JP4891841B2 - 分光モジュール - Google Patents

分光モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP4891841B2
JP4891841B2 JP2007153019A JP2007153019A JP4891841B2 JP 4891841 B2 JP4891841 B2 JP 4891841B2 JP 2007153019 A JP2007153019 A JP 2007153019A JP 2007153019 A JP2007153019 A JP 2007153019A JP 4891841 B2 JP4891841 B2 JP 4891841B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
main body
spectroscopic
predetermined surface
module according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007153019A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008304387A (ja
JP2008304387A5 (ja
Inventor
勝己 柴山
テイチマン ヘルムート
智史 鈴木
ヒラル ディエトマル
スタルケル ウルリッチ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2007153019A priority Critical patent/JP4891841B2/ja
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to US12/377,350 priority patent/US8068223B2/en
Priority to EP08765191.5A priority patent/EP2063239A4/en
Priority to KR1020097000587A priority patent/KR20100017083A/ko
Priority to EP08765197.2A priority patent/EP2157414A4/en
Priority to PCT/JP2008/060379 priority patent/WO2008149941A1/ja
Priority to US12/377,343 priority patent/US8045155B2/en
Priority to CN2008800005065A priority patent/CN101542248B/zh
Priority to US12/377,314 priority patent/US8049887B2/en
Priority to KR1020097000554A priority patent/KR20100017082A/ko
Priority to PCT/JP2008/060364 priority patent/WO2008149930A1/ja
Priority to EP08765192.3A priority patent/EP2075555A4/en
Priority to KR1020097000424A priority patent/KR20100017081A/ko
Priority to CN200880000507XA priority patent/CN101542249B/zh
Priority to US12/377,300 priority patent/US8368885B2/en
Priority to KR1020097001454A priority patent/KR20100017086A/ko
Priority to PCT/JP2008/060384 priority patent/WO2008149944A1/ja
Priority to PCT/JP2008/060378 priority patent/WO2008149940A1/ja
Priority to EP08765177.4A priority patent/EP2072978A4/en
Priority to CN2008800005084A priority patent/CN101542250B/zh
Priority to TW097121324A priority patent/TW200916738A/zh
Priority to TW097121327A priority patent/TW200916739A/zh
Priority to TW097121331A priority patent/TWI445930B/zh
Priority to TW097121329A priority patent/TWI451072B/zh
Publication of JP2008304387A publication Critical patent/JP2008304387A/ja
Publication of JP2008304387A5 publication Critical patent/JP2008304387A5/ja
Publication of JP4891841B2 publication Critical patent/JP4891841B2/ja
Application granted granted Critical
Priority to US13/545,445 priority patent/US8411269B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0202Mechanical elements; Supports for optical elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0243Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows having a through-hole enabling the optical element to fulfil an additional optical function, e.g. a mirror or grating having a throughhole for a light collecting or light injecting optical fiber
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0256Compact construction
