても十分な耐熱性を備えている。
中間層2上に表面平滑層3を形成する。この表面平滑層3として、SiNやSiOを用いることができ、スパッタリング等のドライプロセスにより形成する。Si系の材料を用いる理由として、中間層2の表面を一層平滑な面とすることができ、並びに下地のセラミック系材料の中間層と後述するバインダ層との密着性を高めることができることが挙げられる。この表面平滑層3は、必要に応じて形成し、省略することも可能である。
表面平滑層3上に、バインダ層4を形成する。このバインダ層4は、下地のマイカ基板及び中間層からの不純物ないし組成物の拡散を防止すると共に、この上に形成されるモリブデンやタングステン等の金属電極5とマイカ基板構造体(マイカ基板1及び中間層2を含む)との間の密着性を改善するために形成する。このバインダ層4の材料として、TiNやTaN等のナイトライド系化合物が好適である。このバインダ層4の厚さは、実験結果によれば、バリヤ性を確保するためには3000Å以上必要でありバリャ性と密着性を両立させるためには5000Å〜1μmの厚さが最適であることが判明した。
バインダ層4上には、従来のカルコパイライト系太陽電池と同様に各層を形成する。すなわち、初めに、下部電極となるモリブデン(Mo)電極5をスパッタリングにより形成し、Mo電極5をレーザーの照射によって分割する(第1のスクライブ)。
次に、銅(Cu)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)をスパッタリング等により付着させてプリカーサを形成した後、このプリカーサを炉内に配置し、HSeガスの雰囲気中でアニールする気相セレン化処理によりカルコパイライト系の光吸収層6を形成する。尚、必要な場合、気相セレン化処理に先立ってアルカリ金属であるナトリウム(Na)を添加する工程を行うこともできる。光吸収層中にNaを拡散させることにより、光吸収層の粒(グレイン)が成長することにより、エネルギー変換効率が高くなるためである。
光吸収層6はp型半導体層であり、この光吸収層上には、CdS、ZnOやInS等のn型半導体層として機能するn型バッファ層7をスパッタリング又はCBD(ケミカル・バス・デポジション)等の方法により例えば数100Åの厚さに形成する。尚、このn型バッファ層7上には、必要に応じて高抵抗層8を数100Åの厚さに形成することができる。その後、レーザー照射や金属針により光吸収層及びバッファ層を分割する(第2のスクライブ)。
その後、上部電極となるZnOAl等の透明電極(TCO)9をスパッタリングやCBD等により形成し、その上に反射防止膜10を形成する。さらに、レーザー照射や金属針等により反射防止膜、透明電極、バインダ層及び光吸収層を分割する(第3のスクライブ)。最後に、下部電極層5及び上部電極層9に引き出し電極11及び12を形成することにより、カルコパイライト系薄膜太陽電池が完成する。
尚、モリブデン電極5の形成工程以降の工程について、CBD等のウェットプロセスをドライプロセスに置き換えることにより、集成マイカ基板をロールから供給し太陽電池を形成する「ロール・トウ・ロール・プロセス」を導入することが可能になる。尚、ロール・トウ・ロール・プロセスを導入する際には、セラミック系材料の中間層を形成する工程を、予め集成マイカ基板に行ってもよく、或いは、ロール・トウ・ロール・プロセスの中に組み込むことも可能である。
次に、上述した実施例に基づいて作成した太陽電池の性能について説明する。比較例として、集成マイカ基板上に中間層として9000Åの酸化膜とバリヤ層としても機能するバインダ層とを形成し、その上にMo電極層を形成した太陽電池を用いる。図7(A)は比較例による太陽電池の性能を示し、図7(B)は本発明により作成した太陽電池の性能を示す。セラミック系材料の厚膜の中間層が形成されていない比較例の太陽電池において、10箇所の平均変換効率η=0.58%、平均開放電圧Voc=0.13Vであり、最高の変換効率はη=1.0%、最高の開放電圧はVoc=0.15Vであった。これに対して、セラミック系材料の厚膜の中間層を有する本発明による太陽電池においては、10箇所の平均変換効率η=6.5%、平均開放電圧Voc=0.49Vであり、最高の変換効率はη=8.3%、最高の開放電圧はVoc=0.57Vであった。フィルファクタ(FF)についても、本発明による太陽電池の場合大幅に改善されている。
この実験結果より、集成マイカ基板上にスパッタリング等の真空処理により酸化膜や窒化膜を形成し、その上にMo電極層を形成したのでは、太陽電池としての特性を改良することはできない。一方、集成マイカ基板上に非真空処理により厚膜の中間層を形成、その上にMo電極層を形成した場合、太陽電池として高い変換効率及び大きな開放電圧が得られることができる。この理由は、スパッタリング等の処理では、集成マイカ基板の表面の平坦性ないし平滑性を改善できず、リークを誘発して太陽電池の性能を低下させていると解される。
次に、バインダ層の効果について説明する。集成マイカ基板上にMo電極を直接形成した太陽電池と、集成マイカ基板上にTiNのバインダ層を形成しその上にMo電極層を形成した太陽電池とを際作成し、各層に分布する物質をオージェ法により測定した測定結果を図8に示す。尚、バインダ層の効果を確認するため、セラミック系材料の中間層は形成されていない。図8(A)は集成マイカ基板上にMo層を直接した太陽電池のデータを示し、図8(B)はバリヤ層を有する太陽電池のデータを示す。図8(A)に示すように、バリヤ層が存在しない太陽電池においては、マイカ基板中に含まれるAl、K、Li、Na、Mg、F等のアルカリ土類金属元素が拡散している。これらの物質はカルコパイライト系の光吸収層にとっては不純物であり、このように拡散した場合太陽電池として機能することができなくなってしまう。従って、太陽電池としての機能を高める上で、不純物拡散を防止するバリヤ層としても機能するバインダ層は極めて重要である。
本発明は上述した実施例だけに限定されず、種々の変更や変形が可能である。例えば、マイカ基板及び集成マイカ基板の表面を平坦化ないし平滑化するために設けたセラミック系材料は一例であり、600〜700°Cの温度域で処理できる種々の材料を用いることができる。さらに、上述した実施例では、カルコパイライト系の光吸収層と透明電極との間にn型半導体層を形成したが、n型半導体層を形成せず、透明電極をn型層として機能させることも可能である。
従来のカルコパイライト型太陽電池の構造を示す断面図 従来のカルコパイライト型太陽電池の一連の製造工程を示す図 製造工程のうちの要部を説明した図 集成マイカ基板の表面形状を示すグラフ (A)及び(B)は集成マイカ基板表面に厚膜の中間層を形成した後の表面形状を示す線図 本発明による太陽電池の一例の構成を示す断面図 (A)及び(B)は本発明による太陽電池の性能を説明した図 (A)及び(B)は太陽電池の各層に含まれる不純物を示すオージェ分析の結果を示すグラフ
符号の説明
1…集成マイカ基板
2…中間層
3…表面平滑層
4…バインダ層
5…金属下部電極層
6…光吸収層
7…n型バッファ層
8…高抵抗層
9…透明電極層
10…反射防止膜
11,12…引き出し電極

