JP6117227B2 - 顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム - Google Patents

顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム Download PDF

Info

Publication number
JP6117227B2
JP6117227B2 JP2014541008A JP2014541008A JP6117227B2 JP 6117227 B2 JP6117227 B2 JP 6117227B2 JP 2014541008 A JP2014541008 A JP 2014541008A JP 2014541008 A JP2014541008 A JP 2014541008A JP 6117227 B2 JP6117227 B2 JP 6117227B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
light beam
scanning
path
illumination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014541008A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014533377A (ja
Inventor
クーパー,ジェレミー・アール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Global Life Sciences Solutions USA LLC
Original Assignee
Amersham Biosciences Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Amersham Biosciences Corp filed Critical Amersham Biosciences Corp
Publication of JP2014533377A publication Critical patent/JP2014533377A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6117227B2 publication Critical patent/JP6117227B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B17/00Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/02Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
    • G02B17/023Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system for extending or folding an optical path, e.g. delay lines
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Description

本発明は顕微鏡システム用のモード切り換え可能な照射システムに関し、より詳細には例えば全反射蛍光(TIRF)及び光動力学(PK)照射モードの間でモード切換可能な照射システムに関する。
全反射蛍光(TIRF)照射及び光動力学(PK)照射は、顕微鏡法において一般に用いられる2つの、レーザをベースとする照射モードである。通常のTIRFシステムは、高開口数(NA)対物レンズの背面焦点面(BFP)の最も端部近くの集束されたレーザビームを用いるものである。この構成は結果として、急な入射角でカバースリップ/試料界面に突き当たるコリメート光ビームを生じる。入射角が十分に急である場合は、光はカバースリップ(ガラス)から試料(水)への界面において全反射されることになる。このようにしてカバースリップ/試料界面に近接した(<100nm)蛍光粒子のみが照射され、したがって画像コントラストが大幅に改善される。走査TIRFはTIRF照射の進歩した形であり、ビームは対物レンズBFPの端部を囲むように円形パターンにて走査される。この技法は従来型のTIRFの薄い照射区間を生じるが、シャドーイング、散乱及び干渉パターンを含むTIRF顕微鏡法での難点となる多くのアーチファクトを大幅に低減する。更に背面焦点面を囲むように励起ビームを走査することで、従来型のレーザ落射蛍光(非TIRF)照射方式におけるこれらの同じアーチファクトが低減又は除去される。
これと異なりPK照射は、ビームが試料面において強く集束されるように、対物レンズに入るコリメート光ビームを用いるものである。この集束ビームは、非限定的に光活性化、光退色、化学アンケージング及びレーザアブレーションを含む、試料内の正確な場所でのいくつかの反応を引き起こすために用いることができる。走査PKは、試料自体を移動せずに試料面内の任意の場所に集束ビームを導く能力をもたらす。
