JP4915348B2 - 光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム - Google Patents
光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム Download PDFInfo
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Description
但し、共振型ガルバノスキャナは、スキャンミラーを固有の共振周波数で正弦波で回転し、制御型ガルバノスキャナのように回転中心や回転速度を自由に変更できない。
非特許文献1では、共振型ガルバノスキャナ及び制御型ガルバノスキャナが二者択一に選択可能に配置されている。したがって、高速イメージングが必要なときには前者を光路に配置し、走査範囲を設定する必要のあるときには後者を光路に配置すればよい。
また、本発明は、本発明の光走査型顕微鏡を有効利用した観察方法、制御装置、及び制御プログラムを提供することを目的とする。
なお、前記光路切替手段は、前記3つのミラースキャナ以外の光学部材の挿脱又は回転により前記切り替えを行うことが望ましい。
また、前記最も高速なミラースキャナ及び前記他のミラースキャナと前記被走査面との間には、その被走査面へ向かう光を集光する集光レンズが配置され、前記最も高速なミラースキャナの配置位置と前記他のミラースキャナの配置位置との双方は、前記集光レンズの瞳と略共役に設定されることが望ましい。
なお、前記検出手段は、前記被観察面上で発生した光を共焦点検出してもよい。
また、本発明の観察方法は、本発明の光走査型顕微鏡を利用した観察方法であって、前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順とを含むことを特徴とする。
本発明の第1実施形態を説明する。本実施形態は、レーザ走査型顕微鏡システムの実施形態である。
先ず、本システムの構成を説明する。
図1は、本システムの構成図である。図1に示すとおり、本システムには、レーザ走査型顕微鏡1、コンピュータ2、ディスプレイ3、入力器4などが配置される。
光路切替機構14は、切替ミラー14Mと、それを光路に対し挿脱するソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータ14aとを備える。また、光路切替機構15も、切替ミラー15Mと、それを光路に対し挿脱するソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータ15aとを備える。これらアクチュエータ14a,15aを介して光路切替機構14,15を駆動すれば、レーザ走査型顕微鏡1を、以下に説明する高速走査モードと自由走査モードとの間で高速に切り替えることができる。
しかも、本レーザ走査型顕微鏡1が自由走査モードに設定されている期間は、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効になるので、共振型ガルバノスキャナ19Xを常時スタンバイさせておくこと(すなわち、スキャンミラー19MXの振動を安定状態に保っておくこと)が可能である。したがって、本レーザ走査型顕微鏡1では、従来例のようなタイムラグは無くなり、切り替えがスムーズである。
ここで、本レーザ走査型顕微鏡1の光路切替機構14,15、光変調器11A、共振型ガルバノスキャナ19X、制御型ガルバノスキャナ16X,16Y、光検出器13などの各部は、コンピュータ2によって制御される。
図3は、光刺激観察処理の流れを示すフローチャートである。図3の右側に示す図は、各ステップにおける試料18の様子を示す模式図である。
図3に示すとおり、光刺激観察処理は、光刺激前のイメージング(ステップS1)、光刺激(ステップS2)、光刺激後のイメージング(ステップS3)を連続して実行するものである。これらステップを順に説明する。
コンピュータ2は、予め、共振型ガルバノスキャナ19Xをスタンバイさせておき(ステップS11)、その後、レーザ走査型顕微鏡1を高速走査モードに設定して共振型ガルバノスキャナ19Xを有効にする(ステップS12)。続いて、コンピュータ2は、光源11を低輝度(イメージングに適した輝度)でオンして高速イメージング(共振型ガルバノスキャナ19Xと制御型ガルバノスキャナ16Yとによる。)を行い(ステップS13)、イメージングが終了した時点で光源11をオフする(ステップS14)。なお、このときに作成された試料18の画像は、ディスプレイ3に表示される。ユーザは、そのディスプレイ3を目視しながら、試料18上の任意の位置を、入力器4を介してコンピュータ2に対し指定する。
続いて、コンピュータ2は、レーザ走査型顕微鏡1を自由走査モードに切り替えて共振型ガルバノスキャナ19Xを無効にする(ステップS21)。また、コンピュータ2は、制御型ガルバノスキャナ16X,16Yに対し指示を与え、試料18上のスポットの位置がユーザの指定した位置に一致するようスキャンミラー16MX,16MYの配置角度を調整する(ステップS22)。調整が完了すると、コンピュータ2は、光源11を高輝度(光刺激に適した輝度)でオンして試料18の光刺激を行い(ステップS23)、光刺激が終了した時点で、光源11をオフする(ステップS24)。
続いて、コンピュータ2は、レーザ走査型顕微鏡1を再び高速走査モードに替え、共振型ガルバノスキャナ19Xを有効にする(ステップS31)。続いて、コンピュータ2は、光源11を低輝度(イメージングに適した輝度)でオンして高速イメージング(共振型ガルバノスキャナ19Xと制御型ガルバノスキャナ16Yとによる。)を開始する(ステップS32)。この高速イメージングは連続して行われ、そのときに作成される試料18の画像は、ディスプレイ3へ順次表示される。ユーザは、そのディスプレイ3を目視しながら、光刺激後の試料18の状態変化を観察する。
なお、本実施形態の光刺激観察処理では、試料18上の光刺激箇所が1点であったが、試料18上の一部の領域としてもよい。その場合、ステップS23において制御型ガルバノスキャナ16X,16Yを同期制御し、その領域を光走査すればよい。
また、ビームスプリッタ12の代わりにダイクロイックミラーを使用し、そのダイクロイックミラー周辺の必要な箇所にフィルタを挿入し、さらに、予め試料18を蛍光物質で標識しておけば、試料18を蛍光観察することもできる。
[第2実施形態]
本発明の第2実施形態を説明する。本実施形態は、第1実施形態のレーザ走査型顕微鏡1の変形例である。ここでは、相違点のみ説明する。
このレーザ走査型顕微鏡では、光路折り曲げミラー21が用いられ、共振型ガルバノスキャナ19Xが有効となる光路と、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効となる光路との分岐/統合箇所が1つになっており、そこへ切替ミラー14M’が挿入される。切替ミラー14M’の反射面は、両面反射面であり、ソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータによって高速に90°回転可能である。この切替ミラー14M’とアクチュエータとが本実施形態の光路切替機構である。
[第3実施形態]
本発明の第3実施形態を説明する。本実施形態は、第2実施形態のレーザ走査型顕微鏡の変形例である。ここでは、相違点のみ説明する。