    • G01J3/0259Monolithic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0262Constructional arrangements for removing stray light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0291Housings; Spectrometer accessories; Spatial arrangement of elements, e.g. folded path arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/04Slit arrangements slit adjustment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、光を分光して検出する分光モジュールに関する。
従来の分光モジュールとして、例えば特許文献1には、光を透過させる支持体と、支持体に光を入射させる入射スリット部と、支持体に入射した光を分光して反射する凹面回折格子と、凹面回折格子によって分光されて反射された光を検出するダイオードと、を備えるものが開示されている。
特許第3119917号公報
しかしながら、上述したような分光モジュールにあっては、入射スリット部及びダイオードが支持体に取り付けられるに際し、入射スリット部とダイオードとの相対的な位置関係にずれが生じ、分光モジュールの信頼性が低下するおそれがある。
そこで、本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、信頼性の高い分光モジュールを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る分光モジュールは、光を透過させる本体部と、本体部の所定の面から本体部に入射した光を分光して所定の面側に反射する分光部と、所定の面上に支持され、分光部によって分光されて反射された光を検出する光検出素子と、を備え、光検出素子は、本体部に入射する光が通過する光通過開口を有し、光通過開口には、本体部に入射する光を導光する光学素子が配置されており、所定の面上には、本体部に入射する光が通過する第1の光通過孔、及び光検出素子の光検出部に入射する光が通過する第2の光通過孔を有する光吸収層が形成されており、本体部は、所定の面を有する第1の光透過部材、及び分光部が形成された第2の光透過部材を有し、分光部は、第2の光透過部材の球面状の外側表面に形成された回折層、及び回折層の外側表面に形成された反射層を有することを特徴とする。
この分光モジュールでは、本体部に入射する光が通過する光通過開口を光検出素子が有している。そのため、光通過開口と光検出素子の光検出部との相対的な位置関係にずれが生じるのを防止することができる。しかも、本体部に入射する光を導光する光学素子が光通過開口に配置されている。そのため、本体部に入射すべき光の一部が光通過開口の光入射側縁部で遮られるようなことなく、本体部に入射すべき光を確実に導光することができる。従って、この分光モジュールによれば、信頼性を向上させることが可能となる。
本発明に係る分光モジュールにおいては、光学素子の光入射端面は、光検出素子から突出していることが好ましい。このような構成によれば、本体部に入射すべき光をより一層確実に導光することができる。
本発明に係る分光モジュールにおいては、光通過開口は、所定の面の反対側に形成された凹部、及び凹部の底面に形成された貫通孔を有し、光学素子は、凹部に配置されていることが好ましい。このような構成によれば、本体部に入射すべき光の確実な導光を実現しつつ、貫通孔をスリット化することができる。
本発明に係る分光モジュールにおいては、所定の面には、本体部に入射する光が通過する光通過孔を有する光吸収層が形成されており、光学素子は、その光出射端面が光通過孔と対向した状態で光吸収層に当接していることが好ましい。このような構成によれば、本体部に入射すべき光の確実な導光を実現しつつ、光通過孔をスリット化することができる。
本発明に係る分光モジュールにおいては、光学素子は、光ファイバであることが好ましい。これにより、光ファイバの光入射端面で受けた光を光ファイバのコア径のまま導光することができる。このとき、光ファイバは、バンドルファイバであることが好ましい。これにより、本体部に入射する光の光量を増加させることができる。
本発明によれば、信頼性を向上させることが可能となる。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
[第1の実施形態]
図1及び2に示されるように、分光モジュール1は、光を透過させる本体部2と、本体部2の前面(所定の面)2aから本体部2に入射した光L1を分光して前面2a側に反射する分光部3と、前面2a上に支持され、分光部3によって分光されて反射された光L2を検出する光検出素子4と、を備えている。分光モジュール1は、光L1を分光部3で複数の光L2に分光し、その光L2を光検出素子4で検出することにより、光L1の波長分布や特定波長成分の強度等を測定するものである。
本体部2は、前面2aと略直交する方向に積層された光透過部材2,2を有している。光透過部材2,2は、BK7、パイレックス(登録商標)、石英等の光透過性ガラス等によって長方形薄板状に形成されている。光透過部材2は、光透過部材2と同一の材料、光透過性樹脂、光透過性の無機・有機ハイブリッド材料、或いはレプリカ成型用の光透過性低融点ガラス等によって半球状に形成されており、例えば、光透過部材2と同一の材料からなる場合には、光学樹脂やダイレクトボンディングによって本体部2に貼り合わされている。光透過部材2は、分光部3によって分光されて反射された光L2を光検出素子4の光検出部4aに結像するレンズとして機能する。
分光部3は、光透過部材2の外側表面に形成された回折層14、及び回折層14の外側表面に形成された反射層5を有する反射型グレーティングである。回折層14は、鋸歯状断面のブレーズドグレーティング、矩形状断面のバイナリグレーティング、正弦波状断面のホログラフィックグレーティング等であって、例えば、光透過部材2の外側表面に感光性樹脂を塗布し、石英等からなる光透過性モールド(グレーティングの鋳型)を用いて感光性樹脂をUV硬化させることで形成される。回折層14は、UV硬化後に加熱キュアすると、より一層安定した素材となる。反射層5は、膜状であって、例えば、回折層14の外側表面にAlやAu等を蒸着することで形成される。なお、回折層14の材料は、感光性樹脂に限定されず、感光性ガラス、感光性の無機・有機ハイブリッド材料、或いは熱で変形するような樹脂、ガラス若しくは無機・有機ハイブリッド材料等であってもよい。
光検出素子4は、長尺状のフォトダイオードがその長手方向と略直交する方向に一次元配列されてなる光検出部4aを有するフォトダイオードアレイである。光検出素子4は、フォトダイオードの一次元配列方向が本体部2の長手方向と略一致し且つ光検出部4aが本体部2の前面2a側を向くように配置されている。なお、光検出素子4は、フォトダイオードアレイに限定されず、C−MOSイメージセンサやCCDイメージセンサ等であってもよい。
