JP4902456B2 - スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 - Google Patents
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims abstract description 317
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 86
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 78
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 77
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 58
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 50
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 49
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 42
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000012854 evaluation process Methods 0.000 claims description 3
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 62
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 33
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 19
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 101150012579 ADSL gene Proteins 0.000 description 1
- 102100020775 Adenylosuccinate lyase Human genes 0.000 description 1
- 108700040193 Adenylosuccinate lyases Proteins 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/70—Denoising; Smoothing
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
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Description
Kは任意の係数とする。
上記のようにして、評価値Sは、評価データ生成部120によって生成される。
A=S+N’・・・・・・・・(5)
S=A−KN・・・・・・・・(6)
上述したように、一般にインクジェット方式においては、スジムラ発生の原因に応じて異なる周期のスジムラが観察される。
110 領域分割部(領域分割手段)
120 評価データ生成部(評価データ生成手段)
121 一次元投影処理部(一次元投影処理手段)
122 パワースペクトル算出部(パワースペクトル算出手段)
123 積分処理部(積分手段)
124 ノイズ成分除去部(ノイズ成分除去手段)
130 評価値演算部(評価値算出手段)
210 ブラックマトリクス
220 ガラス基板
230 ヘッドユニット
240 ノズル
300 特定周期スジムラ評価システム
310a・310b 照明装置
320 カメラ
320a・320b カメラ(撮像手段)
330 カラーフィルタ基板(評価対象物)
340 ステージ
400 データ保持装置
500 結果出力装置
Claims (26)
- 表示部材の光照射されている評価対象面を撮像して得られた撮像画像データから当該評価対象面に発生している周期性を有するスジムラを評価する指標となる評価データを生成する評価データ生成手段を備え、
上記評価データ生成手段は、
上記撮像画像データに含まれる二次元輝度分布情報に対して、一次元投影処理を行う一次元投影処理手段と、
上記一次元投影処理手段によって一次元投影処理された二次元輝度分布情報からパワースペクトルを算出するパワースペクトル算出手段と、
上記パワースペクトル算出手段によって算出されたパワースペクトルから、予め設定した周期の区間積分値を算出する積分手段と、
上記積分手段によって算出された区間積分値中に含まれるノイズ成分を除去するノイズ成分除去手段とを有し、
さらに、上記ノイズ成分除去手段によってノイズ成分が除去された区間積分値を評価データとして受け取り、当該評価データから上記撮像画像データ中の特定周期で発生するスジムラの出現位置、出現強度を示す評価値を算出する評価値算出手段を備え、
上記ノイズ成分除去手段によって除去されるノイズ成分は、上記評価対象のスジムラとは異なる周期のスジムラの低周期成分であることを特徴とするスジムラ評価装置。 - 上記撮像画像データを複数の領域に分割する領域分割手段を備え、
上記評価データ生成手段は、
上記領域分割手段によって領域分割された撮像画像データ毎に評価データを生成することを特徴とする請求項1に記載のスジムラ評価装置。 - 上記領域分割手段は、
予め設定したスジムラの発生範囲に合わせて撮像画像データを領域分割することを特徴とする請求項2に記載のスジムラ評価装置。 - 上記領域分割手段は、
撮像画像データを領域分割する際に、特定周期で発生するスジムラの出現範囲を同一領域になるように、各分割領域をオーバーラップさせることを特徴とする請求項2に記載のスジムラ評価装置。 - 上記評価値算出手段は、上記評価データ生成手段によって生成された分割領域毎の評価データから上記評価値を算出することを特徴とする請求項2から4の何れか1項に記載のスジムラ評価装置。