このレーザ走査型顕微鏡でも、共振型ガルバノスキャナ19Xが有効となる光路と、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効となる光路との分岐/統合箇所とが1つになっており、そこへ切替ミラー14M”が配置される。切替ミラー14M”は、ソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータによって、光路に対し挿脱可能である。この切替ミラー14M”とアクチュエータとが本実施形態の光路切替機構である。
このようなレーザ走査型顕微鏡においても、第2実施形態のそれと同じ効果が得られる。
Claims (7)
- 所定の位置関係で配置された少なくとも3つのミラースキャナと、
光源から被走査面へ向かう光の光路である光走査用の光路を、前記3つのミラースキャナの全てを経由する第1光路と、前記3つのミラースキャナのうち最も高速なミラースキャナを経由せず他のミラースキャナを経由する第2光路との間で切り替える光路切替手段とを備え、
前記光路切替手段は、
前記3つのミラースキャナの位置関係を維持したまま、前記3つのミラースキャナ以外の光学部材の挿脱又は回転により前記光の進路を変更することで、前記切り替えを行い、
前記最も高速なミラースキャナは、
主走査用の1つの共振型ガルバノスキャナからなり、
前記他のミラースキャナは、
主走査用及び副走査用の1対の制御型ガルバノスキャナからなる
ことを特徴とする光走査装置。 - 請求項1に記載の光走査装置において、
前記最も高速なミラースキャナ及び前記他のミラースキャナと前記被走査面との間には、その被走査面へ向かう光を集光する集光レンズが配置され、
前記最も高速なミラースキャナの配置位置と前記他のミラースキャナの配置位置との双方は、前記集光レンズの瞳と略共役に設定される
ことを特徴とする光走査装置。 - 前記被走査面として被観察面上を走査する請求項2に記載の光走査装置と、
前記被観察面上で発生した光を検出する検出手段と
を備えたことを特徴とする光走査型顕微鏡。 - 請求項3に記載の光走査型顕微鏡において、
前記検出手段は、
前記被観察面上で発生した光を共焦点検出する
ことを特徴とする光走査型顕微鏡。 - 請求項3又は請求項4に記載の光走査型顕微鏡を利用した観察方法であって、
前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、
前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、
前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順と
を含むことを特徴とする観察方法。 - 請求項3又は請求項4に記載の光走査型顕微鏡に適用される制御装置であって、
前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、
前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、
前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順と
を実行することを特徴とする制御装置。 - 請求項3又は請求項4に記載の光走査型顕微鏡に接続されるコンピュータ用の制御プログラムであって、
前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、
前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、
前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順と
を前記コンピュータに実行させることを特徴とする制御プログラム。
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DE102007047464B4 (de) * | 2007-09-28 | 2023-03-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zur Photomanipulation |
US8493289B2 (en) * | 2007-11-05 | 2013-07-23 | Texas Instruments Incorporated | Scanning mirror based display system and method |
JP5176521B2 (ja) * | 2007-12-13 | 2013-04-03 | 株式会社ニコン | レーザ走査顕微鏡 |
JP5190603B2 (ja) * | 2008-08-28 | 2013-04-24 | ナノフォトン株式会社 | 光学顕微鏡、及び観察方法 |
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JP5639182B2 (ja) * | 2009-11-02 | 2014-12-10 | オリンパス株式会社 | ビームスプリッタ装置、光源装置および走査型観察装置 |
WO2011056749A1 (en) * | 2009-11-03 | 2011-05-12 | Intelligent Imaging Innovations, Inc. | Fast, modular port switcher for an optical microscope using a galvanometer |
US9176312B2 (en) | 2011-10-14 | 2015-11-03 | Intelligent Imaging Innovations, Inc. | Fast, modular port switcher for an optical microscope using a galvanometer |
JP6117227B2 (ja) * | 2011-11-15 | 2017-04-19 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション | 顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム |
DE102011087196A1 (de) * | 2011-11-28 | 2013-05-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren |
DE102012203736A1 (de) | 2012-03-09 | 2013-09-12 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtrastermikroskop mit spektraler Detektion |
CN103190889B (zh) * | 2013-04-17 | 2014-10-29 | 北京大学 | 一种实时可调谐共聚焦显微成像系统 |
DE102014017002A1 (de) * | 2014-11-12 | 2016-05-12 | Carl Zeiss Ag | Laser-Scanning-Mikroskop |
US20160302740A1 (en) * | 2015-04-03 | 2016-10-20 | Vidrio Technologies, Llc | Compact scanner assembly with a resonant scanner and two galvanometer scanners for multi region of interest (mroi) imaging and targeting of intact tissue |
