JP4915348B2 - 光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム - Google Patents

光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム Download PDF

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Description

本発明は、光走査装置及びそれを用いた光走査型顕微鏡に関する。また、本発明は、その光走査型顕微鏡を利用した観察方法、制御装置及び制御プログラムに関する。
従来、レーザ走査型共焦点顕微鏡のイメージング速度向上のため、共振型ガルバノスキャナの使用が提案された(特許文献1など参照)。共振型ガルバノスキャナは、振動系の共振周波数でスキャンミラーを振動させるので、その振動数を制御型ガルバノスキャナの10倍以上に高めることが可能である。
但し、共振型ガルバノスキャナは、スキャンミラーを固有の共振周波数で正弦波で回転し、制御型ガルバノスキャナのように回転中心や回転速度を自由に変更できない。
そこで、共振型ガルバノスキャナと制御型ガルバノスキャナとの双方を搭載した光走査装置が提案された(非特許文献1,特許文献2など参照)。
非特許文献1では、共振型ガルバノスキャナ及び制御型ガルバノスキャナが二者択一に選択可能に配置されている。したがって、高速イメージングが必要なときには前者を光路に配置し、走査範囲を設定する必要のあるときには後者を光路に配置すればよい。
一方、特許文献2では、共振型ガルバノスキャナの振動系が制御型ガルバノスキャナの振動系に組み込まれているので、同一のスキャンミラーを共振型の振動系及び制御型の振動系の双方で振動させることが可能である。したがって、高速イメージングが必要なときには共振型の振動系を駆動し、走査範囲を設定する必要のあるときには制御型の振動系を駆動すればよい。
特開平6−201999号公報 特開2005−17642号公報 Leica Microsystems catalog "Tandem Scanner TCS SP5", Order no:1593102108, August 2005, Leica Microsystems
しかしながら、非特許文献1では、スキャナを移動させる必要があるので、切り替えに時間を要する。一方、特許文献2では、スキャナを移動させる必要が無いものの、共振型ガルバノスキャナの振動系は、駆動開始から振動状態が安定するまでに時間が掛かり、駆動停止から振動が無くなるまでにも時間が掛かるので、切り替え後、実際に観察が可能となるまでに数秒程度のタイムラグが生じる。
そこで本発明は、自由走査と高速走査との間の切り替えをスムーズに行うことの可能な光走査装置、及びそれを用いた光走査型顕微鏡を提供することを目的とする。
また、本発明は、本発明の光走査型顕微鏡を有効利用した観察方法、制御装置、及び制御プログラムを提供することを目的とする。
本発明の光走査装置は、所定の位置関係で配置され少なくとも3つのミラースキャナと、光源から被走査面へ向かう光の光路である光走査用の光路を、前記3つのミラースキャナの全てを経由する第1光路と、前記3つのミラースキャナのうち最も高速なミラースキャナを経由せず他のミラースキャナを経由する第2光路との間で切り替える光路切替手段とを備え、前記光路切替手段は、前記3つのミラースキャナの位置関係を維持したまま前記光の進路を変更することで前記切り替えを行う。
なお、前記光路切替手段は、前記3つのミラースキャナ以外の光学部材の挿脱又は回転により前記切り替えを行うことが望ましい。
また、前記他のミラースキャナは、主走査用及び副走査用の1対の制御型ガルバノスキャナからなり、前記最も高速なミラースキャナは、主走査用の1つの共振型ガルバノスキャナからなることが望ましい。
また、前記最も高速なミラースキャナ及び前記他のミラースキャナと前記被走査面との間には、その被走査面へ向かう光を集光する集光レンズが配置され、前記最も高速なミラースキャナの配置位置と前記他のミラースキャナの配置位置との双方は、前記集光レンズの瞳と略共役に設定されることが望ましい。
また、本発明の光走査型顕微鏡は、前記被走査面として被観察面上を走査する前記光走査装置と、前記被観察面上で発生した光を検出する検出手段とを備えたことを特徴とする。
なお、前記検出手段は、前記被観察面上で発生した光を共焦点検出してもよい。
また、本発明の観察方法は、本発明の光走査型顕微鏡を利用した観察方法であって、前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順とを含むことを特徴とする。