Claims (5)

  1. マイカ又はマイカを含む材料からなる基板と、
    前記基板上に基板表面を平滑化又は平坦化するために形成される中間層と、
    前記中間層上に形成したTiN又はTaNを含むナイトライド系化合物からなるバインダ層と、
    前記バインダ層上に形成される金属下部電極層と、
    前記下部層上に600℃以上700℃以下の温度で熱処理されて形成されるカルコパイライト化合物からなるp型の光吸収層と、
    前記光吸収層上に形成されるn型のバッファ層と、
    前記バッファ層上に形成される透明電極層とを備えることを特徴とするカルコパイライト型太陽電池。
  2. 請求項1に記載の太陽電池において、前記基板をマイカの粉体と樹脂とを混合し、圧延及び焼成工程を経て得られる集成マイカで構成したことを特徴とするカルコパイライト型太陽電池。
  3. 請求項1又は2に記載の太陽電池において、前記中間層をセラミック系材料の塗膜で構成し、その厚さを2μm以上20μm以下の厚さに設定したことを特徴とするカルコパイライト型太陽電池。
  4. 請求項1乃至請求項3の何れかに記載の太陽電池において、前記中間層とバインダ層との間に、窒化シリコン又は酸化シリコンで構成される表面平滑層が形成されていることを特徴とするカルコパイライト型太陽電池。
  5. マイカ又はマイカを含む材料の基板を用意し、当該基板上に基板表面を平滑化又は平坦化するため中間層を形成する工程と、
    前記中間層上にTiN又はTaNを含むナイトライド系化合物からなるバインダ層を形成する工程と、
    前記バインダ層上に金属下部電極層を形成する工程と、
    前記金属下部電極層上に銅(Cu)、インジウム(In)及びガリウム(Ga)を含むプリカーサを形成する工程と、
    前記プリカーサに対してセレン(Se)を添加し、600℃以上700℃以下の温度で熱処理を行って、前記金属下部電極層上にカルコパイライト化合物からなるp型の光吸収層を形成する工程と、
    前記光吸収層上にn型のバッファ層を形成する工程と、
    前記バッファ層の上側に透明電極層を形成する工程とを備えることを特徴とするカルコパイライト型太陽電池の製造方法。
JP2005038955A 2005-02-16 2005-02-16 カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法 Active JP4969785B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005038955A JP4969785B2 (ja) 2005-02-16 2005-02-16 カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法
US11/884,485 US20090205715A1 (en) 2005-02-16 2006-02-01 Chalcopyrite Solar Cell and Manufacturing Method Thereof
CNB200680009974XA CN100524839C (zh) 2005-02-16 2006-02-01 黄铜矿型太阳能电池及其制造方法
DE112006000394T DE112006000394T5 (de) 2005-02-16 2006-02-01 Chalkopyrit-Solarzelle und Verfahren zu deren Herstellung
PCT/JP2006/301664 WO2006087914A1 (ja) 2005-02-16 2006-02-01 カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005038955A JP4969785B2 (ja) 2005-02-16 2005-02-16 カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006228867A JP2006228867A (ja) 2006-08-31
JP4969785B2 true JP4969785B2 (ja) 2012-07-04