単一のレーザ発射点から単一の機器上で、走査TIRF及びPK照射モードの両方をもたらすことが望ましい。更に多くの実験は、これら2つのモードの間で急速に切り換える能力から恩恵を受けることができる。
本発明の目的は、第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な顕微鏡システム用の新しい照射システムを提供することであり、この照射システムは従来技術の1以上の欠点を克服する。これは特許請求の範囲の独立項において定められる照射システムによって達成される。
米国特許出願公開2002/0154311
一態様では、第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な顕微鏡システム用の照射システムが提供されるが、本照射システムは、コリメート光ビームを与える1つの光源と、光ビームを2つの異なるビーム経路に方向付ける2以上の位置に配置させることができる1以上の選択ミラーとを備えており、第1のビーム経路が直接射出ビーム経路であって、選択ミラーが光ビームを射出ビーム経路に沿って方向付けて第1の照射モードをもたらし、第2のビーム経路が、光ビームを選択ミラーへと方向付けて選択ミラーによって光ビームが再度射出ビーム経路に沿って方向付けられるように構成された2以上のミラーを備えるミラーループ経路であって、ミラーループ経路が、光ビームを光学的に変化させて第2の照射モードをもたらすように構成された1以上の光学素子を備えている。
一態様では、ミラーループ経路は、光学素子に対して所定のビーム経路長を与える延長ミラーループを備える。
一態様では、走査ミラーは、出力光ビームの選択的走査をもたらすように射出ビーム経路に配設される。
一態様では、走査ミラーは、2次元の選択的走査をもたらすように構成される。
一態様では、選択ミラーは第1の次元で光ビームの選択的走査をもたらし、走査ミラーは第1の次元と実質的に交差する第2の次元での選択的走査をもたらすように構成され、走査ミラーと選択ミラーの相互走査が出力光ビームの2次元走査をもたらすように制御される。
一態様では、走査ミラーで選択的に指定される第2のミラーループ経路が設けられていて、光ビームを走査ミラーへと方向付けて、走査ミラーによって光ビームが再度射出ビーム経路に沿って方向付けられるように構成された2以上のミラーを備えており、もって射出ビームが平行移動によって走査される。
一態様では、1以上の射出光学素子であって、ミラーループ経路の1以上の光学素子に対して光学的に整合かつ位置していて、光ビームを光学的に変化させて第1及び第2の照射モードをもたらすように構成された1以上の射出光学素子が設けられる。
射出光学素子は、顕微鏡システムの対物レンズの背面開口に光ビームを集束するように構成された射出レンズとすることができ、ミラーループ経路内の光学素子は、光ビームが射出レンズに到達する前に、ビーム経路に沿った所定の点に光ビームを集束して、収束光ビームが再コリメートされるように構成されたレンズである。
一態様では、第1の照射モードは全反射(TIRF)であり、第2の照射モードは光動力学(PK)照射である。
更に、第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な照射システムを備える顕微鏡システムが提供される。
ここで述べられる全体的な解決策は、一実施形態によれば、別々の経路にビームを向けるため及びこれら2つの別々の経路からのビームを、対物レンズに向かう共通の射出経路に沿って向け直すための両方に、チルトミラー(好ましくは、非限定的にガルバノメータミラー)を用いることである。この手法は、2つのモードの1以上に対してビームが、チルトミラーから2回以上(1回はビームを代替経路に向けるように及び1回はビームを共通の射出経路に沿って向け直すために)反射しなければならないということが必要にする。第2のチルトミラーを追加する又はそれを2軸チップ/チルトミラーで置き換えることによってこの構成は、背面焦点面全体を囲むように(TIRFモードで)又は試料面全体を囲むように(PKモードで)、集束ビームの完全な走査能力をもたらすことができる。これはまた走査角度の大きさをわずかに減少することによって、従来型の落射蛍光(非TIRF)のやり方においてビームを走査する能力をもたらす。このようにして対物レンズ背面開口においてビームが刻む円の直径は、試料界面において全反射を発生するのに必要な閾値より小さい。更にシステムは、試料を通して非常に急な(TIRFに近い)透過角度を生じる能力をもたらして試料焦点面の上又は下に存在する蛍光体の励起を低減することにより画像コントラストを大幅に改善する。