本発明の制御装置は、本発明の光走査型顕微鏡に適用される制御装置であって、前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順とを実行することを特徴とする。
本発明の制御プログラムは、本発明の光走査型顕微鏡に接続されるコンピュータ用の制御プログラムであって、前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順とを前記コンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明によれば、自由走査と高速走査との間の切り替えをスムーズに行うことの可能な光走査装置、及びそれを用いた光走査型顕微鏡が実現する。また、本発明は、本発明の光走査型顕微鏡を有効利用した観察方法、そのための制御装置、及び制御プログラムが実現する。
第1実施形態のシステムの構成図である。 高速走査モード及び自由走査モードを説明する図である。 光刺激観察処理の流れを示すフローチャートである。 第2実施形態のレーザ走査型顕微鏡の構成図である。 第3実施形態のレーザ走査型顕微鏡の構成図である。
[第1実施形態]
本発明の第1実施形態を説明する。本実施形態は、レーザ走査型顕微鏡システムの実施形態である。
先ず、本システムの構成を説明する。
図1は、本システムの構成図である。図1に示すとおり、本システムには、レーザ走査型顕微鏡1、コンピュータ2、ディスプレイ3、入力器4などが配置される。
レーザ走査型顕微鏡1には、単色又は準単色の光源11、光変調器11A、ビームスプリッタ12、光検出器13、主走査用(X走査用)の制御型ガルバノスキャナ16X、副走査用(Y走査用)の制御型ガルバノスキャナ16Y、集光レンズ17、試料(被観察物)18、主走査用(X走査用)の共振型ガルバノスキャナ19X、リレー光学系20、光路切替機構14、15、不図示の光路折り曲げミラーなどが配置される。
光変調器11Aは、音響光学素子(AOM)などからなり、光源11のオン/オフ制御や輝度設定を高速に行うための手段である。この光変調器11Aは、少なくとも、光源11の輝度を、後述するイメージングに適した輝度(低輝度)と、後述する光刺激に適した輝度(高輝度)との2段階に調節することができる。
光路切替機構14は、切替ミラー14Mと、それを光路に対し挿脱するソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータ14aとを備える。また、光路切替機構15も、切替ミラー15Mと、それを光路に対し挿脱するソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータ15aとを備える。これらアクチュエータ14a,15aを介して光路切替機構14,15を駆動すれば、レーザ走査型顕微鏡1を、以下に説明する高速走査モードと自由走査モードとの間で高速に切り替えることができる。
レーザ走査型顕微鏡1を高速走査モードに設定するには、切替ミラー14M,15Mの双方を、図中に実線で示すように光路へ挿入すればよい。このとき、共振型ガルバノスキャナ19Xが有効となり、光源11からの射出光は、光変調器11A、ビームスプリッタ12、光路切替機構14、共振型ガルバノスキャナ19X、リレー光学系20、光路切替機構15、制御型ガルバノスキャナ16X、制御型ガルバノスキャナ16Y、及び集光レンズ17を順に経由して試料18上に集光してスポットを形成する。なお、図1の光路配置では、制御ガルバノスキャナ16Yと集光レンズ17との間に光路折り曲げミラーが必要となるが、図示省略した。このときに試料18上のスポットで発生した光は、同じ光路をビームスプリッタ12まで戻ると、光検出器13の側へ導光され、その光検出器13にて検出される。
なお、制御型ガルバノスキャナ16Xのスキャンミラー16MXの配置位置と、制御型ガルバノスキャナ16Yのスキャンミラー16MYの配置位置とは、それぞれ集光レンズ17の瞳と共役に設定されている必要がある。そのため、ここでは、スキャンミラー16MX及びスキャンミラー16MYは、互いに近接し、かつ集光レンズ17の瞳の近傍に位置しているものとする。また、共振型ガルバノスキャナ19Xのスキャンミラー19MXの配置位置も、集光レンズ17の瞳と共役に設定されている必要がある。そのため、ここでは、リレー光学系20により、スキャンミラー19MXの配置位置と集光レンズ17の瞳(又はスキャンミラー16MX,16MYの中間)とが共役関係に結ばれているものとする。
さて、この高速走査モードにおいて、共振型ガルバノスキャナ19Xのスキャンミラー19MXが回転すると、試料18上のスポットは主走査方向(X方向)に往復移動する。因みに、共振型なので、その回転振動数は、例えば10kHzと高い。また、この高速走査モードにおいて、制御型ガルバノスキャナ16Xのスキャンミラー16MXの配置角度を変化させると、試料18上のスポットは主走査方向(X方向)に移動し、制御型ガルバノスキャナ16Yのスキャンミラー16MYの配置角度を変化させると、試料18上のスポットは副走査方向(Y方向)に移動する。因みに、制御型なので、その回転振動数は、例えば最高で1kHz程度と低い。