また、光検出素子4には、本体部2に入射する光L1が通過する光通過開口4bが形成されている。光通過開口4bは、本体部2の前面2aの反対側に形成された凹部4c、及び凹部4cの底面に形成された貫通孔4dを有している。凹部4c及び貫通孔4dは、本体部2の長手方向と略直交する方向に延在する長方形状の開口形状であり、貫通孔4dの開口形状は、凹部4cの開口形状よりも狭い幅とされている。これらは、光検出素子4の基板の両面側からディープドライエッチング等により形成される。なお、貫通孔4dの開口形状は、矩形状に限らず、楕円形状や円形状であってもよい。
凹部4cには、本体部2に入射する光を導光する光学素子7が配置されている。光学素子7は、ガラス等からなる直方体形状の部材であり、光学素子7の光入射端面7aは、光検出素子4から突出している。なお、光学素子7には、ファイバーオプティクスプレート等を用いることが好ましい。
本体部2の前面2aには、分光部3に進行する光L1が通過する光通過孔6a、及び光検出素子4の光検出部4aに進行する光L2が通過する光通過孔6bを有する光吸収層6が形成されている。光通過孔6aは、本体部2の長手方向と略直交する方向に延在するスリットである。光吸収層6は、光通過孔6a,6bを有するようにパターニングされて、CrO、CrOを含む積層膜、或いはブラックレジスト等によって一体成形される。
光吸収層6の前面は粗面とされており、その前面には、AlやAu等の単層膜、或いはTi−Pt−Au、Ti−Ni−Au、Cr−Au等の積層膜からなる配線9が形成されている。配線9は、光通過孔6bの周囲に配置された複数のパッド部9a、本体部2の長手方向における端部に配置された複数のパッド部9b、対応するパッド部9aとパッド部9bとを接続する複数の接続部9cを有している。パッド部9aには、光検出素子4の外部端子がフリップチップボンディングによって電気的に接続されており、パッド部9bには、光検出素子4の出力信号を外部に取り出すためのフレキシブルプリント基板11が、ワイヤボンディングによって電気的に接続されている。光検出素子4は、光検出部4aが光吸収層6の光通過孔6bと対向した状態で本体部2の前面2a上に支持されており、光検出部4aと前面2aとの間には、アンダーフィル樹脂として界面で反射を起こさないように屈折率を合わせた光学樹脂12が充填されている。
なお、光吸収層6と配線9との間には、SiO、SiN、或いはSiON等によって電気絶縁層が膜状に形成されていることが好ましい。光吸収層6がブラックレジストからなる場合には、光吸収層6にカーボンが含まれるため、熱等の影響によってブラックレジストが変質して導電性を有し、電気絶縁層が形成されていないと、ショートするおそれがあるからである。
以上のように構成された分光モジュール1においては、光L1は、光学素子7によって導光され、貫通孔4d及び光吸収層6の光通過孔6aを介して本体部2の前面2aから入射し、光透過部材2,2を進行して分光部3に到達し、分光部3によって複数の光L2に分光される。分光された光L2は、分光部3によって本体部2の前面2a側に反射され、光透過部材2,2、光吸収層6の光通過孔6bを進行して光検出素子4の光検出部4aに到達し、光検出素子4によって検出される。
以上説明したように、この分光モジュール1では、本体部2に入射する光が通過する光通過開口4bを光検出素子4が有している。そのため、光通過開口4bと光検出素子4の光検出部4aとの相対的な位置関係にずれが生じるのを防止することができる。しかも、本体部2に入射する光を導光する光学素子7が光通過開口4bに配置されている。そのため、本体部2に入射すべき光の一部が光通過開口4bの光入射側縁部で遮られるようなことなく、本体部2に入射すべき光を確実に導光することができる。従って、この分光モジュール1によれば、信頼性を向上させることが可能となる。
また、光学素子7の光入射端面は、光検出素子4から突出している。このような構成によれば、本体部2に入射すべき光をより一層確実に導光することができる。
また、光通過開口4bは、本体部2の前面2aの反対側に形成された凹部4c、及び凹部4cの底面に形成された貫通孔4dを有し、光学素子7は、凹部4cに配置されている。このような構成によれば、本体部2に入射すべき光の確実な導光を実現しつつ、貫通孔4dをスリット化することができる。
また、貫通孔4dの深さは10〜100μmであることが好ましい。これにより、光学樹脂12が貫通孔4d内に確実に充填されるため、空気層が形成されにくくなる。このため、空気層による不必要な反射が低減でき、光のロスや光検出素子4に迷光が入射するのを抑制することができる。
[第2の実施形態]
第2の実施形態の分光モジュール1は、光学素子7が、その光出射端面7bが光通過孔6aと対向した状態で光吸収層6に当接している点で、上述した第1の実施形態の分光モジュール1と異なっている。
すなわち、図3に示されるように、本体部2の前面2aには、本体部2に入射する光が通過する光通過孔6aを有する光吸収層6が形成されており、光学素子7は、その光出射端面7bが光通過孔6aと対向した状態で光吸収層6に当接している。これにより、本体部2に入射すべき光の確実な導光を実現しつつ、光通過孔6aをスリット化することができる。
また、光通過開口4bは、光検出素子4の基板をその前面側から見て同一寸法の長方形状で貫通するように形成されている。これにより、光検出素子4の基板の片面からディープエッチングを行うことができるので、容易に光通過開口4bを形成することができる。
本発明は、上述した第1及び第2の実施形態に限定されるものではない。
例えば、第2の実施形態の分光モジュール1における光学素子7に光ファイバを用いてもよい。これにより、光ファイバの光入射端面で受けた光を光ファイバのコア径のまま導光することができる。なお、この場合、光通過開口4bは、光検出素子4の基板をその前面側から見て同一径の円形状で貫通するように形成される。
また、光ファイバは、そのコア径が、光通過孔6aの幅方向における寸法よりも大きく、光通過孔6aの長手方向における寸法よりも小さいものが用いられることが好ましい。これにより、光ファイバの光出射面が光通過孔6aに近接しているために、光のロスを低減させることができる。
なお、光ファイバは、その光入射端面が、光検出素子4から突出するように光通過開口4bに配置してもよく、光源に直接接続された状態でその先端部分を光通過開口4bに配置してもよい。
また、光ファイバは、バンドルファイバであってもよい。これにより、本体部に入射する光の光量を増加させることができる。
第1の実施形態の分光モジュールの平面図である。 図1に示されたII−II線に沿っての断面図である。 第2の実施形態の分光モジュールの縦断面図である。
符号の説明
1…分光モジュール、2…本体部、2,2…光透過部材、2a…前面(所定の面)、3…分光部、4…光検出素子、6…光吸収層、6a…光通過孔、6b…光通過孔、7…光学素子、7a…光入射端面、7b…光出射端面。