ここで述べられる手法は、同じ光学装置上で経路分岐と経路再結合の両方を行うことによって、以前の手法の多くの短所を克服する。これは効率を改善しながら、システムの複雑さ及びコストを共に低減することに役立つ。更にこのシステムは、複数のレーザ発射点又は高価で複雑なビーム再結合光学構成要素又は偏光器を必要としない。最後にこの手法は、TIRF、従来型の落射蛍光又はPKモードにおいてビームの完全な走査をもたらすように容易に適用することができ、モード間の切り換えは2ms程度の非常に高速に達成することができる。
本発明のより完全な理解、並びに本発明の他の特徴及び利点は、以下の詳細な説明及び図面を参照することによって得られるであろう。
本発明の一実施形態に係る第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な顕微鏡システム用の照射システムの一例を示す概略図である。 本発明の一実施形態に係る第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な顕微鏡システム用の照射システムの一例を示す概略図である。 例示的なビームトランスレータの平面図及び等角図である。 図3に示すビームトランスレータの実例を示す図である。 図3に示すビームトランスレータを通って進む光ビームに関連する内部経路のスナップショット図である。 図1〜図2の照射システムの簡略図である。 図1〜図2の照射システムの簡略図である。 図1〜図2の照射システムの簡略図である。 図1〜図2のモード切り換え可能な照射システムの別の実施形態の簡略図である。 図1〜図2のモード切り換え可能な照射システムの別の実施形態の簡略図である。
図1及び図2は本発明の一実施形態に係る第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な顕微鏡システム用の照射システムの一例の概略図を示す。開示される実施形態において照射システムは、第1の照射モードは全反射(TIRF)であり、第2の照射モードは光動力学(PK)照射である。図1はTIRFモードにおける照射システムを示し、図2はPKモードにおける照射システムを示す。システムは、コリメート光ビーム22を供給するように構成された照射源20、例えばレーザ源を備える。第1の走査ミラー30(いくつかの実施形態では選択ミラーとも呼ばれる)は、例えばガルバノメータ駆動装置、圧電駆動装置などの、駆動ユニット40によって第1の軸の周りに走査回転するように駆動される。図1では第1の走査ミラーは、第1の全体的な方向に位置決めされて、駆動ユニット60によって、好ましくは第1の軸を横切る第2の回転軸の周りに走査回転するように駆動される第2の走査ミラー50に光ビームを反射する。図1では第2の走査ミラー50は、第1の全体的な位置に配置されて光ビームを射出ビーム経路52に沿って方向転換して光ビームは対物レンズ170の背面開口に光ビームを集束するように構成されたレンズ160を通過する。制御ユニット200は、第1及び第2の走査ミラー30及び50の走査位置を制御するように接続及び構成される。図1の照射モードでは、第1及び第2の走査ミラー30及び50は、それらのそれぞれの第1の全体的な位置内で走査されそれによって、例えば走査TIRFの場合は、図1の点線円によって示されるように対物レンズ170の背面焦点面の端部における所望の位置において射出光ビームを選択的に位置決めするように構成される。図1では走査TIRFモードは、第1の走査ミラー30から対物レンズ170の背面開口に延びる2つのビーム経路(実線及び破線)によって示される。しかし開示される実施形態は、1つの光ビームを走査するように構成され、開示されるビーム経路のそれぞれは、第1及び第2の走査ミラー30及び50の2つの異なる相互位置をそれぞれ表す。
図2には、光動力学照射モードにおけるシステムが示され、第1及び第2の走査ミラー30及び50は共に第2の全体的な位置においてそれぞれ構成される。第2の全体的な位置に構成されたときは走査ミラー30は、再び第1の走査ミラー30上に光ビームを方向付けるように構成されたミラー90、100、110、120及び130を備える第1のミラーループ70内に光ビームを向け直す。その後に光ビームは第2の走査ミラー50に向けられる。この第2の全体的な位置では第2の走査ミラー50は、再び第2の走査ミラー50上に光ビームを方向付けるように構成されたミラー140及び150から構成される第2のミラーループ内に、光ビームを方向付けるように構成される。
前述のように光動力学照射モードは、コリメート光ビームの角度を、対物レンズ170の背面開口において走査するものである。これは結果として試料面において、集束されたスポットの位置の走査を生じる。開示されるシステムではこれは、光ビームがレンズ160に到達する前にビーム経路に沿った所定の点に光ビームを集束して収束光ビームが再コリメートされるように構成された、第1のミラーループ70にレンズ190を組み込むことによって達成される。対物レンズ170の背面焦点面における光ビームの角度は、第1及び第2の走査ミラー30及び50はそれらのそれぞれの第2の全体的な位置内で走査されるように構成されるので走査することができ、それによって射出光ビームを選択的に位置決めすることができる。