したがって、高速走査モードでは、制御型ガルバノスキャナ16Xのスキャンミラー16MXの配置角度を基準角度で固定させると共に、共振型ガルバノスキャナ19X、制御型ガルバノスキャナ16Y、光検出器13、光変調器11Aを同期制御すれば、試料18の高速イメージングを行うことができる(図2(A)参照)。因みに、この高速走査モードでは、スキャンミラー16MXの配置角度を任意の角度で固定すると共に、スキャンミラー16MYの角度変化範囲の中心を任意の角度に制御すれば、試料18上の光走査範囲を任意にずらす(オフセットする)こともできる。
一方、レーザ走査型顕微鏡1を自由走査モードに設定するには、切替ミラー14M,15Mの双方を、図中に点線で示すように光路から離脱すればよい。このとき、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効となり、光源11からの射出光は、光変調器11A、ビームスプリッタ12、制御型ガルバノスキャナ16X、制御型ガルバノスキャナ16Y、及び集光レンズ17を順に経由して試料18上に集光してスポットを形成する。そのスポットで発生した光は、同じ光路をビームスプリッタ12まで戻ると、光検出器13の側へ導光される。
この自由走査モードにおいては、共振型ガルバノスキャナ19Xのスキャンミラー19MXが振動しても、試料18上のスポットは何ら変化しないが、制御型ガルバノスキャナ16Xのスキャンミラー16MX、又は制御型ガルバノスキャナ16Yのスキャンミラー16MYの配置角度を変化させると、試料18上のスポットは主走査方向(X方向)又は副走査方向(Y方向)に移動する。
したがって、自由走査モードでは、制御型ガルバノスキャナ16X、制御型ガルバノスャナ16Y、光検出器13、光変調器11Aを同期制御すれば、試料18の低速イメージングを行うことができる(図2(B)参照)。さらに、その際に、制御型ガルバノスキャナ16Xのスキャンミラー16MXの角度変化範囲と、制御型ガルバノスキャナ16Yのスキャンミラー16MYの角度変化範囲とを制御すれば、試料18上の光走査範囲の中心位置及びサイズを、任意に設定することができる(図2(C)参照)。さらに、スキャンミラー16MXの配置角度とスキャンミラー16MYの配置角度とを任意の角度で固定すれば、試料18上のスポットを任意の1点に固定させることも可能である(図2(D)参照)。
以上、本レーザ走査型顕微鏡1では、高速走査モードと自由走査モードとの間の切り替えは、光路切替機構14,15の駆動によって行われ、ガルバノスキャナの移動を伴わない。したがって、その切り替えに要する時間は短く抑えられる。
しかも、本レーザ走査型顕微鏡1が自由走査モードに設定されている期間は、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効になるので、共振型ガルバノスキャナ19Xを常時スタンバイさせておくこと(すなわち、スキャンミラー19MXの振動を安定状態に保っておくこと)が可能である。したがって、本レーザ走査型顕微鏡1では、従来例のようなタイムラグは無くなり、切り替えがスムーズである。
また、本レーザ走査顕微鏡1では、共振型ガルバノスキャナ19Xと制御型ガルバノスキャナ16X,16Yとが直列の関係に配置されるので、高速走査モード時に、試料18上の光走査範囲(つまり高速イメージング範囲)を、任意にオフセットすることが可能である。
ここで、本レーザ走査型顕微鏡1の光路切替機構14,15、光変調器11A、共振型ガルバノスキャナ19X、制御型ガルバノスキャナ16X,16Y、光検出器13などの各部は、コンピュータ2によって制御される。
コンピュータ2は、入力器4を介してユーザから入力される指示に従って各部を制御し、共振型ガルバノスキャナ19Xをスタンバイさせたまま上述したモード切り替えの処理を実行する。また、コンピュータ2は、高速走査モードでの高速イメージング、自由走査モードでの低速イメージング、それらイメージングで作成された画像の保存、ディスプレイ3への画像の表示などの各処理も実行する。また、コンピュータ2は、ユーザから光刺激観察の指示があると、以下に説明する光刺激観察処理を実行する。なお、各処理に必要な制御プログラムは、コンピュータ2に対し予めインストールされている。
次に、コンピュータ2による光刺激観察処理を説明する。
図3は、光刺激観察処理の流れを示すフローチャートである。図3の右側に示す図は、各ステップにおける試料18の様子を示す模式図である。