Claims (9)

  1. 光を透過させる本体部と、
    前記本体部の所定の面から前記本体部に入射した光を分光して前記所定の面側に反射する分光部と、
    前記所定の面上に支持され、前記分光部によって分光されて反射された光を検出する光検出素子と、を備え、
    前記光検出素子は、前記本体部に入射する光が通過する光通過開口を有し、前記光通過開口には、前記本体部に入射する光を導光する光学素子が配置されており、
    前記所定の面上には、前記本体部に入射する光が通過する第1の光通過孔、及び前記光検出素子の光検出部に入射する光が通過する第2の光通過孔を有する光吸収層が形成されており、
    前記本体部は、前記所定の面を有する第1の光透過部材、及び前記分光部が形成された第2の光透過部材を有し、
    前記分光部は、前記第2の光透過部材の球面状の外側表面に形成された回折層、及び前記回折層の外側表面に形成された反射層を有することを特徴とする分光モジュール。
  2. 前記光学素子の光入射端面は、前記光検出素子から突出していることを特徴とする請求項1記載の分光モジュール。
  3. 前記光通過開口は、前記所定の面の反対側に形成された凹部、及び前記凹部の底面に形成された貫通孔を有し、
    前記光学素子は、前記凹部に配置されていることを特徴とする請求項1又は2記載の分光モジュール。
  4. 前記光学素子は、その光出射端面が前記第1の光通過孔と対向した状態で前記光吸収層に当接していることを特徴とする請求項1又は2記載の分光モジュール。
  5. 前記光学素子は、光ファイバであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の分光モジュール。
  6. 前記光ファイバは、バンドルファイバであることを特徴とする請求項5記載の分光モジュール。
  7. 前記光検出素子の光検出部と前記所定の面との間には、光学樹脂が充填されており、
    前記貫通孔の深さは、10〜100μmであることを特徴とする請求項3記載の分光モジュール。
  8. 前記光検出素子の外部端子は、前記所定の面側に形成された配線のパッド部にフリップチップボンディングによって電気的に接続されていることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項記載の分光モジュール。
  9. 前記光吸収層と前記配線との間には、電気絶縁層が形成されていることを特徴とする請求項8記載の分光モジュール。
JP2007153019A 2007-06-08 2007-06-08 分光モジュール Active JP4891841B2 (ja)