JP6611546B2 (ja) * | 2015-10-09 | 2019-11-27 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
WO2018083772A1 (ja) * | 2016-11-02 | 2018-05-11 | 株式会社ニコン | 顕微鏡システム |
JP6885735B2 (ja) * | 2017-01-23 | 2021-06-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 走査装置 |
DE102017119480A1 (de) | 2017-08-25 | 2019-02-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop |
DE102017119479A1 (de) | 2017-08-25 | 2019-02-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop |
DE102017119478A1 (de) * | 2017-08-25 | 2019-02-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop |
EP3652555B1 (en) * | 2017-08-31 | 2024-03-06 | SZ DJI Technology Co., Ltd. | A solid state light detection and ranging (lidar) system system and method for improving solid state light detection and ranging (lidar) resolution |
JP7114272B2 (ja) * | 2018-02-28 | 2022-08-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | ライトシート顕微鏡及び試料観察方法 |
CN112074767B (zh) * | 2018-05-03 | 2022-04-01 | 统雷有限公司 | 用于三种光学扫描镜的激光扫描头设计 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61219919A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-09-30 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JPH05164980A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ビーム走査装置 |
JPH10206742A (ja) * | 1996-11-21 | 1998-08-07 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
WO2003041904A1 (fr) * | 2001-11-15 | 2003-05-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Appareil d'usinage a faisceau laser |
JP2005017642A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04184412A (ja) * | 1990-11-20 | 1992-07-01 | Citizen Watch Co Ltd | 光ビームの走査装置 |
US5283433A (en) | 1992-10-05 | 1994-02-01 | The Regents Of The University Of California | Scanning confocal microscope providing a continuous display |
JP3343276B2 (ja) * | 1993-04-15 | 2002-11-11 | 興和株式会社 | レーザー走査型光学顕微鏡 |
JPH0743631A (ja) * | 1993-08-02 | 1995-02-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 共振型光偏向器を用いた走査装置 |
DE19654210C2 (de) * | 1996-12-24 | 1999-12-09 | Leica Microsystems | Optische Anordnung zum Scannen eines Strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Achsen |
JP3945951B2 (ja) * | 1999-01-14 | 2007-07-18 | 日立ビアメカニクス株式会社 | レーザ加工方法およびレーザ加工機 |
JP2003136270A (ja) * | 2001-11-02 | 2003-05-14 | Hitachi Via Mechanics Ltd | レーザ加工装置 |
DE10209322A1 (de) * | 2002-03-02 | 2003-09-25 | Leica Microsystems | Vorrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahles und Scanmikroskop |
JP2004138947A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Keyence Corp | 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム |
DE102004011770B4 (de) * | 2004-03-09 | 2005-12-15 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Mikroskop |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61219919A (ja) * | 1985-03-27 | 1986-09-30 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JPH05164980A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ビーム走査装置 |
JPH10206742A (ja) * | 1996-11-21 | 1998-08-07 | Olympus Optical Co Ltd | レーザ走査顕微鏡 |
WO2003041904A1 (fr) * | 2001-11-15 | 2003-05-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Appareil d'usinage a faisceau laser |
JP2005017642A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡 |
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Publication number | Publication date |
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