図3に示すとおり、光刺激観察処理は、光刺激前のイメージング(ステップS1)、光刺激(ステップS2)、光刺激後のイメージング(ステップS3)を連続して実行するものである。これらステップを順に説明する。
光刺激前のイメージング(ステップS1):
コンピュータ2は、予め、共振型ガルバノスキャナ19Xをスタンバイさせておき(ステップS11)、その後、レーザ走査型顕微鏡1を高速走査モードに設定して共振型ガルバノスキャナ19Xを有効にする(ステップS12)。続いて、コンピュータ2は、光源11を低輝度(イメージングに適した輝度)でオンして高速イメージング(共振型ガルバノスキャナ19Xと制御型ガルバノスキャナ16Yとによる。)を行い(ステップS13)、イメージングが終了した時点で光源11をオフする(ステップS14)。なお、このときに作成された試料18の画像は、ディスプレイ3に表示される。ユーザは、そのディスプレイ3を目視しながら、試料18上の任意の位置を、入力器4を介してコンピュータ2に対し指定する。
光刺激(ステップS2):
続いて、コンピュータ2は、レーザ走査型顕微鏡1を自由走査モードに切り替えて共振型ガルバノスキャナ19Xを無効にする(ステップS21)。また、コンピュータ2は、制御型ガルバノスキャナ16X,16Yに対し指示を与え、試料18上のスポットの位置がユーザの指定した位置に一致するようスキャンミラー16MX,16MYの配置角度を調整する(ステップS22)。調整が完了すると、コンピュータ2は、光源11を高輝度(光刺激に適した輝度)でオンして試料18の光刺激を行い(ステップS23)、光刺激が終了した時点で、光源11をオフする(ステップS24)。
光刺激後のイメージング(ステップS3):
続いて、コンピュータ2は、レーザ走査型顕微鏡1を再び高速走査モードに替え、共振型ガルバノスキャナ19Xを有効にする(ステップS31)。続いて、コンピュータ2は、光源11を低輝度(イメージングに適した輝度)でオンして高速イメージング(共振型ガルバノスキャナ19Xと制御型ガルバノスキャナ16Yとによる。)を開始する(ステップS32)。この高速イメージングは連続して行われ、そのときに作成される試料18の画像は、ディスプレイ3へ順次表示される。ユーザは、そのディスプレイ3を目視しながら、光刺激後の試料18の状態変化を観察する。
以上、本実施形態の光刺激観察処理では、コンピュータ2は、レーザ走査型顕微鏡1を自由走査モードに設定して光刺激(ステップS2)を行い、その直後に高速走査モードに切り替え(ステップS31)て高速イメージング(ステップS32)を開始する。また、その切り替え(ステップS31)に先立ち、コンピュータ2は、予め、共振型ガルバノスキャナ19Xをスタンバイさせておく(ステップS11)。
よって、そのモード切り替えは、スムーズに行われる。実際、光刺激(ステップS23)が終了してから次に高速イメージングが開始されるまで(ステップS32)の時間差は、モード切り替えに要する時間のみに抑えられる。したがって、本光刺激観察処理によれば、光刺激直後の試料18の反応(図3の模式図を参照。)を、確実に捉えることができる。
しかも、この光刺激観察処理では、光刺激後に高速イメージングが連続して行われるので(ステップS32)、光刺激後の試料18の変化を詳細に観察することができる。例えば、高速イメージングによると、例えば、1フレーム分の画像サイズを512画素×512画素とした場合、フレーム速度を30フレーム/秒程度に高めることができる。
なお、本実施形態の光刺激観察処理では、試料18上の光刺激箇所が1点であったが、試料18上の一部の領域としてもよい。その場合、ステップS23において制御型ガルバノスキャナ16X,16Yを同期制御し、その領域を光走査すればよい。
また、本実施形態の光刺激観察処理では、光刺激とイメージングとに同じ波長の光を用いたが、異なる波長の光を用いてもよい。その場合、光源11として白色光源を使用し、光変調器11Aとして音響光学波長可変フィルタ(AOTF)などの波長設定可能な手段を使用するとよい。そうすれば、ステップS23において波長を変更することが可能となる。或いは、予め波長の異なる複数の光源を用意し、それらを切り替えて使用してもよい。つまり、試料18の種類、光刺激用の光、及び光刺激する範囲をそれぞれ適切に選択すれば、FRAP,FLIP,フォトアクチベーションなどの様々な光刺激観察を行うことができる。
また、レーザ走査型顕微鏡1においては、光検出器13の前側にピンホール板を配置すると共に、かつそのピンホールと試料18上の光の集光面とを共役に結ぶ集光レンズを配置すれば、試料18を共焦点観察することができる。
また、ビームスプリッタ12の代わりにダイクロイックミラーを使用し、そのダイクロイックミラー周辺の必要な箇所にフィルタを挿入し、さらに、予め試料18を蛍光物質で標識しておけば、試料18を蛍光観察することもできる。