以下で図3〜図5を参照してより詳しく説明するように、第1及び第2のミラーループ構成は、光ビームの純粋な変換を達成するように設計することができる。レンズ190を備える第1のミラーループでは、これはループ内のミラーの非偶数回の反射によって達成され、ループ内に5つの静止ミラー90、100、110、120及び130を用いた開示される実施形態は、限定的なものではなく、単にどのようにこのようなループが設計されるかの例として役立つものである。以下で例えば図6及び図7で開示されるように、第1のミラーループは2つのミラーだけを用いて設計することができる。図1及び図2の実施形態では、個々のミラー及び他の構成要素の配置は1つの設計を表し、機能的な、空間的な効率の良い照射システムをもたらすように、異なる構成要素の間の光路長が考慮に入れられる。具体的にはミラー100、110及び120は、図8において更に開示されるように、第1の走査ミラー30及びレンズ190の間の引き伸ばされた経路長を確立するように設計に含められる。第2のミラーループでは2つのミラーによって純粋な変換が達成されるが、望むなら引き伸ばされた経路長をもたらすために、第2のループ内に追加のミラーを含めることもできる。
純粋なモード選択ユニットが十分である場合は、第2の走査ミラーは省くことができ、第1の走査ミラーを、上記の全体的な位置に対応する2つの固定の位置に位置決めするだけでよい。
これらの実施形態によって第1の走査ミラーは、ビームを別々の経路に導くため及びこれらの2つの別々の経路からのビームを、対物レンズに向かって共通の射出経路に沿って向け直すための両方に、用いることができる。
図に示されない一実施形態では、更には1つの走査ミラーに関連して2以上のミラーループが存在することができ、それによって光路内に代替の光学構成要素を導入することができる。一実施形態では光学素子、例えばレンズ160及び190は、フィルタ又は光ビームを光学的に変化させるように構成された他の光学素子などの、1以上の他の光学素子によって置き換えることができ又はそれらは、ミラーループ内に又はミラーループ外に切り換えることによって制御されるのに従って、そこで光路に含める又は光路から除外される、光路内の異なる位置に配置することができる。
図3A〜図3Bは、前の実施形態において開示されたようなミラーループを備える例示的なビームトランスレータ600の平面図及び等角図を示す。トランスレータ600は、走査ミラー602、第1の平坦な固定ミラー604及び第2の平坦な固定ミラー606を含む。固定ミラー604の反射面は走査ミラー602と固定ミラー606の間の領域に向かって曲げられ、固定ミラー606の反射面は走査ミラー602と固定ミラー604の間の領域に向かって曲げられる。図3A〜図3Bの例では走査ミラー602は、ガルバノメータモータ又はステッパモータとすることができるモータ610の回転可能なシャフトに取り付けられた平坦なピボットミラー608を含む、ガルバノメータミラーである。代替として走査ミラーは圧電制御型ミラーとすることができる。図3A〜図3Bに示すようにミラー608は、ある範囲の角度にわたりモータ610によって連続的に往復して回転される。
図4は、動作時のビームトランスレータ600の平面図を示す。上述のような光源102からの光ビーム出力などの、光ビーム700はミラー608に向けられる。図4はミラー608が、ミラー608に対する一連の回転位置のうちの3つだけを表す、3つの位置1、2及び3に回転されることを示す。異なるパターンの線701〜703はそれぞれ、ピボットミラー608が3つの位置1、2及び3のうちの1つに回転されたときの、トランスレータ600を通って進むビーム700の3つの異なる経路を表す。図4の例に示すように、固定ミラー604及び606、並びにピボットミラー608は、ビームが4回の反射を通じて、3つの実質的に平行な経路の1つに沿って出力されるように配置される。言い換えればミラー608は、一連の実質的に平行な経路の1つに沿った4回の反射の後に、トランスレータ600から結果としてビームが出力される、一連の位置のいずれかに1つに回転することができる。理想的には、出力ビームがそれに沿って進む出力経路は平行であり交差しないが、実際には経路は、相対的な配置及びミラーの方向におけるわずかなばらつきにより、トランスレータ600から離れた非常に長い距離においては、近似的に平行なだけとなり又は交差し得ることが理解される。結果としてトランスレータ600からビームをそれに沿って出力することができる経路は、近似的に平行であると呼ばれる。