- 上記評価値算出手段は、
得られた評価データから、スジムラの出現方向と同一方向の領域の評価データを抽出し、抽出した評価データからスジムラの評価値を算出することを特徴とする請求項5に記載のスジムラ評価装置。 - 上記評価値算出手段は、
抽出した評価データの算術平均値をスジムラの評価値として算出することを特徴とする請求項6に記載のスジムラ評価装置。 - 上記評価値算出手段は、
抽出した評価データのトリム平均値をスジムラの評価値として算出することを特徴とする請求項6に記載のスジムラ評価装置。 - 上記評価値算出手段は、
抽出した評価データのメディアン値をスジムラの評価値として算出することを特徴とする請求項6に記載のスジムラ評価装置。 - 上記評価値算出手段は、
抽出した評価データのrms(root mean square)値をスジムラの評価値として算出することを特徴とする請求項6に記載のスジムラ評価装置。 - 上記一次元投影処理手段は、
上記二次元輝度分布情報に対して、スジムラの出現方向と同一方向を投影方向として一次元投影処理することを特徴とする請求項1に記載のスジムラ評価装置。 - 上記積分手段が区間積分値を求める範囲は、評価対象のスジムラ周期が含まれていることを特徴とする請求項1に記載のスジムラ評価装置。
- 上記積分手段が区間積分値を求める範囲は、一定の強度を持つ周期が含まれていることを特徴とする請求項1に記載のスジムラ評価装置。
- 上記積分手段は、
上記パワースペクトルからパワースペクトラム密度を算出し、その結果を予め設定した周期で区間積分して区間積分値を算出することを特徴とした請求項1に記載のスジムラ評価装置。 - 上記積分手段は、
上記パワースペクトルからパワースペクトラム密度を算出し、その結果を予め設定した周期で区間積分した値を平方根して区間積分値を算出することを特徴とした請求項1に記載のスジムラ評価装置。 - 上記ノイズ成分は、一定の強度を持つ周期成分を含むことを特徴とする請求項1に記載のスジムラ評価装置。
- 上記評価データ生成手段は、
同一表示部材の評価対象面を異なる方向から撮像して得られた複数の撮像画像データからそれぞれ評価データを生成し、
上記評価値算出手段は、
上記評価データ生成手段によって生成された評価データからノイズ成分の影響が少ない方向から撮影された撮像画像データに基づいて生成された評価データを抽出し、抽出した評価データから、上記評価値を算出することを特徴とする請求項1に記載のスジムラ評価装置。 - 上記複数の撮像画像データの撮像方向には、スジムラの特徴が観察できる斜め方向と、この斜め方向とは反対側の方向とが少なくとも含まれていることを特徴とした請求項17に記載のスジムラ評価装置。
- 上記表示部材は、カラーフィルタであることを特徴とする請求項1から18の何れか1項に記載のスジムラ評価装置。
- 表示部材の光照射されている評価対象面を撮像して得られた撮像画像データから当該評価対象面に発生している周期性を有するスジムラを評価するスジムラ評価方法において、
上記撮像画像データに含まれる二次元輝度分布情報に対して、スジムラの出現方向のベクトルを含む方向を投影方向として一次元投影処理を行う第1ステップと、
上記第1ステップにおいて一次元投影処理された二次元輝度分布情報からパワースペクトルを算出する第2ステップと、
上記第2ステップにおいて算出されたパワースペクトルから、予め設定した周期の区間積分値を算出する第3ステップと、
上記第3ステップにおいて算出された区間積分値中に含まれるノイズ成分を除去する第4ステップと、
上記第4ステップによりノイズ成分が除去された区間積分値を評価データとし受け取り、当該評価データから上記撮像画像データ中の特定周期で発生するスジムラの出現位置、出現強度を示す評価値を算出する第5ステップとを含み、
上記第4ステップにおいて除去されるノイズ成分は、上記評価対象のスジムラとは異なる周期のスジムラの低周期成分であることを特徴とするスジムラ評価方法。 - コンピュータを、
表示部材の光照射されている評価対象面を撮像して得られた撮像画像データから当該評価対象面に発生している周期性を有するスジムラを評価する指標となる評価データを生成する評価データ生成手段が有する、
上記撮像画像データに含まれる二次元輝度分布情報に対して、一次元投影処理を行う一次元投影処理手段と、
上記一次元投影処理手段によって一次元投影処理された二次元輝度分布情報からパワースペクトルを算出するパワースペクトル算出手段と、
上記パワースペクトル算出手段によって算出されたパワースペクトルから、予め設定した周期の区間積分値を算出する積分手段と、
上記積分手段によって算出された区間積分値中に含まれるノイズ成分を除去するノイズ成分除去手段として機能させると共に、
さらに、上記ノイズ成分除去手段によってノイズ成分が除去された区間積分値を評価データとして受け取り、当該評価データから上記撮像画像データ中の特定周期で発生するスジムラの出現位置、出現強度を示す評価値を算出する評価値算出手段として機能させ、
上記ノイズ成分除去手段により除去されるノイズ成分は、上記評価対象のスジムラとは異なる周期のスジムラの低周期成分であるスジムラ評価プログラム。 - 請求項21に記載のスジムラ評価プログラムをコンピュータ読取可能に記録した記録媒体。
- カラーフィルタ製造装置によってカラーフィルタを製造するカラーフィルタの製造方法であって、
請求項20に記載のスジムラ評価方法を実行するスジムラ評価工程を含み、
上記スジムラ評価工程によって得られた、スジムラ出現傾向を示す評価値をフィードバック情報として上記カラーフィルタ製造装置に出力することを特徴とするカラーフィルタの製造方法。 - 上記ノイズ成分除去手段により除去されるノイズ成分は、上記評価対象のスジムラとは異なる周期のスジムラの周期成分に予め定められた定数を乗じて算出して得られたことを特徴とする請求項1〜19に記載のスジムラ評価装置。