また、本システムにおいては、コンピュータ2の動作の一部又は全部を実行する、レーザ走査型顕微鏡1に専用の制御装置が用いられてもよい。また、コンピュータ2の動作の一部又は全部を、ユーザが手動で行ってもよい。但し、コンピュータや制御装置に実行させた方が、より高い効果が得られる。
[第2実施形態]
本発明の第2実施形態を説明する。本実施形態は、第1実施形態のレーザ走査型顕微鏡1の変形例である。ここでは、相違点のみ説明する。
図4は、本実施形態のレーザ走査型顕微鏡の構成図である。図4において、図1に示す要素と同じものには同じ符号を付した。また、1対の制御型ガルバノスキャナ16X,16Yを1つの記号で表した。
このレーザ走査型顕微鏡では、光路折り曲げミラー21が用いられ、共振型ガルバノスキャナ19Xが有効となる光路と、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効となる光路との分岐/統合箇所が1つになっており、そこへ切替ミラー14M’が挿入される。切替ミラー14M’の反射面は、両面反射面であり、ソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータによって高速に90°回転可能である。この切替ミラー14M’とアクチュエータとが本実施形態の光路切替機構である。
このレーザ走査型顕微鏡を高速走査モードに設定するには、切替ミラー14M’の回転位置を図中に実線で示すように設定すればよい。この高速走査モードでは、光源11からの射出光は、光変調器11A、ビームスプリッタ12、切替ミラー14M’、共振型ガルバノスキャナ19X、リレー光学系20、切替ミラー14M’、制御型ガルバノスキャナ16X,16Y、及び集光レンズ17を順に経由して試料18上に集光する。
また、レーザ走査型顕微鏡を自由走査モードに設定するには、切替ミラー14M’の回転位置を図中に点線で示すように90°変化させればよい。この自由走査モードでは、光源11からの射出光は、光変調器11A、ビームスプリッタ12、切替ミラー14M’、制御型ガルバノスキャナ16X,16Y、及び集光レンズ17を順に経由して試料18上に集光する。
このようなレーザ走査型顕微鏡においても、第1実施形態のそれと同じ効果が得られる。また、本レーザ走査型顕微鏡によると、光路切替機構の構成がシンプルになるという利点もある。
[第3実施形態]
本発明の第3実施形態を説明する。本実施形態は、第2実施形態のレーザ走査型顕微鏡の変形例である。ここでは、相違点のみ説明する。
図5は、本実施形態のレーザ走査型顕微鏡の構成図である。図5において、図4に示す要素と同じものには同じ符号を付した。
このレーザ走査型顕微鏡でも、共振型ガルバノスキャナ19Xが有効となる光路と、共振型ガルバノスキャナ19Xが無効となる光路との分岐/統合箇所とが1つになっており、そこへ切替ミラー14M”が配置される。切替ミラー14M”は、ソレノイドやボイスコイルなどの高速なアクチュエータによって、光路に対し挿脱可能である。この切替ミラー14M”とアクチュエータとが本実施形態の光路切替機構である。
このレーザ走査型顕微鏡を高速走査モードに設定するには、切替ミラー14M”を図中に実線で示すように光路から離脱させればよい。この高速走査モードでは、光源11からの射出光は、光変調器11A、ビームスプリッタ12、共振型ガルバノスキャナ19X、リレー光学系20、制御型ガルバノスキャナ16X,16Y、及び集光レンズ17を順に経由して試料18上に集光する。
また、レーザ走査型顕微鏡を自由走査モードに設定するには、切替ミラー14M”を図中に点線で示すように光路に挿入すればよい。この自由走査モードでは、光源11からの射出光は、光変調器11A、ビームスプリッタ12、切替ミラー14M”、制御型ガルバノスキャナ16X,16Y、及び集光レンズ17を順に経由して試料18上に集光する。
このようなレーザ走査型顕微鏡においても、第2実施形態のそれと同じ効果が得られる。
なお、レーザ走査型顕微鏡1の光路配置及び光路切替機構の構成は、上述した実施形態のそれに限定される必要は無く、レーザ走査型顕微鏡1を収めるべき筐体の形状等に応じて適宜変更されることが望ましい。少なくとも、光の光路を、共振型ガルバノスキャナ19Xが有効となる光路と共振型ガルバノスキャナ19Xが無効となる光路との間で切り替えることができるのであれば、上述した実施形態と同様の効果を得ることができる。因みに、3つのガルバノスキャナ(共振型ガルバノスキャナ19X,制御型ガルバノスキャナ16X,16Y)の配置順についても、上述した共役関係が満たされている限りは変更が可能である。