結果としてビーム700が平行な経路の1つに置かれる、ピボットミラー608の各回転位置に対して、ビーム700は、ピボットミラー608から2回、固定ミラー604から1回及び固定ミラー606から1回反射され、合計4回の反射となる。図5A〜図5Cはそれぞれ、ピボットミラー608が3つの位置1、2及び3に回転されたときに、ビーム700がトランスレータ600を通って進む内部経路のスナップショットを示す。図5Aではピボットミラー608は位置1に回転される。ビーム700は点802においてピボットミラー608に当たり、順に1、2、3及び4と番号が付けられた反射を有して、ミラー604、606及び608から4回の反射を受ける。点804でのピボットミラー608からの4番目の反射は、図8にも示される経路701上にビームを置く。図5Bではピボットミラー608は位置2に回転される。ビーム700は点806においてピボットミラー608に当たり、順に1’、2’、3’及び4’と番号が付けられた反射を有して、ミラー604、606及び608から4回の反射を受ける。点806近くでのピボットミラー608からの4’番目の反射は、図8にも示される経路702上にビームを置く。図5Cではピボットミラー608位置3に回転される。ビーム700は点808においてピボットミラー608に当たり、順に1”、2”、3”及び4”と番号が付けられた反射を有して、ミラー604、606及び608から4回の反射を受ける。点810でのピボットミラー608からの4”番目の反射は、図8にも示される経路703上にビームを置く。
ビームトランスレータ600は、走査ミラー602のためにガルバノメータミラーを用いて実現されたときは、ミリ秒未満の出力ビームの変換を達成することができる。
図6及び図7は、図1及び図2の照射システムの全体的な図を示すが、システム及びビーム経路の3次元の図は、図3〜図5のビームトランスレータ600に基づく簡略化された2次元の図に変形されている。図6及び図7では、第1及び第2の走査ミラー30及び50、並びにそれらの関連するミラーは、2つの概略的なビームトランスレータ区間A及びBのそれぞれに分離されている。照射システムの簡略図を示すために、区間Aのビームトランスレータは、区間Bのビームトランスレータに対してほぼ90°回転されて示される。2つの区間A及びBの互いに対する回転角は正確に90°である必要はなく、システムからの出力光ビームの所望の走査能力を得るのに十分回転が大きければ十分である。図6及び図7では、区間Aの第1の走査/選択ミラー30は第1の次元、即ち第1の走査平面において光ビームを走査するように構成され、区間Bの第2の走査ミラー50は第2の次元、即ち第2の走査平面において光ビームを走査するように構成され、第2の次元は第1の次元に本質的に直交する。したがって第1の走査/選択ミラー30及び第2の走査ミラー50の相互の走査を選択的に制御することによって、出力光ビームの2次元走査がもたらされる。更に図6及び図7はまた、照射システムからの出力光ビームをより良く示すために、区間Bのビームトランスレータに対して90°回転されて対物レンズ170の背面端部が示される。上記で簡単に述べたように図6及び図7では、ビームトランスレータ区間A及びBを用いた第1及び第2の照射モードの間の切り換えの基本原理をより明確に示すために、図1及び図2のミラー100、110及び120は省かれている。しかし図8は、引き伸ばされた、或いはその他の方法で再構成された光学経路を形成するためのミラーを備えた照射システムの、対応する簡略図を示す。
上述のように図1〜図2及び図6〜図7の実施形態では、両方のビームトランスレータ区間A及びBはそれぞれ、本質的に光ビームの平行移動を生じるように構成される。
図9及び図10に概略的に開示される一実施形態によれば、ビームトランスレータ区間Aは、照射システムの光学ビーム経路への及び経路外への1以上の光学素子の選択的な切り換えのための純粋なモードスイッチとして用いることができる。開示される実施形態では、前の実施形態の走査ミラー50は、出力光ビームの所望の走査をもたらすように2次元の走査を行うことができる走査ミラー210によって置き換えられる。
本発明による第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な照射システムは、例えば適切な顕微鏡システム用のモジュール型増設ユニットとして提供することができ又は顕微鏡の一体部分として一体化することができ及び照射システムは2つの照射モードの間での切り換えに限定される必要はなく、広範な照射モード並びに適当な中間的な照射モードをもたらすことができる。
上記では説明の目的のために、本開示の十分な理解を得るために特定の用語が用いられた。しかし当業者には、本明細書で述べられたシステム及び方法を実施するためには特定の詳細は必要ないことが明らかであろう。特定の例についての上記の説明は、例示及び説明の目的のために示されたものである。これらは網羅的であることを意図するものではなく、述べられた正確な形に本開示を限定するものでもない。明らかに、上記の教示に鑑みて多くの変更形態及び変形形態が可能である。例は本開示の原理及び実際の用途を最も良く説明し、それにより当業者が本開示及び企図される特定の用途に適するように様々な変更を有する様々な例を最も良く利用することを可能にするように示され説明された。本開示の範囲は、添付の特許請求の範囲及びそれらと均等なものにより定められるものとする。