Priority Applications (25)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007153019A JP4891841B2 (ja) 2007-06-08 2007-06-08 分光モジュール
PCT/JP2008/060384 WO2008149944A1 (ja) 2007-06-08 2008-06-05 分光モジュール
EP08765191.5A EP2063239A4 (en) 2007-06-08 2008-06-05 SPECTROSCOPIC MODULE
EP08765197.2A EP2157414A4 (en) 2007-06-08 2008-06-05 SPECTROSCOPIC MODULE
PCT/JP2008/060379 WO2008149941A1 (ja) 2007-06-08 2008-06-05 分光モジュール
US12/377,343 US8045155B2 (en) 2007-06-08 2008-06-05 Spectroscopic module
CN2008800005065A CN101542248B (zh) 2007-06-08 2008-06-05 分光模块
US12/377,314 US8049887B2 (en) 2007-06-08 2008-06-05 Spectroscopic module
KR1020097000554A KR20100017082A (ko) 2007-06-08 2008-06-05 분광 모듈
PCT/JP2008/060364 WO2008149930A1 (ja) 2007-06-08 2008-06-05 分光モジュール
EP08765192.3A EP2075555A4 (en) 2007-06-08 2008-06-05 SPECTROSCOPIC MODULE
KR1020097000424A KR20100017081A (ko) 2007-06-08 2008-06-05 분광 모듈
CN200880000507XA CN101542249B (zh) 2007-06-08 2008-06-05 分光模块
US12/377,300 US8368885B2 (en) 2007-06-08 2008-06-05 Spectroscopic module
US12/377,350 US8068223B2 (en) 2007-06-08 2008-06-05 Spectroscopic module
KR1020097000587A KR20100017083A (ko) 2007-06-08 2008-06-05 분광 모듈
PCT/JP2008/060378 WO2008149940A1 (ja) 2007-06-08 2008-06-05 分光モジュール
EP08765177.4A EP2072978A4 (en) 2007-06-08 2008-06-05 SPECTROSCOPIC MODULE
CN2008800005084A CN101542250B (zh) 2007-06-08 2008-06-05 分光模块
KR1020097001454A KR20100017086A (ko) 2007-06-08 2008-06-05 분광 모듈
TW097121324A TW200916738A (en) 2007-06-08 2008-06-06 Spectroscopic module
TW097121327A TW200916739A (en) 2007-06-08 2008-06-06 Spectroscopic module
TW097121331A TWI445930B (zh) 2007-06-08 2008-06-06 Spectral module
TW097121329A TWI451072B (zh) 2007-06-08 2008-06-06 Spectral module
US13/545,445 US8411269B2 (en) 2007-06-08 2012-07-10 Spectroscopic module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007153019A JP4891841B2 (ja) 2007-06-08 2007-06-08 分光モジュール