また、第1実施形態〜第3実施形態では、走査用のスキャナのうち、最も高速なミラーとして、共振型ガルバノスキャナを用いて説明したが、これに限られず、高速駆動可能な制御回路を有する制御型ガルバノスキャナ、ポリゴンミラー等であってもよい。制御型ガルバノスキャナで高速駆動する方法は、高周波で正弦波駆動する方法である。その場合は、必ずしも安定状態にさせておかなくともよく、駆動可能状態になっていればよい。

Claims (7)

  1. 所定の位置関係で配置された少なくとも3つのミラースキャナと、
    光源から被走査面へ向かう光の光路である光走査用の光路を、前記3つのミラースキャナの全てを経由する第1光路と、前記3つのミラースキャナのうち最も高速なミラースキャナを経由せず他のミラースキャナを経由する第2光路との間で切り替える光路切替手段とを備え、
    前記光路切替手段は、
    前記3つのミラースキャナの位置関係を維持したまま、前記3つのミラースキャナ以外の光学部材の挿脱又は回転により前記光の進路を変更することで、前記切り替えを行い、
    前記最も高速なミラースキャナは、
    主走査用の1つの共振型ガルバノスキャナからなり、
    前記他のミラースキャナは、
    主走査用及び副走査用の1対の制御型ガルバノスキャナからなる
    ことを特徴とする光走査装置。
  2. 請求項に記載の光走査装置において、
    前記最も高速なミラースキャナ及び前記他のミラースキャナと前記被走査面との間には、その被走査面へ向かう光を集光する集光レンズが配置され、
    前記最も高速なミラースキャナの配置位置と前記他のミラースキャナの配置位置との双方は、前記集光レンズの瞳と略共役に設定される
    ことを特徴とする光走査装置。
  3. 前記被走査面として被観察面上を走査する請求項に記載の光走査装置と、
    前記被観察面上で発生した光を検出する検出手段と
    を備えたことを特徴とする光走査型顕微鏡。
  4. 請求項に記載の光走査型顕微鏡において、
    前記検出手段は、
    前記被観察面上で発生した光を共焦点検出する
    ことを特徴とする光走査型顕微鏡。
  5. 請求項又は請求項に記載の光走査型顕微鏡を利用した観察方法であって、
    前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、
    前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、
    前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順と
    を含むことを特徴とする観察方法。
  6. 請求項又は請求項に記載の光走査型顕微鏡に適用される制御装置であって、
    前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、
    前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、
    前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順と
    を実行することを特徴とする制御装置。
  7. 請求項又は請求項に記載の光走査型顕微鏡に接続されるコンピュータ用の制御プログラムであって、
    前記光走査用の光路を前記第2光路に設定して前記被観察面上の一部に光を照射する手順と、
    前記照射の直後のタイミングで、前記光走査用の光路を前記第1光路に切り替える手順と、
    前記最も高速なミラースキャナの振動状態を予め安定させておき、前記切り替えの直後のタイミングで前記被観察面の高速イメージングを開始する手順と
    を前記コンピュータに実行させることを特徴とする制御プログラム。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007047464B4 (de) * 2007-09-28 2023-03-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zur Photomanipulation
US8493289B2 (en) * 2007-11-05 2013-07-23 Texas Instruments Incorporated Scanning mirror based display system and method
JP5176521B2 (ja) * 2007-12-13 2013-04-03 株式会社ニコン レーザ走査顕微鏡
JP5190603B2 (ja) * 2008-08-28 2013-04-24 ナノフォトン株式会社 光学顕微鏡、及び観察方法
EP2359178B1 (de) 2008-12-19 2014-04-23 Deutsches Krebsforschungszentrum Verfahren und vorrichtung zur dynamischen verlagerung eines lichtstrahls gegenüber einer den lichtstrahl fokussierenden optik