- 上記第4ステップにより除去されるノイズ成分は、上記評価対象のスジムラとは異なる周期のスジムラの周期成分に予め定められた定数を乗じて算出して得られたことを特徴とする請求項20に記載のスジムラ評価方法。
- 上記ノイズ成分除去手段により除去されるノイズ成分は、上記評価対象のスジムラとは異なる周期のスジムラの周期成分に予め定められた定数を乗じて算出して得られたことを特徴とする請求項21に記載のスジムラ評価プログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007199978A JP4902456B2 (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
US12/220,852 US20090046113A1 (en) | 2007-07-31 | 2008-07-29 | Uneven streaks evaluation device, uneven streaks evaluation method, storage medium, and color filter manufacturing method |
CN2008101311943A CN101373232B (zh) | 2007-07-31 | 2008-07-30 | 条斑评价装置、条斑评价方法和滤色器制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007199978A JP4902456B2 (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009036592A JP2009036592A (ja) | 2009-02-19 |
JP4902456B2 true JP4902456B2 (ja) | 2012-03-21 |
Family
ID=40362627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007199978A Expired - Fee Related JP4902456B2 (ja) | 2007-07-31 | 2007-07-31 | スジムラ評価装置、スジムラ評価方法、スジムラ評価プログラム、記録媒体及びカラーフィルタの製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090046113A1 (ja) |
JP (1) | JP4902456B2 (ja) |
CN (1) | CN101373232B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP4550559B2 (ja) * | 2004-11-24 | 2010-09-22 | シャープ株式会社 | 外観検査装置、外観検査方法およびコンピュータを外観検査装置として機能させるためのプログラム |
JP2006300775A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Olympus Corp | 外観検査装置 |
JP2006319598A (ja) * | 2005-05-12 | 2006-11-24 | Victor Co Of Japan Ltd | 音声通信システム |
JP2007034648A (ja) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像評価方法および画像評価装置並びにプログラム |
JP2007171029A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Fujifilm Corp | 検査装置、表示デバイスシミュレート装置及び検査方法 |
JP2007172512A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Fujifilm Corp | 画像品質定量評価方法及びその装置並びに画像品質定量評価値を計算するプログラム |
JP2007184872A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像評価装置、画像処理装置、画像評価方法およびプログラム |
JP2008139027A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | Sharp Corp | 検査装置、検査方法、撮像検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査プログラム |
JP4777310B2 (ja) * | 2007-07-31 | 2011-09-21 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査装置制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
-
2007
- 2007-07-31 JP JP2007199978A patent/JP4902456B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-07-29 US US12/220,852 patent/US20090046113A1/en not_active Abandoned
- 2008-07-30 CN CN2008101311943A patent/CN101373232B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090046113A1 (en) | 2009-02-19 |
JP2009036592A (ja) | 2009-02-19 |
CN101373232A (zh) | 2009-02-25 |
CN101373232B (zh) | 2010-12-01 |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |