JP4954816B2 - Ni−W系中間層用スパッタリングターゲット材の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、垂直磁気記録媒体における中間層膜として用いるNi−W系中間層用スパッタリングターゲット材の製造方法に関するものである。
近年、磁気記録技術の進歩は著しく、ドライブの大容量化のために、磁気記録媒体の高記録密度化が進められている。しかしながら、現在広く世の中で使用されている面内磁気記録方式の磁気記録媒体では、高記録密度化を実現しようとすると、記録ピットが微細化し、記録ピットで記録できないほどの高保磁力が要求される。そこで、これらの問題を解決し、記録密度を向上させる手段として垂直磁気記録方式が検討されている。
この垂直磁気記録方式とは、垂直磁気記録媒体の磁性膜中の媒体面に対して磁化容易軸が垂直方向に配向するように形成したものであり、高記録密度に適した方法である。そして、垂直磁気記録方式においては、記録感度を高めた磁気記録膜層と軟磁性膜層および中間層を有する多層記録媒体が開発されている。この磁気記録膜層には一般的にCoCrPt−SiO2 系合金、軟磁性膜層にはCo−Zr−Nb系合金などが用いられている。なお、ここで言う中間層とは、一般に磁気記録膜層の結晶粒の微細化や結晶方位に異方性を持たせることを目的に設けられる非磁性層のことを言う。
中間層には各種Ni系合金や、Ta系合金、Pd系合金などが提案されており、特に、近年では、Ni−W系合金が検討されているが、製造方法としては主に鋳造法が一般的である。一般に、粉末冶金法によるスパッタリングターゲット材はミクロ組織が微細であることから、スパッタにより成膜された薄膜に均一性が高く、不良率が低いとされているが、しかし、Ni−W系合金ターゲットの粉末冶金法での製造方法については公知文献は見られない。特にスパッタリングターゲット材以外においても、Wを5at%以上含むような合金粉末を固化成形した例は見られない。
上記、Ni基合金に関連して、Wと同様に固溶強化の効果が高いCr、Moを多く含む合金粉末の固化成形技術として、例えば特開平6−248378号公報(特許文献1)に開示されているように、重量%で、C:0.03%以下、Si:0.1%以下、Mn:1.00%以下、Cr:19〜24%、Mo:15〜21%、W:1〜5%、V:0.01〜0.5%、Fe:1〜5%、Al:0.01〜0.5%、N:0.02〜0.1%であり、0.5%以下のTi及び0.5%以下のNbのいずれか1種以上または2種を含有し残部Niおよび不可避的不純物からなり、35%≦Cr+Mo≦45%の範囲となる化学成分の超耐食Ni基合金アトマイズ粉末を加工性の良好なカプセルに充填した充填体を固化工程により固化成形して成る超耐食Ni基合金が提案されている。
特開平6−248378号公報
しかしながら、上述した特許文献1に示す方法では、Ni−W合金粉末を脱気封入したビレットを1100〜1250℃の所定の固化成形温度に加熱した時点で、粉末充填部が膨張してしまう問題が頻発し、膨張したビレットから作製したスパッタリングターゲット材は残留ポアがあり、安定したスパッタリングターゲット材の作製が困難であった。この要因としての詳細は不明であるが、特許文献1にあるようなWが1〜5重量%の合金と、本発明のような5原子%を超えるような高W組成では、加熱時の挙動に差異があるものと思われる。
一般に、残留ポアを無くすには、より高温で固化成形することにより、原料粉末の軟化と焼結を促進する方法がとられる。これに対し本発明では、より低温で成形することによりビレットの膨張と残留ポアを低減していることが大きな特徴である。すなわち、固化成形温度を1150℃以下とすることで、ビレット膨張は大幅に抑えられ、1050℃以下にすることでさらに良好な効果が得られる。
上述したような問題を解消するために、発明者らは鋭意研究を重ねた結果、固化成形温度を900〜1150℃とすることで、粉末充填ビレットの膨張を大幅に抑制でき、効率よく安定した品質のNi−W系スパッタリングターゲット材を提供することにある。
その発明の要旨とするところは、
(1)at%で、W:5〜20%を含み、残部Niおよび不可避的不純物からなるスパッタリングターゲット材において、ガスアトマイズ法により作製したNi−W系合金粉末を原料粉末とし、これを900〜1150℃の温度で固化成形したことを特徴とするNi−W系中間層用スパッタリングターゲット材の製造方法にある。
(2)前記(1)に記載の固化成形温度を900〜1050℃とすることを特徴とするNi−W系中間層用スパッタリングターゲット材の製造方法にある。
以上述べたように、本発明により固化成形の際の粉末充填ビレットの膨張を抑制し、効率よく安定した品質のNi−W系スパッタリングターゲット材を製造することが出来る極めて優れた効果を奏するものである。
以下、本発明について詳細に説明する。本発明に係る成分組成として、at%で、W:5〜20%に限定した理由は、5%未満ではハードディスク用の中間層膜として用いた場合の記録特性が悪く、また、20%を超える場合もハードディスク用の中間層膜としての記録特性が劣化することから、その範囲を5〜20%とした。好ましくは6〜15%とする。
固化成形温度を900〜1150℃とした理由は、Ni−W系合金粉末充填ビレットの膨張を大幅に抑制することが出来るものである。しかし、固化成形温度が900℃未満では、Ni−W系合金粉末が充分に軟化せず、成形後の相対密度が低くなる。また、固化成形温度が1150℃を超えると、粉末充填ビレットが膨張する確率が大幅に上がってしまうことから、その範囲を900〜1150℃とした。好ましくは900〜1100℃、より好ましくは900〜1050℃とする。
以下、本発明について実施例によって具体的に説明する。
表1に示す成分組成のW−Niからなる溶解母材の25kgをアルミナ坩堝にてアルゴン中で誘導溶解し、坩堝底部の径5mm出湯ノズルより、1700℃にて出湯し、噴霧圧0.7MPaのArガスアトマイズにて粉末を製造した。作製したNi−W合金粉末を、外径205mm、内径190mm、長さ300mmのSC缶に脱気封入した。脱気時の真空到達度は約1.3×10-2Pa(約1×10-4Torr)とした。上記の粉末充填ビレットを、HIP(熱間静水圧プレス)処理の場合は850〜1250℃、147MPaにてHIP成形した。また、アップセットでの場合は、上記の粉末充填ビレットを、850〜1250℃に加熱した後、径215mmの拘束型コンテナ内に挿入し、500MPaの圧力で成形した。
Figure 0004954816
なお、表1に示すビレット膨張の評価として、HIP成形材については、HIP成形後のビレットの外観で評価した。また、アップセット材については、加熱したビレットを、加熱炉から出した時点でのビレット外観で評価した。また、相対密度はアルキメデス法により測定した結果を示す。
表1に示すように、No.1〜13は本発明例であり、No.14〜19は比較例である。比較例No.14、および17は成形温度が低いために、相対密度が低い。比較例No.15、16、18、19はいずれもビレットが膨張する確率が75%(3/4)以上と高い。これに対し、本発明例であるNo.1〜13のいずれも成形温度が本発明の条件を満足していることから、成形時のビレットの膨張を抑制することが出来ていることが分かる。
以上のように、垂直磁気記録媒体における中間層膜として用いるNi−W系中間用スパッタリングターゲット材の製造方法において、Ni−W系粉末を固化成形する場合、900〜1150℃にて成形することにより、ビレットの膨張が無く、安定して高密度なNiWターゲット材を作製することが可能となった。