JP5639182B2 (ja) * 2009-11-02 2014-12-10 オリンパス株式会社 ビームスプリッタ装置、光源装置および走査型観察装置
WO2011056749A1 (en) * 2009-11-03 2011-05-12 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Fast, modular port switcher for an optical microscope using a galvanometer
US9176312B2 (en) 2011-10-14 2015-11-03 Intelligent Imaging Innovations, Inc. Fast, modular port switcher for an optical microscope using a galvanometer
JP6117227B2 (ja) * 2011-11-15 2017-04-19 ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション 顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム
DE102011087196A1 (de) * 2011-11-28 2013-05-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren
DE102012203736A1 (de) 2012-03-09 2013-09-12 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtrastermikroskop mit spektraler Detektion
CN103190889B (zh) * 2013-04-17 2014-10-29 北京大学 一种实时可调谐共聚焦显微成像系统
DE102014017002A1 (de) * 2014-11-12 2016-05-12 Carl Zeiss Ag Laser-Scanning-Mikroskop
US20160302740A1 (en) * 2015-04-03 2016-10-20 Vidrio Technologies, Llc Compact scanner assembly with a resonant scanner and two galvanometer scanners for multi region of interest (mroi) imaging and targeting of intact tissue
JP6611546B2 (ja) * 2015-10-09 2019-11-27 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡
WO2018083772A1 (ja) * 2016-11-02 2018-05-11 株式会社ニコン 顕微鏡システム
JP6885735B2 (ja) * 2017-01-23 2021-06-16 浜松ホトニクス株式会社 走査装置
DE102017119480A1 (de) 2017-08-25 2019-02-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop
DE102017119479A1 (de) 2017-08-25 2019-02-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop
DE102017119478A1 (de) * 2017-08-25 2019-02-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop
EP3652555B1 (en) * 2017-08-31 2024-03-06 SZ DJI Technology Co., Ltd. A solid state light detection and ranging (lidar) system system and method for improving solid state light detection and ranging (lidar) resolution
JP7114272B2 (ja) * 2018-02-28 2022-08-08 浜松ホトニクス株式会社 ライトシート顕微鏡及び試料観察方法
CN112074767B (zh) * 2018-05-03 2022-04-01 统雷有限公司 用于三种光学扫描镜的激光扫描头设计