Claims (7)

  1. 第1及び第2の照射モードの間でモード切換可能な顕微鏡システム用の照射システムであって、コリメート光ビームを与える1つの光源と、光ビームを2つの異なるビーム経路に方向付ける2以上の位置に配置させることができる1以上の選択ミラーとを備えた照射システムであって、
    第1のビーム経路が直接射出ビーム経路であって、選択ミラーが光ビームを射出ビーム経路に沿って方向付けて第1の照射モードをもたらし、
    第2のビーム経路が、光ビームを選択ミラーへと方向付けて選択ミラーによって光ビームが再度射出ビーム経路に沿って方向付けられるように構成された2以上のミラーを備えるミラーループ経路であって、ミラーループ経路が、光ビームを光学的に変化させて第2の照射モードをもたらすように構成された1以上の光学素子を備え
    前記照射システムは、
    出力光ビームの選択的走査をもたらすように射出ビーム経路に配設された走査ミラーで選択的に指定される第2のミラーループ経路であって、光ビームを走査ミラーへと方向付けて、走査ミラーによって光ビームが再度射出ビーム経路に沿って方向付けられるように構成された2以上のミラーを備えた第2のミラーループ経路を有し、これにより射出ビームが平行移動によって走査される、照射システム。
  2. ミラーループ経路が、光学素子に対して所定のビーム経路長を与えるように延長ミラーループを備える、請求項1記載の照射システム。
  3. 走査ミラーが、2次元の選択的走査をもたらすように構成される、請求項1又は2に記載の照射システム。
  4. 選択ミラーが第1の次元で光ビームの選択的走査をもたらすように構成され、走査ミラーが第1の次元と実質的に交差する第2の次元での選択的走査をもたらすように構成され、走査ミラーと選択ミラーの相互走査が出力光ビームの2次元走査をもたらすように制御される、請求項1乃至3のうちのいずれか1項記載の照射システム。
  5. 1以上の射出光学素子であって、ミラーループ経路の1以上の光学素子に対して光学的に整合かつ位置していて、光ビームを光学的に変化させて第1及び第2の照射モードをもたらすように構成された1以上の射出光学素子を備える、請求項1乃至請求項のいずれか1項記載の照射システム。
  6. 射出光学素子が、顕微鏡システムの対物レンズの背面開口に光ビームを集束するように構成された射出レンズであり、ミラーループ経路内の光学素子が、光ビームが射出レンズに到達する前に、ビーム経路に沿った所定の点に光ビームを集束して、収束光ビームが再コリメートされるように構成されたレンズである、請求項記載の照射システム。
  7. 請求項1乃至請求項のいずれか1項記載の照射システムを含む、顕微鏡システム。
JP2014541008A 2011-11-15 2012-11-14 顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム Active JP6117227B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201161560056P 2011-11-15 2011-11-15
US61/560,056 2011-11-15
PCT/SE2012/051260 WO2013074033A1 (en) 2011-11-15 2012-11-14 Mode-switchable illumination system for a microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014533377A JP2014533377A (ja) 2014-12-11
JP6117227B2 true JP6117227B2 (ja) 2017-04-19