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008304387A JP2008304387A (ja) 2008-12-18
JP2008304387A5 JP2008304387A5 (ja) 2009-02-05
JP4891841B2 true JP4891841B2 (ja) 2012-03-07

Family

ID=40093754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007153019A Active JP4891841B2 (ja) 2007-06-08 2007-06-08 分光モジュール

Country Status (7)

Country Link
US (2) US8368885B2 (ja)
EP (1) EP2157414A4 (ja)
JP (1) JP4891841B2 (ja)
KR (1) KR20100017081A (ja)
CN (2) CN101542250B (ja)
TW (1) TWI445930B (ja)
WO (1) WO2008149944A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012137506A (ja) * 2012-04-18 2012-07-19 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
US8411269B2 (en) 2007-06-08 2013-04-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
US8477306B2 (en) 2007-06-08 2013-07-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscope

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8049887B2 (en) * 2007-06-08 2011-11-01 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
US8045155B2 (en) * 2007-06-08 2011-10-25 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
JP4891840B2 (ja) * 2007-06-08 2012-03-07 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
US8068223B2 (en) * 2007-06-08 2011-11-29 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
JP4887221B2 (ja) * 2007-06-08 2012-02-29 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP5205243B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器
JP5207938B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法
JP5205241B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP2009300418A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP5205238B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP5205240B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP5415060B2 (ja) * 2008-05-15 2014-02-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP2009300417A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP5512961B2 (ja) 2008-05-15 2014-06-04 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及びその製造方法
EP2857810A1 (en) * 2013-10-02 2015-04-08 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Monolith spectrometer
JP6255992B2 (ja) * 2013-12-27 2018-01-10 セイコーエプソン株式会社 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法
JP6251073B2 (ja) * 2014-02-05 2017-12-20 浜松ホトニクス株式会社 分光器、及び分光器の製造方法
JP2016011932A (ja) 2014-06-30 2016-01-21 セイコーエプソン株式会社 分光画像撮像装置、分光画像撮像方法
US9923007B2 (en) 2015-12-29 2018-03-20 Viavi Solutions Inc. Metal mirror based multispectral filter array
US9960199B2 (en) 2015-12-29 2018-05-01 Viavi Solutions Inc. Dielectric mirror based multispectral filter array
EP3372966B1 (en) * 2017-03-10 2021-09-01 Hitachi High-Tech Analytical Science Limited A portable analyzer using optical emission spectoscopy
US11639873B2 (en) * 2020-04-15 2023-05-02 Viavi Solutions Inc. High resolution multi-pass optical spectrum analyzer