特許出願人 山陽特殊製鋼株式会社
代理人 弁理士 椎 名 彊

Claims (2)

  1. at%で、W:5〜20%を含み、残部Niおよび不可避的不純物からなるスパッタリングターゲット材において、ガスアトマイズ法により作製したNi−W系合金粉末を原料粉末とし、これを900〜1150℃の温度で固化成形したことを特徴とするNi−W系中間層用スパッタリングターゲット材の製造方法。
  2. 請求項1に記載の固化成形温度を900〜1050℃とすることを特徴とするNi−W系中間層用スパッタリングターゲット材の製造方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5305137B2 (ja) * 2007-12-05 2013-10-02 日立金属株式会社 垂直磁気記録媒体のNi合金中間層を形成するためのNi−W系焼結ターゲット材
EP2431494B1 (en) * 2009-04-17 2013-11-06 JX Nippon Mining & Metals Corporation Barrier film for semiconductor wiring, sintered sputtering target, and method of manufacturing sputtering targets
KR20100121258A (ko) 2009-05-08 2010-11-17 삼성전자주식회사 스퍼터링 타겟 및 이를 이용하여 제조되는 반도체 소자
AT14157U1 (de) 2013-12-20 2015-05-15 Plansee Se W-Ni-Sputtertarget
CN104561626B (zh) * 2015-01-13 2017-05-31 西安理工大学 一种快速制备细晶钨钛合金的方法
CN109825752A (zh) * 2019-03-22 2019-05-31 陕西瑞有金属科技有限公司 一种低熔点镍钨中间合金及其制备工艺
CN110885963B (zh) * 2019-10-09 2022-03-04 安泰天龙钨钼科技有限公司 一种钨镍合金靶材及其制备方法
CN111172428A (zh) * 2020-01-16 2020-05-19 深圳市金中瑞通讯技术有限公司 一种高纯镍粉及其制备方法
CN114540754A (zh) * 2022-04-02 2022-05-27 西南科技大学 一种Cu/Ti-W/陶瓷复合材料及其制备方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06122138A (ja) * 1992-10-13 1994-05-06 Hitachi Metals Ltd プラスチック成形機用複合シリンダ
JP2793462B2 (ja) * 1993-02-23 1998-09-03 山陽特殊製鋼株式会社 超耐食Ni基合金
US20020127380A1 (en) * 1996-02-26 2002-09-12 Tadakatsu Suzuki Low-reflective thin-film substrate
US6174598B1 (en) * 1997-09-30 2001-01-16 Showa Denko Kabushiki Kaisha Magnetic recording medium, non-magnetic alloy film and sputtering target
JP2000169923A (ja) * 1998-12-04 2000-06-20 Sumitomo Metal Mining Co Ltd W−Ni系ターゲット材料、電極材料、及び実装部品
US20030031928A1 (en) * 1999-05-20 2003-02-13 Saint-Gobain Vitrage Electrochemical device
JP4175829B2 (ja) * 2002-04-22 2008-11-05 株式会社東芝 記録媒体用スパッタリングターゲットと磁気記録媒体
DE602004026281D1 (ja) * 2003-03-04 2010-05-12 Nippon Mining Co
WO2005041290A1 (ja) * 2003-10-24 2005-05-06 Nikko Materials Co., Ltd. ニッケル合金スパッタリングターゲット及びニッケル合金薄膜
JP2006322039A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Sumitomo Metal Mining Co Ltd スパッタリングターゲット
CN100374596C (zh) * 2006-05-19 2008-03-12 北京工业大学 Ni基合金复合基带及其粉末冶金制备方法
WO2008124436A1 (en) * 2007-04-06 2008-10-16 American Superconductor Corporation Composite substrates for high temperature superconductors having improved properties

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