Family

ID=48429963

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014541008A Active JP6117227B2 (ja) 2011-11-15 2012-11-14 顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9507136B2 (ja)
EP (1) EP2780753B1 (ja)
JP (1) JP6117227B2 (ja)
WO (1) WO2013074033A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014108259A1 (de) * 2014-06-12 2015-12-17 Scanlab Ag Vorrichtung zur Lasermaterialbearbeitung
JP6595879B2 (ja) * 2014-11-13 2019-10-23 キヤノン株式会社 光学装置、加工装置、および、物品の製造方法
EP3021153B1 (en) 2014-11-13 2018-12-12 Canon Kabushiki Kaisha Optical apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method
US9964754B2 (en) * 2015-12-11 2018-05-08 Finger Lakes Instrumentation, Llc Method, apparatus, and computer-readable medium for switching optical paths
EP3538941A4 (en) 2016-11-10 2020-06-17 The Trustees of Columbia University in the City of New York METHODS FOR FAST IMAGING OF HIGH RESOLUTION LARGE SAMPLES
DE102017119479A1 (de) * 2017-08-25 2019-02-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0968656A (ja) 1995-06-23 1997-03-11 Olympus Optical Co Ltd 光学顕微鏡の光路切換装置
JP4786027B2 (ja) 2000-12-08 2011-10-05 オリンパス株式会社 光学系及び光学装置
SE0100889D0 (sv) 2001-03-14 2001-03-14 Biacore Ab Method and apparatus for attenuated total reflection spectrosopy
JP2003098439A (ja) 2001-09-25 2003-04-03 Olympus Optical Co Ltd 観察切り替え可能な顕微鏡
DE10231667A1 (de) * 2002-07-12 2004-01-22 Olympus Biosystems Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und optische Objektuntersuchungseinrichtung
JP4521163B2 (ja) 2003-06-03 2010-08-11 オリンパス株式会社 実体顕微鏡用同軸落射照明装置
US7369308B2 (en) 2004-02-09 2008-05-06 Olympus Corporation Total internal reflection fluorescence microscope
DE102006028530A1 (de) * 2005-11-11 2007-05-16 Till I D Gmbh Mikroskopvorrichtung
JP4915348B2 (ja) * 2005-12-28 2012-04-11 株式会社ニコン 光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム
DE102006033306A1 (de) 2006-07-17 2008-01-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Tirf Mikroskop
EP2257845B1 (en) 2008-03-26 2019-01-16 Yale University Optical system that selectively provides either of a collimated light beam or a convergent light beam

Also Published As

Publication number Publication date
US20140320958A1 (en) 2014-10-30
JP2014533377A (ja) 2014-12-11
EP2780753A4 (en) 2015-07-15
US9507136B2 (en) 2016-11-29
EP2780753A1 (en) 2014-09-24
EP2780753B1 (en) 2017-09-13
WO2013074033A1 (en) 2013-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6117227B2 (ja) 顕微鏡用のモード切り換え可能な照射システム
JP5525136B2 (ja) シート光を発生するための光学装置
JP6033797B2 (ja) レーザビーム選択器
JP6276913B2 (ja) 試料を照明する方法及びシステム
US9411144B2 (en) Systems for fluorescence illumination using superimposed polarization states
US20070153373A1 (en) Microscope device
US8559103B2 (en) Microscope for conventional fluorescence microscopy and total internal reflection microscopy
JP2016529558A (ja) 側方照明顕微鏡システム及び顕微方法
JP4854880B2 (ja) レーザー顕微鏡
JP2011118264A (ja) 顕微鏡装置
JP6805126B2 (ja) 微小試料の光学的な検査および/または操作のための方法、顕微鏡、顕微鏡および/または方法の使用、照明装置
JP3861357B2 (ja) 光学装置と一体化された顕微鏡用レボルバおよび顕微鏡
JP5633706B2 (ja) 共焦点光スキャナおよび共焦点顕微鏡
JP5734758B2 (ja) レーザー顕微鏡
JP5825476B2 (ja) 顕微鏡装置
JP2014513811A (ja) レーザビーム放射照度制御システム
JP2004021259A (ja) 試料または観察対象物の情報取得のための光学装置
JP2004157246A (ja) 走査型光学顕微鏡
JP3577514B2 (ja) 全反射型蛍光顕微鏡
JP5131552B2 (ja) 顕微鏡装置
JP4563699B2 (ja) 照明切換装置
JP5307868B2 (ja) 全反射型顕微鏡
JP2001272618A (ja) スキャニング光学ユニット
JP2007268583A (ja) レーザ加工装置
JP2011501244A (ja) 走査型共焦点顕微法およびそれに関する改善

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140926

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151111

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20161021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161101

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170131

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170322

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6117227

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250