JP4908303B2 - X線単結晶方位測定装置およびその測定方法 - Google Patents
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Description
前記X線検出部の前記CCDから得られる2次元画像を基に前記2つの回折スポットの各々が生じた入射角ωs1、ωs2を求め、該求められた入射角ωs1、ωs2の各々から前記試料の外形を代表する(XYZ)座標系での少なくとも2つの格子面の法線ベクトルV1,V2を算出し、該算出された少なくとも2つの格子面の法線ベクトルV1,V2を基に前記試料の3軸の結晶方位を決定することを特徴とするX線単結晶方位測定方法である。
Claims (6)
- 特性X線を細く絞って単結晶の方向性珪素鋼板の格子面にXZ軸平面内においてX軸に対して入射角ωで入射する入射X線部と、
前記入射角ωが回折条件を満足する入射角ω0を中心にして適宜な範囲で変化するように前記入射X線部と前記方向性珪素鋼板との間で相対的にY軸周りに回転させて走査する走査手段と、
該走査手段によって前記入射X線部から前記方向性珪素鋼板に入射される前記入射角ωを走査しながら前記方向性珪素鋼板の格子面上の照射点から得られる回折角2θの円錐面に沿って出射する特定の指数の少なくとも2つの回折スポットの像を含む2次元画像を撮像する、TDI読み出しモードで動作するCCDから構成された2次元検出器を有するX線検出部であって、前記入射角ωの回転の開始と終了に同期してTDI読み出しを実行し、帯状の画像の中に前記2つの回折スポットを記録するX線検出部と、
該X線検出部の前記2次元検出器から得られる2次元画像を基に前記2つの回折スポットの各々が生じた入射角ωs1、ωs2を求め、該求められた入射角ωs1、ωs2の各々から前記方向性珪素鋼板の外形を代表する(XYZ)座標系での少なくとも2つの格子面の法線ベクトルV1,V2を算出し、該算出された少なくとも2つの格子面の法線ベクトルV1,V2を基に前記方向性珪素鋼板の3軸の結晶方位を決定する演算処理部とを備えたことを特徴とするX線単結晶方位測定装置。 - 前記演算処理部において、前記2つの回折スポットの各々が生じた入射角ωs1、ωs2の各々を、前記2次元検出器から得られる2次元画像のV方向及びW方向の画素アドレスに基づいてω角度に変換して求めるように構成したことを特徴とする請求項1に記載のX線単結晶方位測定装置。
- 前記X線検出部は、X線像を可視光像に変換する細帯形状又は弓なり形状の蛍光板と、該蛍光板から得られる可視光像について少なくともV方向には縮小して結像させるレンズ系と、該レンズ系で結像された光像の輝度を増倍するイメージインテンシファイヤと、該イメージインテンシファイヤとカップリングされた前記TDI読み出しモードで動作するCCDで構成された2次元検出器とを有することを特徴とする請求項1に記載のX線単結晶方位測定装置。
- 前記X線検出部は、X線像を可視光像に変換する細帯形状又は弓なり形状の蛍光板を有し、該蛍光板から得られる可視光像について結像させるレンズ系と、該レンズ系で結像された光像の輝度を増倍するイメージインテンシファイヤと、該イメージインテンシファイヤとカップリングされた前記TDI読み出しモードで動作するCCDで構成された2次元検出器とから構成されるチャンネルを少なくとも2つ並べて構成したことを特徴とする請求項1に記載のX線単結晶方位測定装置。
- 前記TDI読み出しモードで動作するCCDで構成された2次元検出器の受光面の形状を細帯形状で形成したことを特徴とする請求項3または4に記載のX線単結晶方位測定装置。
- 特性X線を細く絞って単結晶の方向性珪素鋼板の格子面にXZ軸平面内においてX軸に対して入射角ωで入射する入射X線部と、前記入射角ωが回折条件を満足する入射角ω0を中心にして適宜な範囲で変化するように前記入射X線部と前記方向性珪素鋼板との間で相対的にY軸周りに回転させて走査する走査手段と、該走査手段によって前記入射X線部から前記方向性珪素鋼板に入射される前記入射角ωを走査しながら前記方向性珪素鋼板の格子面上の照射点から得られる回折角2θの円錐面に沿って出射する特定の指数の少なくとも2つの回折スポットの像を含む2次元画像を撮像する、TDI読み出しモードで動作するCCDで構成された2次元検出器を有するX線検出部であって、前記入射角ωの回転の開始と終了に同期してTDI読み出しを実行し、帯状の画像の中に前記2つの回折スポットを記録するX線とを備えたX線単結晶方位測定装置を用いて、
前記X線検出部の前記2次元検出器から得られる2次元画像を基に前記2つの回折スポットの各々が生じた入射角ωs1、ωs2を求め、該求められた入射角ωs1、ωs2の各々から前記方向性珪素鋼板の外形を代表する(XYZ)座標系での少なくとも2つの格子面の法線ベクトルV1,V2を算出し、該算出された少なくとも2つの格子面の法線ベクトルV1,V2を基に前記方向性珪素鋼板の3軸の結晶方位を決定することを特徴とするX線単結晶方位測定方法。
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Cited By (2)
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