Family

ID=36916324

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005038955A Active JP4969785B2 (ja) 2005-02-16 2005-02-16 カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20090205715A1 (ja)
JP (1) JP4969785B2 (ja)
CN (1) CN100524839C (ja)
DE (1) DE112006000394T5 (ja)
WO (1) WO2006087914A1 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009206348A (ja) * 2008-02-28 2009-09-10 Honda Motor Co Ltd カルコパイライト型太陽電池の製造方法
DE102009013903A1 (de) * 2009-03-19 2010-09-23 Clariant International Limited Solarzellen mit einer Barriereschicht auf Basis von Polysilazan
US20100243046A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Degroot Marty W Method of forming a protective layer on thin-film photovoltaic articles and articles made with such a layer
KR101154683B1 (ko) * 2009-10-07 2012-06-08 엘지이노텍 주식회사 태양광 발전장치 및 이의 제조방법
JP2011155237A (ja) * 2009-12-28 2011-08-11 Hitachi Ltd 化合物薄膜太陽電池、化合物薄膜太陽電池の製造方法、および化合物薄膜太陽電池モジュール
EP2549548A4 (en) 2010-03-19 2014-05-21 Tokyo Inst Tech SOLAR CELL WITH POROUS STRUCTURE AND NANOPARTICLES CARRED IN THE PORES
KR20110137671A (ko) * 2010-06-17 2011-12-23 엘지디스플레이 주식회사 박막 태양전지의 제조방법
US20120017990A1 (en) * 2010-07-21 2012-01-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Phyllosilicate composites containing mica
US8652647B2 (en) 2010-07-21 2014-02-18 E I Du Pont De Nemours And Company Articles comprising phyllosilicate composites containing mica
US8580389B2 (en) 2010-07-21 2013-11-12 E. I. Dupont De Nemours And Company Articles comprising phyllosilicate composites containing mica
US8563125B2 (en) 2010-07-21 2013-10-22 E I Du Pont De Nemours And Company Phyllosilicate composites containing MICA
US8449972B2 (en) 2010-07-21 2013-05-28 E I Du Pont De Nemours And Company Phyllosilicate composites containing mica
TWI531078B (zh) * 2010-12-29 2016-04-21 友達光電股份有限公司 太陽電池的製造方法
CN102610689A (zh) * 2011-01-19 2012-07-25 黄崇哲 黄铜矿系薄膜太阳能电池的制备方法
US20130000702A1 (en) * 2011-06-30 2013-01-03 Miasole Photovoltaic device with resistive cigs layer at the back contact
KR101262569B1 (ko) * 2011-07-29 2013-05-08 엘지이노텍 주식회사 태양전지 및 그의 제조방법
KR20140126323A (ko) * 2012-01-19 2014-10-30 누보선, 인크. 광발전 전지용 보호 코팅
CN103311363A (zh) * 2012-03-12 2013-09-18 杜邦太阳能有限公司 太阳能电池模组及其制作方法
TWI495740B (zh) * 2012-12-14 2015-08-11 Nat Inst Chung Shan Science & Technology 軟性太陽能電池光吸收層之真空製程設備及其製造方法
CN103325855A (zh) * 2013-05-27 2013-09-25 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 太阳能电池结构及其制备方法
DE102014217165A1 (de) * 2014-08-28 2016-03-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Halbleiterstruktur, Verfahren zu deren Herstellung und deren Verwendung
CN106981532A (zh) * 2017-02-20 2017-07-25 中国科学院电工研究所 一种柔性cigs多晶薄膜太阳电池
RU2682836C1 (ru) * 2018-05-29 2019-03-21 Общество с ограниченной ответственностью "Солартек" Способ изготовления светопроницаемого тонкопленочного солнечного модуля на основе халькопирита