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61219919A (ja) * 1985-03-27 1986-09-30 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
JPH05164980A (ja) * 1991-12-17 1993-06-29 Hamamatsu Photonics Kk 光ビーム走査装置
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
WO2003041904A1 (fr) * 2001-11-15 2003-05-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Appareil d'usinage a faisceau laser
JP2005017642A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Olympus Corp 共焦点顕微鏡

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04184412A (ja) * 1990-11-20 1992-07-01 Citizen Watch Co Ltd 光ビームの走査装置
US5283433A (en) 1992-10-05 1994-02-01 The Regents Of The University Of California Scanning confocal microscope providing a continuous display
JP3343276B2 (ja) * 1993-04-15 2002-11-11 興和株式会社 レーザー走査型光学顕微鏡
JPH0743631A (ja) * 1993-08-02 1995-02-14 Fuji Photo Film Co Ltd 共振型光偏向器を用いた走査装置
DE19654210C2 (de) * 1996-12-24 1999-12-09 Leica Microsystems Optische Anordnung zum Scannen eines Strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Achsen
JP3945951B2 (ja) * 1999-01-14 2007-07-18 日立ビアメカニクス株式会社 レーザ加工方法およびレーザ加工機
JP2003136270A (ja) * 2001-11-02 2003-05-14 Hitachi Via Mechanics Ltd レーザ加工装置
DE10209322A1 (de) * 2002-03-02 2003-09-25 Leica Microsystems Vorrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
JP2004138947A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Keyence Corp 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム
DE102004011770B4 (de) * 2004-03-09 2005-12-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61219919A (ja) * 1985-03-27 1986-09-30 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
JPH05164980A (ja) * 1991-12-17 1993-06-29 Hamamatsu Photonics Kk 光ビーム走査装置
JPH10206742A (ja) * 1996-11-21 1998-08-07 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査顕微鏡
WO2003041904A1 (fr) * 2001-11-15 2003-05-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Appareil d'usinage a faisceau laser
JP2005017642A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Olympus Corp 共焦点顕微鏡

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