Family Cites Families (59)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54143685A (en) * 1978-04-29 1979-11-09 Ritsuo Hasumi Compact spectroscope for digital light wavemeter
JPS556320A (en) * 1978-06-27 1980-01-17 Ritsuo Hasumi Spectral module
JPS55126831A (en) * 1979-03-26 1980-10-01 Ritsuo Hasumi Plastic thin-film spectroscope
DE3122781A1 (de) * 1981-06-09 1982-12-30 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt "wellenlaengenmultiplexer bzw. wellenlaengendemultiplexer"
DE3509131A1 (de) 1985-03-14 1986-09-18 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren zur justierten montage der optischen bauteile eines optischen geraetes
JPS626126A (ja) * 1985-07-03 1987-01-13 Shimadzu Corp 光スペクトル分析用センサ
DE3611246A1 (de) 1986-04-04 1987-10-15 Kernforschungsz Karlsruhe Verfahren zum herstellen eines passiven optischen bauelements mit einem oder mehreren echelette-gittern und nach diesem verfahren hergestelltes bauelement
JPS63229765A (ja) 1987-03-18 1988-09-26 Fujitsu Ltd 赤外線検知器
JPH03119917A (ja) 1989-09-30 1991-05-22 Iseki & Co Ltd 草刈機の刈草装置
US5026160A (en) 1989-10-04 1991-06-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Monolithic optical programmable spectrograph (MOPS)
JPH04211202A (ja) 1990-03-19 1992-08-03 Canon Inc 反射型回折格子および該回折格子を用いた装置
DE4038638A1 (de) 1990-12-04 1992-06-11 Zeiss Carl Fa Diodenzeilen-spektrometer
JPH05149793A (ja) 1991-11-29 1993-06-15 Sanyo Electric Co Ltd 波長検出装置
JP3375147B2 (ja) 1992-05-26 2003-02-10 浜松ホトニクス株式会社 半導体光検出装置
JP2713838B2 (ja) 1992-10-15 1998-02-16 浜松ホトニクス株式会社 分光イメージングセンサ
JPH06229829A (ja) * 1993-02-04 1994-08-19 Olympus Optical Co Ltd 受光素子アレイ
JP3242495B2 (ja) 1993-07-01 2001-12-25 シャープ株式会社 多層膜フィルタ付き受光素子及びその製造方法
JPH08145794A (ja) 1994-11-17 1996-06-07 Shimadzu Corp 分光器
US6224912B1 (en) 1996-04-03 2001-05-01 The Rogo Institute Cancer-cell proliferation-suppressing material produced by cancer cells restricted by entrapment
JPH10170820A (ja) 1996-12-13 1998-06-26 Canon Inc 回折光学素子を有した光学系
US5995221A (en) * 1997-02-28 1999-11-30 Instruments S.A., Inc. Modified concentric spectrograph
US6303934B1 (en) 1997-04-10 2001-10-16 James T. Daly Monolithic infrared spectrometer apparatus and methods
DE19717015A1 (de) * 1997-04-23 1998-10-29 Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh Miniaturisiertes optisches Bauelement sowie Verfahren zu seiner Herstellung
EP0942267B1 (de) * 1998-03-11 2006-08-30 Gretag-Macbeth AG Spektrometer
US6181418B1 (en) 1998-03-12 2001-01-30 Gretag Macbeth Llc Concentric spectrometer
US6862092B1 (en) 1999-01-08 2005-03-01 Ibsen Photonics A/S Spectrometer
DE59913150D1 (de) 1999-04-01 2006-04-27 Gretag Macbeth Ag Regensdorf Spektrometer
US6657723B2 (en) 2000-12-13 2003-12-02 International Business Machines Corporation Multimode planar spectrographs for wavelength demultiplexing and methods of fabrication
JP4236418B2 (ja) * 2001-05-09 2009-03-11 日本板硝子株式会社 樹脂正立レンズアレイおよびその製造方法
WO2003012531A1 (en) 2001-08-02 2003-02-13 Aegis Semiconductor Tunable optical instruments
JP4035016B2 (ja) 2001-08-07 2008-01-16 三菱化学株式会社 表面プラズモン共鳴センサチップ、並びにそれを用いた試料の分析方法及び分析装置
JP2003139611A (ja) * 2001-11-06 2003-05-14 Olympus Optical Co Ltd 分光光度計
JP2003161694A (ja) 2001-11-28 2003-06-06 Mitsubishi Chemicals Corp 表面プラズモン共鳴センサチップ用スタンパ及び表面プラズモン共鳴センサチップの製造方法
JP3912111B2 (ja) 2002-01-09 2007-05-09 富士通株式会社 波長多重双方向光伝送モジュール
JP3818441B2 (ja) 2002-02-20 2006-09-06 日本電信電話株式会社 基板実装構造及び半導体装置
JP2003318478A (ja) 2002-04-26 2003-11-07 Sumitomo Electric Ind Ltd 光通信装置
JP4221965B2 (ja) * 2002-07-22 2009-02-12 日立電線株式会社 回折格子、波長合分波器及びこれらを用いた波長多重信号光伝送モジュール
US6885107B2 (en) 2002-08-29 2005-04-26 Micron Technology, Inc. Flip-chip image sensor packages and methods of fabrication