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE415723A (ja) * 1935-06-01
JPS59119877A (ja) * 1982-12-27 1984-07-11 Toyobo Co Ltd 太陽電池
JPS59119878A (ja) * 1982-12-27 1984-07-11 Toyobo Co Ltd 太陽電池
US4496788A (en) * 1982-12-29 1985-01-29 Osaka Transformer Co., Ltd. Photovoltaic device
JPS6115763U (ja) * 1984-07-02 1986-01-29 太陽誘電株式会社 マイカ成形基板を使用した薄膜素子
JPS62145782A (ja) * 1985-12-19 1987-06-29 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置の製造方法
US4847162A (en) * 1987-12-28 1989-07-11 Dow Corning Corporation Multilayer ceramics coatings from the ceramification of hydrogen silsequioxane resin in the presence of ammonia
JPH08125206A (ja) * 1994-10-27 1996-05-17 Yazaki Corp 薄膜太陽電池
JPH10135501A (ja) * 1996-09-05 1998-05-22 Yazaki Corp 半導体装置及びその製造方法並びに太陽電池
JP4177480B2 (ja) * 1998-05-15 2008-11-05 インターナショナル ソーラー エレクトリック テクノロジー,インコーポレイテッド 化合物半導体フィルムおよび関連電子装置の製造方法
US6127202A (en) * 1998-07-02 2000-10-03 International Solar Electronic Technology, Inc. Oxide-based method of making compound semiconductor films and making related electronic devices
FR2820241B1 (fr) * 2001-01-31 2003-09-19 Saint Gobain Substrat transparent muni d'une electrode
JP2004047917A (ja) * 2002-07-12 2004-02-12 Honda Motor Co Ltd 薄膜太陽電池およびその製造方法
JP4055064B2 (ja) * 2002-10-16 2008-03-05 本田技研工業株式会社 薄膜太陽電池の製造方法
JP4695850B2 (ja) * 2004-04-28 2011-06-08 本田技研工業株式会社 カルコパイライト型太陽電池
JP4681352B2 (ja) * 2005-05-24 2011-05-11 本田技研工業株式会社 カルコパイライト型太陽電池
JP3963924B2 (ja) * 2005-07-22 2007-08-22 本田技研工業株式会社 カルコパイライト型太陽電池
CN102047431A (zh) * 2008-06-04 2011-05-04 索莱克山特公司 具有单片集成和背面接触器的薄膜太阳能电池

Also Published As

Publication number Publication date
CN100524839C (zh) 2009-08-05
DE112006000394T5 (de) 2007-12-27
US20090205715A1 (en) 2009-08-20
WO2006087914A1 (ja) 2006-08-24
JP2006228867A (ja) 2006-08-31
CN101151737A (zh) 2008-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4969785B2 (ja) カルコパイライト型太陽電池及びその製造方法
JP3963924B2 (ja) カルコパイライト型太陽電池
JP4695850B2 (ja) カルコパイライト型太陽電池
JP4629151B2 (ja) 光電変換素子及び太陽電池、光電変換素子の製造方法
KR101144810B1 (ko) 태양전지용 전극 페이스트, 이를 이용한 태양전지, 및 태양전지의 제조방법
US8916767B2 (en) Solar cell and method of fabricating the same
WO2006126590A1 (ja) カルコパイライト型太陽電池
JP2011181746A (ja) 太陽電池モジュール及び太陽電池装置
JP2004047860A (ja) 薄膜太陽電池およびその製造方法
JP2017059828A (ja) 光電変換素子および太陽電池
JP4646724B2 (ja) カルコパイライト型太陽電池
JP4664060B2 (ja) カルコパイライト型太陽電池
KR20140007085A (ko) Cigs 태양전지 제조방법
WO2014103669A1 (ja) 化合物系薄膜太陽電池及びその製造方法
KR102212042B1 (ko) 원자층 증착법으로 형성된 버퍼층을 포함하는 태양전지 및 이의 제조방법
KR101103897B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
JP5710368B2 (ja) 光電変換素子および太陽電池
JP5997044B2 (ja) 化合物系薄膜太陽電池の製造方法
KR20150135692A (ko) 원자층 증착법으로 형성된 버퍼층을 포함하는 태양전지 및 이의 제조방법
KR101162162B1 (ko) 태양전지용 전극 페이스트, 이를 이용한 태양전지, 및 태양전지의 제조방법
JP2017195419A (ja) 光電変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110906

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111102

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120403

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120404

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150