JP2004191246A (ja) * 2002-12-12 2004-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 凹凸検出センサ
DE10304312A1 (de) 2003-02-04 2004-08-12 Carl Zeiss Jena Gmbh Kompakt-Spektrometer
US7034935B1 (en) 2003-03-24 2006-04-25 Mpb Technologies Inc. High performance miniature spectrometer
JP2004309146A (ja) 2003-04-02 2004-11-04 Olympus Corp 分光光度計
JP4409860B2 (ja) 2003-05-28 2010-02-03 浜松ホトニクス株式会社 光検出器を用いた分光器
JP4627410B2 (ja) * 2004-04-20 2011-02-09 浜松ホトニクス株式会社 分光器を用いた測定装置
JP4473665B2 (ja) * 2004-07-16 2010-06-02 浜松ホトニクス株式会社 分光器
CN1800941B (zh) 2005-01-06 2010-05-12 群康科技(深圳)有限公司 背光模组
US7330258B2 (en) * 2005-05-27 2008-02-12 Innovative Technical Solutions, Inc. Spectrometer designs
US7889426B2 (en) 2005-07-01 2011-02-15 Hoya Corporation Diffractive lens and scanning lens formed with diffractive lens
US7697137B2 (en) 2006-04-28 2010-04-13 Corning Incorporated Monolithic Offner spectrometer
JP4887251B2 (ja) 2007-09-13 2012-02-29 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP4887250B2 (ja) 2007-09-13 2012-02-29 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
KR101491889B1 (ko) 2007-06-08 2015-02-11 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 분광기
US8045155B2 (en) 2007-06-08 2011-10-25 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
JP4891841B2 (ja) 2007-06-08 2012-03-07 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP4891840B2 (ja) 2007-06-08 2012-03-07 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP4887221B2 (ja) 2007-06-08 2012-02-29 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
US8049887B2 (en) 2007-06-08 2011-11-01 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
US8068223B2 (en) 2007-06-08 2011-11-29 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
JP5592089B2 (ja) 2009-08-19 2014-09-17 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及びその製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8411269B2 (en) 2007-06-08 2013-04-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
US8477306B2 (en) 2007-06-08 2013-07-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscope
US8477305B2 (en) 2007-06-08 2013-07-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscope
JP2012137506A (ja) * 2012-04-18 2012-07-19 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
US8368885B2 (en) 2013-02-05
CN101542248B (zh) 2012-08-08
TW200914806A (en) 2009-04-01
CN101542250B (zh) 2011-09-07
KR20100017081A (ko) 2010-02-16
EP2157414A4 (en) 2013-12-18
CN101542248A (zh) 2009-09-23
JP2008304387A (ja) 2008-12-18
CN101542250A (zh) 2009-09-23
TWI445930B (zh) 2014-07-21
WO2008149944A1 (ja) 2008-12-11
EP2157414A1 (en) 2010-02-24
US8411269B2 (en) 2013-04-02
US20100208257A1 (en) 2010-08-19
US20120276287A1 (en) 2012-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4891841B2 (ja) 分光モジュール
JP4887221B2 (ja) 分光モジュール
TWI451072B (zh) Spectral module
JP5415060B2 (ja) 分光モジュール
JP5205240B2 (ja) 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP5335729B2 (ja) 分光モジュール
KR101735131B1 (ko) 분광 모듈 및 그 제조 방법
US8045155B2 (en) Spectroscopic module
JP5512961B2 (ja) 分光モジュール及びその製造方法
JP5205238B2 (ja) 分光モジュール
JP2009300418A (ja) 分光モジュール
KR20100017082A (ko) 분광 모듈
JP4887251B2 (ja) 分光モジュール
JP4887250B2 (ja) 分光モジュール
JP5097294B2 (ja) 分光モジュール
JP4980184B2 (ja) 分光モジュール
JP5113947B2 (ja) 分光モジュール
JP5825880B2 (ja) 分光モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081028

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110920

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111213

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4891841

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250